JPS6030900B2 - しや断器の等価試験方法 - Google Patents
しや断器の等価試験方法Info
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- JPS6030900B2 JPS6030900B2 JP53160350A JP16035078A JPS6030900B2 JP S6030900 B2 JPS6030900 B2 JP S6030900B2 JP 53160350 A JP53160350 A JP 53160350A JP 16035078 A JP16035078 A JP 16035078A JP S6030900 B2 JPS6030900 B2 JP S6030900B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はしや断器の等価試験方法に関する。
高電圧大容量のしや断器のしや断容量を検証するのに従
来からワィル試験と称する電流重畳等価試験が行なわれ
ている。第１図は普通に使用されているワィル試験回路
を示し、同図においてＡＧは主回路電流源（短絡発動機
）、ＣＢａは補助しや断器、ＣＢｔは供試しや断器であ
って、これら主回路電流源ＡＧと補助しや断器にＢａと
供試しや断器ＣＢｔは直列接続されている。
来からワィル試験と称する電流重畳等価試験が行なわれ
ている。第１図は普通に使用されているワィル試験回路
を示し、同図においてＡＧは主回路電流源（短絡発動機
）、ＣＢａは補助しや断器、ＣＢｔは供試しや断器であ
って、これら主回路電流源ＡＧと補助しや断器にＢａと
供試しや断器ＣＢｔは直列接続されている。
Ｒｄは振動回路抵抗、Ｃｅは振動回路コンデンサであっ
て、これらの抵抗ＫｄとコンデンサＣｅの直列接続され
たものが供試しや断器ＣＢｔに並列接続されている。ま
た供試しや断器にＢｔと並列にィンダクタンスＬと放電
ギャップＧと主コンデンサＣｓとを直列接続したものが
接続されている。主コンデンサＣｓの両端間には充電抵
抗Ｒｃを介して整流装置Ｒｆが並列接続されている。整
流装置Ｒｆはたとえば交流電源ＡＣとダイオードＤとか
ら構成されてる。第２図は第１図における主電流ｌｍと
重畳電流ｌｓの重なり方及び主コンデンサＣｓの端子電
圧の変化を示している。
て、これらの抵抗ＫｄとコンデンサＣｅの直列接続され
たものが供試しや断器ＣＢｔに並列接続されている。ま
た供試しや断器にＢｔと並列にィンダクタンスＬと放電
ギャップＧと主コンデンサＣｓとを直列接続したものが
接続されている。主コンデンサＣｓの両端間には充電抵
抗Ｒｃを介して整流装置Ｒｆが並列接続されている。整
流装置Ｒｆはたとえば交流電源ＡＣとダイオードＤとか
ら構成されてる。第２図は第１図における主電流ｌｍと
重畳電流ｌｓの重なり方及び主コンデンサＣｓの端子電
圧の変化を示している。
即ち第２図ａは供試しや断器にＢｔに流れる電流波形を
示し、同図ｂは主コンデンサＣｓにより供試しや断器Ｃ
Ｂｔに重畳される電流を示し、同図ｃは主コンデンサＣ
ｓの端子電圧を示している。
示し、同図ｂは主コンデンサＣｓにより供試しや断器Ｃ
Ｂｔに重畳される電流を示し、同図ｃは主コンデンサＣ
ｓの端子電圧を示している。
第１図のヮィル試験回路では、まず主回路電流源ＡＧか
ら供試しや断器ＣＢｔ、補助しや断器ＣＢａに直列に主
電流ｌｍを流し、両しや断器を同時に開いてしや断アー
クを発生させ、電流の零点の直前の適当な時点し１こお
いて、放電ギャップＧを図示しないギャップ始動装置に
より放電させ主コンデンサＣｓに予め高圧＋Ｅで充電し
てある電荷を放電させる。この放電はＣｓ−Ｌの直列回
路によって行なわれるので、ｆ＝１／（２汀ノＬＣｓ）
