JP2693917B2 - 電磁継電器用耐電圧試験装置 - Google Patents
電磁継電器用耐電圧試験装置Info
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- JP2693917B2 JP2693917B2 JP6232744A JP23274494A JP2693917B2 JP 2693917 B2 JP2693917 B2 JP 2693917B2 JP 6232744 A JP6232744 A JP 6232744A JP 23274494 A JP23274494 A JP 23274494A JP 2693917 B2 JP2693917 B2 JP 2693917B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電磁継電器の耐電圧特性
を試験するための電磁継電器用耐電圧試験装置に関す
る。
を試験するための電磁継電器用耐電圧試験装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の電磁継電器用耐電圧試験は、図３
に示すように耐電圧試験器９の試験端子５を被試験電磁
継電器１の接点端子３とコイル端子４に接続して行って
いる。内部接点２は被試験電磁継電器１に含まれる接点
である。この構成では、試験端子５と接点端子３および
コイル端子４との接続不良や配線の断線等があった場合
には、耐電圧試験用の試験電圧が被試験電磁継電器１に
印加されないため、実質の耐電圧試験を行っていないに
もかかわらず試験系の不備により試験結果が良と判定さ
れるという問題があり、試験装置としての信頼性に欠け
る。また、試験終了後試験系の断線等が発見された場
合、試験が終了した被試験電磁継電器は再度試験を行う
ことが必要となり効率的でない。
に示すように耐電圧試験器９の試験端子５を被試験電磁
継電器１の接点端子３とコイル端子４に接続して行って
いる。内部接点２は被試験電磁継電器１に含まれる接点
である。この構成では、試験端子５と接点端子３および
コイル端子４との接続不良や配線の断線等があった場合
には、耐電圧試験用の試験電圧が被試験電磁継電器１に
印加されないため、実質の耐電圧試験を行っていないに
もかかわらず試験系の不備により試験結果が良と判定さ
れるという問題があり、試験装置としての信頼性に欠け
る。また、試験終了後試験系の断線等が発見された場
合、試験が終了した被試験電磁継電器は再度試験を行う
ことが必要となり効率的でない。
【０００３】こうした欠点を補うために、例えば１９９
２年６月２５日に公開された特開平４−１７８５８２号
公報に示されているように、試験系が正常であることを
確認するための導通試験の手段が設けられている。ここ
で従来の耐電圧試験装置を示す一構成例を図４を参照し
て説明する。図４において、試験系の確認を行うため被
試験電磁継電器１の接点端子３およびコイル端子４と試
験端子５とに導通があることを確認するために、切替回
路１５内の切替電磁継電器１３を動作させ、駆動回路１
１で被試験電磁継電器１を駆動し、導通判定回路１０に
より導通試験を行う。次に、切替電磁継電器１３および
駆動回路１１の動作を停止し、切替電磁継電器１４を動
作させて耐電圧試験器９の試験電圧を被試験電磁継電器
１に印加し耐電圧試験を行う。このように切替電磁継電
器１３および導通判定回路１０を個別に設けて、試験系
が正常であることを確認している。
２年６月２５日に公開された特開平４−１７８５８２号
公報に示されているように、試験系が正常であることを
確認するための導通試験の手段が設けられている。ここ
で従来の耐電圧試験装置を示す一構成例を図４を参照し
て説明する。図４において、試験系の確認を行うため被
試験電磁継電器１の接点端子３およびコイル端子４と試
験端子５とに導通があることを確認するために、切替回
路１５内の切替電磁継電器１３を動作させ、駆動回路１
１で被試験電磁継電器１を駆動し、導通判定回路１０に
