JPH07280896A - 遅相電流遮断試験装置 - Google Patents
遅相電流遮断試験装置Info
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- JPH07280896A JPH07280896A JP6093785A JP9378594A JPH07280896A JP H07280896 A JPH07280896 A JP H07280896A JP 6093785 A JP6093785 A JP 6093785A JP 9378594 A JP9378594 A JP 9378594A JP H07280896 A JPH07280896 A JP H07280896A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 遮断に失敗したときの破損を防止して被試験
開閉器の開放によりその端部間に実使用状況に合致した
周波数の過渡振動電圧を印加する。 【構成】 被試験開閉器１の開放操作に連動して開放す
る第１，第２の補助開閉器８，１２と、第１の開閉器８
に並列に設けられた電流抑制インダクタンス９と、第
１，第２の調整コンデンサ１０，１１と、開閉器１の開
放操作後の両端部１ａ，１ｂ間の零電流により閉成する
放電ギャップ１３と、このギャップ１３に直列に設けら
れた調整インダクタンス１４とを備え、コンデンサ１０
を、両端部１ａ，１ｂ間の過渡振動電圧の周波数に影響
しない大きさに設定し、コンデンサ１１，前記調整イン
ダクタンス１４を、過渡振動電圧が開閉器１の実使用状
況に応じた所定の周波数になるように設定する。
開閉器の開放によりその端部間に実使用状況に合致した
周波数の過渡振動電圧を印加する。 【構成】 被試験開閉器１の開放操作に連動して開放す
る第１，第２の補助開閉器８，１２と、第１の開閉器８
に並列に設けられた電流抑制インダクタンス９と、第
１，第２の調整コンデンサ１０，１１と、開閉器１の開
放操作後の両端部１ａ，１ｂ間の零電流により閉成する
放電ギャップ１３と、このギャップ１３に直列に設けら
れた調整インダクタンス１４とを備え、コンデンサ１０
を、両端部１ａ，１ｂ間の過渡振動電圧の周波数に影響
しない大きさに設定し、コンデンサ１１，前記調整イン
ダクタンス１４を、過渡振動電圧が開閉器１の実使用状
況に応じた所定の周波数になるように設定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電力用の開閉器，遮断
器の分路リアクトル開閉等の遅相電流遮断性能を試験す
る遅相電流遮断試験装置に関する。
器の分路リアクトル開閉等の遅相電流遮断性能を試験す
る遅相電流遮断試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、電力用の開閉器，遮断器は、分路
リアクトル開閉等の遅相電流の遮断が困難であるため、
遅相電流に対する遮断性能（遅相電流遮断性能）が試験
される。
リアクトル開閉等の遅相電流の遮断が困難であるため、
遅相電流に対する遮断性能（遅相電流遮断性能）が試験
される。
【０００３】この試験に用いられる従来の遅相電流遮断
試験装置は図５に示すように構成され、試験対象の開閉
器，遮断器からなる被試験開閉器１が試験手順に基づく
自動又は手動の開放操作で開放する前は、開閉器１の電
源端部１ａと負荷端部１ｂとの間が閉成しているため、
短絡試験用発電機或いは系統電源等の交流の試験電源２
から小容量の電源インダクタンス３，被試験開閉器１，
試験負荷インダクタンス４，基準電位点であるアース点
５に電流が流れる。
試験装置は図５に示すように構成され、試験対象の開閉
器，遮断器からなる被試験開閉器１が試験手順に基づく
自動又は手動の開放操作で開放する前は、開閉器１の電
源端部１ａと負荷端部１ｂとの間が閉成しているため、
短絡試験用発電機或いは系統電源等の交流の試験電源２
から小容量の電源インダクタンス３，被試験開閉器１，
試験負荷インダクタンス４，基準電位点であるアース点
５に電流が流れる。
【０００４】この電流は、試験負荷インダクタンス４等
により電圧より遅れ位相になり、遅相電流を形成する。
つぎに、前記開放操作が行われて被試験開閉器１の端部
１ａ，１ｂ間が正常に開放すると、前記の遅相電流が消
失する。
により電圧より遅れ位相になり、遅相電流を形成する。
つぎに、前記開放操作が行われて被試験開閉器１の端部
１ａ，１ｂ間が正常に開放すると、前記の遅相電流が消
失する。
【０００５】このとき、試験負荷インダクタンス４の対
