JPH07322141A - X線診断装置 - Google Patents

X線診断装置

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JPH07322141A
JPH07322141A JP6116763A JP11676394A JPH07322141A JP H07322141 A JPH07322141 A JP H07322141A JP 6116763 A JP6116763 A JP 6116763A JP 11676394 A JP11676394 A JP 11676394A JP H07322141 A JPH07322141 A JP H07322141A
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雅行 西木
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明の目的は高フレームレートモードと高精
細モードとの選択的動作を簡易に実現するX線診断装置
を提供することである。 【構成】本発明はX線を被検体に曝射するX線管と、被
検体を透過したX線透過像を光学像に変換する変換手段
と、光を電荷信号に変換する撮像素子をマトリクス状に
配列し、上記光学像を撮像する2次元検出器と、撮影モ
ード時には1撮像素子づつ信号電荷を順次読み出して出
力し、透視モード時には複数の撮像素子の信号電荷を同
時に読み出して加算して出力する手段とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線管から曝射され、
被検体を透過したX線を光学像に変換し、この光学像を
2次元検出器で撮像するX線診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この2次元検出器は、蛍光板の背面に密
着させればよく、従前のイメージインテンシファイアと
撮像管との組み合わせに比較して小型、長寿命、画像周
辺部での歪みが少ない等様々な特長を有している。この
ため、医用画像診断の分野でも診断能を向上させるもの
として当初より期待され、近い将来、実用化が見込まれ
ている。
【0003】ところで多くのX線診断装置は透視モード
と撮影モードで選択的に動作するようになっている。透
視モードではパルスX線が繰り返し被検体に照射され、
それに同期して撮像動作が繰り返され、透視対象の態動
を動画像でとらえることができる。撮影モードでは透視
モードより高線量のパルスX線が被検体に照射され、そ
れに同期して撮像動作が行われ、撮影対象の静止画像
(スチル画像)を高再現性でもってとらえることができ
る。
【0004】したがって、透視モードでは、空間分解能
よりも時間分解能が重要で、例えば毎秒あたり30フレ
ームの高フレームレートが要求される。また、撮影モー
ドでは、時間分解能よりも空間分解能が重要で、例えば
2000×2000画素の高精細が要求される。このような両モ
ードに共に対応できる2次元検出器がなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した事情
に対処すべくなされたもので、その目的は、簡易な構成
で撮影モード(高フレームレートモード)と透視モード
(高精細モード)とを選択できるX線診断装置を提供す
ることである。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、X線
を被検体に曝射するX線管と、被検体を透過したX線透
過像を光学像に変換する変換手段と、光を電荷信号に変
換する撮像素子をマトリクス状に配列し、上記光学像を
撮像する2次元検出器と、撮影モード時には1撮像素子
づつ信号電荷を順次読み出して出力し、透視モード時に
は複数の撮像素子の信号電荷を同時に読み出して加算し
て出力する手段とを具備する。
【0007】請求項2の発明は、X線管からばく射さ
れ、被検体を透過したX線を光学像に変換し、上記光学
像を2次元検出器で撮像するX線診断装置において、上
記2次元検出器は、マトリクス状に配列された複数の撮
像素子と、上記複数の撮像素子の各信号電荷をアドレス
選択により読み出すアドレス選択手段とからなり、上記
アドレス選択手段は、複数のアドレス線を連続的に選択
する多段のシフトレジスタと、上記シフトレジスタが選
択するアドレス線に隣り合う複数のアドレス線を連続的
に選択する多段の他のシフトレジスタとがスイッチを介
して直列に接続され、入力手段を介して高精細モードが
選択された場合、上記スイッチをオンし、上記シフトレ