より導通試験を行う。次に、切替電磁継電器１３および
駆動回路１１の動作を停止し、切替電磁継電器１４を動
作させて耐電圧試験器９の試験電圧を被試験電磁継電器
１に印加し耐電圧試験を行う。このように切替電磁継電
器１３および導通判定回路１０を個別に設けて、試験系
が正常であることを確認している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電磁継
電器用耐電圧試験装置は図４に示すように、多くの回路
部品から構成される導通判定回路１０と、２個の内部接
点を含む切替電磁継電器１３および１４とを含んでいる
ので、ハードウェア規模の増大および経済性の犠牲を払
うという欠点を有している。また、耐電圧試験が不良に
なった場合、被試験電磁継電器内に発生する高電圧絶縁
破壊によるスパークノイズ等により導通判定回路１０の
故障が発生するという欠点を有している。
電器用耐電圧試験装置は図４に示すように、多くの回路
部品から構成される導通判定回路１０と、２個の内部接
点を含む切替電磁継電器１３および１４とを含んでいる
ので、ハードウェア規模の増大および経済性の犠牲を払
うという欠点を有している。また、耐電圧試験が不良に
なった場合、被試験電磁継電器内に発生する高電圧絶縁
破壊によるスパークノイズ等により導通判定回路１０の
故障が発生するという欠点を有している。
【０００５】本発明の目的はハードウェア規模の増大お
よび経済性の犠牲を払うことなく簡単な回路構成で実現
できかつ耐電圧試験時の電磁ノイズ（スパークノイズ
等）による故障を抑制できる電磁継電器用耐電圧試験装
置を提供することにある。
よび経済性の犠牲を払うことなく簡単な回路構成で実現
できかつ耐電圧試験時の電磁ノイズ（スパークノイズ
等）による故障を抑制できる電磁継電器用耐電圧試験装
置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の電磁継電器用耐
電圧試験装置は、被試験電磁継電器の接点端子および前
記被試験電磁継電器のコイル端子に接続する試験端子
と、前記試験端子を介して前記被試験電磁継電器接点端
子と前記試験端子との導通試験および前記被試験電磁継
電器の接点端子の耐電圧試験とを行う場合前記導通試験
を行うための電流制限抵抗とこの電流制限抵抗を回路上
有効にするために切替える切替電磁継電器とを含む切替
回路と、前記導通試験および前記耐電圧試験の良否を判
定する耐電圧試験器と、前記被試験電磁継電器のコイル
端子に接続され前記被試験電磁継電器接点の導通／非導
通の切替を行う駆動回路とを備えたことを特徴としてい
る。前記導通試験判定と前記耐電圧試験判定とを同一の
耐電圧試験器で行うことを特徴としている。 また、前記
被試験電磁継電器の数ｎ（ｎは複数）個にそれぞれ対応
したｎ個の切替回路と、ｎ個の試験端子と、１個の駆動
回路と、１台の耐電圧試験器とから構成されることを特
徴としている。
電圧試験装置は、被試験電磁継電器の接点端子および前
記被試験電磁継電器のコイル端子に接続する試験端子
と、前記試験端子を介して前記被試験電磁継電器接点端
子と前記試験端子との導通試験および前記被試験電磁継
電器の接点端子の耐電圧試験とを行う場合前記導通試験
を行うための電流制限抵抗とこの電流制限抵抗を回路上
有効にするために切替える切替電磁継電器とを含む切替
回路と、前記導通試験および前記耐電圧試験の良否を判
定する耐電圧試験器と、前記被試験電磁継電器のコイル
端子に接続され前記被試験電磁継電器接点の導通／非導
通の切替を行う駆動回路とを備えたことを特徴としてい
る。前記導通試験判定と前記耐電圧試験判定とを同一の
耐電圧試験器で行うことを特徴としている。 また、前記
被試験電磁継電器の数ｎ（ｎは複数）個にそれぞれ対応
したｎ個の切替回路と、ｎ個の試験端子と、１個の駆動
回路と、１台の耐電圧試験器とから構成されることを特
徴としている。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００８】図１は、本発明の電磁継電器用耐電圧試験
