JPH03202792A - しゃ断器の合成試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、しゃ断器の合成試験装置に関する。

Ｂ１発明の概要 本発明は、電流源回路と電圧源回路によって供試しゃ断
器の合成試験を行う装置において、４パラメータ規格の
初期波高値を供試しゃ断器に印加する電圧源回路と、波
高値を供試しゃ断器に印加し次いで交流電圧を印加する
第２の電圧源回路との切り換えによって４パラメータ規
格の過渡回復電圧及びその後の交流電圧印加を行うこと
により、 ４パラメータ規格の過渡回復電圧及び交流の回復電圧を
印加する試験にしながら１回の試験で済むようにしたも
のである。

Ｃ３従来の技術 しゃ断器の性能検証法として、実使用状態で行う直接試
験方性があるが、しゃ断器の高圧・大容量化に伴い試験
設備が大規模なものになるし、実施不可能にもなる。そ
こで、比較的小さな設備で検証するための合成試験（重
畳試験）や２バート法による等価試験か実施されている
。

第４図は従来の合成試験装置を示す。電流源回路ｌは、
低圧大電流源になる短絡発電機２から保護しゃ断器３と
インダクタンス４と投入スイッチ５と補助しゃ断器６を
通して供試しゃ断器７に試験電流１．を供給する。電圧
源口＠８は予備充電される電圧源コンデンサ９から始動
ギャップｌＯと電流調整用インダクタンス１１を通して
高電圧小電流Ｉｖを供給する。コンデンサ１２．１３と
抵抗１４は過渡回復電圧凋整用にされる。

このような構成になる合成試験装置は、供試しゃ断器７
の閉極状態では電流源回路ｌから試験電流りを供給し、
供試しゃ断器７の開極時に補助しゃ断器６を同時開極さ
せると共に始動ギャップＩＯを点弧させ、電圧源回路８
から過渡回復電圧（再起電圧）を印加し、供試しゃ断器
７のしゃ断性能を試験する。第５図は供試しゃ断器７の
開極時の各部波形を示し、供試しゃ断器７の開極時１゜
から電流源回路１の電流りが零点ｔ、になる直前に電圧
源回路８からの電流Ｉｖが重畳され、供試しゃ断器７に
は両型流りとＩｖを加算した合成電流ＩＭが流れる。ま
た、開極時１＋から電流■９の零点ｔ３までは供試しゃ
断器７にアーク電流ｊこよる端子電圧ｖＴが発生し、ア
ーク消滅になる零点ｔ、で電圧源回路８の電圧が再起電
圧として印加さ乙る。

Ｄ９発明が解決しようとする課題 従来の合成試験装置において、供試しゃ断器に印加され
る回復電圧は単一周波の過渡回復電圧に続いて直流電圧
で終了する。このうち過渡回復電圧は単一周波になって
しまい、しゃ断器が実装される電力系統の複雑な過渡回
復電圧とは異なるものになってしまう。

上述の過渡回復電圧は、規格では１００ＫＶ以上の定格
に′なるしゃ断器に対して第６図に示すような４パラメ
ータで規定される。即ち、波形Ａの包絡線を初期波高値
Ｕ１と初期波高時間ｔ１と波高値Ｕｃと波高時間ｔ、の
４つのパラメータで規定される。

従って、従来技術によるｉ！Ｊ渡回後回復電圧パラメー
タ法による過渡回復電圧とは異なるものになり、試験性
能を低下させたり供試しゃ断器に過酷な試験になる。

また、実系統における回復電圧は交流であるのに対し、
従来の試験装置では過渡振動後に一定の直流電圧が印加
されつづけるという差異もある。

なお、４パラメータの過渡回復電圧を代用する方法とし
て、初期波高値Ｕ、を得る回復電圧波形による試験と、
波高値Ｕ　ｃを得る回復電圧波形による試験とを２回実
施する２パート法があるが、試験条件の整合性に問題が
あるし、試験回数の倍増になる。

本発明の目的は、４パラメータ規格の過渡回復電圧及び
交流の回復電圧を印加する試験にしながら１回の試験で
済む合成試験装置を提供することにある。

Ｅ　課題を解決するための手段と作用 本発明は、前記目的を達成するため、供試しゃ断器に低
圧大電流を供給する電流源回路と、供試しゃ断器の開極
後の前記電流の零点近傍で供試しゃ断器に初期波高値を
得るための過渡回復電圧を印加する第１の電圧源回路と
、前記電流の零点り傍で供試しゃ断器に波高値を得るた
めの第２の過渡回復電圧及びこれに続く交流電圧を印加
する第２の電圧源回路と、前記第１の電圧源回路の過渡
回復電圧期間終了で該電圧源回路を供試しゃ断器から切
り離す分離用スイッチとを備え、第１の電圧源回路によ
る過渡回復電圧と第２の電圧源回路による過渡回復電圧
の重畳によって４パラメータ規格の初期波高部分（ＩＪ
＋、ｔ＋）と波高部分（Ｕｅ。

ｔｘ）の過渡回復電圧波形を得る。まｆコ、第１の電圧
源回路を供試しゃ断器から切り離し、第２の電圧源回路
の交流電圧を実系統電圧として供試しゃ断器に印加する
。

Ｆ、実施例 第１図は本発明の一実施例を示す回路図であり、第４図
と同等のものは同一符号で示す。昇圧変圧器１５は電流
源回路１の投入スイッチ５と補助しゃ断器６の接続ライ
ンから一次入力が印加され、昇圧した二次出力を過渡回
復電圧波形用のコンデンサ１６と抵抗Ｉ７に印加して振
動性の電圧を発生させる。この電圧は電流制限抵抗１８
を介して供試しゃ断器７に印加される。分離用スイッチ
１９は電圧源回路８と供試しゃ断器７の間に設けられ、
電圧源回路８を供試しゃ断器７から切り離し可能にする
。

