JPH0745958Y2 - 半導体材料の水切乾燥装置 - Google Patents

半導体材料の水切乾燥装置

Info

Publication number
JPH0745958Y2
JPH0745958Y2 JP1987069835U JP6983587U JPH0745958Y2 JP H0745958 Y2 JPH0745958 Y2 JP H0745958Y2 JP 1987069835 U JP1987069835 U JP 1987069835U JP 6983587 U JP6983587 U JP 6983587U JP H0745958 Y2 JPH0745958 Y2 JP H0745958Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotor
substrate
curved plates
upper ring
curved
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1987069835U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63178321U (ja
Inventor
征一郎 相合
Original Assignee
黒谷 信子
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 黒谷 信子 filed Critical 黒谷 信子
Priority to JP1987069835U priority Critical patent/JPH0745958Y2/ja
Priority to US07/192,573 priority patent/US4848006A/en
Priority to KR1019880005448A priority patent/KR880014338A/ko
Publication of JPS63178321U publication Critical patent/JPS63178321U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0745958Y2 publication Critical patent/JPH0745958Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/67034Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F26DRYING
    • F26BDRYING SOLID MATERIALS OR OBJECTS BY REMOVING LIQUID THEREFROM
    • F26B5/00Drying solid materials or objects by processes not involving the application of heat
    • F26B5/08Drying solid materials or objects by processes not involving the application of heat by centrifugal treatment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Centrifugal Separators (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は半導体材料(ウェハ)に付着した水分を遠心力
によって除去し且つ乾燥するための水切乾燥装置に関す
る。
(従来の技術) この種の水切乾燥装置はケーシングとその内で回転され
る単一のロータからなり、該ロータの円板からなる基板
上には通常4つのエアガイドとしての役割を果すわん曲
板が互いに離れて固定され、乾燥すべきウェハはキャリ
ヤ内に収められた状態でクレイドル内にセットされてわ
ん曲板間の所定位置に設置される。該4つのわん曲板は
ロータの基板とその上に離れて平行且つ同心に設けられ
前記基板と外径がほぼ同径の単一の上部リングとの間に
固定され、及びそれぞれわん曲部がロータの中心側に位
置するように配置され且つわん曲板間の空間で気流を案
内する。なお、ここで云う「キヤリヤ」とは1ロット
(約30〜50枚)のウェハを収めるウェハ収納ケースを意
味し、且つ「クレイドル」とは多くの場合ロータに備え
られて該キャリヤをロータ上の所定位置に設置するため
に用いられるかご又はほぼ直方体状の枠組等の流体透過
性のケースを意味する。ロータ上方のケーシングの位置
には吸気口のある蓋が備えられ且つケーシング周壁の適
宜位置には排気口が設けられ、ロータの回転立上りの際
の加速時の遠心力によりウェハに付着していた水分の大
部分はケーシング周壁に飛ばされ、定速に達した後は吸
気口からロータの中心区域を通って外周に流れる空気流
によって乾燥される。
(考案が解決しようとする問題点) 通常、ロータは約1200-1400rpmで回転されるが、従来の
装置ではロータはスチール製であり、そのため直径が約
600mmのロータでは約22Kgの重量となり、始動時、上記
定速に達するまの加速時間は約20秒を要した。ウェハに
付着する水分が極小量になると、遠心力より水分の付着
力や表面張力の方が強くなり、20秒の立上り時間ではウ
ェハに水分が残り、ウォーターマークを発生させる。ウ
ォーターマークが生じると自然酸化を起し、耐酸特性の
悪化をもたらし、その結果、歩留りを低下して生産コス
トの上昇を招くという問題点があった。
本考案の目的は上記問題点を解消することであって、そ
れ故、回転立上り特性を向上することにより水切りを完
全にし、ウォーターマークの発生を防止し得る水切乾燥
装置を提供することである。
(問題点を解決するための手段) 本考案を特徴づける構成はロータを軽量にするため少な
くともロータの基板をアルミ製とし、且つロータ上の4
つのわん曲板で囲まれた各区域に、ロータ基板の外周付
近とその上の上部リングの間に交差して一対の補強棒を
設け且つ上端が上部リングに、下端がロータ基板に取付
けられた少なくも一本の半径方向の補強棒を設け、高速
回転に耐え得るようにしたことである。
(前記手段の作用) このロータはアルミ製であるため軽量であり、且つ各わ
ん曲板の区域に設けられた補強棒によって円周方向およ
び半径方向の力に対し充分耐え得る。そのため高速回転
が可能であると共に、急速な加速を可能とし、立上り時
間を短縮し、例えば従来20秒のものを7秒とした。従っ
て、定速までの立上り時にウェハに付着する水分は好適
に除去され、ウォーターマークを生じさせない。
(実施例) 次に図面を参照のもとに本考案の実施例を説明する。第
2図はこの水切乾燥装置全体の構造を示すものであっ
て、(1)は回転ロータであり、(2)はそれを包囲す
るケーシングであって、ロータの上方には開閉可能な蓋
(3)が設置される。これらの部材は外装用のケース
(4)内に収められる。蓋(3)の中央にはフィルター
が張られた吸気口(5)が設けられる。ケーシング
(2)の周壁の適当な位置には排気口(6)が備えられ
る。図には省略されているが、ロータ(1)の基板(1
0)の中心部は主軸に接続され、該主軸はモータによっ
て駆動される。
本考案による水切乾燥装置の特徴はロータ(1)を軽量
にするため少なくともそのベースとなるロータ基板(1
0)をアルミ製とし、且つロータ基板の外周付近と該ロ
ータの上部を構成する上部リング(11)との間に補強棒
を設けたことである。
このロータ(1)には第3図に明瞭に示すように、等間
隔に4つのわん曲板(12)が設置され、且つ図示のよう
に各補強棒はそれぞれわん曲板(12)の内側に設置され
る。各わん曲板は折り曲げられた平板で構成され、ウェ
ハキャリヤを収納するクレイドル(20)はそれぞれわん
曲板(12)の間に装着される。なお、好ましくは、ロー
タの各わん曲板(12)で囲まれた区域には第1図に見ら
れるように孔(13)が形成され、孔(13)を通して気流
の下降を促進するようになっている。第1図中の(14)
はクレイドル(20)およびその内のキャリヤ(図示せ
ず)を抑える保持棒である。
前記補強棒は各わん曲板(12)の内側に設けられるため
4組からなり、各組の補強棒は第4図に明瞭に示すよう
に、ロータ基板(10)の外周部とその上の上部リング
(11)との間に互いに交差して設けられた一対の補強棒
(16)、(17)と、上端が上部リング(11)に下端がロ
ータ基板(10)に取り付けられた少なくとも一本の概し
て半径方向の補強棒(18)からなる。この補強棒(18)
は場合によっては複数本であってもよく、従って各組の
補強棒は少なくも3本からなる。
各わん曲板(12)は軽量化のためアルミ製であるのが好
ましいが、各補強棒は強度の点でステンレスの棒からな
るのが好ましく、その場合、第5図に示すように、各補
強棒の両端にねじが形成され、ロータ基板(10)および
上部リング(11)に固定されるナット(19a)、(19b)
によって固定される。
従って、ロータ(1)の円周方向の荷重に対しては補強
棒(16)、(17)が対抗し、半径方向の荷重に対しては
補強棒(18)が対抗する。
作動時、始動の際のロータ(1)の加速時にウェハに付
着する水分は周囲に飛ばされて水切りが行なわれ、且つ
ロータ(1)の回転により吸気口(5)からロータ
(1)内に空気が吸引され、ロータのわん曲板(12)で
案内されてクレイドル(20)を通って半径方向外方に流
れ、ケーシング(2)の周壁に沿って排気口(6)から
流出する。このような空気流によってウェハが乾燥され
る。
(考案の効果) 上記のように、本考案による装置では、ロータが軽量で
あるため極めて高加速度でロータを加速することがで
き、例えば、従来20秒を要したものが約7秒程度にな
り、且つロータ周囲の補強棒によってそのような高加速
度に充分耐え得るものにしている。そのため、始動時に
ウェハに付着している水分の全てを遠心力で周囲に飛ば
して除去することができるので、ウォーターマークの発
生を防止することができる。従って、自然酸化の問題も
なく、品質の向上が達成される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の水切乾燥装置のロータの一例を示す斜
視図、第2図は水切乾燥装置の全体を示す斜視図、第3
図は本考案で用いられるロータの一例の平面図、第4図
はそのロータの一部の斜視図、そして第5図はロータの
細部の拡大図である。 図中、1:ロータ、10:ロータ基板、11:上部リング、12:
わん曲板、16、17、18:補強棒