で定まる高周波の電流（第２図ｂ参照）が主電流（短絡
電流）ｌｍに車畳して流れる。従って供試しや断器ＣＢ
ｔには第２図ａに示すような電流が流れることになる。
この場合、補助しや断器Ｃ舷にはｌｍ−ｉｓ，（ｉｓ，
：ｌｓの補助しや断器ＣＢａへの分流）が流れることに
なるので、補助しや断器Ｃ舷では供試しや断器ＣＢｔよ
りも先に電流零値がくることになり、その零値で補助し
や断器にＢａがしや断すると、回路には供試しや断器Ｃ
Ｂｔのしや断アークの電流零点の条件は、高周波回路の
電流零点条件によって定まることになる。この零点で、
供試しや断器にＢｔがしや断すると、供試しや断器ＣＢ
ｔの端子にあうわれる再起電圧はＬとＣｅによって定ま
るね＝１／（２刀ノＬＣｅ）の周波数をもち、主コンデ
ンサＣｓの残留電荷による直流高電圧を最終値として振
動する電圧となる。この零点で供試しや断器にＢｔがし
や断に失敗すると高周波電流ｌｓがつづいて半サイクル
流れることになる。このようにしてワィル試験による動
作責務（０一１分−ＣＯ−３分−ＣＯ）を行なうと、１
回のワィル試験を終了した後は、第２図ｃに示す如く主
コンデンサＣｓの端子電圧が反転されている。
ら供試しや断器ＣＢｔ、補助しや断器ＣＢａに直列に主
電流ｌｍを流し、両しや断器を同時に開いてしや断アー
クを発生させ、電流の零点の直前の適当な時点し１こお
いて、放電ギャップＧを図示しないギャップ始動装置に
より放電させ主コンデンサＣｓに予め高圧＋Ｅで充電し
てある電荷を放電させる。この放電はＣｓ−Ｌの直列回
路によって行なわれるので、ｆ＝１／（２汀ノＬＣｓ）
で定まる高周波の電流（第２図ｂ参照）が主電流（短絡
電流）ｌｍに車畳して流れる。従って供試しや断器ＣＢ
ｔには第２図ａに示すような電流が流れることになる。
この場合、補助しや断器Ｃ舷にはｌｍ−ｉｓ，（ｉｓ，
：ｌｓの補助しや断器ＣＢａへの分流）が流れることに
なるので、補助しや断器Ｃ舷では供試しや断器ＣＢｔよ
りも先に電流零値がくることになり、その零値で補助し
や断器にＢａがしや断すると、回路には供試しや断器Ｃ
Ｂｔのしや断アークの電流零点の条件は、高周波回路の
電流零点条件によって定まることになる。この零点で、
供試しや断器にＢｔがしや断すると、供試しや断器ＣＢ
ｔの端子にあうわれる再起電圧はＬとＣｅによって定ま
るね＝１／（２刀ノＬＣｅ）の周波数をもち、主コンデ
ンサＣｓの残留電荷による直流高電圧を最終値として振
動する電圧となる。この零点で供試しや断器にＢｔがし
や断に失敗すると高周波電流ｌｓがつづいて半サイクル
流れることになる。このようにしてワィル試験による動
作責務（０一１分−ＣＯ−３分−ＣＯ）を行なうと、１
回のワィル試験を終了した後は、第２図ｃに示す如く主
コンデンサＣｓの端子電圧が反転されている。
従って同じ試験をすぐ繰返すためには最初主コンデンサ
Ｃｓの端子電圧が−Ｅのように反転しているため逆極性
になって残った主コンデンサＣｓの電荷を急速に放電し
更に再充電を行なわねばならないが、この方法だと整流
装置Ｒｆ、充電抵抗Ｒｃ等が大型になり、その装置があ
っても１分後に試験を行なうことは相当厄介な作業とな
る。このようなことと併せ、従来上記動作責務（０一１
分−ＣＯ−３分−ＣＯ）通りの試験は可能といわれてい
るが、公表されたデータは殆んどない。
Ｃｓの端子電圧が−Ｅのように反転しているため逆極性
になって残った主コンデンサＣｓの電荷を急速に放電し
更に再充電を行なわねばならないが、この方法だと整流
装置Ｒｆ、充電抵抗Ｒｃ等が大型になり、その装置があ
っても１分後に試験を行なうことは相当厄介な作業とな
る。このようなことと併せ、従来上記動作責務（０一１
分−ＣＯ−３分−ＣＯ）通りの試験は可能といわれてい
