JPH0777025B2 - 光学的記録再生装置 - Google Patents
光学的記録再生装置Info
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- JPH0777025B2 JPH0777025B2 JP60228775A JP22877585A JPH0777025B2 JP H0777025 B2 JPH0777025 B2 JP H0777025B2 JP 60228775 A JP60228775 A JP 60228775A JP 22877585 A JP22877585 A JP 22877585A JP H0777025 B2 JPH0777025 B2 JP H0777025B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光学的記録再生装置に係り、特に光スポツト照
射時の温度上昇によりその光学的性質が変化することを
利用して信号の記録、消去を行う光記録媒体を用いるの
に好適な光学的記録再生装置に関するものである。
射時の温度上昇によりその光学的性質が変化することを
利用して信号の記録、消去を行う光記録媒体を用いるの
に好適な光学的記録再生装置に関するものである。
特開昭59−68844号に示されているようにレーザ光を直
径1μm程度の微小ビーム径に絞り、光感応性記録材料
を塗布した、例えば、回転する光記録デイスクに照射し
て、信号を高密度に記録し、再生する装置は、記録密度
が高く、1ビツト当りのメモリコストが安くできる点、
高速でアクセスできる点、光学ヘツドと光記録デイスク
が非接触で記録再生を行なえ、光記録デイスクおよび装
置の信頼性を高めることが可能であるという点で今後の
情報化社会に新しい記録装置、媒体を提供するものとし
て注目されている。
径1μm程度の微小ビーム径に絞り、光感応性記録材料
を塗布した、例えば、回転する光記録デイスクに照射し
て、信号を高密度に記録し、再生する装置は、記録密度
が高く、1ビツト当りのメモリコストが安くできる点、
高速でアクセスできる点、光学ヘツドと光記録デイスク
が非接触で記録再生を行なえ、光記録デイスクおよび装
置の信頼性を高めることが可能であるという点で今後の
情報化社会に新しい記録装置、媒体を提供するものとし
て注目されている。
上記の光記録に用いられる記録媒体として、記録薄膜
を、レーザの熱エネルギーで蒸発させ、記録薄膜に小孔
を形成する方式のもの、レーザ光の熱エネルギーで記録
薄膜の光学的濃度を変化させる方式のもの等が提案され
ている。
を、レーザの熱エネルギーで蒸発させ、記録薄膜に小孔
を形成する方式のもの、レーザ光の熱エネルギーで記録
薄膜の光学的濃度を変化させる方式のもの等が提案され
ている。
また、上記の光学的濃度を変化させる記録薄膜には、非
結晶の記録薄膜を用いて、光学的濃度を可逆的に変化さ
せうることも報告されている。この可逆的に光学的濃度
を変化させうるということは、信号の記録再生、および
消去が可能であることを意味するが、非晶質の記録薄膜
は本質的に不安定であり、室温においても結晶化が進展
するため、長期間の記録保存には適さない。また、記録
感度を高めるために用いているTe,Se,Snなどはいずれも
人体に有毒であり、製造時および廃棄物となつた時には
公害問題となる恐れもあつた。
結晶の記録薄膜を用いて、光学的濃度を可逆的に変化さ
せうることも報告されている。この可逆的に光学的濃度
を変化させうるということは、信号の記録再生、および
消去が可能であることを意味するが、非晶質の記録薄膜
は本質的に不安定であり、室温においても結晶化が進展
するため、長期間の記録保存には適さない。また、記録
感度を高めるために用いているTe,Se,Snなどはいずれも
人体に有毒であり、製造時および廃棄物となつた時には
公害問題となる恐れもあつた。
我々は上記した問題の無い光記録媒体として結晶と結晶
間での相変化に伴う光学的反射率変化を示す合金を発明
し、特願昭59−42079号、特願昭59−130611号に出願し
た。
間での相変化に伴う光学的反射率変化を示す合金を発明
し、特願昭59−42079号、特願昭59−130611号に出願し
た。
本発明の目的は、上記レーザ光等による熱エネルギーを
利用して、記録薄膜の光学的特性を可逆的に変化させる
光学的記録再生装置において、常温より高い第2の温度
とさらに高い第1の温度に対し、第1の温度を越えた後
に冷却される第1の条件を与える光スポツトと第2の温
度を越え、第1の温度以下で昇温された後に冷却される
第2の条件を与える光スポツトを同一の絞りレンズで形
成し、デイスク上の同一案内トラツツク上に前記両スポ
ツトを近接して配置し、その両光スポツトのスポツト径
および光強度を必要に応じて制御することにより、光記
録媒体に信号を記録し、再生し、消去できる新規な光学
的記録再生装置を提供するにある。
利用して、記録薄膜の光学的特性を可逆的に変化させる