ジスタの動作終了に従動して上記他のシフトレジスタを
起動させることにより各撮像素子の信号電荷を個々に読
み出させ、上記入力手段を介して高フレームレートモー
ドが選択された場合、上記スイッチをオフし、上記シフ
トレジスタと上記他のシフトレジスタとを同時に起動さ
せることにより隣り合う撮像素子の信号電荷を同時に読
み出させる制御手段とを備える。
【0008】請求項3の発明は、X線管からばく射さ
れ、被検体を透過したX線を光学像に変換し、上記光学
像を2次元検出器で撮像するX線診断装置において、上
記2次元検出器は、複数の垂直線と、上記複数の垂直線
と交差する複数の水平線と、上記複数の垂直線と上記複
数の水平線との交点に配置された複数の撮像素子と、上
記複数の垂直線を選択する水平走査回路と、上記複数の
水平線を選択する垂直走査回路と、上記複数の垂直線各
々に接続され、上記水平走査回路と上記垂直走査回路で
特定された撮像素子の信号電荷を一時保管する複数のバ
ッファ手段と、上記信号電荷を外部に出力するための出
力線と上記複数のバッファ手段との接続を切換えるマル
チプレクサ手段と、高精細モードと高フレームレートモ
ードとの一方を選択するための入力手段と、上記入力手
段を介して高精細モードが選択された場合、上記複数の
バッファ手段各々を上記出力線に順番に接続させるよう
にマルチプレクサ手段を制御することにより各撮像素子
の信号電荷を個々に読み出させ、上記入力手段を介して
高フレームレートモードが選択された場合、隣り合う複
数本の垂直線に接続された複数のバッファ手段を同時に
上記出力線に接続させるように上記マルチプレクサ手段
を制御することにより同じ水平線であって隣り合う複数
本の垂直線に接続された複数の撮像素子の信号電荷を上
記出力線に同時に読み出させる制御手段とを具備する。
【0009】
【作用】請求項1の発明によれば、撮影モードでは、各
信号電荷が個々に読み出され出力されるので、高精細の
画像が得られ、また透視モードでは複数の信号電荷が同
時に読み出され加算されて出力されるので、高フレーム
レートが実現できる。
【0010】請求項2の発明によれば、高精細モードで
は、各信号電荷が個々に読み出され、高精細の画像が得
られる。このとき、シフトレジスタと他のシフトレジス
タがスイッチを介して直列に結ばれ、シフトレジスタの
動作終了に従動して他のシフトレジスタが起動するの
で、制御手段でシフトレジスタと他のシフトレジスタと
の各々の起動タイミングを個別に制御する必要がなくな
り、制御の複雑さが解消され、またタイミングのずれが
一掃される。高フレームレートモードでは、シフトレジ
スタと他のシフトレジスタを同時に起動させればよい。
【0011】請求項3の発明によれば、高精細モードで
は、各信号電荷が個々に読み出され、高精細の画像が得
られる。高フレームレートモードでは、水平方向に隣り
合う複数の信号電荷を加算して読み出すので、フレーム
レートは、各信号電荷を個々に読み出す場合の原理的に
整数倍になる。
【0012】
【実施例】以下図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。図1は第1実施例に係るX線診断装置の中の2次
元検出器の回路図であり、4×4画素マトリクスで示し
ている。図2は図1の垂直走査回路の構成図であり、8
×8画素マトリクスに対応して示している。
【0013】X線診断装置は次のように構成されてい
る。X線を曝射するX線管と蛍光体薄板やシンチレータ
とが被検体を介して対向して配置される。被検体を透過
したX線の像は蛍光体薄板やシンチレータ等で一旦、光
の像(光学像)に変換される。この光学像は、光学レン
ズ系を介して2次元検出器の撮像面に結像される。2次
元検出器は例えば、30cm×30cmの撮像面を有する。2次
元検出器が蛍光体薄板やシンチレータの背面(光出力
面)に密着して配置されているときは、光学レンズ系が
不要で、蛍光体薄板やシンチレータからの光学像が2次
元検出器にダイレクトに送られる。2次元検出器は光学
像を撮像し、電気信号として、表示や記憶を行う出力装
置に出力する。蛍光体薄膜やシンチレータからの光学像
を増幅するマイクロチャネルプレートや平行平板型イメ
ージインテンシファイヤを介して2次元検出器に光学像
を導いてもよい。
【0014】図1に示すように、この2次元検出器はア
ドレス選択読み出し方式が採用され、複数のアドレス線
が格子状に配線されている。つまり、複数本(ここでは
4本)の垂直線VLと、複数本(ここでは4本)の水平
線HLとが交差して配線されていて、ある垂直線VLと
ある水平線HLとを選択することにより任意の撮像素子