装置の一実施例を示すブロック図である。
装置の一実施例を示すブロック図である。
【０００９】図１に示す本実施例の電磁継電器用耐電圧
試験装置は、被試験電磁継電器１の接点端子３およびコ
イル端子４に接続される試験端子５と、前記試験端子５
を介して前記被試験電磁継電器１の接点端子３と前記試
験端子５との導通試験および前記被試験電磁継電器１の
接点端子３の耐電圧試験とを行うための電流制限抵抗１
２とこの電流制限抵抗１２を切替るための切替電磁継電
器８とを含む切替回路６と、導通試験および耐電圧試験
の良否を判定する耐電圧試験器９と、被試験電磁継電器
１のコイル端子４に接続され前記被試験電磁継電器の内
部接点２を含む接点端子３の導通／非導通の切替を行う
駆動回路１１とから構成されている。
試験装置は、被試験電磁継電器１の接点端子３およびコ
イル端子４に接続される試験端子５と、前記試験端子５
を介して前記被試験電磁継電器１の接点端子３と前記試
験端子５との導通試験および前記被試験電磁継電器１の
接点端子３の耐電圧試験とを行うための電流制限抵抗１
２とこの電流制限抵抗１２を切替るための切替電磁継電
器８とを含む切替回路６と、導通試験および耐電圧試験
の良否を判定する耐電圧試験器９と、被試験電磁継電器
１のコイル端子４に接続され前記被試験電磁継電器の内
部接点２を含む接点端子３の導通／非導通の切替を行う
駆動回路１１とから構成されている。
【００１０】最初に試験系が断線や接触不良等がなく正
常に動作することを確認するために導通試験を行う。こ
こで試験系が正常動作するとは、１）耐電圧試験器９
と、駆動回路１１と、切替回路６と、試験端子５とが、
正しく被試験電磁継電器１の接点端子３およびコイル端
子４とに接続されている、２）耐電圧試験器９および駆
動回路１１とが正常動作している、３）耐電圧試験器９
が出力する試験電圧が規定電圧以上の設定である、との
ことを示す。
常に動作することを確認するために導通試験を行う。こ
こで試験系が正常動作するとは、１）耐電圧試験器９
と、駆動回路１１と、切替回路６と、試験端子５とが、
正しく被試験電磁継電器１の接点端子３およびコイル端
子４とに接続されている、２）耐電圧試験器９および駆
動回路１１とが正常動作している、３）耐電圧試験器９
が出力する試験電圧が規定電圧以上の設定である、との
ことを示す。
【００１１】切替電磁継電器８をオフ（非導通）にして
接点を開け試験端子５を接点端子３に接続させると、接
点端子３の片側は電流制限抵抗１２を介して耐電圧試験
器９に接続され、接点端子３のもう一方の端子は直接耐
電圧試験器９に接続される。次に駆動回路１１を動作さ
せると被試験電磁継電器１が動作し内部接点２がオン
（導通）して閉じるので、耐電圧試験器９からみて被試
験電磁継電器１の内部接点２は電流制限抵抗１２を介し
て閉回路を形成する。
接点を開け試験端子５を接点端子３に接続させると、接
点端子３の片側は電流制限抵抗１２を介して耐電圧試験
器９に接続され、接点端子３のもう一方の端子は直接耐
電圧試験器９に接続される。次に駆動回路１１を動作さ
せると被試験電磁継電器１が動作し内部接点２がオン
（導通）して閉じるので、耐電圧試験器９からみて被試
験電磁継電器１の内部接点２は電流制限抵抗１２を介し
て閉回路を形成する。
【００１２】耐電圧試験器９から試験電圧を前記閉回路
に印加すると、電流制限抵抗１２により本来不良と判定
される漏洩電流が流れるため耐電圧試験器９は不良と判
定する。以上の動作と耐電圧試験器９の判定により試験
端子５が接点端子３およびコイル端子４に電気的に接続
されており試験系が正常であることが確認される。次に
耐電圧試験動作について説明する。駆動回路１１の動作
を停止すると被試験電磁継電器１の内部接点２はオフに
なり開く。切替電磁継電器８をオンにして接点を閉じる
ことにより、電流制限抵抗１２の両端が切替電磁継電器
８によりショートされ回路上無効となるので、試験電圧
が切替電磁継電器８の閉じた接点を介して接点端子３経