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ケーシング内で回転される単一のロータを
    備え、該ロータは円板からなる基板上に互いに離れて立
    設され且つ前記基板とその上に離れて平行且つ同心に設
    けられ前記基板と外径がほぼ同径の単一の上部リングと
    の間に固定された4つのわん曲板を含み、各前記わん曲
    板はそれぞれわん曲部が前記ロータの中心側に位置する
    ように配置され且つ前記わん曲板間の空間で気流を案内
    するエアガイドとしての役割を果し、半導体材料を収め
    たキャリヤは前記わん曲板間に装着されるクレイドル内
    に収められて前記わん曲板間の所定位置に設置されるよ
    うになっている水切乾燥装置において、前記ロータを軽
    量にするため少なくも前記ロータの基板はアルミ製のも
    のであり、前記ロータの各前記わん曲板で囲まれた4つ
    の区域にはそれぞれ少なくも3本の補強棒が設けられ、
    各前記区域の前記少なくも3本の補強棒のうちの1対の
    ものは前記ロータの基板の外周付近と前記上部リングと
    の間に互いに交差して設けられ且つ他の少なくも1つは
    傾斜して概して半径方向に配置されるように上端が前記
    上部リングに且つ下端が前記ロータの基板に取付けられ
    ていることを特徴とする半導体材料の水切乾燥装置。
JP1987069835U 1987-05-11 1987-05-11 半導体材料の水切乾燥装置 Expired - Lifetime JPH0745958Y2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987069835U JPH0745958Y2 (ja) 1987-05-11 1987-05-11 半導体材料の水切乾燥装置
US07/192,573 US4848006A (en) 1987-05-11 1988-05-11 Spin drier for semiconductor materials
KR1019880005448A KR880014338A (ko) 1987-05-11 1988-05-11 반도체 재료의 수분건조장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987069835U JPH0745958Y2 (ja) 1987-05-11 1987-05-11 半導体材料の水切乾燥装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63178321U JPS63178321U (ja) 1988-11-18
JPH0745958Y2 true JPH0745958Y2 (ja) 1995-10-18

Family

ID=13414245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1987069835U Expired - Lifetime JPH0745958Y2 (ja) 1987-05-11 1987-05-11 半導体材料の水切乾燥装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4848006A (ja)
JP (1) JPH0745958Y2 (ja)
KR (1) KR880014338A (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH069501Y2 (ja) * 1988-09-27 1994-03-09 大日本スクリーン製造株式会社 基板の回転乾燥装置
KR950007111Y1 (ko) * 1992-08-31 1995-08-28 김주용 반도체 웨이퍼 건조장치
ITUD20080143A1 (it) * 2008-06-19 2009-12-20 Colussi Ermes S R L Macchina centrifuga
CN102226641A (zh) * 2011-04-29 2011-10-26 无锡市奥曼特科技有限公司 新型的硅片甩干机内筒结构

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5295167A (en) * 1976-02-06 1977-08-10 Hitachi Ltd Wafer dryer
JPS55154736A (en) * 1979-05-23 1980-12-02 Sigma Gijutsu Kogyo Kk Centrifugal drier
JPS6158238A (ja) * 1984-08-29 1986-03-25 Toshiba Corp ウエハ回転洗浄装置
US4777732A (en) * 1986-06-12 1988-10-18 Oki Electric Industry Co., Ltd. Wafer centrifugal drying apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR880014338A (ko) 1988-12-23
JPS63178321U (ja) 1988-11-18
US4848006A (en) 1989-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4637146A (en) Spin dryer
US4677758A (en) Spin drier for semiconductor material
KR960000951B1 (ko) 웨이퍼의 원심건조방법 및 장치
JPH0745958Y2 (ja) 半導体材料の水切乾燥装置
US4525938A (en) Spin drier for semiconductor material
JPS6221003Y2 (ja)
US4735000A (en) Apparatus for drying substrates
JPH0388331A (ja) スピンドライヤのフィルターボックス
JPS645882Y2 (ja)
JPH0514508Y2 (ja)
JPH069496Y2 (ja) 遠心乾燥機
JPS63265430A (ja) 半導体材料の水切乾燥装置
JPS6233316Y2 (ja)
JPH05146719A (ja) イナーシアスラブにより支持された回転機械
JPS63268247A (ja) 半導体材料の水切乾燥装置
JPS6253942B2 (ja)
JPS5818927A (ja) 水切乾燥装置
JPH0322910Y2 (ja)
JP2894086B2 (ja) 遠心乾燥装置
CN219433733U (zh) 一种茶叶烘干机用放置结构
JPH0143862Y2 (ja)
JPH0322909Y2 (ja)
JPS63136633A (ja) スピンドライ装置
JPH046206Y2 (ja)
JPS6043835A (ja) 遠心脱水乾燥装置