の信号電荷を読み出すことができる。垂直線VLと水平
線HLとの各交点にはそれぞれ撮像素子が1つずつ配置
される。この撮像素子アレイは、アモルファスシリコン
または多結晶シリコンの薄膜上に形成される。各撮像素
子は、フォトダイオードPDと、フォトダイオードPD
の信号電荷を蓄積するコンデンサCと、垂直ゲートとか
らなる。同じ列のコンデンサCはそれぞれの垂直ゲート
を介して同じ垂直線VLに接続される。垂直ゲートは、
具体的にはMOS形の薄膜トランジスタ(以下単にトラ
ンジスタという)TRである。各垂直線VLはそれぞれ
の水平ゲートを介して1本の出力線OUTLに接続され
る。水平ゲートは、具体的にはMOS形の薄膜トランジ
スタ(以下単にトランジスタという)TSである。
【0015】垂直走査回路VSCは、1水平周期毎に変
化する電圧を水平線HLを介して、各行のトランジスタ
TRに印加する。つまり、垂直走査回路VSCは、トラ
ンジスタTRの開閉を行単位で制御する。水平走査回路
HSCは、1水平周期中に各列のトランジスタTR(水
平ゲート)に順番に電圧を印加する。これにより垂直走
査回路VSCにより電圧を印加された行と、水平走査回
路HSCにより電圧を印加された列とに特定される撮像
素子に蓄積された信号電荷が順番に出力線OUTLを介
して外部に出力される。
【0016】垂直走査回路VSCは図2に示すように、
多段の第1のシフトレジスタSFT1と、多段の第2の
シフトレジスタSFT2とがスイッチ1を介して直列に
接続される。第1のシフトレジスタSFT1は、奇数行
の水平線HLを順番に駆動する。第2のシフトレジスタ
SFT2は、偶数行の水平線HLを順番に駆動する。第
1のシフトレジスタSFT1は、図示しないクロック発
振回路から水平同期信号に同期して奇数行の水平線HL
1,HL3,HL5,HL7に電圧(ゲート電圧)を印
加し、これにより奇数行の水平線HL1,HL3,HL
5,HL7に接続されているトランジスタTRを順番に
オンする。第2のシフトレジスタSFT2は、同じ水平
同期信号にしたがって、偶数行の水平線HL2,HL
4,HL6,HL8に電圧(ゲート電圧)を順番に印加
し、これにより偶数行の水平線HL2,HL4,HL
6,HL8に接続されているトランジスタTRを順番に
オンする。第1のシフトレジスタSFT1と、第2のシ
フトレジスタSFT2とは、スタートパルスを受けて起
動する。
【0017】第1のシフトレジスタSFT1には、コン
トローラ2からスタートパルスが供給される。第2のシ
フトレジスタSFT2には、動作モードの選択に従動す
るスイッチ1の接続切換えに応じて、コントローラ2と
第1のシフトレジスタSFT1とのいずれか一方から選
択的にスタートパルスが供給される。第1のシフトレジ
スタSFT1からは、最後に駆動される水平線HL7の
電圧変化が第2のシフトレジスタSFT2にスタートパ
ルスとして供給される。スイッチ1の切換えはコントロ
ーラ2により制御される。コントローラ2には透視モー
ド(高フレームレートモード)と撮影モード(高精細モ
ード)とを操作者が切換えるためのモード切換操作部3
が接続される。コントローラ2は、撮影モードが選択さ
れたとき、スイッチ1を第1のシフトレジスタSFT1
側(A側)に接続し、第1のシフトレジスタSFT1と
第2のシフトレジスタSFT2とを直列で動作させる。
このときコントローラ2からのスタートパルスは第1の
シフトレジスタSFT1だけに供給され、第2のシフト
レジスタSFT2には供給されない。コントローラ2
は、透視モードが選択されたとき、スイッチ1をコント
ローラ2側(B側)に接続し、第1のシフトレジスタS
FT1と第2のシフトレジスタSFT2とを同時に並列
で動作させる。このために、第1のシフトレジスタSF
T1と第2のシフトレジスタSFT2とに同時に垂直同
期信号をスタートパルスとして供給する。
【0018】透視モードのもとでは、コントローラ2か
らスタートパルスが垂直同期信号に同期して、第1のシ
フトレジスタSFT1と第2のシフトレジスタSFT2
とに同時に供給され、第1のシフトレジスタSFT1と
第2のシフトレジスタSFT2とは同時に水平線選択動
作を開始する。これにより、同じ列であって、隣り合う
行の2つの撮像素子の信号電荷が同時に当該垂直線VL
に読み出されアナログ加算(垂直加算)される。
【0019】撮影モードのもとでは、コントローラ2か
らのスタートパルスは第2のシフトレジスタSFT2に
は供給されない。第1のシフトレジスタSFT1で最後
に駆動される水平線HL7の電圧変化が、スイッチ1を
介して第2のシフトレジスタSFT2にスタートパルス
