JPS6334282Y2 - - Google Patents
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- JPS6334282Y2 JPS6334282Y2 JP1981040095U JP4009581U JPS6334282Y2 JP S6334282 Y2 JPS6334282 Y2 JP S6334282Y2 JP 1981040095 U JP1981040095 U JP 1981040095U JP 4009581 U JP4009581 U JP 4009581U JP S6334282 Y2 JPS6334282 Y2 JP S6334282Y2
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- Japan
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- resin
- insulating frame
- metal body
- circuit element
- semiconductor device
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- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は樹脂封止型半導体装置の構造に関する
もので、特に放熱良好にして実装の容易な安価な
半導体装置を提供するものである。
もので、特に放熱良好にして実装の容易な安価な
半導体装置を提供するものである。
第1図a,bは従来装置の平面図及び正面断面
図で不導体で熱伝導の良い不導体物(例えばアル
ミナ基板)の両面に導体物 2a , 2b を印刷
等で形成し、片面に半導体(ダイオード)チツプ
と接続子(電極板)及びリード線(端子)
を半田付けし、単相全波整流接続(ブリツジ)型
半導体装置を構成し、さらにもう一方の面に熱伝
導の良好な金属物(例えば銅板)に導体物 2b
を介して半田付けを行ない、樹脂枠を接着し
封止樹脂(例えばエポキシ樹脂)で封止してい
る。係る従来装置においては (1) 不導体物は高価格であり、金属物に半田
付けする時に広い面積の為、全面完全に半田付
けできず、気泡を抱いて熱伝導を悪くする。
図で不導体で熱伝導の良い不導体物(例えばアル
ミナ基板)の両面に導体物 2a , 2b を印刷
等で形成し、片面に半導体(ダイオード)チツプ
と接続子(電極板)及びリード線(端子)
を半田付けし、単相全波整流接続(ブリツジ)型
半導体装置を構成し、さらにもう一方の面に熱伝
導の良好な金属物(例えば銅板)に導体物 2b
を介して半田付けを行ない、樹脂枠を接着し
封止樹脂(例えばエポキシ樹脂)で封止してい
る。係る従来装置においては (1) 不導体物は高価格であり、金属物に半田
付けする時に広い面積の為、全面完全に半田付
けできず、気泡を抱いて熱伝導を悪くする。
(2) 金属物は、実装時に安定した平面度が必要
であるが、製造時または実装時に図4に示す様
に金属物と放熱フインの間に隙間Sを生じ
放熱を悪くする。
であるが、製造時または実装時に図4に示す様
に金属物と放熱フインの間に隙間Sを生じ
放熱を悪くする。
(3) 金属物と樹脂枠は接着するが、金属物
の方が樹脂枠に比べて熱膨張係数が大きい
為、温度変化により樹脂枠にクラツクが発生
するなど、密着性に問題がある。
の方が樹脂枠に比べて熱膨張係数が大きい
為、温度変化により樹脂枠にクラツクが発生
するなど、密着性に問題がある。
本考案は上記欠点の解消を目的としたもので、
以下本考案を詳細に説明する。第2図は本
考案に適用する半導体回路素体Aの平面図、正面
図及び電気的等価回路図、第3図a,b及びc,
dは本考案の一実施例装置の夫々回路素体Aの挿
入前及び挿入後の平面図及び正面断面図で先ず回
路素体Aは電極金属板4及び接続金属板4′間に
半導体(ダイオード)チツプ3を挟持し、これを
リード端子5と共に半田付等により一体に形成さ
れる。次に熱伝導の良い金属物(例えばアルミニ
ウム)を第3図bに示す様な断面凹状形状に加
工したものに、インジエクシヨンモールド方法で
樹脂枠を金型(図示していない)を使用して一
体に成型する。完成した金属物と樹脂枠の一
体ケースに封止樹脂(例えばエポキシ樹脂)を
注入し、その中に回路素体Aを挿入して樹脂封止
する。
以下本考案を詳細に説明する。第2図は本
考案に適用する半導体回路素体Aの平面図、正面
図及び電気的等価回路図、第3図a,b及びc,
dは本考案の一実施例装置の夫々回路素体Aの挿
入前及び挿入後の平面図及び正面断面図で先ず回
路素体Aは電極金属板4及び接続金属板4′間に
