JPH06325365A - 光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法 - Google Patents
光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法Info
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- JPH06325365A JPH06325365A JP5133977A JP13397793A JPH06325365A JP H06325365 A JPH06325365 A JP H06325365A JP 5133977 A JP5133977 A JP 5133977A JP 13397793 A JP13397793 A JP 13397793A JP H06325365 A JPH06325365 A JP H06325365A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、特にデイスク状記録媒体に光ビーム
を照射して順次ピツトを形成して所望のデータを記録す
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法に関
し、迅速かつ確実にアシンメトリ等を検出し得るように
する。 【構成】本発明は、再生信号のピーク値及びボトム値を
順次ホールドし、該ホールド結果の最小値及び最大値を
それぞれ検出し、該検出結果に基づいて記録系、デイス
ク状記録媒体の特性、又は再生系を評価し得るようにす
る。
を照射して順次ピツトを形成して所望のデータを記録す
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法に関
し、迅速かつ確実にアシンメトリ等を検出し得るように
する。 【構成】本発明は、再生信号のピーク値及びボトム値を
順次ホールドし、該ホールド結果の最小値及び最大値を
それぞれ検出し、該検出結果に基づいて記録系、デイス
ク状記録媒体の特性、又は再生系を評価し得るようにす
る。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図７〜図９） 発明が解決しようとする課題（図７〜図９） 課題を解決するための手段（図１及び図２） 作用（図１及び図２） 実施例 （１）第１の実施例（図１〜図３） （２）第２の実施例（図４〜図６） （３）他の実施例 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置及び光デ
イスク装置の評価方法に関し、特にデイスク状記録媒体
に光ビームを照射して順次ピツトを形成して所望のデー
タを記録する光デイスク装置に適用して好適なものであ
る。
イスク装置の評価方法に関し、特にデイスク状記録媒体
に光ビームを照射して順次ピツトを形成して所望のデー
タを記録する光デイスク装置に適用して好適なものであ
る。
【０００３】
【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、デイスク状記録媒体に光ビームを照射して順次ピツ
トを形成し、これにより所望の情報を記録し得るように
なされたものがある。すなわちこの種の光デイスク装置
に適用する光デイスクにおいては、ポリカーボネートの
デイスク状基板に有機色素を付着して情報記録面を形成
し、この情報記録面を保護層で保護する。
は、デイスク状記録媒体に光ビームを照射して順次ピツ
トを形成し、これにより所望の情報を記録し得るように
なされたものがある。すなわちこの種の光デイスク装置
に適用する光デイスクにおいては、ポリカーボネートの
デイスク状基板に有機色素を付着して情報記録面を形成
し、この情報記録面を保護層で保護する。
【０００４】これに対して図７に示すように、光デイス
ク装置は、記録データをＥＦＭ変調することにより論理
０及び１の発生確率が等しくなるように変調信号Ｓ１を
生成し（図７（Ａ））、この変調信号Ｓ１を基準にして
レーザーダイオードを駆動する。これにより光デイスク
装置は、変調信号Ｓ１の論理レベルに対応して間欠的に
光ビームを照射して情報記録面の有機色素を熱変化さ
せ、これにより情報記録面に反射率の低い領域（すなわ
ちピツトでなる）を形成する。
ク装置は、記録データをＥＦＭ変調することにより論理
０及び１の発生確率が等しくなるように変調信号Ｓ１を
生成し（図７（Ａ））、この変調信号Ｓ１を基準にして
レーザーダイオードを駆動する。これにより光デイスク
装置は、変調信号Ｓ１の論理レベルに対応して間欠的に
光ビームを照射して情報記録面の有機色素を熱変化さ
せ、これにより情報記録面に反射率の低い領域（すなわ
ちピツトでなる）を形成する。
【０００５】このとき光デイスク装置は、所定の基準周
期Ｔを基準にして周期３Ｔ〜11Ｔの範囲でＨレベル及び
Ｌレベルが連続するように変調信号Ｓ１を生成し、これ
によりコンパクトデイスクと同様に情報記録面に順次ピ
ツトＰを形成して所望のデータを記録する（図７
（Ｂ））。
期Ｔを基準にして周期３Ｔ〜11Ｔの範囲でＨレベル及び
Ｌレベルが連続するように変調信号Ｓ１を生成し、これ
によりコンパクトデイスクと同様に情報記録面に順次ピ
ツトＰを形成して所望のデータを記録する（図７
（Ｂ））。
【０００６】これに対して再生時、光デイスク装置は、
光量を低減して光ビームを照射し、その結果得られる反
射光を所定の受光素子で受光する。これにより光デイス
ク装置は、反射光の光量に応じて信号レベルが変化する
再生信号ＲＦを得（図７（Ｃ））、所定のスライスレベ
ルＳＬを基準にして再生信号ＲＦの信号レベルを検出す
ることにより、再生データＤ１を検出し得るようになさ
れている（図７（Ｄ））。
光量を低減して光ビームを照射し、その結果得られる反
射光を所定の受光素子で受光する。これにより光デイス
ク装置は、反射光の光量に応じて信号レベルが変化する
再生信号ＲＦを得（図７（Ｃ））、所定のスライスレベ
ルＳＬを基準にして再生信号ＲＦの信号レベルを検出す
ることにより、再生データＤ１を検出し得るようになさ
れている（図７（Ｄ））。
【０００７】このとき記録信号Ｓ１がＥＦＭ変調して生
成した論理０及び１の発生確率が等しい記録信号でなる
ことにより、光デイスク装置においては、再生データＤ
１においても論理０及び１の発生確率が等しくなるよう
にスライスレベルＳＬを選定し、これによりビツトエラ
ーレートを低減する。
成した論理０及び１の発生確率が等しい記録信号でなる
ことにより、光デイスク装置においては、再生データＤ
１においても論理０及び１の発生確率が等しくなるよう
にスライスレベルＳＬを選定し、これによりビツトエラ
ーレートを低減する。
【０００８】これに対して記録時においては、有機色素
を熱変化させてピツトを形成することにより、光デイス
ク装置においては、同一の条件でレーザーダイオードを
駆動した場合でも、周囲温度、有機色素の感度に応じて
ピツトの大きさが変化する特徴がある。このため光デイ
スク装置においては、光ビームの光量を順次切り換えて
所定の試し書き領域にテストデータを記録した後、この
テストデータを再生してアシンメトリＡｓｙを検出す
る。
を熱変化させてピツトを形成することにより、光デイス
ク装置においては、同一の条件でレーザーダイオードを
駆動した場合でも、周囲温度、有機色素の感度に応じて
ピツトの大きさが変化する特徴がある。このため光デイ
スク装置においては、光ビームの光量を順次切り換えて
所定の試し書き領域にテストデータを記録した後、この
テストデータを再生してアシンメトリＡｓｙを検出す
る。
【０００９】さらに光デイスク装置は、このアシンメト
リ検出結果を基準にしてアシンメトリＡｓｙが最適値に
なる光量を選択し、この光量で所望のデータを記録す
る。これにより光デイスク装置は、周囲温度等が変化し
た場合でも、常に一定形状のピツトを形成し、再生信号
のジツタ等を低減し得るようになされている。
リ検出結果を基準にしてアシンメトリＡｓｙが最適値に
なる光量を選択し、この光量で所望のデータを記録す
る。これにより光デイスク装置は、周囲温度等が変化し
た場合でも、常に一定形状のピツトを形成し、再生信号
のジツタ等を低減し得るようになされている。
【００１０】ここでアシンメトリとは、ピツトとランド
との時間平均の比を表し、再生データＤ１において論理
０及び１の発生確率が等しくなるスライスレベルＳＬ
と、再生信号のピークレベルＴＯＰ、ボトムレベルＢＴ
Ｍとの関係式で表される。
との時間平均の比を表し、再生データＤ１において論理
０及び１の発生確率が等しくなるスライスレベルＳＬ
と、再生信号のピークレベルＴＯＰ、ボトムレベルＢＴ
Ｍとの関係式で表される。
【００１１】このため光デイスク装置においては、試し
書き時、図８に示すアシンメトリ検出回路１を用いて簡
易にアシンメトリＡｓｙを検出するようになされてい
る。すなわち光デイスク装置は、試し書き領域に記録し
たテストデータを再生し、その結果得られる再生信号Ｒ
Ｆをアシンメトリ検出回路１に入力する。
書き時、図８に示すアシンメトリ検出回路１を用いて簡
易にアシンメトリＡｓｙを検出するようになされてい
る。すなわち光デイスク装置は、試し書き領域に記録し
たテストデータを再生し、その結果得られる再生信号Ｒ
Ｆをアシンメトリ検出回路１に入力する。
【００１２】ここでアシンメトリ検出回路１は、入力コ
ンデンサ２で再生信号ＲＦの直流成分を除去した後、こ
の再生信号ＲＦをクランプ回路３に入力し、これにより
図９に示すように再生信号ＲＦのボトムレベルを０レベ
ルに保持する。比較回路４は、スライスレベルＳＬとク
ランプ回路３の出力信号との間で比較結果を得ることに
より、スライスレベルＳＬを基準にして再生信号ＲＦを
復調する。
ンデンサ２で再生信号ＲＦの直流成分を除去した後、こ
