JPH0722573A - 集積回路及びその接続方法 - Google Patents
集積回路及びその接続方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は単層または多層板の穴明けに
おいて、高速で高密度を達成し基板を過度に加熱するこ
とのないヴィア形成法を提供することにある。またヴィ
ア形成中に他の品質、信頼性の問題を引き起こすことが
なく、さらに多層基板を含む集積回路パッケージではパ
ッケージ内の電気部品間とこの部品とパッケージのリー
ドとの間で高い配線密度を達成することが可能なヴィア
形成法を提供することにある。 【構成】 第1の表面をもち、かつ誘電層をもつ導電層
と基板内に設けられた複数の導電ヴィアからなる基板
と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導電部分から複数
のリードの1つに延びる導電ヴィアをもつ基板の第1の
表面に取付けられた複数の導電リードと、基板とリード
の内部を封止し、リードの残りの部分を樹脂の外部に露
出したまま残した樹脂封止材とからなる集積回路。
おいて、高速で高密度を達成し基板を過度に加熱するこ
とのないヴィア形成法を提供することにある。またヴィ
ア形成中に他の品質、信頼性の問題を引き起こすことが
なく、さらに多層基板を含む集積回路パッケージではパ
ッケージ内の電気部品間とこの部品とパッケージのリー
ドとの間で高い配線密度を達成することが可能なヴィア
形成法を提供することにある。 【構成】 第1の表面をもち、かつ誘電層をもつ導電層
と基板内に設けられた複数の導電ヴィアからなる基板
と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導電部分から複数
のリードの1つに延びる導電ヴィアをもつ基板の第1の
表面に取付けられた複数の導電リードと、基板とリード
の内部を封止し、リードの残りの部分を樹脂の外部に露
出したまま残した樹脂封止材とからなる集積回路。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路デバイス、ハイ
ブリッド回路およびマルチチップモジュールに関し、詳
しくは1つの集積回路と他の集積回路、導電部品および
導電リードとの電気的接続に関する。さらに詳しくはこ
の発明はヴィア構造が基板とパッケージのリードを結合
し、または基板内の層間を結合するためヴィアが用いら
れている多層基板を含む電気的デバイスパッケージに関
し、さらにこれらのパッケージを得るための製造法に関
する。
ブリッド回路およびマルチチップモジュールに関し、詳
しくは1つの集積回路と他の集積回路、導電部品および
導電リードとの電気的接続に関する。さらに詳しくはこ
の発明はヴィア構造が基板とパッケージのリードを結合
し、または基板内の層間を結合するためヴィアが用いら
れている多層基板を含む電気的デバイスパッケージに関
し、さらにこれらのパッケージを得るための製造法に関
する。
【0002】
【従来の技術】集積回路は半導体ダイの上に形成され
る。通常、このダイはパッケージに仕上げられる。一般
的には集積回路の外側の部品(すなわち集積回路、トラ
ンジスタ、ダイオードのような能動部品および抵抗体、
キャパシタ、インダクタのような受動部品)への電気的
接続はパッケージから延びる個々のリード(もともとは
リードフレームの一部)によってなされている。このリ
ードはパッケージの中でダイの上の集積回路に電気的に
結合されている。歴史的には、この電気的接続はワイヤ
ーを選ばれたリードの内部とダイの上のボンディングパ
ッドとの間を固定することによってなされてきた。
る。通常、このダイはパッケージに仕上げられる。一般
的には集積回路の外側の部品(すなわち集積回路、トラ
ンジスタ、ダイオードのような能動部品および抵抗体、
キャパシタ、インダクタのような受動部品)への電気的
接続はパッケージから延びる個々のリード(もともとは
リードフレームの一部)によってなされている。このリ
ードはパッケージの中でダイの上の集積回路に電気的に
結合されている。歴史的には、この電気的接続はワイヤ
ーを選ばれたリードの内部とダイの上のボンディングパ
ッドとの間を固定することによってなされてきた。
【0003】パッケージ内におけるリードと集積回路の
間のこの種の電気的接続は1個の半導体ダイを搭載した
パッケージに用いられてきた。複数の半導体ダイが絶縁
層(回路基板)の上に搭載され、一つのパッケージに仕
上げられるマルチチップ集積回路パッケージの開発は、
さらに多くの技術的アプローチを必要とした。マルチチ
ップ・パッケージにおける集積回路は一般的には絶縁層
の上のトレース(導電性のチップ外の配線路)に結合さ
れている。この結合はワイヤーボンディング,テープオ
ートメイテッドボンディング(TAB)あるいはフリッ
プチップにより行われる。電気的接続はさらに回路基板
上のトレースとパッケージのリードを選ばれたリードと
リードフレームの内側のリードとをワイヤーボンディン
グで結合することによりなされる。この方法の例はコム
ストック(Comstock)などの米国特許第4,7
54,317号公報に記載されている。
間のこの種の電気的接続は1個の半導体ダイを搭載した
パッケージに用いられてきた。複数の半導体ダイが絶縁
層(回路基板)の上に搭載され、一つのパッケージに仕
上げられるマルチチップ集積回路パッケージの開発は、
さらに多くの技術的アプローチを必要とした。マルチチ
ップ・パッケージにおける集積回路は一般的には絶縁層
の上のトレース(導電性のチップ外の配線路)に結合さ
れている。この結合はワイヤーボンディング,テープオ
ートメイテッドボンディング(TAB)あるいはフリッ
プチップにより行われる。電気的接続はさらに回路基板
上のトレースとパッケージのリードを選ばれたリードと
リードフレームの内側のリードとをワイヤーボンディン
グで結合することによりなされる。この方法の例はコム
ストック(Comstock)などの米国特許第4,7
54,317号公報に記載されている。
【0004】集積回路が複雑になるにつれ性能向上と部
品間の引き回しを容易にするため多層基板が開発され
た。多層基板の個々の層は一般的には誘電層と導電層と
から成る。そのような基板の例はチュウ(Chu)の米
国特許4,975,761号公報に示されている。付け
加えられた層はトレースの交差を可能にし、このため回
路部品(すなわち集積回路、トランジスタ、ダイオード
のような能動部品や抵抗体、キャパシタ、インダクタの
ような受動部品)がこれらの部品が単一の金属層をもつ
基板に実装されたり個々にパッケージに仕上げられプリ
ント回路板に実装されるよりもはるかに密に配置され相
互に結合される(すなわち回路密度が増加する)。
品間の引き回しを容易にするため多層基板が開発され
た。多層基板の個々の層は一般的には誘電層と導電層と
から成る。そのような基板の例はチュウ(Chu)の米
国特許4,975,761号公報に示されている。付け
加えられた層はトレースの交差を可能にし、このため回
路部品(すなわち集積回路、トランジスタ、ダイオード
のような能動部品や抵抗体、キャパシタ、インダクタの
ような受動部品)がこれらの部品が単一の金属層をもつ
基板に実装されたり個々にパッケージに仕上げられプリ
ント回路板に実装されるよりもはるかに密に配置され相
互に結合される(すなわち回路密度が増加する)。
【0005】さらに一定の基板面積あたりのリード密度
はリードと基板を銅めっきスルーホール(機械的ドリル
で形成された穴が基板とリードを貫通する)で結合する
ことによって増加した。このような方法の例は勾坂(S
agisaka)等の米国特許第4,908,933号
公報に示されている。しかしながら、この方法はさらに
高密度の要求が高まるにつれ実用的でなくなってきた。
ドリルで穴明けする工程では必要な小径と小さな間隔を
得ることができない(穴の径は穴明けすべき材料の厚み
の関数である)。さらに基板の結合すべき側の反対側
は、すべての層を穴が貫通し電気的に結合しているため
回路などに利用することはできない。
はリードと基板を銅めっきスルーホール(機械的ドリル
で形成された穴が基板とリードを貫通する)で結合する
ことによって増加した。このような方法の例は勾坂(S
agisaka)等の米国特許第4,908,933号
公報に示されている。しかしながら、この方法はさらに
高密度の要求が高まるにつれ実用的でなくなってきた。
ドリルで穴明けする工程では必要な小径と小さな間隔を
得ることができない(穴の径は穴明けすべき材料の厚み
の関数である)。さらに基板の結合すべき側の反対側
は、すべての層を穴が貫通し電気的に結合しているため
回路などに利用することはできない。
【0006】機械的ドリルはかつて、スルーホールを形
成するのに用いられてきた。Sagisakaの特許と
ヘッス(Hess)の米国特許第4,798,931号
公報は両方ともさらに詳細にこの技術を開示している。
成するのに用いられてきた。Sagisakaの特許と
ヘッス(Hess)の米国特許第4,798,931号
公報は両方ともさらに詳細にこの技術を開示している。
【0007】しかしながら機械的ドリルによるスルーホ
ールの形成はいくつかの欠点を有する。ある大きさ以下
のスルーホールはスルーホールを形成するために用いら
れるドリルビットの大きさの制約により作ることができ
ない。ビットが小さくなるにつれドリルの過程で折れる
ようになり非常に小さなスルーホールを得ることは事実
上できなくなる。さらにスルーホールの間隔にも制約が
ある。この間隔が小さすぎると、その間にある物質がド
リル工程で与えられる力によって変形する。このためス
ルーホールの密度(したがって電気的結合の密度)は制
約される。1インチ平方の基板でスルーホールが互い違
いに並べられた場合、機械的なドリルではリードの数
(したがってヴィアの数)は通常、約256に限られて
いる。
ールの形成はいくつかの欠点を有する。ある大きさ以下
のスルーホールはスルーホールを形成するために用いら
れるドリルビットの大きさの制約により作ることができ
ない。ビットが小さくなるにつれドリルの過程で折れる
ようになり非常に小さなスルーホールを得ることは事実
上できなくなる。さらにスルーホールの間隔にも制約が
ある。この間隔が小さすぎると、その間にある物質がド
リル工程で与えられる力によって変形する。このためス
ルーホールの密度(したがって電気的結合の密度)は制
約される。1インチ平方の基板でスルーホールが互い違
いに並べられた場合、機械的なドリルではリードの数
(したがってヴィアの数)は通常、約256に限られて
いる。
【0008】さらに機械的ドリルではスルーホールの形
成速度も制約される。スルーホールは一時に1個しかあ
けることができない。ドリルの上下速度を上げることに
よりスルーホールの形成速度を上げようとすれば、ドリ
ルの損傷のようなことが増加する。
成速度も制約される。スルーホールは一時に1個しかあ
けることができない。ドリルの上下速度を上げることに
よりスルーホールの形成速度を上げようとすれば、ドリ
ルの損傷のようなことが増加する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このような問題に対応
するため新しい技術が開発された。この技術はヴィア形
成と呼ばれるものでリードと基板の間を電気的に接続す
るため必要な箇所にヴィアホールを形成するものであ
る。ヴィアはさらに多層板の各層の導電部分を結合する
のに用いられる。ヴィアを形成したのち各ヴィアとスル
ーホールの内部とリードの内側あるいは基板層の導電部
分を結合するため導電物質が沈着される。
するため新しい技術が開発された。この技術はヴィア形
成と呼ばれるものでリードと基板の間を電気的に接続す
るため必要な箇所にヴィアホールを形成するものであ
る。ヴィアはさらに多層板の各層の導電部分を結合する
のに用いられる。ヴィアを形成したのち各ヴィアとスル
ーホールの内部とリードの内側あるいは基板層の導電部
分を結合するため導電物質が沈着される。
【0010】機械的ドリルで可能な密度より高い密度を
得るためヴィアをレーザーで形成し、さらに小さな間隔
で穴明けしてもよい。炭酸ガスレーザー、Nd:YAG
レーザーのような熱レーザーは無機物の穴明けに使われ
てきた。熱レーザーは加熱することにより物質を貫通で
きるエネルギを放出し、これにより溶融と蒸発をもたら
す。
得るためヴィアをレーザーで形成し、さらに小さな間隔
で穴明けしてもよい。炭酸ガスレーザー、Nd:YAG
レーザーのような熱レーザーは無機物の穴明けに使われ
てきた。熱レーザーは加熱することにより物質を貫通で
きるエネルギを放出し、これにより溶融と蒸発をもたら
す。
【0011】有機物は多層基板の誘電層を形成するのに
好ましい。低コスト、優れた誘電特性、レーザー加工性
が無機物より優れているからである。しかしながら熱レ
ーザーを有機物のヴィア形成に用いると物質の加熱によ
る副作用が生じる。この副作用は誘電体の解重合、炭
化、表面の再流動等を含む。
好ましい。低コスト、優れた誘電特性、レーザー加工性
が無機物より優れているからである。しかしながら熱レ
ーザーを有機物のヴィア形成に用いると物質の加熱によ
る副作用が生じる。この副作用は誘電体の解重合、炭
