JP2851484B2 - 回路遮断器 - Google Patents
回路遮断器Info
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- JP2851484B2 JP2851484B2 JP21019392A JP21019392A JP2851484B2 JP 2851484 B2 JP2851484 B2 JP 2851484B2 JP 21019392 A JP21019392 A JP 21019392A JP 21019392 A JP21019392 A JP 21019392A JP 2851484 B2 JP2851484 B2 JP 2851484B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は回路遮断器に関し、特
に遮断器の補助接点を使用せずに過電流試験または地絡
試験を行う事が出来る回路遮断器に関するものである。
に遮断器の補助接点を使用せずに過電流試験または地絡
試験を行う事が出来る回路遮断器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は回路遮断器の外部テスト装置を装
着可能とした従来の回路遮断器の全体構成を示すブロッ
ク図であり、そして図５は図４中に示す外部テスト装置
とその周辺回路を示す回路図である。図４において、
Ｕ，Ｖ，Ｗ，Ｎは交流電源（図示しない）の各相、１は
各相と負荷を結ぶ相導体からなる主回路、３は引外し電
磁装置としてのトリップコイルであり、励磁された時に
遮断機構４を介して遮断接点２を開かせ、また消磁され
た時に閉じさせる。５は主回路１の各相導体を１次巻線
とする変流器、６は変流器５に接続され主回路１の交流
を直流に変換する整流回路、７はこの整流回路６に接続
され後述する諸回路に所要の電圧を供給する電源回路、
８はこの電源回路７の両端間でトリップコイル３と直列
に接続された電子式スイッチである。
着可能とした従来の回路遮断器の全体構成を示すブロッ
ク図であり、そして図５は図４中に示す外部テスト装置
とその周辺回路を示す回路図である。図４において、
Ｕ，Ｖ，Ｗ，Ｎは交流電源（図示しない）の各相、１は
各相と負荷を結ぶ相導体からなる主回路、３は引外し電
磁装置としてのトリップコイルであり、励磁された時に
遮断機構４を介して遮断接点２を開かせ、また消磁され
た時に閉じさせる。５は主回路１の各相導体を１次巻線
とする変流器、６は変流器５に接続され主回路１の交流
を直流に変換する整流回路、７はこの整流回路６に接続
され後述する諸回路に所要の電圧を供給する電源回路、
８はこの電源回路７の両端間でトリップコイル３と直列
に接続された電子式スイッチである。
【０００３】９は主回路１の各相導体に結合された空心
コイル、１０はこれら空心コイル９に接続され、主回路
１の過電流に比例する過電流信号を再生する過電流信号
再生回路、１１は過電流信号再生回路１０によって再生
された過電流を整流する整流信号回路、１２Ａ、１２Ｂ
はこの整流信号回路１１の出力側で互いに接続された各
相の整流信号のうち最大相の整流信号を選択する最大相
選択回路、１３，１４は最大相選択回路１２Ａ，１２Ｂ
によって選択された整流信号をそれぞれピーク値，実効
値に変換するピーク値変換回路，実効値変換回路であ
る。
コイル、１０はこれら空心コイル９に接続され、主回路
１の過電流に比例する過電流信号を再生する過電流信号
再生回路、１１は過電流信号再生回路１０によって再生
された過電流を整流する整流信号回路、１２Ａ、１２Ｂ
はこの整流信号回路１１の出力側で互いに接続された各
相の整流信号のうち最大相の整流信号を選択する最大相
選択回路、１３，１４は最大相選択回路１２Ａ，１２Ｂ
によって選択された整流信号をそれぞれピーク値，実効
値に変換するピーク値変換回路，実効値変換回路であ
る。
【０００４】１５は最大相選択回路１２からの整流信号
が既定の瞬時引外し特性を超えるとトリップ（引外し）
信号を電子式スイッチ８へ出力する瞬時引外し回路、１
６はピーク値変換回路１３からのピーク値変換された整
流信号が既定の短限時引外し特性を超えるとトリップ信
号を電子式スイッチ８へ出力する短限時引外し回路、１
７は実効値変換回路１４からの実効値変換された整流信
号が既定の過電流引外し特性のうちの長限時引外し特性
を超えるとトリップ信号を電子式スイッチ８へ出力する
長限時引外し回路、１８は過電流信号再生回路１０と並
列に空心コイル９に接続され、主回路１の地絡電流に比
例する地絡信号を再生する地絡信号再生回路、１９は地
絡信号再生回路１８によって再生された地絡信号が既定
の地絡引外し特性を超えるとトリップ信号を電子式スイ
ッチ８へ出力する地絡引外し回路である。