の再生信号ＲＦをクランプ回路３に入力し、これにより
図９に示すように再生信号ＲＦのボトムレベルを０レベ
ルに保持する。比較回路４は、スライスレベルＳＬとク
ランプ回路３の出力信号との間で比較結果を得ることに
より、スライスレベルＳＬを基準にして再生信号ＲＦを
復調する。
【００１３】さらに比較回路４は、その復調結果でなる
反転出力及び非反転出力をローパスフイルタ回路（ＬＰ
Ｆ）５及び６に出力し、これによりアシンメトリ検出回
路１は、ローパスフイルタ回路５及び６を介して論理０
及び１の発生確率に応じて信号レベルが変化する直流信
号を生成する。誤差アンプ７は、このローパスフイルタ
回路５及び６の出力信号を入力してその誤差成分を増幅
し、これによりアシンメトリ検出回路１は、この誤差ア
ンプ７の出力信号をスライスレベルＳＬとして比較回路
４の入力に帰還する。これによりアシンメトリ検出回路
１は、論理０及び１の発生確率が等しくなるようにスラ
イスレベルＳＬを設定するようになされている。
反転出力及び非反転出力をローパスフイルタ回路（ＬＰ
Ｆ）５及び６に出力し、これによりアシンメトリ検出回
路１は、ローパスフイルタ回路５及び６を介して論理０
及び１の発生確率に応じて信号レベルが変化する直流信
号を生成する。誤差アンプ７は、このローパスフイルタ
回路５及び６の出力信号を入力してその誤差成分を増幅
し、これによりアシンメトリ検出回路１は、この誤差ア
ンプ７の出力信号をスライスレベルＳＬとして比較回路
４の入力に帰還する。これによりアシンメトリ検出回路
１は、論理０及び１の発生確率が等しくなるようにスラ
イスレベルＳＬを設定するようになされている。
【００１４】さらにアシンメトリ検出回路１は、クラン
プ回路３の出力信号をピークホールド回路８に入力して
ピークホールドすることにより、再生信号ＲＦのボトム
レベルＢＴＭ及びピークレベルＴＯＰ間の信号レベル
（Ａ＋Ｂ）を検出する。これによりアシンメトリ検出回
路１は、ピークホールド回路８の出力信号及びスライス
レベルＳＬをアナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）９
及び１０でデイジタル値に変換してシステム制御回路１
１に出力し、システム制御回路１１は、この場合、次式
プ回路３の出力信号をピークホールド回路８に入力して
ピークホールドすることにより、再生信号ＲＦのボトム
レベルＢＴＭ及びピークレベルＴＯＰ間の信号レベル
（Ａ＋Ｂ）を検出する。これによりアシンメトリ検出回
路１は、ピークホールド回路８の出力信号及びスライス
レベルＳＬをアナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）９
及び１０でデイジタル値に変換してシステム制御回路１
１に出力し、システム制御回路１１は、この場合、次式
【数１】 で表される演算処理を実行してアシンメトリＡｓｙを検
出する。
出する。
【００１５】これによりシステム制御回路１１は、
（１）式で表されるアシンメトリＡｓｙが所定の値にな
るように、光ビームの光量を設定し、再生時、ジツタを
低減してビツトエラーレートを改善し得るようになされ
ている。
（１）式で表されるアシンメトリＡｓｙが所定の値にな
るように、光ビームの光量を設定し、再生時、ジツタを
低減してビツトエラーレートを改善し得るようになされ
ている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】ところでこの試し書き
の領域を小さくすることができれば、その分光デイスク
の情報記録面を有効に使用して光デイスクの記録密度を
向上することができる。ところが図８に示す構成の場
合、ローパスフイルタ回路５及び６を介挿した帰還ルー
プでスライスレベルＳＬを設定しているため、アシンメ
トリＡｓｙの検出に時間を要し、その分試し書きの領域
を小さくし得ない問題がある。
の領域を小さくすることができれば、その分光デイスク
の情報記録面を有効に使用して光デイスクの記録密度を
向上することができる。ところが図８に示す構成の場
合、ローパスフイルタ回路５及び６を介挿した帰還ルー
プでスライスレベルＳＬを設定しているため、アシンメ
トリＡｓｙの検出に時間を要し、その分試し書きの領域
を小さくし得ない問題がある。
【００１７】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、迅速かつ確実にアシンメトリを検出することができ
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を提案
しようとするものである。
で、迅速かつ確実にアシンメトリを検出することができ
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を提案
しようとするものである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、情報記録面に順次ピツトＰを形成
したデイスク状記録媒体２１に対して、光ビームを照射
してピツトＰに応じて変化する反射光を受光し、反射光
に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦを得、再生
信号ＲＦのピーク値を順次ピークホールドし、該ピーク
ホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出し、再生信号Ｒ
Ｆのボトム値を順次ボトムホールドし、該ボトムホール
ド結果の最大値３ＴＢＴＭを検出し、再生信号ＲＦの最
大値ＲＦＴＯＰ及び最小値ＲＦＢＴＭを検出し、ピーク
ホールド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果
の最大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ
及び最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、ピツトＰを形成する
記録系２４、２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２
１、又は光ビームを照射して再生信号ＲＦを生成する再
生系３０、３６の特性を評価し得るようにする。
め本発明においては、情報記録面に順次ピツトＰを形成
したデイスク状記録媒体２１に対して、光ビームを照射
してピツトＰに応じて変化する反射光を受光し、反射光
に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦを得、再生
信号ＲＦのピーク値を順次ピークホールドし、該ピーク
ホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出し、再生信号Ｒ
Ｆのボトム値を順次ボトムホールドし、該ボトムホール
ド結果の最大値３ＴＢＴＭを検出し、再生信号ＲＦの最
大値ＲＦＴＯＰ及び最小値ＲＦＢＴＭを検出し、ピーク
ホールド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果
の最大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ
及び最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、ピツトＰを形成する
記録系２４、２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２
１、又は光ビームを照射して再生信号ＲＦを生成する再
生系３０、３６の特性を評価し得るようにする。
【００１９】さらに第２の発明においては、ピークホー
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦのアシンメ
トリＡｓｙを検出し、アシンメトリＡｓｙを基準にして
ピツトＰを形成する記録系２４、２５、２６、２８、デ
イスク状記録媒体２１、又は光ビームを照射して再生信
号ＲＦを生成する再生系３０、３６の特性を評価し得る
ようにする。
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦのアシンメ
トリＡｓｙを検出し、アシンメトリＡｓｙを基準にして
ピツトＰを形成する記録系２４、２５、２６、２８、デ
イスク状記録媒体２１、又は光ビームを照射して再生信
号ＲＦを生成する再生系３０、３６の特性を評価し得る
ようにする。
【００２０】さらに第３の発明においては、ピークホー
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦの開口率３
ＴＴＯＰ−３ＴＢＴＭを検出し、開口率３ＴＴＯＰ−３
ＴＢＴＭを基準にしてピツトＰを形成する記録系２４、
２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２１、又は光ビ
ームを照射して再生信号ＲＦを生成する再生系３０、３
６の特性を評価し得るようにする。
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦの開口率３
ＴＴＯＰ−３ＴＢＴＭを検出し、開口率３ＴＴＯＰ−３
ＴＢＴＭを基準にしてピツトＰを形成する記録系２４、
２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２１、又は光ビ
ームを照射して再生信号ＲＦを生成する再生系３０、３
６の特性を評価し得るようにする。
【００２１】さらに第４の発明においては、ピークホー
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦの変調度を
検出し、変調度を基準にしてピツトＰを形成する記録系
