JPH0658371U - プローブ針カートリッジ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 狭いピッチの被検査物でも垂直に荷重を加え
て確実に基板等を検査できるプローブ針を供する。 【構成】 針の中間部分にＳ字状の曲げ部を設け垂直方
向にばね性を付与する。このプローブ針を隣接するプロ
ーブ針の干渉を防ぐために、穴とガイドを設けたカバー
に収納し、カートリッジとした。 【効果】 従来のコイルバネを使用したコンタクトピン
では実現できなかった０．５ｍｍピッチの多点測定がで
きる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電子回路基板の検査に使用するプローブ針に関するものであり、特 にクワッド・フラット・パッケージ（ＱＦＰ）などの検査に適用して効果がある 。

【０００２】

【従来の技術】

各種電子部品が回路基板に確実にハンダ付がなされているかを検査する場合、 今まではコイルスプリングを内蔵したコンタクトプローブ針を用いて垂直方向よ り荷重を加え、基板の検査を行っていた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

例えば、ＱＦＰのようにハンダ付される端子の数が増え、端子のピッチが狭く なるに従って、コイルバネを使用した従来のプローブ針では径が太く互いに干渉 し合って基板等の検査が困難であった。

【０００４】 本考案の目的は狭いピッチの被検査物でも垂直に荷重を加えて確実に基板等を 検査できるプローブ針を供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

プローブ針にＳ字状の曲げ部を設けることにより、この曲げ部がばねとして作 用し、コイルスプリングを用いなくても的確な基板等の検査を行うことができる 。垂直に荷重を加えた時にプローブ針が垂直軸から外れずにたわむような形状と する。又、隣接するプローブ針の干渉を防ぐために曲げ部は穴とガイドを持つカ バーで覆われる。

【０００６】

【作用】

このような構成にすることにより、プローブ針のピッチ間隔を狭くすることが できるので、狭いピッチの被検査物を検査することができる。

【０００７】

【実施例】

以下、本考案の実施例を説明する。 まず、材料は弾性材料であるＣｏ基合金を用いた。表１にこのＣｏ基合金の組 成を示す。

【０００８】

【表１】

【０００９】 この合金を用いて線径ｄ＝０．２５ｍｍに仕上げ、直線に加工した後、図３に 示すようにプローブ針の上端に近い部分にＳ字状に曲げ加工をした。曲げ部の長 さによりばねの強度が変るので、ばね荷重とたわみ量との関係を求めた結果、曲 げ部の長さｌ（リットル）を４ｍｍとした。

【００１０】 図２は、上記プローブ針をカバーに収納した状態を示す斜視図である。カバー ６にプローブ針１の上端直線部３が貫通する穴４が設けられ、穴４の中心軸を含 むようにＳ字状曲げ部２及びプローブ針１の下端直線部の一部が収納されるガイ ド５が設けられている。

【００１１】 図１は、実際に使用する場合の本考案の（ａ）正面図、（ｂ）側面図である。 多点を同時に検査するために１つのカバー６に多数のプローブ針１をセットして 垂直に加重する。表２にこの時の諸特性を示す。

【００１２】

【表２】

【００１３】 又、プローブ針のたわみ量とばね荷重の関係を図４に示す。このようにしてピ ッチ間隔０．５ｍｍのＱＦＰの端子の検査を行うことができた。

【００１４】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案のプローブ針カートリッジは、ピッチ間隔の狭い 被検査物の検査ができ、さらに構造が簡単なために安く供給できるという効果が ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の実施例を示す（ａ）正面図、（ｂ）側
面図である。

【図２】本考案を説明する斜視図である。

【図３】本考案のプローブ針の正面図である。

【図４】本考案のたわみとばね荷重の関係図である。

【符号の説明】

１ プローブ針 ２ Ｓ字状曲げ部 ３ 直線部 ４ 穴 ５ ガイド ６ カバー

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 中間部分にＳ字状の曲げ部、両端部分に
   直線部を持ち、該直線部の軸方向にばね性を付与したプ
   ローブ針を用いたことを特徴とするプローブ針カートリ
   ッジ。
2. 【請求項２】 前記プローブ針の直線部の一部が貫通す
   る穴と、前記プローブ針のＳ字状の曲げ部および直線部
   の一部が収納されるガイドとを持つ隣接する前記プロー
   ブ針の干渉を防ぐためのカバーを具備したことを特徴と
   するプローブ針カートリッジ。