JPH07134167A - 遮断試験装置 - Google Patents
遮断試験装置Info
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- JPH07134167A JPH07134167A JP30588693A JP30588693A JPH07134167A JP H07134167 A JPH07134167 A JP H07134167A JP 30588693 A JP30588693 A JP 30588693A JP 30588693 A JP30588693 A JP 30588693A JP H07134167 A JPH07134167 A JP H07134167A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被試験器の遮断開放後にその端子間に実使用
状態と同じ電圧分布で高電圧を印加する。 【構成】 発電機出力等の独立電源又はこの電源の昇圧
出力を試験用電圧源として出力端子１０と基準電位端子
１１との間に発生する電源部９と、一端が被試験器１２
を介して端子１０に接続され，他端が端子１１に接続さ
れた進相負荷としてのコンデンサ１４と、１次側が両端
子１０，１１間に設けられ，この両端子１０，１１間の
出力を降圧，変成して試験用電流源を形成する変成器１
５と、被試験器１２を介して変成器１５の２次側両端間
に設けられ，被試験器１２の遮断開放に連動して開放す
る補助開閉器１６とを備える。
状態と同じ電圧分布で高電圧を印加する。 【構成】 発電機出力等の独立電源又はこの電源の昇圧
出力を試験用電圧源として出力端子１０と基準電位端子
１１との間に発生する電源部９と、一端が被試験器１２
を介して端子１０に接続され，他端が端子１１に接続さ
れた進相負荷としてのコンデンサ１４と、１次側が両端
子１０，１１間に設けられ，この両端子１０，１１間の
出力を降圧，変成して試験用電流源を形成する変成器１
５と、被試験器１２を介して変成器１５の２次側両端間
に設けられ，被試験器１２の遮断開放に連動して開放す
る補助開閉器１６とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、発電機出力等の独立電
源を用いて進相負荷に対する遮断器，開閉器等の被試験
器の遮断試験を行う遮断試験装置に関する。
源を用いて進相負荷に対する遮断器，開閉器等の被試験
器の遮断試験を行う遮断試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種遮断試験に用いられる遮断
試験装置は、装置規模を大きくすることなく、大容量の
進相負荷に対する被試験器の遮断性能を試験するため、
ほぼ図３に示すように構成される。そして、試験開始の
電源投入操作によりデルタ結線された発電機等が形成す
る電源部１は出力端子２と接地された基準電位端子３と
の間に、系統電源等から独立した試験用電流源としての
交流出力を発生し、この出力は所要の電圧より低圧であ
る。
試験装置は、装置規模を大きくすることなく、大容量の
進相負荷に対する被試験器の遮断性能を試験するため、
ほぼ図３に示すように構成される。そして、試験開始の
電源投入操作によりデルタ結線された発電機等が形成す
る電源部１は出力端子２と接地された基準電位端子３と
の間に、系統電源等から独立した試験用電流源としての
交流出力を発生し、この出力は所要の電圧より低圧であ
る。
【０００３】このとき、端子２，３間に電流調整用イン
ピーダンス４，補助開閉器５及び試験対象の遮断器，開
閉器等が形成する被試験器６が直列接続され、この被試
験器６が閉成しているため、インピーダンス４，補助開
閉器５，被試験器６のループに低圧，大容量の電流Ｉｉ
ａが流れる。
ピーダンス４，補助開閉器５及び試験対象の遮断器，開
閉器等が形成する被試験器６が直列接続され、この被試
験器６が閉成しているため、インピーダンス４，補助開
閉器５，被試験器６のループに低圧，大容量の電流Ｉｉ
ａが流れる。
【０００４】また、端子２，３に電圧不足を補う昇圧用
変圧器７の１次側両端が接続されるとともに、この変圧
器７の２次側に進相負荷としての小容量のコンデンサ８
を介して試験器６が設けられ、変圧器７の昇圧された２
次側出力に基づき、コンデンサ８，被試験器６のループ