光学的記録再生装置において、常温より高い第2の温度
とさらに高い第1の温度に対し、第1の温度を越えた後
に冷却される第1の条件を与える光スポツトと第2の温
度を越え、第1の温度以下で昇温された後に冷却される
第2の条件を与える光スポツトを同一の絞りレンズで形
成し、デイスク上の同一案内トラツツク上に前記両スポ
ツトを近接して配置し、その両光スポツトのスポツト径
および光強度を必要に応じて制御することにより、光記
録媒体に信号を記録し、再生し、消去できる新規な光学
的記録再生装置を提供するにある。
本発明は記録媒体の光学的反射率の変化を示す相変化を
生ぜしめるに必要な温度と時間を実験により確認し、前
記した第1の条件と第2の条件を与える手段として、波
長の異なるレーザを2個備え、1方のレーザから照射す
るビームはほぼジヤストフオーカスになるように、他方
のレーザから発生するビームはデフオーカスとなるよう
に光学系を形成することによりデフオーカススポツトで
記録媒体の予熱または徐冷を行ない、ジヤストフオーカ
ススポツトにより所定の温度となるようスポツト径およ
びレーザの強度を制御して記録媒体に記録あるいは記録
された信号を消去するようにしたものである。
生ぜしめるに必要な温度と時間を実験により確認し、前
記した第1の条件と第2の条件を与える手段として、波
長の異なるレーザを2個備え、1方のレーザから照射す
るビームはほぼジヤストフオーカスになるように、他方
のレーザから発生するビームはデフオーカスとなるよう
に光学系を形成することによりデフオーカススポツトで
記録媒体の予熱または徐冷を行ない、ジヤストフオーカ
ススポツトにより所定の温度となるようスポツト径およ
びレーザの強度を制御して記録媒体に記録あるいは記録
された信号を消去するようにしたものである。
第2図は相変化による記録と消去の原理を示す図で、前
記第1の温度T1を越えるとβ結晶相となり、ピンク色を
呈す。このβ結晶相は常温まで急速に温度が低下すると
β相を保持する。このβ相に対し第2の温度T2を越え、
第1の温度T1以下となる温度を保持するとζ結晶相とな
り銀白色を呈す。このようにピンク色と銀白色を示す結
晶はレーザ光、例えば波長830nmのレーザ光に対する反
射率の変化、すなわち一定の光量を照射すれば反射光量
の変化から区別することができる。
記第1の温度T1を越えるとβ結晶相となり、ピンク色を
呈す。このβ結晶相は常温まで急速に温度が低下すると
β相を保持する。このβ相に対し第2の温度T2を越え、
第1の温度T1以下となる温度を保持するとζ結晶相とな
り銀白色を呈す。このようにピンク色と銀白色を示す結
晶はレーザ光、例えば波長830nmのレーザ光に対する反
射率の変化、すなわち一定の光量を照射すれば反射光量
の変化から区別することができる。
本発明はこのような相変化を示す光記録媒体を用いた時
に適した光学的記録再生装置に関するものでその1実施
例を第1図に示す。同図に於て波長の異なる半導体レー
ザ12,14から出た発散光はコリメートレンズ22,24で略平
行光i,kとなる。ここで、記録と再生に用いる半導体レ
ーザを12、消去に用いる半導体レーザを14とすると平行
光iは第1のプリズム23によリビームの縦横比が小さく
なるように整形され、その縦横比はほぼ1となる。さら
に波長分離フイルタ32は半導体レーザ12の波長を通過さ
せるのでプリズム23からのビームは偏光ビームスプリツ
タ31、ミラー39、1/4波長板4を通り、対物レンズ7で
絞られてデイスク1上にほぼ円形の光スポツトiを形成
する。一方、略平行光kは波長分離フイルタ32で反射さ
れ、以降はiと同様に進行する。但しスポツトkはビー
ム整形用のプリズムを通過していないので、レーザのフ
アーフイルドパターンの楕円がそのまま絞られた形とな
り、トラツク方向に少し長円となる。デイスク1で反射
された光は対物レンズ7、1/4波長板4、ミラー39を通
つて、S偏光となり偏光ビームスプリツタ31で反射され
る。反射された光は波長分離フイルタ33でビームk1とビ
ームi1に分離されビームi1は波長分離フイルタ33を通過
し、ミラー40で反射されてフーコープリズム51、レンズ
52を通つて光検出器53に達する。この光検出器の結像状
態により、対物レンズ7とデイスク間の距離の制御、す
なわちフオーカスシングやデイスクのトラツク方向の制
御を行う。すなわちトラツキングのサーボ信号を得て、
対物レンズ7のアクチユエータ71の制御を行う。これら
の方式には各種のものがあり、公知であるのでここでは
述べない。一方、ビームk1は波長分離フイルタ33で反射
され、フーコープリズム61、検出レンズ62を経て光検出
器63に達し、対物レンズ7のフオーカス、トラツキング
用のサーボ信号を得ることができる。
に適した光学的記録再生装置に関するものでその1実施
例を第1図に示す。同図に於て波長の異なる半導体レー
ザ12,14から出た発散光はコリメートレンズ22,24で略平