地浮遊容量としての浮遊コンデンサ６の放電により、高
周波の過渡振動電圧が発生し、この電圧が試験電源２に
重畳して端部１ａ，１ｂ間に印加される。そして、前記
開放操作前，後の端部１ａ，１ｂ間の電圧，電流等の計
測に基づき、被試験開閉器１の遮断性能が試験される。
地浮遊容量としての浮遊コンデンサ６の放電により、高
周波の過渡振動電圧が発生し、この電圧が試験電源２に
重畳して端部１ａ，１ｂ間に印加される。そして、前記
開放操作前，後の端部１ａ，１ｂ間の電圧，電流等の計
測に基づき、被試験開閉器１の遮断性能が試験される。
【０００６】ところで、被試験開閉器１の仕様等に基づ
き、試験電源２の電圧の昇降調整が必要なときは、図６
に示すように被試験開閉器１の電源側に変圧器７が設け
られる。そして、試験電源２は変圧器７の１次巻線７ａ
と２次巻線７ｂとの比に応じて昇降調整された後、２次
巻線７ｂから被試験開閉器１，試験負荷インダクタンス
４の直列回路に供給される。
き、試験電源２の電圧の昇降調整が必要なときは、図６
に示すように被試験開閉器１の電源側に変圧器７が設け
られる。そして、試験電源２は変圧器７の１次巻線７ａ
と２次巻線７ｂとの比に応じて昇降調整された後、２次
巻線７ｂから被試験開閉器１，試験負荷インダクタンス
４の直列回路に供給される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】前記図５，図６の従来
装置の場合、とくに、浮遊コンデンサ６の容量（対地浮
遊容量）は試験負荷インダクタンス４等の試験装置の条
件で決まり、被試験開閉器１の実際の使用状況に即した
大きさにならない。
装置の場合、とくに、浮遊コンデンサ６の容量（対地浮
遊容量）は試験負荷インダクタンス４等の試験装置の条
件で決まり、被試験開閉器１の実際の使用状況に即した
大きさにならない。
【０００８】これは、装置の汎用性を高めるため、多く
の場合、試験負荷インダクタンス４が大形の可変容量器
である場合が多く、浮遊コンデンサ６の容量は実際の使
用状況下での容量より大きくなるためである。
の場合、試験負荷インダクタンス４が大形の可変容量器
である場合が多く、浮遊コンデンサ６の容量は実際の使
用状況下での容量より大きくなるためである。
【０００９】したがって、被試験開閉器１が開放操作さ
れたときに、その端部１ａ，１ｂ間に印加される高周波
の過渡振動電圧の周波数が実使用状況下での特性に一致
せず、試験目標条件を満足できないため有効な試験とな
らないという問題点がある。
れたときに、その端部１ａ，１ｂ間に印加される高周波
の過渡振動電圧の周波数が実使用状況下での特性に一致
せず、試験目標条件を満足できないため有効な試験とな
らないという問題点がある。
【００１０】一方、この種試験装置においては、被試験
開閉器１の試験による破損を極力防止する必要がある。
本発明は、遮断に失敗したときの破損を防止して被試験
開閉器の損傷を極力少くすると共に、被試験開閉器の開
放によりその端部間に印加される過渡振動電圧の周波数
を被試験開閉器の実使用状況に合致した特性にすること
を目的とする。
開閉器１の試験による破損を極力防止する必要がある。
本発明は、遮断に失敗したときの破損を防止して被試験
開閉器の損傷を極力少くすると共に、被試験開閉器の開
放によりその端部間に印加される過渡振動電圧の周波数
を被試験開閉器の実使用状況に合致した特性にすること
を目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明の遅相電流遮断試験装置においては、試験
電源と被試験開閉器の電源端部との間の試験電源の給電
路に挿入され，被試験開閉器の開放操作に連動して開放
する第１の補助開閉器と、第１の補助開閉器に並列に設
けられ，試験電源のバイパス路を形成する電流抑制イン
ダクタンスと、
めに、本発明の遅相電流遮断試験装置においては、試験
電源と被試験開閉器の電源端部との間の試験電源の給電
路に挿入され，被試験開閉器の開放操作に連動して開放
する第１の補助開閉器と、第１の補助開閉器に並列に設
けられ，試験電源のバイパス路を形成する電流抑制イン
ダクタンスと、
【００１２】第１の補助開閉器の負荷側の試験電源によ
り充電されて過渡電源を形成する第１の調整コンデンサ
と、被試験開閉器の両端部間に設けられた第２の調整コ
ンデンサと、被試験開閉器の負荷端部と試験負荷インダ
クタンスとの間に設けられ，前記開放操作に連動して開
放する負荷切離用の第２の補助開閉器と、前記負荷端部
と基準電位点との間に設けられ，前記開放操作後の前記