に小容量の進相の電流Ｉｖａが流れる。
変圧器７の１次側両端が接続されるとともに、この変圧
器７の２次側に進相負荷としての小容量のコンデンサ８
を介して試験器６が設けられ、変圧器７の昇圧された２
次側出力に基づき、コンデンサ８，被試験器６のループ
に小容量の進相の電流Ｉｖａが流れる。
【０００５】そして、両電流Ｉｉａ，Ｉｖａの合成電流
である所要の試験電流が被試験器６に流れ、被試験器６
を遮断開放する。また、この開放に連動して補助開閉器
５が開放し、被試験器６が試験用電流源から切離され
る。
である所要の試験電流が被試験器６に流れ、被試験器６
を遮断開放する。また、この開放に連動して補助開閉器
５が開放し、被試験器６が試験用電流源から切離され
る。
【０００６】このとき、被試験器６の端子間に、変圧器
７の２次側の交流電圧とコンデンサ８の残存直流電圧と
の直列合成電圧が形成する所要の試験電圧が印加され
る。そして、図外の判定器により、この試験電圧に被試
験器６が耐えられるか否かが監視されるとともに、この
監視結果により被試験器６の遮断性能が判定される。
７の２次側の交流電圧とコンデンサ８の残存直流電圧と
の直列合成電圧が形成する所要の試験電圧が印加され
る。そして、図外の判定器により、この試験電圧に被試
験器６が耐えられるか否かが監視されるとともに、この
監視結果により被試験器６の遮断性能が判定される。
【０００７】なお、被試験器６の遮断開放後、判定終了
又は一定期間の経過により電源部１の出力が停止して試
験が終了する。そして、図３の場合、電源部１の電流
と，変圧器７の昇圧した電圧，コンデンサ８の残存電圧
の直列合成電圧とに基づく合成試験により遮断試験が行
われるため、電源部１の容量が小さくて済み、しかも、
進相負荷としてのコンデンサ８も、被試験器６の遮断開
放後の電圧源として使用されるため、小容量のコンデン
サで形成することができる。
又は一定期間の経過により電源部１の出力が停止して試
験が終了する。そして、図３の場合、電源部１の電流
と，変圧器７の昇圧した電圧，コンデンサ８の残存電圧
の直列合成電圧とに基づく合成試験により遮断試験が行
われるため、電源部１の容量が小さくて済み、しかも、
進相負荷としてのコンデンサ８も、被試験器６の遮断開
放後の電圧源として使用されるため、小容量のコンデン
サで形成することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】前記図３の従来の遮断
試験装置の場合、同図からも明らかなように被試験器６
は一端が補助開閉器５及びコンデンサ８に接続され、他
端が基準電位としての接地電位に固定され、遮断開放し
たときに片側のみに電圧が印加される。
試験装置の場合、同図からも明らかなように被試験器６
は一端が補助開閉器５及びコンデンサ８に接続され、他
端が基準電位としての接地電位に固定され、遮断開放し
たときに片側のみに電圧が印加される。
【０００９】一方、被試験器６が実際に使用されるとき
は、被試験器６が系統電源等の交流電源と負荷との間に
直列に挿入されるため、遮断開放により一端に系統電源
等の交流電圧が印加されて他端に負荷の残留直流電圧等
の直流電圧が印加される。
は、被試験器６が系統電源等の交流電源と負荷との間に
直列に挿入されるため、遮断開放により一端に系統電源
等の交流電圧が印加されて他端に負荷の残留直流電圧等
の直流電圧が印加される。
【００１０】したがって、試験時の電圧分布が実際に使
用するときの分布と異なり、正確な試験が行えないばか
りか、場合によっては短絡等が生じて試験が行えなくな
る問題点がある。本発明は、被試験器の遮断開放後にそ
の端子間に実使用状態と同じ電圧分布で交流電圧と直流
電圧との直列合成の高電圧を印加することを目的とす
る。
用するときの分布と異なり、正確な試験が行えないばか
りか、場合によっては短絡等が生じて試験が行えなくな
る問題点がある。本発明は、被試験器の遮断開放後にそ
の端子間に実使用状態と同じ電圧分布で交流電圧と直流
電圧との直列合成の高電圧を印加することを目的とす
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明の遮断試験装置においては、発電機等の独
立電源又は該電源の昇圧出力を試験用電圧源として出力
端子と基準電位端子との間に発生する電源部と、一端が
