JPH07260885A

JPH07260885A - 電子機器

Info

Publication number: JPH07260885A
Application number: JP6048732A
Authority: JP
Inventors: Masami Ishida; 正美石田; Kenichi Ogura; 謙一小倉
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1994-03-18
Filing date: 1994-03-18
Publication date: 1995-10-13

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は試験のためのチェック端子を削減
し、効率良く回路が実装および試験ができるようにした
電子機器を提供することを目的とする。【構成】基板に複数の被試験回路が実装されている電
子機器であって、試験信号が入出力されるチェック端子
と、実装された回路の中の試験を行なう回路を選択する
ための回路選択信号が入力される回路選択手段端子と、
入力された回路選択信号に応じて前記チェック端子より
信号を入力させるか又は出力させるかを選択する入出力
選択手段と、出力が選択されたとき、前記回路選択信号
に応じて選択された回路の出力信号を前記チェック端子
に出力する信号出力手段と、入力が選択されたとき、前
記回路選択信号に応じて選択された回路に対して前記チ
ェック端子よりの信号を入力する信号入力手段と、を備
える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気テープ装置等の同
一の機能を有する回路を複数個備えて成る電子機器に関
し、特に、プリント基板に実装された複数の回路に対し
て試験を行なうための試験回路の一部をプリント基板に
搭載し、実装された複数の回路の試験を容易に行なうこ
とを可能とする電子機器に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の基板に実装された回路を試験する
試験方法を図７を参照して説明する。図７は、出来ヘッ
ドにより磁気テープより読出された信号をディジタル信
号に変換する回路が基板に実装されている場合を示して
いる。

【０００３】図７において、１０は基板、１１はＰＬＬ
回路（回路Ａ）、１２は復調器（回路Ｂ）、１６は入力
端子、１７は出力端子、１８はチェック端子、１９はバ
ッファ増幅器である。磁気テープは複数の記録トラック
（例えばｎ＝１８）を有する。各トラックの読取信号
は、磁気ヘッドから同時に出力される。読出信号は、そ
れぞれ図示しない増幅器で増幅され、イコライザ回路で
等化されて、入力端子１６−１〜１６−ｎに入力され
る。

【０００４】ＰＬＬ回路（回路Ａ）１１では、入力端子
１６より入力された信号よりクロック信号を再生して出
力する復調器（回路Ｂ）１２では、入力端子１６より入
力された信号とＰＬＬ回路（回路Ａ）１１より出力され
たクロック信号よりディジタル信号に再生して出力端子
１７より出力する。

【０００５】また、ＰＬＬ回路（回路Ａ）の動作をチェ
ックするために、出力クロック信号をバッファ増幅器１
９を介してチェック端子１８に出力している。すなわ
ち、従来は、試験を行なう回路毎にチェック端子を設け
ていた。すなわち、図７では、回路Ａ１１の試験に対し
てチェック端子１８を設け、端子１６より信号を入力
し、回路Ａ１１の出力をチェック端子１８より出力させ
て試験を行なわせていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前述したように、基板
に実装されている回路を試験するためには、従来は試験
を行なう回路毎にチェック端子を設けて試験を行なうよ
うにしていた。そこで、磁気テープより同時に読出すト
ラック数が２倍になると、入力端子１６、出力端子１７
およびチェック端子１８の端子数も２倍を必要とする。

【０００７】ＰＬＬ回路１１、復調器１２およびバッフ
ァ増幅器１９は小形化、またはＩＣ化され、トラックが
２倍となっても実装可能であっても基板の端子数が不足
することが発生する。このため、基板に回路を実装させ
るスペースがあるにもかかわらず、端子数が不足するた
め実装する回路が制限されたり、実装回路の試験を容易
に行なうことができるにもかかわらずチェック端子を設
けられないことが発生していた。