るが、公表されたデータは殆んどない。
そこで本発明はこのような点に鑑み、主回路電流源から
の主電流を供試しや断器、補助しや断器に直列に流し、
両しや断器を同時に開いてしや断アークを発生させ、電
流の零点の直前の適当な時点においてＬＣ回路を用いた
振動電流回路の主コンデンサに予め高圧で充電してある
電荷を放電させ、負と正の連続した２波からなる高周波
電流を重畳させて、前記主コンデンサの極性が動作責務
試験の各回のワィル試験終了後各回のヮィル試験開始前
と同一になるようにして供試しや断器のワィル試験法に
よる動作責務試験を行なうようにしたしや断器の等価試
験方法を提供しようとすもので、以下実施例を用いて説
明する。（１） まず本発明の基本的な第１の実施例に
ついて説明すると、主回路電流源ＡＧからの主電流ｌｍ
を供議しや断器ＣＢＬ補助しや断器Ｃ舷に直列に流し、
両しや断器を同時に開いてしや断アークを発生させ、電
流の零点の直前の適当な時点ｔ，．においてＬ（ィンダ
クタンス）Ｃ（コンデンサ）を用いた振動電流回路の主
コンデンサに予め高圧充電回路（整流装置Ｒｆ）などで
充電してある電荷を放電させ、第３図ｂに示すように負
と正の連続した２波からなる高周波電流ｌｓを重畳させ
て、前記主コンデンサＣｓの端子電圧が第３図ｃに示す
ように変化させている。
の主電流を供試しや断器、補助しや断器に直列に流し、
両しや断器を同時に開いてしや断アークを発生させ、電
流の零点の直前の適当な時点においてＬＣ回路を用いた
振動電流回路の主コンデンサに予め高圧で充電してある
電荷を放電させ、負と正の連続した２波からなる高周波
電流を重畳させて、前記主コンデンサの極性が動作責務
試験の各回のワィル試験終了後各回のヮィル試験開始前
と同一になるようにして供試しや断器のワィル試験法に
よる動作責務試験を行なうようにしたしや断器の等価試
験方法を提供しようとすもので、以下実施例を用いて説
明する。（１） まず本発明の基本的な第１の実施例に
ついて説明すると、主回路電流源ＡＧからの主電流ｌｍ
を供議しや断器ＣＢＬ補助しや断器Ｃ舷に直列に流し、
両しや断器を同時に開いてしや断アークを発生させ、電
流の零点の直前の適当な時点ｔ，．においてＬ（ィンダ
クタンス）Ｃ（コンデンサ）を用いた振動電流回路の主
コンデンサに予め高圧充電回路（整流装置Ｒｆ）などで
充電してある電荷を放電させ、第３図ｂに示すように負
と正の連続した２波からなる高周波電流ｌｓを重畳させ
て、前記主コンデンサＣｓの端子電圧が第３図ｃに示す
ように変化させている。
このとき供試しや断器に流れる電流は第３図ａに示すよ
うにら，時点以降（ｔ，．〜ｔ，３）主電流ｌｍ‘こ高
周波電流ｌｓが重畳された形となる。このようにしてワ
ィル試験法による動作責務試験を行なうと１回ワィル試
験を行なった後は電圧の絶対値は若干減ずるが、主コン
デンサＣｓには同一の極性の電圧が残っており、１分後
又は３分後に次の試験を行なうには、その減った電荷だ
けを充電すればよいので、あまり大容量でない普通の設
備で短時間に充電を行なうことができる。またこの第１
実施例方法では、所謂重畳電流ｌｓが正と負の２波流れ
るため、その第１波（負の波）の電流が供試しや断器に
Ｂｔの中で、主電流ｌｍを減ずる方向に流れることにな
るので、あまり好ましいものではない。
うにら，時点以降（ｔ，．〜ｔ，３）主電流ｌｍ‘こ高
周波電流ｌｓが重畳された形となる。このようにしてワ
ィル試験法による動作責務試験を行なうと１回ワィル試
験を行なった後は電圧の絶対値は若干減ずるが、主コン
デンサＣｓには同一の極性の電圧が残っており、１分後
又は３分後に次の試験を行なうには、その減った電荷だ
けを充電すればよいので、あまり大容量でない普通の設