行光i,kとなる。ここで、記録と再生に用いる半導体レ
ーザを12、消去に用いる半導体レーザを14とすると平行
光iは第1のプリズム23によリビームの縦横比が小さく
なるように整形され、その縦横比はほぼ1となる。さら
に波長分離フイルタ32は半導体レーザ12の波長を通過さ
せるのでプリズム23からのビームは偏光ビームスプリツ
タ31、ミラー39、1/4波長板4を通り、対物レンズ7で
絞られてデイスク1上にほぼ円形の光スポツトiを形成
する。一方、略平行光kは波長分離フイルタ32で反射さ
れ、以降はiと同様に進行する。但しスポツトkはビー
ム整形用のプリズムを通過していないので、レーザのフ
アーフイルドパターンの楕円がそのまま絞られた形とな
り、トラツク方向に少し長円となる。デイスク1で反射
された光は対物レンズ7、1/4波長板4、ミラー39を通
つて、S偏光となり偏光ビームスプリツタ31で反射され
る。反射された光は波長分離フイルタ33でビームk1とビ
ームi1に分離されビームi1は波長分離フイルタ33を通過
し、ミラー40で反射されてフーコープリズム51、レンズ
52を通つて光検出器53に達する。この光検出器の結像状
態により、対物レンズ7とデイスク間の距離の制御、す
なわちフオーカスシングやデイスクのトラツク方向の制
御を行う。すなわちトラツキングのサーボ信号を得て、
対物レンズ7のアクチユエータ71の制御を行う。これら
の方式には各種のものがあり、公知であるのでここでは
述べない。一方、ビームk1は波長分離フイルタ33で反射
され、フーコープリズム61、検出レンズ62を経て光検出
器63に達し、対物レンズ7のフオーカス、トラツキング
用のサーボ信号を得ることができる。
ところで、対物レンズ7には2つのスロツト位置が設定
されており、アクチユエータ71でこのどちらかを選択す
る機構が設けられている(図示を省略)。更にビームk,
iはともに略平行光であるが一方はわずかに発散光、他
方はわずかに収束光であるようにレンズ系を設定してお
く。そして対物レンズ7の1つのスロツト位置ではビー
ムk,iの一方が最小スポツトに絞り込まれ、他方はやや
ぼけ気味となるように、また他のスロツト位置ではそれ
が逆になるようにスロツト位置は設定されているものと
する。
されており、アクチユエータ71でこのどちらかを選択す
る機構が設けられている(図示を省略)。更にビームk,
iはともに略平行光であるが一方はわずかに発散光、他
方はわずかに収束光であるようにレンズ系を設定してお
く。そして対物レンズ7の1つのスロツト位置ではビー
ムk,iの一方が最小スポツトに絞り込まれ、他方はやや
ぼけ気味となるように、また他のスロツト位置ではそれ
が逆になるようにスロツト位置は設定されているものと
する。
本実施例では、まず記録動作時にはこのような機構を用
いて今スポツトkの方を大きく、スポツトiの方を最小
となるスロツトを選択する。このときのデイスク1上の
各スポツトの位置関係を第3図(a)に、そのときのア
クセスすべきピツト位置に照射される光の時間tに対す
る強度変化を第3図(b)に示す。但しこの図はレーザ
12,14の出力がほぼ等しい場合であつて、従つてスポツ
トkは径が大きいためにその最大強度は小さく、スポツ
トiは回析限界近くまで絞り込まれているのでその最大
強度は大きい。このような第3図(b)の強度変化によ
つて回転するデイスク上の1点(ピツト位置)の温度T
は時間tに対して第3図(c)のように変化する。即ち
この場合は、スポツトkはアクセスしようとしているピ
ツト位置を予測し、記録用のスポツトiにより温度Tが
T1をこえるまでの時間を短くする。つまり高速記録を可
能とするように作用している。なお第3図(a)ではス
ポツトkとiが隣接するように描いたが、要は位置が少
しずれていて第3図(c)のような温度変化の特性が得
られるようにしておけばよい。
いて今スポツトkの方を大きく、スポツトiの方を最小
となるスロツトを選択する。このときのデイスク1上の
各スポツトの位置関係を第3図(a)に、そのときのア
クセスすべきピツト位置に照射される光の時間tに対す
る強度変化を第3図(b)に示す。但しこの図はレーザ
12,14の出力がほぼ等しい場合であつて、従つてスポツ
トkは径が大きいためにその最大強度は小さく、スポツ
トiは回析限界近くまで絞り込まれているのでその最大
強度は大きい。このような第3図(b)の強度変化によ
つて回転するデイスク上の1点(ピツト位置)の温度T
は時間tに対して第3図(c)のように変化する。即ち
この場合は、スポツトkはアクセスしようとしているピ
ツト位置を予測し、記録用のスポツトiにより温度Tが
T1をこえるまでの時間を短くする。つまり高速記録を可
能とするように作用している。なお第3図(a)ではス
ポツトkとiが隣接するように描いたが、要は位置が少
しずれていて第3図(c)のような温度変化の特性が得
られるようにしておけばよい。
第4図(a)はやはりビームkの方が大きな径となるよ