２４、２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２１、又
は光ビームを照射して再生信号ＲＦを生成する再生系３
０、３６の特性を評価し得るようにする。
ルド結果の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最
大値３ＴＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び
最小値ＲＦＢＴＭに基づいて、再生信号ＲＦの変調度を
検出し、変調度を基準にしてピツトＰを形成する記録系
２４、２５、２６、２８、デイスク状記録媒体２１、又
は光ビームを照射して再生信号ＲＦを生成する再生系３
０、３６の特性を評価し得るようにする。
【００２２】さらに第４の発明においては、光ビームの
光量を段階的に切り換えてデイスク状記録媒体２１にテ
ストデータを記録した後、テストデータを再生し、該再
生結果ＲＦに基づいて記録時の光量を設定する光デイス
ク装置２０において、光ビームを射出すると共に、光ビ
ームの反射光を受光し、反射光に応じて信号レベルが変
化する再生信号ＲＦを生成する再生信号生成手段３０
と、再生信号ＲＦのピーク値を順次ピークホールドして
ピークホールド結果を出力するピークホールド手段４６
と、ピークホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出して
出力する第１の最小値検出手段４８と、再生信号ＲＦの
ボトム値を順次ボトムホールドしてボトムホールド結果
を出力するボトムホールド手段４７と、ボトムホールド
結果の最大値３ＴＢＴＭを検出して出力する第１の最大
値検出手段４８と、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰを
検出して出力する第２の最大値検出手段４６、４８と、
再生信号ＲＦの最小値ＲＦＢＴＭを検出して出力する第
２の最小値検出手段４７、４８と、ピークホールド結果
の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最大値３Ｔ
ＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び最小値Ｒ
ＦＢＴＭに基づいて、光ビームの光量を設定する制御手
段３５とを備えるようにする。
光量を段階的に切り換えてデイスク状記録媒体２１にテ
ストデータを記録した後、テストデータを再生し、該再
生結果ＲＦに基づいて記録時の光量を設定する光デイス
ク装置２０において、光ビームを射出すると共に、光ビ
ームの反射光を受光し、反射光に応じて信号レベルが変
化する再生信号ＲＦを生成する再生信号生成手段３０
と、再生信号ＲＦのピーク値を順次ピークホールドして
ピークホールド結果を出力するピークホールド手段４６
と、ピークホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出して
出力する第１の最小値検出手段４８と、再生信号ＲＦの
ボトム値を順次ボトムホールドしてボトムホールド結果
を出力するボトムホールド手段４７と、ボトムホールド
結果の最大値３ＴＢＴＭを検出して出力する第１の最大
値検出手段４８と、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰを
検出して出力する第２の最大値検出手段４６、４８と、
再生信号ＲＦの最小値ＲＦＢＴＭを検出して出力する第
２の最小値検出手段４７、４８と、ピークホールド結果
の最小値３ＴＴＯＰ、ボトムホールド結果の最大値３Ｔ
ＢＴＭ、再生信号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び最小値Ｒ
ＦＢＴＭに基づいて、光ビームの光量を設定する制御手
段３５とを備えるようにする。
【００２３】
【作用】再生信号ＲＦのピーク値を順次ピークホールド
し、該ピークホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出
し、再生信号ＲＦのボトム値を順次ボトムホールドし、
該ボトムホールド結果の最大値３ＴＢＴＭを検出すれ
ば、簡易かつ迅速に記録系２４、２５、２６、２８、デ
イスク状記録媒体２１の特性、又は再生系３０、３６の
評価基準を検出することができる。
し、該ピークホールド結果の最小値３ＴＴＯＰを検出
し、再生信号ＲＦのボトム値を順次ボトムホールドし、
該ボトムホールド結果の最大値３ＴＢＴＭを検出すれ
ば、簡易かつ迅速に記録系２４、２５、２６、２８、デ
イスク状記録媒体２１の特性、又は再生系３０、３６の
評価基準を検出することができる。
【００２４】従つてピークホールド結果の最小値３ＴＴ
ＯＰ、ボトムホールド結果の最大値３ＴＢＴＭ、再生信
号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び最小値ＲＦＢＴＭに基づ
いて、再生信号ＲＦのアシンメトリＡｓｙ、開口率３Ｔ
ＴＯＰ−３ＴＢＴＭ、変調度を検出して、アシンメトリ
Ａｓｙ等の評価基準を簡易かつ迅速に検出することがで
きる。
ＯＰ、ボトムホールド結果の最大値３ＴＢＴＭ、再生信
号ＲＦの最大値ＲＦＴＯＰ及び最小値ＲＦＢＴＭに基づ
いて、再生信号ＲＦのアシンメトリＡｓｙ、開口率３Ｔ
ＴＯＰ−３ＴＢＴＭ、変調度を検出して、アシンメトリ
Ａｓｙ等の評価基準を簡易かつ迅速に検出することがで
きる。
【００２５】また光デイスク装置に適用して、記録時の
光量を簡易に設定することができる。
光量を簡易に設定することができる。
【００２６】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００２７】（１）第１の実施例 図１において、２０は全体として光デイスク装置を示
し、光デイスク２１に所望のデータを記録し得るように
なされている。すなわち光デイスク２１は、有機色素で
情報記録面を形成したデイスク状記録媒体でなり、光デ
イスク装置２０は、スピンドルサーボ回路２２でスピン
ドルモータ２３を回転駆動することにより、この光デイ
スク２１を所定の回転速度で回転駆動する。
し、光デイスク２１に所望のデータを記録し得るように
なされている。すなわち光デイスク２１は、有機色素で
情報記録面を形成したデイスク状記録媒体でなり、光デ
イスク装置２０は、スピンドルサーボ回路２２でスピン
ドルモータ２３を回転駆動することにより、この光デイ
スク２１を所定の回転速度で回転駆動する。
【００２８】この状態で光デイスク装置２０は、記録
時、記録データＤ２をＥＦＭ変調回路２４に入力し、こ
こでコンパクトデイスクに適用される変調方式を適用し
てＥＦＭ変調する。タイミングジエネレータ（ＴＧ）２
５は、ＥＦＭ変調回路２４から出力される変調信号Ｓ１
のタイミングを補正してレーザードライバ（ＤＲＶ）２
６に出力し、レーザードライバ２６は、この出力信号の
論理レベルに対応するようにレーザーダイオードを駆動
する。
時、記録データＤ２をＥＦＭ変調回路２４に入力し、こ
こでコンパクトデイスクに適用される変調方式を適用し
てＥＦＭ変調する。タイミングジエネレータ（ＴＧ）２
５は、ＥＦＭ変調回路２４から出力される変調信号Ｓ１
のタイミングを補正してレーザードライバ（ＤＲＶ）２
６に出力し、レーザードライバ２６は、この出力信号の
論理レベルに対応するようにレーザーダイオードを駆動
する。
【００２９】これに対して自動光量制御回路（ＡＰＣ）
２７は、レーザーダイオードの光量検出結果Ｓ２に基づ
いてレーザーダイオードを制御し、これにより記録再生
時、それぞれレーザーダイオードから射出される光ビー
ムの光量を所定値に保持するようになされている。これ
により光デイスク装置２０は、このレーザーダイオード
の光ビームを対物レンズ２８を介して光デイスク２１に
集光し、記録時、変調信号Ｓ１に対応して順次ピツトを
形成するようになされている。
２７は、レーザーダイオードの光量検出結果Ｓ２に基づ
いてレーザーダイオードを制御し、これにより記録再生
時、それぞれレーザーダイオードから射出される光ビー
ムの光量を所定値に保持するようになされている。これ
により光デイスク装置２０は、このレーザーダイオード
の光ビームを対物レンズ２８を介して光デイスク２１に
集光し、記録時、変調信号Ｓ１に対応して順次ピツトを
形成するようになされている。
【００３０】さらに光デイスク装置２０は、光デイスク
２１に光ビームを照射して得られる反射光を所定の受光
素子で受光し、ヘツドアンプ（ＨＡ）３０は、この受光
素子の出力信号を増幅して出力する。このときヘツドア
ンプ３０は、受光素子の出力信号を加減算処理して出力
することにより、フオーカスエラー信号ＦＥ、トラツキ
ングエラー信号ＴＥを生成して出力し、サーボ回路３２
は、このフオーカスエラー信号ＦＥ、トラツキングエラ
ー信号ＴＥを基準にして対物レンズ２８を上下左右に可
動する。
２１に光ビームを照射して得られる反射光を所定の受光
素子で受光し、ヘツドアンプ（ＨＡ）３０は、この受光
素子の出力信号を増幅して出力する。このときヘツドア
ンプ３０は、受光素子の出力信号を加減算処理して出力
することにより、フオーカスエラー信号ＦＥ、トラツキ
ングエラー信号ＴＥを生成して出力し、サーボ回路３２
は、このフオーカスエラー信号ＦＥ、トラツキングエラ
ー信号ＴＥを基準にして対物レンズ２８を上下左右に可
動する。
【００３１】これにより光デイスク装置２０は、反射光
の受光結果に基づいてトラツキング制御及びフオーカス
制御するようになされ、これにより確実にピツトを形成
し得るようになされ、さらに再生時、確実にデータを再
生し得るようになされている。さらにこの種の光デイス
ク２１は、予めピツト形成位置にプリグリーブをウオウ
ブリングして形成するようになされ、このプリグリーブ
に基づいてトラツキングエラー信号ＴＥを生成し得るよ