由内部接点２に印加され耐電圧試験回路が形成される。
従って、耐電圧試験器９から試験電圧を被試験電磁継電
器１の内部接点２に印加することにより内部接点２の耐
電圧試験を行う。
に印加すると、電流制限抵抗１２により本来不良と判定
される漏洩電流が流れるため耐電圧試験器９は不良と判
定する。以上の動作と耐電圧試験器９の判定により試験
端子５が接点端子３およびコイル端子４に電気的に接続
されており試験系が正常であることが確認される。次に
耐電圧試験動作について説明する。駆動回路１１の動作
を停止すると被試験電磁継電器１の内部接点２はオフに
なり開く。切替電磁継電器８をオンにして接点を閉じる
ことにより、電流制限抵抗１２の両端が切替電磁継電器
８によりショートされ回路上無効となるので、試験電圧
が切替電磁継電器８の閉じた接点を介して接点端子３経
由内部接点２に印加され耐電圧試験回路が形成される。
従って、耐電圧試験器９から試験電圧を被試験電磁継電
器１の内部接点２に印加することにより内部接点２の耐
電圧試験を行う。
【００１３】耐電圧試験の目的は被試験電磁継電器１の
内部接点２がオフした状態で、印加された高電圧に対し
て接点間が絶縁破壊し放電することにより電気的にショ
ートしないことを確認することである。
内部接点２がオフした状態で、印加された高電圧に対し
て接点間が絶縁破壊し放電することにより電気的にショ
ートしないことを確認することである。
【００１４】また、必要最小限の電流を電流制限抵抗１
２を通して流す目的は、被試験電磁継電器１の内部接点
２に過大電流を流さないようにし接点を保護する目的
と、耐電圧試験器９から印加される試験電圧が規定値以
上であることを保証するためである。規定電圧以下の場
合、耐電圧試験時において不良判定される値の漏洩電流
が流れないため耐電圧試験器９が不良判定としないので
耐電圧試験の判定を誤まることになる。つまり耐電圧試
験器９は設定した規定電圧印加時に試験端子間での漏洩
電流が規定電流値以内の電流が流れたときに良品と判定
する。
２を通して流す目的は、被試験電磁継電器１の内部接点
２に過大電流を流さないようにし接点を保護する目的
と、耐電圧試験器９から印加される試験電圧が規定値以
上であることを保証するためである。規定電圧以下の場
合、耐電圧試験時において不良判定される値の漏洩電流
が流れないため耐電圧試験器９が不良判定としないので
耐電圧試験の判定を誤まることになる。つまり耐電圧試
験器９は設定した規定電圧印加時に試験端子間での漏洩
電流が規定電流値以内の電流が流れたときに良品と判定
する。
【００１５】次に図２を参照して試験順序を説明する。
初期状態では、切替電磁継電器８がオフの状態で駆動回
路１１および耐電圧試験器９が停止状態であり、この時
試験電圧は被試験電磁継電器１に印加されない。この状
態で駆動回路１１を駆動させた後に耐電圧試験器９を動
作させることにより導通試験が行われ試験系が正常であ
ることが確認される。導通試験終了後耐電圧試験器９を
停止させた後に駆動回路１１を停止させる。次に切替電
磁継電器８をオンした状態で耐電圧試験器９を動作させ
ることにより試験電圧が被試験電磁継電器１に直接印加
され耐電圧試験が行われる。耐電圧試験終了後、切替電
磁継電器８をオフし耐電圧試験器９を停止することによ
り試験が終了する。
初期状態では、切替電磁継電器８がオフの状態で駆動回
路１１および耐電圧試験器９が停止状態であり、この時
試験電圧は被試験電磁継電器１に印加されない。この状
態で駆動回路１１を駆動させた後に耐電圧試験器９を動
作させることにより導通試験が行われ試験系が正常であ
ることが確認される。導通試験終了後耐電圧試験器９を
停止させた後に駆動回路１１を停止させる。次に切替電
磁継電器８をオンした状態で耐電圧試験器９を動作させ
ることにより試験電圧が被試験電磁継電器１に直接印加
され耐電圧試験が行われる。耐電圧試験終了後、切替電
磁継電器８をオフし耐電圧試験器９を停止することによ
り試験が終了する。