上連の構成の動作を以下に詳細に説明する。

まず、電圧源回路８は、電圧源電流Ｉ、と過渡回復電圧
の初期部分（Ｕ＋、ｔ＋）を供給するよう各要素の定数
（コンデンサ９の電圧やインダクタンス１１の値等）が
設定される。また、要素１５〜１８で構成される第２の
電圧源回路２０は過渡回復電圧の波高値部分（Ｌ＋ｃ、
ｔＪ及び回復電圧を供給するよう各要素の定数（変圧器
Ｉ５の昇圧比やコンデンサＩ６の容量等）が設定される
。

試験開始には分離用スイッチ１９を閉じておき、供試し
ゃ断器７及び補助しゃ断器６を閉じた状態で投入スイッ
チ５？こより短絡電流１ｒを流す。この後、供試しゃ断
器７及び補助しゃ断器６をほぼ同時に開極させる。この
開極時からの各波形図は第２図に示す。供試しゃ断器７
の開極時ｔ１から短絡電流１．の零点１３前後までは供
試しゃ断器７にアーク電圧が発生し、従来と同様に放電
キャップ１０により電圧源回路８から電流１．を供給す
る。

一方、アーク電圧の発生により、昇圧変圧器１５か励磁
され、その二次端子には変成比倍の電圧Ｖｈが発生する
。

電流１１に対する電流Ｉｖの重畳電流か供試しゃ断器７
に流れ始め（時刻ｔ、）、電流■１の零点（ｔ３）にお
いて電流源回路ｌの電圧上昇によって昇圧変圧器１５の
二次出力に高電圧Ｖｈが立ち上がり、この立ち上がりは
回路要素１６，１７１こよって過渡振動電圧になる。

次いで、電流ＩＭの零点（ｔ４）では供試しゃ断器７の
端子に電圧源回路８からの過渡回復電圧Ｖｖが重畳印加
される。この後、過渡回復電圧Ｖｖの振動中に分離用ス
イッチ１９が開放され、電流源回路８が供試しゃ断器７
から切り離される。この切り離し後には、第２の電圧源
回路２０から供試しゃ断器７に電圧印加され、しかもこ
の電圧は実系統と同様の交流電圧になる。

第３図は過渡回復電圧期間の拡大波形図を示す。

この図からも明らかなように、電圧源回路２０の電圧Ｖ
ｈと電圧源回路８の電圧ｖｖが重畳されて供試しゃ断器
７の過渡回復電圧になり、この電圧Ｖ、は初期波高値（
ｐｔ点）と波高値（ｐｔ点）を持つ過渡回復電圧波形、
即ち４パラメータの過渡回復電圧波形を得ることができ
る。

また、前述のように、過渡回復期間の終了では分離用ス
イッチ１９を適当な時期にオフ制御することで実系統と
同等の交流電圧を印加できる。

また、本実施例の試験装置では、補助しゃ断器６及び放
電ギャップＩＯは従来と同等の制御タイミングで良く、
また分離用スイッチ１９も適当な低速スイッチによる構
成で済み、さらに１回の試験で済む。

なお、実施例において、第２の電圧源回路２０はその交
流電源を電流源回路ｌとは別系統の電源とし、補助しゃ
断器６とほぼ同じタイミングで投入するスイッチを設け
る構成でも良い。

Ｇ０発明の効果 以上のとおり、本発明によれば、従来の電圧源回路の他
に第２の電圧源回路を設け、供試しゃ断器には両電圧源
回路からの過渡回復電圧の重畳によって４パラメータ規
格の過渡回復電圧を得、また第１の電圧源回路を供試し
ゃ断器から切り離して第２の電圧源回路の交流電圧を実
系統の電圧として供試しゃ断器に印加するようにしたた
め、０回の試験操作によって４パラメータ規格の過渡回
復電圧及びその後の交流電圧印加を行うことができ、供
試しゃ断器の試験性能を高めると共に２パート法に較べ
て試験回数を半減させる効果がある。

また、試験設備としては第２の電圧源回路と分離用スイ
ッチを増設するのみで済むし、分離用スイッチのスイッ
チ動作条件も過酷なもので無く、さらに昇圧変圧器等に
も発生電圧に比して対地絶縁等の条件が緩やかになり、
設備規模や設備費を膨大にすることは無い。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は実施
例のしゃ断試験波形図、第３図は第２図の拡大波形図、
第４図は従来の回路図、第５図は従来のしゃ断試験波形
図、第６図は４パラメータ規格の過渡回復電圧波形図で
ある。 １・・・電流源回路、６・・・補助しゃ断器、７・・・
供試しゃ断器、８・・・電圧源回路、ＩＯ・・・放電ギ
ャップ、１５・・・昇圧変圧器、１９・・・分離用スイ
ッチ、２０・・・第２の電圧源回路。 外２名 第２図 実施例のしゃ断試験波形図 １ τ２１３１４１５

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）供試しゃ断器に低圧大電流を供給する電流源回路
   と、供試しゃ断器の開極後の前記電流の零点近傍で供試
   しゃ断器に初期波高値を得るための過渡回復電圧を印加
   する第１の電圧源回路と、前記電流の零点近傍で供試し
   ゃ断器に波高値を得るための第２の過渡回復電圧及びこ
   れに続く交流電圧を印加する第２の電圧源回路と、前記
   第１の電圧源回路の過渡回復電圧期間終了で該電圧源回
   路を供試しゃ断器から切り離す分離用スイッチとを備え
   たことを特徴とするしゃ断器の合成試験装置。