JPH0686345U - 複合半導体装置 - Google Patents

複合半導体装置

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JPH0686345U
JPH0686345U JP3107393U JP3107393U JPH0686345U JP H0686345 U JPH0686345 U JP H0686345U JP 3107393 U JP3107393 U JP 3107393U JP 3107393 U JP3107393 U JP 3107393U JP H0686345 U JPH0686345 U JP H0686345U
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JP
Japan
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lid
semiconductor device
composite semiconductor
external lead
lid body
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Pending
Application number
JP3107393U
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English (en)
Inventor
和夫 白井
金子  保
Original Assignee
日本インター株式会社
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Publication date
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Publication of JPH0686345U publication Critical patent/JPH0686345U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 蓋体に外部導出端子間の沿面距離を長くする
ための長溝を形成しても蓋体の機械的強度が低下しない
構造の複合半導体装置を提供すること。 【構成】 蓋体4に形成する長溝7を該蓋体4の両側面
まで到らないようにする。これにより蓋体4の両側面近
傍では蓋体4そのものの肉厚を有することになり、該蓋
体4の機械的強度が増大する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、外部導出端子間の沿面距離を増大させた複合半導体装置に関するも のである。
【0002】
【従来の技術】
この種の複合半導体装置の従来構造の概略を図5乃至図9に示す。 これらの図において、放熱板1上には、半導体チップ等の電子部品を搭載した 図示しない絶縁基板が固着されている。また、放熱板1の外周部に当接する絶縁 ケース2が被せられている。該絶縁ケース2の内側には必要に応じてゲル状物質 コート剤や封止用樹脂等の絶縁物が充填されている。 絶縁基板上に半田付けされた外部導出端子3の上端を蓋体4の外部導出端子用 貫通孔5に通して、蓋体4を絶縁ケース2の上端開口部に被せている。 次いで、蓋体4より外部に露出した外部導出端子の一部を図示のように直角に 折曲げて折曲部3aを形成している。
【0003】 ところで、上記の複合半導体装置を他の装置に組み込んで運転する場合、外部 導出端子3間には数百ボルトから数千ボルトの電圧が印加されるので、該端子3 ,3間の沿面距離を長くする必要がある。その例として、図6のように蓋体3の 略中央部に凸状の隔壁6を設けるか若しくは図5のように蓋体3の略中央部に長 溝7を設けて沿面距離を長くしている。しかしながら、隔壁6を設けた場合には 、外部導出端子3に他の導体を取り付ける際に次のような欠点を有する。 すなわち、最近では複合半導体装置の組立を自動機で行ない生産効率を上げて いるが、そのために、図6に示す構造の複合半導体装置の外部導出端子3には絶 縁平板の表面に導体パターンを配した配線板8を上記複合半導体装置の上面全体 に被せるように載せて外部導出端子3のねじ孔9を利用して結線するようにして いる。この場合、蓋体4には凸状の隔壁6があるために、配線板8を面一に載せ ることができず、図6のような構造の複合半導体装置は自動機を用いた組立には 使用することができなかった。
【0004】 そこで、自動組立用として図8、図9に示すような蓋体4を使用した図7に示 す複合半導体装置が使用されている。 すなわち、外部導出端子3そのものにねじ孔9を形成した場合は、蓋体4には 単にねじ逃げ孔10のみを形成し、外部導出端子3の板厚tが図8に示すように 薄い場合には、蓋体4の方にナットを収納する凹部となる外部導出端子孔(図示 せず)を形成する。そして、長溝7をこの蓋体4の両側面まで到達するように設 ける。このような蓋体4を用いた図7の複合半導体装置は、上記の自動組立の際 の配線板8の使用には何等の不便もない構造となるものである。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上記のような構造の蓋体を用いた複合半導体装置において、装置の小型化及び 装置自体の高さを低く抑えるために、絶縁ケース2の高さは低く、また、蓋体4 の肉厚はできるだけで薄くする必要がある。かかる場合に、蓋体4の肉厚を薄く すると、長溝7を形成した底部の厚みtが薄くなり、機械的強度が弱くなるとい う解決すべき課題があった。
【0006】
【考案の目的】
本考案は、上記のような課題を解決するためになされたもので、蓋体に外部導 出端子間の沿面距離を長くするための長溝を形成しても蓋体の機械的強度が低下 しない構造の複合半導体装置を提供することを目的とするものである。
【0007】