うにして一定時間だけ連続に照射し一方、絞り込まれた
小径のビームiは記録ピツト位置l,m,nにだけ照射した
場合を示している。第4図(b)はこのときのピツト位
置のビーム強度変化を示しており、第4図(c)はピツ
ト位置の温度Tの変化を示している。この場合はいくつ
かの記録信号に対するスポツトkによる予熱を1ピツト
ずつオンオフせず連続して行うもので、このように先行
するビームkで記録する部分を予熱しておき、後行する
ビームiで前記第1の温度T1以上に加熱すると、光記録
媒体の周速度が高い状態でも記録が可能となり、しかも
記録部の幅はスポツトkの予熱により小スポツトiが利
用できるので、従来通り高密度の記録が可能であつて、
メモリとしてのアクセスタイムが高速化され、リアルタ
イムでの記録あるいは再生できる信号をより高速のもの
にできる。一般に高い周速での記録を可能とするには材
料の選択や媒体の構成を改善して記録媒体の記録感度を
高めるという方法がとられるが、記録感度が高いという
ことは温度、光等の影響を受け易くなることを意味し、
記録データの保存性が問題となる。従つて、本発明のよ
うに記録したい時にその部分を一時的に予熱することに
より、記録感度を高める方法は記録した後のデータの安
定性も高くなるという効果もある。
うにして一定時間だけ連続に照射し一方、絞り込まれた
小径のビームiは記録ピツト位置l,m,nにだけ照射した
場合を示している。第4図(b)はこのときのピツト位
置のビーム強度変化を示しており、第4図(c)はピツ
ト位置の温度Tの変化を示している。この場合はいくつ
かの記録信号に対するスポツトkによる予熱を1ピツト
ずつオンオフせず連続して行うもので、このように先行
するビームkで記録する部分を予熱しておき、後行する
ビームiで前記第1の温度T1以上に加熱すると、光記録
媒体の周速度が高い状態でも記録が可能となり、しかも
記録部の幅はスポツトkの予熱により小スポツトiが利
用できるので、従来通り高密度の記録が可能であつて、
メモリとしてのアクセスタイムが高速化され、リアルタ
イムでの記録あるいは再生できる信号をより高速のもの
にできる。一般に高い周速での記録を可能とするには材
料の選択や媒体の構成を改善して記録媒体の記録感度を
高めるという方法がとられるが、記録感度が高いという
ことは温度、光等の影響を受け易くなることを意味し、
記録データの保存性が問題となる。従つて、本発明のよ
うに記録したい時にその部分を一時的に予熱することに
より、記録感度を高める方法は記録した後のデータの安
定性も高くなるという効果もある。
以上は記録の場合であつたが、次に消去の場合をのべ
る。第5図(a)はビームkのスポツトが最小になるよ
うにフオーカス制御を行なつた場合であり、このとき前
記したようにビームiのスポツトはデフオーカス状態と
なり、スポツト径は大きくなる。このようなビームkと
ビームiが回転する光記録媒体に照射されるとデイスク
上のピツト位置の強度変化及び温度は第5図(b)及び
(c)に示すようになる。即ちビームkで前記した第2
の温度T2よりも大きく第1の温度T1より小さいように対
応ピツトを加熱し、拡がつたビームiで徐冷時間を確保
して、媒体上に記録されていた情報を消去する。
る。第5図(a)はビームkのスポツトが最小になるよ
うにフオーカス制御を行なつた場合であり、このとき前
記したようにビームiのスポツトはデフオーカス状態と
なり、スポツト径は大きくなる。このようなビームkと
ビームiが回転する光記録媒体に照射されるとデイスク
上のピツト位置の強度変化及び温度は第5図(b)及び
(c)に示すようになる。即ちビームkで前記した第2
の温度T2よりも大きく第1の温度T1より小さいように対
応ピツトを加熱し、拡がつたビームiで徐冷時間を確保
して、媒体上に記録されていた情報を消去する。
第6図は第5図と同じビームk、ビームiをどちらも連
続的に照射した場合であり、トラツクを連続的に消去す
ることができる。
続的に照射した場合であり、トラツクを連続的に消去す
ることができる。
以上の第3図から第6図で示した記録,消去動作では各
ビームのスポツト径の制御により照射光のエネルギー密
度、従つて加熱温度の制御を行つており、レーザ12,14
の出力はオンオフされるだけとした。しかし、このスポ
ツト径の制御と合せて、例えば先行するビームkでは記
録温度T1に達しない最大のエネルギーを与え、記録時に
はビームiでT1を越えるように、消去時にはビームiも
T1以下を保つようレーザ12を制御すればより動作特性を
向上させることができる。
ビームのスポツト径の制御により照射光のエネルギー密
度、従つて加熱温度の制御を行つており、レーザ12,14
の出力はオンオフされるだけとした。しかし、このスポ
ツト径の制御と合せて、例えば先行するビームkでは記
録温度T1に達しない最大のエネルギーを与え、記録時に
はビームiでT1を越えるように、消去時にはビームiも
T1以下を保つようレーザ12を制御すればより動作特性を