として伝えられる。これにより、第1のシフトレジスタ
SFT1の全段の水平線選択動作が終了した後、連続的
に第2のシフトレジスタSFT2の水平線選択動作が開
始される。
【0020】次に本実施例の動作を説明する。図3は透
視モードにおける水平線HL1〜HL8の駆動順序を示
すタイミング図であり、図4は撮影モードにおける水平
線HL1〜HL8の駆動順序を示すタイミング図であ
る。なお両図においてVPは垂直周期、HPは水平周期
を示している。
【0021】モード切換操作部3を介して透視モードが
選択されると、コントローラ2によりスイッチ1がコン
トローラ2側(B側)に接続される。コントローラ2か
らスタートパルスが垂直同期信号に同期して、第1のシ
フトレジスタSFT1と第2のシフトレジスタSFT2
とに同時に供給される。これにより第1のシフトレジス
タSFT1と第2のシフトレジスタSFT2とは同時に
水平線選択動作を開始する。
【0022】第1のシフトレジスタSFT1により、ゲ
ート電圧が奇数行の水平線HL1,HL3,HL5,H
L7に順番に、水平周期ずつ継続して印加される。ま
た、第2のシフトレジスタSFT2により、ゲート電圧
が偶数行の水平線HL2,HL4,HL6,HL8に順
番に、水平周期ずつ継続して印加される。
【0023】したがって同じ垂直線VLであって、隣り
合う2本の水平線HLに接続された2つの撮像素子の信
号電荷、つまり同じ列であって隣り合う行の2つの撮像
素子の信号電荷が当該垂直線VL上で加算される。
【0024】各水平周期中、水平走査回路HSCからゲ
ート電圧が順番に各トランジスタTSに印加される。こ
れにより各垂直線VL上で加算された信号電荷が水平周
期中に順番に時系列で出力線OUTLを介して外部に出
力される。
【0025】このように透視モードでは、垂直方向に隣
り合う2つの信号電荷を加算して読み出すので、フレー
ムレートは、各信号電荷を個々に読み出す場合の原理的
に2倍になり、時間分解能を高めて検査対象の動きを高
精度でとらえることができる。
【0026】モード切換操作部3を介して撮影モードが
選択されると、コントローラ2によりスイッチ1が第1
のシフトレジスタSFT1側(A側)に接続される。垂
直同期信号に同期して、コントローラ2から第1のシフ
トレジスタSFT1にスタートパルスが供給される。こ
れにより第1のシフトレジスタSFT1は水平線選択動
作を開始する。
【0027】第1のシフトレジスタSFT1により、ゲ
ート電圧が奇数行の各水平線HL1,HL3,HL5,
HL7に順番に印加される。水平周期中、水平走査回路
HSCからゲート電圧が順番に各トランジスタTSに印
加される。これにより各奇数行の撮像素子の各信号電荷
が水平周期中に順番に時系列で出力線OUTLを介して
外部に出力される。
【0028】第1のシフトレジスタSFT1で最後に駆
動される水平線HL7の電圧変化が、スイッチ1を介し
て第2のシフトレジスタSFT2にスタートパルスとし
て伝えられる。これにより第2のシフトレジスタSFT
2は水平線選択動作を開始する。
【0029】第2のシフトレジスタSFT2により、ゲ
ート電圧が偶数行の各水平線HL2,HL4,HL6,
HL8に順番に印加される。水平周期中、水平走査回路
HSCからゲート電圧が順番に各トランジスタTSに印
加される。これにより各偶数行の撮像素子の各信号電荷
が水平周期中に順番に時系列で出力線OUTLを介して
外部に出力される。
【0030】このように各信号電荷が飛び越し走査で個
々に読み出されるので、透視モードの場合より画素数が
2倍になり、光学像が高精細で撮像される。また、第1
のシフトレジスタSFT1で最後に駆動される水平線H
L7の電圧変化を第2のシフトレジスタSFT2のスタ
ートパルスとして利用するので、コントローラ2で第1
のシフトレジスタSFT1と第2のシフトレジスタSF
T2との動作開始タイミングを制御をする必要なく、さ
らに第1のシフトレジスタSFT1と第2のシフトレジ
スタSFT2との起動タイミングのずれが確実に解消さ
れる。なお、高精細モードで、全画素の読み出し終了
後、画像を構成するには、画素の並び換えが必要である
が、この技術はデジタルスキャンコンバータ等で周知で
あり、本発明の主旨ではないので説明を省略する。
【0031】なお、本実施例において、上述の説明で
は、垂直方向に隣接する2つの信号電荷を加算するいわ
ゆる2行加算であったが、3行以上の複数行加算にも簡
単に適用できる。図5に図2を4行加算に変形した垂直
走査回路のブロック図を示す。図5に示すように、加算
行数に応じてシフトレジスタをスイッチを介して連結