が既定の瞬時引外し特性を超えるとトリップ（引外し）
信号を電子式スイッチ８へ出力する瞬時引外し回路、１
６はピーク値変換回路１３からのピーク値変換された整
流信号が既定の短限時引外し特性を超えるとトリップ信
号を電子式スイッチ８へ出力する短限時引外し回路、１
７は実効値変換回路１４からの実効値変換された整流信
号が既定の過電流引外し特性のうちの長限時引外し特性
を超えるとトリップ信号を電子式スイッチ８へ出力する
長限時引外し回路、１８は過電流信号再生回路１０と並
列に空心コイル９に接続され、主回路１の地絡電流に比
例する地絡信号を再生する地絡信号再生回路、１９は地
絡信号再生回路１８によって再生された地絡信号が既定
の地絡引外し特性を超えるとトリップ信号を電子式スイ
ッチ８へ出力する地絡引外し回路である。
【０００５】１９Ｂは外部テスト装置２０を本回路遮断
器に接続するテスト端子、２１は補助接点であり、遮断
器接点２の開閉動作と同期して開閉する。外部テスト装
置２０の構成として図５に示す様に、２０Ａは回路遮断
器のテスト時に回路遮断器本体の整流回路６の出力に代
えて電源回路７に電源を供給するテスト電源、２０Ｂは
地絡テスト時或は過電流テスト時にテスト内容に見合っ
たテスト電流を地絡信号再生回路１８或は過電流信号再
生回路１０へ流す試験信号発生手段としてのテスト電流
発生器、２０Ｃはこのテスト電流発生器２０Ｂから出力
された試験信号即ちテスト電流の値を調整する可変抵
抗、２０Ｄはテスト電流値をチエックする電流計、２０
Ｅは過電流テストと地絡テストのテストモードを切り替
えるモード切替えスイッチである。
器に接続するテスト端子、２１は補助接点であり、遮断
器接点２の開閉動作と同期して開閉する。外部テスト装
置２０の構成として図５に示す様に、２０Ａは回路遮断
器のテスト時に回路遮断器本体の整流回路６の出力に代
えて電源回路７に電源を供給するテスト電源、２０Ｂは
地絡テスト時或は過電流テスト時にテスト内容に見合っ
たテスト電流を地絡信号再生回路１８或は過電流信号再
生回路１０へ流す試験信号発生手段としてのテスト電流
発生器、２０Ｃはこのテスト電流発生器２０Ｂから出力
された試験信号即ちテスト電流の値を調整する可変抵
抗、２０Ｄはテスト電流値をチエックする電流計、２０
Ｅは過電流テストと地絡テストのテストモードを切り替
えるモード切替えスイッチである。
【０００６】２０Ｆは双極のリレー接点であり、１方の
リレー接点２０Ｆ1はテスト端子１９ＢのグランドＧと
テスト電流発生装置２０Ｂ間に接続され、他方のリレー
接点２０Ｆ2は後述するタイムカウンタのスタート端子
Ｓ１，Ｓ２間に接続されている。尚、リレー接点２０Ｆ
は図示しないテストスタート回路のリレー動作によって
閉成する。 ２０Ｇは計時回路としてのタイムカウンタ
であり、スタート端子Ｓ１，Ｓ２間に接続されリレー接
点２０Ｆ2の閉成動作によってタイムカウント動作を開
始すると、共にリード線２１Ａを介してストップ端子Ｓ
３，Ｓ４間に接続された補助接点２１の開放動作によっ
てタイムカウント動作を停止する。
リレー接点２０Ｆ1はテスト端子１９ＢのグランドＧと
テスト電流発生装置２０Ｂ間に接続され、他方のリレー
接点２０Ｆ2は後述するタイムカウンタのスタート端子
Ｓ１，Ｓ２間に接続されている。尚、リレー接点２０Ｆ
は図示しないテストスタート回路のリレー動作によって
閉成する。 ２０Ｇは計時回路としてのタイムカウンタ
であり、スタート端子Ｓ１，Ｓ２間に接続されリレー接
点２０Ｆ2の閉成動作によってタイムカウント動作を開
始すると、共にリード線２１Ａを介してストップ端子Ｓ
３，Ｓ４間に接続された補助接点２１の開放動作によっ
てタイムカウント動作を停止する。
【０００７】過電流信号再生回路１０の構成として、１
０Ａ〜１０Ｄはそれぞれ積分回路を構成する演算増幅器
であり、空心コイル９より微分信号の形で検出した過電
流信号を積分し元の過電流波形を再生する。１０１は各
演算増幅器１０Ａ〜１０Ｄの入力側に共通接続されたテ
スト電圧発生抵抗であり、過電流テスト時テスト電流発
生装置２０Ｂよりテスト電流が流れるとテスト電圧を発
生し、各演算増幅器の入力側に供給する。
０Ａ〜１０Ｄはそれぞれ積分回路を構成する演算増幅器
であり、空心コイル９より微分信号の形で検出した過電
流信号を積分し元の過電流波形を再生する。１０１は各
演算増幅器１０Ａ〜１０Ｄの入力側に共通接続されたテ
スト電圧発生抵抗であり、過電流テスト時テスト電流発
生装置２０Ｂよりテスト電流が流れるとテスト電圧を発
生し、各演算増幅器の入力側に供給する。
【０００８】１０Ａ１はテスト電圧発生抵抗１０１間に
発生した電圧を演算増幅器１０Ａの反転入力端子に入力
する入力抵抗、１０Ａ２，１０Ａ３は空心コイル９から
の過電流信号を演算増幅器１０Ａに入力する入力抵抗、
