JPH0762175B2 - 板厚方向の磁気特性の均一な無方向性電磁厚板の製造方法 - Google Patents

板厚方向の磁気特性の均一な無方向性電磁厚板の製造方法

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JPH0762175B2
JPH0762175B2 JP1212690A JP21269089A JPH0762175B2 JP H0762175 B2 JPH0762175 B2 JP H0762175B2 JP 1212690 A JP1212690 A JP 1212690A JP 21269089 A JP21269089 A JP 21269089A JP H0762175 B2 JPH0762175 B2 JP H0762175B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は板厚方向磁気特性が均一で、低磁場での磁束密
度の高い無方向性電磁厚板の製造方法に関するものであ
る。
(従来の技術) 近年最先端科学技術である素粒子研究や医療機器の進歩
に伴って、大型構造物に磁気を用いる装置が使われ、そ
の性能向上が求められている。直流磁化条件で使用され
る磁石用、あるいは磁場を遮蔽するのに必要な磁気シー
ルド用の材料では、低磁場での高い磁束密度が求められ
ているが、さらに構造物が巨大化するに従い使用鋼材の
磁気特性のバラツキの少ない、特に板厚方向磁気特性の
均一な鋼材が要求されるようになった。
磁束密度に優れた電磁鋼板としては、従来から薄板分野
で珪素鋼板、電磁軟鉄板をはじめとする数多くの材料が
提供されているのは公知である。しかし、構造部材とし
て使用するには組立加工及び強度上の問題があり、厚鋼
板を利用する必要が生じてくる。これまで電磁厚板とし
ては純鉄系成分で製造されている。たとえば、特開昭60
−96749号公報が公知である。
しかしながら、近年の装置の大型化、能力の向上等に伴
いさらに磁気特性の優れた、特に低磁場、たとえば80A/
mでの磁束密度の高い鋼材開発の要望が強い。前掲の特
許等で開発された鋼材では、80A/mでの低磁場の高い磁
束密度が安定して得られていない。これに加え、実用上
問題となる使用鋼材の磁気特性のバラツキ、特に板厚方
向磁気特性の均一性に関する考慮はなされていない。
(発明が解決しようとする課題) 本発明の目的は以上の点を鑑みなされたもので、板厚方
向磁気特性が均一で、低磁場での磁束密度の高い無方向
性電磁厚板の製造方向を提供することである。
(課題を解決するための手段) 本発明の要旨は次の通りである。
重量%で、 C:0.01%以下、Si:0.10%以上、3.5%以下、Mn:0.20%
以下、S:0.010%以下、Cr:0.05%以下、Mo:0.01%以
下、Cu:0.01%以下、Al:0.10%以上、3.0%以下、N:0.0
04%以下、O:0.005%以下、H:0.0002%以下、 残部実質的に鉄からなる鋼組成の鋼片または、鋳片を95
0〜1150℃に加熱し、800℃以上で圧延形状比Aが0.6以
上の圧延パスを1回以上はとる高形状比圧延を行ない、
空隙性欠陥のサイズを100μ以下とし、引き続き800℃以
下で圧下率を10〜35%とする圧延を行ない、板厚50mm以
上の厚板とし、該厚板を600〜750℃の脱水素熱処理を行
うことを特徴とする板厚方向の磁気特性の均一な無方向
性電磁厚板の製造方法。
ただし、 A :圧延形状比 hi:入側板厚(mm) ho:出側板厚(mm) R :圧延ロール半径(mm) 2)板厚50mm以上の厚板を脱水素熱処理後750〜980℃の