両端部間の零電流により閉成する過渡振動路閉成用の閉
路手段と、前記負荷端部と閉路手段との間又は閉路手段
と基準電位点との間に設けられた調整インダクタンスと
を備え、
り充電されて過渡電源を形成する第１の調整コンデンサ
と、被試験開閉器の両端部間に設けられた第２の調整コ
ンデンサと、被試験開閉器の負荷端部と試験負荷インダ
クタンスとの間に設けられ，前記開放操作に連動して開
放する負荷切離用の第２の補助開閉器と、前記負荷端部
と基準電位点との間に設けられ，前記開放操作後の前記
両端部間の零電流により閉成する過渡振動路閉成用の閉
路手段と、前記負荷端部と閉路手段との間又は閉路手段
と基準電位点との間に設けられた調整インダクタンスと
を備え、
【００１３】第１の調整コンデンサを、被試験開閉器が
開放したときの過渡電源の放電に基づく前記両端部間の
過渡振動電圧の周波数に影響しない大きさに設定し、第
２の調整コンデンサ，調整インダクタンスを、過渡振動
電圧が被試験開閉器の実使用状況に応じた所定の周波数
になるように設定する。
開放したときの過渡電源の放電に基づく前記両端部間の
過渡振動電圧の周波数に影響しない大きさに設定し、第
２の調整コンデンサ，調整インダクタンスを、過渡振動
電圧が被試験開閉器の実使用状況に応じた所定の周波数
になるように設定する。
【００１４】
【作用】前記のように構成された本発明の遅相電流遮断
試験装置の場合、被試験開閉器を開放操作すると、第
１，第２の補助開閉器が開放する。
試験装置の場合、被試験開閉器を開放操作すると、第
１，第２の補助開閉器が開放する。
【００１５】そして、第１の補助開閉器の開放により、
試験電源の給電路が第１の補助開閉器から電流抑制イン
ダクタンスに切換わり、被試験開閉器の遮断に失敗して
も、その後の試験電源に基づく続流が抑制され、被試験
開閉器の破損が防止される。
試験電源の給電路が第１の補助開閉器から電流抑制イン
ダクタンスに切換わり、被試験開閉器の遮断に失敗して
も、その後の試験電源に基づく続流が抑制され、被試験
開閉器の破損が防止される。
【００１６】また、第２の補助開閉器の開放により、試
験負荷インダクタンスが被試験開閉器から切離される。
さらに、開放操作後に被試験開閉器の電源端部と負荷端
部との間の電流が零になると、閉路手段が閉成する。
験負荷インダクタンスが被試験開閉器から切離される。
さらに、開放操作後に被試験開閉器の電源端部と負荷端
部との間の電流が零になると、閉路手段が閉成する。
【００１７】このとき、第１の調整コンデンサの充電電
荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ，閉路手
段，調整インダクタンスの直列回路を介して放電し、こ
の放電により被試験開閉器の両端部間に高周波の過渡振
動電圧が印加される。
荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ，閉路手
段，調整インダクタンスの直列回路を介して放電し、こ
の放電により被試験開閉器の両端部間に高周波の過渡振
動電圧が印加される。
【００１８】そして、この電圧の振動周波数は第１，第
２の調整コンデンサ及び調整インダクタンスの容量設定
に基づき、被試験開閉器の実使用状況に応じた所定の周
波数になる。
２の調整コンデンサ及び調整インダクタンスの容量設定
に基づき、被試験開閉器の実使用状況に応じた所定の周
波数になる。
【００１９】したがって、試験負荷インダクタンスに派
生した対地浮遊容量の影響を受けることなく、開放操作
後の被試験開閉器の両端部間に実使用状況に合致した周
波数の過渡振動電圧が印加される。
生した対地浮遊容量の影響を受けることなく、開放操作
後の被試験開閉器の両端部間に実使用状況に合致した周
波数の過渡振動電圧が印加される。
【００２０】そのため、遮断に失敗したときの破損を防
止して、被試験開閉器の端部間に印加される過渡振動電
圧の周波数を実使用状況に合致した特性にできる。
止して、被試験開閉器の端部間に印加される過渡振動電
圧の周波数を実使用状況に合致した特性にできる。
【００２１】
【実施例】実施例について、図１ないし図４を参照して
説明する。 （１実施例）１実施例について、図１ないし図３を参照
して説明する。図１において、図５と同一符号は同一も
しくは相当するものを示し、図５と異なる点はつぎの
（ｉ）〜（viii）の点である。
説明する。 （１実施例）１実施例について、図１ないし図３を参照
して説明する。図１において、図５と同一符号は同一も
