JPH058533Y2 - - Google Patents
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- JPH058533Y2 JPH058533Y2 JP9139986U JP9139986U JPH058533Y2 JP H058533 Y2 JPH058533 Y2 JP H058533Y2 JP 9139986 U JP9139986 U JP 9139986U JP 9139986 U JP9139986 U JP 9139986U JP H058533 Y2 JPH058533 Y2 JP H058533Y2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 22
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 15
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
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- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
Ａ 産業上の利用分野
本考案は、三相実回路における供試しや断器の
進み電流しや断試験を模擬的に行うしや断器の試
験装置に関するものである。
進み電流しや断試験を模擬的に行うしや断器の試
験装置に関するものである。
Ｂ 考案の概要
本考案は、遅れ力率の電流を電流源回路から供
試しや断器に与え、しや断後の回復電圧を電圧源
回路から与えて進み電流しや断試験を模擬的に行
う装置において、 電圧源回路のトランスの出力電圧を電圧調整用
コンデンサにより昇圧すると共に、供試しや断器
のしや断後にそのコンデンサの両端を短絡し、そ
の短絡のタイミングを調整することによつて、 供試しや断器のしや断後の任意の時点でその極
間電圧を変えることを可能にし、これにより試験
の等価性を向上させるようにしたものである。
試しや断器に与え、しや断後の回復電圧を電圧源
回路から与えて進み電流しや断試験を模擬的に行
う装置において、 電圧源回路のトランスの出力電圧を電圧調整用
コンデンサにより昇圧すると共に、供試しや断器
のしや断後にそのコンデンサの両端を短絡し、そ
の短絡のタイミングを調整することによつて、 供試しや断器のしや断後の任意の時点でその極
間電圧を変えることを可能にし、これにより試験
の等価性を向上させるようにしたものである。
Ｃ 従来の技術
電力用開閉器の進み電流しや断性能の検証は三
相実回路により行うことが望ましいが、設備の都
合上等により単相の等価試験により行われること
が多い。このような等価試験に用いられる回路の
従来例を第２図に示すと、この回路は、交流電源
１、投入器２、電流制限用リアクトル３、補助し
や断器４及び供試しや断器５よりなる電流源回路
と、交流電源１、投入器２、トランス６及び回復
電圧印加用コンデンサ７よりなる電圧源回路とか
らなる。しや断試験は、先ず電流源回路により遅
れ力率の電流を供試しや断器５に流した状態で当
該供試しや断器５及び補助しや断器４を同時に開
極する。なおしや断器５には電圧源回路から進み
力率の電流も流れるが、この電流は前記遅れ力率
の電流よりも十分小さいため、その合成電流は遅
れ力率の電流として近似される。そして開極後し
や断器４，５は、遅れ力率の電流の零点でしや断
し、以後供試しや断器５の一端には、コンデンサ
７を経由した進み力率の電流しや断時の回復電圧
が印加される。従つて供試しや断器５の極間に
は、トランス６の二次側電圧波高値をＶとすれば
近似的にＶ（１−cos ωt）の大きさの電圧が印加
され、（ｎ＋1/2）サイクル毎に（ｎは０，１，
２，…）2vの最大電圧が印加される。
相実回路により行うことが望ましいが、設備の都
合上等により単相の等価試験により行われること
が多い。このような等価試験に用いられる回路の
従来例を第２図に示すと、この回路は、交流電源
１、投入器２、電流制限用リアクトル３、補助し
や断器４及び供試しや断器５よりなる電流源回路
と、交流電源１、投入器２、トランス６及び回復
電圧印加用コンデンサ７よりなる電圧源回路とか
らなる。しや断試験は、先ず電流源回路により遅
れ力率の電流を供試しや断器５に流した状態で当
該供試しや断器５及び補助しや断器４を同時に開
極する。なおしや断器５には電圧源回路から進み
力率の電流も流れるが、この電流は前記遅れ力率
の電流よりも十分小さいため、その合成電流は遅
れ力率の電流として近似される。そして開極後し
や断器４，５は、遅れ力率の電流の零点でしや断