【００１６】ここで動作例として、耐電圧試験器９の試
験電圧は通常１０００Ｖ、漏洩電流の設定は１ｍＡ以内
としている。この設定の場合、試験端子間の抵抗値が１
ＭΩより小さい場合は漏洩電流が１ｍＡを越えるので、
耐電圧試験器は不良と判定する。例えば電流制限抵抗１
２の値を９９０ｋΩにすると、１．０１ｍＡの電流が前
記電流制限抵抗を含む閉回路内に流れるので耐電圧試験
器は不良と判定する。従って導通試験時においては、こ
の漏洩電流が流れ不良判定となることにより試験系が正
常であることが解る。すなわち耐電圧試験器９のもつ機
能を効果的に利用している。
験電圧は通常１０００Ｖ、漏洩電流の設定は１ｍＡ以内
としている。この設定の場合、試験端子間の抵抗値が１
ＭΩより小さい場合は漏洩電流が１ｍＡを越えるので、
耐電圧試験器は不良と判定する。例えば電流制限抵抗１
２の値を９９０ｋΩにすると、１．０１ｍＡの電流が前
記電流制限抵抗を含む閉回路内に流れるので耐電圧試験
器は不良と判定する。従って導通試験時においては、こ
の漏洩電流が流れ不良判定となることにより試験系が正
常であることが解る。すなわち耐電圧試験器９のもつ機
能を効果的に利用している。
【００１７】次に耐電圧試験時では、切替電磁継電器８
がオンして閉回路は電流制限抵抗１２を含まないので、
耐電圧試験器９の試験電圧１０００Ｖは被試験電磁継電
器１に直接印加される。この場合、漏洩電流が設定した
規定電流値１ｍＡまたは１ｍＡより小さい値であれば被
試験電磁継電器１は耐電圧試験で良品と判定されるが、
１ｍＡを越えると前記電磁継電器１は耐電圧試験で不良
品と判定される。
がオンして閉回路は電流制限抵抗１２を含まないので、
耐電圧試験器９の試験電圧１０００Ｖは被試験電磁継電
器１に直接印加される。この場合、漏洩電流が設定した
規定電流値１ｍＡまたは１ｍＡより小さい値であれば被
試験電磁継電器１は耐電圧試験で良品と判定されるが、
１ｍＡを越えると前記電磁継電器１は耐電圧試験で不良
品と判定される。
【００１８】ちなみに、被試験電磁継電器１のコイル駆
動電流は数１０ｍＡ〜２００ｍＡ程度の値である。
動電流は数１０ｍＡ〜２００ｍＡ程度の値である。
【００１９】なお本来、耐電圧試験では試験電圧印加時
には漏洩電流がが規定値以上流れてはいけないが、逆に
耐電圧試験器が不良と判定する必要最小限の漏洩電流を
意図的に流すことにより耐電圧試験器の機能をそのまま
導通試験として利用しているので、特別に導通判定回路
を必要としない。
には漏洩電流がが規定値以上流れてはいけないが、逆に
耐電圧試験器が不良と判定する必要最小限の漏洩電流を
意図的に流すことにより耐電圧試験器の機能をそのまま
導通試験として利用しているので、特別に導通判定回路
を必要としない。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電磁継電
器用耐電圧試験装置は試験系が正常であることを確認す
る導通試験および耐電圧試験を、１台の耐電圧試験器と
簡単な回路とによる最小限の試験構成で実施できるた
め、複雑な導通試験のための付加回路および導通判定回
路を設ける必要がない。従って、試験装置の構成の簡単
化が達成できることにより装置の低コスト化が実現でき
るとともに耐電圧試験装置の故障発生の減少を達成する
ことができるという効果を有している。
器用耐電圧試験装置は試験系が正常であることを確認す
る導通試験および耐電圧試験を、１台の耐電圧試験器と
簡単な回路とによる最小限の試験構成で実施できるた
め、複雑な導通試験のための付加回路および導通判定回
路を設ける必要がない。従って、試験装置の構成の簡単
化が達成できることにより装置の低コスト化が実現でき
るとともに耐電圧試験装置の故障発生の減少を達成する
ことができるという効果を有している。
【図１】本発明の電磁継電器用耐電圧試験装置の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図２】本実施例の電磁継電器用耐電圧試験装置におけ