１０Ａ４，１０Ａ５は演算増幅器１０Ａの反転入力端子
と出力端子間に並列接続され積分回路の時定数回路を構
成する並列抵抗，並列コンデンサである。尚、他の演算
増幅器１０Ｂ〜１０Ｄにおいても同様な抵抗、コンデン
サを接続して積分回路を構成している。
発生した電圧を演算増幅器１０Ａの反転入力端子に入力
する入力抵抗、１０Ａ２，１０Ａ３は空心コイル９から
の過電流信号を演算増幅器１０Ａに入力する入力抵抗、
１０Ａ４，１０Ａ５は演算増幅器１０Ａの反転入力端子
と出力端子間に並列接続され積分回路の時定数回路を構
成する並列抵抗，並列コンデンサである。尚、他の演算
増幅器１０Ｂ〜１０Ｄにおいても同様な抵抗、コンデン
サを接続して積分回路を構成している。
【０００９】また、地絡信号再生回路１８の構成とし
て、１８０は積分回路を構成する演算増幅器であり、各
空心コイル９より微分信号の形で検出した地絡信号のベ
クトル和を求めその和を積分し元の地絡電流波形を再生
する。１８１は演算増幅器１８０の入力側に接続され地
絡テスト時はテスト電流が流れてテスト電圧が発生し、
そのテスト電圧を演算増幅器１８０の入力側に供給する
テスト電圧発生抵抗、１８２は演算増幅器１８０の非反
転入力端子とグランド間に接続された入力抵抗、１８３
〜１８７は空心コイル９からの電流信号を演算増幅器１
８０に入力する入力抵抗、１８８，１８９は演算増幅器
１８０の反転入力端子と出力端子間に並列接続され積分
回路の時定数回路を構成する並列抵抗，並列コンデンサ
である。これ以外の諸回路は回路遮断器の動作に直接関
係しないので、ここではその説明を省略する。
て、１８０は積分回路を構成する演算増幅器であり、各
空心コイル９より微分信号の形で検出した地絡信号のベ
クトル和を求めその和を積分し元の地絡電流波形を再生
する。１８１は演算増幅器１８０の入力側に接続され地
絡テスト時はテスト電流が流れてテスト電圧が発生し、
そのテスト電圧を演算増幅器１８０の入力側に供給する
テスト電圧発生抵抗、１８２は演算増幅器１８０の非反
転入力端子とグランド間に接続された入力抵抗、１８３
〜１８７は空心コイル９からの電流信号を演算増幅器１
８０に入力する入力抵抗、１８８，１８９は演算増幅器
１８０の反転入力端子と出力端子間に並列接続され積分
回路の時定数回路を構成する並列抵抗，並列コンデンサ
である。これ以外の諸回路は回路遮断器の動作に直接関
係しないので、ここではその説明を省略する。
【００１０】次に、従来の回路遮断器の試験動作につい
て説明する。先ず、回路遮断器の試験動作に当たり回路
遮断器本体のテスト端子１９Ｂに外部テスト装置２０を
接続する。その結果、回路遮断器本体の諸回路にはテス
ト電源２０Ａより電源電圧が供給され、また過電流信号
再生回路１０、或は地絡信号再生回路１８の各積分回路
へはモード切替えスイッチ２０Ｅの切り替えのもとにテ
スト電流発生装置２０より地絡テスト電流或は過電流テ
スト電流が試験内容に応じて出力されるようになる。
て説明する。先ず、回路遮断器の試験動作に当たり回路
遮断器本体のテスト端子１９Ｂに外部テスト装置２０を
接続する。その結果、回路遮断器本体の諸回路にはテス
ト電源２０Ａより電源電圧が供給され、また過電流信号
再生回路１０、或は地絡信号再生回路１８の各積分回路
へはモード切替えスイッチ２０Ｅの切り替えのもとにテ
スト電流発生装置２０より地絡テスト電流或は過電流テ
スト電流が試験内容に応じて出力されるようになる。
【００１１】以上、外部テスト装置２０が接続されたな
らば遮断器接点２の補助接点２１の両端をリード線２１
Ａを介してタイムカウンタ２０Ｇのストップ端子Ｓ３，
Ｓ４間に接続する。更にモード切替えスイッチ２０Ｅを
切り替え、地絡テスト側或は過電流テスト側に設定す
る。この時、例えば地絡テストを行うのであればテスト
電流発生器２０Ｂより発生させる地絡テスト電流を、電
流計２０Ｄにてモニタしながら可変抵抗２０Ｃで調整す
る。
らば遮断器接点２の補助接点２１の両端をリード線２１
Ａを介してタイムカウンタ２０Ｇのストップ端子Ｓ３，
Ｓ４間に接続する。更にモード切替えスイッチ２０Ｅを
切り替え、地絡テスト側或は過電流テスト側に設定す
る。この時、例えば地絡テストを行うのであればテスト
電流発生器２０Ｂより発生させる地絡テスト電流を、電
流計２０Ｄにてモニタしながら可変抵抗２０Ｃで調整す
る。
【００１２】テスト電流値の調整が終了すると、図示し
ないテストスタート回路の動作によりリレー接点２０Ｆ
1，２０Ｆ2を同時に閉成する。この結果、リレー接点２
０Ｆ1の閉成によりモード切替えスイッチ２０Ｅを通し
て地絡テスト電流が地絡信号再生回路１８のテスト電圧
発生抵抗１８１に流れ込む。また同時にリレー接点２０
Ｆ2の閉成によりタイムカウンタ２０Ｇがカウント動作
を開始する。
ないテストスタート回路の動作によりリレー接点２０Ｆ