化、表面の再流動等を含む。
【0012】さらに、これまでのレーザーの利用は機械
的ドリルのモデルによって知らぬうちに制約を受け基板
に向けられたレーザービームで一度に1個しか開けられ
ないということになっていた。このやり方は不必要に長
くかかる。レーザーが各ヴィアを穴あけするまでに再配
置が必要であり、また各ヴィアが完全に穴明けされるま
で次の穴明けが始まらないからである。
的ドリルのモデルによって知らぬうちに制約を受け基板
に向けられたレーザービームで一度に1個しか開けられ
ないということになっていた。このやり方は不必要に長
くかかる。レーザーが各ヴィアを穴あけするまでに再配
置が必要であり、また各ヴィアが完全に穴明けされるま
で次の穴明けが始まらないからである。
【0013】したがって単層または多層板の穴明けには
高速で高密度を達成し基板を過度に加熱しない,またヴ
ィア形成中に他の品質、信頼性の問題を引き起こさない
ヴィア形成法が必要になっている。多層基板を含む集積
回路パッケージでは、さらにヴィアがパッケージ内の電
気部品間とこの部品とパッケージのリードとの間で高い
配線密度を達成するため必要となっている。
高速で高密度を達成し基板を過度に加熱しない,またヴ
ィア形成中に他の品質、信頼性の問題を引き起こさない
ヴィア形成法が必要になっている。多層基板を含む集積
回路パッケージでは、さらにヴィアがパッケージ内の電
気部品間とこの部品とパッケージのリードとの間で高い
配線密度を達成するため必要となっている。
【0014】
【課題を解決するための手段】ここに本発明の構成は下
記のとおりである。
記のとおりである。
【0015】(請求項1) 第1の表面をもち、かつ誘
電層をもつ導電層と基板内に設けられた複数の導電ヴィ
アからなる基板と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導
電部分から複数のリードの1つに延びる導電ヴィアをも
つ基板の第1の表面に取付けられた複数の導電リード
と、基板とリードの内部を封止しリードの残りの部分を
樹脂の外部に露出したまま残した樹脂封止材とからなる
集積回路。
電層をもつ導電層と基板内に設けられた複数の導電ヴィ
アからなる基板と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導
電部分から複数のリードの1つに延びる導電ヴィアをも
つ基板の第1の表面に取付けられた複数の導電リード
と、基板とリードの内部を封止しリードの残りの部分を
樹脂の外部に露出したまま残した樹脂封止材とからなる
集積回路。
【0016】(請求項2) 第1の表面に対向する反対
側の基板の第2の表面に形成された導電回路を含み、少
なくとも1つの導電ヴィアが導電回路から複数のリード
に延びている請求項1の集積回路。
側の基板の第2の表面に形成された導電回路を含み、少
なくとも1つの導電ヴィアが導電回路から複数のリード
に延びている請求項1の集積回路。
【0017】(請求項3) ヴィアの形状が長い断面を
もち、最も長い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並ん
でいる請求項1の集積回路。
もち、最も長い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並ん
でいる請求項1の集積回路。
【0018】(請求項4) 基板にさらに複数の導電層
と誘電層を含み、基板の第1の表面から最も遠い該導電
層は外部の導電層であって他の導電部分は内部の導電層
である請求項1の集積回路。
と誘電層を含み、基板の第1の表面から最も遠い該導電
層は外部の導電層であって他の導電部分は内部の導電層
である請求項1の集積回路。
【0019】(請求項5) 少なくとも1つの導電ヴィ
アが内部の導電層から複数のリードに延びる請求項3の
集積回路。
アが内部の導電層から複数のリードに延びる請求項3の
集積回路。
【0020】(請求項6) 少なくとも1つの導電ヴィ
アが第1の内部導電層から第2の内部導電層に延びる請
求項3の集積回路。
アが第1の内部導電層から第2の内部導電層に延びる請
求項3の集積回路。
【0021】(請求項7) 誘電層と導電層をもち、該
誘電層は有機基板であり、基板内に設けられた複数の導
電ヴィアからなる基板と、各導電ヴィアが導電層の選ば
れた導電部分から複数のリードの1つに伸びる導電ヴィ
アをもつ基板の第1の表面に取付けられた複数の導電リ
ードと、からなる集積回路。
誘電層は有機基板であり、基板内に設けられた複数の導
電ヴィアからなる基板と、各導電ヴィアが導電層の選ば
れた導電部分から複数のリードの1つに伸びる導電ヴィ
アをもつ基板の第1の表面に取付けられた複数の導電リ
ードと、からなる集積回路。
【0022】(請求項8) 第1の表面に対向する反対
側の基板の第2の表面に形成された導電回路を含み、少
なくとも1つの導電ヴィアが導電回路から複数のリード
に延びている請求項7の集積回路。
側の基板の第2の表面に形成された導電回路を含み、少
なくとも1つの導電ヴィアが導電回路から複数のリード
に延びている請求項7の集積回路。
【0023】(請求項9) ヴィアの形状が長い断面を
もち、最も長い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並ん
でいる請求項7の集積回路。
もち、最も長い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並ん
でいる請求項7の集積回路。
【0024】(請求項10) 基板にさらに複数の導電
層と誘電層を含み、基板の第1の表面から最も遠い該導
電層は外部の導電層であって、他の導電部分は内部の導
電層である請求項7の集積回路。
層と誘電層を含み、基板の第1の表面から最も遠い該導
電層は外部の導電層であって、他の導電部分は内部の導
電層である請求項7の集積回路。
【0025】(請求項11) 少なくとも1つの導電ヴ
ィアが内部の導電層から複数のリードに延びる請求項9
の集積回路。
ィアが内部の導電層から複数のリードに延びる請求項9
の集積回路。
【0026】(請求項12) 少なくとも1つの導電ヴ
ィアが第1の内部導電層から第2の内部導電層に延びる
請求項9の集積回路。
ィアが第1の内部導電層から第2の内部導電層に延びる
請求項9の集積回路。
【0027】(請求項13) 誘電層と導電層をもつ基
板からなる集積回路であって、基板内には電子部品を配
置するための空洞をもち、該空洞は所望の位置にレーザ
ーエネルギで形成された集積回路。
板からなる集積回路であって、基板内には電子部品を配
置するための空洞をもち、該空洞は所望の位置にレーザ
ーエネルギで形成された集積回路。
【0028】(請求項14) 基板からリードに通して
形成されたヴィアをもつ基板とリードの接続方法であっ
て、下記の手順からなる方法すなわち第1の基板の第1
の表面をリードの第1の表面にとりつけ第1の基板の第
2の表面が第1の基板の第1の表面の反対側であって、
第1の基板の第2の表面の上にマスクを保持し、穴が第
1のマスクの上に形成され第1のマスクの第1の表面の
上にレーザーエネルギを掃引し、該第1のマスクの第1
の表面の反対側にある第1のマスクの第2の表面は第1
の基板の第2の表面に対向し、レーザーエネルギが掃引
されるとレーザーエネルギが第1のマスクの穴を通りリ
ードに延びている第1の基板の中にあるヴィアを形成す
ることによって形成される基板とリードの接続方法。
形成されたヴィアをもつ基板とリードの接続方法であっ
て、下記の手順からなる方法すなわち第1の基板の第1
の表面をリードの第1の表面にとりつけ第1の基板の第
2の表面が第1の基板の第1の表面の反対側であって、
第1の基板の第2の表面の上にマスクを保持し、穴が第
1のマスクの上に形成され第1のマスクの第1の表面の
上にレーザーエネルギを掃引し、該第1のマスクの第1
の表面の反対側にある第1のマスクの第2の表面は第1
の基板の第2の表面に対向し、レーザーエネルギが掃引
されるとレーザーエネルギが第1のマスクの穴を通りリ
ードに延びている第1の基板の中にあるヴィアを形成す
ることによって形成される基板とリードの接続方法。
【0029】(請求項15) 第1の基板の中に、ある
いはその上に配置された各リードと導電部品との間に導
電通路が形成されるように、第1の基板にある各ヴィア
の中に導電物質の層を配置することをさらに含む方法に
よる請求項14の基板とリードの接続方法。
いはその上に配置された各リードと導電部品との間に導
電通路が形成されるように、第1の基板にある各ヴィア
の中に導電物質の層を配置することをさらに含む方法に
よる請求項14の基板とリードの接続方法。
【0030】(請求項16) 第1のマスクが第1の基
板と一体化した請求項14の基板とリードの接続方法。
板と一体化した請求項14の基板とリードの接続方法。
【0031】(請求項17) 請求項14の接続方法に
おいて、さらに下記の方法、すなわち、第2の基板の第
1の表面をリードの第2の表面に取付け、第2の基板の
第2の表面に第2のマスクを置き、該第2の基板の第2
の表面は第2の基板の第1の表面の反対側にあり、穴が
第2のマスクに形成され第2の基板の第1の表面の上に
レーザーエネルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表
面は第2の基板の第2の表面に対向した第2のマスクの
第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギが掃引さ
れるとレーザーエネルギが第2のマスクの穴を通りリー
ドに伸びている第2の基板の中にあるヴィアを形成する
ことによって形成される基板とリードの接続方法。
おいて、さらに下記の方法、すなわち、第2の基板の第
1の表面をリードの第2の表面に取付け、第2の基板の
第2の表面に第2のマスクを置き、該第2の基板の第2
の表面は第2の基板の第1の表面の反対側にあり、穴が
第2のマスクに形成され第2の基板の第1の表面の上に
レーザーエネルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表
面は第2の基板の第2の表面に対向した第2のマスクの
第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギが掃引さ
れるとレーザーエネルギが第2のマスクの穴を通りリー
ドに伸びている第2の基板の中にあるヴィアを形成する
ことによって形成される基板とリードの接続方法。
【0032】(請求項18) 第1の有機樹脂基板の第
1の表面をリードの第1の表面に取付け、非熱レーザー
から放射されたレーザーエネルギで第1の有機樹脂基板
の所望の位置にヴィアを形成することにより形成された
有機樹脂基板からリードに至るヴィアをもつ基板とリー
ドの接続方法。
1の表面をリードの第1の表面に取付け、非熱レーザー
から放射されたレーザーエネルギで第1の有機樹脂基板
の所望の位置にヴィアを形成することにより形成された
有機樹脂基板からリードに至るヴィアをもつ基板とリー
ドの接続方法。
【0033】(請求項19) 第2の層の第1の表面を
リードの第2の表面に取付け、非熱レーザーより放射さ
れるレーザーエネルギで第2の基板の所望の位置にヴィ
アを形成することをさらに含む請求項18の基板とリー
ドの接続方法。
リードの第2の表面に取付け、非熱レーザーより放射さ
れるレーザーエネルギで第2の基板の所望の位置にヴィ
アを形成することをさらに含む請求項18の基板とリー
ドの接続方法。
【0034】(請求項20) 各リードと第1の基板の
中あるいは上に取りつけられた導電部品との間に導電通
路が形成されるように、第1の基板の各ヴィアに導電物
質の層を設けることよりなる請求項18の基板とリード
の接続方法。
中あるいは上に取りつけられた導電部品との間に導電通
路が形成されるように、第1の基板の各ヴィアに導電物
質の層を設けることよりなる請求項18の基板とリード
の接続方法。
【0035】(請求項21) 非熱レーザーより放射さ
れるレーザーエネルギで第2の基板の所望の位置にヴィ
アを形成することにより形成される請求項18の基板と
リードの接続方法。
れるレーザーエネルギで第2の基板の所望の位置にヴィ
アを形成することにより形成される請求項18の基板と
リードの接続方法。
【0036】(請求項22) レーザーエネルギがエキ
シマレーザーによって放射される請求項18の基板とリ
ードの接続方法。
シマレーザーによって放射される請求項18の基板とリ
ードの接続方法。
【0037】(請求項23) 有機樹脂が熱硬化性樹脂
である請求項18の基板とリードの接続方法。
である請求項18の基板とリードの接続方法。
【0038】(請求項24) 熱硬化性樹脂がエポキシ
樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル
イミド樹脂またはポリシアヌレート樹脂からなる群から
選ばれた1である請求項23の基板とリードの接続方
法。
樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル
イミド樹脂またはポリシアヌレート樹脂からなる群から