しくは相当するものを示し、図５と異なる点はつぎの
（ｉ）〜（viii）の点である。
【００２２】（ｉ）試験電源２と電源端部１ａとの間の
試験電源２の給電路に第１の補助開閉器８を挿入し、こ
の開閉器８を被試験開閉器１の開放操作に連動して開放
するようにした点。 （ii）第１の補助開閉器８に並列に試験電源２のバイパ
ス路を形成する電源抑制インダクタンス９を設けた点。
試験電源２の給電路に第１の補助開閉器８を挿入し、こ
の開閉器８を被試験開閉器１の開放操作に連動して開放
するようにした点。 （ii）第１の補助開閉器８に並列に試験電源２のバイパ
ス路を形成する電源抑制インダクタンス９を設けた点。
【００２３】（iii） 試験電源２の給電路とアース点５
との間に、試験電源２により充電されて過渡電源を形成
する第１の調整コンデンサ１０を設けた点。 （iv）被試験開閉器１の両端部１ａ，１ｂ間に第２の調
整コンデンサ１１を設けた点。
との間に、試験電源２により充電されて過渡電源を形成
する第１の調整コンデンサ１０を設けた点。 （iv）被試験開閉器１の両端部１ａ，１ｂ間に第２の調
整コンデンサ１１を設けた点。
【００２４】（ｖ）負荷端部１ｂと試験負荷インダクタ
ンス４との間に、被試験開閉器１の開放操作に連動して
開放する負荷切離用の第２の補助開閉器１２を設けた
点。 （vi）負荷端部１ｂとアース点５との間に過渡振動路閉
成用の閉路手段を形成する放電ギャップ１３を設け、被
試験開閉器１の開放操作後の端部１ａ，１ｂ間の零電流
により放電ギャップ１３を放電トリガして閉成するよう
にした点。
ンス４との間に、被試験開閉器１の開放操作に連動して
開放する負荷切離用の第２の補助開閉器１２を設けた
点。 （vi）負荷端部１ｂとアース点５との間に過渡振動路閉
成用の閉路手段を形成する放電ギャップ１３を設け、被
試験開閉器１の開放操作後の端部１ａ，１ｂ間の零電流
により放電ギャップ１３を放電トリガして閉成するよう
にした点。
【００２５】（vii） 放電ギャップ１３とアース点５と
の間に調整インダクタンス１４を設けた点。 （viii）第１の調整コンデンサ１０を、被試験開閉器１
が開放したときの過渡電源の放電に基づく両端部１ａ，
１ｂ間の過渡振動電圧の周波数に影響しない大きさに設
定し、第２の調整コンデンサ１１，調整インダクタンス
１４を、過渡振動電圧が被試験開閉器１の実使用状況に
応じた所定の周波数になるように設定した点。
の間に調整インダクタンス１４を設けた点。 （viii）第１の調整コンデンサ１０を、被試験開閉器１
が開放したときの過渡電源の放電に基づく両端部１ａ，
１ｂ間の過渡振動電圧の周波数に影響しない大きさに設
定し、第２の調整コンデンサ１１，調整インダクタンス
１４を、過渡振動電圧が被試験開閉器１の実使用状況に
応じた所定の周波数になるように設定した点。
【００２６】そして、インダクタンス３，４，９，１４
の大きさをＬ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 ，Ｌ4，コンデンサ１０，
１１の大きさをＣ1 ，Ｃ2 とし、過渡振動電圧の周波数
をｆ＝ω／２πとすると、インダクタンス３，４及びコ
ンデンサ１０，１１はつぎに説明するように設定され
る。
の大きさをＬ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 ，Ｌ4，コンデンサ１０，
１１の大きさをＣ1 ，Ｃ2 とし、過渡振動電圧の周波数
をｆ＝ω／２πとすると、インダクタンス３，４及びコ
ンデンサ１０，１１はつぎに説明するように設定され
る。
【００２７】まず、電流抑制インダクタンス９は、直列
共振を防止して適当量の電流抑制を行うため、Ｌ1 ＜Ｌ
3 ，Ｌ3 ＜Ｌ2 ，１／（ωＣ1 ）＞１／（ωＬ3 ）を満
足するように設定される。なお、電源インダクタンス３
は十分に小さく、このインダクタンス３と試験負荷イン
ダクタンス４とは、Ｌ1 ＜Ｌ2 の関係にある。
共振を防止して適当量の電流抑制を行うため、Ｌ1 ＜Ｌ
3 ，Ｌ3 ＜Ｌ2 ，１／（ωＣ1 ）＞１／（ωＬ3 ）を満
足するように設定される。なお、電源インダクタンス３
は十分に小さく、このインダクタンス３と試験負荷イン
ダクタンス４とは、Ｌ1 ＜Ｌ2 の関係にある。
【００２８】つぎに、第１の調整コンデンサ１０は、被
試験開閉器１が開放したときの端部１ａ，１ｂ間の過渡
振動電圧の周波数に影響しないように、Ｃ1 ≫Ｃ2 に設
定される。
試験開閉器１が開放したときの端部１ａ，１ｂ間の過渡
振動電圧の周波数に影響しないように、Ｃ1 ≫Ｃ2 に設