備で短時間に充電を行なうことができる。またこの第１
実施例方法では、所謂重畳電流ｌｓが正と負の２波流れ
るため、その第１波（負の波）の電流が供試しや断器に
Ｂｔの中で、主電流ｌｍを減ずる方向に流れることにな
るので、あまり好ましいものではない。
しかし普通重畳電流ｌｓの波高値は主電流ｌｍの波高値
の約１／１０に選定されており、前記第１波による悪影
響は無視できるものである。（０） 次に本発明の第２
の実施例は、前記第１の実施例における重畳電流ｌｓの
第１波の反対電流（第３図ｂにおいてｔ，．〜ｔ，２間
の負の電流部分）の影響を４・さくするために、第４図
回路を用いて、供該しや断器ＣＢｔに流れる電流、供試
しや断器にＢｔに重畳される電流ｌｓ、主コンデンサＣ
ｓの端子電圧を夫々第５図ａ〜ｃの如くしたことにある
。
の約１／１０に選定されており、前記第１波による悪影
響は無視できるものである。（０） 次に本発明の第２
の実施例は、前記第１の実施例における重畳電流ｌｓの
第１波の反対電流（第３図ｂにおいてｔ，．〜ｔ，２間
の負の電流部分）の影響を４・さくするために、第４図
回路を用いて、供該しや断器ＣＢｔに流れる電流、供試
しや断器にＢｔに重畳される電流ｌｓ、主コンデンサＣ
ｓの端子電圧を夫々第５図ａ〜ｃの如くしたことにある
。
第４図は本発明の第２の実施例に係るヮィル試験回路を
示し、第１図との相異点はィンダクタンスＬ′と放電ギ
ャップ〇とを直列接続したものを、ィンダクタンスＬと
放電ギャップＧとを直列接続したものの両端間に新たに
並列接続して追加したことにある。
示し、第１図との相異点はィンダクタンスＬ′と放電ギ
ャップ〇とを直列接続したものを、ィンダクタンスＬと
放電ギャップＧとを直列接続したものの両端間に新たに
並列接続して追加したことにある。
この場合、ィンダクタンスしはィンダクタンスＬより数
倍大きいィンダクタンスであり、これに直列に設けられ
る放電ギャップＧ′は放電ギャップＧと同じ性能のもの
であればよい。このようなィンダクタンスＬは普通の試
験場では、脱調試験（動作責務はない）のワィル試験の
ために設けられており、特に新しく設置する必要はない
。
倍大きいィンダクタンスであり、これに直列に設けられ
る放電ギャップＧ′は放電ギャップＧと同じ性能のもの
であればよい。このようなィンダクタンスＬは普通の試
験場では、脱調試験（動作責務はない）のワィル試験の
ために設けられており、特に新しく設置する必要はない
。
また放電ギャップ〇は新設することになるが、これは設
備金額の張るものではない。第４図回路によるワィル試
験動作について以下簡単に説明する。まず主回路電流源
ＡＧから供試しや断器ＣＢｔ、補助しや断器ＣＢａに直
列に主電流ｌｍを流し、両しや断器を同時に開いてしや
断アークを発生させ、電流の零点の直前の適当な時点ｔ
２，において、図示しないギャップ始動装置により放電
ギャップ〇をまず放電させる。
備金額の張るものではない。第４図回路によるワィル試
験動作について以下簡単に説明する。まず主回路電流源
ＡＧから供試しや断器ＣＢｔ、補助しや断器ＣＢａに直
列に主電流ｌｍを流し、両しや断器を同時に開いてしや
断アークを発生させ、電流の零点の直前の適当な時点ｔ
２，において、図示しないギャップ始動装置により放電
ギャップ〇をまず放電させる。
これにより第５図ｂに示す如き重畳電流ｌｓの小さい第
１波（負の波）が供試しや断器ＣＢｔを主電流ｌｍと反
対の向きに流れる。次にｔ２２時点で図示しないギャッ
プ始動装置により放電ギャップＧを放電させる。これに
より第５図ｂに示す如き重畳電流ｌｓの第２波（正の波
）が供試しや断器ＣＢｔを主電流ｌｍと同じ向きに流れ
る。このときの第２波を正規の重畳電流（第２図ｂ又は