選ばれた1である請求項23の基板とリードの接続方
法。
【0039】(請求項25) 熱硬化性樹脂がエポキシ
樹脂である請求項24の基板とリードの接続方法。
樹脂である請求項24の基板とリードの接続方法。
【0040】(請求項26) 有機樹脂が熱可塑性樹脂
である請求項18の基板とリードの接続方法。
である請求項18の基板とリードの接続方法。
【0041】(請求項27) 熱可塑性樹脂がポリエス
テル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリ
エーテルイミド樹脂またはポリカーボネート樹脂からな
る群から選ばれた1である請求項26の基板とリードの
接続方法。
テル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリ
エーテルイミド樹脂またはポリカーボネート樹脂からな
る群から選ばれた1である請求項26の基板とリードの
接続方法。
【0042】(請求項28) 基板にさらに補強材を含
む請求項18の基板とリードの接続方法。
む請求項18の基板とリードの接続方法。
【0043】(請求項29) 補強材が有機繊維である
請求項28の基板とリードの接続方法。
請求項28の基板とリードの接続方法。
【0044】(請求項30) 有機繊維がアラミド、ポ
リエステル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケト
ン、ポリイミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフ
ォンからなる群から選ばれた1種の繊維である請求項2
9の基板とリードの接続方法。
リエステル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケト
ン、ポリイミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフ
ォンからなる群から選ばれた1種の繊維である請求項2
9の基板とリードの接続方法。
【0045】(請求項31) 有機繊維がアラミド繊維
である請求項30の基板とリードの接続方法。
である請求項30の基板とリードの接続方法。
【0046】(請求項32) 補強材が無機繊維である
請求項28の基板とリードの接続方法。
請求項28の基板とリードの接続方法。
【0047】(請求項33) 第1の有機樹脂基板の第
1の表面をリードの第1の表面に取付け非熱レーザーか
ら放射されたレーザーエネルギで第1の有機樹脂基板の
所望の位置にヴィアを形成することからなる導電リード
に取りつけられた有機樹脂基板に電気的結合を形成する
方法。
1の表面をリードの第1の表面に取付け非熱レーザーか
ら放射されたレーザーエネルギで第1の有機樹脂基板の
所望の位置にヴィアを形成することからなる導電リード
に取りつけられた有機樹脂基板に電気的結合を形成する
方法。
【0048】(請求項34) 各リードと第1の基板の
中あるいは上に取りつけられた導電部品との間に導電通
路が形成されるように、第1の基板の各ヴィアに導電物
質の層を設けることをさらに含む請求項33の方法。
中あるいは上に取りつけられた導電部品との間に導電通
路が形成されるように、第1の基板の各ヴィアに導電物
質の層を設けることをさらに含む請求項33の方法。
【0049】(請求項35) レーザーエネルギがエキ
シマレーザーによって放射される請求項33の方法。
シマレーザーによって放射される請求項33の方法。
【0050】(請求項36) 有機樹脂が熱硬化性樹脂
である請求項33の方法。
である請求項33の方法。
【0051】(請求項37) 熱硬化性樹脂がエポキシ
樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル
イミド樹脂またはポリシアヌレート樹脂からなる群から
選ばれた1である請求項36の方法 。
樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル
イミド樹脂またはポリシアヌレート樹脂からなる群から
選ばれた1である請求項36の方法 。
【0052】(請求項38) 熱硬化性樹脂がエポキシ
樹脂である請求項37の方法。
樹脂である請求項37の方法。
【0053】(請求項39) 有機樹脂が熱可塑性樹脂
である請求項33の方法。
である請求項33の方法。
【0054】(請求項40) 熱可塑性樹脂がポリエス
テル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリ
エーテルイミド樹脂またはポリカーボネート樹脂からな
る群から選ばれた1である請求項39の方法。
テル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリ
エーテルイミド樹脂またはポリカーボネート樹脂からな
る群から選ばれた1である請求項39の方法。
【0055】(請求項41) 基板にさらに補強材を含
む請求項33の方法。
む請求項33の方法。
【0056】(請求項42) 補強材が有機繊維である
請求項41の方法。
請求項41の方法。
【0057】(請求項43) 有機繊維がアラミド、ポ
リエステル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケト
ン、ポリイミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフ
ォンからなる群から選ばれた1の繊維である請求項42
の方法。
リエステル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケト
ン、ポリイミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフ
ォンからなる群から選ばれた1の繊維である請求項42
の方法。
【0058】(請求項44) 有機繊維がアラミド繊維
である請求項43の方法。
である請求項43の方法。
【0059】(請求項45) 補強材が無機繊維である
請求項41の方法。
請求項41の方法。
【0060】(請求項46) 基板が有機物であり、レ
ーザーが非熱レーザーである請求項44の方法。
ーザーが非熱レーザーである請求項44の方法。
【0061】(請求項47) 導電リードに取りつけら
れた基板の中にヴィアを形成する方法であって、下記の
ステップすなわち、第1の基板の第1の表面をリードの
第1の表面に取付け、第1の基板の第2の表面の上に第
1のマスクを置き、第1の基板の第2の表面は第1の基
板の第1の表面の反対側にあり、穴が第1のマスクに形
成され、第1の基板の第1の表面の上にレーザーエネル
ギを掃引し、該第1のマスクの第1の表面は第1のマス
クの第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギ−が
掃引されるとレーザーエネルギ−が第1のマスクの穴を
通りリードに伸びている第1の基板の中にあるヴィアを
形成することからなる方法。
れた基板の中にヴィアを形成する方法であって、下記の
ステップすなわち、第1の基板の第1の表面をリードの
第1の表面に取付け、第1の基板の第2の表面の上に第
1のマスクを置き、第1の基板の第2の表面は第1の基
板の第1の表面の反対側にあり、穴が第1のマスクに形
成され、第1の基板の第1の表面の上にレーザーエネル
ギを掃引し、該第1のマスクの第1の表面は第1のマス
クの第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギ−が
掃引されるとレーザーエネルギ−が第1のマスクの穴を
通りリードに伸びている第1の基板の中にあるヴィアを
形成することからなる方法。
【0062】(請求項48) 第1の基板の中に、ある
いはその上に配置された各リードと導電部品との間に導
電通路が形成されるように、第1の基板にある各ヴィア
の中に導電物質の層を配置することをさらに含む請求項
47の方法。
いはその上に配置された各リードと導電部品との間に導
電通路が形成されるように、第1の基板にある各ヴィア
の中に導電物質の層を配置することをさらに含む請求項
47の方法。
【0063】(請求項49) 請求項47の方法におい
て、さらに下記の方法、すなわち、第2の基板の第1の
表面をリードの第2の表面に取付け、第2の基板の第2
の表面に第2のマスクを置き、該第2の基板の第2の表
面は第2の基板の第1の表面の反対側にあり、穴が第2
のマスクに形成され、第2のマスクの第1の表面の上に
レーザーエネルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表
面は第2の基板の第2の表面に対向した第2のマスクの
第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギが掃引さ
れるとレーザーエネルギが第2のマスクの穴を通りリー
ドに伸びている第2の基板の中にヴィアを形成する方
法。
て、さらに下記の方法、すなわち、第2の基板の第1の
表面をリードの第2の表面に取付け、第2の基板の第2
の表面に第2のマスクを置き、該第2の基板の第2の表
面は第2の基板の第1の表面の反対側にあり、穴が第2
のマスクに形成され、第2のマスクの第1の表面の上に
レーザーエネルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表
面は第2の基板の第2の表面に対向した第2のマスクの
第2の表面の反対側にあり、レーザーエネルギが掃引さ
れるとレーザーエネルギが第2のマスクの穴を通りリー
ドに伸びている第2の基板の中にヴィアを形成する方
法。
【0064】(請求項50) 第1のマスクの第2の表
面が第1の基板の第2の表面に接触しない請求項47の
方法。
面が第1の基板の第2の表面に接触しない請求項47の
方法。
【0065】(請求項51) 第1のマスクの第2の表
面が第1の基板の第2の表面に接触する請求項47の方
法。
面が第1の基板の第2の表面に接触する請求項47の方
法。
【0066】(請求項52) 第1のマスクが第1の基
板と一体化した請求項47の方法。
板と一体化した請求項47の方法。
【0067】(請求項53) 請求項47の方法であっ
て、レーザーエネルギが非熱レーザーから放射され、基
板の非導電部分が有機物からなる方法。
て、レーザーエネルギが非熱レーザーから放射され、基
板の非導電部分が有機物からなる方法。
【0068】本発明によれば基板内の導電部品とパッケ
ージの導電リードを結合するためのヴィアが形成された
多層基板を含む集積回路パッケージが得られる。
ージの導電リードを結合するためのヴィアが形成された
多層基板を含む集積回路パッケージが得られる。
【0069】ヴィアは本発明の方法により得られる。レ
ーザー光は穴のあいたマスクの表面にそって掃引され
る。レーザー光が掃引されるときレーザー光はマスクの
穴を通る。この穴を通ったレーザー光はマスクの下にあ
る基板の表面を攻撃しヴィアを形成する。リードは好ま
しくは基板の内部に積層されるか、またはレーザー光に
攻撃される面の反対側の基板に取付けられる。レーザー
光は基板にはヴィアを形成するがリードを貫通しない速
度で掃引され、またそのようなエネルギ・レベルに維持
される。
ーザー光は穴のあいたマスクの表面にそって掃引され
る。レーザー光が掃引されるときレーザー光はマスクの
穴を通る。この穴を通ったレーザー光はマスクの下にあ
る基板の表面を攻撃しヴィアを形成する。リードは好ま
しくは基板の内部に積層されるか、またはレーザー光に
攻撃される面の反対側の基板に取付けられる。レーザー
光は基板にはヴィアを形成するがリードを貫通しない速
度で掃引され、またそのようなエネルギ・レベルに維持
される。
【0070】本発明によればマスクは基板との関係にお
いていくつかの方法で配置される。本発明による一つの
方法ではマスクはレーザー処理すべき基板の表面に置か
れる。本発明による他の方法ではマスクはレーザー処理
すべき基板の表面に機械的圧力で保持される。さらに本
発明による他の方法ではマスクは基板と一体化される。
この方法においてもマスクはレーザー処理されるべき基
板の表面に接触される。しかしながら、このマスクは機
械的圧力で取りつけられるのではなく基板の表面に張り
つけられる。本発明によるこの方法ではマスクはヴィア
を形成されたあとも基板表面に残され後の工程で加工さ
れる。
いていくつかの方法で配置される。本発明による一つの
方法ではマスクはレーザー処理すべき基板の表面に置か
れる。本発明による他の方法ではマスクはレーザー処理
すべき基板の表面に機械的圧力で保持される。さらに本
発明による他の方法ではマスクは基板と一体化される。
この方法においてもマスクはレーザー処理されるべき基
板の表面に接触される。しかしながら、このマスクは機
械的圧力で取りつけられるのではなく基板の表面に張り
つけられる。本発明によるこの方法ではマスクはヴィア
を形成されたあとも基板表面に残され後の工程で加工さ
れる。
【0071】さらに本発明による集積回路パッケージを
作成するのに用いられるヴィアの他の形成法では回路ヴ
ィアが形成された多層板が得られる。これらの方法には
エッチングすなわち化学的な加工や基板をパッケージリ
ードに積層する前に穴あけしておく方法も含む。