定される。
【００２９】さらに、第２の調整コンデンサ１１，調整
インダクタンス１４は、両端部１ａ，１ｂ間の過渡振動
電圧が被試験開閉器１の実使用状況に応じたつぎの数１
の式の所定の周波数ｆになるように設定される。
インダクタンス１４は、両端部１ａ，１ｂ間の過渡振動
電圧が被試験開閉器１の実使用状況に応じたつぎの数１
の式の所定の周波数ｆになるように設定される。
【００３０】
【数１】
【００３１】なお、この実施例では調整コンデンサ１
１，調整インダクタンス１４の直列共振の抑制も図るた
め、実際には、つぎの数２の式も満足するように設定さ
れる。
１，調整インダクタンス１４の直列共振の抑制も図るた
め、実際には、つぎの数２の式も満足するように設定さ
れる。
【００３２】
【数２】（１／ωＣ2 ）≫ωＬ4
【００３３】そして、試験の際は各開閉器１，８，１２
が閉成し、放電ギャップ１３が開放した状態で試験電源
２が投入される。
が閉成し、放電ギャップ１３が開放した状態で試験電源
２が投入される。
【００３４】このとき、第１の補助開閉器８を介した試
験電源２により、第１の調整コンデンサ１０が充電され
るとともに被試験開閉器１，第２の補助開閉器１２，試
験負荷インダクタンス４，アース点に電流が流れ、試験
負荷インダクタンス４を接続した状態での両端部１ａ，
１ｂ間の電圧，電流等の計測が行われる。
験電源２により、第１の調整コンデンサ１０が充電され
るとともに被試験開閉器１，第２の補助開閉器１２，試
験負荷インダクタンス４，アース点に電流が流れ、試験
負荷インダクタンス４を接続した状態での両端部１ａ，
１ｂ間の電圧，電流等の計測が行われる。
【００３５】つぎに、試験手順にしたがってｔ１に被試
験開閉器１の自動又は手動の開放操作が行われ、図２の
（ａ）に示すように被試験開閉器１が開放したとする。
なお、図２の開，閉は開放，閉成を示す。
験開閉器１の自動又は手動の開放操作が行われ、図２の
（ａ）に示すように被試験開閉器１が開放したとする。
なお、図２の開，閉は開放，閉成を示す。
【００３６】このとき、図２の（ｂ），（ｃ）に示すよ
うに補助開閉器８，１２が共に開放し、第１の補助開閉
器８の開放により試験電源２の給電路が第１の補助開閉
器８から電流抑制インダクタンス９に切換わる。また、
第２の補助開閉器１２の開放により、試験負荷インダク
タンス４が被試験開閉器１から切離される。
うに補助開閉器８，１２が共に開放し、第１の補助開閉
器８の開放により試験電源２の給電路が第１の補助開閉
器８から電流抑制インダクタンス９に切換わる。また、
第２の補助開閉器１２の開放により、試験負荷インダク
タンス４が被試験開閉器１から切離される。
【００３７】そして、この切離しにより被試験開閉器１
の両端部１ａ，１ｂ間を通流する電流が図２の（ｅ）に
示すように開放操作後のｔ２に零電流になると、例え
ば、負荷端部１ｂと第２の補助開閉器１２との間に設け
られた電流検出器（図示せず）の検出信号に基づき、図
外のトリガ発生器から放電ギャップ１３にギャップトリ
ガの電圧が与えられる。
の両端部１ａ，１ｂ間を通流する電流が図２の（ｅ）に
示すように開放操作後のｔ２に零電流になると、例え
ば、負荷端部１ｂと第２の補助開閉器１２との間に設け
られた電流検出器（図示せず）の検出信号に基づき、図
外のトリガ発生器から放電ギャップ１３にギャップトリ
ガの電圧が与えられる。
【００３８】この電圧により図２の（ｄ）に示すように
放電ギャップ１３が閉成し、第１の調整コンデンサ１０
の蓄積電荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ１
１，放電ギャップ１３，調整インダクタンス１４を介し
て急速に放電する。
放電ギャップ１３が閉成し、第１の調整コンデンサ１０
の蓄積電荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ１
１，放電ギャップ１３，調整インダクタンス１４を介し
て急速に放電する。
【００３９】この放電に基づき、第２の調整コンデンサ
１１の両端間，すなわち両端部１ａ，１ｂ間に図３の
（ｂ）に示す高周波の過渡振動電圧が印加される。な
お、図３の（ａ）は試験電源２による電圧ｖ，電流ｉを
示し、同図の（ｃ）はギャップトリガの電圧を示す。
１１の両端間，すなわち両端部１ａ，１ｂ間に図３の
（ｂ）に示す高周波の過渡振動電圧が印加される。な
お、図３の（ａ）は試験電源２による電圧ｖ，電流ｉを
示し、同図の（ｃ）はギャップトリガの電圧を示す。
