JPH0677001A - チップ状電子部品及びその製造方法 - Google Patents

チップ状電子部品及びその製造方法

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JPH0677001A
JPH0677001A JP4230184A JP23018492A JPH0677001A JP H0677001 A JPH0677001 A JP H0677001A JP 4230184 A JP4230184 A JP 4230184A JP 23018492 A JP23018492 A JP 23018492A JP H0677001 A JPH0677001 A JP H0677001A
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JP
Japan
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chip
primary
electrode
electronic component
primary electrode
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JP4230184A
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English (en)
Inventor
Koichi Oba
耕一 大庭
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 1次ブレーク時の破断面、特に1次電極の破
断面の凹凸を少なくする。 【構成】 このチップ抵抗器1は、絶縁基板20の表面
に形成されたブレーク溝12に沿って分割して得られる
ものであり、矩形状の本体と、本体の両端に形成された
1対の1次電極51と、1次電極51間に形成された抵
抗体4と、1次電極51が形成された側の各側面に1次
電極51と接続して形成された2次電極とを備えてい
る。そして、前記1次電極51は、ブレーク溝12近傍
の部分の厚みが他の部分に比較して薄くなるように形成
されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁基板の表面に形成
されたブレーク溝に沿って分割して得られるチップ状電
子部品及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】チップ状電子部品の一例としてのチップ
抵抗器は、絶縁基板の表面に形成された抵抗素子と、こ
の抵抗素子の両端に形成された1次電極と、1次電極が
形成された側の側面に1次電極と電気的に接続して形成
された2次電極とを有している。
【0003】このようなチップ抵抗器を製造する方法の
一例が特公昭58−10843号公報に示されている。
この方法では、絶縁基板の表面に縦横に格子状のブレー
ク溝が形成され、このブレーク溝をまたぐように1次電
極が形成されている。すなわち、隣接するチップ抵抗器
の1次電極が1つのパターンで形成される。このように
して1次電極を形成した後に、両端の1対の1次電極を
またぐように抵抗体を形成し、その後1次電極がまたい
でいるブレーク溝を割って短冊状の基板とし、さらに1
次電極が形成された側の側面を覆うように2次電極を形
成している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ブレーク溝上に1次電
極パターンを形成する際、電極と基板との接着強度を確
保するために1次電極は所定の膜厚が必要である。この
ため、1次ブレークを行った際に1次電極が均等に割れ
にくく、破断部に凹凸が生じてしまう。したがって、後
工程である2次電極の形成時に、1次電極の不均一な破
断面に2次電極が乗り上げ、その部分に突起が生じてし
まう。このような突起が生じると、バルクカセットによ
るマルチマウントを行う際に、カセット内のシュート部
でチップ抵抗器が詰まってしまうという問題がある。ま
た、テーピング梱包時にも前述のような突起がキャビテ
ィに詰まってしまうという問題がある。
【0005】なお、特公昭60−8603号公報に示さ
れるチップ抵抗器の製造方法では、長尺状基板の幅方向
両端面を曲面としてブレークによるバリをなくすことが
示されている。しかし、このような製造方法では、端面
を曲面にするための加工が煩雑であり、しかもブレーク
による分割を用いていないので量産には不向きであると
いう問題がある。
【0006】本発明の目的は、ブレークによってチップ
状電子部品を分割でき、しかも均一な破断面を得ること
にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係るチップ
状電子部品は、絶縁基板の表面に形成されたブレーク溝
に沿って分割して得られるチップ状電子部品であり、矩
形状の本体と、本体の両端に形成された1対の1次電極
部と、1対の1次電極部間に形成された電気的機能要素
と、1対の1次電極部が形成された側の各側面に、1次