作成するのに用いられるヴィアの他の形成法では回路ヴ
ィアが形成された多層板が得られる。これらの方法には
エッチングすなわち化学的な加工や基板をパッケージリ
ードに積層する前に穴あけしておく方法も含む。
【0072】本発明による方法は基板の外層とリードの
間、内層とリードの間および基板の2つの導電表面を結
合するのに用いることができる。本発明による方法はヴ
ィアの形は円形であってもよく、また長円の断面をもっ
ていてもよい。長円の断面形状は電気的接続の信頼性を
損なうことなく回路密度を増加させるという特徴があ
る。本発明によれば2つのヴィアを形成するより1つの
ヴィアを形成するため特に大きなヴィアを形成すること
もできる。本発明による方法では集積回路デバイスを配
置するためのキャビティーを形成することもできる。
間、内層とリードの間および基板の2つの導電表面を結
合するのに用いることができる。本発明による方法はヴ
ィアの形は円形であってもよく、また長円の断面をもっ
ていてもよい。長円の断面形状は電気的接続の信頼性を
損なうことなく回路密度を増加させるという特徴があ
る。本発明によれば2つのヴィアを形成するより1つの
ヴィアを形成するため特に大きなヴィアを形成すること
もできる。本発明による方法では集積回路デバイスを配
置するためのキャビティーを形成することもできる。
【0073】さらに本発明によれば基板は有機樹脂から
成っておりレーザーは好ましくは非熱レーザーである。
非熱レーザーは好ましくはエキシマ・レーザーである。
有機樹脂は好ましくは熱硬化性または熱可塑性である。
熱硬化性樹脂の中ではエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリアミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂またはポリシ
アヌレート樹脂を用いることができる。熱可塑性樹脂の
中ではポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリサルフ
ォン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂またはポリカーボネ
ート樹脂を用いることができる。エポキシ樹脂は特に好
ましい。樹脂は補強材(補強繊維など)を含んでいても
よい。この繊維は有機繊維(例えばアラミド、ポリエス
テル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリ
イミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフォン)ま
たはレーザーの透過を大きく阻害しない限り無機繊維
(例えばアルミナ、シリカ)であってもよい。
成っておりレーザーは好ましくは非熱レーザーである。
非熱レーザーは好ましくはエキシマ・レーザーである。
有機樹脂は好ましくは熱硬化性または熱可塑性である。
熱硬化性樹脂の中ではエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリアミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂またはポリシ
アヌレート樹脂を用いることができる。熱可塑性樹脂の
中ではポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリサルフ
ォン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂またはポリカーボネ
ート樹脂を用いることができる。エポキシ樹脂は特に好
ましい。樹脂は補強材(補強繊維など)を含んでいても
よい。この繊維は有機繊維(例えばアラミド、ポリエス
テル、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリ
イミド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフォン)ま
たはレーザーの透過を大きく阻害しない限り無機繊維
(例えばアルミナ、シリカ)であってもよい。
【0074】本発明によれば基板はリードの片側または
両側に形成されてもよい。もし基板がリードの両側に形
成されれば1基のレーザー光源がヴィア構造を形成する
のに用いられてもよく(ヴィアの形成はまず基板の片面
で起こり、後に他の面で起こる。)、または2つのレー
ザー光源がヴィアを形成するのに用いられてもよい(こ
の場合には基板内には同時に形成される。)。
両側に形成されてもよい。もし基板がリードの両側に形
成されれば1基のレーザー光源がヴィア構造を形成する
のに用いられてもよく(ヴィアの形成はまず基板の片面
で起こり、後に他の面で起こる。)、または2つのレー
ザー光源がヴィアを形成するのに用いられてもよい(こ
の場合には基板内には同時に形成される。)。
【0075】電気的接触を作ることが所望される基板上
または基板内の特定のリード間で電気的接続を確立する
ためヴィアが基板に形成されたあと、このヴィアは導電
物質でコーティングされる(方法は電解銅めっき、無電
解銅めっき、導電物質の印刷または充填)。ヴィアへの
導電物質のコーティングは2個以上の接触点を確立する
ためになされてもよい。
または基板内の特定のリード間で電気的接続を確立する
ためヴィアが基板に形成されたあと、このヴィアは導電
物質でコーティングされる(方法は電解銅めっき、無電
解銅めっき、導電物質の印刷または充填)。ヴィアへの
導電物質のコーティングは2個以上の接触点を確立する
ためになされてもよい。
【0076】本発明による方法は基板内に一度に多くの
ヴィアを形成することができるので従来の方法より速
い。さらに機械的ドリルより小さな、または近接した穴
を形成することができるので高いヴィア密度を達成でき
る。さらに非熱レーザーが用いられるときにはヴィア形
成途中の基板の過熱を避けることができる。最後に本発
明による方法はヴィア形成速度が早く不用な物質を取り
除く必要をなくすため熱レーザーで形成するより安価で
ある。
ヴィアを形成することができるので従来の方法より速
い。さらに機械的ドリルより小さな、または近接した穴
を形成することができるので高いヴィア密度を達成でき
る。さらに非熱レーザーが用いられるときにはヴィア形
成途中の基板の過熱を避けることができる。最後に本発
明による方法はヴィア形成速度が早く不用な物質を取り
除く必要をなくすため熱レーザーで形成するより安価で
ある。
【0077】本発明による有機物からなるリードと基板
の接続方法は生産コストが安い。これは有機物のコスト
が無機物にくらべて相対的に安いこととレーザーの透過
が有機物ではたやすいからである。基板の両面にリード
をもつリードと基板の組合せは片方のみにリードをもつ
組合せより高いヴィア密度を達成することができる。
の接続方法は生産コストが安い。これは有機物のコスト
が無機物にくらべて相対的に安いこととレーザーの透過
が有機物ではたやすいからである。基板の両面にリード
をもつリードと基板の組合せは片方のみにリードをもつ
組合せより高いヴィア密度を達成することができる。
【0078】本発明を図面により以下に説明する。図1
はリードと多層板の組合せの断面図である。ここではヴ
ィアは多層板とリードとを結合しリードと基板の内層と
を結合し、さらに基板の内層2層を結合するために形成
されている。
はリードと多層板の組合せの断面図である。ここではヴ
ィアは多層板とリードとを結合しリードと基板の内層と
を結合し、さらに基板の内層2層を結合するために形成
されている。
【0079】図2はリードと多層板の組合せの断面図で
ある。ここではヴィアはマスク・イメージング技術によ
って基板の層を通して形成される。
ある。ここではヴィアはマスク・イメージング技術によ
って基板の層を通して形成される。
【0080】図3はリードと多層板の他の組合せの断面
図である。ここではヴィアはコンタクト・マスク技術に
よって基板の層を通して形成される。
図である。ここではヴィアはコンタクト・マスク技術に
よって基板の層を通して形成される。
【0081】図4はリードと多層板の更に他の組合せの
断面図である。ここではヴィアはコンフォーマル・マス
ク技術によって基板の層を通して形成される。
断面図である。ここではヴィアはコンフォーマル・マス
ク技術によって基板の層を通して形成される。
【0082】図5は本発明の他の態様の断面図である。
ここでは集積回路チップがリードと基板の組合せの空洞
の中にチップが配置されている。
ここでは集積回路チップがリードと基板の組合せの空洞
の中にチップが配置されている。
【0083】図6A〜6Cは本発明の他の態様の断面図
である。ここではリードと、リードと多層板の組合せの
内部基板層の導電部分との電気的接続が単一のヴィアの
形成によりなされている。
である。ここではリードと、リードと多層板の組合せの
内部基板層の導電部分との電気的接続が単一のヴィアの
形成によりなされている。
【0084】図7は本発明のリードと多層板の組合せの
他の態様の断面図である。ここではヴィアは長い断面形
状をもっている。以下に発明の好ましい実施態様につい
て図面により詳細に説明する。
他の態様の断面図である。ここではヴィアは長い断面形
状をもっている。以下に発明の好ましい実施態様につい
て図面により詳細に説明する。
【0085】図1はリードと多層板の組合せ100の断
面図である。ここではヴィア105が多層基板102、
103とリード101とを、リード101と基板102
の内層110とを、さらに2つの内層110、111と
基板102、103とを接続するために形成されてい
る。ヴィア105は本発明による方法により形成され例
えばリード101と基板102の外層、例えば102A
に沿ってヴィア105から集積回路の接続パッド112
に向かって延びるトレース107とを電気的に接続す
る。集積回路120はボンディングワイヤー114によ
ってボンドパッド113と接続パッド112とを接続す
る。これにより集積回路120とパッケージの外部とが
リード101により接続される。
面図である。ここではヴィア105が多層基板102、
103とリード101とを、リード101と基板102
の内層110とを、さらに2つの内層110、111と
基板102、103とを接続するために形成されてい
る。ヴィア105は本発明による方法により形成され例
えばリード101と基板102の外層、例えば102A
に沿ってヴィア105から集積回路の接続パッド112
に向かって延びるトレース107とを電気的に接続す
る。集積回路120はボンディングワイヤー114によ
ってボンドパッド113と接続パッド112とを接続す
る。これにより集積回路120とパッケージの外部とが
リード101により接続される。
【0086】示された組合せ100はリード101の両
側に取りつけられた基板102、103をもち基板10
2、103は例えば110、111のような多層をもっ
ているが本発明は基板がリードの片側のみに形成される
組合せおよび/または基板1層のみをもつリードと基板
の組合せ等を包含すると理解すべきである。
側に取りつけられた基板102、103をもち基板10
2、103は例えば110、111のような多層をもっ
ているが本発明は基板がリードの片側のみに形成される
組合せおよび/または基板1層のみをもつリードと基板
の組合せ等を包含すると理解すべきである。
【0087】多層基板102、103の各層、例えば1
10は誘電物質の層と『電子的』層からなる。この『電
子的』層は導電通路および/または電子的結合を含む。
図1に示されたようにヴィア105は各基板102、1
03の層104の1つ以上にまたがって形成することが
できる。しかし、このヴィアはリード101を貫通しな
い。これはヴィア105がリード101との電気的結合
を所望される電気的層の一つの場所を横切るからであ
る。
10は誘電物質の層と『電子的』層からなる。この『電
子的』層は導電通路および/または電子的結合を含む。
図1に示されたようにヴィア105は各基板102、1
03の層104の1つ以上にまたがって形成することが
できる。しかし、このヴィアはリード101を貫通しな
い。これはヴィア105がリード101との電気的結合
を所望される電気的層の一つの場所を横切るからであ
る。
【0088】ヴィア105は導電トレース107とリー
ド101aとを結合するのに用いられる。ヴィア105
b、105c、105dは基板102、103の種々の
層の導電部分を基板102、103の他の導電部分に結
合するのに用いられる。導電めっき108(例えば銅)
は各ヴィア105の内部の表面を覆う。
ド101aとを結合するのに用いられる。ヴィア105
b、105c、105dは基板102、103の種々の
層の導電部分を基板102、103の他の導電部分に結
合するのに用いられる。導電めっき108(例えば銅)
は各ヴィア105の内部の表面を覆う。
【0089】図2はリードと多層板の組合せ100の基
板102、103にヴィア105を形成するための本発
明による一つの方法、マスクイメージング技術を示す断
面図である。この方法は基板102とリード101との
間のヴィア105の形成についてのみ表しているが同様
の方法が基板103の中のヴィアの形成にも用いられる