温度で焼鈍するかあるいは910〜1000℃の温度で焼準す
ることを特徴とする1)記載の板厚方向の磁気特性の均
一な無方向性電磁厚板の製造方法。
3)重量%で、 C:0.01%以下、Si:0.10%以上、3.5%以下、Mn:0.20%
以下、S:0.010%以下、Cr:0.05%以下、Mo:0.01%以
下、Cu:0.01%以下、Al:0.10%以上、3.0%以下、N:0.0
04%以下、O:0.005%以下、H:0.0002%以下、 残部実質的に鉄からなる鋼組成の鋼片または鋳片を950
〜1150℃に加熱し、800℃以上で圧延形状比Aが0.6以上
の圧延パスを1回以上はとる高形状比圧延を行ない、空
隙性欠陥のサイズを100μ以下とし、引続き800℃以下で
圧下率を10〜35%とする圧延を行ない、板厚50mm未満の
厚板とし、該厚板を750〜950℃で焼鈍するかあるいは91
0〜1000℃で焼準することを特徴とする板厚方向の磁気
特性の均一な無方向性電磁厚板の製造方法。
ただし、 A :圧延形状比 hi:入側板厚(mm) ho:出側板厚(mm) R :圧延ロール半径(mm) (作用) まず、低磁場での磁束密度を高くするために磁化のプロ
セスについて述べると、消磁状態の鋼を磁界の中に入
れ、磁界を強めていくと次第に磁区の向きに変化が生
じ、磁界の方向に近い磁区が優勢になり他の磁区を蚕食
併合していく。つまり、磁壁の移動が起こる。
さらに磁界が強くなり磁壁の移動が完了すると、次に磁
区全体が磁化方向に向きを変えていく。この磁化プロセ
スの中で低磁場での磁束密度を決めているのは、磁壁の
移動しやすさである。つまり低磁場で高磁束密度を得る
ためには、磁壁の移動を障害するものを極力減らすこと
であると定性的に言うことができる。この観点から従来
磁壁の移動の障害となる結晶粒の粗大化が重要な技術と
なっていた(特開昭60−96749号公報)。
発明者らは、ここにおいて低磁場で高磁束密度を得なが
ら、特に板厚方向磁気特性を均一にするためには、単に
結晶粒の粗大化をねらったのでは圧延中の歪分布、温度
分布の不均一性により不可避的に混粒となるため達成困
難であることを見い出した。
そこでこれを解決するものとして板厚方向の粒径が均一
となるやや粗い粒径(粒度No.で1〜4番)とし、その
粒径を板厚各位置でそろえる製造法を発明したものであ
る。
すなわち、比較的低温の加熱を行ない加熱γ粒を板厚方
向にそろえ、さらに800℃以下で軽圧下を加えることで
適当な粒成長をはかる。その結果巨大粒を得るのではな
く、やや粗粒な板厚方向に均一な粒径を得る。
そして、この800℃以下の軽圧下で導入された集合組織
により、磁区の方向をそろえ、低磁場での磁壁の移動を
容易とし、磁気特性を向上させる。
第1図に1.5Si−0.06Mn−1.2Al鋼での800℃以下の圧下
率と80A/mでの磁束密度及び磁束密度のバラツキを示
す。10〜35%の軽圧下により、高磁束密度と板厚方向の
磁束密度の均一性が得られる。
さらに低磁場での高磁束密度を得るための手段として、
内部応力の原因となる元素及び空隙性欠陥の作用につき
詳細な検討を行ない、所期の目的を達成した。
まず、内部応力減少のための元素の影響としては、Cの
低下が必要である。第2図に示す0.9Si−0.1Mn−2.2Al
鋼にあってC含有量の増加につれ低磁場(80A/m)での
磁束密度が低下している。
また、空隙性欠陥の影響についても種々検討した結果、
そのサイズが100μ以上のものが磁気特性を大幅に低下
することを知見したものである。そしてこの100μ以上
の有害な空隙性欠陥をなくすためには圧延形状比Aが0.