し、以後供試しや断器５の一端には、コンデンサ
７を経由した進み力率の電流しや断時の回復電圧
が印加される。従つて供試しや断器５の極間に
は、トランス６の二次側電圧波高値をＶとすれば
近似的にＶ（１−cos ωt）の大きさの電圧が印加
され、（ｎ＋1/2）サイクル毎に（ｎは０，１，
２，…）2vの最大電圧が印加される。
一方三相実回路においては、第１しや断相の極
間電圧はインダクタンス等の電圧降下による電圧
変動分等を省略すると、近似的に次の式で表わさ
れる。
間電圧はインダクタンス等の電圧降下による電圧
変動分等を省略すると、近似的に次の式で表わさ
れる。
０≦ω≦90°の場合
３／2E（１−cos ωt）
90°≦ω の場合
Ｅ（３／２−cos ωt）
ただしＥは相電圧波高値である。
ところで信頼性の高い試験を行うためには、単
相等価試験における回復電圧の時間的変化は三相
実回路の場合にできるだけ近似的であることが望
ましい。このため従来では次のような方法が採用
されていた。従来方法による波形を第２図及び第
３図に示す。
相等価試験における回復電圧の時間的変化は三相
実回路の場合にできるだけ近似的であることが望
ましい。このため従来では次のような方法が採用
されていた。従来方法による波形を第２図及び第
３図に示す。
(1) 三相実回路における波形と試験回路における
波形との相対差が最小になるようにする（第２
図の点線l1）。
波形との相対差が最小になるようにする（第２
図の点線l1）。
(2) 回復電圧の波高値が一致するように
2V2.5E（＋インダクタンス降下分）
とする（第２図の点線l2）。
(3) 回復電圧の接線上昇率を合わせる（第３図の
点線l3）。
点線l3）。
なお第２図、第３図中の実線l0は三相コンデン
サを用いた場合の回復電圧の波形を示し、鎖線ｍ
は接線を示す。
サを用いた場合の回復電圧の波形を示し、鎖線ｍ
は接線を示す。
Ｄ 考案が解決しようとする問題点
上記の(1)の方法では波高値が実回路の場合に比
べて過酷であり、(2)の方法では上昇率が不足し、
極間電圧が最大となる近傍を除いて電圧値が実回
路の場合よりも不足し、特にしや断後約1/2サイ
クルの期間に対する性能検証としては適さない。
また(3)の方法では波高値が過酷になり、かつ電圧
値が低い部分もある。従つて従来の試験回路では
等価性が低いという問題があり、この傾向は50Hz
電源の試験回路で60Hzの実回路に相当する回復電
圧を得ようとする場合一層顕著であつた。
べて過酷であり、(2)の方法では上昇率が不足し、
極間電圧が最大となる近傍を除いて電圧値が実回
路の場合よりも不足し、特にしや断後約1/2サイ
クルの期間に対する性能検証としては適さない。
また(3)の方法では波高値が過酷になり、かつ電圧
値が低い部分もある。従つて従来の試験回路では
等価性が低いという問題があり、この傾向は50Hz
電源の試験回路で60Hzの実回路に相当する回復電
圧を得ようとする場合一層顕著であつた。
本考案の目的は、三相実回路に対する等価性の
高いしや断試験を行うことにある。
高いしや断試験を行うことにある。
Ｅ 問題点を解決するための手段
本考案は、電流源回路及び電圧源回路の分岐点
とトランスの一次巻線との間に、トランスの出力
電圧を調整するための電圧調整用コンデンサ及び
電圧調整用リアクトルを設け、更に前記電圧調整
用コンデンサに対して並列にバイパススイツチを
設けてなる。
とトランスの一次巻線との間に、トランスの出力
電圧を調整するための電圧調整用コンデンサ及び
電圧調整用リアクトルを設け、更に前記電圧調整
用コンデンサに対して並列にバイパススイツチを
設けてなる。
Ｆ 作用
電流源回路から供試しや断器に遅れ力率の電流
を与え、供試しや断器を開極して電流をしや断し
た後、バイパススイツチの閉成時点を変えること
により、供試しや断器の極間電圧の波形を調整す
ることができる。
を与え、供試しや断器を開極して電流をしや断し
た後、バイパススイツチの閉成時点を変えること
により、供試しや断器の極間電圧の波形を調整す
ることができる。
Ｇ 実施例
第１図は本考案の実施例を示す回路図であり、
第２図と同符号のものは同一部分を示す。この実
施例では、電流源回路及び電圧源回路の分岐点、
例えば投入器２及びリアクトル３の接続点とトラ
ンス６の一次巻線との間に電圧調整用コンデンサ
８が接続され、このコンデンサ８に対して並列に
バイパススイツチが接続されている。また前記ト
ランス６の一次巻線に対して電圧調整用リアクト
ル１０が並列に接続されている。
第２図と同符号のものは同一部分を示す。この実
施例では、電流源回路及び電圧源回路の分岐点、
例えば投入器２及びリアクトル３の接続点とトラ
ンス６の一次巻線との間に電圧調整用コンデンサ