うになされ、さらにウオウブリングを検出して光デイス
ク２１の回転速度情報、位置情報を検出し得るようにな
されている。
の受光結果に基づいてトラツキング制御及びフオーカス
制御するようになされ、これにより確実にピツトを形成
し得るようになされ、さらに再生時、確実にデータを再
生し得るようになされている。さらにこの種の光デイス
ク２１は、予めピツト形成位置にプリグリーブをウオウ
ブリングして形成するようになされ、このプリグリーブ
に基づいてトラツキングエラー信号ＴＥを生成し得るよ
うになされ、さらにウオウブリングを検出して光デイス
ク２１の回転速度情報、位置情報を検出し得るようにな
されている。
【００３２】これに対応してヘツドアンプ３０は、受光
素子の出力信号を処理することにより、このプリグルー
ブのウオウブリング情報ＭＰＰを検出し、スピンドルサ
ーボ回路２２は、このウオウブリング情報ＭＰＰを基準
にしてスピンドルモータ２３を駆動し、これにより光デ
イスク２１を線速度一定の条件で駆動する。
素子の出力信号を処理することにより、このプリグルー
ブのウオウブリング情報ＭＰＰを検出し、スピンドルサ
ーボ回路２２は、このウオウブリング情報ＭＰＰを基準
にしてスピンドルモータ２３を駆動し、これにより光デ
イスク２１を線速度一定の条件で駆動する。
【００３３】これに対してデコーダ回路３４は、ウオウ
ブリング情報ＭＰＰから光ビーム照射位置の位置情報Ａ
ＴＩＰを検出し、この位置情報ＡＴＩＰをシステム制御
回路３５に出力する。これによりシステム制御回路３５
は、この位置情報ＡＴＩＰを基準にして全体の動作を制
御し、これにより光デイスク装置２０は、所定の領域に
順次データを記録し得るようになされている。
ブリング情報ＭＰＰから光ビーム照射位置の位置情報Ａ
ＴＩＰを検出し、この位置情報ＡＴＩＰをシステム制御
回路３５に出力する。これによりシステム制御回路３５
は、この位置情報ＡＴＩＰを基準にして全体の動作を制
御し、これにより光デイスク装置２０は、所定の領域に
順次データを記録し得るようになされている。
【００３４】さらにヘツドアンプ３０は、受光素子の出
力信号を増幅することにより、反射光の光量に応じて信
号レベルが変化する再生信号ＲＦを生成して出力し、プ
ロセス回路３６は、この再生信号ＲＦを２値化して復調
することにより、再生時、再生データを出力し得るよう
になされている。これにより光デイスク装置２０は、再
生時、光ビームの光量を低減してプロセス回路３６の出
力信号を所定の信号処理回路で処理することにより、光
デイスク２１に記録したデータを再生し得るようになさ
れている。
力信号を増幅することにより、反射光の光量に応じて信
号レベルが変化する再生信号ＲＦを生成して出力し、プ
ロセス回路３６は、この再生信号ＲＦを２値化して復調
することにより、再生時、再生データを出力し得るよう
になされている。これにより光デイスク装置２０は、再
生時、光ビームの光量を低減してプロセス回路３６の出
力信号を所定の信号処理回路で処理することにより、光
デイスク２１に記録したデータを再生し得るようになさ
れている。
【００３５】さらにプロセス回路３６は、内蔵のアシン
メトリ検出回路で再生信号ＲＦの信号レベルを検出し、
この信号レベル検出結果をアナログデイジタル変換回路
（Ａ／Ｄ）３７でデイジタル値に変換してシステム制御
回路３５に出力する。これによりシステム制御回路３５
は、所定の試し書き領域に記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、該検出結果に基づいて記録時、光ビ
ームの光量を設定するようになされている。
メトリ検出回路で再生信号ＲＦの信号レベルを検出し、
この信号レベル検出結果をアナログデイジタル変換回路
（Ａ／Ｄ）３７でデイジタル値に変換してシステム制御
回路３５に出力する。これによりシステム制御回路３５
は、所定の試し書き領域に記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、該検出結果に基づいて記録時、光ビ
ームの光量を設定するようになされている。
【００３６】すなわちシステム制御回路３５は、デイジ
タルアナログ変換回路（Ｄ／Ａ）３８を介して自動光量
制御回路２７に光量制御データを出力することにより、
光ビームの光量を自由に設定し得るようになされ、これ
により記録及び再生時、それぞれ光ビームの光量を記録
及び再生用の光量に切り換える。さらにシステム制御回
路３５は、記録開始前、タイミングジエネレータ２５及
び自動光量制御回路２７を制御することにより、光ビー
ムの光量を段階的に切り換えて、各光量で所定のテスト
データを光デイスク２１の試し書き領域に記録し、続い
て再生時の光量に切り換えてこのテストデータを再生す
る。
タルアナログ変換回路（Ｄ／Ａ）３８を介して自動光量
制御回路２７に光量制御データを出力することにより、
光ビームの光量を自由に設定し得るようになされ、これ
により記録及び再生時、それぞれ光ビームの光量を記録
及び再生用の光量に切り換える。さらにシステム制御回
路３５は、記録開始前、タイミングジエネレータ２５及
び自動光量制御回路２７を制御することにより、光ビー
ムの光量を段階的に切り換えて、各光量で所定のテスト
データを光デイスク２１の試し書き領域に記録し、続い
て再生時の光量に切り換えてこのテストデータを再生す
る。
【００３７】ここでこのテストデータは、パルス幅３Ｔ
〜11Ｔの記録信号Ｓ１で形成され、これによりシステム
制御回路３５は、各光量で記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、このアシンメトリが最適になる光量
を記録時の光量に設定する。なおデコーダ３９は、復調
結果からサブコードを誤り訂正処理してシステム制御回
路３５に出力するようになされている。
〜11Ｔの記録信号Ｓ１で形成され、これによりシステム
制御回路３５は、各光量で記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、このアシンメトリが最適になる光量
を記録時の光量に設定する。なおデコーダ３９は、復調
結果からサブコードを誤り訂正処理してシステム制御回
路３５に出力するようになされている。
【００３８】図２に示すように、このアシンメトリを検
出するアシンメトリ検出回路４０は、再生信号ＲＦを微
分回路４１に入力し、ここで正弦波状に変化する再生信
号ＲＦを微分し、この再生信号ＲＦがピークレベルに立
ち上がり及びボトムレベルに立ち下がるタイミングで信
号レベルが０レベルを横切る微分信号を生成する。比較
回路４２は、０レベルを基準にしてこの微分信号の信号
レベルを検出することにより、この微分信号が０レベル
を横切るタイミングで信号レベルが切り換わる出力信号
を生成し、エツジ検出回路４３は、この出力信号の立ち
上がりエツジ及び立ち下がりエツジでそれぞれ信号レベ
ルが立ち上がり、所定期間経過して信号レベルが立ち下
がるエツジ検出信号ＰＯＳ及びＮＥＧを出力する。
出するアシンメトリ検出回路４０は、再生信号ＲＦを微
分回路４１に入力し、ここで正弦波状に変化する再生信
号ＲＦを微分し、この再生信号ＲＦがピークレベルに立
ち上がり及びボトムレベルに立ち下がるタイミングで信
号レベルが０レベルを横切る微分信号を生成する。比較
回路４２は、０レベルを基準にしてこの微分信号の信号
レベルを検出することにより、この微分信号が０レベル
を横切るタイミングで信号レベルが切り換わる出力信号
を生成し、エツジ検出回路４３は、この出力信号の立ち
上がりエツジ及び立ち下がりエツジでそれぞれ信号レベ
ルが立ち上がり、所定期間経過して信号レベルが立ち下
がるエツジ検出信号ＰＯＳ及びＮＥＧを出力する。
【００３９】サンプリングパルス生成回路４４は、この
エツジ検出信号ＰＯＳ及びＮＥＧの信号レベルが立ち上
がるタイミングでそれぞれ信号レベルが立ち上がる第１
及び第２のサンプリングパルスを生成し、このサンプリ
ングパルスをサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）４６、４
７に出力する。サンプルホールド回路４６、４７は、そ
れぞれこの第１及び第２のサンプリングパルスを基準に
して再生信号ＲＦをサンプルホールドする。
エツジ検出信号ＰＯＳ及びＮＥＧの信号レベルが立ち上
がるタイミングでそれぞれ信号レベルが立ち上がる第１
及び第２のサンプリングパルスを生成し、このサンプリ
ングパルスをサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）４６、４
７に出力する。サンプルホールド回路４６、４７は、そ
れぞれこの第１及び第２のサンプリングパルスを基準に
して再生信号ＲＦをサンプルホールドする。
【００４０】これにより図３に示すように、アシンメト
リ検出回路４０は、サンプルホールド回路４６におい
て、再生信号ＲＦの信号レベルがピークレベルに立ち上
がるタイミングｔＰ１、ｔＰ２、ｔＰ３、……で、順次
再生信号ＲＦの信号レベルをサンプリングするようにな
され、これとは逆にサンプルホールド回路４７におい
て、再生信号ＲＦの信号レベルがボトムレベルに立ち下
がるタイミングｔＮ１、ｔＮ２、ｔＮ３、……で、順次
再生信号ＲＦの信号レベルをサンプリングするようにな
されている。
リ検出回路４０は、サンプルホールド回路４６におい
て、再生信号ＲＦの信号レベルがピークレベルに立ち上
がるタイミングｔＰ１、ｔＰ２、ｔＰ３、……で、順次
再生信号ＲＦの信号レベルをサンプリングするようにな
され、これとは逆にサンプルホールド回路４７におい
て、再生信号ＲＦの信号レベルがボトムレベルに立ち下
がるタイミングｔＮ１、ｔＮ２、ｔＮ３、……で、順次
再生信号ＲＦの信号レベルをサンプリングするようにな
されている。
【００４１】ピークボトムホールド回路４８は、サンプ