被試験器を介して出力端子に接続され，他端が基準電位
端子に接続された進相負荷としてのコンデンサと、１次
側が前記両端子間に設けられ，該両端子間の出力を降
圧，変成して試験用電流源を形成する変成器と、被試験
器を介して変成器の２次側両端間に設けられ，被試験器
の遮断開放に連動して開放する補助開閉器とを備える。
めに、本発明の遮断試験装置においては、発電機等の独
立電源又は該電源の昇圧出力を試験用電圧源として出力
端子と基準電位端子との間に発生する電源部と、一端が
被試験器を介して出力端子に接続され，他端が基準電位
端子に接続された進相負荷としてのコンデンサと、１次
側が前記両端子間に設けられ，該両端子間の出力を降
圧，変成して試験用電流源を形成する変成器と、被試験
器を介して変成器の２次側両端間に設けられ，被試験器
の遮断開放に連動して開放する補助開閉器とを備える。
【００１２】
【作用】前記のように構成された本発明の遮断試験装置
の場合、被試験器及び補助開閉器を閉成して試験を始め
ると、電源部の試験用電圧源に基づいて被試験器，コン
デンサのループに小容量の進相の電流が流れる。
の場合、被試験器及び補助開閉器を閉成して試験を始め
ると、電源部の試験用電圧源に基づいて被試験器，コン
デンサのループに小容量の進相の電流が流れる。
【００１３】また、電流不足を補うため、試験用電圧源
が変成器により降圧，変成されて試験用電流源が形成さ
れ、この電流源に基づく変成器の２次側の低圧，大容量
の電流が試験電流として被試験器，補助開閉器のループ
を流れる。
が変成器により降圧，変成されて試験用電流源が形成さ
れ、この電流源に基づく変成器の２次側の低圧，大容量
の電流が試験電流として被試験器，補助開閉器のループ
を流れる。
【００１４】そして、両電流の合成電流が被試験器を流
れて被試験器が遮断開放し、この開放に連動して補助開
閉器が開放する。この開放により被試験器が試験用電流
源から切離される。
れて被試験器が遮断開放し、この開放に連動して補助開
閉器が開放する。この開放により被試験器が試験用電流
源から切離される。
【００１５】このとき、被試験器の端子間には従来と同
様、試験用電圧源の交流電圧とコンデンサの残留直流電
圧とが試験電圧として印加される。そして、交流電圧は
被試験器の一端に印加され、残留直流電圧は被試験器の
他端に印加され、被試験器の電圧分布が実使用状態の分
布に等しくなり、実使用状態での試験が行える。
様、試験用電圧源の交流電圧とコンデンサの残留直流電
圧とが試験電圧として印加される。そして、交流電圧は
被試験器の一端に印加され、残留直流電圧は被試験器の
他端に印加され、被試験器の電圧分布が実使用状態の分
布に等しくなり、実使用状態での試験が行える。
【００１６】
【実施例】実施例について、図１及び図２を参照して説
明する。 （１実施例）図１は１実施例の構成を示し、試験開始の
電源投入操作により、図３の電源部１に相当する電源部
９は出力端子１０と接地された基準電位端子１１との間
に発電機出力等の独立電源の交流出力を発生する。
明する。 （１実施例）図１は１実施例の構成を示し、試験開始の
電源投入操作により、図３の電源部１に相当する電源部
９は出力端子１０と接地された基準電位端子１１との間
に発電機出力等の独立電源の交流出力を発生する。
【００１７】このとき、電源部９は例えばスター結線さ
れた発電機を用いて形成され、独立電源は図３の低圧の
電流源でなく、高圧，小電流の試験用電圧源を形成す
る。そして、試験開始時は図３の被試験器６と同様の被
試験器１２が閉成しているため、端子１０，１１間に直
列接続された被試験器１２，高調波・突入電流防止用の
直列リアクトル１３，進相負荷としてのコンデンサ１４
のループに図３の電流Ｉｖａに相当する小容量の進相の
電流Ｉｖｂが流れる。
れた発電機を用いて形成され、独立電源は図３の低圧の
電流源でなく、高圧，小電流の試験用電圧源を形成す
る。そして、試験開始時は図３の被試験器６と同様の被
試験器１２が閉成しているため、端子１０，１１間に直
列接続された被試験器１２，高調波・突入電流防止用の
直列リアクトル１３，進相負荷としてのコンデンサ１４
のループに図３の電流Ｉｖａに相当する小容量の進相の
電流Ｉｖｂが流れる。
【００１８】また、端子１０，１１に電流不足を補う変
成器１５の１次側両端が接続されるとともに、変成器１