８が接続され、このコンデンサ８に対して並列に
バイパススイツチが接続されている。また前記ト
ランス６の一次巻線に対して電圧調整用リアクト
ル１０が並列に接続されている。
次に上記構成の回路による試験手順を説明す
る。
る。
先ず投入器２、補助しや断器４及び供試しや断
器５を閉じておき、交流電源１からリアクトル３
を通じて供試しや断器５に遅れ力率の電流を流
す。このときバイパススイツチ９を開いておく
と、電圧調整用コンデンサ８にはトランス６の励
磁電流、リアクトル１０を流れる電流、及び回復
電圧印加用コンデンサ７を流れる電流の一次側換
算分の総和電流が流れる。その総和電流が交流電
源１の電圧に対し遅れ力率となるように各回路定
数を選定しておくと、トランス６の一次側励磁電
圧は交流電源１の電圧よりもコンデンサ８の端子
間電圧分高い大きさになる。このときのトランス
６の二次側電圧波高値をV2′とする。そして補助
しや断器４及び供試しや断器５を同時に開極する
と、電流源回路からの遅れ力率の電流の零点でし
や断器４，５がしや断され、以後供試しや断器５
の一端にはコンデンサ７を経由した進み力率の電
流しや断時の回復電圧が印加される。従つて供試
しや断器５の極間には、V2′（１−cos ωt）の大
きさの電圧が印加される。なおコンデンサ７を流
れていた電流がしや断されたことによる電圧変動
を実用上無視できるように予め各回路定数が選定
される。その後任意の時点例えば電流しや断後1/
４サイクル経過した時点でバイパススイツチ９を
閉じると、トランス６は交流電源１により直接励
磁される。このときのトランスの二次側電圧波高
値をV2とすると、供試しや断器の極間には
（V2′−V2cos ωt）の大きさの電圧が印加され
る。即ちバイパススイツチ９を閉じたことによ
り、供試しや断器５の極間電圧の波形が、V2′
（１−cos ωt）で表わされる波形から（V2′−
Vcos ωt）で表わされる波形に変わる。この結果
バイパススイツチ９の閉成時点を変えれば、波形
の移行のタイミングが変わり、また電圧調整用リ
アクトル１０のインダクタンスを変えることによ
り波高値V2′を調整することができるから、結局
極間電圧の波形を調整することができる。
器５を閉じておき、交流電源１からリアクトル３
を通じて供試しや断器５に遅れ力率の電流を流
す。このときバイパススイツチ９を開いておく
と、電圧調整用コンデンサ８にはトランス６の励
磁電流、リアクトル１０を流れる電流、及び回復
電圧印加用コンデンサ７を流れる電流の一次側換
算分の総和電流が流れる。その総和電流が交流電
源１の電圧に対し遅れ力率となるように各回路定
数を選定しておくと、トランス６の一次側励磁電
圧は交流電源１の電圧よりもコンデンサ８の端子
間電圧分高い大きさになる。このときのトランス
６の二次側電圧波高値をV2′とする。そして補助
しや断器４及び供試しや断器５を同時に開極する
と、電流源回路からの遅れ力率の電流の零点でし
や断器４，５がしや断され、以後供試しや断器５
の一端にはコンデンサ７を経由した進み力率の電
流しや断時の回復電圧が印加される。従つて供試
しや断器５の極間には、V2′（１−cos ωt）の大
きさの電圧が印加される。なおコンデンサ７を流
れていた電流がしや断されたことによる電圧変動
を実用上無視できるように予め各回路定数が選定
される。その後任意の時点例えば電流しや断後1/
４サイクル経過した時点でバイパススイツチ９を
閉じると、トランス６は交流電源１により直接励
磁される。このときのトランスの二次側電圧波高
値をV2とすると、供試しや断器の極間には
（V2′−V2cos ωt）の大きさの電圧が印加され
る。即ちバイパススイツチ９を閉じたことによ
り、供試しや断器５の極間電圧の波形が、V2′
（１−cos ωt）で表わされる波形から（V2′−
Vcos ωt）で表わされる波形に変わる。この結果
バイパススイツチ９の閉成時点を変えれば、波形
の移行のタイミングが変わり、また電圧調整用リ
アクトル１０のインダクタンスを変えることによ
り波高値V2′を調整することができるから、結局
極間電圧の波形を調整することができる。
以上において本考案では、バイパススイツチ９
の閉成時にコンデンサ８に急峻な短絡電流が流れ
るのを防止するために、第１図に点線で示すよう
にコンデンサ８と直列に保護用リアクトル１１を
接続してもよい。
の閉成時にコンデンサ８に急峻な短絡電流が流れ
るのを防止するために、第１図に点線で示すよう
にコンデンサ８と直列に保護用リアクトル１１を
接続してもよい。
Ｈ 考案の効果
以上のように本考案は、トランスの二次側電圧
の波高値を変えることができ、その変更のタイミ
ングをバイパススイツチ９の閉成によりとるよう