【０００８】本発明は、試験のためのチェック端子を削
減し、効率良く回路実装が行なえるようにした電子機器
を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに本発明が採用した手段を図１を参照して説明する。
図１は本発明の原理図である。基板に複数の被試験回路
が実装されている電子機器であって、前記基板に設けら
れ、試験信号が入出力されるチェック端子（１）と、実
装された回路の中の試験を行なう回路を選択するための
回路選択信号が入力される回路選択手段端子（２）と、
前記回路選択信号端子（２）より入力された回路選択信
号に応じて前記チェック端子（１）より信号を入力させ
るか又は出力させるかを選択する入出力選択手段（３）
と、前記入出力選択手段（３）で出力が選択されたと
き、前記回路選択信号に応じて選択された回路の出力信
号を前記チェック端子（１）に出力する信号出力手段
（４）と、前記入出力選択手段（３）で入力が選択され
たとき、前記回路選択信号に応じて選択された回路に対
して前記チェック端子（１）よりの信号を入力する信号
入力手段（５）と、を備える。

【００１０】また、前記入出力選択手段（３）が入力を
選択したとき、前記回路選択信号に応じて選択された回
路に対して実装されている他の回路よりの入力を阻止す
る他回路入力阻止手段（７）を備える。また、前記入出
力選択手段（３）が出力を選択したとき、前記回路選択
信号に応じて選択された回路に対して実装されている他
の回路よりの出力を阻止する他回路出力阻止手段（８）
を備える。

【００１１】また、前記回路選択信号端子（２）より入
力される信号に対して回路選択を行なう回路選択手段
（６）を備える。また、前記チェック端子（１）および
回路選択信号端子（２）を実装されている回路の端子と
は別にして外部と接続する。

【００１２】

【作用】入出力選択手段３は、回路選択信号端子２より
入力された回路選択信号に応じて、チェック端子１より
信号を入力させるか出力させるかを選択する。信号出力
手段４は、入出力選択手段３で出力が選択されたとき、
回路選択信号に応じて選択された回路よりの出力信号を
チェック端子１に出力する。

【００１３】信号入力手段５は、入出力選択手段３で入
力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択された
回路に対してチェック端子１より入力された信号を入力
する。また、他回路入力阻止手段７は、入出力選択手段
３で入力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択
された回路に対して実装されている他の回路よりの入力
を阻止する。

【００１４】また、他回路出力阻止手段８は、入出力選
択手段３で出力が選択されたとき、回路選択信号に応じ
て選択された回路に対して実装されている他の回路より
の出力を阻止するまた、回路選択手段６は、回路選択信
号端子２より入力される信号に対して回路選択を行な
う。

【００１５】また、チェック端子１および回路選択信号
端子２は基板に実装されている回路の入出力端子と区別
して外部と接続される。以上のように、実装されている
回路の中の試験を行なう回路を選択させ、選択された回
路に対してチェック端子に信号を出力するか入力するか
を選択させ、選択された回路よりチェック端子に信号を
出力または入力させるようにしたので回路を試験するた
めに必要となる端子数を削減することができ効率良く回
路を実装できる。

【００１６】また、試験用のチェック端子を共用できる
ので、測定器を試験回路毎に接続変更することなく試験
が行なえ、試験を容易に行なうことができる。また、チ
ェック端子から選択された回路への入力または出力が選
択された場合は、実装されている他の回路よりの信号の
入力または出力を阻止するようにしたので、正確に試験
を行なうことができる。

【００１７】また、回路選択信号より回路を選択するデ
コーダを設けたので回路選択信号端子の端子数を少なく
することができる。また、チェック端子および回路選択
信号端子を基板に実装されている回路の入出力端子と別
にして外部と接続させるようにしたので、試験を容易に
実施できると共に試験のための端子の増加が無くなる。

【００１８】

【実施例】本発明の第１の実施例を図２乃至図４を参照
して説明する。図２は第１の実施例の構成図、図３は同
実施例の入出力選択部および回路選択部の具体例、図４
は入出力選択部および回路選択部の動作説明図である。

【００１９】図２において、基板１０、回路Ａ１１、回
路Ｂ１２、端子１６および１７、チェック端子１８は、
従来例の図７で説明した通りである。しかし、従来例で
はチェック端子１８がｎ個あったのに対して実施例では
１個である。また、１３，１４および１５はスイッチ回
路、１９は選択信号を入力する選択信号端子、２０はチ
ェック端子に信号を出力するか入力するかを選択する入
出力選択回路、３０は実装されている回路の中の試験回
路を選択する回路選択部である。