【００４０】そして、両端部１ａ，１ｂ間の過渡振動電
圧の周波数は第２の調整コンデンサ１１，調整インダク
タンス１４の大きさＣ2 ，Ｌ4 の設定に基づき、被試験
開閉器１の実使用状況に合致した周波数になる。
圧の周波数は第２の調整コンデンサ１１，調整インダク
タンス１４の大きさＣ2 ，Ｌ4 の設定に基づき、被試験
開閉器１の実使用状況に合致した周波数になる。
【００４１】したがって、被試験開閉器１の開放操作
後、試験負荷インダクタンス４に派生した浮遊コンデン
サ６の影響を受けることなく、実使用状況に合致した周
波数の過渡振動電圧が被試験開閉器１の両端部１ａ，１
ｂ間に印加され、所望の性能検証試験が行える。
後、試験負荷インダクタンス４に派生した浮遊コンデン
サ６の影響を受けることなく、実使用状況に合致した周
波数の過渡振動電圧が被試験開閉器１の両端部１ａ，１
ｂ間に印加され、所望の性能検証試験が行える。
【００４２】一方、試験電源２の給電路に比較的大きな
電流抑制インダクタンス９が挿入されるため、被試験開
閉器１が前記の過渡振動電圧に耐えられず、遮断に失敗
して両端部１ａ，１ｂ間が再閉路しても、被試験開閉器
１を通流する開放操作後の続流が抑制され、過大な短絡
電流による被試験開閉器１の破損が防止される。
電流抑制インダクタンス９が挿入されるため、被試験開
閉器１が前記の過渡振動電圧に耐えられず、遮断に失敗
して両端部１ａ，１ｂ間が再閉路しても、被試験開閉器
１を通流する開放操作後の続流が抑制され、過大な短絡
電流による被試験開閉器１の破損が防止される。
【００４３】（他の実施例）つぎに、他の実施例につい
て、図４を参照して説明する。図４において、図１と同
一符号は同一もしくは相当するものを示し、図１と異な
る点は、図６の変圧器７に相当する変圧器１５を付加
し、試験電源２の電圧を変圧器１５の１次巻線１５ａと
２次巻線１５ｂとの比に基づいて昇降調整し、２次巻線
１５ｂの調整後の電源を用いるようにした点である。
て、図４を参照して説明する。図４において、図１と同
一符号は同一もしくは相当するものを示し、図１と異な
る点は、図６の変圧器７に相当する変圧器１５を付加
し、試験電源２の電圧を変圧器１５の１次巻線１５ａと
２次巻線１５ｂとの比に基づいて昇降調整し、２次巻線
１５ｂの調整後の電源を用いるようにした点である。
【００４４】なお、変圧器１５は過渡振動電圧の周波数
に影響を与えないように、被試験開閉器１からみたイン
ピーダンスが十分に小さくなるように設定されている。
に影響を与えないように、被試験開閉器１からみたイン
ピーダンスが十分に小さくなるように設定されている。
【００４５】そして、この実施例の場合、試験電源２の
電圧等を被試験開閉器１の容量等に応じた所定の大きさ
に調整して１実施例と同様の試験が行え、とくに、電源
電圧を越えるような高圧の開閉器の試験に好適である。
電圧等を被試験開閉器１の容量等に応じた所定の大きさ
に調整して１実施例と同様の試験が行え、とくに、電源
電圧を越えるような高圧の開閉器の試験に好適である。
【００４６】ところで、前記両実施例では高速の閉成動
作を要する過渡振動路閉成用の閉路手段を放電ギャップ
１３により形成したが、このギャップ１３の代わりにサ
イリスタ等の高速の半導体スイッチにより前記閉路手段
を形成してもよい。また、調整インダクタンス１４は負
荷端部１ｂ，コンデンサ１１，第２の補助開閉器１２の
接続点と放電ギャップ１３との間に設けてもよい。
作を要する過渡振動路閉成用の閉路手段を放電ギャップ
１３により形成したが、このギャップ１３の代わりにサ
イリスタ等の高速の半導体スイッチにより前記閉路手段
を形成してもよい。また、調整インダクタンス１４は負
荷端部１ｂ，コンデンサ１１，第２の補助開閉器１２の
接続点と放電ギャップ１３との間に設けてもよい。
【００４７】さらに、図４のように変圧器１７を用いる
場合、第１の調整コンデンサ１０をその耐圧等を考慮し
て１次巻線１７ａ側に設けてもよい。そして、電力用の
種々の開閉器，遮断器の分路リアクトル開閉等の遅相電
流試験に適用できる。
場合、第１の調整コンデンサ１０をその耐圧等を考慮し
て１次巻線１７ａ側に設けてもよい。そして、電力用の
種々の開閉器，遮断器の分路リアクトル開閉等の遅相電
流試験に適用できる。
【００４８】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、以下に記載する効果を奏する。被試験開閉
器１を開放操作すると、第１，第２の補助開閉器８，１
２が開放し、第１の補助開閉器８の開放により試験電源