6以上であることを見出した。
ただし、 A :圧延形状比 hi:入側板厚(mm) ho:出側板厚(mm) R :圧延ロール半径(mm) さらに、鋼中の水素の存在も第3図に示すように有害
で、脱水素熱処理を行なうことによって磁気特性が大幅
に向上することを知見した。第3図に示すように、0.00
7C−0.01Si−0.1Mn鋼にあって高形状比圧延により空隙
性欠陥のサイズを100μ以下にし、かつ、脱水素熱処理
により鋼中水素を減少することで、低磁場での磁束密度
が大幅に上昇することがわかる。
成分元素に関しては、本製造法において、特にSi及びAl
添加が低磁場で高磁束密度を得るために非常に有効であ
ることを見出した。第4図及び第5図は、0.006C−0.10
Mn鋼にあって、Si量及びAl量が低磁場(80A/m)での磁
束密度に及ぼす影響を示したものである。本製造法にお
いて、Si量が0.1%〜3.5%、特に0.6〜2.5%の範囲で、
Al量が0.1〜3.0%、特に、0.9〜2.5%の範囲で高い磁束
密度を示している。
次に成分限定理由を述べる。
Cは鋼中の内部応力を高め、磁気特性、特に低磁場での
磁束密度を最も下げる元素であり、極力下げることが低
磁場での磁束密度を低下させないことに寄与する。ま
た、磁気時効の点からも低いほど経時低下が少なく、磁
気特性の良い状態で恒久的に使用できるものであり、こ
のようなことから、0.01%以下に限定する。第2図に示
すようにさらに、0.005%以下にすることにより一層高
磁束密度が得られる。
Si,Alは低磁場での磁束密度の点から添加した方が有利
な元素である。Siに関しては、第4図に示すように、0.
1〜3.5%の範囲で、さらに望ましくは、0.6〜3.0%の範
囲で添加する。Alに関しては、第5図に示すように、0.
1〜3.0%の範囲で、さらに望ましくは、0.9〜2.5%の範
囲で添加する。
Mnは低磁場での磁束密度の点から少ない方が好ましく、
Mnは0.20%以下に限定する。MnS系介在物を生成する点
よりさらに望ましくは0.10%以下がよい。
S,Oは鋼中において非金属介在物を形成し、磁壁の移動
を妨げる害を及ぼし含有量が多くなるに従って磁束密度
の低下が見られ、磁気特性を低下させるので少ない程よ
い。このため、Sは0.010%以下、Oは0.005%以下とし
た。
Cr,Mo,Cuは低磁場での磁束密度を低下させるので少ない
ほど好ましく、また偏析度合を少なくすることから極力
低くすることが必要であり、この意味からCrは0.05%以
下、Moは0.01%以下、Cuは0.01%以下とする。
Nは内部応力を高めかつAlNにより結晶粒微細化作用に
より、低磁場での磁束密度を低下させるので上限は0.00
4%とする。
Hは磁気特性を低下させ、かつ、空隙性欠陥の減少を妨
げるので0.0002%以下とする。
次に製造法について述べる。
圧延条件については、まず圧延前加熱温度を1150℃以下
にするのは、1150℃を超える加熱温度では、加熱γ粒径
の板厚方向のバラツキは大きく、このバラツキが圧延後
も残り最終的な結晶粒が不均一となるため、上限を1150
℃とする。加熱温度が950℃未満となると圧延の変形抵
抗が大きくなり、以下に述べる空隙性欠陥をなくすため
の形状比の高い圧延の圧延負荷が大きくなるため、950
℃を下限とする。
熱間圧延にあたり前述の空隙性欠陥は鋼の凝固過程で大
小はあるが、必ず発生するものでありこれをなくす手段
は圧延によらなければならないので、熱間圧延の役目は
重要である。
すなわち、800℃以上で熱間圧延1回当りの変形量を大
きくし、板厚中心部にまで変形が及ぶ熱間圧延が有効で
ある。具体的には圧延形状比Aが0.6以上の圧延パスが
1回以上を含む高形状比圧延を行ない、空隙性欠陥のサ
イズを100μ以下にすることが磁気特性によい。圧延中
にこの高形状比圧延により空隙性欠陥をなくすことで、