ルホールド回路４６及び４７のサンプルホールド結果の
ピーク値及びボトム値をそれぞれホールドすることによ
り、パルス幅11Ｔのランドを再生して得られる再生信号
ＲＦのピークレベルＲＦＴＯＰ、パルス幅11Ｔのピツト
を再生して得られる再生信号ＲＦのボトムレベルＲＦＢ
ＴＭ、パルス幅３Ｔのランドを再生して得られる再生信
号ＲＦのピークレベル３ＴＴＯＰ、パルス幅３Ｔのピツ
トを再生して得られる再生信号ＲＦのボトムレベル３Ｔ
ＢＴＭを検出し、この検出結果をアナログデイジタル変
換回路３７に出力する。
ルホールド回路４６及び４７のサンプルホールド結果の
ピーク値及びボトム値をそれぞれホールドすることによ
り、パルス幅11Ｔのランドを再生して得られる再生信号
ＲＦのピークレベルＲＦＴＯＰ、パルス幅11Ｔのピツト
を再生して得られる再生信号ＲＦのボトムレベルＲＦＢ
ＴＭ、パルス幅３Ｔのランドを再生して得られる再生信
号ＲＦのピークレベル３ＴＴＯＰ、パルス幅３Ｔのピツ
トを再生して得られる再生信号ＲＦのボトムレベル３Ｔ
ＢＴＭを検出し、この検出結果をアナログデイジタル変
換回路３７に出力する。
【００４２】これによりシステム制御回路３５は、次式
【数２】 の演算処理を実行してアシンメトリＡｓｙを検出し得る
ようになされている。すなわちこの種の光デイスク２１
においては、パルス幅３Ｔのピツト及びランドの発生確
率が全体の１／３を占め、これによりパルス幅３Ｔのピ
ークレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭを加
算すれば、論理０及び１の発生確率が等しくなるスライ
スレベルＳＬの２倍のレベルを検出することができる。
ようになされている。すなわちこの種の光デイスク２１
においては、パルス幅３Ｔのピツト及びランドの発生確
率が全体の１／３を占め、これによりパルス幅３Ｔのピ
ークレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭを加
算すれば、論理０及び１の発生確率が等しくなるスライ
スレベルＳＬの２倍のレベルを検出することができる。
【００４３】従つて（１）式に対応して（２）式の演算
処理を実行して簡易にアシンメトリＡｓｙを検出するこ
とができる。このときアシンメトリ検出回路４０におい
ては、ピークレベル及びボトムレベルを順次サンプリン
グした後、各サンプリング結果の最小値及び最大値を検
出してパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びボト
ムレベル３ＴＢＴＭ、パルス幅11ＴのピークレベルＲＦ
ＴＯＰ及びボトムレベルＲＦＢＴＭを検出することによ
り、従来に比して各段的に短い時間でアシンメトリＡｓ
ｙを検出することができ、その分短い試し書き領域で記
録時の光量を選定することができる。
処理を実行して簡易にアシンメトリＡｓｙを検出するこ
とができる。このときアシンメトリ検出回路４０におい
ては、ピークレベル及びボトムレベルを順次サンプリン
グした後、各サンプリング結果の最小値及び最大値を検
出してパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びボト
ムレベル３ＴＢＴＭ、パルス幅11ＴのピークレベルＲＦ
ＴＯＰ及びボトムレベルＲＦＢＴＭを検出することによ
り、従来に比して各段的に短い時間でアシンメトリＡｓ
ｙを検出することができ、その分短い試し書き領域で記
録時の光量を選定することができる。
【００４４】従つて光デイスク装置２０においては、そ
の分光デイスク２１の情報記録面を有効に使用して記録
密度を向上することができる。さらに限られた試し書き
領域を有効に使用して光量を設定し得ることにより、未
記録領域にデータを追記する際に、この追記の回数を従
来に比して増大することができ、その分この種の光デイ
スク装置の使い勝手を向上することができる。
の分光デイスク２１の情報記録面を有効に使用して記録
密度を向上することができる。さらに限られた試し書き
領域を有効に使用して光量を設定し得ることにより、未
記録領域にデータを追記する際に、この追記の回数を従
来に比して増大することができ、その分この種の光デイ
スク装置の使い勝手を向上することができる。
【００４５】以上の構成によれば、ピークレベル及びボ
トムレベルを順次サンプリングした後、各サンプリング
結果の最小値及び最大値を検出してパルス幅３Ｔのピー
クレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭ、パル
ス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及びボトムレベルＲ
ＦＢＴＭを検出し、この検出結果に基づいてアシンメト
リを検出することにより、短い時間でかつ簡易にアシン
メトリを検出することができ、これにより短い試し書き
領域で記録時の光量を選定することができる。
トムレベルを順次サンプリングした後、各サンプリング
結果の最小値及び最大値を検出してパルス幅３Ｔのピー
クレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭ、パル
ス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及びボトムレベルＲ
ＦＢＴＭを検出し、この検出結果に基づいてアシンメト
リを検出することにより、短い時間でかつ簡易にアシン
メトリを検出することができ、これにより短い試し書き
領域で記録時の光量を選定することができる。
【００４６】（２）第２の実施例 図４において、５０は第２の実施例によるアシンメトリ
検出回路を示し、ウインド生成回路５１で生成したウイ
ンド信号Ｓ４及びＳ５を基準にして再生信号ＲＦの信号
レベルを検出する。
検出回路を示し、ウインド生成回路５１で生成したウイ
ンド信号Ｓ４及びＳ５を基準にして再生信号ＲＦの信号
レベルを検出する。
【００４７】すなわち図５に示すように、ウインド生成
回路５１は、所定の基準レベルと再生信号ＲＦ（図５
（Ａ））の間で比較結果ＣＭＰ（図５（Ｂ））を得、こ
の比較結果ＣＭＰの立ち上がりエツジを基準にして比較
結果ＣＭＰを１／２分周することにより、再生信号ＲＦ
の信号レベルが立ち上がつた後、所定期間信号レベルが
Ｈレベルに保持されるウインド信号Ｓ３を生成する（図
５（Ｃ））。さらにウインド生成回路５１は、これとは
逆に比較結果ＣＭＰの立ち下がりエツジを基準にして比
較結果ＣＭＰを１／２分周することにより、再生信号Ｒ
Ｆの信号レベルが立ち下がつた後、所定期間信号レベル
がＬレベルに保持されるウインド信号Ｓ４を生成する
（図５（Ｆ））。
回路５１は、所定の基準レベルと再生信号ＲＦ（図５
（Ａ））の間で比較結果ＣＭＰ（図５（Ｂ））を得、こ
の比較結果ＣＭＰの立ち上がりエツジを基準にして比較
結果ＣＭＰを１／２分周することにより、再生信号ＲＦ
の信号レベルが立ち上がつた後、所定期間信号レベルが
Ｈレベルに保持されるウインド信号Ｓ３を生成する（図
５（Ｃ））。さらにウインド生成回路５１は、これとは
逆に比較結果ＣＭＰの立ち下がりエツジを基準にして比
較結果ＣＭＰを１／２分周することにより、再生信号Ｒ
Ｆの信号レベルが立ち下がつた後、所定期間信号レベル
がＬレベルに保持されるウインド信号Ｓ４を生成する
（図５（Ｆ））。
【００４８】ピークホールド回路５２及びボトムホール
ド回路５３は、それぞれこのウインド信号Ｓ３及びＳ４
の信号レベルが立ち上がり及び立ち下がる期間の間、再
生信号ＲＦの信号レベルをピークホールド及びボトムホ
ールドし、これによりアシンメトリ検出回路５０は、そ
れぞれピークホールド回路５２及びボトムホールド回路
５３で再生信号ＲＦのピークレベル及びボトムレベルを
順次検出するようになされている。
ド回路５３は、それぞれこのウインド信号Ｓ３及びＳ４
の信号レベルが立ち上がり及び立ち下がる期間の間、再
生信号ＲＦの信号レベルをピークホールド及びボトムホ
ールドし、これによりアシンメトリ検出回路５０は、そ
れぞれピークホールド回路５２及びボトムホールド回路
５３で再生信号ＲＦのピークレベル及びボトムレベルを
順次検出するようになされている。
【００４９】サンプルホールド回路５４及び５５は、そ
れぞれピークホールド回路５２及びボトムホールド回路
５３のホールド結果をサンプルホールドし、このためタ
イミング発生回路５６は、ウインド生成回路５１の比較
結果ＣＭＰ及びウインド信号Ｓ３、Ｓ４を基準にして、
サンプルホールド回路５４及び５５のサンプリングパル
スＳＨ１及びＳＨ２（図５（Ｄ）及び（Ｇ）、ピークホ
ールド回路５２及びボトムホールド回路５３のクリア信
号ＣＲ１及びＣＲ２（図５（Ｅ）及び（Ｈ））を生成す
る。
れぞれピークホールド回路５２及びボトムホールド回路
５３のホールド結果をサンプルホールドし、このためタ
イミング発生回路５６は、ウインド生成回路５１の比較
結果ＣＭＰ及びウインド信号Ｓ３、Ｓ４を基準にして、
サンプルホールド回路５４及び５５のサンプリングパル
スＳＨ１及びＳＨ２（図５（Ｄ）及び（Ｇ）、ピークホ
ールド回路５２及びボトムホールド回路５３のクリア信
号ＣＲ１及びＣＲ２（図５（Ｅ）及び（Ｈ））を生成す
る。
【００５０】これにより図６に示すようにアシンメトリ
検出回路５０においては、再生信号ＲＦ（図６（Ａ））
から生成した比較結果ＣＭＰ（図６（Ｂ））を基準にし
て、ピークホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
及びボトムホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
を並列的に順次繰り返し、この場合ピークホールド回路
５２にパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びパル