向上させることができる。
ところで本発明は前記したように、記録時には先行する
ビームスポツトkが大きく、ビームスポツトiを回折限
界程度まで小さく絞り込むようにアクチユエータ71によ
り対物レンズ7を制御するが、この制御信号は第1図の
検出器53,63のいずれを用いても可能である。しかし、
第7図に示すように光デイスク1には高密度に記録する
ために、予め案内用の溝11が設けられており、その溝11
による回折光を検出しながら溝を追跡するなどのトラツ
キングが行われる。この場合には小スポツトiを検出し
ている方がトラツクに対する光スポツトの誤差を敏感に
捕えることができる。したがつてトラツキングの検出信
号は小スポツト光すなわち、記録時にはスポツトi、消
去時にはスポツトkを利用する方が誤差の少ないトラツ
キングを行なうことができる。再生時は当然回折限界ま
で絞り込んだスポツトで記録ビツトを読み出すので、ト
ラツキングの検出信号も小スポツト側で行う。一方フオ
カスサーボ用の検出は例えば4分割センサの非点収差方
式などが用いられ、4分割センサの対角線の和、それら
の差信号画が線形な範囲であれば、サーボ回路にオフセ
ツトを与えることによりいずれのスポツトを利用しても
良いが、前記した溝による回折現象などの少ない小スポ
ツト側を利用する方が誤差を小さくできる。
ビームスポツトkが大きく、ビームスポツトiを回折限
界程度まで小さく絞り込むようにアクチユエータ71によ
り対物レンズ7を制御するが、この制御信号は第1図の
検出器53,63のいずれを用いても可能である。しかし、
第7図に示すように光デイスク1には高密度に記録する
ために、予め案内用の溝11が設けられており、その溝11
による回折光を検出しながら溝を追跡するなどのトラツ
キングが行われる。この場合には小スポツトiを検出し
ている方がトラツクに対する光スポツトの誤差を敏感に
捕えることができる。したがつてトラツキングの検出信
号は小スポツト光すなわち、記録時にはスポツトi、消
去時にはスポツトkを利用する方が誤差の少ないトラツ
キングを行なうことができる。再生時は当然回折限界ま
で絞り込んだスポツトで記録ビツトを読み出すので、ト
ラツキングの検出信号も小スポツト側で行う。一方フオ
カスサーボ用の検出は例えば4分割センサの非点収差方
式などが用いられ、4分割センサの対角線の和、それら
の差信号画が線形な範囲であれば、サーボ回路にオフセ
ツトを与えることによりいずれのスポツトを利用しても
良いが、前記した溝による回折現象などの少ない小スポ
ツト側を利用する方が誤差を小さくできる。
第8図は、第1図の光検出器63の方の光検出系を取除い
た実施例であつて、この場合にはビームkを利用したフ
オーカス、トラツキング用のサーボ信号は得られないの
で、ビームiの光検出器53のみを利用する。このように
するとビームiのスポツト径を小さくする記録時には前
記したように精度の高いフオーカス、トラツキングを行
うことができるが、ビームiのスポツト径を大きくする
消去時はフオカスエラ信号にオフセツトを与える必要が
あるため、多少精度が低下する。しかし、消去時である
のでフオーカスが少しあまくなつても実用上問題ない。
た実施例であつて、この場合にはビームkを利用したフ
オーカス、トラツキング用のサーボ信号は得られないの
で、ビームiの光検出器53のみを利用する。このように
するとビームiのスポツト径を小さくする記録時には前
記したように精度の高いフオーカス、トラツキングを行
うことができるが、ビームiのスポツト径を大きくする
消去時はフオカスエラ信号にオフセツトを与える必要が
あるため、多少精度が低下する。しかし、消去時である
のでフオーカスが少しあまくなつても実用上問題ない。
以上説明したように、本発明によれば記録時は先行する
ビームスポツトkで記録ピツトを相変態を伴う温度T1以
下に予熱し、後行するビームスポツトiで記録する信号
に応じた照射を行つて、T1以上の温度にすることによ
り、従来と同様に回析限界程度まで絞り込んだビーム径
により高密度の記録が高速に行えるという効果がある。
ビームスポツトkで記録ピツトを相変態を伴う温度T1以
下に予熱し、後行するビームスポツトiで記録する信号
に応じた照射を行つて、T1以上の温度にすることによ
り、従来と同様に回析限界程度まで絞り込んだビーム径
により高密度の記録が高速に行えるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は光デイス
クの記録消去の基本原理を説明するための図、第3図〜
第6図は本発明の装置による記録,消去の動作説明図、
第7図はデイスクに設けられた溝の1例を示す図、第8
図は本発明の他の実施例を示す図である。 1……光デイスク、4……1/4波長板、7……対物レン
ズ、12,14……半導体レーザ、22,24……コリメーシヨン
レンズ、23……プリズム、31……偏光ビームスプリツ
タ、32……波長分離フイルタ、33……波長分離フイル