と理解すべきである。マスク102は基板102の中の
ヴィア105の形成が所望される位置に穴202が形成
されるようにパターニングされる(ヴィア105は図2
には示されているが、この段階ではもちろん基板102
にある訳ではない。さらに導電トレース107もこの段
階ではある訳ではない。しかしながらこれらはヴィア1
05が表面の導電回路102aとリード101とを結合
するために特定の位置に形成されることを示すために図
示されている。)。マスク201は基板102の最表面
102aの上に(図2には示されていない種々の公知の
機構によって)置かれる。
板102、103にヴィア105を形成するための本発
明による一つの方法、マスクイメージング技術を示す断
面図である。この方法は基板102とリード101との
間のヴィア105の形成についてのみ表しているが同様
の方法が基板103の中のヴィアの形成にも用いられる
と理解すべきである。マスク102は基板102の中の
ヴィア105の形成が所望される位置に穴202が形成
されるようにパターニングされる(ヴィア105は図2
には示されているが、この段階ではもちろん基板102
にある訳ではない。さらに導電トレース107もこの段
階ではある訳ではない。しかしながらこれらはヴィア1
05が表面の導電回路102aとリード101とを結合
するために特定の位置に形成されることを示すために図
示されている。)。マスク201は基板102の最表面
102aの上に(図2には示されていない種々の公知の
機構によって)置かれる。
【0090】レーザーエネルギ源210はレーザーエネ
ルギ211を放射しレンズ212で集光されてレーザー
シート213を形成する。基板102の周辺の外側のマ
スク201の一辺201aから始めてレーザーシート2
13はマスク201の全表面201bを通過する。この
結果、シート213はマスクの反対側201aを越えた
位置に達する。レーザーシート213がマスク表面20
1bの上を掃引されるとレーザーシート213は穴20
2を通過するようになる。穴202を通過するレーザー
エネルギ(図には示されていない)は基板表面102a
を攻撃し基板102の層104を切りとりリード101
に達する。
ルギ211を放射しレンズ212で集光されてレーザー
シート213を形成する。基板102の周辺の外側のマ
スク201の一辺201aから始めてレーザーシート2
13はマスク201の全表面201bを通過する。この
結果、シート213はマスクの反対側201aを越えた
位置に達する。レーザーシート213がマスク表面20
1bの上を掃引されるとレーザーシート213は穴20
2を通過するようになる。穴202を通過するレーザー
エネルギ(図には示されていない)は基板表面102a
を攻撃し基板102の層104を切りとりリード101
に達する。
【0091】レーザーエネルギは層104を切り取るが
リード101は切り取らない。さらにレーザーエネルギ
は層104の中の誘電層(すなわち誘電層104と電子
的層104の誘電部分)のみを切り取る。このようにし
て穴202を通過するレーザーの通路にある電子的層1
04の金属部分が存在するところにはレーザーエネルギ
はこの金属部分を切り取らないで基板102の中の切り
取られたヴィア105は金属部分のみに至りリード10
1に達する。レーザーエネルギはレーザーの強さを調整
することにより誘電層104と基板102の電子的層1
04の誘電層を貫通するがリード101または電子的層
104の金属部分を貫通することは妨げられる。ここで
強さとはレーザーエネルギが与えられる時間と付与され
る間のレーザー強度の組合せを表している。リード10
1の金属物質と電子的層104の金属部分は基板層10
4の誘電物質より密度が高いためレーザーの強さは基板
102を貫通するには十分な強度かつ十分な時間で穴あ
けするがリード101または電子的層の部分104を貫
通しないよう調整することができる。
リード101は切り取らない。さらにレーザーエネルギ
は層104の中の誘電層(すなわち誘電層104と電子
的層104の誘電部分)のみを切り取る。このようにし
て穴202を通過するレーザーの通路にある電子的層1
04の金属部分が存在するところにはレーザーエネルギ
はこの金属部分を切り取らないで基板102の中の切り
取られたヴィア105は金属部分のみに至りリード10
1に達する。レーザーエネルギはレーザーの強さを調整
することにより誘電層104と基板102の電子的層1
04の誘電層を貫通するがリード101または電子的層
104の金属部分を貫通することは妨げられる。ここで
強さとはレーザーエネルギが与えられる時間と付与され
る間のレーザー強度の組合せを表している。リード10
1の金属物質と電子的層104の金属部分は基板層10
4の誘電物質より密度が高いためレーザーの強さは基板
102を貫通するには十分な強度かつ十分な時間で穴あ
けするがリード101または電子的層の部分104を貫
通しないよう調整することができる。
【0092】ヴィア105の形成後、レーザーエネルギ
源とマスク210は取り除かれる。導電回路はその後基
板102の表面102aにアディティブ法を用いること
によって形成されてもよい。
源とマスク210は取り除かれる。導電回路はその後基
板102の表面102aにアディティブ法を用いること
によって形成されてもよい。
【0093】マスクイメージング法は後に述べる他の技
術にくらべて次のような特徴がある。すなわち、この方
法では基板表面102aに対するマスク201の位置を
変えることによって穴202を通過するレーザーエネル
ギがより大きな、またはより小さなヴィア105を形成
するように変更することができる。この技術はまた多く
の基板102のヴィア105を形成するようにマスク2
01の再利用を可能にする。
術にくらべて次のような特徴がある。すなわち、この方
法では基板表面102aに対するマスク201の位置を
変えることによって穴202を通過するレーザーエネル
ギがより大きな、またはより小さなヴィア105を形成
するように変更することができる。この技術はまた多く
の基板102のヴィア105を形成するようにマスク2
01の再利用を可能にする。
【0094】図3は他の方法すなわちリードと多層板の
組合せ102の基板内にヴィア105(この図では見え
ない。図1、図2を参照。)を形成するためのコンタク
ト・マスク法を示す断面図である。コンタクト・マスク
301は基板102の表面(この図では見えない。)に
直接または近接して取付けられる。マスクイメージング
法と同様にヴィア105を形成することが所望される位
置にマスク301の中に穴302が形成される。前述の
ようにマスク301は固定されレーザーシート213が
マスク301にそって掃引される。これにより基板10
2に穴105が形成される。もう一度レーザーは基板層
104は切り取るがリード104は切り取らない。マス
クイメージング法と同様にヴィア105の形成後、アデ
ィティブプロセス法によって導電回路が基板102の表
面102aに形成されてもよい。
組合せ102の基板内にヴィア105(この図では見え
ない。図1、図2を参照。)を形成するためのコンタク
ト・マスク法を示す断面図である。コンタクト・マスク
301は基板102の表面(この図では見えない。)に
直接または近接して取付けられる。マスクイメージング
法と同様にヴィア105を形成することが所望される位
置にマスク301の中に穴302が形成される。前述の
ようにマスク301は固定されレーザーシート213が
マスク301にそって掃引される。これにより基板10
2に穴105が形成される。もう一度レーザーは基板層
104は切り取るがリード104は切り取らない。マス
クイメージング法と同様にヴィア105の形成後、アデ
ィティブプロセス法によって導電回路が基板102の表
面102aに形成されてもよい。
【0095】マスクイメージング法と同様にコンタクト
マスク法ではマスク301が多くの基板102内にヴィ
ア105を形成するために用いられるようにマスク30
1は製造中にあるリードと基板の組合せ100から他の
組合せ100へと移動することができる。このようにし
て以下に述べるコンフォーマルマスク法と同様にヴィア
が形成されるべき各基板102の上にマスク301を繰
り返して形成する必要はない。コンタクトマスク技術に
ともなう主要な問題はレーザーエネルギを付与している
間、基板表面102aにマスクを近接しつづけることで
ある。
マスク法ではマスク301が多くの基板102内にヴィ
ア105を形成するために用いられるようにマスク30
1は製造中にあるリードと基板の組合せ100から他の
組合せ100へと移動することができる。このようにし
て以下に述べるコンフォーマルマスク法と同様にヴィア
が形成されるべき各基板102の上にマスク301を繰
り返して形成する必要はない。コンタクトマスク技術に
ともなう主要な問題はレーザーエネルギを付与している
間、基板表面102aにマスクを近接しつづけることで
ある。
【0096】図4は他の方法を示す断面図である。ここ
ではリードと多層板の組合せ100の中にヴィア105
を形成するためコンフォーマルマスク法が使われる。マ
スクイメージング法やコンタクトマスク法と異なりコン
フォーマルマスク技術におけるマスク401は分離した
工具ではなく基板102の一部として形成される。ここ
でコンタクトマスクとはマスク301が基板102の表
面102aに機械的圧力で配置されたものをいいコンフ
ォーマルマスクとは基板102の表面102aに固定さ
れ、または作りこまれたマスク401をいう。
ではリードと多層板の組合せ100の中にヴィア105
を形成するためコンフォーマルマスク法が使われる。マ
スクイメージング法やコンタクトマスク法と異なりコン
フォーマルマスク技術におけるマスク401は分離した
工具ではなく基板102の一部として形成される。ここ
でコンタクトマスクとはマスク301が基板102の表
面102aに機械的圧力で配置されたものをいいコンフ
ォーマルマスクとは基板102の表面102aに固定さ
れ、または作りこまれたマスク401をいう。
【0097】コンフォーマルマスク401は粘性液体を
用いて基板表面102aにスピンまたはスプレーコーテ
ィング法で形成されてもよい。あるいはマスク401は
金属材料を基板102に張って形成してもよい。マスク
401を基板表面102aに接着したあとマスク401
はマスク401の中の穴402がパターニングされる。
用いて基板表面102aにスピンまたはスプレーコーテ
ィング法で形成されてもよい。あるいはマスク401は
金属材料を基板102に張って形成してもよい。マスク
401を基板表面102aに接着したあとマスク401
はマスク401の中の穴402がパターニングされる。
【0098】いったんヴィア105が形成されるとコン
フォーマルマスク401は取り除かれるか、あるいは表
面102aの上に残される。コンフォーマルマスク40
1は導電材料でできていてヴィア105を形成したあと
導電回路を作るため残されていてもよい。このようにし
てコンフォーマルマスク技術は他の2つの技術にくらべ
て基板102の上にすでに作られたマスクを利用して所
望の電気回路を作ることができるため好ましい。さもな
ければこの電気回路は基板102aの上にあとで形成す
る必要がある。
フォーマルマスク401は取り除かれるか、あるいは表
面102aの上に残される。コンフォーマルマスク40
1は導電材料でできていてヴィア105を形成したあと
導電回路を作るため残されていてもよい。このようにし
てコンフォーマルマスク技術は他の2つの技術にくらべ
て基板102の上にすでに作られたマスクを利用して所
望の電気回路を作ることができるため好ましい。さもな
ければこの電気回路は基板102aの上にあとで形成す
る必要がある。
【0099】上記の技術ではマスク(201、301ま
たは401)はたとえばリード101の一方に取りつけ
た基板102にヴィア105を形成するためレーザーシ
ート213とともに用いられる。レーザーエネルギ源2
10はレーザーエネルギが基板102を貫通するがリー
ド101を貫通しないように適当な強さ(基板102を
形成するのに用いられた材料の特性によって決まる。)
に設定される。レーザーシート213はマスク(20
1、301または401)内の多くの穴(202、30
2または402)を横切って掃引されるため多くのヴィ
ア105が基板102の中に素早く形成される。これに
対して前述のように単一のヴィア105を形成するため
にレーザーを用いると一度に1個のヴィアしか形成でき
ない。さらにレーザーエネルギ源210は各ヴィア10
5を形成する前により正確に位置を合わせなければなら
ない。このようにレーザーシート213を掃引してヴィ
ア105を形成することはヴィア105を1つのレーザ
ービームで一度に形成する前述の方法にくらべてはるか
に速い。
たは401)はたとえばリード101の一方に取りつけ
た基板102にヴィア105を形成するためレーザーシ
ート213とともに用いられる。レーザーエネルギ源2
10はレーザーエネルギが基板102を貫通するがリー
ド101を貫通しないように適当な強さ(基板102を
形成するのに用いられた材料の特性によって決まる。)
に設定される。レーザーシート213はマスク(20