【問題点を解決するための手段】
本考案の複合半導体装置は、電子部品を搭載した基板上に両端開口の絶縁ケー スを被せ、該絶縁ケース上端開口部に複数の外部導出端子を貫通させた蓋体を載 せた複合半導体装置において、前記外部導出端子間の蓋体の表面に、該蓋体の両 側面まで到達せず、かつ、前記外部導出端子の折曲部の表面長さに略等しい長さ の長溝を形成したことを特徴とするものである。
【0008】
【作用】
本考案の複合半導体装置においては、蓋体に形成した長溝が該蓋体の両側面ま で到っていないので、両側面近傍では蓋体そのものの肉厚を有することになり、 該蓋体の機械的強度が増大する。
【0009】
【実施例】
以下に、本考案の実施例を図1乃至図4を参照して詳細に説明する。 図1は複合半導体装置の全体を示す平面図、図2はその正面図、図3は上記複 合半導体装置に使用する蓋体のみの平面図、図4は蓋体の縦断面図である。 なお、従来の複合半導体装置と同一又は同等部分には、同一符号を付してその 詳しい説明は省略する。 これらの図において、蓋体4に形成する長溝17は、その両端が蓋体4の両側 面まで到らず、長溝17の長さLBは図1に示した外部導出端子3の折曲部3a の表面長さLAに略等しい寸法に形成してある。外部導出端子用貫通孔5は従来 と同様に形成してある。また、ねじ逃げ孔10若しくはナット収納孔も従来と同 様としても良いし、外部導出端子3の幅が大きくなった場合には、図1に示した それぞれ2個のねじ孔9に対応して図3及び図4に示したように、蓋体4に合計 4個のねじ逃げ孔10若しくはナット収納孔を形成するようにしても良い。 以上のような構造の蓋体4を使用して従来と同様に複合半導体装置を組み立て る。 なお、外部導出端子3の折曲部3aの角3bを丸くすることにより、その分だ け沿面距離を長くすることができる。
【0010】
【考案の効果】
本考案は上記のように長溝を蓋体の両側面に到達しないように形成したので、 蓋体の機械的強度を損ねることなく、外部導出端子間の沿面距離を増大すること ができるなどの効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】複合半導体装置の全体を示す平面図である。
【図2】上記複合半導体装置の正面図である。
【図3】上記複合半導体装置に使用する蓋体のもの平面
図である。
【図4】上記蓋体の縦断面図である。
【図5】従来の複合半導体装置の全体を示す平面図であ
る。
【図6】上記複合半導体装置の正面図である。
【図7】従来の他の複合半導体装置の正面図である。
【図8】上記図8における蓋体の一部を切り欠いた正面
図である。
【図9】上記図8の蓋体の正面図である。
【符号の説明】
1 絶縁板 2 絶縁ケース 3 外部導出端子 3a 折曲部 4 蓋体 5 外部導出端子用貫通孔 6 隔壁 7 長溝 8 配線板 9 ねじ孔 10 ねじ逃げ孔

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品を搭載した基板上に両端開口の
    絶縁ケースを被せ、該絶縁ケース上端開口部に複数の外
    部導出端子を貫通させた蓋体を載せた複合半導体装置に
    おいて、前記外部導出端子間の蓋体の表面に、該蓋体の
    両側面まで到達せず、かつ、前記外部導出端子の折曲部
    の表面長さに略等しい長さの長溝を形成したことを特徴
    とする複合半導体装置。
JP3107393U 1993-05-19 1993-05-19 複合半導体装置 Pending JPH0686345U (ja)

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JP3107393U JPH0686345U (ja) 1993-05-19 1993-05-19 複合半導体装置

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JP3107393U JPH0686345U (ja) 1993-05-19 1993-05-19 複合半導体装置

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JPH0686345U true JPH0686345U (ja) 1994-12-13

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ID=12321275

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JP3107393U Pending JPH0686345U (ja) 1993-05-19 1993-05-19 複合半導体装置

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JP (1) JPH0686345U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008198899A (ja) * 2007-02-15 2008-08-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2011228351A (ja) * 2010-04-15 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008198899A (ja) * 2007-02-15 2008-08-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2011228351A (ja) * 2010-04-15 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

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