タ、39……ミラー、40……ミラー、51,61……フーコー
プリズム、52,60……レンズ、53,63……光検出器、71…
…アクチユエータ。
クの記録消去の基本原理を説明するための図、第3図〜
第6図は本発明の装置による記録,消去の動作説明図、
第7図はデイスクに設けられた溝の1例を示す図、第8
図は本発明の他の実施例を示す図である。 1……光デイスク、4……1/4波長板、7……対物レン
ズ、12,14……半導体レーザ、22,24……コリメーシヨン
レンズ、23……プリズム、31……偏光ビームスプリツ
タ、32……波長分離フイルタ、33……波長分離フイル
タ、39……ミラー、40……ミラー、51,61……フーコー
プリズム、52,60……レンズ、53,63……光検出器、71…
…アクチユエータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 嶋田 智 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (72)発明者 佐々木 宏 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−172167(JP,A)
Claims (3)
- 【請求項1】光スポツトの照射によりその被照射部が常
温より高い第1の温度をこえて加熱されたのち冷却され
ると第1相の結晶構造となり、かつ光スポツトの照射に
よりその被照射部が常温より高くて上記第1の温度より
低い第2の温度と上記第1の温度との間で所定時間以上
加熱されたのち冷却されると第2相の結晶構造となると
ころの、上記第1相または第2相の結晶構造を記録状態
に他方の相の結晶構造を消去状態に対応させて情報を記
録する光記録合金に対して、情報の記録,再生、及び消
去を行うための光学的記録再生装置に於て、2つの光ビ
ームを発生する光ビーム発生手段と、該2つの光ビーム
を絞り込んで2つの光スポツトとしかつこの2つの光ス
ポツトが上記光記録合金上をその記録トラツクに沿つて
近接した先行スポツト及び移行スポツトとして照射する
ように位置決めする光学的手段とを設けるとともに、該
光学的手段は、上記光記録合金を上記第1相の結晶構造
とするときには上記先行スポツトの径をその最小値より
も大きくして被照射部がその温度が上記第1の温度をこ
えない範囲で予熱されるようにし、かつ上記後行スポツ
トの径をその最小値となるように絞り込んで上記予熱さ
れた被照射部の温度が上記第1の温度をこえるように調
節する第1の調節機能と、上記光記録合金を上記第2相
の結晶構造とするときには上記先行スポツトの径をその
最小値となるように絞り込んで被照射部の温度が上記第
1及び第2の温度の間になるように加熱し、かつ上記後
行スポツトの径をその最小値よりも大きくして上記加熱
された被照射部の温度が上記第1及び第2の温度の間で
所定時間維持されるように調節する調節機能とを有した
ことを特徴とする光学的記録再生装置。 - 【請求項2】前記ビーム発生手段からの2つの光ビーム
の強度を調整するビーム強度調整手段と、前記光記録合
金の結晶構造を変化させるときにはその径が最小値とな
るように絞り込まれる方のスポツトのビーム強度が他方
のスポツトのビーム強度より大きくなるように上記強度
調整手段を作動せしめる強度制御手段とを設けたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学的記録再生
装置。 - 【請求項3】前記光学的手段による2つの光スポツトの
焦点調整のための焦点エラー信号の検出及び前記光記録
合金上の案内トラツクを利用したトラツキングエラー信
号の検出を、その径が最小値となるように絞り込まれた
光スポツトの反射光を用いて行うようにしたことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の光学的記録再生装
置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60228775A JPH0777025B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 光学的記録再生装置 |
EP86114144A EP0223057B1 (en) | 1985-10-16 | 1986-10-13 | An optical recording method and an apparatus using the method |
CN86107205.7A CN1004948B (zh) | 1985-10-16 | 1986-10-15 | 光记录装置 |
