JPH07107250A - 画像読取装置 - Google Patents

画像読取装置

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JPH07107250A
JPH07107250A JP5251683A JP25168393A JPH07107250A JP H07107250 A JPH07107250 A JP H07107250A JP 5251683 A JP5251683 A JP 5251683A JP 25168393 A JP25168393 A JP 25168393A JP H07107250 A JPH07107250 A JP H07107250A
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mirror
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JP5251683A
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English (en)
Inventor
Takuji Takahashi
卓二 高橋
Koji Ozaki
弘二 尾崎
Joji Kato
譲二 加藤
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 スキャナの汚れ等による異常画像の発生を事
前に検出し、異常画像の発生を事前に警告できるように
した画像読取装置を提供する。 【構成】 原稿を支持する原稿台2と、原稿を照明する
照明手段4と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
電変換する光電変換素子11と、反射光または透過光を
光電変換素子11に導き結像させる結像手段10とで光
学要素を構成する画像読取装置において、光電変換素子
11に、光学要素の異常を検出する機能を持たせた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタルスキャナ、デ
ジタル複写機、デジタルフルカラー複写機等のCCDを
使用する画像読取装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スキャナ等で画像を読み取り、複写物を
得たり、コンピュータに画像情報として取り込んだりす
る場合には、原稿に忠実に綺麗にコピーまたは画像情報
を得るということが重要である。
【0003】しかし、実際には、原稿をコピーしたりス
キャナで画像情報を取り込んだりしてみると、原稿とは
異なった部分がコピー画像や画像情報に見られることが
しばしばある。これらは異常画像部と言われ、その読取
システムや作像システム、画像処理システムの種類によ
り種々の異常画像が発生する。
【0004】異常画像の中でも局部的に発生するもの、
例えば白色部である地肌部に黒点や黒筋等が発生した
り、画像部に白点や白筋等の色抜け部が発生したりする
ものは、特に目立つものであるので注意する必要があ
る。通常これらの異常画像は、システムが新品の時には
発生せず使用しているうちに発生する。
【0005】スキャナを例にとって考えた場合では、空
気中のゴミ等が付着し、光学系の光学構成部品が汚れる
ことにより発生する場合が多い。スキャナを完全に密閉
してしまえば上記異常画像を防ぐことはできるが、スキ
ャナの構成上、熱源となるランプと温度依存性の高いC
CDが共存するので、その場合はCCDを冷却する冷却
手段が必要となり、事実上、密閉することは困難であ
る。スキャナでは防塵対策として、空気取入口に防塵フ
ィルタ等が施されているが、防塵フィルタを通過してく
る微小のゴミ等でも上記異常画像が発生する可能性もあ
り、防塵フィルタで完全に防止することは困難である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、異常
画像の発生はある程度止むを得ないものであるため、異
常画像が発生した場合は、サービスマンによるメンテナ
ンスを行っているのが実状である。
【0007】しかしながら、異常画像が発生した時には
その発生個所(ユニット)を特定する必要があるが、発
生個所を特定するのは、そのシステムを熟知したサービ
スマンでもなかなか困難な作業であり、時間も掛かる。
【0008】例えば、デジタル複写機であれば、プリン
タ部であったりスキャナ部であったり画像処理部であっ
たりするのをコピーの異常画像の情報から推定しなけれ
ばならないからである。また、スキャナが原因であった
場合でも光学系のどこの部分なのかを見極める必要もあ
り、この作業もまた同様に大変な作業となる不具合があ
った。
【0009】本発明はこのような背景に基づいてなされ
たものであり、スキャナの汚れ等による異常画像の発生
を事前に検出し、異常画像の発生を事前に警告できるよ
うにした画像読取装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的は、原稿を支持
する原稿台と、原稿を照明する照明手段と、原稿の反射
光または透過光を受光し、光電変換する光電変換素子
と、反射光または透過光を前記光電変換素子に導き結像
させる結像手段とで光学要素を構成する画像読取装置に
おいて、前記光電変換素子に、光学要素の異常を検出す
る機能を持たせ、原稿と前記光電変換素子間に光路を構
成する1枚以上のミラーを有し、前記ミラーのうち少な
くとも1枚について、光路中での位置関係を、光路長を
変化させずに変更するミラー位置変更手段を備えた第1
の手段により達成される。
【0011】また、上記目的は、原稿を支持する原稿台
と、原稿を照明する照明手段と、原稿の反射光または透
過光を受光し、光電変換する光電変換素子と、反射光ま
たは透過光を前記光電変換素子に導き結像させる結像手
段とで光学要素を構成する画像読取装置において、前記
光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を持た