1、301または401)内の多くの穴(202、30
2または402)を横切って掃引されるため多くのヴィ
ア105が基板102の中に素早く形成される。これに
対して前述のように単一のヴィア105を形成するため
にレーザーを用いると一度に1個のヴィアしか形成でき
ない。さらにレーザーエネルギ源210は各ヴィア10
5を形成する前により正確に位置を合わせなければなら
ない。このようにレーザーシート213を掃引してヴィ
ア105を形成することはヴィア105を1つのレーザ
ービームで一度に形成する前述の方法にくらべてはるか
に速い。
【0100】図2−4に示したように基板102、10
3はリード101の両側に取りつけられる。基板103
内のヴィア105の形成は基板102について述べたと
同様の方法で行われる。ヴィア105は基板102、1
03の中で順次(この場合にはマスクは1つしか要らな
いが、もし生産のことを考えて好ましいと思えば2個使
ってもよい)または同時(この場合には2つのマスクが
必要)に形成される。さらに、これまで述べた実施態様
ではヴィア105は基板102、103がリード101
に取りつけられたあと形成されるがヴィア105はその
代わりに基板102、103をリード101に取りつけ
る前に形成されてもよい。あるいは本発明による集積回
路パッケージを作るのに他のヴィア形成が用いられても
よい。例えば多層基板の中でヴィアが形成されるなどで
ある。これらはエッチング、化学的穴あけおよび基板の
パッケージリードに取りつける前に穴をあけておくなど
である。
3はリード101の両側に取りつけられる。基板103
内のヴィア105の形成は基板102について述べたと
同様の方法で行われる。ヴィア105は基板102、1
03の中で順次(この場合にはマスクは1つしか要らな
いが、もし生産のことを考えて好ましいと思えば2個使
ってもよい)または同時(この場合には2つのマスクが
必要)に形成される。さらに、これまで述べた実施態様
ではヴィア105は基板102、103がリード101
に取りつけられたあと形成されるがヴィア105はその
代わりに基板102、103をリード101に取りつけ
る前に形成されてもよい。あるいは本発明による集積回
路パッケージを作るのに他のヴィア形成が用いられても
よい。例えば多層基板の中でヴィアが形成されるなどで
ある。これらはエッチング、化学的穴あけおよび基板の
パッケージリードに取りつける前に穴をあけておくなど
である。
【0101】図5は本発明の他の実施態様を示す断面図
である。ここでは集積回路チップ510a、510bが
それぞれ空洞511a、511bに配置されている。空
洞はリードと基板の組合せ500の基板502内に形成
されている。このような配置は接地や直流電圧を供給し
たりチップからの放熱を付与したりパッケージの大きさ
を低減したり集積回路と他の部品のより親密なグループ
を形成したり集積回路からの信号伝送距離を低減したり
する手段として好ましい。集積回路チップ510a、5
10bは基板502に取りつけられる。集積回路チップ
510a、510bと基板502の表面502aに形成
された導電トレース507との電気的結合は集積回路チ
ップ510aの上に形成されたボンディングパッド50
4と基板502aに形成されたボンディングパッド50
5との間のボンディングワイヤー506でなされる。チ
ップは導電性の裏面をもっていてもよく、この裏面は空
洞の導電性の床に電気的に結合してもよい。
である。ここでは集積回路チップ510a、510bが
それぞれ空洞511a、511bに配置されている。空
洞はリードと基板の組合せ500の基板502内に形成
されている。このような配置は接地や直流電圧を供給し
たりチップからの放熱を付与したりパッケージの大きさ
を低減したり集積回路と他の部品のより親密なグループ
を形成したり集積回路からの信号伝送距離を低減したり
する手段として好ましい。集積回路チップ510a、5
10bは基板502に取りつけられる。集積回路チップ
510a、510bと基板502の表面502aに形成
された導電トレース507との電気的結合は集積回路チ
ップ510aの上に形成されたボンディングパッド50
4と基板502aに形成されたボンディングパッド50
5との間のボンディングワイヤー506でなされる。チ
ップは導電性の裏面をもっていてもよく、この裏面は空
洞の導電性の床に電気的に結合してもよい。
【0102】空洞511a、511bは図2−4に関し
て述べた方法のいずれかによって形成される。空洞51
1a、511bを形成するためマスク(201、301
または401)はヴィア105を形成するのに用いられ
るより大きな開口部(202、302または402)で
パターンニングされる。この空洞を形成するためレーザ
ーの使用が好ましい。これはこれまで用いられてきた機
械加工に伴う交差の問題を解決するからである(例えば
空洞の深さ、角の曲率半径、X−Yの交差、近辺の損傷
など。)。
て述べた方法のいずれかによって形成される。空洞51
1a、511bを形成するためマスク(201、301
または401)はヴィア105を形成するのに用いられ
るより大きな開口部(202、302または402)で
パターンニングされる。この空洞を形成するためレーザ
ーの使用が好ましい。これはこれまで用いられてきた機
械加工に伴う交差の問題を解決するからである(例えば
空洞の深さ、角の曲率半径、X−Yの交差、近辺の損傷
など。)。
【0103】図6A−6Cは本発明の他の実施態様を示
す断面図である。ここでは一連のリード601の一つの
リード601aとリードと多層基板の組合せ600の内
側の基板層604の導電部分610の間の電気的結合が
図1におけるヴィア105aや105bで示されたよう
な2つのヴィアではなく単一のヴィア605でなされて
いる。導電めっき材料608はリード601aと部分6
10を結合する。ヴィア605は図2−4に関して述べ
た方法のいずれかによって形成される。ヴィア605を
形成するために必要なマスク(201、301または4
01)の中のこの穴(202、302または402)は
ヴィア105を形成するのに用いられる穴より幾分大き
い。
す断面図である。ここでは一連のリード601の一つの
リード601aとリードと多層基板の組合せ600の内
側の基板層604の導電部分610の間の電気的結合が
図1におけるヴィア105aや105bで示されたよう
な2つのヴィアではなく単一のヴィア605でなされて
いる。導電めっき材料608はリード601aと部分6
10を結合する。ヴィア605は図2−4に関して述べ
た方法のいずれかによって形成される。ヴィア605を
形成するために必要なマスク(201、301または4
01)の中のこの穴(202、302または402)は
ヴィア105を形成するのに用いられる穴より幾分大き
い。
【0104】図7は本発明の他の実施態様によるリード
と多層基板の組合せを示す断面図700である。この態
様は図1に示したものに似ている。異なる点は図1で示
したヴィア105の丸い形ではなく長い断面をもってい
ることである。ヴィアはマスク(201、301または
401)内の穴(202、302または402)の形を
適当に変えて図2−4の方法のいずれかによって形成さ
れる。
と多層基板の組合せを示す断面図700である。この態
様は図1に示したものに似ている。異なる点は図1で示
したヴィア105の丸い形ではなく長い断面をもってい
ることである。ヴィアはマスク(201、301または
401)内の穴(202、302または402)の形を
適当に変えて図2−4の方法のいずれかによって形成さ
れる。
【0105】ヴィアの表面積が増えるにともないヴィア
の電気抵抗とインダクタンスは減り電気的結合の信頼性
は増える。ヴィア705は基板702の辺にそった方向
では小さな寸法を示しているが表面積は同じであるため
ヴィア705はヴィア105にくらべて同じ抵抗、イン
ダクタンス、信頼性をもちながらヴィア705の高い密
度を達成することができる。あるいは密度が同じであれ
ばヴィア705はヴィア105にくらべて優れた電気抵
抗、インダクタンス、信頼性をもつ。
の電気抵抗とインダクタンスは減り電気的結合の信頼性
は増える。ヴィア705は基板702の辺にそった方向
では小さな寸法を示しているが表面積は同じであるため
ヴィア705はヴィア105にくらべて同じ抵抗、イン
ダクタンス、信頼性をもちながらヴィア705の高い密
度を達成することができる。あるいは密度が同じであれ
ばヴィア705はヴィア105にくらべて優れた電気抵
抗、インダクタンス、信頼性をもつ。
【0106】基板102の誘電層104を形成するため
好ましくは有機物(例えば熱硬化性樹脂または熱可塑性
樹脂)が有機繊維補強材(例えばアラミド繊維)ととも
に用いられる。好ましい一つの理由は有機繊維は無機繊
維(例えばガラスやセラミック)にくらべて安価である
ことである。二番目の理由は有機物は無機物にくらべて
より早く、またたやすくレーザーを透過するからであ
る。最後に有機物は無機物にくらべて誘電特性が優れて
いる。
好ましくは有機物(例えば熱硬化性樹脂または熱可塑性
樹脂)が有機繊維補強材(例えばアラミド繊維)ととも
に用いられる。好ましい一つの理由は有機繊維は無機繊
維(例えばガラスやセラミック)にくらべて安価である
ことである。二番目の理由は有機物は無機物にくらべて
より早く、またたやすくレーザーを透過するからであ
る。最後に有機物は無機物にくらべて誘電特性が優れて
いる。
【0107】前に述べたとおり熱レーザーは基板にヴィ
アを形成するために用いられてきた。しかしながら誘電
層104が有機物で形成されているとき熱レーザーの使
用は誘電解重合、炭化あるいは表面溶融のような好まし
くない副作用を生じた。これらの問題のため熱レーザー
の使用を計るためにはさらに高価なセラミックやガラス
基板を用いることが必要であった。あるいは有機基板の
使用が望まれる場合は機械ドリルを実施する必要があっ
た。
アを形成するために用いられてきた。しかしながら誘電
層104が有機物で形成されているとき熱レーザーの使
用は誘電解重合、炭化あるいは表面溶融のような好まし
くない副作用を生じた。これらの問題のため熱レーザー
の使用を計るためにはさらに高価なセラミックやガラス
基板を用いることが必要であった。あるいは有機基板の
使用が望まれる場合は機械ドリルを実施する必要があっ
た。
【0108】本発明の一つの実施態様では基板の誘電部
分は有機物からなる。基板の中のヴィアは非熱レーザー
(例えばエキシマレーザー)で形成される。このように
して熱レーザーや機械ドリルの弊害が避けられる。
分は有機物からなる。基板の中のヴィアは非熱レーザー
(例えばエキシマレーザー)で形成される。このように
して熱レーザーや機械ドリルの弊害が避けられる。
【0109】有機物であればいかなる熱硬化性樹脂や熱
可塑性樹脂でも基板の非導電部分を形成するのに用いる
ことができる。熱硬化性樹脂は好ましくは以下の群から
選ばれる。すなわちエポキシ、ポリイミド、ポリアミ
ド、ポリエーテルイミドまたはポリシアヌレートであ
る。熱可塑性樹脂は好ましくは以下の群から選ばれる。
すなわちポリエステル、ポリアミド、ポリスルフォン、
ポリエーテルイミド、ポリカーボネートである。
可塑性樹脂でも基板の非導電部分を形成するのに用いる
ことができる。熱硬化性樹脂は好ましくは以下の群から
選ばれる。すなわちエポキシ、ポリイミド、ポリアミ
ド、ポリエーテルイミドまたはポリシアヌレートであ
る。熱可塑性樹脂は好ましくは以下の群から選ばれる。
すなわちポリエステル、ポリアミド、ポリスルフォン、
ポリエーテルイミド、ポリカーボネートである。
【0110】有機補強繊維を有機樹脂の中に使用しても
よい。使用できる繊維はアラミド、ポリエステル、ポリ
アミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリイミド、ポ
リエーテルイミドまたはポリスルフォンを含む。この繊
維は充填材がレーザーの貫通を妨げない限り内部に無機
充填材を含んでいてもよい。アラミド繊維はプリント回
路板に容易に用いることができるので好ましく用いられ
る。この繊維の例としてポリ(パラフェニレンテレフタ
ラミド)とコポリ(パラフェニレン/3,4’−ジフェ
ニルエーテルテレフタラミド)を挙げることができる。
特に後者の繊維はイオン含有量という意味で高い純度を
もつ。
よい。使用できる繊維はアラミド、ポリエステル、ポリ
アミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリイミド、ポ
リエーテルイミドまたはポリスルフォンを含む。この繊
維は充填材がレーザーの貫通を妨げない限り内部に無機
充填材を含んでいてもよい。アラミド繊維はプリント回
路板に容易に用いることができるので好ましく用いられ
る。この繊維の例としてポリ(パラフェニレンテレフタ
ラミド)とコポリ(パラフェニレン/3,4’−ジフェ
ニルエーテルテレフタラミド)を挙げることができる。
特に後者の繊維はイオン含有量という意味で高い純度を
もつ。
【0111】繊維補強材は織物、不織布、紙の形で使用
できる。紙補強材は表面平滑性が高く、このため半導体
チップを容易に搭載できるので好ましく用いられる。
できる。紙補強材は表面平滑性が高く、このため半導体