２の給電路が第１の補助開閉器８から電流抑制インダク
タンス９に切換わり、被試験開閉器１の遮断に失敗して
も、その後の試験電源２に基づく続流が抑制され、被試
験開閉器１の破損が防止される。
ているため、以下に記載する効果を奏する。被試験開閉
器１を開放操作すると、第１，第２の補助開閉器８，１
２が開放し、第１の補助開閉器８の開放により試験電源
２の給電路が第１の補助開閉器８から電流抑制インダク
タンス９に切換わり、被試験開閉器１の遮断に失敗して
も、その後の試験電源２に基づく続流が抑制され、被試
験開閉器１の破損が防止される。
【００４９】また、第２の補助開閉器１２の開放によ
り、試験負荷インダクタンス４が被試験開閉器１から切
離され、さらに、開放操作後に被試験開閉器１の電源端
部１ａと負荷端部１ｂとの間の電流が零になると、閉路
手段（放電ギャップ１３）が閉成する。
り、試験負荷インダクタンス４が被試験開閉器１から切
離され、さらに、開放操作後に被試験開閉器１の電源端
部１ａと負荷端部１ｂとの間の電流が零になると、閉路
手段（放電ギャップ１３）が閉成する。
【００５０】このとき、第１の調整コンデンサ１０の充
電電荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ１１，
閉路手段，調整インダクタンス１４の直列回路を介して
放電し、この放電により被試験開閉器１の両端部１ａ，
１ｂ間に高周波の過渡振動電圧が印加され、この電圧の
振動周波数は第１，第２の調整コンデンサ１０，１１及
び調整インダクタンス１４の容量設定に基づき、被試験
開閉器１の実使用状況に応じた所定の周波数になる。
電電荷に基づく過渡電源が第２の調整コンデンサ１１，
閉路手段，調整インダクタンス１４の直列回路を介して
放電し、この放電により被試験開閉器１の両端部１ａ，
１ｂ間に高周波の過渡振動電圧が印加され、この電圧の
振動周波数は第１，第２の調整コンデンサ１０，１１及
び調整インダクタンス１４の容量設定に基づき、被試験
開閉器１の実使用状況に応じた所定の周波数になる。
【００５１】そのため、試験負荷インダクタンス４に派
生した対地浮遊容量の影響を受けることなく、開放操作
後の被試験開閉器１の両端部１ａ，１ｂ間に実使用状況
に合致した周波数の過渡振動電圧が印加される。
生した対地浮遊容量の影響を受けることなく、開放操作
後の被試験開閉器１の両端部１ａ，１ｂ間に実使用状況
に合致した周波数の過渡振動電圧が印加される。
【００５２】したがって、遮断に失敗したときの破損を
防止して被試験開閉器１の端部１ａ，１ｂ間に実使用状
況に合致した周波数の過渡振動電圧を印加し、被試験開
閉器１の試験を行うことができ、試験性能を著しく向上
することができる。更に、調整インダクタンス１４は、
熱的，機械的強度を軽減して製作することができるので
小形化，安価とする効果も期待できる。
防止して被試験開閉器１の端部１ａ，１ｂ間に実使用状
況に合致した周波数の過渡振動電圧を印加し、被試験開
閉器１の試験を行うことができ、試験性能を著しく向上
することができる。更に、調整インダクタンス１４は、
熱的，機械的強度を軽減して製作することができるので
小形化，安価とする効果も期待できる。
【図１】本発明の遅相電流遮断試験装置の１実施例の結
線図である。
線図である。
【図２】（ａ）〜（ｅ）は図１の動作説明用の第１のタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は図１の動作説明用の第２のタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図４】本発明の他の実施例の結線図である。
【図５】従来装置の１例の結線図である。
【図６】従来装置の他の例の結線図である。
１ 被試験開閉器 １ａ 電源端部 １ｂ 負荷端部 ２ 試験電源 ４ 試験負荷インダクタンス ５ 基準電位点としてのアース点 ８ 第１の補助開閉器 ９ 電流抑制インダクタンス １０ 第１の調整コンデンサ １１ 第２の調整コンデンサ １２ 第２の補助開閉器 １３ 閉路手段としての放電ギャップ １４ 調整インダクタンス
Claims (1)
- 【請求項１】 交流の試験電源が電源端部に印加される
被試験開閉器の負荷端部を試験負荷インダクタンスを介
して基準電位点に接続し、前記被試験開閉器の遅相電流
遮断性能を試験する遅相電流遮断試験装置において、 前記試験電源と前記電源端部との間の前記試験電源の給
電路に挿入され，前記被試験開閉器の開放操作に連動し
て開放する第１の補助開閉器と、 該第１の補助開閉器に並列に設けられ，前記試験電源の