半導体(ダイオード)チツプ3を挟持し、これを
リード端子5と共に半田付等により一体に形成さ
れる。次に熱伝導の良い金属物(例えばアルミニ
ウム)を第3図bに示す様な断面凹状形状に加
工したものに、インジエクシヨンモールド方法で
樹脂枠を金型(図示していない)を使用して一
体に成型する。完成した金属物と樹脂枠の一
体ケースに封止樹脂(例えばエポキシ樹脂)を
注入し、その中に回路素体Aを挿入して樹脂封止
する。
このような構成の本考案装置は金属物には第
3図bに示す凹凸部 6a 及び段付き部 6b より
成る溝(へこみ部)6cを設けることによつて、
樹脂枠との密着性及び抜け止めを防止する効果
があり、樹脂枠の外側を金属物で被つている
為、樹脂枠に対して熱膨張係数の違いによる影
警はなくなる。回路素体Aと金属物は、電気的
に絶縁されている必要がある。該素体Aと金属物
は、絶縁耐圧を一定に保つにはその間隙部分
の樹脂枠と封止樹脂の厚さによつて決まり、
樹脂枠 7a 部分は、素体Aを挿入する時のスト
ツパーの役目をなし、安定した間隙部分にな
る。即ち、本案では絶縁枠7の一部7aは金属体
6の底面角部で該底面より突出する略L字形状を
有しているために該樹脂枠7aは上述の如くスト
ツパをなす。このため従来装置の如く不導体物を
設けることが不用となり組立工数が軽減されると
共に装置が安価に構成できる等の大きな利点があ
る。因みに樹脂枠 7a 部分はインジエクシヨン
モールド成形時に薄くすることは困難であるが、
へこみ部 6c があることにより、樹脂枠 7a
を厚くすることができ成形性が非常に良くなる。
3図bに示す凹凸部 6a 及び段付き部 6b より
成る溝(へこみ部)6cを設けることによつて、
樹脂枠との密着性及び抜け止めを防止する効果
があり、樹脂枠の外側を金属物で被つている
為、樹脂枠に対して熱膨張係数の違いによる影
警はなくなる。回路素体Aと金属物は、電気的
に絶縁されている必要がある。該素体Aと金属物
は、絶縁耐圧を一定に保つにはその間隙部分
の樹脂枠と封止樹脂の厚さによつて決まり、
樹脂枠 7a 部分は、素体Aを挿入する時のスト
ツパーの役目をなし、安定した間隙部分にな
る。即ち、本案では絶縁枠7の一部7aは金属体
6の底面角部で該底面より突出する略L字形状を
有しているために該樹脂枠7aは上述の如くスト
ツパをなす。このため従来装置の如く不導体物を
設けることが不用となり組立工数が軽減されると
共に装置が安価に構成できる等の大きな利点があ
る。因みに樹脂枠 7a 部分はインジエクシヨン
モールド成形時に薄くすることは困難であるが、
へこみ部 6c があることにより、樹脂枠 7a
を厚くすることができ成形性が非常に良くなる。
また、絶縁耐圧を希望する値に決定する場合間
隙が影響し、樹脂枠 7a 部分の厚さを可変す
ることによつて可能である。
隙が影響し、樹脂枠 7a 部分の厚さを可変す
ることによつて可能である。
金属物は断面凹状形をしているため、側面か
らの放熱効果がプラスされ、かつ、製作後は安定
した形状を維持することができるため、実装時に
放熱フインとの間隙Sが発生するのを防止する
効果がある。
らの放熱効果がプラスされ、かつ、製作後は安定
した形状を維持することができるため、実装時に
放熱フインとの間隙Sが発生するのを防止する
効果がある。
金属物は、引き抜き(または押し出し)加工
方法で製作することにより、希望する形状のもの
が安価に製作することが可能である。
方法で製作することにより、希望する形状のもの
が安価に製作することが可能である。
更に樹脂(絶縁)枠7を金属物(体)の凹部周
縁を跨つて形成することによりケースの周囲に周
縁と回路素体Aのリード端子との間に所要沿面
距離を形成できる利点がある。以上実施例におい
ては溝6cに凹凸部6aを設ける例について説明
したが、この他金属物6の夫々対向面に設けても
よい。更に回路素体Aとしてこの他センタータツ
プ型、ダブラー型及び3相全波整流型等にも同様
に実施できることは明らかである。
縁を跨つて形成することによりケースの周囲に周
縁と回路素体Aのリード端子との間に所要沿面
距離を形成できる利点がある。以上実施例におい
ては溝6cに凹凸部6aを設ける例について説明
したが、この他金属物6の夫々対向面に設けても
よい。更に回路素体Aとしてこの他センタータツ
プ型、ダブラー型及び3相全波整流型等にも同様
に実施できることは明らかである。
以上の説明から明らかなように、本考案によれ
ば放熱効果の良好な半導体装置が安価、経済的に
提供できるので実用上の効果は大きい。
ば放熱効果の良好な半導体装置が安価、経済的に
提供できるので実用上の効果は大きい。
第1図a,bは従来装置の平面図及び正面断面
図、第2図a,b,cは本考案装置に適用する半