電極部と接続して形成された2次電極部とを備えてい
る。そして、前記1次電極部は、ブレーク溝近傍の厚み
が他の部分に比較して薄くなるように形成されている。
【0008】第2の発明に係るチップ状電子部品の製造
方法は、以下の工程を含んでいる。 ◎ チップ状電子部品の形状に区画するようにブレーク
溝が表面に形成された絶縁基板に、ブレーク溝を覆って
隣接する部品間にまたがるように、かつブレーク溝近傍
の厚みが他の部分に比較して薄くなるように電極層を形
成し、各チップ状電子部品の両端に1対の1次電極部を
形成する工程。 ◎ 各チップ状電子部品の1対の1次電極部間に電気的
機能要素を形成する工程。 ◎ 1対の1次電極部が形成された側の側面に、1次電
極部と接続して2次電極部を形成する工程。
【0009】
【作用】第1の発明に係るチップ状電子部品では、本体
の両端に1対の1次電極部が形成されており、この1次
電極部は、ブレーク溝近傍の厚みが他の部分に比較して
薄くなるように形成されている。このため、ブレーク溝
に沿ってチップ状電子部品を分割した際、1次電極部が
容易に破断し、破断面の凹凸が少なくなる。また、2次
電極部が1次電極部の厚みの薄い部分に垂れ込み、突起
等の少ないチップ状電子部品が得られる。このため、バ
ルクカセットによってマルチマウントを行う際にも、カ
セット内のシュート部での詰まり等が防止される。
【0010】第2の発明に係る製造方法では、1次電極
部を形成する際、ブレーク溝を覆って隣接する部品間に
またがるように、かつブレーク溝近傍の厚みが他の部分
に比較して薄くなるように形成される。このため、ブレ
ーク溝に沿って絶縁基板を分割する際、1次電極部が容
易に破断し、破断面の凹凸が少なくなる。さらに、分割
工程の後に2次電極部を形成する際、1次電極部の薄い
部分を覆うように2次電極部が形成されるので、ブレー
ク部の突起等が少なくなる。このため、バルクカセット
使用時での実装ミスを少なくできる。
【0011】
【実施例】図1は、本発明が適用されたチップ状電子部
品の一例としてのチップ抵抗器1を示している。図にお
いて、本体2は、概ね直方体形状であり、たとえば96
%アルミナセラミックスから構成されている。セラミッ
ク本体2の表面3の中央部には、抵抗体4が形成されて
いる。抵抗体4は、RuO2 系またはBi2 7 系の黒
色物質から構成されている。抵抗体4の1対の端部に
は、それぞれ内部電極5が接続されている。内部電極5
は、表面3及び裏面6に形成された1次電極と、本体2
の側面に形成され表面と裏面の1次電極を電気的に接続
する2次電極とからなっている。表面3上において、抵
抗体4及び内部電極5の一部を覆うように保護ガラス7
が配置されている。保護ガラス7から露出した内部電極
5の表面には、電気メッキが設けられている。なお、内
部電極5はたとえば銀、保護ガラス7はたとえば硼珪酸
塩ガラス、電気メッキ層8はたとえばニッケルメッキ及
び又はすずメッキである。
【0012】次に、本発明に係るチップ状電子部品の製
造方法の一例として、上述のチップ抵抗器1の製造方法
を説明する。まず、焼成前の矩形のセラミック基板20
を図2(a)のように用意する。次に、同図(b)のよ
うに、本体20に電子部品の形状に対応するよう縦横に
ブレーク溝12を形成し、基板20を区画する。ブレー
ク溝12が形成された基板20は焼成される。
【0013】焼成後の基板20に対して(c)に示すよ
うに、表面に導電材を印刷し、これを焼成することによ
り1次電極51を形成する。ここで、1次電極51を印
刷する際には、図5に示すようなパターンのスクリーン
(♯300)30を用い、銀−パラジウム(田中マツセ
イ♯4846)を含む導電性ペーストを用いてスキージ
により印刷する。ここで、スクリーン30は、1次電極
51が形成される部分にレジスト抜け部30aを有して
おり、ブレーク溝12に対応する部分には細い「縞」3
0bが形成されている。このようなスクリーン30を用
いて1次電極51を形成することにより、図4に拡大し
て示すように、ブレーク溝12に対応する部分51aが
他の部分51bに比べてほぼ半分の膜厚になる。一例と
して、ブレーク溝12に対応する部分51aの厚みが6
μとなり、他の部分51bの厚みが12μとなる。ま
た、1次電極51が形成された後の焼成温度はたとえば
850℃である。
【0014】次に、図2(d)に示すように、1次電極
51に一部が重なるように抵抗体(たとえばデュポン製
♯9800)を印刷し、焼成することにより抵抗体4が
形成される。同図(e)示される工程では、レーザトリ
ミングによる抵抗値の調整を行う。さらに同図(f)に
示す工程では、抵抗体4を被覆して保護するため、ガラ
ス材料の印刷と焼成を行い、保護ガラス7を形成する。
保護ガラス7は、抵抗体4及び1次電極51の一部を連
続的に覆っている。なお、図2の(e)及び(f)に示
す両工程は逆にしてもよい。
【0015】次に、図3(a)に示すように、横方向に
延びるブレーク溝12に沿って基板20を分割し(1次
ブレーク)、短冊状部材21を得る。得られた短冊状部