第３図ｂの正の波部分参照）と等しくなるように調整す
る。従って供試しや断器にＢｔには第５図ａに示すよう
な電流が流れることになる。
１波（負の波）が供試しや断器ＣＢｔを主電流ｌｍと反
対の向きに流れる。次にｔ２２時点で図示しないギャッ
プ始動装置により放電ギャップＧを放電させる。これに
より第５図ｂに示す如き重畳電流ｌｓの第２波（正の波
）が供試しや断器ＣＢｔを主電流ｌｍと同じ向きに流れ
る。このときの第２波を正規の重畳電流（第２図ｂ又は
第３図ｂの正の波部分参照）と等しくなるように調整す
る。従って供試しや断器にＢｔには第５図ａに示すよう
な電流が流れることになる。
このようにしてワィル試験を行なうと、１回ワィル試験
を終了したｔ蟹時点以後は、第５図ｃに示す如く主コン
デンサＣｓには電圧の絶対値は若干減ずるが試験開始前
と同一極性の電圧が残っており、１分後又は３分後に次
の試験を行なうには、その減った電荷だけを充電すれば
よいので、前述したと同様にあまり大容量でない普通の
設備で短時間に充電を行なうことができる。
を終了したｔ蟹時点以後は、第５図ｃに示す如く主コン
デンサＣｓには電圧の絶対値は若干減ずるが試験開始前
と同一極性の電圧が残っており、１分後又は３分後に次
の試験を行なうには、その減った電荷だけを充電すれば
よいので、前述したと同様にあまり大容量でない普通の
設備で短時間に充電を行なうことができる。
この第２実施例の方法によると、第１実施例の方法に比
べ、重畳電流はの第１波（第５図ｂにおいてｌｓの負の
部分）を非常に少なくすることができ、通常のヮィル試
験と同一の試験を行なうことができ、従ってきわめて理
想的な動作責務試験を行なうことができる。
べ、重畳電流はの第１波（第５図ｂにおいてｌｓの負の
部分）を非常に少なくすることができ、通常のヮィル試
験と同一の試験を行なうことができ、従ってきわめて理
想的な動作責務試験を行なうことができる。
上述した本発明を用いれば、主電流（短絡電流）ｌｍに
負と正の連続した２波からなる高周波電流ｌｓを重畳す
ることにより普通の試験設備であるいはこれに若干の装
置を追加することで、容易にワィル法による動作責務試
験を行なうことができ、信頼性の高いしや断器の短絡試
験を行なうことができる。
負と正の連続した２波からなる高周波電流ｌｓを重畳す
ることにより普通の試験設備であるいはこれに若干の装
置を追加することで、容易にワィル法による動作責務試
験を行なうことができ、信頼性の高いしや断器の短絡試
験を行なうことができる。
特に第４図実施例回路を用いれば、第５図の如き電流、
電圧変化が得られきわめて理想的な試験を行なえる。
電圧変化が得られきわめて理想的な試験を行なえる。
第１図は普通に使用されているワィル試験回路図、第２
図ａ〜ｃは第１図の動作説明図、第３図ａ〜ｃは本発明
方法の第１の実施例を示す説明図、第４図は本発明方法
の第２の実施例に係るワィル試験回路、第５図ａ〜ｃは
本発明方法の第２の実施例を示す説明図であって、図中
ＡＧは主回路電源、ＣＢａは補助しや断器、ＣＢｔ‘ま
供試しや断器、Ｒｆは整流装置、Ｃｓは主コンデンサ、
Ｌ，Ｌ′はインダクタンス、Ｇ，Ｇ′は放電ギャップ、
Ｒｃは充電抵抗、Ｒｄは振動回路抵抗、Ｃｅは振動回路
コンデンサ、ｌｍは主電流、ｌｓは高周波電流（重畳電
流）を示す。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
図ａ〜ｃは第１図の動作説明図、第３図ａ〜ｃは本発明
方法の第１の実施例を示す説明図、第４図は本発明方法
の第２の実施例に係るワィル試験回路、第５図ａ〜ｃは
本発明方法の第２の実施例を示す説明図であって、図中
ＡＧは主回路電源、ＣＢａは補助しや断器、ＣＢｔ‘ま