【００２０】なおスイッチ回路１３，１４および１５は
アンド回路、トライステートバッファ、アナログスイッ
チ等で構成させても良い。通常動作時には、スイッチ回
路１３はＯＮ，スイッチ回路１４および１５はＯＦＦと
なっており、回路Ａ１１の出力が回路Ｂ１２に入力され
て動作し、チェック端子１８には信号は出力されない。

【００２１】回路Ａ１１−１の出力をチェック端子に出
力する場合は、スイッチ回路１３−１をＯＮにすると共
にスイッチ回路１４−１のみをＯＮにする。また、チェ
ック端子１８よりの信号を回路Ｂ１２−１に入力する場
合は、スイッチ回路１３−１および１４−１をＯＦＦに
し、スイッチ回路１５−１をＯＮにする。

【００２２】スイッチ回路１３，１４および１５をＯＮ
にするかＯＦＦにするかの制御信号ａ，ｂおよびｃは入
出力選択部２０および回路選択部３０で発生される。な
おスイッチ回路１３，１４および１５をＯＮにするには
制御信号ａ，ｂおよびｃを「１」に、またＯＦＦにする
には「０」にする。

【００２３】図３は入出力選択部２０および回路選択部
３０の具体例を示している。また、６０は試験用の治具
であり、回路の試験を行なう時は、チェック端子１８お
よび選択信号端子１９を、図５に示すように、試験用治
具６０とケーブルで接続する。

【００２４】試験用治具６０はスイッチ６１および６２
と、回路の試験用のチェック端子１８に接続された端子
６３とで構成され、端子６３に測定器が接続される。回
路選択部３０はデコーダ３１で構成される。選択信号端
子１９と接続された選択信号線は抵抗２３および３２を
介して＋５Ｖの電源に接続され、試験用治具６０が接続
されていない時と試験用治具のスイッチ６１および６２
がＯＦＦの状態は「１」を出力し、スイッチがＯＮの状
態では「０」を出力する。

【００２５】試験用治具６０のスイッチ（Ｉ／Ｏ）６１
はチェック端子１８に回路の試験信号を入力するか出力
するかを、また、スイッチ（ＥＮ）６２はどの回路を選
択するかを示す選択番号を入力する。また、選択番号
は、予め、実装された回路の中の試験を実行しようとす
る回路に対して割当ておく。

【００２６】すなわち、例えば、図２で示した回路Ａ１
１−１の出力および回路Ｂ１２−１の入力に対しては
「０００１」を、回路Ａ１１−２の出力および回路Ｂ１
２−２の入力に対しては「００１０」等を予め決めてお
く。デコーダ３１は、「０００１」が入力された場合は
ＥＮ−１に「１」を出力する。また、「００１０」が入
力された場合にＥＮ−２に「１」を出力し、その他が選
択された場合は「０」を出力する。

【００２７】入出力選択部２０はアンド回路２１と２２
で構成される。試験用治具６０のスイッチ（Ｉ／Ｏ）６
１がＯＮの時は入力が選択されａは「１」に、また、ａ
＝１の時デコーダ３１の出力ＥＮ−１〜Ｎの出力が
「１」ならば対応するｂ１〜Ｎが「１」に、ｃ１〜Ｎは
「０」を出力する。すなわち、図４に示す信号が出力さ
れる。

【００２８】いま、デコーダ３１の出力ＥＮ−１が
「１」を出力し、Ｉ／Ｏ＝「０」ならば、ａ＝「０」，ｂ１＝「０」，ｃ１＝「１」ｂ２〜Ｎ＝「０」，ｃ２〜Ｎ＝「０」となり、図２のスイッチ回路１５−１のみがＯＮとなっ
て、チェック端子１８より入力した信号が回路Ｂ１２−
１に入力される。

【００２９】また、ＥＮ−１が「１」で、Ｉ／Ｏ＝
「１」ならば、ａ＝「１」，ｂ１＝「１」，ｃ１＝「０」ｂ２〜Ｎ＝「０」，ｃ２〜Ｎ＝「０」となり、回路Ａ１１−１の出力がスイッチ回路１３−１
および１４−１を通ってチェック端子に出力される。

【００３０】なお、実施例では、試験用治具を使用して
信号を発生するようにしていたが、これらのスイッチを
基板内に設けて信号を発生させるようにしても良い。ま
た実施例では、図５に示すように、基板内に実装された
回路の入出力端子１６および１７と、チェック端子１８
および選択信号端子１９とを別々に設けたが、チェック
端子１８および選択信号端子１９を入出力端子１６およ
び１７と同じにしても良い。このように区別して設ける
ことにより端子不足を少なくすることがてきる。