1，２０Ｆ2を同時に閉成する。この結果、リレー接点２
０Ｆ1の閉成によりモード切替えスイッチ２０Ｅを通し
て地絡テスト電流が地絡信号再生回路１８のテスト電圧
発生抵抗１８１に流れ込む。また同時にリレー接点２０
Ｆ2の閉成によりタイムカウンタ２０Ｇがカウント動作
を開始する。
【００１３】このカウント動作中に、テスト電圧発生抵
抗１８１の両端に発生した電圧は積分回路を構成する演
算回路１８０によって地絡引外し回路１９に積分出力さ
れトリップ信号として電子式スイッチ８に入力される
と、電子式スイッチ８がオンしトリップコイル３の両端
には電子式スイッチ８を介して電源電圧が印加されトリ
ップ電流が流れ始める。そして、トリップコイル３は励
磁され、これにより遮断器接点２と共に補助接点２１が
開放される。この補助接点２１の開放により、タイムカ
ウント動作を行っていたタイムカウンタ２０Ｇはカウン
ト動作を停止する。この結果、タイムカウンタ２０Ｇの
カウント動作開始よりカウント動作停止に至るまでの時
間をカウント値から読み取ることで、地絡事故発生に対
して回路遮断器がどの位の時間で作動するか試験を行う
ことができる。
抗１８１の両端に発生した電圧は積分回路を構成する演
算回路１８０によって地絡引外し回路１９に積分出力さ
れトリップ信号として電子式スイッチ８に入力される
と、電子式スイッチ８がオンしトリップコイル３の両端
には電子式スイッチ８を介して電源電圧が印加されトリ
ップ電流が流れ始める。そして、トリップコイル３は励
磁され、これにより遮断器接点２と共に補助接点２１が
開放される。この補助接点２１の開放により、タイムカ
ウント動作を行っていたタイムカウンタ２０Ｇはカウン
ト動作を停止する。この結果、タイムカウンタ２０Ｇの
カウント動作開始よりカウント動作停止に至るまでの時
間をカウント値から読み取ることで、地絡事故発生に対
して回路遮断器がどの位の時間で作動するか試験を行う
ことができる。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】従来の回路遮断器は以
上のように、回路遮断器本体の補助接点の開放動作を利
用してタイムカウンタのカウント動作を停止させ回路遮
断器の動作開始時間を計っていたため、補助接点出力を
リード線を介して外部テスト装置の引き出すといった煩
わしさがり、回路遮断器設置現場での試験作業に手間が
かかるという問題点があった。
上のように、回路遮断器本体の補助接点の開放動作を利
用してタイムカウンタのカウント動作を停止させ回路遮
断器の動作開始時間を計っていたため、補助接点出力を
リード線を介して外部テスト装置の引き出すといった煩
わしさがり、回路遮断器設置現場での試験作業に手間が
かかるという問題点があった。
【００１５】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、補助接点を使用せずとも回路遮
断器の動作回路単体で動作試験を行うことができる回路
遮断器を得ることを目的とする。
ためになされたもので、補助接点を使用せずとも回路遮
断器の動作回路単体で動作試験を行うことができる回路
遮断器を得ることを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る回路遮断
器は、引外し電磁装置の作動により遮断機構を稼働し遮
断器接点を開放する回路遮断器において、前記引外し電
磁装置を試験する疑似事故電流を発生する事故電流発生
手段と、この発生した疑似事故電流を検出して事故検出
信号を出力する電流検出手段と、この電流検出手段に、
前記引外し電磁装置の試験時に電源電圧を供給する試験
電圧発生手段と、前記電流検出手段より出力された事故
検出信号によりオン動作して前記引外し電磁装置に作動
信号を出力すると共に、前記試験電圧発生手段より発生
した電源電圧を、電流検出手段より低圧側にバイパスさ
せるスイッチ手段と、バイパスによる電源電圧の低下を
検出して電圧低下検出信号を出力する電圧低下検出手
段、前記疑似事故電流発生時に計時動作を開始し、前記
電圧低下検出信号の入力時に計時動作を停止して事故電
流発生より遮断機構を稼働させるまでの時間を計測する
計時手段とを備えたものである。
器は、引外し電磁装置の作動により遮断機構を稼働し遮
断器接点を開放する回路遮断器において、前記引外し電
磁装置を試験する疑似事故電流を発生する事故電流発生
手段と、この発生した疑似事故電流を検出して事故検出
信号を出力する電流検出手段と、この電流検出手段に、
前記引外し電磁装置の試験時に電源電圧を供給する試験
電圧発生手段と、前記電流検出手段より出力された事故
検出信号によりオン動作して前記引外し電磁装置に作動
信号を出力すると共に、前記試験電圧発生手段より発生