後で行なう脱水素熱処理における脱水素効率が飛躍的に
上昇するのである。
このように高形状比圧延を800℃以上で実施するのは、8
00℃未満では鋼の変形抵抗が増大し、圧延機への負荷が
増加するため、変形の小さい800℃以上で高形状比圧延
を実施する。
次に800℃以下の軽圧下により板厚方向に均一な粒成長
を図り、かつ、この軽圧下で導入された集合組織により
磁区の方向がそろい低磁場での磁壁の移動を容易とし、
板厚方向に均一な磁気特性の向上を図ることができる。
この軽圧下の圧下率としては、第1図に示すように低磁
場での磁束密度を高くするためには、最低800℃以下で1
0%以上の圧下率が必要であるため、10%を下限とす
る。800℃以下で35%以上の圧下率の圧下を加えると板
厚方向の磁気特性のバラツキが増大するため、35%を上
限とする。
次に熱間圧延に引き続き結晶粒粗大化、内部歪除去及び
板厚50mm以上の厚手材については脱水素熱処理を施す。
板厚50mm以上では水素の拡散がしにくく、これが空隙性
欠陥の原因となり、かつ、水素自身の作用と合わさって
低磁場での磁束密度を低下させる。
このため、脱水素熱処理を行なうが、その際600℃未満
では脱水素効率が悪く750℃超では変態が一部開始する
ので600〜750℃の温度範囲で行なう。脱水素時間として
は種々検討の結果〔0.6(t−50)+6〕時間(t:板
厚)が適当である。
焼鈍は結晶粒粗大化及び内部歪除去のために行なうが、
750℃未満では結晶粒粗大化が起こらず、また、950℃以
上では結晶粒の板厚方向の均質性が保てないため、焼鈍
温度としては750〜950℃に限定する。
焼準は板厚方向の結晶粒調整及び内部歪除去のために行
なうが、焼準温度は910〜1000℃に限定する。910℃未満
ではオーステナイト域とフェライト域の混在により結晶
粒が粗粒となり、1000℃超では結晶粒の板厚方向の均質
性が保てない。なお、磁気特性向上のためには、結晶粒
粗大化と内部歪み除去とが考えられるが、特に内部歪み
除去は必須条件である。内部歪み除去は、板厚50mm以上
の厚手材では脱水素熱処理を行うことができる。したが
って、本発明の厚手材では脱水素熱処理で、上記焼鈍あ
るいは焼準を兼ねることができる。一方、板厚50mm未満
のものは水素の拡散が容易なため、脱水素熱処理は不要
で前述の焼鈍または焼準するのみでよい。
(実 施 例) 第1表に電磁厚板の製造条件とフェライト粒径、低磁場
での磁束密度、板厚方向の磁束密度のバラツキを示す。
例1〜10は本発明の実施例を示し、例11〜32は比較例を
示す。
例1〜5は板厚100mmに仕上げたもので、高磁束密度で
板厚方向のバラツキも少ない。例1に比べ、例2はさら
に低C、例3,4は低Mn、例5は低Alであり、より高い磁
気特性を示す。例6〜8は500mm、例9は40mm、例10は6
mmに仕上げたもので、高磁束密度で板厚方向のバラツキ
も少ない。
例11はCが高く、例12はSiが低く、例13はSiが高く、例
14はMnが高く、例15はSが高く、例16はCrが高く、例17
はMoが高く、例18はCuが高く、例19はAlが低く、例20は
Alが高く、例21はNが高く、例22はOが高く、例23はH
が高く、それぞれ上限を超えるため低磁気特性値となっ
ている。例24は加熱温度が上限を超え板厚方向の磁束密
度のバラツキが大きい。例25は加熱温度が下限をはずれ
最大形状比が小さいため、低磁束密度で板厚方向のバラ
ツキも大きい。例26は800℃以下の圧下率が下限をはず
れ低磁束密度となっている。例27は800℃以下の圧下率
が上限を超えるため、板厚方向の磁束密度のバラツキが
大きい。例28は最大形状比が下限をはずれ、例29は脱水
素熱処理温度が下限をはずれ、例30は焼鈍温度が下限を
はずれ、例31は焼準温度が上限を超え、例32は脱水素熱
処理がないため低磁束密度で、板厚方向の磁束密度のバ
ラツキが大きい。
