JPH0323576Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、接触ピンの先端を回路基板等の検査
点に接触させて導通検査を行なうコンタクトプロ
ーブに係り、特に接触ピンの先端構造の改良に関
する。

（従来の技術および考案が解決すべき課題） 従来から、導電性を有する円筒状のスリーブ内
に、抜け止めされた状態で先端が突出する接触ピ
ンを滑動自在に設けるとともに、この接触ピンを
スプリングにより外方に常時押圧付勢し、前記接
触ピンの先端を、回路基板に実装された電子部品
のはんだ付部等の検査点に接触させて導通検査を
行なうコンタクトプローブが一般に知られてい
る。

このようなコンタクトプローブにおいては、第
７図に示すように接触ピン１の先端が円錐状に尖
つた一針タイプのものが多用されており、この接
触ピン１の尖端１ａを、回路基板２に実装された
電子部品３のはんだ付部４に接触させて導通検査
を行なう方法が採られている。

ところで、この種のコンタクトプローブでは、
はんだ付部４が半球状に盛り上がつており、しか
も接触ピン１のはんだ付部４への接触点が一点で
あるため、接触ピン１がはんだ付部４から外れて
しまうおそれがあるとともに、強度的に脆く接触
ピン１の折曲等を招き易いという問題がある。

そこで一部では、第８図に示すように接触ピン
１の先端面に均一に、同一針高の多数の尖鋭針部
１ｂを配した多針タイプのコンタクトプローブ、
あるいは第９図に示すように接触ピン１の先端周
縁に例えば４本の尖鋭針部１ｃを配置し中央部に
Ｖカツト面を形成したＶカツト多針タイプのコン
タクトプローブが提案されている。

これらはいずれも多針タイプであるため、第７
図に示す一針タイプのものと異なり接触ピン１が
はんだ付部４から外れるおそれは少ないが、第８
図に示す多針タイプのものは、各尖鋭針部１ｂが
同一針高となつているため、半球状をなすはんだ
付部４に接触する尖鋭針部１ｂの数は１または２
程度と少ない。このため、尖鋭針部１ｂの先端が
経時変化で丸くなつたり、不要物が付着した場合
には、接触不良になるおそれがある。また、第９
図に示すＶカツト多針タイプのものは、中央部に
尖鋭針部１ｃがないため、半球状の検査点には適
さない。

すなわち、半球状をなすはんだ付部４に対して
その周辺に尖鋭針部１ｃを接触させることは、接
触ピン１のふら付きをなくすことに関しては有効
であるが、周辺では面に大して尖鋭針部１ｃが直
角に圧接しないため、はんだ付部４表面のやにや
フラツクスにより接触不良となるおそれがある。

ところで、第７図ないし第９図に示すはんだ付
部４は、いずれも、手作業によるはんだ付部ある
いははんだ槽を用いた自動はんだ付の後に、電子
部品の脚をきれいに切断したものであるが、最近
の自動化により、自動挿入機で電子部品を回路基
板に挿入して落下しないようにその脚を折曲し、
次工程ではんだ槽を用いて自動はんだ付を行な
い、脚の処理はしない方法が採られるようになつ
てきている。そして、このような場合には、はん
だ付部から電子部品の脚が露出したままになつて
おり、しかも脚の曲り方向がばらばらであるた
め、前記従来の各コンタクトプローブでは、充分
な接触状態を得ることがさらに困難となる。

すなわち、電子部品の脚が露出するはんだ付部
に第７図に示す一針タイプの接触ピン１を接触さ
せると、曲げ脚により接触ピン１が曲げ力や回転
力を容けて検査点から外れてしまうおそれがあ
る。

また、第８図に示す多針タイプの接触ピン１の
場合には、第１０図に示すようにはんだ付部４か
ら突出する曲げ脚５が一たんは周縁部の尖鋭針部
１ｂの側面により矢印Ａで示すように中心側に引
寄せられるが、中央部の尖鋭針部１ｂの側面によ
り矢印Ｂで示すように再び外方に押戻されて接触
ピン１から外れ、尖鋭針部１ｂが曲げ脚５に喰込
まないおそれがある。曲げ脚５の表面は、はんだ
付部４からのやにやフラツクスにより夾雑物が付
着しているため、接触ピン１を単に接触させただ
けでは導電不良となるおそれがある。

また、第９図に示すＶカツト多針タイプの接触
ピン１の場合には、第１１図に示すように曲げ脚
５が長い場合は、周縁の尖鋭針部１ｃの側面によ
り曲げ脚５が中心側に引寄せられるが、中央部に
尖鋭針部１ｃがないため単なる接触となり、前記
多針タイプのものと同様導通不良となるおそれが
ある。また、第１２図に示すように曲げ脚５が短
い場合には、曲げ脚５がＶカツトの谷に接触した
状態で尖鋭針部１ｃもはんだ付部４に接触する
が、第９図の場合と同様尖鋭針部１ｃをはんだ付
部４に喰込ませることができないため、充分な接
触状態が得られない。