した電源電圧を、電流検出手段より低圧側にバイパスさ
せるスイッチ手段と、バイパスによる電源電圧の低下を
検出して電圧低下検出信号を出力する電圧低下検出手
段、前記疑似事故電流発生時に計時動作を開始し、前記
電圧低下検出信号の入力時に計時動作を停止して事故電
流発生より遮断機構を稼働させるまでの時間を計測する
計時手段とを備えたものである。
【００１７】
【作用】この発明による回路遮断器は、計時手段が前記
疑似事故電流発生時に計時動作を開始し、前記電圧低下
検出信号の入力時に計時動作を停止して事故電流発生よ
り遮断機構を稼働させるまでの時間を計測する。
疑似事故電流発生時に計時動作を開始し、前記電圧低下
検出信号の入力時に計時動作を停止して事故電流発生よ
り遮断機構を稼働させるまでの時間を計測する。
【００１８】
実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１は本実施例による回路遮断器の全体構成を示
すブロック図である。尚、図中図４と同一符号は、同一
又は相当部分を示す。図において、７Ａは本実施例にお
ける電源回路であり中間電位７Ｇを設けてある。７Ｄは
電源回路７Ａの高電位側とトリップコイル３間に接続さ
れたダイオードであり、電子式スイッチ８がオフの時ト
リップコイル３に電源回路７Ａの高電位が印加されるの
を阻止する目的で設けられている。２０Ａは本実施例に
おける外部テスト装置である。７Ｄ１，７Ｄ２はダイー
ドであり、通常時に整流回路６の出力が外部テスト装置
２０１のテスト電源に流れ込むの防止、及びテスト電源
の誤接続を防止する目的で設けられている。
する。図１は本実施例による回路遮断器の全体構成を示
すブロック図である。尚、図中図４と同一符号は、同一
又は相当部分を示す。図において、７Ａは本実施例にお
ける電源回路であり中間電位７Ｇを設けてある。７Ｄは
電源回路７Ａの高電位側とトリップコイル３間に接続さ
れたダイオードであり、電子式スイッチ８がオフの時ト
リップコイル３に電源回路７Ａの高電位が印加されるの
を阻止する目的で設けられている。２０Ａは本実施例に
おける外部テスト装置である。７Ｄ１，７Ｄ２はダイー
ドであり、通常時に整流回路６の出力が外部テスト装置
２０１のテスト電源に流れ込むの防止、及びテスト電源
の誤接続を防止する目的で設けられている。
【００１９】図２は本実施例における外部テスト装置２
０１とその周辺回路の構成を示す回路図である。尚、図
中図５と同一符号は同一又は相当部分を示す。外部テス
ト装置２０１の構成として、２０Ｈは電圧低下センサで
あり、電子式スイッチ８が作動し中間電位７Ｇがマイナ
ス電位に下がったことを検出した時に、検出信号をカウ
ント動作停止信号として本実施例によるタイムカウンタ
２０Ｉへ出力する。
０１とその周辺回路の構成を示す回路図である。尚、図
中図５と同一符号は同一又は相当部分を示す。外部テス
ト装置２０１の構成として、２０Ｈは電圧低下センサで
あり、電子式スイッチ８が作動し中間電位７Ｇがマイナ
ス電位に下がったことを検出した時に、検出信号をカウ
ント動作停止信号として本実施例によるタイムカウンタ
２０Ｉへ出力する。
【００２０】図３は本実施例における電源回路７Ａの構
成を示す回路図である。図において７Ｂは制御電源であ
り、通常時に整流回路６より入力される直流電力を常に
一定に値に制御して回路遮断器の諸回路に供給する。こ
の制御電源７Ｂの構成として、７Ｂ１は整流回路６の出
力側とトリップコイル３の間に接続されたダイオード、
７Ｂ２はこのダイード７Ｂ１のカソードとマイナスライ
ン間に接続された平滑コンデンサ、７Ｂ３は平滑コンデ
ンサ７Ｂ２と基準電圧発生回路７Ｂ３の間に設けられた
パルスデューティ変調器であり、制御電源７Ｂの出力電
圧が基準電圧発生回路７Ｂ３の基準電圧を越えて大きく
なるにつれて出力パルスのデューティが大きくなる。７
Ｂ４は平滑コンデンサ７Ｂ２と並列接続された基準電圧
発生回路である。
成を示す回路図である。図において７Ｂは制御電源であ
り、通常時に整流回路６より入力される直流電力を常に
一定に値に制御して回路遮断器の諸回路に供給する。こ
の制御電源７Ｂの構成として、７Ｂ１は整流回路６の出
力側とトリップコイル３の間に接続されたダイオード、
７Ｂ２はこのダイード７Ｂ１のカソードとマイナスライ
ン間に接続された平滑コンデンサ、７Ｂ３は平滑コンデ
ンサ７Ｂ２と基準電圧発生回路７Ｂ３の間に設けられた
パルスデューティ変調器であり、制御電源７Ｂの出力電
圧が基準電圧発生回路７Ｂ３の基準電圧を越えて大きく
なるにつれて出力パルスのデューティが大きくなる。７
Ｂ４は平滑コンデンサ７Ｂ２と並列接続された基準電圧
発生回路である。
【００２１】７Ｂ５、７Ｂ６は平滑コンデンサ７Ｂ２に
並列接続された抵抗であり、制御電源７Ａの出力電圧を