材21の分割端面に、図3(b)に示すように、電極材
料(Ad電極:たとえばデュポン製♯5432)の印刷
及び焼成を行って2次電極52を形成する。これによ
り、内部電極5が完成する。
【0016】前記1次ブレークから2次電極52を形成
する工程中の基板20の様子を図6(a)〜(c)拡大
して示す。図6(a)に示す状態から1次ブレークを行
うと、1次電極51のブレーク溝12に対応する部分5
1aはその厚みが薄くなっているので、図6(b)示す
ようにその破断面の凹凸は少なく、均一な平坦の破断面
12aとなる。次に2次電極52を破断面12aに対し
て形成すると、図6(c)に示すように、破断面12a
を覆う部分には突起等が形成されず、また1次電極51
の厚みの薄い部分51aに2次電極52が回り込み、滑
らかな端部となる。
【0017】次に、短冊状部材21をブレーク器等に挿
入し、図3(c)に示すようなチップ状部材27得る。
このようにして得られたチップ状部材27に対してメッ
キ処理を施し、露出している内部電極5の表面に図3
(d)に示すようなメッキ層8が形成される。このメッ
キ処理時においても、前述のように破断部が滑らかにな
っているので、均一なメッキ層が得られる。
【0018】このような本実施例では、ブレーク溝によ
り迅速に多数のチップ状部品を得ることができるととも
に、均一な破断面が得られ、特にバルクケースを用いて
マルチマウントする際にも実装ミスを軽減することがで
きる。本発明者らの実験結果によれば、バルクケースを
用いたマルチマウントるおける実装ミスは、従来品では
4%であり、本発明を適用した場合には2%に軽減され
た。また、テーピング品のミスマウント率は、0.05
%から0.01%へ改善された。
【0019】なお、前記実施例ではチップ抵抗器に本発
明を適用したが、たとえば抵抗、コンデンサ及びコイル
の機能を有する単体または複合電子部品や多連チップ、
厚膜回路基板等についても本発明を同様に適用できる。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明では、1次電極のブ
レーク溝近傍の厚みを他の部分より薄く形成しているの
で、ブレーク時に凹凸の少ない破断面が得られ、チップ
状電子部品の外形のバリを少なくできる。このため、自
動装置による実装時にシュート部でチップ状電子部品が
詰まるという不具合が防止でき、実装ミスを軽減でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例が適用されたチップ抵抗器の
一部切欠き斜視図。
【図2】本発明の一実施例としての製造方法の各工程を
示す図。
【図3】本発明の一実施例としての製造方法の各工程を
示す図。
【図4】1次電極の断面構成図。
【図5】スクリーンの平面図。
【図6】前記製造方法を実施する際の各工程における拡
大図。
【符号の説明】
1 チップ抵抗器 2 本体 4 抵抗体 5 内部電極 12 ブレーク溝 51 1次電極 52 2次電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】絶縁基板の表面に形成されたブレーク溝に
    沿って分割して得られるチップ状電子部品であって、 矩形状の本体と、 前記本体の両端に形成された1対の1次電極部と、 前記1対の1次電極部間に形成された電気的機能要素
    と、 前記1対の1次電極部が形成された側の各側面に、前記
    1次電極部と接続して形成された2次電極部とを備え、 前記1次電極部は、前記ブレーク溝近傍の厚みが他の部
    分に比較して薄くなるように形成されていることを特徴
    とするチップ状電子部品。
  2. 【請求項2】チップ状電子部品の形状に区画するように
    ブレーク溝が表面に形成された絶縁基板に、前記ブレー
    ク溝を覆って隣接する部品間にまたがるように、かつ前
    記ブレーク溝近傍の厚みが他の部分に比較して薄くなる
    ように電極層を形成し、各チップ状電子部品の両端に1
    対の1次電極部を形成する工程と、 前記各チップ状電子部品の1対の1次電極部間に電気的
    機能要素を形成する工程と、 前記ブレーク溝に沿って前記絶縁基板を分割する工程
    と、 前記1対の1次電極部が形成された側の側面に、前記1
    次電極部と接続して2次電極部を形成する工程と、を含
    むチップ状電子部品の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013110304A (ja) * 2011-11-22 2013-06-06 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびチップ抵抗器の製造方法
WO2015008679A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 コーア株式会社 チップ抵抗器の製造方法

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