５の２次側両端間に被試験器１２，補助開閉器１６，電
流調整用インピーダンス１７が直列に設けられ、補助開
閉器１６は閉成している。
成器１５の１次側両端が接続されるとともに、変成器１
５の２次側両端間に被試験器１２，補助開閉器１６，電
流調整用インピーダンス１７が直列に設けられ、補助開
閉器１６は閉成している。
【００１９】そのため、変成器１５により端子１０，１
１の出力が降圧，変成されて低圧の試験用電流源が形成
され、この電流源から被試験器１２，補助開閉器１６，
インピーダンス１７のループに図３の電流Ｉｉａに相当
する低圧，所要量の電流Ｉｉｂが流れる。
１の出力が降圧，変成されて低圧の試験用電流源が形成
され、この電流源から被試験器１２，補助開閉器１６，
インピーダンス１７のループに図３の電流Ｉｉａに相当
する低圧，所要量の電流Ｉｉｂが流れる。
【００２０】そして、電流Ｉｉｂ，Ｉｖｂの合成電流に
よる所要試験電流が被試験器１２に流れ、被試験器１２
が遮断開放し、この開放に連動して補助開閉器１６が開
放し、被試験器１２が試験用電流源から切離される。
よる所要試験電流が被試験器１２に流れ、被試験器１２
が遮断開放し、この開放に連動して補助開閉器１６が開
放し、被試験器１２が試験用電流源から切離される。
【００２１】このとき、開放した被試験器１２は、一端
に端子１０の交流電圧が印加されて他端にコンデンサ１
４の残留直流電圧が印加され、両端間に両電圧を直列合
成した図３の場合と同様の高い試験電圧が印加される。
したがって、電圧分布を実使用状態の分布に合致させて
遮断試験が行える。
に端子１０の交流電圧が印加されて他端にコンデンサ１
４の残留直流電圧が印加され、両端間に両電圧を直列合
成した図３の場合と同様の高い試験電圧が印加される。
したがって、電圧分布を実使用状態の分布に合致させて
遮断試験が行える。
【００２２】なお、コンデンサ１４は被試験器１２の開
放後に残留電圧を発生すればよく、電流容量が問題とさ
れないため、図３の場合と同様、小容量の小型のコンデ
ンサにより形成される。また、変成器１５は２次側出力
電圧は低いが、２次側の一端が１次側の一端とともに出
力端子１０に接続されるため、その耐電圧特性は端子１
０，１１間の高電圧に耐える特性に設定される。
放後に残留電圧を発生すればよく、電流容量が問題とさ
れないため、図３の場合と同様、小容量の小型のコンデ
ンサにより形成される。また、変成器１５は２次側出力
電圧は低いが、２次側の一端が１次側の一端とともに出
力端子１０に接続されるため、その耐電圧特性は端子１
０，１１間の高電圧に耐える特性に設定される。
【００２３】（他の実施例）つぎに、他の実施例につい
て、図２を参照して説明する。同図において、図１と同
一符号は同一もしくは相当するものを示し、図１と異な
る点は、被試験器１２を例えば特別高圧用の超高耐圧の
遮断器，開閉器等とし、図１の電源部９の代わりに、独
立電源１８を変圧器１９によりさらに昇圧して形成した
試験用電圧源を端子１０，１１間に発生する電源部２０
を設けた点である。
て、図２を参照して説明する。同図において、図１と同
一符号は同一もしくは相当するものを示し、図１と異な
る点は、被試験器１２を例えば特別高圧用の超高耐圧の
遮断器，開閉器等とし、図１の電源部９の代わりに、独
立電源１８を変圧器１９によりさらに昇圧して形成した
試験用電圧源を端子１０，１１間に発生する電源部２０
を設けた点である。
【００２４】そして、独立電源１８は図１の電源部９と
同様のスター結線の発電機出力等からなり、その電圧の
不足を補うため、独立電源１８の電圧が変圧器１９によ
りさらに昇圧され、この昇圧により小電流の所要電圧の
試験用電圧源が形成され、この電圧源の出力が端子１
０，１１間に印加される。
同様のスター結線の発電機出力等からなり、その電圧の
不足を補うため、独立電源１８の電圧が変圧器１９によ
りさらに昇圧され、この昇圧により小電流の所要電圧の
試験用電圧源が形成され、この電圧源の出力が端子１
０，１１間に印加される。
【００２５】また、電流不足を補うため、図１の場合と
同様、変成器１５の降圧，変成により低圧，所要量の試
験用電流源が形成される。そして、被試験器１２，補助
開閉器１６，インピーダンス１７のループを流れる電流
Ｉｉｃと，被試験器１２，直列リアクトル１３，コンデ
ンサ１４のループを流れる進相の電流Ｉｖｃとの合成電