ス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰが順次ピークホール
ドされ（図６（Ｃ））、このピークホールド結果が続く
サンプルホールド回路５４でサンプルホールドされるこ
とになる（図６（Ｄ））。
検出回路５０においては、再生信号ＲＦ（図６（Ａ））
から生成した比較結果ＣＭＰ（図６（Ｂ））を基準にし
て、ピークホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
及びボトムホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
を並列的に順次繰り返し、この場合ピークホールド回路
５２にパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びパル
ス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰが順次ピークホール
ドされ（図６（Ｃ））、このピークホールド結果が続く
サンプルホールド回路５４でサンプルホールドされるこ
とになる（図６（Ｄ））。
【００５１】ボトムホールド回路５７及びピークホール
ド回路５８は、それぞれサンプルホールド回路５４及び
５５のサンプルホールド結果をボトムホールド及びピー
クホールドし、これによりそれぞれパルス幅３Ｔのピー
クレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭを出力
する（図６（Ｅ））。これに対してピークホールド回路
５９及びボトムホールド回路６０は、それぞれ再生信号
ＲＦをピークホールド及びボトムホールドし、これによ
りパルス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及びボトムレ
ベルＲＦＢＴＭを検出する。
ド回路５８は、それぞれサンプルホールド回路５４及び
５５のサンプルホールド結果をボトムホールド及びピー
クホールドし、これによりそれぞれパルス幅３Ｔのピー
クレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル３ＴＢＴＭを出力
する（図６（Ｅ））。これに対してピークホールド回路
５９及びボトムホールド回路６０は、それぞれ再生信号
ＲＦをピークホールド及びボトムホールドし、これによ
りパルス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及びボトムレ
ベルＲＦＢＴＭを検出する。
【００５２】これによりこの実施例においては、このパ
ルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル
３ＴＢＴＭ、パルス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及
びボトムレベルＲＦＢＴＭを続くアナログデイジタル変
換回路でデイジタル値に変換してシステム制御回路に出
力することにより、（２）式について上述したようにア
シンメトリを検出することができ、これにより簡易かつ
迅速にアシンメトリを検出することができる。
ルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及びボトムレベル
３ＴＢＴＭ、パルス幅11ＴのピークレベルＲＦＴＯＰ及
びボトムレベルＲＦＢＴＭを続くアナログデイジタル変
換回路でデイジタル値に変換してシステム制御回路に出
力することにより、（２）式について上述したようにア
シンメトリを検出することができ、これにより簡易かつ
迅速にアシンメトリを検出することができる。
【００５３】図４に示す構成によれば、ウインド信号を
基準にしてパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及び
ボトムレベル３ＴＢＴＭを検出するようにしても、ピー
クレベル及びボトムレベルの各サンプリング結果の最小
値及び最大値を検出することにより、第１の実施例と同
様の効果を得ることができる。
基準にしてパルス幅３Ｔのピークレベル３ＴＴＯＰ及び
ボトムレベル３ＴＢＴＭを検出するようにしても、ピー
クレベル及びボトムレベルの各サンプリング結果の最小
値及び最大値を検出することにより、第１の実施例と同
様の効果を得ることができる。
【００５４】（３）他の実施例 なお上述の実施例においては、本発明をアシンメトリの
検出に適用した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、光デイスクの記録再生系、さらには光デイスク
の特性評価に広く適用することができる。すなわち光デ
イスク装置においては、変調度を次式
検出に適用した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、光デイスクの記録再生系、さらには光デイスク
の特性評価に広く適用することができる。すなわち光デ
イスク装置においては、変調度を次式
【数３】 で表すことができ、この変調度が大きい程、記録再生系
及び光デイスクの特性が優れていると判断することがで
きる。さらに開口率においては、パルス幅３Ｔの最大値
３ＴＴＯＰ及び最小値３ＴＢＴＭのレベル差で求めるこ
とができ、この開口率が大きい程、記録再生系及び光デ
イスクの特性が優れていると判断することができる。ま
たこの開口率及び変調率を基準にして光デイスクの未記
録領域も検出することができる。従つて光デイスク装置
だけでなく、種々の評価装置等に適用して、簡易かつ迅
速に評価基準を得ることができる。
及び光デイスクの特性が優れていると判断することがで
きる。さらに開口率においては、パルス幅３Ｔの最大値
３ＴＴＯＰ及び最小値３ＴＢＴＭのレベル差で求めるこ
とができ、この開口率が大きい程、記録再生系及び光デ
イスクの特性が優れていると判断することができる。ま
たこの開口率及び変調率を基準にして光デイスクの未記
録領域も検出することができる。従つて光デイスク装置
だけでなく、種々の評価装置等に適用して、簡易かつ迅
速に評価基準を得ることができる。
【００５５】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、再生信号
のピーク値及びボトム値を順次ホールドし、該ホールド
結果の最小値及び最大値をそれぞれ検出することによ
り、簡易かつ迅速に記録系、デイスク状記録媒体、又は
再生系の評価基準を検出することができ、これにより迅
速かつ確実にアシンメトリ等を検出することができる光
デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を得ること
ができる。
のピーク値及びボトム値を順次ホールドし、該ホールド
結果の最小値及び最大値をそれぞれ検出することによ
り、簡易かつ迅速に記録系、デイスク状記録媒体、又は
再生系の評価基準を検出することができ、これにより迅
速かつ確実にアシンメトリ等を検出することができる光
デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を得ること
ができる。
【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
【図２】そのアシンメトリ検出回路を示すブロツク図で
ある。
ある。
【図３】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図４】その第２の実施例によるアシンメトリ検出回路
を示すブロツク図である。
を示すブロツク図である。
【図５】その各部の動作の説明に供する信号波形図であ
る。
る。
【図６】その全体の動作の説明に供する信号波形図であ
る。
る。
【図７】光デイスク装置の動作を原理説明に供する信号
波形図である。
波形図である。
【図８】従来のアシンメトリ検出回路を示すブロツク図
である。
である。
【図９】その動作の説明に供する信号波形図である。
１、４０、５０……アシンメトリ検出回路、８、５２、
５８、５９……ピークホールド回路、２１……光デイス
ク、３５……システム制御回路、３６……プロセス回
路、４６、４７、５４、５５……サンプルホールド回
路、５３、５７、６０……ボトムホールド回路。
５８、５９……ピークホールド回路、２１……光デイス
ク、３５……システム制御回路、３６……プロセス回
路、４６、４７、５４、５５……サンプルホールド回
路、５３、５７、６０……ボトムホールド回路。
Claims (5)
- 【請求項１】情報記録面に順次ピツトを形成したデイス
ク状記録媒体に対して、光ビームを照射して上記ピツト
に応じて変化する反射光を受光し、上記反射光に応じて
信号レベルが変化する再生信号を得、 上記再生信号のピーク値を順次ピークホールドし、該ピ
ークホールド結果の最小値を検出し、 上記再生信号のボトム値を順次ボトムホールドし、該ボ
トムホールド結果の最大値を検出し、 上記再生信号の最大値及び最小値を検出し、 上記ピークホールド結果の最小値、上記ボトムホールド
結果の最大値、上記再生信号の最大値及び最小値に基づ
いて、上記ピツトを形成する記録系、上記デイスク状記
録媒体、又は上記光ビームを照射して上記再生信号を生
成する再生系の特性を評価し得るようにしたことを特徴
とする光デイスク装置の評価方法。 - 【請求項２】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号のアシンメトリを検出
し、 上記アシンメトリを基準にして上記ピツトを形成する記
録系、上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照
射して上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得