せ、原稿と前記光電変換素子間に光路を構成する1枚以
上のミラーを有し、前記ミラーのうち少なくとも1枚に
ついて、光路中での位置関係を、光路長を変化させて変
更するミラー位置変更手段を備えた第2の手段により達
成される。
【0012】また、上記目的は、原稿を支持する原稿台
と、原稿を照明する照明手段と、原稿の反射光または透
過光を受光し、光電変換する光電変換素子と、反射光ま
たは透過光を前記光電変換素子に導き結像させる結像手
段とで光学要素を構成する画像読取装置において、前記
光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を持た
せ、前記光電変換素子を移動させ光路中での位置関係を
変更する位置変更手段を備えた第3の手段により達成さ
れる。
【0013】また、上記目的は、原稿を支持する原稿台
と、原稿を照明する照明手段と、原稿の反射光または透
過光を受光し、光電変換する光電変換素子と、反射光ま
たは透過光を前記光電変換素子に導き結像させる結像手
段とで光学要素を構成する画像読取装置において、前記
光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を持た
せ、前記原稿台上の原稿を押さえる原稿押さえ部材ある
いは前記原稿台のいずれか一方を移動させる移動手段を
備えた第4の手段により達成される。
【0014】また、上記目的は、原稿を支持する原稿台
と、原稿を照明する照明手段と、原稿の反射光または透
過光を受光し、光電変換する光電変換素子と、反射光ま
たは透過光を光電変換素子に導き結像させる結像手段と
で光学要素を構成する画像読取装置において、光電変換
素子に、光学要素の異常を検出する機能を持たせ、シェ
ーディング補正の白板を有し、前記白板の位置を変更す
る手段を備えた第5の手段により達成される。
【0015】また、上記目的は、第1の手段及び第3の
手段及び第5の手段を備えた画像読取装置において、前
記各検査を順次実行する実行手段を有し、前記検査結果
により異常な光学要素を特定する第6の手段により達成
される。
【0016】また、上記目的は、第6の手段において、
光学構成要素の検査を実行するタイミングを、電源投入
時、あるいはオペレータの要求による時、あるいは所定
の読み取り回数スキャン回数になった時とする第7の手
段により達成される。
【0017】
【作用】第1の手段においては、特別の検出手段を必要
とせず、光電変換手段を利用して光電要素の異常が検出
されるとともに、光路長を変化させずにミラーを移動す
るため、ミラーの汚れ等による異常の有無が検出され
る。また、ミラーの位置変更を行うための特別な機構が
シンプルになりコストが安い。
【0018】第2の手段においては、光路長を変化させ
るようにミラーを移動させることで移動したミラーを含
む光学系のピント位置等が変化するため、異常の原因個
所が移動したミラーに対して上流側か下流側かを判断す
ることができる。
【0019】第3の手段においては、CCDを直接位置
変更するため、容易にCCDの異常の有無が検出され
る。
【0020】第4の手段においては、原稿押さえ部材と
原稿台の異常の有無が分離して把握される。
【0021】第5の手段においては、基準白板を直接位
置変更するので、容易に基準白板の異常を検出できる。
【0022】第6の手段においては、各光学素子の検査
を順次実行しているので、異常のある光学要素が特定で
きる。
【0023】第7の手段においては、電源投入時に光学
要素異常の検査を行なっているので、読み取り動作の事
前に光学要素の検査がなされ未然に異常画像の読み込み
を防ぐことができ、また、オペレータ操作のキーによ
り、オペレータが所望する時に光学要素の検査を実行で
き、また、スキャン回数に応じて、光学要素異常の検査
を行なっているので、使用頻度に応じた適切な時期に検
査を実行できる。
【0024】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は第1の実施例に係る画像読取装置の構成
図、図2は第1の実施例に係る画像読取装置の第1キャ
リッジ部の第1ミラーが第1の位置の平面図、図3は
同、第2の位置の平面図である。
【0025】まず、画像読取装置の全体構成の概要を説
明する。これらの図において、1はスキャナであり、こ
のスキャナ1は、原稿を載置するコンタクトガラス(原
稿台)2と、照明ランプ4、リフレクタ5、第1ミラー
6を搭載した第1キャリッジ3と、第2ミラー8、第3
ミラー9を搭載した第2キャリッジ7と、第3ミラー9
からの反射光を受光して結像させるレンズ10と、結像
された光を光電変換するCCD11とを有している。
【0026】なお、12はコンタクトガラス2の一端に
設けた基準白板、13は照明ランプ4でコンタクトガラ
ス2上の図示しない原稿を照射した時の反射光の光路、
14はレンズ10を保持するレンズブロックである。
【0027】このような構成において、周知のごとく、
第1キャリッジ3、第2キャリッジ7の走査により原稿
像がCCD11上に結像され、光電変換されて図示しな
い後段の画像処理部で各種の画像処理が施される。
【0028】この第1の実施例は、スキャナ1の光学系
において、光路長を変化させずに第1ミラー6の位置関
係を変化させるものである。以下、本第1の実施例の要
部を説明する。
【0029】スキャナ1には、カム15とカム15を回
転させるモータ16が第1キャリッジ3の移動範囲の1
個所に設けられ、カム15は第1キャリッジ3の端面を
押すようになっている。61はモータ16の駆動軸に取
付けられたギア、62はギア61に噛合されたギア、6
3はギア62の軸、64はギア62に噛合されたギア、
65はギア64の軸であり、軸65には前記カム15が
偏芯しかつギア64と一体に回転するように設けられて
いる。このような各部材によりミラー位置変更駆動機構
は構成されている。
【0030】17は第1キャリッジ3の移動案内をする