US06/919,421 US4841514A (en) | 1985-10-16 | 1986-10-16 | Optical recording method and apparatus using two fight spots |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60228775A JPH0777025B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 光学的記録再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6289233A JPS6289233A (ja) | 1987-04-23 |
JPH0777025B2 true JPH0777025B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=16881645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60228775A Expired - Lifetime JPH0777025B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 光学的記録再生装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0223057B1 (ja) |
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CN (1) | CN1004948B (ja) |
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KR910003039B1 (ko) * | 1987-01-26 | 1991-05-17 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 정보의 기록 재생 방법 |
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JPS5883347A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-19 | Canon Inc | 光磁気記録装置 |
GB2110406B (en) * | 1981-11-10 | 1985-10-23 | Secr Defence | Digital storage device |
JPS5968844A (ja) * | 1982-10-14 | 1984-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的可逆記録再生装置 |
JPS59172167A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的可逆記録再生装置 |
JPS60231928A (ja) * | 1984-04-27 | 1985-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学情報記録消去方法 |
US4679184A (en) * | 1984-06-08 | 1987-07-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording and reproducing apparatus having erasing beam spot with asymmetrical intensity distribution |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP60228775A patent/JPH0777025B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-10-13 EP EP86114144A patent/EP0223057B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-10-15 CN CN86107205.7A patent/CN1004948B/zh not_active Expired
- 1986-10-16 US US06/919,421 patent/US4841514A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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EP0223057B1 (en) | 1992-10-07 |
JPS6289233A (ja) | 1987-04-23 |
CN1004948B (zh) | 1989-08-02 |
US4841514A (en) | 1989-06-20 |
EP0223057A2 (en) | 1987-05-27 |
CN86107205A (zh) | 1987-05-20 |
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