チップを容易に搭載できるので好ましく用いられる。
【0112】有機基板は積層板、配線板またはリードを
含む樹脂コーティングであってもよい。もし基板が樹脂
コーティングでできているときは回路はあとで樹脂の上
に形成することができる。配線板または積層板はリード
と張り合わせる前にエッチングしてもよいしエッチング
したあとリードと張り合わせてもよい。配線板または積
層板は接着剤でリードと張り合わせてもよく、またはプ
リプレグ(すなわちBステージのエポキシ)と重ね合わ
せてプレス・キュアしてもよい。
含む樹脂コーティングであってもよい。もし基板が樹脂
コーティングでできているときは回路はあとで樹脂の上
に形成することができる。配線板または積層板はリード
と張り合わせる前にエッチングしてもよいしエッチング
したあとリードと張り合わせてもよい。配線板または積
層板は接着剤でリードと張り合わせてもよく、またはプ
リプレグ(すなわちBステージのエポキシ)と重ね合わ
せてプレス・キュアしてもよい。
【0113】基板の表面層はパターン・エッチングされ
プリント回路板となる。これは上記のように基板が構造
化する前であっても後であってもよい。もしコンフォー
マル・マスク技術を用いるならマスクはヴィア構造の形
成後まで残されプリント回路はマスクの露光された面の
上に形成される。パッケージリードの個々の半導体チッ
プおよび他のディスクリート部品の配線はワイヤーボン
ディング、テープオートメイテッドボンディング(TA
B)、フリップチップあるいは他のボンディング技術を
用いて行われる。
プリント回路板となる。これは上記のように基板が構造
化する前であっても後であってもよい。もしコンフォー
マル・マスク技術を用いるならマスクはヴィア構造の形
成後まで残されプリント回路はマスクの露光された面の
上に形成される。パッケージリードの個々の半導体チッ
プおよび他のディスクリート部品の配線はワイヤーボン
ディング、テープオートメイテッドボンディング(TA
B)、フリップチップあるいは他のボンディング技術を
用いて行われる。
【0114】基板がリードに搭載されたあとヴィアが形
成され導電性のめっきが施され集積回路チップおよび/
または他の部品が取り付けられ電気的に接続される。こ
の部品はさらにモールド樹脂(例えばエポキシ、ポリイ
ミド、ポリビスマレイミド)で封止され完成した集積回
路パッケージに仕上げられる。完成したパッケージでは
リードの外周部は封止材の外側に露出して残され他の電
気部品との電気的接続とされる。
成され導電性のめっきが施され集積回路チップおよび/
または他の部品が取り付けられ電気的に接続される。こ
の部品はさらにモールド樹脂(例えばエポキシ、ポリイ
ミド、ポリビスマレイミド)で封止され完成した集積回
路パッケージに仕上げられる。完成したパッケージでは
リードの外周部は封止材の外側に露出して残され他の電
気部品との電気的接続とされる。
【0115】
【発明の作用効果】本発明はリードと基板との間を電気
的に接続するため必要な箇所にヴィアホールを形成する
ものである。本発明のヴィア形成法はさらに多層板の各
層の導電部分を結合するのに用いられる。ヴィアを形成
したのち各ヴィアとスルーホールの内部とリードの内側
あるいは基板層の導電部分を結合するため導電物質が沈
着される。
的に接続するため必要な箇所にヴィアホールを形成する
ものである。本発明のヴィア形成法はさらに多層板の各
層の導電部分を結合するのに用いられる。ヴィアを形成
したのち各ヴィアとスルーホールの内部とリードの内側
あるいは基板層の導電部分を結合するため導電物質が沈
着される。
【0116】機械的ドリルで可能な密度より高い密度を
得るためヴィアをレーザーで形成し、さらに小さな間隔
で穴明けしてもよい。本発明のヴィア形成法によれば単
層または多層板の穴明けにおいて高速で高密度を達成し
基板を過度に加熱しない。またヴィア形成中に他の品
質、信頼性の問題を引き起こさない。更に多層基板を含
む集積回路パッケージでは、本発明のヴィア形成法によ
ればパッケージ内の電気部品間とこの部品とパッケージ
のリードとの間で高い配線密度を達成することが可能で
ある。本発明の上記の記述を明示するため本発明の好ま
しい態様を表わす2つの例を示す。
得るためヴィアをレーザーで形成し、さらに小さな間隔
で穴明けしてもよい。本発明のヴィア形成法によれば単
層または多層板の穴明けにおいて高速で高密度を達成し
基板を過度に加熱しない。またヴィア形成中に他の品
質、信頼性の問題を引き起こさない。更に多層基板を含
む集積回路パッケージでは、本発明のヴィア形成法によ
ればパッケージ内の電気部品間とこの部品とパッケージ
のリードとの間で高い配線密度を達成することが可能で
ある。本発明の上記の記述を明示するため本発明の好ま
しい態様を表わす2つの例を示す。
【0117】
【実施例】第1の例では径12ミクロン、長さ3mmの
コポリ(パラフェニレン/3,4’−ジフェニルエーテ
ルテレフタラミド)からなるアラミド繊維が抄紙機で紙
に仕上げられる。この紙は15%のバインダを含む。紙
の重量は72g/m2 である。この紙はノボラック型樹
脂の硬化剤を含むエポキシ樹脂で含浸されプリプレグを
形成する。このプリプレグは積層され厚み0.1mmの
シートに仕上げられる。これらの調整の詳細は特開昭1
−281791号公報に記述されている。次に厚み18
ミクロンの銅箔がプリプレグの両側に積層される。絶縁
層の全厚みは一般的には0.10〜0.15mmであ
る。ヴィア構造はKr/Fエキシマ・レーザーで形成さ
れ内層との接続を達成するため銅でめっきされる。レー
ザーは248nmの波長をもっている。レーザービーム
の周波数は200Hzでありパルスエネルギは1.6J
/cm2 である。穴は7秒間アブレーションされる。あ
るいはドリルであけ、めっきによってスルーホールが形
成される。
コポリ(パラフェニレン/3,4’−ジフェニルエーテ
ルテレフタラミド)からなるアラミド繊維が抄紙機で紙
に仕上げられる。この紙は15%のバインダを含む。紙
の重量は72g/m2 である。この紙はノボラック型樹
脂の硬化剤を含むエポキシ樹脂で含浸されプリプレグを
形成する。このプリプレグは積層され厚み0.1mmの
シートに仕上げられる。これらの調整の詳細は特開昭1
−281791号公報に記述されている。次に厚み18
ミクロンの銅箔がプリプレグの両側に積層される。絶縁
層の全厚みは一般的には0.10〜0.15mmであ
る。ヴィア構造はKr/Fエキシマ・レーザーで形成さ
れ内層との接続を達成するため銅でめっきされる。レー
ザーは248nmの波長をもっている。レーザービーム
の周波数は200Hzでありパルスエネルギは1.6J
/cm2 である。穴は7秒間アブレーションされる。あ
るいはドリルであけ、めっきによってスルーホールが形
成される。
【0118】銅箔の表面は片方に導電回路をもち他方に
穴の列をもつようにパターンニングされる。次に基板
(銅箔、接着剤、プリプレグ)は回路が形成された銅箔
の方がリードフレームに対向するようにエポキシ接着剤
を使ってリードフレームに接着される。ヴィアが絶縁層
からリードに至るように銅箔に開けられた穴を通してK
r/Fエキシマレーザーを(前述のように)用いてヴィ
ア構造が形成される。ヴィアは従来の無電解および/ま
たは電解めっきプロセスを用いてめっきされる。めっき
された銅の厚みは15ミクロンである。銅箔の露光部分
は多層回路を完成するべくパターニングされる。
穴の列をもつようにパターンニングされる。次に基板
(銅箔、接着剤、プリプレグ)は回路が形成された銅箔
の方がリードフレームに対向するようにエポキシ接着剤
を使ってリードフレームに接着される。ヴィアが絶縁層
からリードに至るように銅箔に開けられた穴を通してK
r/Fエキシマレーザーを(前述のように)用いてヴィ
ア構造が形成される。ヴィアは従来の無電解および/ま
たは電解めっきプロセスを用いてめっきされる。めっき
された銅の厚みは15ミクロンである。銅箔の露光部分
は多層回路を完成するべくパターニングされる。
【0119】集積回路チップがリードフレームと基板の
一体化物に接着剤で取り付けられる。この集積回路は従
来のワイヤーボンディング技術を用いて基板上に形成さ
れた導電回路に電気的に接続される。集積回路が搭載さ
れたリードフレームと基板の一体化物はパッケージを形
成するべく樹脂で封止される。外側のリードはめっきさ
れ、その後リードフレームの外側のリングは切り落とさ
れリードの端は所望の形に仕上げられる。
一体化物に接着剤で取り付けられる。この集積回路は従
来のワイヤーボンディング技術を用いて基板上に形成さ
れた導電回路に電気的に接続される。集積回路が搭載さ
れたリードフレームと基板の一体化物はパッケージを形
成するべく樹脂で封止される。外側のリードはめっきさ
れ、その後リードフレームの外側のリングは切り落とさ
れリードの端は所望の形に仕上げられる。
【0120】第2の例では第1の例で述べたような銅張
積層板が製造される。厚み0.1mmの2枚のプリプレ
グがパターン化されが積層板の両側に置かれる。厚み1
8ミクロンの銅箔がプリプレグのシートが片側に取り付
けられる。ヴィア構造やスルーホールが形成され内層の
接続を達成するため銅箔との間でめっきされる。内層の
銅箔は回路を形成すべくパターン化され列状の穴が外層
の銅箔に形成される。このプロセスは2番目の基板でも
繰り返され別の多層板構造が形成される。リードフレー
ムのリードはこれら2つの基板の間におかれ分離した層
の別のプリプレグで接着される。この構造は200℃、
40kg/cm2 で45分間プレス・キュアされる。
積層板が製造される。厚み0.1mmの2枚のプリプレ
グがパターン化されが積層板の両側に置かれる。厚み1
8ミクロンの銅箔がプリプレグのシートが片側に取り付
けられる。ヴィア構造やスルーホールが形成され内層の
接続を達成するため銅箔との間でめっきされる。内層の
銅箔は回路を形成すべくパターン化され列状の穴が外層
の銅箔に形成される。このプロセスは2番目の基板でも
繰り返され別の多層板構造が形成される。リードフレー
ムのリードはこれら2つの基板の間におかれ分離した層
の別のプリプレグで接着される。この構造は200℃、
40kg/cm2 で45分間プレス・キュアされる。
【0121】銅箔の表面に露出した穴を通してヴィア構
造の列がKr/Fエキシマレーザーで形成される。ヴィ
ア構造は0.2mmの径をもっている。レーザーエネル
ギは1.6J/cm2 のエネルギ・レベルをもつ。この
レーザーエネルギは15秒間照射される。ヴィア構造が
形成されたあと、これらは従来の無電解および/または
電解めっきプロセスを用いてめっきされる。めっきされ
た銅の厚みは15ミクロンである。
造の列がKr/Fエキシマレーザーで形成される。ヴィ
ア構造は0.2mmの径をもっている。レーザーエネル
ギは1.6J/cm2 のエネルギ・レベルをもつ。この
レーザーエネルギは15秒間照射される。ヴィア構造が
形成されたあと、これらは従来の無電解および/または
電解めっきプロセスを用いてめっきされる。めっきされ
た銅の厚みは15ミクロンである。
【0122】銅箔はその後、回路とワイヤーボンディン
グ用のパッドを形成するためパタン化される。4つの集
積回路チップが銅箔のエッチングされた部分に搭載され
ワイヤーでパッドと結ばれる。全部のデバイスはその後
エポキシ樹脂で封止される。外側のリードはめっきされ
切り落とされ完成したパッケージとなる。このパッケー
ジは一辺28mmの長さをもちパッケージからはリード
352が延びている。
グ用のパッドを形成するためパタン化される。4つの集
積回路チップが銅箔のエッチングされた部分に搭載され
ワイヤーでパッドと結ばれる。全部のデバイスはその後
エポキシ樹脂で封止される。外側のリードはめっきされ
切り落とされ完成したパッケージとなる。このパッケー
ジは一辺28mmの長さをもちパッケージからはリード
352が延びている。
【図1】リードと多層板の接続の断面図
【図2】マスクイメージングによるリードと多層板の接
続の断面図
続の断面図
【図3】コンタクトマスクによるリードと多層板の接続
の断面図
の断面図
【図4】コンフオーマルマスクによるリードと多層板の
接続の断面図
接続の断面図
【図5】空洞の中にチップが配置されたリードと多層板
の接続の断面図
の接続の断面図
【図6】(A) 単一ヴィアによるリードと多層板の接
続の一例を示す断面図 (B) 単一ヴィアによるリードと多層板の接続の断面
図 (C) 単一ヴィアによるリードと多層板の接続の断面
図
続の一例を示す断面図 (B) 単一ヴィアによるリードと多層板の接続の断面
図 (C) 単一ヴィアによるリードと多層板の接続の断面
図
【図7】長い断面形状のヴィアによるリードと多層板の
接続の断面図
接続の断面図