本考案はかかる現況に鑑みなされたもので、ど
のようなタイプの検査点に対しても確実な接触が
得られ、導通検査の信頼性を向上させることがで
きるコンタクトプローブを提供することを目的と
する。

（課題を解決するための手段） 本考案は、接触ピンの先端に、その周縁にそつ
て一列に複数個の周縁尖鋭針部を間隔をおいて設
けるとともに、中央部に少なくとも一つの中央尖
鋭針部を設け、かつ中央尖鋭針部の針高を、周縁
尖鋭針部の針高よりも低くし、もつて検査点が平
坦状をなしていても、あるいははんだ付のように
半球状をなしていても、さらには半球面から曲げ
脚が長く突出していても、確実な接触が得られる
ようにしたことを特徴とする。

（実施例） 以下、本考案の一実施例を第１図ないし第６図
を参照して説明する。

第４図は本考案に係るコンタクトプローブの一
例を示すもので、このコンタクトプローブ１０
は、導電性金属材料で形成された円筒状のスリー
ブ１１を備えており、このスリーブ１１は、図示
しないプローブ保持ボードに所定の配列パターン
で貫通固定されている。そして、このスリーブ１
１内には、先端をスリーブ１１から突出させた状
態で接触ピン１２が滑動自在に組付けられてい
る。

この接触ピン１２は、前記スリーブ１１の内径
とほぼ同一外径を有する丸棒状の軸部１２ａと、
この軸部１２ａの基端に連続する細径部１２ｂ
と、この細径部１２ｂの基端に形成された拡大部
１２ｃとを備えており、前記スリーブ１１の細径
部１２ｂに対応する部位には、外周面側から縮径
加工が施されてストツパ部１１ａが形成されてい
る。そして、接触ピン１２は、このストツパ部１
１ａへの拡大部１２ｃの当接によりスリーブ１１
からの抜け止めがなされるようになつている。

前記スリーブ１１の基端内部には、接触ピン１
２を常時外方に押圧付勢するコイルスプリング１
３およびこのコイルスプリング１３の基端を受け
る鋼球１４がそれぞれ組込まれており、接触ピン
１２の先端が接触する検査点とスリーブ１１に接
続される検査装置（図示せず）とは、接触ピン１
２、コイルスプリング１３、鋼球１４、およびス
リーブ１１を介して相互に接続されるようになつ
ている。そして、前記接触ピン１２の先端には、
あらゆるタイプの検査点に対して確実な接触が得
られるようにするための先端部１５が設けられて
いる。

この先端部１５は、第１図ないし第３図に示す
ように、前記軸部１２ａよりもやや太径の短円柱
状をなしており、その先端面には、周縁にそつて
等間隔で一列に例えば６個の周縁尖鋭針部１５ａ
が設けられているとともに、中央部に例えば１個
の中央尖鋭針部１５ｂが設けられている。

前記各周縁尖鋭針部１５ａは、第２図に下り斜
面を矢印で示すように相隣る周縁尖鋭針部１５ａ
間をＶカツトするとともに、内周側を傾斜面でカ
ツトしてほぼ四角錐状に形成され、また前記中央
尖鋭針部１５ｂは、第２図に下り方向を矢印で示
すように円錐状に形成されている。そして、この
中央尖鋭針部１５ｂの針高は、周縁尖鋭針部１５
ａの針高よりも寸法Ｌだけ低く設定され、これに
より両尖鋭針部１５ａ，１５ｂの間に所用の空間
が形成されるようになつている。

次に作用について説明する。

第５図は、回路基板２に実装された電子部品３
の曲げ脚５がはんだ付部４から長く突出する場合
における先端部１５の検査点への接触状態を示
す。

この場合、コンタクトプローブ１０を回路基板
２の下面側に接近させると、曲げ脚５はその先端
が周縁尖鋭針部１５ａの内周側の傾斜面に接触
し、先端部１５をさらに回路基板２に接近させる
と、曲げ脚５は中央側に引寄せられる。この際、
第１１図に示すように従来のＶカツト多針タイプ
のコンタクトプローブでは、中央部針先がないた
め中央側に引寄せられた曲げ脚５は単に尖鋭針部
１ｃに接触するに過ぎないが、本実施例の場合に
は、中央部に中央尖鋭針部１５ｂが設けられてい
るので、中央側に引寄せられた曲げ脚５に、中央
尖鋭針部１５ｂの尖端が喰込むことになる。この
ため、曲げ脚５の表面にやにやフラツクスによる
夾雑物が付着していたり、曲げ脚５の表面が酸化
皮膜で覆われている場合でも、確実な導通状態が
得られる。

また、周縁尖鋭針部１５ａの針高が高く、中央
尖鋭針部１５ｂの針高が低く設定されているの
で、第１０図に示す従来の多針タイプのコンタク
トプローブと異なり、一たん中央側に引寄せられ
た曲げ脚５が戻つてしまうことがなく、中央尖鋭
針部１５ｂの尖端を確実に曲げ脚５に喰込ませる
ことができる。