し、増設することにより、複数行加算に対応した垂直走
査回路が実現できる。また、上述の説明では、垂直方向
に隣接する2行の信号電荷を加算したが、この加算方向
は水平方向であってもよい。この場合の水平走査回路と
しては、図2の垂直走査回路のアンプ出力を、トランジ
スタTS(水平ゲート)のゲートに接続することにより
容易に実現できる。さらに、この水平走査回路と、垂直
走査回路とを併用することにより、複数列、複数行の信
号電荷(局所n×n画素)を加算する方式に容易に変形
できる。
【0032】次に第2実施例について説明する。図6は
第2実施例による2次元検出器の回路図である。図7は
図6の1画素の撮像素子の詳細回路図である。図8は図
6のマルチプレクサ回路の構成図である。以下の説明で
は第1実施例と同様に、本実施例による2次元検出器を
X線診断装置に適用した例で説明する。X線診断装置の
構成は第1実施例ですでに述べたので、ここでは説明を
省略する。
【0033】図6に示すように、本実施例に係る2次元
検出器では、複数本の垂直線VLと、複数本の水平線H
Lとが交差して配線される。同一行内の複数の撮像素子
IEはそれぞれ異なる垂直線VLにトランジスタTRを
介して接続される。各水平線HLは同じ行の各トランジ
スタTRのゲートに共通接続されている。垂直走査回路
VSCは、水平周期毎に複数の水平線HLに1本ずつ順
番にゲート電圧を印加し、同じ水平線HLに共通接続さ
れている全てのトランジスタTRを同時にオンし、同じ
行の複数の撮像素子IEの信号電荷をそれぞれに対応す
る垂直線VLを介して別々のバッファBに入力する。
【0034】奇数列の垂直線VLには、それぞれ個々に
バッファBを介してマルチプレクサMUX1の異なる入
力端子に接続される。マルチプレクサMUX1の出力端
子には出力線OUTLが接続される。マルチプレクサM
UX1は、カウンタ4からの複数ビット、ここでは2ビ
ットのセレクト信号にしたがって、複数、ここでは4つ
の入力端子の中の1つと、1つの出力端子との接続を切
換える。カウンタ4からは、2ビットのセレクト信号が
“00”、“01”、“10”、“11”を1サイクル
として、クロック発振回路から出力されるクロックパル
スにしたがって順次出力される。このセレクト信号のサ
イクルのリセットは、コントローラ2からリセットパル
スにより行われる。
【0035】例えば、セレクト信号“00”で第1列の
垂直線VLに接続されたバッファBが出力線OUTLに
導通され、第1列の撮像素子の信号電荷が出力線OUT
Lを介して外部に出力される。セレクト信号“01”で
第3列の垂直線VLに接続されたバッファBが出力線O
UTLに導通され、第3列の撮像素子の信号電荷が出力
線OUTLを介して外部に出力される。セレクト信号
“10”で第5列の垂直線VLに接続されたバッファB
が出力線OUTLに導通され、第5列の撮像素子の信号
電荷が出力線OUTLを介して外部に出力される。セレ
クト信号“11”で第7列の垂直線VLに接続されたバ
ッファBが出力線OUTLに導通され、第7列の撮像素
子の信号電荷が出力線OUTLを介して外部に出力され
る。
【0036】偶数列の垂直線VLには、それぞれ個々に
バッファBを介してマルチプレクサMUX2の異なる入
力端子に接続される。マルチプレクサMUX2の出力端
子には出力線OUTLが接続される。マルチプレクサM
UX2は、カウンタ5からの複数ビット、ここでは2ビ
ットのセレクト信号にしたがって、複数、ここでは4つ
の入力端子の中の1つと、1つの出力端子との接続を切
換える。
【0037】例えば、セレクト信号“00”で第2列の
垂直線VLに接続されたバッファBが出力線OUTLに
導通され、第2列の撮像素子の信号電荷が出力線OUT
Lを介して外部に出力される。セレクト信号“01”で
第4列の垂直線VLに接続されたバッファBが出力線O
UTLに導通され、第4列の撮像素子の信号電荷が出力
線OUTLを介して外部に出力される。セレクト信号
“10”で第6列の垂直線VLに接続されたバッファB
が出力線OUTLに導通され、第6列の撮像素子の信号
電荷が出力線OUTLを介して外部に出力される。セレ
クト信号“11”で第8列の垂直線VLに接続されたバ
ッファBが出力線OUTLに導通され、第8列の撮像素
子の信号電荷が出力線OUTLを介して外部に出力され
る。
【0038】このような水平走査を垂直走査回路VSC
の出力に基づいて各行について行うことにより、各撮像
素子の信号電荷が順番に出力線OUTLを介して外部に
出力される。
【0039】スイッチ7がカウンタ4側(B端子)に接
続されている場合、カウンタ4とカウンタ5とは遅延回