にしているから、しや断後任意の時点で供試しや
断器の極間電圧波形を変化させることができると
共にしや断後の電圧上昇率及び極間最大電圧を
夫々独立に調整することができる。このためバイ
パススイツチの閉成前後の夫々の電圧V2，V2′を
適当な値に選ぶことにより、単相等価試験回路で
ありながら三相実回路で現われる電圧波形をより
忠実に再現することができ、試験の等価向上性が
図れる。また50Hzの電源を用いた試験回路によつ
て、60Hz三相実回路の第１しや断相の回復電圧に
近似した波形が得られるから、60Hz定格の機器の
試験を高い信頼性で行うことができる。
の波高値を変えることができ、その変更のタイミ
ングをバイパススイツチ９の閉成によりとるよう
にしているから、しや断後任意の時点で供試しや
断器の極間電圧波形を変化させることができると
共にしや断後の電圧上昇率及び極間最大電圧を
夫々独立に調整することができる。このためバイ
パススイツチの閉成前後の夫々の電圧V2，V2′を
適当な値に選ぶことにより、単相等価試験回路で
ありながら三相実回路で現われる電圧波形をより
忠実に再現することができ、試験の等価向上性が
図れる。また50Hzの電源を用いた試験回路によつ
て、60Hz三相実回路の第１しや断相の回復電圧に
近似した波形が得られるから、60Hz定格の機器の
試験を高い信頼性で行うことができる。
第１図は本考案の実施例を示す回路図、第２図
は従来例を示す回路図、第３図及び第４図は各々
三相実回路及び単相等価試験回路における回復電
圧を示す波形図である。 １……交流電源、２……投入器、３……電流制
限用リアクトル、４……補助しや断器、５……供
試しや断器、６……変圧器、７……回復電圧印加
用コンデンサ、８……電圧調整用コンデンサ、９
……バイパススイツチ、１０……電圧調整用リア
クトル。
は従来例を示す回路図、第３図及び第４図は各々
三相実回路及び単相等価試験回路における回復電
圧を示す波形図である。 １……交流電源、２……投入器、３……電流制
限用リアクトル、４……補助しや断器、５……供
試しや断器、６……変圧器、７……回復電圧印加
用コンデンサ、８……電圧調整用コンデンサ、９
……バイパススイツチ、１０……電圧調整用リア
クトル。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 交流電源及びリアクトルを含む電流源回路から
供試しや断器に遅れ力率の電流を与え、この電流
のしや断後に、前記交流電源にトランスを介して
回復電圧印加用コンデンサを接続してなる電圧源
回路から前記しや断器に回復電圧を印加し、これ
により実回路の進み電流しや断試験を模擬的に行
うしや断器の試験装置において、 前記電流源回路及び電圧源回路の分岐点と前記
トランスの一次巻線との間に、トランスの出力電
圧を調製するための電圧調整用コンデンサ及び電
圧調整用リアクトルを設け、更に前記電圧調整用
コンデンサに対して並列にバイパススイツチを設
け、 前記供試しや断器をしや断した後、バイパスス
イツチの閉成時点を変えることにより、供試しや
断器の極間電圧の波形を調整することを特徴とす
るしや断器の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9139986U JPH058533Y2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9139986U JPH058533Y2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62203479U JPS62203479U (ja) | 1987-12-25 |
| JPH058533Y2 true JPH058533Y2 (ja) | 1993-03-03 |
Family
ID=30952147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9139986U Expired - Lifetime JPH058533Y2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH058533Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP9139986U patent/JPH058533Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62203479U (ja) | 1987-12-25 |
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