分圧しパルスデューティ変調器７Ｂ３に入力する。７Ｂ
７はダイオード７Ｂ１のアノード側と制御電源７Ａの
（ー）ライン間に接続され、パルスデューティ変調器７
Ｂ４の出力で開閉される開閉器としてのトランジスタで
ある。尚、制御電源７Ａは回路遮断器の試験時には動作
を行わない。
並列接続された抵抗であり、制御電源７Ａの出力電圧を
分圧しパルスデューティ変調器７Ｂ３に入力する。７Ｂ
７はダイオード７Ｂ１のアノード側と制御電源７Ａの
（ー）ライン間に接続され、パルスデューティ変調器７
Ｂ４の出力で開閉される開閉器としてのトランジスタで
ある。尚、制御電源７Ａは回路遮断器の試験時には動作
を行わない。
【００２２】７Ａ１はスイッチング回路であり、通常
は、トランジスタＱにベース抵抗ＲBを通してベース電
流を流してオン状態すると共に、コレクタ抵抗ＲCを通
してテスト電源電圧を試験電圧発生回路７Ｃへ出力す
る。この試験電圧発生回路７Ｃの構成として、７Ａ４，
７Ａ５はテスト電源電圧を充電し例えば＋１０Ｖ、−１
２Ｖを発生すると共に中間電位７Ｇの点を０Ｖに保つ電
解コンデンサ、７Ａ２は電解コンデンサ７Ａ４，７Ａ５
の充電電圧が所定電圧に至ったときオン動作し、電解コ
ンデンサへの充電電流を抵抗７Ａ３にバイパスするツエ
ナーダイオードである。
は、トランジスタＱにベース抵抗ＲBを通してベース電
流を流してオン状態すると共に、コレクタ抵抗ＲCを通
してテスト電源電圧を試験電圧発生回路７Ｃへ出力す
る。この試験電圧発生回路７Ｃの構成として、７Ａ４，
７Ａ５はテスト電源電圧を充電し例えば＋１０Ｖ、−１
２Ｖを発生すると共に中間電位７Ｇの点を０Ｖに保つ電
解コンデンサ、７Ａ２は電解コンデンサ７Ａ４，７Ａ５
の充電電圧が所定電圧に至ったときオン動作し、電解コ
ンデンサへの充電電流を抵抗７Ａ３にバイパスするツエ
ナーダイオードである。
【００２３】次に、上記構成に従って本実施例の動作に
ついて説明する。テスト端子１９Ａに外部テスト装置２
０１が接続されると、テスト電源２０Ａより直流電圧が
ダイオード７Ｄ１，７Ｄ２を通して電源回路７Ａの
（＋）、（−）ラインに印加される。この結果スイッチ
ング回路７Ａ１のトランジスタＱにはベース抵抗ＲBに
よってベース電流が流れオン状態となり、トランジスタ
Ｑを介して試験電圧発生手段としての試験電圧発生回路
７Ｃにテスト電源電圧がかかる。
ついて説明する。テスト端子１９Ａに外部テスト装置２
０１が接続されると、テスト電源２０Ａより直流電圧が
ダイオード７Ｄ１，７Ｄ２を通して電源回路７Ａの
（＋）、（−）ラインに印加される。この結果スイッチ
ング回路７Ａ１のトランジスタＱにはベース抵抗ＲBに
よってベース電流が流れオン状態となり、トランジスタ
Ｑを介して試験電圧発生手段としての試験電圧発生回路
７Ｃにテスト電源電圧がかかる。
【００２４】このテスト電源電圧により電解コンデンサ
７Ａ４、７Ａ５には一定の電荷が充電され各電解コンデ
ンサ７Ａ４、７Ａ５の接続点である中間電位７Ｇを基準
に（＋）ラインにはプラス１０Ｖ、（−）ラインには−
１２Ｖの電位が発生する。これは結果的には中間電位７
Ｇは（ー）ラインから見ると＋１２Ｖ嵩上げされたこと
になる。また電解コンデンサ７Ａ４，７Ａ５の過充電防
止としては、電解コンデサに一定値以上の電荷が充電さ
れるとツエナーダイオード７Ａ２がブレイクダウンを起
こし電解コンデンサへの充電電流をバイパスする。
７Ａ４、７Ａ５には一定の電荷が充電され各電解コンデ
ンサ７Ａ４、７Ａ５の接続点である中間電位７Ｇを基準
に（＋）ラインにはプラス１０Ｖ、（−）ラインには−
１２Ｖの電位が発生する。これは結果的には中間電位７
Ｇは（ー）ラインから見ると＋１２Ｖ嵩上げされたこと
になる。また電解コンデンサ７Ａ４，７Ａ５の過充電防
止としては、電解コンデサに一定値以上の電荷が充電さ
れるとツエナーダイオード７Ａ２がブレイクダウンを起
こし電解コンデンサへの充電電流をバイパスする。
【００２５】以上のように中間電位７Ｇの電位を０Ｖに
保った状態で例えば地絡テストを行うべく、図示しない
テストスタート回路の動作によりリレー接点２０Ｆ1，
２０Ｆ2を同時に閉成する。この結果、リレー接点２０
Ｆ1の閉成によりモード切替えスイッチ２０Ｅを通して
試験電流発生手段としての試験電流発生装置２０Ｂから
地絡テスト電流が地絡信号再生回路１８のテスト電圧発
生抵抗１８１に流れ込む。また同時にリレー接点２０Ｆ
2の閉成によりタイムカウンタ２０Ｉがカウント動作を
開始する。
保った状態で例えば地絡テストを行うべく、図示しない
テストスタート回路の動作によりリレー接点２０Ｆ1，
２０Ｆ2を同時に閉成する。この結果、リレー接点２０
Ｆ1の閉成によりモード切替えスイッチ２０Ｅを通して
試験電流発生手段としての試験電流発生装置２０Ｂから