路6を介して接続される。カウンタ4のキャリー信号
(カウンタ4の値が最終値となった時に出力が“1”と
なる)はリセットパルスとして遅延回路6で水平周期だ
け遅延を受けてカウンタ5に供給される。これによりカ
ウンタ4が数え終わった後に、カウンタ5がカウント動
作を開始する。
【0040】スイッチ7がコントローラ2側(A端子)
に接続されている場合、カウンタ4とカウンタ5とはそ
れぞれ独立し、カウンタ4にはコントローラ2からリセ
ットパルスが供給される。コントローラ2は、カウンタ
4とカウンタ5とに同時にリセットパルスを供給する。
これにより、カウンタ4とカウンタ5とは、それぞれの
マルチプレクサMUX1,MUX2に同じセレクト信号
を同期して出力する。これにより、第1列の垂直線VL
に接続されたバッファBと第2列の垂直線VLに接続さ
れたバッファBとが同時に出力線OUTLに導通され、
隣り合う列であって同じ行の撮像素子の各信号電荷が同
時に出力線OUTLに読み出され、出力線OUTLでア
ナログ加算されて外部に出力される。同様に、第3列の
垂直線VLに接続されたバッファBと第4列の垂直線V
Lに接続されたバッファBとが同時に出力線OUTLに
導通され、また、第5列の垂直線VLに接続されたバッ
ファBと第6列の垂直線VLに接続されたバッファBと
が同時に出力線OUTLに導通され、また、第7列の垂
直線VLに接続されたバッファBと第8列の垂直線VL
に接続されたバッファBとが同時に出力線OUTLに導
通され、隣り合う列であって同じ行の撮像素子の各信号
電荷が同時に出力線OUTLに読み出され、出力線OU
TLでアナログ加算されて外部に出力される。
【0041】コントローラ2は、モード選択操作部3
で、透視モード(高フレームレートモード)が選択され
たとき、スイッチ7をコントローラ2側(A端子)に接
続し、図示しない発振回路からの水平同期信号にしたが
ってリセットパルスをカウンタ4とカウンタ5とに繰り
返し出力する。また、コントローラ2は、モード選択操
作部3で、撮影モード(高精細モード)が選択されたと
き、スイッチ7をカウンタ4側に接続し、図示しない発
振回路からの水平同期信号にしたがってリセットパルス
をカウンタ4に繰り返し出力する。
【0042】次に本実施例の動作を説明する。図9は透
視モードにおける垂直線VL1〜VL8の駆動順序を示
すタイミング図であり、図10は撮影モードにおける垂
直線VL1〜VL8の駆動順序を示すタイミング図であ
る。なお両図においてCKはクロック周期を示し、Zは
マルチプレクサMUX1、MUX2のハイインピーダン
スの状態を示している。
【0043】モード切換操作部3から透視モードが選択
されると、コントローラ2によりスイッチ7がコントロ
ーラ2側(A端子)に接続される。コントローラ2から
リセットパルスが水平同期信号に同期して、カウンタ
4,5に同時に供給される。これによりカウンタ4,5
は同期してセレクト信号を順次出力する。これにより、
第1列の垂直線VLに接続されたバッファBと第2列の
垂直線VLに接続されたバッファBとが同時に出力線O
UTLに導通され、隣り合う列であって同じ行の撮像素
子の各信号電荷が同時に出力線OUTLに読み出され、
出力線OUTLでアナログ加算、つまり隣り合う2本の
垂直線VL上であって同じ水平線HLに接続されてる2
つの撮像素子の信号電荷が加算(水平加算)されて外部
に出力される。同様に、第3列の垂直線VLに接続され
たバッファBと第4列の垂直線VLに接続されたバッフ
ァBとが同時に出力線OUTLに導通され、また、第5
列の垂直線VLに接続されたバッファBと第6列の垂直
線VLに接続されたバッファBとが同時に出力線OUT
Lに導通され、また、第7列の垂直線VLに接続された
バッファBと第8列の垂直線VLに接続されたバッファ
Bとが同時に出力線OUTLに導通され、隣り合う列で
あって同じ行の撮像素子の各信号電荷が同時に出力線O
UTLに読み出され、出力線OUTLでアナログ加算、
つまり隣り合う2本の垂直線VL上であって同じ水平線
HLに接続されてる2つの撮像素子の信号電荷が加算
(水平加算)されて外部に出力される。
【0044】このように透視モードでは、水平方向に隣
り合う2つの信号電荷を加算して読み出すので、フレー
ムレートは、各水平線HL上の信号電荷を別々に読み出
す場合の原理的に2倍になり、時間分解能を高めて検査
対象の動きを高精度でとらえることができる。
【0045】モード切換操作部3から撮影モードが選択
されると、コントローラ2によりスイッチ7がカウンタ
4側(B端子)に接続される。コントローラ2からリセ