レールであり、このレール17,17にガイドされて図
3の左右方向に移動可能に備えられている。また、第1
キャリッジ3はCCD11の読取主走査方向に対して平
行(図3のA方向)に移動可能になっており、かつ第1
キャリッジ3の端面はカム15に図示しない付勢部材に
より押し付けられている。
【0031】なお、カム15の取付け位置は、第1キャ
リッジ3の移動範囲であればどこでもよく、カム15の
位置に第1キャリッジ3を移動させて上記動作を行う。
また、シートスルータイプのスキャナでは、ミラーの光
路上での位置は固定されるため、ミラーの片端部にカム
15が設置されていればよい。
【0032】次に、前記第1の実施例の動作について説
明する。モータ16によりカム15を回転させると、カ
ム15は第1キャリッジ3の端面を押して、図2の位置
から第1キャリッジ3をCCD11の読取主走査方向に
対して平行(図3のA方向)に移動させ、第1キャリッ
ジ3は図3の位置に達する。
【0033】この時、スキャナ1の光学系の光路13及
び読取位置は変化せず、第1ミラー6と光路13の位置
関係のみが変化するだけであるので、CCD11は第1
キャリッジ3の移動前後では同じ画像情報を読み取って
いることになる。
【0034】したがって、前記説明の通り、第1キャリ
ッジ3の移動動作を行い、移動前後の画像を比較して、
画像に違いがあれば第1ミラー6にゴミ等の付着物があ
ると判定できる。
【0035】上記の判定に関し、CCD11の作用を具
体的に述べると、本発明においては、CCD11はスキ
ャナ1の各部の汚れによる異常画像の検出手段、ひいて
は汚れているユニット、部材を検出する検出手段として
機能するものであり、画像読み取り時の閾値を記憶手段
に記憶させておき、これと、実際に装置を駆動した場合
のCCD11に入力される信号とを比較して異常を検出
するものである。なお、異常が検出された場合は、オペ
レータに対して警告を発するようにする。
【0036】前記第1の実施例にあっては、特別の検出
手段を必要とせず、光電変換手段を利用して光電要素の
異常を検出することができる。また、光路長を変化させ
ずにミラーを移動するため、光路上のミラーの異常検出
手段と併用することでミラーの汚れによる異常なのかど
うかを特定することができる。
【0037】前記第1の実施例にあっては、ミラー位置
変更のため特別のミラー位置変更駆動機構をもっている
ので、変更量が自由に決められ、ミラーの汚れによる異
常なのかどうかを確実に特定することができる。
【0038】次に、第2の実施例について説明する。図
4は第2の実施例に係る画像読取装置の第1キャリッジ
部の第1ミラーが第1の位置の平面図、図5は同、第2
の位置の平面図である。なお、前記第1の実施例と同一
部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
【0039】この第2の実施例は、前記第1の実施例の
ようなカム等の特別なミラー位置変更駆動機構を設けな
いで、第1ミラー6の主走査に際し、第1ミラー6の位
置を変える実施例である。
【0040】これらの図において、レール17の所定位
置にミラー位置変更ガイド部18が設けられ、このミラ
ー位置変更ガイド部18は、テーパ部18aと、テーパ
部18aに続いて平行部18bが設けられている。
【0041】第1キャリッジ3がガイド部18に沿って
図5のB方向に移動にすることにより、第1キャリッジ
3の端面部3aがガイド部18のテーパ部18aに押さ
れ、第1キャリッジ3が図5のA方向である主走査方向
に移動させられる。
【0042】この時、前記第1の実施例と同様に、第1
キャリッジ3の主走査方向の移動の前後の画像情報を比
較することで同様に第1ミラー6の異物付着等の異常を
判定することができ、かつシンプルな構成になる。
【0043】前記第2の実施例にあっては、特別の検出
手段を必要とせず、光電変換手段を利用して光電要素の
異常を検出することができる。また、光路長を変化させ
ずにミラーを移動するため、光路上のミラーの異常検出
手段と併用することでミラーの汚れによる異常なのかど
うかを特定することができる。
【0044】前記第2の実施例にあっては、ミラー位置
変更を行なうための機構がシンプルによりコストを低減
できる。
【0045】次に、第3の実施例を説明する。図6は第
3の実施例に係る画像読取装置の第1キャリッジ部の第
1ミラーが第1の位置の正面図、図7は同、第2の位置
の正面図である。
【0046】この第3の実施例は、光路長を変化させて
第1ミラー6を移動させる場合のものである。
【0047】スキャナ1には、カム19,19とこれら
のカム19,19を回転させるモータ20が第1キャリ
ッジ3の移動範囲の1個所に設けられ、カム19,19
は第1キャリッジ3の下面両端部を押すように設けられ
ている。66はモータ20の駆動軸に取付けられたギ
ア、67はギア66に噛合されたギア、68はギア67
に噛合されたギア、69はギア68の軸であり、軸69
には前記カム19が偏芯しかつギア68と一体に回転す
るように設けられている。さらにギア70,71を介し
てギア72が噛合され軸73に支持されている。この軸
73には前記カム19がギア72と一体に回転するよう
に設けられている。このような各部材によりミラー位置
変更駆動機構は構成されている。
【0048】第1キャリッジ3はCCD11の読取主走
査方向に対して直角方向(図7のC方向)に移動可能に
備えられている。
【0049】なお、特に説明していない構成は前記第1
の実施例と同様である。
【0050】次に、第3の実施例の動作について説明す
る。モータ20によりカム19,19を回転すると、カ
ム19,19は第1キャリッジ3の下面を押して第1キ
ャリッジ3をCCD11の読取主走査方向に対して直角
方向(図7のC方向)に移動させる。この場合、スキャ
ナ1の光学系の光路13において、第1ミラー6前後の
光路は変化するが、第2ミラー8以降の光路は変化しな
いで全体の光路として光路長、読取位置が変化すること