第６図は、回路基板２に実装された電子部品３
の曲げ脚５のはんだ付部４からの突出量が少ない
かほとんどない場合における先端部１５の検査点
への接触状態を示す。

この場合、コンタクトプローブ１０を回路基板
２の下面側に接近させると、各尖鋭針部１５ａ，
１５ｂは、曲げ脚５に接触することなく直接はん
だ付部４に多点接触し、しかも中央尖鋭針部１５
ｂの尖端ははんだ付部４に喰込んだ状態となる。
このため、はんだ付部４の表面が酸化皮膜で覆わ
れていて単なる接触では充分な導通状態が得られ
ない場合でも、確実な導通状態が得られる。

また、中央尖鋭針部１５ｂの尖端がはんだ付部
４に喰込んだ状態において、周縁尖鋭針部１５ａ
ははんだ付部４の周辺に接触しているので、先端
部１５のふら付きが防止され、中央尖鋭針部１５
５ｂのはんだ付部４への喰込み状態を安定させる
ことができる。

以上に、先端部１５をはんだ付部４あるいはは
んだ付部４から突出する曲げ脚５に接触させる場
合について説明したが、これに限らず回路基板２
の配線パターンに直接接触させて回路基板２自体
の導通検査を行なうこともできる。この場合に
は、検査点が平坦面となるので、周縁尖鋭針部１
５ａの尖端が検査点に接触することになり、これ
により充分な導通状態が得られる。

また、前記実施例では、中央尖鋭針部１５ｂが
１個であるとして説明したが、複数個設けてもよ
い。

〔考案の効果〕

以上説明したように、本考案は、接触ピンの先
端に、その周縁にそつて一例に間隔をおいて周縁
尖鋭針部を設けるとともに、中央部に少なくとも
一つの中央尖鋭針部を設け、かつ中央尖鋭針部の
針高を、周縁尖鋭針部の針高よりも低く設定して
いるので、検査点がはんだ付部のように曲面であ
つても、あるいははんだ付部から実装素子の曲げ
脚が長く突出している等の場合であつても、中央
尖鋭針部を検査点に喰込ませて導通状態を安定確
実なものとすることができる。このため、導通検
査の信頼性が大幅に向上する。また、中央尖鋭針
部の喰い込みに加えて周縁尖鋭針の先端も直接は
んだ付部に喰い込んで多点接触が得られるので、
はんだ付部の表面が酸化被膜やフラツクスにより
覆われていても、確実な導通状態が得られる。そ
して、中央尖鋭針部の尖端がはんだ付部または曲
げ脚に喰い込んだ状態において、周縁尖鋭針部が
はんだ付部の周辺に接触するので、接触ピン先端
部のふらつきが防止され、中央尖鋭針部のはんだ
付部への喰い込み状態を安定させることができ
る。また、はんだ付部から突出する曲げ脚を有す
る部分への接触検査以外にも、平坦な検査点への
接触による検査に本考案の構成を用いた場合には
周縁尖鋭針部のみが作用して酸化被覆等があつて
も確実な導通状態を得ることができる。

また、はんだ付部から曲げ脚が長く突出してい
る場合に、接触ピンの接触により曲げ脚が中央側
に引寄せられるので、接触ピンが曲げ脚による曲
げ力や回転力を受け難くなり、接触ピンの曲折等
を防止してコンタクトプローブ自体の耐久性を向
上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す接触ピン先端
の詳細図、第２図は第１図の平面図、第３図は第
２図の−線断面図、第４図はコンタクトプロ
ーブの全体構成を示す部分断面図、第５図および
第６図は導通検査状態をそれぞれ示す説明図、第
７図ないし第１２図は従来のコンタクトプローブ
の先端構造およびその導通検査状態をそれぞれ示
す説明図である。 ２……回路基板、３……電子部品、４……はん
だ付部、５……曲げ脚、１０……コンタクトプロ
ーブ、１１……スリーブ、１１ａ……ストツパ、
１２……接触ピン、１３……コイルスプリング、
１５……先端部、１５ａ……周縁尖鋭針部、１５
ｂ……中央尖鋭針部、Ｌ……寸法。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 導電性を有する円筒状のスリーブ内に、抜け止
   めされた状態で先端が突出する接触ピンを滑動自
   在に設けるとともに、この接触ピンをスプリング
   により外方に常時押圧付勢し、前記接触ピンの先
   端を回路基板等の検査点に接触させて導通検査を
   行なうコンタクトプローブにおいて、前記接触ピ
   ンの先端に、その周縁にそつて一列に複数個の周
   縁尖鋭針部を間隔をおいて設けるとともに、中央
   部に少なくとも一つの中央尖鋭針部を設け、かつ
   中央尖鋭針部の針高を、周縁尖鋭針部の針高より
   も低くしたことを特徴とするコンタクトプロー
   ブ。