ットパルスが水平同期信号に同期して、カウンタ4に供
給される。カウンタ4のキャリー信号はリセットパルス
として遅延回路6で1クロックだけ遅延を受けてカウン
タ5に供給される。これによりカウンタ4が数え終わっ
た後に、カウンタ5がカウント動作を開始する。
【0046】つまり、カウンタ4からはリセットパルス
が供給されたタイミングでセレクト信号を“00”から
順に出力する。これにより、マルチプレクサMUX1を
介して、第1列の垂直線VLに接続されたバッファBが
出力線OUTLに導通され、信号電荷が出力線OUTL
に読み出され外部に出力される。同様に、第3列の垂直
線VLに接続されたバッファB、第5列の垂直線VLに
接続されたバッファB、第7列の垂直線VLに接続され
たバッファBが、それぞれマルチプレクサMUX1を介
して出力線OUTLに導通され、各列の撮像素子の信号
電荷が出力線OUTLに読み出され外部に出力される。
【0047】カウンタ4からのキャリー信号は、リセッ
トパルスとして遅延回路6で1クロック期間と同じ遅延
時間DTだけ遅延を受けてカウンタ5に供給される。カ
ウンタ5は、このリセットパルスが供給されたタイミン
グでセレクト信号を“00”から順に出力する。これに
より、マルチプレクサMUX2を介して、第2列の垂直
線VLに接続されたバッファBが出力線OUTLに導通
され、当該列の撮像素子の信号電荷が出力線OUTLに
読み出され外部に出力される。同様に、第4列の垂直線
VLに接続されたバッファB、第6列の垂直線VLに接
続されたバッファB、第8列の垂直線VLに接続された
バッファBが、それぞれマルチプレクサMUX2を介し
て出力線OUTLに導通され、各列の撮像素子の信号電
荷が出力線OUTLに読み出され外部に出力される。
【0048】なお、この撮影モードで、マルチプレクサ
MUX1が動作しているときは、コントローラ2からマ
ルチプレクサMUX2にハイインピーダンス制御信号が
供給され、マルチプレクサMUX2がハイインピーダン
ス状態Zに設定され、マルチプレクサMUX2と出力線
OUTLとが断線された状態と等価になる。同様に、マ
ルチプレクサMUX2が動作しているときは、コントロ
ーラ2からマルチプレクサMUX1にハイインピーダン
ス制御信号が供給され、マルチプレクサMUX1がハイ
インピーダンス状態Zに設定され、マルチプレクサMU
X1と出力線OUTLとが断線された状態と等価にな
る。
【0049】このように各信号電荷が別々に読み出され
るので、透視モードの場合より画素数が2倍になり、光
学像が高精細で撮像される。また、カウンタ4からのキ
ャリー信号がリセットパルスとして水平周期だけ遅延し
てカウンタ5に送られるので、コントローラ2で2つの
カウンタ4,5との時間差制御をする必要はなく、さら
にカウンタ4,5の起動タイミングのずれが確実に解消
される。
【0050】本発明は上述した実施例に限定されず、種
々変形して実施可能である。上述した第1実施例と第2
実施例を同じ2次元検出器に適用することにより透視モ
ードで垂直方向と水平方向の2方向についてそれぞれ2
つの撮像素子の信号電荷どうしを加算して出力すること
ができる。この場合、撮影モードに比較して、フレーム
レートは原理的に4倍になり、さらに時間分解能を高め
て検査対象の動きを高精度でとらえることができる。
【0051】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、撮影モードで
は、各信号電荷が個々に読み出され出力されるので、高
精細の画像が得られ、また透視モードでは複数の信号電
荷が同時に読み出され加算されて出力されるので、高フ
レームレートが実現できるX線診断装置が提供される。
【0052】請求項2の発明によれば、高精細モードで
は、各信号電荷が個々に読み出され、高精細の画像が得
られ、このときシフトレジスタと他のシフトレジスタが
スイッチを介して直列され、シフトレジスタの動作終了
に従動して他のシフトレジスタが起動するので、制御手
段でシフトレジスタと他のシフトレジスタとの各々の起
動タイミングを個別に制御する必要がなくなり、制御の
複雑さが解消され、またタイミングのずれが一掃され、
高フレームレートモードでは、シフトレジスタと他のシ
フトレジスタを同時に起動させればよく、このように2
つのモードを簡易な構成で且つタイミングのずれ等の誤
動作が解消されるX線診断装置が提供される。
【0053】請求項3の発明によれば、高精細モードで
は、各信号電荷が個々に読み出され、高精細の画像が得
られ、一方、高フレームレートモードでは、水平方向に
隣り合う複数の信号電荷を加算して読み出すので、フレ