地絡テスト電流が地絡信号再生回路１８のテスト電圧発
生抵抗１８１に流れ込む。また同時にリレー接点２０Ｆ
2の閉成によりタイムカウンタ２０Ｉがカウント動作を
開始する。
【００２６】このカウント動作中に、テスト電圧発生抵
抗１８１の両端に発生した電圧は積分回路を構成する演
算回路１８０によって地絡引外し回路１９に積分出力さ
れ、トリップ信号として電子式スイッチ８に入力される
と、電子式スイッチ８はオフからオン状態となる。この
結果スイッチング回路７Ａ１のトランンジスタＱのベー
スに流れていたベース電流はダイオード７Ｄ、電子式ス
イッチ８を通して（ー）ラインに流れ込み、トランジス
タＱはオフ状態となって試験電圧発生回路７Ｃへの電源
供給は遮断され中間電位７Ｇの電位はー１２Ｖに下が
る。
抗１８１の両端に発生した電圧は積分回路を構成する演
算回路１８０によって地絡引外し回路１９に積分出力さ
れ、トリップ信号として電子式スイッチ８に入力される
と、電子式スイッチ８はオフからオン状態となる。この
結果スイッチング回路７Ａ１のトランンジスタＱのベー
スに流れていたベース電流はダイオード７Ｄ、電子式ス
イッチ８を通して（ー）ラインに流れ込み、トランジス
タＱはオフ状態となって試験電圧発生回路７Ｃへの電源
供給は遮断され中間電位７Ｇの電位はー１２Ｖに下が
る。
【００２７】中間電位７Ｇの電位低下が外部テスト装置
２０１の電圧検出手段としての電圧低下センサ２０Ｈに
よって検出されると、その検出信号がタイムカウンタ２
０Ｉに入力されカウント動作が停止する。この時、タイ
ムカウンタ２０Ｉのカウント動作開始時よりカウント動
作停止に至るまでの時間をそのカウント値から読み取る
ことで、地絡事故発生に対して回路遮断器がどの位の時
間で動作するか試験を行うことができる。この試験方法
は過電流試験に関しても同様であり、モード切替えスイ
ッチ２０Ｅを過電流テスト側に投入し試験電流を過電流
信号再生回路１０に流しトリップ信号を電子式スイッチ
８に流す。
２０１の電圧検出手段としての電圧低下センサ２０Ｈに
よって検出されると、その検出信号がタイムカウンタ２
０Ｉに入力されカウント動作が停止する。この時、タイ
ムカウンタ２０Ｉのカウント動作開始時よりカウント動
作停止に至るまでの時間をそのカウント値から読み取る
ことで、地絡事故発生に対して回路遮断器がどの位の時
間で動作するか試験を行うことができる。この試験方法
は過電流試験に関しても同様であり、モード切替えスイ
ッチ２０Ｅを過電流テスト側に投入し試験電流を過電流
信号再生回路１０に流しトリップ信号を電子式スイッチ
８に流す。
【００２８】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、引外し
電磁装置の作動により遮断機構を稼働し遮断器接点を開
放する回路遮断器において、前記引外し電磁装置を試験
する疑似事故電流を発生する事故電流発生手段と、この
発生した疑似事故電流を検出して事故検出信号を出力す
る電流検出手段と、この電流検出手段に、前記引外し電
磁装置の試験時に電源電圧を供給する試験電圧発生手段
と、前記電流検出手段より出力された事故検出信号によ
りオン動作して前記引外し電磁装置に作動信号を出力す
ると共に、前記試験電圧発生手段より発生した電源電圧
を、電流検出手段より低圧側にバイパスさせるスイッチ
手段と、バイパスによる電源電圧の低下を検出して電圧
低下検出信号を出力する電圧低下検出手段、前記疑似事
故電流発生時に計時動作を開始し、前記電圧低下検出信
号の入力時に計時動作を停止して事故電流発生より遮断
機構を稼働させるまでの時間を計測する計時手段とを備
えたので、回路遮断器よりリード線を通して補助接点出
力を引き出さなくても回路遮断器の試験を行うことがで
きるため、回路遮断器の動作回路単体でその動作試験を
容易に行うことができるという効果がある。
電磁装置の作動により遮断機構を稼働し遮断器接点を開
放する回路遮断器において、前記引外し電磁装置を試験
する疑似事故電流を発生する事故電流発生手段と、この
発生した疑似事故電流を検出して事故検出信号を出力す
る電流検出手段と、この電流検出手段に、前記引外し電
磁装置の試験時に電源電圧を供給する試験電圧発生手段
と、前記電流検出手段より出力された事故検出信号によ
りオン動作して前記引外し電磁装置に作動信号を出力す
ると共に、前記試験電圧発生手段より発生した電源電圧
を、電流検出手段より低圧側にバイパスさせるスイッチ
手段と、バイパスによる電源電圧の低下を検出して電圧
低下検出信号を出力する電圧低下検出手段、前記疑似事
故電流発生時に計時動作を開始し、前記電圧低下検出信
号の入力時に計時動作を停止して事故電流発生より遮断
機構を稼働させるまでの時間を計測する計時手段とを備
えたので、回路遮断器よりリード線を通して補助接点出