になる。光路長が変化する部分では、レンズ10の焦点
距離が変化するため結像状態が変化する。
【0051】このため、第1キャリッジ3の移動前後で
画像情報を比較することにより、第1ミラー6に異物付
着等の異常があるか、第1ミラー6の光路中の上流側か
下流側に異常があるかが判定できる。
【0052】前記第3の実施例にあっては、特別の検出
手段を必要とせず、光電変換手段を利用して光電要素の
異常を検出することができる。また、光路長を変化させ
るようにミラーを移動するため、移動したミラーを含む
光学系のピント位置等が変化するので、異常検出手段と
併用することで異常の原因個所が移動したミラーに対し
て上流側か下流側かを判断することができる。
【0053】前記第3の実施例にあっては、ミラー位置
変更のため特別のミラー位置変更駆動機構をもっている
ので、変更量が自由に決められ、ミラーの汚れによる異
常なのかどうかを確実に特定することができる。
【0054】次に、第4の実施例について説明する。図
8は第4の実施例に係る画像読取装置の第1キャリッジ
部の第1ミラーが第1の位置の正面図、図9は同、第2
の位置の正面図である。なお、前記第3の実施例と同一
部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
【0055】この第4の実施例は、前記第3の実施例の
ようなカム等の特別なミラー位置変更駆動機構を設けな
いで光路長を変化させて第1ミラー6を移動させるもの
である。
【0056】レール17にはガイド部21が設けられ、
このガイド部21は、一段高く形成された平行部21b
と、この平行部21bに連続するテーパ部21aとより
なっている。
【0057】次に、第4の実施例の動作について説明す
る。第1キャリッジ3がレール17上を図9のB方向に
移動することにより、テーパ部21aから平行部21b
に乗り上げ、第1キャリッジ3はガイド部21の平行部
21bによって図9のC方向に持ち上げられ、結局、主
走査方向に対して直角方向に移動させられる。
【0058】この時、前記第2の実施例と同様に、第1
キャリッジ3の移動の前後で画像情報を比較することで
同様に第1ミラー6の異物付着等の異常や第1ミラー6
の上流、下流の異常を検出することができ、構成もシン
プルとなる。
【0059】前記第4の実施例にあっては、特別の検出
手段を必要とせず、光電変換手段を利用して光電要素の
異常を検出することができる。また、光路長を変化させ
るようにミラーを移動するため、移動したミラーを含む
光学系のピント位置等が変化するので、異常検出手段と
併用することで異常の原因個所が移動したミラーに対し
て上流側か下流側かを判断することができる。
【0060】前記第4の実施例にあっては、ミラー位置
変更を行なうための機構がシンプルによりコストを低減
できる。
【0061】次に、第5の実施例について説明する。図
10は第5の実施例に係る画像読取装置のCCDが第1
の位置の光路方向から見た説明図、図11は同、第2の
位置の光路方向から見た説明図である。
【0062】この第5の実施例はCCD11を移動させ
るものである。CCD11はレンズブロック14により
レンズ10と一体に支持され、レンズブロック14は支
持ピン30により回転自在に取り付けられている。レン
ズブロック14の支持ピン30の他端側78は、基準面
31に図示していないスプリングにより加圧されながら
位置決めされている。基準面31の下側には、カム32
とカム32を回転させるモータ33が設けられている。
【0063】74はモータ33の駆動軸に取付けられた
ギア、75はギア74に噛合されたギア、76はギア7
5に噛合されたギア、77はギア76の軸であり、軸7
7には前記カム32が偏心しかつギア76と一体に回転
するように設けられている。
【0064】なお、特に説明していない構成は前記第1
の実施例と同様である。
【0065】次に、第5の実施例の動作について説明す
る。カム32を回転することにより、CCD11を支持
ピン30を中心にして、図11に示すようにθ度回転さ
せる。CCD11が回転することで、CCD11の読取
ライン34も同様にθ度回転するため、CCD11の読
取位置は変化する。即ち、全く異なった画像情報を取り
込むことになる。CCD11の移動前後で画像情報を比
較し、CCD11の移動で変化しない異常な画像があっ
た場合、CCD11にゴミ等の付着物があると判定でき
る。
【0066】前記第5の実施例にあっては、CCD11
を直接位置変更するため、容易にCCD11の異常を検
出できる。
【0067】次に、第6の実施例について説明する。図
12は第6の実施例に係る画像読取装置のコンタクトガ
ラスが第1の位置の側面図、図13は同、第2の位置の
側面図である。
【0068】この第6の実施例はコンタクトガラス2を
移動させるものである。
【0069】コンタクトガラス2は図12の左右方向に
移動可能に配設されている。35はモータで、このモー
タ35の軸79には偏心してカム36が取付けられてい
る。コンタクトガラス2の一端は、モータ35の軸79
のカム36に当接されており、また、コンタクトガラス
2の他端部にはコイルスプリング37が弾接され、この
コイルスプリング37の弾力によりコンタクトガラス2
はカム36に押し付けられている。なお、特に説明して
いない構成は前記第1の実施例と同様である。
【0070】次に、第6の実施例の動作について説明す
る。図12の位置にあるコンタクトガラス2は、カム3
6が回転することにより、カム36によってコイルスプ
リング37の弾力に抗してコンタクトガラス2は図13
のD方向に移動させられる。このコンタクトガラス2の
移動の前後で光路13は変化せず、コンタクトガラス2
の読取位置が変化することになる。この移動前後でCC
D11の画像情報を比較し、両者に違いが認められた
時、コンタクトガラス2にゴミ等の付着物があると判定
できる。
【0071】前記第6の実施例にあっては、原稿押さえ