ームレートは、各信号電荷を個々に読み出す場合の原理
的に整数倍にすることができるX線診断装置が提供され
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の2次元検出器の回路図。
【図2】図1の垂直走査回路の構成図。
【図3】透視モードでの垂直走査回路の動作を示すタイ
ムチャート。
【図4】撮影モードでの垂直走査回路の動作を示すタイ
ムチャート。
【図5】第1実施例の変形例を示す図。
【図6】第2実施例の2次元検出器の回路図。
【図7】図5の撮像素子の詳細回路図。
【図8】図5のマルチプレクサ回路の構成図。
【図9】透視モードでのマルチプレクサ回路の動作を示
すタイムチャート。
【図10】撮影モードでのマルチプレクサ回路の動作を
示すタイムチャート。
【符号の説明】
VSC…垂直走査回路、HSC…水平走査回路、VL…
垂直線、HL…水平線、PD…フォトダイオード、OU
TL…出力線。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線を被検体に曝射するX線管と、 被検体を透過したX線透過像を光学像に変換する変換手
    段と、 光を電荷信号に変換する撮像素子をマトリクス状に配列
    し、前記光学像を撮像する2次元検出器と、 撮影モード時には1撮像素子づつ信号電荷を順次読み出
    して出力し、透視モード時には複数の撮像素子の信号電
    荷を同時に読み出して加算して出力する手段とを具備す
    ることを特徴とするX線診断装置。
  2. 【請求項2】 X線管からばく射され、被検体を透過し
    たX線を光学像に変換し、前記光学像を2次元検出器で
    撮像するX線診断装置において、前記2次元検出器は、
    マトリクス状に配列された複数の撮像素子と、前記複数
    の撮像素子の各信号電荷をアドレス選択により読み出す
    アドレス選択手段とからなり、前記アドレス選択手段
    は、複数のアドレス線を連続的に選択する多段のシフト
    レジスタと、前記シフトレジスタが選択するアドレス線
    に隣り合う複数のアドレス線を連続的に選択する多段の
    他のシフトレジスタとがスイッチを介して直列に接続さ
    れ、入力手段を介して高精細モードが選択された場合、
    前記スイッチをオンし、前記シフトレジスタの動作終了
    に従動して前記他のシフトレジスタを起動させることに
    より各撮像素子の信号電荷を個々に読み出させ、前記入
    力手段を介して高フレームレートモードが選択された場
    合、前記スイッチをオフし、前記シフトレジスタと前記
    他のシフトレジスタとを同時に起動させることにより隣
    り合う撮像素子の信号電荷を同時に読み出させる制御手
    段とを備えることを特徴とするX線診断装置。
  3. 【請求項3】 X線管からばく射され、被検体を透過し
    たX線を光学像に変換し、前記光学像を2次元検出器で
    撮像するX線診断装置において、前記2次元検出器は、
    複数の垂直線と、 前記複数の垂直線と交差する複数の水平線と、 前記複数の垂直線と前記複数の水平線との交点に配置さ
    れた複数の撮像素子と、 前記複数の垂直線を選択する水平走査回路と、 前記複数の水平線を選択する垂直走査回路と、 前記複数の垂直線各々に接続され、前記水平走査回路と
    前記垂直走査回路で特定された撮像素子の信号電荷を一
    時保管する複数のバッファ手段と、 前記信号電荷を外部に出力するための出力線と前記複数
    のバッファ手段との接続を切換えるマルチプレクサ手段
    と、 高精細モードと高フレームレートモードとの一方を選択
    するための入力手段と、 前記入力手段を介して高精細モードが選択された場合、
    前記複数のバッファ手段各々を前記出力線に順番に接続
    させるようにマルチプレクサ手段を制御することにより
    各撮像素子の信号電荷を個々に読み出させ、前記入力手
    段を介して高フレームレートモードが選択された場合、
    隣り合う複数本の垂直線に接続された複数のバッファ手
    段を同時に前記出力線に接続させるように前記マルチプ
    レクサ手段を制御することにより同じ水平線であって隣
    り合う複数本の垂直線に接続された複数の撮像素子の信
    号電荷を前記出力線に同時に読み出させる制御手段とを
    具備することを特徴とするX線診断装置。
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