力を引き出さなくても回路遮断器の試験を行うことがで
きるため、回路遮断器の動作回路単体でその動作試験を
容易に行うことができるという効果がある。
【図１】この発明による回路遮断器の全体構成の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図２】本実施例における外部テスト装置、過電流信号
再生回路、及び地絡信号再生回路の回路図である。
再生回路、及び地絡信号再生回路の回路図である。
【図３】本実施例における電源回路の回路図である。
【図４】従来の回路遮断器の全体構成を示すブロック図
である。
である。
【図５】従来の外部テスト装置、過電流信号再生回路、
及び地絡信号再生回路の回路図である。
及び地絡信号再生回路の回路図である。
【符号の説明】 ３ トリップコイル ８ 電子式スイッチ ７Ａ 電源回路 ７Ｃ 試験電圧発生回路 ２０１ 外部テスト装置 ２０Ｂ テスト電流発生装置 ２０Ｈ 電圧低下センサ ２０Ｉ タイムカウンタ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−212232（ＪＰ，Ａ) 特公 平７−14252（ＪＰ，Ｂ２) 特公 平３−270632（ＪＰ，Ｂ２) 特公 昭54−108248（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01H 73/00
Claims (1)
- 【請求項１】 引外し電磁装置の作動により遮断機構を
稼働し遮断器接点を開放する回路遮断器において、前記
引外し電磁装置を試験する疑似事故電流を発生する事故
電流発生手段と、この発生した疑似事故電流を検出して
事故検出信号を出力する電流検出手段と、この電流検出
手段に、前記引外し電磁装置の試験時に電源電圧を供給
する試験電圧発生手段と、前記電流検出手段より出力さ
れた事故検出信号によりオン動作して前記引外し電磁装
置に作動信号を出力すると共に、前記試験電圧発生手段
より発生した電源電圧を、電流検出手段より低圧側にバ
イパスさせるスイッチ手段と、バイパスによる電源電圧
の低下を検出して電圧低下検出信号を出力する電圧低下
検出手段、前記疑似事故電流発生時に計時動作を開始
し、前記電圧低下検出信号の入力時に計時動作を停止し
て事故電流発生より遮断機構を稼働させるまでの時間を
計測する計時手段とを備えたことを特徴とする回路遮断
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21019392A JP2851484B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 回路遮断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21019392A JP2851484B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 回路遮断器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0660789A JPH0660789A (ja) | 1994-03-04 |
| JP2851484B2 true JP2851484B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=16585330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21019392A Expired - Fee Related JP2851484B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 回路遮断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2851484B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100376101B1 (ko) * | 2001-01-10 | 2003-03-26 | 한국산업안전공단 | 누전차단기 시험장치 |
| JP5310501B2 (ja) * | 2009-11-19 | 2013-10-09 | 三菱電機株式会社 | 電子式漏電遮断器 |
-
1992
- 1992-08-06 JP JP21019392A patent/JP2851484B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0660789A (ja) | 1994-03-04 |
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