(発明の効果) 以上詳細に述べたごとく、本発明によれば適切な成分限
定により板厚の厚い厚鋼板に均質な高電磁特性を具備せ
しめることに成功し、直流磁化による磁気特性を利用す
る構造物に適用可能としたものであり、かつその製造法
も前述の成分限定と熱間圧延後結晶粒調整及び脱水素熱
処理を同時に行なう方式であり、際めて経済的に製造す
る方法を提供するもので産業上多大な効果を奏するもの
である。
【図面の簡単な説明】 第1図は80A/mにおける磁束密度及び板厚方向の磁束密
度のバラツキに及ぼす800℃以下の圧下率の影響を示す
グラフ、第2図は80A/mにおける磁束密度に及ぼすC含
有量の影響を示すグラフ、第3図は80A/mにおける磁束
密度に及ぼす空隙性欠陥のサイズ及び脱水素熱処理の影
響を示すグラフ、第4図は80A/mにおける磁束密度に及
ぼすSi量の影響を示すグラフ、第5図は80A/mにおける
磁束密度に及ぼすAl量の影響を示すグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−96749(JP,A) 特開 昭60−208417(JP,A) 特開 昭56−84104(JP,A) 特開 平2−243716(JP,A) 特開 平3−75314(JP,A)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】重量%で、 C :0.01%以下、 Si:0.10%以上、3.5%以下、 Mn:0.20%以下、 S :0.010%以下、 Cr:0.05%以下、 Mo:0.01%以下、 Cu:0.01%以下、 Al:0.10%以上、3.0%以下、 N :0.004%以下、 O :0.005%以下、 H :0.0002%以下、 残部実質的に鉄からなる鋼組成の鋼片または、鋳片を95
    0〜1150℃に加熱し、800℃以上で圧延形状比Aが0.6以
    上の圧延パスを1回以上はとる高形状比圧延を行ない、
    空隙性欠陥のサイズを100μ以下とし、引き続き800℃以
    下で圧下率を10〜35%とする圧延を行ない、板厚50mm以
    上の厚板とし、該厚板を600〜750℃の脱水素熱処理を行
    うことを特徴とする板厚方向の磁気特性の均一な無方向
    性電磁厚板の製造方法。 ただし、 A :圧延形状比 hi:入側板厚(mm) ho:出側板厚(mm) R :圧延ロール半径(mm)
  2. 【請求項2】板厚50mm以上の厚板を脱水素熱処理後750
    〜950℃の温度で焼鈍するかあるいは910〜1000℃の温度
    で焼準することを特徴とする請求項(1)記載の板厚方
    向の磁気特性の均一な無方向性電磁厚板の製造方法。
  3. 【請求項3】重量%で、 C :0.01%以下、 Si:0.10%以上、3.5%以下、 Mn:0.20%以下、 S :0.010%以下、 Cr:0.05%以下、 Mo:0.01%以下、 Cu:0.01%以下、 Al:0.10%以上、3.0%以下、 N :0.004%以下、 O :0.005%以下、 H :0.0002%以下、 残部実質的に鉄からなる鋼組成の鋼片または鋳片を950
    〜1150℃に加熱し、800℃以上で圧延形状比Aが0.6以上
    の圧延パスを1回以上はとる高形状比圧延を行ない、空
    隙性欠陥のサイズを100μ以下とし、引続き800℃以下で
    圧下率を10〜35%とする圧延を行ない、板厚50mm未満の
    厚板とし、該厚板を750〜950℃で焼鈍するかあるいは91
    0〜1000℃で焼準することを特徴とする板厚方向の磁気
    特性の均一な無方向性電磁厚板の製造方法。 ただし、 A :圧延形状比 hi:入側板厚(mm) ho:出側板厚(mm) R :圧延ロール半径(mm)
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