JPH06325365A - 光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法 - Google Patents
光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法Info
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- JPH06325365A JPH06325365A JP5133977A JP13397793A JPH06325365A JP H06325365 A JPH06325365 A JP H06325365A JP 5133977 A JP5133977 A JP 5133977A JP 13397793 A JP13397793 A JP 13397793A JP H06325365 A JPH06325365 A JP H06325365A
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Abstract
を照射して順次ピツトを形成して所望のデータを記録す
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法に関
し、迅速かつ確実にアシンメトリ等を検出し得るように
する。 【構成】本発明は、再生信号のピーク値及びボトム値を
順次ホールドし、該ホールド結果の最小値及び最大値を
それぞれ検出し、該検出結果に基づいて記録系、デイス
ク状記録媒体の特性、又は再生系を評価し得るようにす
る。
Description
イスク装置の評価方法に関し、特にデイスク状記録媒体
に光ビームを照射して順次ピツトを形成して所望のデー
タを記録する光デイスク装置に適用して好適なものであ
る。
は、デイスク状記録媒体に光ビームを照射して順次ピツ
トを形成し、これにより所望の情報を記録し得るように
なされたものがある。すなわちこの種の光デイスク装置
に適用する光デイスクにおいては、ポリカーボネートの
デイスク状基板に有機色素を付着して情報記録面を形成
し、この情報記録面を保護層で保護する。
ク装置は、記録データをEFM変調することにより論理
0及び1の発生確率が等しくなるように変調信号S1を
生成し(図7(A))、この変調信号S1を基準にして
レーザーダイオードを駆動する。これにより光デイスク
装置は、変調信号S1の論理レベルに対応して間欠的に
光ビームを照射して情報記録面の有機色素を熱変化さ
せ、これにより情報記録面に反射率の低い領域(すなわ
ちピツトでなる)を形成する。
期Tを基準にして周期3T〜11Tの範囲でHレベル及び
Lレベルが連続するように変調信号S1を生成し、これ
によりコンパクトデイスクと同様に情報記録面に順次ピ
ツトPを形成して所望のデータを記録する(図7
(B))。
光量を低減して光ビームを照射し、その結果得られる反
射光を所定の受光素子で受光する。これにより光デイス
ク装置は、反射光の光量に応じて信号レベルが変化する
再生信号RFを得(図7(C))、所定のスライスレベ
ルSLを基準にして再生信号RFの信号レベルを検出す
ることにより、再生データD1を検出し得るようになさ
れている(図7(D))。
成した論理0及び1の発生確率が等しい記録信号でなる
ことにより、光デイスク装置においては、再生データD
1においても論理0及び1の発生確率が等しくなるよう
にスライスレベルSLを選定し、これによりビツトエラ
ーレートを低減する。
を熱変化させてピツトを形成することにより、光デイス
ク装置においては、同一の条件でレーザーダイオードを
駆動した場合でも、周囲温度、有機色素の感度に応じて
ピツトの大きさが変化する特徴がある。このため光デイ
スク装置においては、光ビームの光量を順次切り換えて
所定の試し書き領域にテストデータを記録した後、この
テストデータを再生してアシンメトリAsyを検出す
る。
リ検出結果を基準にしてアシンメトリAsyが最適値に
なる光量を選択し、この光量で所望のデータを記録す
る。これにより光デイスク装置は、周囲温度等が変化し
た場合でも、常に一定形状のピツトを形成し、再生信号
のジツタ等を低減し得るようになされている。
との時間平均の比を表し、再生データD1において論理
0及び1の発生確率が等しくなるスライスレベルSL
と、再生信号のピークレベルTOP、ボトムレベルBT
Mとの関係式で表される。
書き時、図8に示すアシンメトリ検出回路1を用いて簡
易にアシンメトリAsyを検出するようになされてい