るようにしたことを特徴とする請求項１に記載の光デイ
スク装置の評価方法。 - 【請求項３】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号の開口率を検出し、 上記開口率を基準にして上記ピツトを形成する記録系、
上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照射して
上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得るよう
にしたことを特徴とする請求項１に記載の光デイスク装
置の評価方法。 - 【請求項４】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号の変調度を検出し、 上記変調度を基準にして上記ピツトを形成する記録系、
上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照射して
上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得るよう
にしたことを特徴とする請求項１に記載の光デイスク装
置の評価方法。 - 【請求項５】光ビームの光量を段階的に切り換えてデイ
スク状記録媒体にテストデータを記録した後、上記テス
トデータを再生し、該再生結果に基づいて記録時の光量
を設定する光デイスク装置において、 上記光ビームを射出すると共に、上記光ビームの反射光
を受光し、上記反射光に応じて信号レベルが変化する再
生信号を生成する再生信号生成手段と、 上記再生信号のピーク値を順次ピークホールドしてピー
クホールド結果を出力するピークホールド手段と、 上記ピークホールド結果の最小値を検出して出力する第
１の最小値検出手段と、 上記再生信号のボトム値を順次ボトムホールドしてボト
ムホールド結果を出力するボトムホールド手段と、 上記ボトムホールド結果の最大値を検出して出力する第
１の最大値検出手段と、 上記再生信号の最大値を検出して出力する第２の最大値
検出手段と、 上記再生信号の最小値を検出して出力する第２の最小値
検出手段と、 上記ピークホールド結果の最小値、上記ボトムホールド
結果の最大値、上記再生信号の最大値及び最小値に基づ
いて、上記光ビームの光量を設定する制御手段とを具え
ることを特徴とする光デイスク装置。
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|---|---|---|---|
| JP13397793A JP3240016B2 (ja) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | 光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法 |
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| JPH06325365A true JPH06325365A (ja) | 1994-11-25 |
| JP3240016B2 JP3240016B2 (ja) | 2001-12-17 |
Family
ID=15117504
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100475091B1 (ko) * | 2002-08-30 | 2005-03-10 | 삼성전자주식회사 | 광디스크 시스템에서의 데이터 슬라이서 및 그 방법 |
| KR100524924B1 (ko) * | 1999-06-15 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 광 디스크 시스템의 신호 재생 장치 및 방법 |
| KR100817587B1 (ko) * | 2006-02-02 | 2008-03-31 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 광정보기록재생장치 |
| US7369625B2 (en) | 2001-04-11 | 2008-05-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for slicing RF signal and compensating for the slice level of RF signal in disk drive |
| CN102356590A (zh) * | 2009-03-19 | 2012-02-15 | 三星电子株式会社 | 信号质量测量设备及其方法 |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6236625B1 (en) | 1991-02-15 | 2001-05-22 | Discovision Associates | Optical disc system having current monitoring circuit with controller for laser driver and method for operating same |
| US5677899A (en) | 1991-02-15 | 1997-10-14 | Discovision Associates | Method for moving carriage assembly from initial position to target position relative to storage medium |
| US5729511A (en) | 1991-02-15 | 1998-03-17 | Discovision Associates | Optical disc system having servo motor and servo error detection assembly operated relative to monitored quad sum signal |
| US5537379A (en) | 1991-05-10 | 1996-07-16 | Discovision Associates | Optical data storage and retrieval system and method |
| JP2827855B2 (ja) * | 1993-11-12 | 1998-11-25 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録装置 |
| US5563862A (en) * | 1994-05-31 | 1996-10-08 | Sony Corporation | Write once optical disc recording apparatus with reduced data error rate because the value of asymmetry is equalized as additional data is recorded thereon |
| US6434087B1 (en) | 1995-01-25 | 2002-08-13 | Discovision Associates | Optical disc system and method for controlling bias coil and light source to process information on a storage medium |
| CN1110038C (zh) * | 1995-01-31 | 2003-05-28 | 索尼公司 | 光记录媒体的再现设备 |
| KR100200845B1 (ko) * | 1995-03-18 | 1999-06-15 | 윤종용 | 디지탈 자기기록재생장치에 있어서 데이타 재생방법 및 회로 |
| JP2967333B2 (ja) * | 1995-06-12 | 1999-10-25 | 富士通株式会社 | データ再生装置 |
| JP3123591B2 (ja) * | 1995-12-20 | 2001-01-15 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPH10198965A (ja) * | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Sony Corp | 光ディスク再生方法及び光ディスク再生装置 |
| KR100312324B1 (ko) * | 1997-08-30 | 2002-04-06 | 구자홍 | 제로크로싱레벨정합장치및그방법 |
| EP1580747A3 (en) * | 1997-10-22 | 2005-11-02 | Victor Company of Japan Limited | Audio information processing method, audio information processing apparatus, and method of recording audio information on recording medium |
| US5978334A (en) * | 1997-10-24 | 1999-11-02 | Eastman Kodak Company | Sampling timing for a reflected write signal |
| JP2000030263A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Victor Co Of Japan Ltd | 光学的記録媒体読取り装置 |