部(圧板、ADFのベルト)等とコンタクトガラス2の
異常を容易に分離できる。
【0072】次に、第7の実施例について説明する。図
14は第7の実施例に係る画像読取装置の基準白板部の
正面図である。
【0073】この第7の実施例は基準白板12を移動さ
せるものである。図14において、40はテンションば
ね、41はソレノイド、41aはソレノイド41の駆動
棒、42は原稿スケールであって、基準白板12は、コ
ンタクトガラス2と原稿スケール42の間に位置して、
テンションばね40とソレノイド41によって移動可能
の状態になっている。90は基準白板12と一体の移動
体、91は移動体90に設けられたテンションばね引掛
けピン、92はソレノイド41の駆動棒41aと移動体
90を連結するピン、93はテンションばね40の他端
を引掛ける引掛けピンである。
【0074】通常時(異物検知をしない時)、基準白板
12は、テンションばね40によって原稿スケール42
の矢印Eの逆の方向に押し付けられている。なお、特に
説明していない構成は前記第1の実施例と同様である。
【0075】次に、第7の実施例の動作について説明す
る。基準白板12の異物検出に際しては、第1キャリッ
ジ3の停止状態で、基準白板12を読み取った後、ソレ
ノイド41に通電し、基準白板12を矢印E方向に引
き、基準白板12の移動前に読み取った所と違った所を
読み取る。基準白板移動前後の画像情報を比較すること
によって、基準白板12にゴミ等の付着物があると判定
できる。
【0076】前記第7の実施例にあっては、基準白板1
2を直接位置変更するため、容易に基準白板12の異常
を検出できる。
【0077】次に、スキャナ電装制御について説明す
る。図15は実施例に係る画像読取装置の電装制御系の
構成を示すブロック図である。なお、前記各実施例と同
一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
【0078】図において、50は画像信号を増幅するア
ンプ、51はA/Dコンバータ、52はセレクタで、セ
レクタ52は後述する制御部56からの選択信号によっ
て後述するシェーディング補正回路53に画像信号を渡
すかパスするかを切り替えるものである。
【0079】53はシェーディング補正回路で、シェー
ディング補正回路53は、基準白板12を読んだ時に、
補正用データを補正データ用メモリ54に記憶してお
き、原稿読取時に補正データと画像データの演算を行
い、CCD画素感度のばらつきや照明系の光量分布等の
ばらつきを補正する。
【0080】55は画像メモリで、画像メモリ55は、
読み取った画像をデータとして記憶する。また、画像メ
モリ55内のデータは後述する制御部56が自由にアク
セスできる構成となっている。
【0081】56はスキャナ全体の動作の制御や画像処
理を行う制御部で、制御部56は、ランプ、モータ、ソ
レノイド、後述する操作表示部60の制御を行うと共
に、画像メモリ55の画像データを読み出して演算処理
を行う。この制御部56は、CPU、ROM、RAM、
ポート、各負荷のドライバ等で構成される。
【0082】57はスキャンモータであり、第1、第2
キャリッジ3,7を駆動するのに使われる。58はキャ
リッジの位置を検知するためのセンサである。
【0083】59は記憶部で、記憶部59には、異常画
像の判断基準データ、スキャン回数、メッセージ等が記
憶されている。図15には記憶部59を別に図示してあ
るが、制御部56内の記憶素子(ROM、RAM)を使
用してもよい。
【0084】60は操作表示部で、操作表示部60は、
オペレータの操作を受け付けたり、メッセージを表示す
る。
【0085】次に、光学要素に付着したゴミ等の異物を
検出する制御動作の説明を行う。なお、本発明で問題と
なるゴミは、シェーディング補正によっても画像に与え
る影響を補正できない程の悪性なものを前提としてい
る。
【0086】まず、シェーディング補正によっても補正
できないものか(ゴミが存在するか)どうかの判断につ
いて説明する。
【0087】制御部56は、スキャンモータ57を駆動
し、第1キャリッジ3を通常スキャン動作時のシェーデ
ィング補正を行う基準白板12上のラインが読み込める
位置に移動させる。次に制御部56は、選択信号を出し
て、セレクタ52を切り替え、画像信号がシェーディン
グ補正回路54を通らずに画像メモリ55に入力される
ようにする。その後、照明ランプ4を点灯させ、基準白
板12の画像を読み込み、画像メモリ55に記憶する。
【0088】そして、画像メモリ55に記憶した画素デ
ータを制御部56が読み出し、その値をチェックする。
画像メモリ55中のライン画素データは、シェーディン
グ補正がなされていないので、CCD11の画素感度ば
らつきや照明光量分布のばらつきなどで図16に示す値
の分布となる。制御部56は、その信号処理部がシェー
ディング補正可能レべルの閾値を記憶しており、その閾
値と各画素データ値を比較し、閾値以下のレベルを持つ
画素データがある場合は、その画素位置の延長上光路の
どこかにゴミが存在すると判断する。
【0089】次に、ゴミの付着部品(ユニット)を判定
あるいは特定する各判定/特定動作について説明する。
【0090】(1)ゴミ付着部品が基準白板12か、そ
れ以外かの判定動作:制御部56は、セレクタ52を切
り替え、シェーディング補正回路53をパスして、基準
白板12のライン(このラインをラインと称する)を
読み込み、画像データを画像メモリ55に記憶する。次
に制御部56は、図14に示すように、白板移動ソレノ
イド46を駆動させ、基準白板12上のライン(このラ
インをラインと称する)を読み込み、画像メモリ55
に記憶する。
【0091】画像メモリ55に記憶されたライン及び
ラインにおいて、前述のゴミ検出を行い、どちらか片
方のラインの画像データで、ゴミが存在する結果が得ら
れた場合、この時に変更しているのは基準白板読取位置
だけなので、ゴミは基準白板12上に付着していると特
定できる。
【0092】(2)ゴミ付着部品がミラーかそれ以外か