流により、図１の電流Ｉｉｂ，Ｉｖｂの合成電流に相当
する電流が形成され、この電流が被試験器１２に流れ、
被試験器１２が遮断開放し、この開放に連動して補助開
閉器１６が開放し、被試験器１２が試験用電流源から切
離される。
同様、変成器１５の降圧，変成により低圧，所要量の試
験用電流源が形成される。そして、被試験器１２，補助
開閉器１６，インピーダンス１７のループを流れる電流
Ｉｉｃと，被試験器１２，直列リアクトル１３，コンデ
ンサ１４のループを流れる進相の電流Ｉｖｃとの合成電
流により、図１の電流Ｉｉｂ，Ｉｖｂの合成電流に相当
する電流が形成され、この電流が被試験器１２に流れ、
被試験器１２が遮断開放し、この開放に連動して補助開
閉器１６が開放し、被試験器１２が試験用電流源から切
離される。
【００２６】この開放後は被試験器１２の一端に端子１
０の交流電圧が印加されて他端にコンデンサ１４の残留
直流電圧が印加され、電圧分布を実使用状態の分布に等
しくして被試験器１２の端子間に所要の試験電圧が印加
される。
０の交流電圧が印加されて他端にコンデンサ１４の残留
直流電圧が印加され、電圧分布を実使用状態の分布に等
しくして被試験器１２の端子間に所要の試験電圧が印加
される。
【００２７】したがって、この実施例の場合は変成器１
５及び変圧器１９を用いることにより、極めて小容量の
小型の設備で特別高圧クラスの遮断器，開閉器等の遮断
試験が行える。
５及び変圧器１９を用いることにより、極めて小容量の
小型の設備で特別高圧クラスの遮断器，開閉器等の遮断
試験が行える。
【００２８】そして、図１，図２の直列リアクトル１
３，インピーダンス１７は必要に応じて設ければよく、
省くこともできる。また、前記両実施例では単相の場合
について説明したが、３相等の多相の場合には相毎に図
１又は図２の構成に形成すればよい。
３，インピーダンス１７は必要に応じて設ければよく、
省くこともできる。また、前記両実施例では単相の場合
について説明したが、３相等の多相の場合には相毎に図
１又は図２の構成に形成すればよい。
【００２９】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、以下に記載する効果を奏する。被試験器１
２及び補助開閉器１６を閉成して試験を始めると、電源
部９，２０の試験用電圧源に基づいて被試験器１２，コ
ンデンサ１４のループに小容量の進相の電流が流れ、同
時に、試験用電圧源が変成器１５により降圧，変成され
て試験用電流源が形成され、この電流源に基づく変成器
１５の２次側の低圧，大容量の電流が被試験器１２，補
助開閉器１６のループを流れる。
ているため、以下に記載する効果を奏する。被試験器１
２及び補助開閉器１６を閉成して試験を始めると、電源
部９，２０の試験用電圧源に基づいて被試験器１２，コ
ンデンサ１４のループに小容量の進相の電流が流れ、同
時に、試験用電圧源が変成器１５により降圧，変成され
て試験用電流源が形成され、この電流源に基づく変成器
１５の２次側の低圧，大容量の電流が被試験器１２，補
助開閉器１６のループを流れる。
【００３０】そして、両電流を合成した試験電流が被試
験器１２に流れ、被試験器１２が遮断開放し、この開放
に連動して補助開閉器１６が開放し、この開放により被
試験器１２が試験用電流源から切離される。
験器１２に流れ、被試験器１２が遮断開放し、この開放
に連動して補助開閉器１６が開放し、この開放により被
試験器１２が試験用電流源から切離される。
【００３１】このとき、被試験器１２の端子間には従来
と同様、試験用電圧源の交流電圧とコンデンサ１４の残
留直流電圧とが試験電圧として印加される。 そして、
交流電圧は被試験器１２の一端に印加され、残留直流電
圧は被試験器１２の他端に印加され、被試験器１２の電
圧分布が実使用状態の分布に等しくなり、実使用状態に
即した電圧分布条件の合成試験により被試験器１２の遮
断試験を行うことができ、試験性能が著しく向上する。
と同様、試験用電圧源の交流電圧とコンデンサ１４の残
留直流電圧とが試験電圧として印加される。 そして、
交流電圧は被試験器１２の一端に印加され、残留直流電
圧は被試験器１２の他端に印加され、被試験器１２の電
圧分布が実使用状態の分布に等しくなり、実使用状態に
即した電圧分布条件の合成試験により被試験器１２の遮