る動作の一例を示すタイムチャートである。
る動作の一例を示すタイムチャートである。
【図３】従来の電磁継電器用耐電圧試験装置のブロック
図である。
図である。
【図４】従来の電磁継電器用耐電圧試験装置のブロック
図である。
図である。
１ 被試験電磁継電器 ２ 内部接点 ３ 接点端子 ４ コイル端子 ５ 試験端子 ６ 切替回路 ８ 切替電磁継電器 ９ 耐電圧試験器 １０ 導通判定回路 １１ 駆動回路 １２ 電流制限抵抗 １３，１４ 切替電磁継電器 １５ 切替回路
Claims (3)
- 【請求項１】 被試験電磁継電器の接点端子および前記
被試験電磁継電器のコイル端子に接続する試験端子と、
前記試験端子を介して前記被試験電磁継電器接点端子と
前記試験端子との導通試験および前記被試験電磁継電器
の接点端子の耐電圧試験とを行う場合前記導通試験を行
うための電流制限抵抗とこの電流制限抵抗を回路上有効
にするために切替える切替電磁継電器とを含む切替回路
と、前記導通試験および前記耐電圧試験の良否を判定す
る耐電圧試験器と、前記被試験電磁継電器のコイル端子
に接続され前記被試験電磁継電器接点の導通／非導通の
切替を行う駆動回路とを備えたことを特徴とする電磁継
電器用耐電圧試験装置。 - 【請求項２】 前記導通試験判定と前記耐電圧試験判定
とを同一の耐電圧試験器で行うことを特徴とする請求項
１の電磁継電器用耐電圧試験装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の電磁継電器用耐電圧試験
装置において、前記被試験電磁継電器の数ｎ（ｎは複
数）個にそれぞれ対応したｎ個の切替回路と、ｎ個の試
験端子と、１個の駆動回路と、１台の耐電圧試験器とか
ら構成されることを特徴とする電磁継電器用耐電圧試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6232744A JP2693917B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 電磁継電器用耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6232744A JP2693917B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 電磁継電器用耐電圧試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894702A JPH0894702A (ja) | 1996-04-12 |
| JP2693917B2 true JP2693917B2 (ja) | 1997-12-24 |
Family
ID=16944089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6232744A Expired - Fee Related JP2693917B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 電磁継電器用耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2693917B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101858960A (zh) * | 2010-05-31 | 2010-10-13 | 上海沪工汽车电器有限公司 | 一种汽车继电器抗电强度测试模块 |
| CN102175935B (zh) * | 2011-01-14 | 2013-04-24 | 陆晋荣 | 智能多功能电器试验台及控制方法 |
| CN103487752B (zh) * | 2013-09-26 | 2016-02-24 | 贵州天义汽车电器有限公司 | 一种电磁继电器微电脑调试仪 |
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