の特定動作:制御部56は、セレクタ52を切り替え、
シェーディング補正回路53をパスして、基準白板12
のラインを読み込み、画像データを画像メモリ55に
記憶する。次に制御部56は、ミラー移動モータ16を
駆動させ、図2及び図3に示すように、ミラー位置関係
を主走査方向に対して変更してから同一のラインを読
み込み、画像データを画像メモリ55に記憶する。
【0093】先に記憶した画像データのゴミ検出を行
い、ゴミの存在する画素位置を画像メモリ55のアドレ
スの換算で得る。後で記憶した画像データについてもゴ
ミ検出を行い、ゴミの存在する画素位置を画像メモリ5
5のアドレスの換算で得る。両者のゴミ存在画素の位置
関係がミラー位置変更前後(図2と図3)で変わってい
れば、ミラー(例えば第1ミラー6)上にゴミが付着し
ていると特定できる。
【0094】図17にミラー移動前(図2)の画素デー
タ特性を、また、図18にミラー移動後(図3)の画素
データ特性をそれぞれ示し、ミラーにゴミが付着してい
ると、ミラー移動前後でゴミの位置が画素位置X1から
画素位置x2に変わっている。
【0095】(3)ゴミ付着部品がCCD上かそれ以外
かの判定動作:制御部56は、セレクタ52を切り替
え、シェーディング補正回路53をパスして、基準白板
12を読み込み、画像データを画像メモリ55に記憶す
る。次に制御部56は、前述したように、CCD移動モ
ータ33を駆動させ、図10及び図11に示すように、
CCD11の位置関係を変更してから、同一の基準白板
12を読み込み、画像データを画像メモリ55に記憶す
る。
【0096】先に記憶した画像データのゴミ検出を行
い、ゴミの存在する画素位置を画像メモリ55のアドレ
スの換算で得る。後で記憶した画像データについても、
ゴミ検出を行い、ゴミの存在する画素位置を画像メモリ
55のアドレス換算で得る。両者のゴミ存在画素の位置
関係がCCD11位置変更前後で変わっていなければ、
CCD11上にゴミが付着していると特定できる。つま
り、ゴミがCCD11上に付着していれば、CCD11
の移動と共にゴミも移動するが、ゴミはCCD11上で
はCCD11に対して移動はしないので、ゴミの画素位
置X3は図19及び図20に示すようにCCD移動前後
でも変わらない。
【0097】図19にCCD移動前の画素データ特性
を、また、図20にCCD移動後の画素データ特性をそ
れぞれ示す。
【0098】以上説明した光学要素の各検査は各々別々
に行ってもよいが、単独の検査では検査を行なった注目
部品にゴミがある場合、ゴミ付着個所の特定ができる
が、注目部品以外にゴミが付着していると特定できな
い。そこで図21に示す実施例では既に説明した検査動
作を一連の流れで実行する。そのことにより、付着部品
の特定が可能となる。以下、光学要素の異常検出を一連
の動作について説明する。
【0099】図21は光学要素の異常検出を一連の動作
として行う場合のフローチャートである。図21にて、
まず、ゴミ検査動作を行い(S1)、ゴミが付着してい
れば(S2でY)、基準白板12を前述のごとく特定動
作させる(S3)。ここで基準白板12上にゴミが付着
していれば(S4でY)、操作表示部60に基準白板1
2の異常のメッセージ表示を行う(S5)。次に前述し
たミラー特定動作を行う(S6)。ここでミラー上にゴ
ミが付着していれば(S7でY)、操作表示部60にミ
ラーが異常である旨のメッセージ表示を行う(S8)。
次に前述したCCD11の特定動作を行う(S9)。こ
こでCCD11上にゴミが付着していれば(S10で
Y)、操作表示部60にCCD11が異常である旨のメ
ッセージ表示を行う(S11)。
【0100】このように構成された前記実施例にあって
は、シェーデイング補正を行なわない画像データで検査
を行なっているため、異常なデータが容易に確認できる
ので、光路上のゴミ等異物の検出が容易な画像読取装置
を提供できる。
【0101】また、前記実施例にあっては、異なる条件
で読み取った画像データを比較しているので、データの
違いによりゴミ等の異物の検出ができ光路上のゴミ等の
検出が容易な画像読取装置を提供できる。
【0102】また、前記実施例にあっては、検査用の画
像として基準白板を使用しているので、安定した基準が
得られゴミ等の異物の検出が容易となる。
【0103】また、前記実施例にあっては、各光学要素
の検査を順次実行しているので、異常のある光学要素が
特定できる。
【0104】次に、前述した異常検出処理の各種実行タ
イミングについて説明する。第1の実行タイミングは電
源オン後に行うものである。図22は異常検出を電源オ
ン後に行う制御のフローチャートである。初期設定(S
21)後、通常スキャン動作(S23)を行う前に必ず
ゴミ検査処理(S22)を行い、異常画像の読み込みを
未然に防いている。
【0105】この例にあっては、電源投入時に光学要素
異常の検査を行っているので、読み取り動作の事前に光
学要素の検査がなされ、未然に異常画像の読み込みを防
ぐことができる。
【0106】第2の実行タイミングはオペレータによっ
て異常検出処理を選択するものである。図23はオペレ
ータによって異常検出処理を選択できる制御のフローチ
ャートである。
【0107】この例では、初期設定(S31)後、検査
要求キーが押されていなければ(S32でN)、通常の
スキャナ処理を行い(S33)、押されていれば(S3
3でY)、ゴミ検査処理を実行する(S34)。
【0108】このように、スキャナ操作部のキー操作に
よりゴミ検査処理の実行が指示できるので、オペレータ
が所望する任意の時期にゴミ検査を実行し、スキャナ異
常を調べることができる。
【0109】この例にあっては、オペレータ操作のキー
を有しているので、オペレータが所望する時に光学要素
の検査を実行できる。
【0110】第3の実行タイミングはスキャナの動作回
数に応じて行うものである。図24はスキャナの動作回
数に応じて異常検出処理を実行する制御のフローチャー
トである。
【0111】まず、初期設定を行い(S41)、スキャ