| JP3503513B2 (ja) * | 1999-02-22 | 2004-03-08 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録方法及び装置 |
| KR100333987B1 (ko) * | 2000-03-10 | 2002-05-03 | 고영산 | 광디스크의 트랙 횡단수 검출 장치 |
| EP1136992A3 (en) * | 2000-03-24 | 2006-09-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for controlling auto laser diode power |
| KR100403618B1 (ko) * | 2001-02-16 | 2003-10-30 | 삼성전자주식회사 | 자동 레이저 다이오드 출력 제어 장치 |
| JP3820965B2 (ja) * | 2001-09-04 | 2006-09-13 | 日本電気株式会社 | 情報記録媒体の記録再生条件調整方法及びそれを用いた記録再生装置 |
| JP3683550B2 (ja) * | 2002-04-22 | 2005-08-17 | シャープ株式会社 | 二値化回路、無線通信装置および二値化方法 |
| TW577060B (en) * | 2002-07-25 | 2004-02-21 | Mediatek Inc | Calibrating method of writing power for optical storage medium |
| US7035187B2 (en) * | 2002-12-13 | 2006-04-25 | Via Technologies, Inc. | Apparatus and method for generating RFZC signal for optical systems |
| TW200509108A (en) * | 2003-08-06 | 2005-03-01 | Via Tech Inc | Method for obtaining the best focusing point of optical pickup and server system of its CD-ROM drive |
| KR100982510B1 (ko) | 2003-09-16 | 2010-09-16 | 삼성전자주식회사 | 신호 특성 측정 장치 및 방법 |
| US7804755B2 (en) * | 2003-11-11 | 2010-09-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for determining characteristics of signal and apparatus using the same |
| JP4348213B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2009-10-21 | 富士フイルム株式会社 | 光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法 |
| TWI270853B (en) * | 2004-09-10 | 2007-01-11 | Mediatek Inc | Method and device for determining slicing level of track-crossing signal |
| US7796480B2 (en) * | 2006-06-05 | 2010-09-14 | Mediatek Inc. | Apparatus and methods for light spot servo signal detection |
| US7724090B2 (en) * | 2006-06-05 | 2010-05-25 | Mediatek Inc. | Loop control apparatus and method thereof |
| US20070280079A1 (en) * | 2006-06-05 | 2007-12-06 | Yuh Cheng | Asymmetry measurement apparatus |
| KR102108551B1 (ko) | 2018-06-26 | 2020-05-07 | 전주대학교 산학협력단 | 조정 가능한 cfrp 부재를 이용한 연속 강교량 시스템 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583118A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Sony Corp | デイスク再生装置の波形変換回路 |
| NL9000328A (nl) * | 1989-06-23 | 1991-01-16 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het aanbrengen van informatiepatronen op een registratiedrager. |
| US5070495A (en) * | 1989-04-12 | 1991-12-03 | International Business Machines Corporation | Write calibration for magnetooptic disk recorders |
| JP2797733B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報記録部材の記録方法 |
| EP0453161A3 (en) * | 1990-04-10 | 1992-07-08 | Seiko Epson Corporation | Optical recording apparatus |
| JP2867591B2 (ja) * | 1990-04-26 | 1999-03-08 | ソニー株式会社 | 記録レーザビームの制御方法 |
| US5268893A (en) * | 1991-10-18 | 1993-12-07 | International Business Machines Corporation | Write power calibration utilizing least squares fit of read-back signals for moving media memory |
| JP3039056B2 (ja) * | 1991-11-25 | 2000-05-08 | ソニー株式会社 | 追記型光ディスク記録装置 |
| JPH0644565A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Sony Corp | 光デイスク装置 |
| JP3558168B2 (ja) * | 1992-10-30 | 2004-08-25 | ソニー株式会社 | 光学式情報再生装置 |
-
1993
- 1993-05-11 JP JP13397793A patent/JP3240016B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-04-28 US US08/234,647 patent/US5490127A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-05-11 KR KR1019940010284A patent/KR100315883B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100524924B1 (ko) * | 1999-06-15 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 광 디스크 시스템의 신호 재생 장치 및 방법 |
| US7369625B2 (en) | 2001-04-11 | 2008-05-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for slicing RF signal and compensating for the slice level of RF signal in disk drive |
| KR100475091B1 (ko) * | 2002-08-30 | 2005-03-10 | 삼성전자주식회사 | 광디스크 시스템에서의 데이터 슬라이서 및 그 방법 |
| KR100817587B1 (ko) * | 2006-02-02 | 2008-03-31 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 광정보기록재생장치 |
| CN102356590A (zh) * | 2009-03-19 | 2012-02-15 | 三星电子株式会社 | 信号质量测量设备及其方法 |
| JP2012521058A (ja) * | 2009-03-19 | 2012-09-10 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 信号品質測定装置及び該方法 |
| US8804799B2 (en) | 2009-03-19 | 2014-08-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Signal quality measuring apparatus and method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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