供試しや断器、Ｒｆは整流装置、Ｃｓは主コンデンサ、
Ｌ，Ｌ′はインダクタンス、Ｇ，Ｇ′は放電ギャップ、
Ｒｃは充電抵抗、Ｒｄは振動回路抵抗、Ｃｅは振動回路
コンデンサ、ｌｍは主電流、ｌｓは高周波電流（重畳電
流）を示す。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- １ 供試しや断器に対して、補助しや断器を介して主電
流を流す主回路電流源回路とＬＣを用いた振動電流回路
とが重畳されるように構成し、さらに該振動電流回路の
主コンデンサと並列に高圧充電回路を接続して、前記供
試しや断器のワイル法による動作責務試験を行なうしや
断器の等価試験回路において、前記主回路電流源回路か
らの主電流を前記供試しや断器、前記補助しや断器に直
列に流し、両しや断器を同時に開いてしや断アークを発
生させ、電流の零点の直前の適当な時点で前記振動電流
回路の前記主コンデンサに予め高圧で充電してある電荷
を放電させ、負と正の連続した２波からなる高周波電流
を重畳させて、供試しや断器のワイル法による動作責務
試験を行なうようにしたことを特徴とするしや断器の等
価試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53160350A JPS6030900B2 (ja) | 1978-12-19 | 1978-12-19 | しや断器の等価試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53160350A JPS6030900B2 (ja) | 1978-12-19 | 1978-12-19 | しや断器の等価試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5582973A JPS5582973A (en) | 1980-06-23 |
| JPS6030900B2 true JPS6030900B2 (ja) | 1985-07-19 |
Family
ID=15713071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53160350A Expired JPS6030900B2 (ja) | 1978-12-19 | 1978-12-19 | しや断器の等価試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6030900B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH659330A5 (de) * | 1982-04-08 | 1987-01-15 | Bbc Brown Boveri & Cie | Zweikreispruefschaltung fuer hochspannungs-leistungsschalter und verfahren zum betrieb der schaltung. |
| CN102288905B (zh) * | 2011-06-27 | 2014-07-02 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种用于高压交流断路器的合成关合试验线路 |
-
1978
- 1978-12-19 JP JP53160350A patent/JPS6030900B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5582973A (en) | 1980-06-23 |
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