ン動作回数の読み出しを行う(S42)。この結果、所
定の動作回数を越えていれば(S43でY)、待機中か
否か判断する(S44)。待機中であれば、ゴミ検査処
理を実行して(S45)、スキャン動作回数をクリアす
る(S46)。その後、通常スキャナ処理を実行し(S
47)、スキャン動作したか否か判断する(S48)。
スキャン動作していれば、スキャン回数をカウントしこ
れを記憶する(S49)。
【0112】このように本例では、スキャン動作を行う
度にスキャン回数を記憶し、スキャン回数が予め設定さ
れている所定の回数になった時にゴミ検査処理を行う。
そのことにより、スキャナの使用頻度に応じてゴミ検査
が行え、スキャナの信頼性が高まる。
【0113】この例にあっては、スキャン回数に応じて
光学要素異常の検査を行っているので、使用頻度に応じ
た適切な時期に検査を実行することができる。
【0114】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、特別の検
出手段を必要とせず、光電変換手段を利用して光電要素
の異常が検出されるとともに、光路長を変化させずにミ
ラーを移動するため、ミラーの汚れ等による異常の有無
を検出できる。
【0115】請求項2記載の発明によれば、光路長を変
化させるようにミラーを移動させることで移動したミラ
ーを含む光学系のピント位置等が変化するため、異常の
原因個所が移動したミラーに対して上流側か下流側かを
判断することができる。
【0116】請求項3記載の発明によれば、CCDを直
接位置変更するため、容易にCCDの異常の有無を検出
できる。
【0117】請求項4記載の発明によれば、原稿押さえ
部材と原稿台の異常の有無を分離して把握できる。
【0118】請求項5記載の発明によれば、基準白板を
直接位置変更するので、容易に基準白板の異常を検出で
きる。
【0119】請求項6記載の発明によれば、各光学素子
の検査を順次実行しているので、異常のある光学要素が
特定できる。
【0120】請求項7記載の発明によれば、電源投入時
に光学要素異常の検査を行なっているので、読み取り動
作の事前に光学要素の検査がなされ未然に異常画像の読
み込みを防ぐことができ、また、オペレータ操作のキー
により、オペレータが所望する時に光学要素の検査を実
行でき、また、スキャン回数に応じて、光学要素異常の
検査を行なっているので、使用頻度に応じた適切な時期
に検査を実行できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る画像読取装置の構
成図である。
【図2】本発明の第1の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第1の位置の平面図であ
る。
【図3】本発明の第1の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第2の位置の平面図であ
る。
【図4】本発明の第2の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第1の位置の平面図であ
る。
【図5】本発明の第2の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第2の位置の平面図であ
る。
【図6】本発明の第3の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第1の位置の正面図であ
る。
【図7】本発明の第3の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第2の位置の正面図であ
る。
【図8】本発明の第4の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第1の位置の正面図であ
る。
【図9】本発明の第4の実施例に係る画像読取装置の第
1キャリッジ部の第1ミラーが第2の位置の正面図であ
る。
【図10】本発明の第5の実施例に係る画像読取装置の
CCDが第1の位置の側面図である。
【図11】本発明の第5の実施例に係る画像読取装置の
CCDが第2の位置の側面図である。
【図12】本発明の第6の実施例に係る画像読取装置の
コンタクトガラスが第1の位置の側面図である。
【図13】本発明の第6の実施例に係る画像読取装置の
コンタクトガラスが第2の位置の側面図である。
【図14】本発明の第7の実施例に係る画像読取装置の
基準白板部の正面図である。
【図15】本発明の実施例に係る画像読取装置の電装制
御系の構成図である。
【図16】シェーディング補正前の画素データの特性図
である。
【図17】ミラー移動前の画素データの特性図である。
【図18】ミラー移動後の画素データの特性図である。
【図19】CCD移動前の画素データの特性図である。
【図20】CCD移動後の画素データの特性図である。
【図21】光学要素の異常検出を一連の動作として行う
場合の制御フローチャートである。
【図22】異常検出を電源オン後に行う制御のフローチ
ャートである。
【図23】オペレータによって異常検出処理を選択でき
る制御のフローチャートである。
【図24】スキャナの動作回数に応じて異常検出処理を
実行する制御のフローチャートである。
【符号の説明】
1 スキャナ 2 コンタクトガラス(原稿台) 3 第1キャリッジ 4 照明ランプ(照明手段) 6 第1ミラー 7 第2キャリッジ 8 第2ミラー 9 第3ミラー 10 レンズ(結像手段) 11 CCD(光電変換素子) 12 基準白板 13 光路 16 ミラー移動モータ 33 CCD移動モータ 35 コンタクトガラス移動モータ 41 白板移動ソレノイド 53 シェーディング補正回路 55 画像メモリ 56 制御部 57 スキャンモータ 60 操作表示部

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原稿を支持する原稿台と、原稿を照明す