断試験を行うことができ、試験性能が著しく向上する。
【図１】本発明の遮断試験装置の１実施例のブロック図
である。
である。
【図２】本発明の他の実施例のブロック図である。
【図３】従来装置のブロック図である。
９，２０ 電源部 １０ 出力端子 １１ 基準電位端子 １２ 被試験器 １４ 進相負荷としてのコンデンサ １５ 変成器 １６ 補助開閉器
Claims (1)
- 【請求項１】 進相負荷に対する遮断器，開閉器等の被
試験器の遮断性能を発電機出力等の独立電源を用いて合
成試験する遮断試験装置において、 前記独立電源又は該電源の昇圧出力を試験用電圧源とし
て出力端子と基準電位端子との間に発生する電源部と、 一端が前記被試験器を介して前記出力端子に接続され，
他端が前記基準電位端子に接続された進相負荷としての
コンデンサと、 １次側が前記両端子間に設けられ，前記両端子間の出力
を降圧，変成して試験用電流源を形成する変成器と、 前記被試験器を介して前記変成器の２次側両端間に設け
られ，前記被試験器の遮断開放に連動して開放する補助
開閉器とを備えたことを特徴とする遮断試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30588693A JPH07134167A (ja) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | 遮断試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30588693A JPH07134167A (ja) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | 遮断試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134167A true JPH07134167A (ja) | 1995-05-23 |
Family
ID=17950501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30588693A Pending JPH07134167A (ja) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | 遮断試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07134167A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110286319A (zh) * | 2019-06-10 | 2019-09-27 | 浙江华电器材检测研究所有限公司 | 一种一二次成套柱上开关一体化测试方法 |
| CN111856180A (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-30 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
-
1993
- 1993-11-10 JP JP30588693A patent/JPH07134167A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110286319A (zh) * | 2019-06-10 | 2019-09-27 | 浙江华电器材检测研究所有限公司 | 一种一二次成套柱上开关一体化测试方法 |
| CN110286319B (zh) * | 2019-06-10 | 2021-09-24 | 浙江华电器材检测研究所有限公司 | 一种一二次成套柱上开关一体化测试方法 |
| CN111856180A (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-30 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
| CN111856180B (zh) * | 2020-07-08 | 2022-11-08 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
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