100 リードと多層板の接続 101 リード 101a リード 102 多層基板 102A 多層基板102の外層 103 多層基板 105 ヴィア 105a ヴィア 105b ヴィア 105c ヴィア 105d ヴィア 107 導電トレース 108 導電メッキ 110 多層基板の内層 111 多層基板の内層 112 集積回路の接続パッド 113 ボンドパッド 114 ボンデイングワイヤー 120 集積回路 201 マスク 201a マスク201の一辺 201b マスク201の全表面 202 穴 210 レーザーエネルギ源 211 レーザーエネルギ 212 レンズ 213 レーザーシート 301 マスク 302 穴 401 マスク 402 穴 500 リードと多層板の接続 501 リード 502 多層基板 502a 多層基板502の表面 503 多層基板の内層 504 ボンドパッド 505 ボンドパッド 506 ボンデイングワイヤー 507 導電トレース 510a 集積回路チップ 510b 集積回路チップ 511a 空洞 511b 空洞 600 リードと多層板の接続 601 リード 601a リード 604 600の内層の基板層 605 ヴィア 608 導電めっき材料 610 導電部分
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平川 董 大阪府茨木市耳原3丁目4番1号 帝人株 式会社大阪研究センター内 (72)発明者 ロバート・シー・マーズ アメリカ合衆国アリゾナ州85260スコッツ デール市103プレース,ノース12950
Claims (53)
- 【請求項1】 第1の表面をもち、かつ誘電層をもつ導
電層と基板内に設けられた複数の導電ヴィアからなる基
板と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導電部分から複
数のリードの1つに延びる導電ヴィアをもつ基板の第1
の表面に取付けられた複数の導電リードと、基板とリー
ドの内部を封止しリードの残りの部分を樹脂の外部に露
出したまま残した樹脂封止材とからなる集積回路。 - 【請求項2】 第1の表面に対向する反対側の基板の第
2の表面に形成された導電回路を含み、少なくとも1つ
の導電ヴィアが導電回路から複数のリードに延びている
請求項1の集積回路。 - 【請求項3】 ヴィアの形状が長い断面をもち、最も長
い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並んでいる請求項
1の集積回路。 - 【請求項4】 基板にさらに複数の導電層と誘電層を含
み、基板の第1の表面から最も遠い該導電層は外部の導
電層であって他の導電部分は内部の導電層である請求項
1の集積回路。 - 【請求項5】 少なくとも1つの導電ヴィアが内部の導
電層から複数のリードに延びる請求項3の集積回路。 - 【請求項6】 少なくとも1つの導電ヴィアが第1の内
部導電層から第2の内部導電層に延びる請求項3の集積
回路。 - 【請求項7】 誘電層と導電層をもち、該誘電層は有機
基板であり、基板内に設けられた複数の導電ヴィアから
なる基板と、各導電ヴィアが導電層の選ばれた導電部分
から複数のリードの1つに伸びる導電ヴィアをもつ基板
の第1の表面に取付けられた複数の導電リードと、から
なる集積回路。 - 【請求項8】 第1の表面に対向する反対側の基板の第
2の表面に形成された導電回路を含み、少なくとも1つ
の導電ヴィアが導電回路から複数のリードに延びている
請求項7の集積回路。 - 【請求項9】 ヴィアの形状が長い断面をもち、最も長
い寸法が集積回路の1つの辺に直角に並んでいる請求項
7の集積回路。 - 【請求項10】 基板にさらに複数の導電層と誘電層を
含み、基板の第1の表面から最も遠い該導電層は外部の
導電層であって、他の導電部分は内部の導電層である請
求項7の集積回路。 - 【請求項11】 少なくとも1つの導電ヴィアが内部の
導電層から複数のリードに延びる請求項9の集積回路。 - 【請求項12】 少なくとも1つの導電ヴィアが第1の
内部導電層から第2の内部導電層に延びる請求項9の集
積回路。 - 【請求項13】 誘電層と導電層をもつ基板からなる集
積回路であって、基板内には電子部品を配置するための
空洞をもち、該空洞は所望の位置にレーザーエネルギで
形成された集積回路。 - 【請求項14】 基板からリードに通して形成されたヴ
ィアをもつ基板とリードの接続方法であって、下記の手
順からなる方法すなわち第1の基板の第1の表面をリー
ドの第1の表面にとりつけ第1の基板の第2の表面が第
1の基板の第1の表面の反対側であって、第1の基板の
第2の表面の上にマスクを保持し、穴が第1のマスクの
上に形成され第1のマスクの第1の表面の上にレーザー
エネルギを掃引し、該第1のマスクの第1の表面の反対
側にある第1のマスクの第2の表面は第1の基板の第2
の表面に対向し、レーザーエネルギが掃引されるとレー
ザーエネルギが第1のマスクの穴を通りリードに延びて
いる第1の基板の中にあるヴィアを形成することによっ
て形成される基板とリードの接続方法。 - 【請求項15】 第1の基板の中に、あるいはその上に
配置された各リードと導電部品との間に導電通路が形成
されるように、第1の基板にある各ヴィアの中に導電物
質の層を配置することをさらに含む方法による請求項1
4の基板とリードの接続方法。 - 【請求項16】 第1のマスクが第1の基板と一体化し
た請求項14の基板とリードの接続方法。 - 【請求項17】 請求項14の接続方法において、さら
に下記の方法、すなわち、第2の基板の第1の表面をリ
ードの第2の表面に取付け、第2の基板の第2の表面に
第2のマスクを置き、該第2の基板の第2の表面は第2
の基板の第1の表面の反対側にあり、穴が第2のマスク
に形成され第2の基板の第1の表面の上にレーザーエネ
ルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表面は第2の基
板の第2の表面に対向した第2のマスクの第2の表面の
反対側にあり、レーザーエネルギが掃引されるとレーザ
ーエネルギが第2のマスクの穴を通りリードに伸びてい
る第2の基板の中にあるヴィアを形成することによって
形成される基板とリードの接続方法。 - 【請求項18】 第1の有機樹脂基板の第1の表面をリ
ードの第1の表面に取付け、非熱レーザーから放射され
たレーザーエネルギで第1の有機樹脂基板の所望の位置
にヴィアを形成することにより形成された有機樹脂基板
からリードに至るヴィアをもつ基板とリードの接続方
法。 - 【請求項19】 第2の層の第1の表面をリードの第2
の表面に取付け、非熱レーザーより放射されるレーザー
エネルギで第2の基板の所望の位置にヴィアを形成する
ことをさらに含む請求項18の基板とリードの接続方
法。 - 【請求項20】 各リードと第1の基板の中あるいは上
に取りつけられた導電部品との間に導電通路が形成され
るように、第1の基板の各ヴィアに導電物質の層を設け
ることよりなる請求項18の基板とリードの接続方法。 - 【請求項21】 非熱レーザーより放射されるレーザー
エネルギで第2の基板の所望の位置にヴィアを形成する
ことにより形成される請求項18の基板とリードの接続
方法。 - 【請求項22】 レーザーエネルギがエキシマレーザー
によって放射される請求項18の基板とリードの接続方
法。 - 【請求項23】 有機樹脂が熱硬化性樹脂である請求項
18の基板とリードの接続方法。 - 【請求項24】 熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂、ポリイ
ミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂ま
たはポリシアヌレート樹脂からなる群から選ばれた1で
ある請求項23の基板とリードの接続方法。 - 【請求項25】 熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂である請
求項24の基板とリードの接続方法。 - 【請求項26】 有機樹脂が熱可塑性樹脂である請求項
18の基板とリードの接続方法。 - 【請求項27】 熱可塑性樹脂がポリエステル樹脂、ポ
リアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリエーテルイミ
ド樹脂またはポリカーボネート樹脂からなる群から選ば
れた1である請求項26の基板とリードの接続方法。 - 【請求項28】 基板にさらに補強材を含む請求項18
の基板とリードの接続方法。 - 【請求項29】 補強材が有機繊維である請求項28の
基板とリードの接続方法。 - 【請求項30】 有機繊維がアラミド、ポリエステル、
ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリイミ
ド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフォンからなる
群から選ばれた1種の繊維である請求項29の基板とリ
ードの接続方法。 - 【請求項31】 有機繊維がアラミド繊維である請求項
30の基板とリードの接続方法。 - 【請求項32】 補強材が無機繊維である請求項28の
基板とリードの接続方法。 - 【請求項33】 第1の有機樹脂基板の第1の表面をリ
ードの第1の表面に取付け非熱レーザーから放射された
レーザーエネルギで第1の有機樹脂基板の所望の位置に
ヴィアを形成することからなる導電リードに取りつけら
れた有機樹脂基板に電気的結合を形成する方法。 - 【請求項34】 各リードと第1の基板の中あるいは上
に取りつけられた導電部品との間に導電通路が形成され
るように、第1の基板の各ヴィアに導電物質の層を設け
ることをさらに含む請求項33の方法。 - 【請求項35】 レーザーエネルギがエキシマレーザー
によって放射される請求項33の方法。 - 【請求項36】 有機樹脂が熱硬化性樹脂である請求項
33の方法。 - 【請求項37】 熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂、ポリイ
ミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂ま
たはポリシアヌレート樹脂からなる群から選ばれた1で
ある請求項36の方法。 - 【請求項38】 熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂である請
求項37の方法。 - 【請求項39】 有機樹脂が熱可塑性樹脂である請求項
33の方法。 - 【請求項40】 熱可塑性樹脂がポリエステル樹脂、ポ
リアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリエーテルイミ
ド樹脂またはポリカーボネート樹脂からなる群から選ば
れた1である請求項39の方法。 - 【請求項41】 基板にさらに補強材を含む請求項33
の方法。 - 【請求項42】 補強材が有機繊維である請求項41の
方法。 - 【請求項43】 有機繊維がアラミド、ポリエステル、
ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリイミ
ド、ポリエーテルイミドまたはポリスルフォンからなる
群から選ばれた1の繊維である請求項42の方法。 - 【請求項44】 有機繊維がアラミド繊維である請求項
43の方法。 - 【請求項45】 補強材が無機繊維である請求項41の
方法。 - 【請求項46】 基板が有機物であり、レーザーが非熱
レーザーである請求項44の方法。 - 【請求項47】 導電リードに取りつけられた基板の中
にヴィアを形成する方法であって、下記のステップすな
わち、第1の基板の第1の表面をリードの第1の表面に
取付け、第1の基板の第2の表面の上に第1のマスクを
置き、第1の基板の第2の表面は第1の基板の第1の表
面の反対側にあり、穴が第1のマスクに形成され、第1
の基板の第1の表面の上にレーザーエネルギを掃引し、
該第1のマスクの第1の表面は第1のマスクの第2の表
面の反対側にあり、レーザーエネルギ−が掃引されると
レーザーエネルギ−が第1のマスクの穴を通りリードに
伸びている第1の基板の中にあるヴィアを形成すること
からなる方法。 - 【請求項48】 第1の基板の中に、あるいはその上に
配置された各リードと導電部品との間に導電通路が形成
されるように、第1の基板にある各ヴィアの中に導電物
質の層を配置することをさらに含む請求項47の方法。 - 【請求項49】 請求項47の方法において、さらに下
記の方法、すなわち、第2の基板の第1の表面をリード
の第2の表面に取付け、第2の基板の第2の表面に第2
のマスクを置き、該第2の基板の第2の表面は第2の基
板の第1の表面の反対側にあり、穴が第2のマスクに形
成され、第2のマスクの第1の表面の上にレーザーエネ
ルギを掃引し、該第2のマスクの第1の表面は第2の基
板の第2の表面に対向した第2のマスクの第2の表面の
反対側にあり、レーザーエネルギが掃引されるとレーザ
ーエネルギが第2のマスクの穴を通りリードに伸びてい
る第2の基板の中にヴィアを形成する方法。 - 【請求項50】 第1のマスクの第2の表面が第1の基
板の第2の表面に接触しない請求項47の方法。 - 【請求項51】 第1のマスクの第2の表面が第1の基
板の第2の表面に接触する請求項47の方法。 - 【請求項52】 第1のマスクが第1の基板と一体化し
た請求項47の方法。 - 【請求項53】 請求項47の方法であって、レーザー
エネルギが非熱レーザーから放射され、基板の非導電部
分が有機物からなる方法。
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