    る照明手段と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
    電変換する光電変換素子と、反射光または透過光を前記
    光電変換素子に導き結像させる結像手段とで光学要素を
    構成する画像読取装置において、 前記光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を
    持たせ、 原稿と前記光電変換素子間に光路を構成する1枚以上の
    ミラーを有し、 前記ミラーのうち少なくとも1枚について、光路中での
    位置関係を、光路長を変化させずに変更するミラー位置
    変更手段を備えたことを特徴とする画像読取装置。
  2. 【請求項2】 原稿を支持する原稿台と、原稿を照明す
    る照明手段と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
    電変換する光電変換素子と、反射光または透過光を前記
    光電変換素子に導き結像させる結像手段とで光学要素を
    構成する画像読取装置において、 前記光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を
    持たせ、 原稿と前記光電変換素子間に光路を構成する1枚以上の
    ミラーを有し、 前記ミラーのうち少なくとも1枚について、光路中での
    位置関係を、光路長を変化させて変更するミラー位置変
    更手段を備えたことを特徴とする画像読取装置。
  3. 【請求項3】 原稿を支持する原稿台と、原稿を照明す
    る照明手段と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
    電変換する光電変換素子と、反射光または透過光を前記
    光電変換素子に導き結像させる結像手段とで光学要素を
    構成する画像読取装置において、 前記光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を
    持たせ、 前記光電変換素子を移動させ光路中での位置関係を変更
    する位置変更手段を備えたことを特徴とする画像読取装
    置。
  4. 【請求項4】 原稿を支持する原稿台と、原稿を照明す
    る照明手段と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
    電変換する光電変換素子と、反射光または透過光を前記
    光電変換素子に導き結像させる結像手段とで光学要素を
    構成する画像読取装置において、 前記光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を
    持たせ、 前記原稿台上の原稿を押さえる原稿押さえ部材あるいは
    前記原稿台のいずれか一方を移動させる移動手段を備え
    たことを特徴とする画像読取装置。
  5. 【請求項5】 原稿を支持する原稿台と、原稿を照明す
    る照明手段と、原稿の反射光または透過光を受光し、光
    電変換する光電変換素子と、反射光または透過光を光電
    変換素子に導き結像させる結像手段とで光学要素を構成
    する画像読取装置において、 光電変換素子に、光学要素の異常を検出する機能を持た
    せ、 シェーディング補正の白板を有し、 前記白板の位置を変更する手段を備えたことを特徴とす
    る画像読取装置。
  6. 【請求項6】 請求項1及び請求項3及び請求項5を備
    えた画像読取装置において、 前記各検査を順次実行する実行手段を有し、 前記検査結果により異常な光学要素を特定することを特
    徴とする画像読取装置。
  7. 【請求項7】 請求項6記載において、光学構成要素の
    検査を実行するタイミングを、電源投入時、あるいはオ
    ペレータの要求による時、あるいは所定の読み取り回数
    スキャン回数になった時とすることを特徴とする画像読
    取装置。
JP5251683A 1993-07-13 1993-10-07 画像読取装置 Pending JPH07107250A (ja)

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JP5251683A JPH07107250A (ja) 1993-10-07 1993-10-07 画像読取装置
US08/471,018 US5662828A (en) 1993-07-13 1995-06-06 Compound having unsaturated side chain, process for preparing the same, liquid crystalline polymer prepared from the same, liquid crystal mixture and display element

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0989727A1 (en) * 1998-09-22 2000-03-29 Fujifilm Electronic Imaging Limited Improvements in image projection systems
JP2007088616A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Seiko Epson Corp 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0989727A1 (en) * 1998-09-22 2000-03-29 Fujifilm Electronic Imaging Limited Improvements in image projection systems
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