バイパス路を形成する電流抑制インダクタンスと、 前記第１の補助開閉器の負荷側の前記試験電源により充
電されて過渡電源を形成する第１の調整コンデンサと、 前記両端部間に設けられた第２の調整コンデンサと、 前記負荷端部と前記試験負荷インダクタンスとの間に設
けられ，前記開放操作に連動して開放する負荷切離用の
第２の補助開閉器と、 前記負荷端部と前記基準電位点との間に設けられ，前記
開放操作後の前記両端部間の零電流により閉成する過渡
振動路閉成用の閉路手段と、 前記負荷端部と前記閉路手段との間又は前記閉路手段と
前記基準電位点との間に設けられた調整インダクタンス
とを備え、 前記第１の調整コンデンサを、前記被試験開閉器が開放
したときの前記過渡電源の放電に基づく前記両端部間の
過渡振動電圧の周波数に影響しない大きさに設定し、 前記第２の調整コンデンサ，前記調整インダクタンス
を、前記過渡振動電圧が前記被試験開閉器の実使用状況
に応じた所定の周波数になるように設定したことを特徴
とする遅相電流遮断試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6093785A JPH07280896A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 遅相電流遮断試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6093785A JPH07280896A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 遅相電流遮断試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07280896A true JPH07280896A (ja) | 1995-10-27 |
Family
ID=14092073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6093785A Pending JPH07280896A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 遅相電流遮断試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07280896A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180100459A (ko) * | 2013-08-22 | 2018-09-10 | 베리안 세미콘덕터 이큅먼트 어소시에이츠, 인크. | 고속 스위치 고장 전류 제한기 및 전류 제한기 시스템 |
| CN111273167A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西安高压电器研究院有限责任公司 | 一种隔离开关小感性电流开合试验电路 |
| CN111273166A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西安高压电器研究院有限责任公司 | 一种隔离开关小感性电流开合试验电路 |
-
1994
- 1994-04-06 JP JP6093785A patent/JPH07280896A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180100459A (ko) * | 2013-08-22 | 2018-09-10 | 베리안 세미콘덕터 이큅먼트 어소시에이츠, 인크. | 고속 스위치 고장 전류 제한기 및 전류 제한기 시스템 |
| CN111273167A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西安高压电器研究院有限责任公司 | 一种隔离开关小感性电流开合试验电路 |
| CN111273166A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西安高压电器研究院有限责任公司 | 一种隔离开关小感性电流开合试验电路 |
| CN111273167B (zh) * | 2018-12-05 | 2022-06-03 | 西安高压电器研究院股份有限公司 | 一种隔离开关小感性电流开合试验电路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |