JPS6233316Y2 - - Google Patents

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JPS6233316Y2
JPS6233316Y2 JP13477583U JP13477583U JPS6233316Y2 JP S6233316 Y2 JPS6233316 Y2 JP S6233316Y2 JP 13477583 U JP13477583 U JP 13477583U JP 13477583 U JP13477583 U JP 13477583U JP S6233316 Y2 JPS6233316 Y2 JP S6233316Y2
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JP
Japan
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rotor
casing
drying device
blades
semiconductor material
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JP13477583U
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JPS6042732U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体シリコンウエハやガラスフオト
マスクなどの半導体材料の表面に付着した水滴を
遠心力によつて除去し且つ乾燥する水切乾燥装置
の改良に関する。
この装置は水洗された半導体材料を水切乾燥す
るのに用いられ、回転駆動されるロータと、それ
を包囲するケーシングから構成され、ロータの基
板上には半導体材料が収められるかご状のキヤリ
ヤを支持する支持部、即ちキヤリヤホルダーが備
えられている。ケーシング上には中心に吸気口を
備えた蓋が設置され、且つケーシング周壁には排
気口が在る。そしてロータの回転による遠心力に
よつて、キヤリヤ内の半導体材料に付着していた
水滴は周壁に向つて飛ばされ、且つロータの中心
区域は負圧になるので蓋の吸気口を通して空気ま
たは窒素ガスなどの乾燥用の気体が導入され、そ
の気体はケーシング内を円周方向に流れて排気口
から流出し、この気体の流れによつて半導体材料
が乾燥される。
そのためケーシングの周壁には水滴が付着し、
それと共にごみや汚れも付着する。しかるに、こ
の種の装置ではロータに吸引され且つケーシング
内を流れる気体は全て円周方向に流れるとは限ら
ず、ケーシング底板から上方にはね返る流れや周
壁からはね返り且つ上昇して半径方向内側に流れ
る対流もあり、そのような流れがケーシングの底
板や周壁上の水分や汚れを再び半導体材料に持返
り、それが乾燥効率を下げ且つ洗浄効果を阻害す
る欠点があつた。
本考案の目的は上記従来技術の欠点を解消する
ことであつて、それ故乾燥効果を高め且つ汚れの
持返りを防止し得る水切乾燥装置を提供すること
である。
本考案による水切乾燥装置の特徴はそのロータ
の基板の下面に複数枚の羽根がバランスよく備え
られると共にそれらの羽根はロータ基板の部分を
一辺を残して切断し且つ折曲げることによつて形
成され、それによつて気体の流れを促進し且つケ
ーシング底板からの空気流のはね返りを防止する
と共に排水を積極的に行なうようにしたことであ
る。
次に図面を参照のもとに本考案の実施例に関し
説明する。第1図ないし第3図に示すように、こ
の水切乾燥装置は回転ロータ1と、ケーシング
2、ケーシング上方の蓋3からなり、これらの部
材は外装用のケース4内に収められる。5はキヤ
リヤを支持する支持部である。被処理物たる半導
体材料はキヤリヤに収められた上、ロータ1の基
板10上の支持部5に支持される。蓋3の中央に
は吸気口7が在り、そこにメツシユが張られる。
ケーシング2の周壁2aの適当な位置には排気口
8が設けられ、ロータ1の回転により吸気口7か
ら導入された気体はケーシング2内にめぐつて、
排気口8を通り排気ダクト8′から流出する。な
お、第2図に示すように、ロータ1の中心は主軸
9に接続され、主軸9はモータ等によつて回転さ
れるように構成されている。3aはシール材であ
り、3bは蓋の下面に取付けられた吸入される気
体のガイドである。
本考案の特徴は、第2図および第4図に示すよ
うに、ロータ1の基板10の下面に複数枚の羽根
11を備えると共に各羽根11の位置の基板の部
分に貫通孔12を設けたことであつて、そのため
各羽根11は基板10の部分を一辺を残して切断
し且つ下方に折曲げることによつて形成される。
羽根11および貫通孔12を形成するためのロー
タの基板10の部分の切断線は適当な形状であつ
てよく、例えば第5図に示すように、コ字形の切
断線11aであつてもよく、残りの一辺、即ちコ
字形の切断線の先端の間を結ぶ線11bで下方に
折曲げることによつて羽根11が形成される。ま
た、切断線は第7図に示すように、円弧状の切断
線11a′でもよく、この場合、両端を結ぶ線11
b′で下方に折曲げられる。
第6図から明らかなように、各羽根11はロー
タ1の回転方向aに関し貫通孔12の後縁に設け
られ、且つ好ましくは図示のように、ロータの回
転方向に対する角θが鈍角になるように下方に
突出している。
これらの羽根11は動的バランスを保つように
設けられ、好ましくは等しい角度間隔でまたはロ
ータの主軸9を中心に点対称に配置される。ま
た、各羽根11の長手方向の線Cはロータの直径
上の線Dに一致してもよいが、第8図に示すよう
に、ロータ1の回転方向に対し羽根の長手方向の
線Cが適当な角度θだけ直径上の線Dより後方
に傾斜しているのが好ましい。なお、第4図では
ロータの下面に4枚の羽根10が取付けられてい
るが、第8図に示すように主軸を中心に等間隔に
3枚または他の数枚が取付けられていてもよい。
好ましくは、第2図に明瞭に示すように、ケー
シング2の底板2bとロータの基板10との間に
案内羽根13が置かれ、これにより底板2bに下
降する空気流を案内すると共に、底板上から上方
への空気流のはね返りを防止するようになつてい
る。このような案内羽根13が在る場合、ロータ
下面の羽根11の高さtは案内羽根13を考慮し
て決められる。
なお、第2図および第3図に示すように、ロー
タ1とケーシングの周壁との間隔はロータの回転
方向に沿つて排気口8に向つて除々に大きくする
のが好ましく、且つ水はけを良くするためケーシ
ングの底板2bも排気口8に向つて除々に下降す
るようにするのが好ましい。
この装置により半導体材料の水切乾燥を行なう
際は、半導体材料をキヤリヤ内に収めた状態で前
記キヤリヤをロータの支持部5にセツトし、蓋3
を閉じて、ロータ1を回転する。ロータの回転に
より、各半導体材料も共に回転され、そこに付着
していた水滴は遠心力によつて周囲に飛ばされ、
水切りが行なわれる。同時にロータ1の中心区域
は負圧となり、吸気口7から新鮮な空気または窒
素ガスなどの気体が流入し、気体の大部分は半導
体材料の間を通つて半径方向外方に流れ、且つケ
ーシング2の周壁2aに沿つて円周方向に流れ、
排気口8から排出される。従つて、このような気
体の流れによつて半導体材料は乾燥される。
この装置ではロータ1の基板10に貫通孔12
が在ると共にその下面に羽根11が取付けられて
いるため、それによつてロータの下の気体を強制
的に移動し且つロータ1内に導入された気体の一
部をロータの基板10に形成された貫通孔12を
通して下降し、それによつてロータ1の下側の流
れを促進する。従つてロータ1の下の案内羽根1
3に停滞している水滴や気体を効果的に下降して
ケーシングの底板2bに向つて移動し排気口8へ
の気体の流れを促進する。このような気体の流れ
によつて案内羽根13や底板2b上に付着してい
た水滴14を排気口8に向つて積極的に移動し、
従つて水はけを良好にする。さらに、ロータの下
面においても強制的に円周方向下方への流れを生
じるためケーシング周壁2aに沿つて上昇する対
流を防止する役割を果し、ケーシングの底板や周
壁に付着した水分や汚れをロータ上の半導体材料
に持ち返ることが極めて少なくなる。
従つて、本考案によれば、ロータ上方の吸気口
から排気口への気体の流れを促進し、ケーシング
の底板やその上の案内羽根上に付着した水滴の水
はけを良好にし且つケーシング内の対流を阻止す
るため、ケーシングの底板や周壁の汚れや水分が
半導体材料にはね返ることが防止され、半導体材
料の乾燥効率を一層向上することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一例による水切乾燥装置を部
分的に切欠いた斜視図、第2図はその概略断面
図、第3図はその内部を示す平面図、第4図は第
2図の線A−A断面図、第5図はロータの基板の
一部を示す平面図、第6図は第5図の線B−Bに
沿つて取つた断面図、第7図は他の実施例を示す
第5図に類似の断面図、第8図は他の実施例を示
す第4図に類似の断面図、第9図は作動時のロー
タ下部の状態を示す一部の拡大断面図である。 図中、1……ロ タ、2……ケーシング、2a
……ケーシングの周壁、2b……ケーシングの底
板、5……支持部、7……吸気口、8……排気ダ
クト、10……ロータの基板、11……ロータ下
面の羽根、12……ロータの貫通口、13……案
内羽根。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) シリコンウエハ等の半導体材料を収めたキヤ
    リヤの支持部を備え且つケーシング内に設置さ
    れたロータを含み、前記ロータ上方の吸気口か
    ら導入され且つ前記ロータを通過して前記ケー
    シング周壁に在る排気ダクトを通して排出され
    る気体によつて前記ロータ上にセツトされた半
    導体材料が乾燥されるようになつている水切乾
    燥装置において、前記ロータの基板の下面には
    バランスよく複数枚の羽根が備えられ、各前記
    羽根は前記基板の部分を一辺を残して切断し且
    つ折曲げることによつて形成されていることを
    特徴とする水切乾燥装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の水切
    乾燥装置において、前記羽根は前記ロータの回
    転方向に対し鈍角に下方に突出している水切乾
    燥装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第1項記載の水切乾
    燥装置において、前記羽根は等しい角度間隔で
    設けられている水切乾燥装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の水切
    乾燥装置において、前記羽根は前記ロータの中
    心に関し点対称に設けられている水切乾燥装
    置。
JP13477583U 1983-08-31 1983-08-31 半導体材料の水切乾燥装置 Granted JPS6042732U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13477583U JPS6042732U (ja) 1983-08-31 1983-08-31 半導体材料の水切乾燥装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13477583U JPS6042732U (ja) 1983-08-31 1983-08-31 半導体材料の水切乾燥装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6042732U JPS6042732U (ja) 1985-03-26
JPS6233316Y2 true JPS6233316Y2 (ja) 1987-08-26

Family

ID=30303580

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13477583U Granted JPS6042732U (ja) 1983-08-31 1983-08-31 半導体材料の水切乾燥装置

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JP (1) JPS6042732U (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007085630A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Kida Seiko Kk 表面処理済みワークの乾燥装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6042732U (ja) 1985-03-26

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