【００３１】つぎに、図６を参照して、第２の実施例に
ついて説明する。図６において、５０，５１および５２
は実装されている回路、また、５３および５４は第１の
実施例で説明した試験回路構成である。同一基板内に試
験回路構成を２個設けることによって、一方の試験回路
構成でチェック端子よりの入力を選択し、他方の試験回
路構成装置でチェック端子への出力を選択するようにす
ることにより、任意の回路の試験を行なうことができ
る。

【００３２】また、更に試験回路構成を設けることによ
り、複数入力の実装回路の試験を行なうことができる。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
の効果が得られる。実装されている回路の中の試験を行
なう回路を選択させ、選択された回路に対してチェック
端子に信号を出力するか入力するかを選択させ、選択さ
れた回路よりチェック端子に信号を出力または入力させ
るようにしたので回路を試験するために必要となる端子
数を削減することができ効率良く回路を実装できる。

【００３４】また、試験用のチェック端子を共用できる
ので、測定器を試験回路毎に接続変更することなく試験
が行なえ、試験を容易に行なうことができる。また、チ
ェック端子から選択された回路への入力または出力が選
択された場合は、実装されている他の回路よりの信号の
入力または出力を阻止するようにしたので、正確に試験
を行なうことができる。

【００３５】また、回路選択信号より回路を選択するデ
コーダを設けたので回路選択信号端子の端子数を少なく
することができる。また、チェック端子および回路選択
信号端子を基板に実装されている回路の入出力端子と別
にして外部と接続させるようにしたので、試験を容易に
実施できると共に試験のための端子の増加が無くなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の第１の実施例の構成図である。

【図３】同実施例の入出力選択部および回路選択部の具
体例である。

【図４】入出力選択部および回路選択部の動作説明図で
ある。

【図５】実施例の説明図である。

【図６】本発明の第２の実施例の構成図である。

【図７】従来例の構成図である。

【符号の説明】

１，１８チェック端子２回路選択信号端子３入出力選択手段４信号出力手段５信号入力手段６回路選択手段７他回路入力阻止手段８他回路出力阻止手段１０基板１１，１２，５０，５１，５２回路１３，１４，１５スイッチ回路１９選択信号端子２０入出力選択部３０回路選択部２１，２２アンド回路３１デコーダ２３，３２抵抗

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】基板に複数の被試験回路が実装されてい
る電子機器であって、前記基板に設けられ、試験信号が入出力されるチェック
端子（１）と、実装された回路の中の試験を行なう回路を選択するため
の回路選択信号が入力される回路選択手段端子（２）
と、前記回路選択信号端子（２）より入力された回路選択信
号に応じて前記チェック端子（１）より信号を入力させ
るか又は出力させるかを選択する入出力選択手段（３）
と、前記入出力選択手段（３）で出力が選択されたとき、前
記回路選択信号に応じて選択された回路の出力信号を前
記チェック端子（１）に出力する信号出力手段（４）
と、前記入出力選択手段（３）で入力が選択されたとき、前
記回路選択信号に応じて選択された回路に対して前記チ
ェック端子（１）よりの信号を入力する信号入力手段
（５）と、を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項２】前記入出力選択手段（３）が入力を選択
したとき、前記回路選択信号に応じて選択された回路に
対して実装されている他の回路よりの入力を阻止する他
回路入力阻止手段（７）を備えたことを特徴とする請求
項１記載の電子機器。
【請求項３】前記入出力選択手段（３）が出力を選択
したとき、前記回路選択信号に応じて選択された回路に
対して実装されている他の回路よりの出力を阻止する他
回路出力阻止手段（８）を備えたことを特徴とする請求
項１または２記載の電子機器。
【請求項４】前記回路選択信号端子（２）より入力さ
れる信号に対して回路選択を行なう回路選択手段（６）
を備えたことを特徴とする請求項１，２または３記載の
電子機器。
【請求項５】前記チェック端子（１）および回路選択
信号端子（２）を実装されている回路の端子とは別にし
て外部と接続するようにしたことを特徴とする請求項
１，２，３または４記載の電子機器。