導体回路素体の平面図、正面図及び電気的等価回
路図、第3図a,b及びc,dは本考案の一実施
例装置の回路素体挿入前及び挿入後の平面図及び
正面断面図、第4図は従来装置の説明図である。 図において1は不導体物、2a,2bは導体
物、3は半導体チツプ、4,4′は電極及び接続
金属板、5はリード端子、6は断面凹状金属体、
6aは凹凸部、6bは段付き部、6cは溝(へこ
み部)、6dは取付孔、7は絶縁(樹脂)枠、8
は封止樹脂、9,Sは間隙、10はフインであ
る。
図、第2図a,b,cは本考案装置に適用する半
導体回路素体の平面図、正面図及び電気的等価回
路図、第3図a,b及びc,dは本考案の一実施
例装置の回路素体挿入前及び挿入後の平面図及び
正面断面図、第4図は従来装置の説明図である。 図において1は不導体物、2a,2bは導体
物、3は半導体チツプ、4,4′は電極及び接続
金属板、5はリード端子、6は断面凹状金属体、
6aは凹凸部、6bは段付き部、6cは溝(へこ
み部)、6dは取付孔、7は絶縁(樹脂)枠、8
は封止樹脂、9,Sは間隙、10はフインであ
る。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 電極金属板上に半導体素子を固着し、これら
を接続金属板により所要回路に接続してリード
端子を設けた半導体回路素体をケース内に収容
して樹脂封止するようにした樹脂封止型半導体
装置において、前記ケースを断面凹状金属体の
対向面に接するように一体成形された絶縁枠に
より構成すると共に前記絶縁枠の一部は該金属
体の底面角部で該底面より突出する略L字形状
を有し、且つ前記絶縁枠のL字形状部上に前記
電極金属板が位置するように前記半導体回路素
体を挿入するようにしたことを特徴とする樹脂
封止型半導体装置。 (2) 断面凹状金属体の底面角部に溝を形成し、該
溝に絶縁枠の一部を埋込むようにしたことを特
徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記載の
樹脂封止型半導体装置。 (3) 絶縁枠を断面凹状金属体の凹部周縁を跨つて
形成したことを特徴とする実用新案登録請求の
範囲第1項記載の樹脂封止型半導体装置。 (4) 断面凹状金属体の対向面もしくは溝面を凹凸
状に形成したことを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第(1)項又は第(2)項記載の樹脂封止型半
導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981040095U JPS6334282Y2 (ja) | 1981-03-20 | 1981-03-20 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981040095U JPS6334282Y2 (ja) | 1981-03-20 | 1981-03-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57154161U JPS57154161U (ja) | 1982-09-28 |
JPS6334282Y2 true JPS6334282Y2 (ja) | 1988-09-12 |
Family
ID=29837208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1981040095U Expired JPS6334282Y2 (ja) | 1981-03-20 | 1981-03-20 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6334282Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013115133A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Semiconductor Components Industries Llc | 回路装置の製造方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5696639U (ja) * | 1979-12-26 | 1981-07-31 |
-
1981
- 1981-03-20 JP JP1981040095U patent/JPS6334282Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57154161U (ja) | 1982-09-28 |
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