る。すなわち光デイスク装置は、試し書き領域に記録し
たテストデータを再生し、その結果得られる再生信号R
Fをアシンメトリ検出回路1に入力する。
ンデンサ2で再生信号RFの直流成分を除去した後、こ
の再生信号RFをクランプ回路3に入力し、これにより
図9に示すように再生信号RFのボトムレベルを0レベ
ルに保持する。比較回路4は、スライスレベルSLとク
ランプ回路3の出力信号との間で比較結果を得ることに
より、スライスレベルSLを基準にして再生信号RFを
復調する。
反転出力及び非反転出力をローパスフイルタ回路(LP
F)5及び6に出力し、これによりアシンメトリ検出回
路1は、ローパスフイルタ回路5及び6を介して論理0
及び1の発生確率に応じて信号レベルが変化する直流信
号を生成する。誤差アンプ7は、このローパスフイルタ
回路5及び6の出力信号を入力してその誤差成分を増幅
し、これによりアシンメトリ検出回路1は、この誤差ア
ンプ7の出力信号をスライスレベルSLとして比較回路
4の入力に帰還する。これによりアシンメトリ検出回路
1は、論理0及び1の発生確率が等しくなるようにスラ
イスレベルSLを設定するようになされている。
プ回路3の出力信号をピークホールド回路8に入力して
ピークホールドすることにより、再生信号RFのボトム
レベルBTM及びピークレベルTOP間の信号レベル
(A+B)を検出する。これによりアシンメトリ検出回
路1は、ピークホールド回路8の出力信号及びスライス
レベルSLをアナログデイジタル変換回路(A/D)9
及び10でデイジタル値に変換してシステム制御回路1
1に出力し、システム制御回路11は、この場合、次式
出する。
(1)式で表されるアシンメトリAsyが所定の値にな
るように、光ビームの光量を設定し、再生時、ジツタを
低減してビツトエラーレートを改善し得るようになされ
ている。
の領域を小さくすることができれば、その分光デイスク
の情報記録面を有効に使用して光デイスクの記録密度を
向上することができる。ところが図8に示す構成の場
合、ローパスフイルタ回路5及び6を介挿した帰還ルー
プでスライスレベルSLを設定しているため、アシンメ
トリAsyの検出に時間を要し、その分試し書きの領域
を小さくし得ない問題がある。
で、迅速かつ確実にアシンメトリを検出することができ
る光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を提案
しようとするものである。
め本発明においては、情報記録面に順次ピツトPを形成
したデイスク状記録媒体21に対して、光ビームを照射
してピツトPに応じて変化する反射光を受光し、反射光
に応じて信号レベルが変化する再生信号RFを得、再生
信号RFのピーク値を順次ピークホールドし、該ピーク
ホールド結果の最小値3TTOPを検出し、再生信号R
Fのボトム値を順次ボトムホールドし、該ボトムホール
ド結果の最大値3TBTMを検出し、再生信号RFの最
大値RFTOP及び最小値RFBTMを検出し、ピーク
ホールド結果の最小値3TTOP、ボトムホールド結果
の最大値3TBTM、再生信号RFの最大値RFTOP
及び最小値RFBTMに基づいて、ピツトPを形成する
記録系24、25、26、28、デイスク状記録媒体2
1、又は光ビームを照射して再生信号RFを生成する再
生系30、36の特性を評価し得るようにする。
ルド結果の最小値3TTOP、ボトムホールド結果の最
大値3TBTM、再生信号RFの最大値RFTOP及び
最小値RFBTMに基づいて、再生信号RFのアシンメ
トリAsyを検出し、アシンメトリAsyを基準にして
ピツトPを形成する記録系24、25、26、28、デ
イスク状記録媒体21、又は光ビームを照射して再生信
号RFを生成する再生系30、36の特性を評価し得る
ようにする。
ルド結果の最小値3TTOP、ボトムホールド結果の最
大値3TBTM、再生信号RFの最大値RFTOP及び
最小値RFBTMに基づいて、再生信号RFの開口率3
TTOP−3TBTMを検出し、開口率3TTOP−3
TBTMを基準にしてピツトPを形成する記録系24、
25、26、28、デイスク状記録媒体21、又は光ビ
ームを照射して再生信号RFを生成する再生系30、3
6の特性を評価し得るようにする。
ルド結果の最小値3TTOP、ボトムホールド結果の最
大値3TBTM、再生信号RFの最大値RFTOP及び
最小値RFBTMに基づいて、再生信号RFの変調度を
検出し、変調度を基準にしてピツトPを形成する記録系
24、25、26、28、デイスク状記録媒体21、又
は光ビームを照射して再生信号RFを生成する再生系3
0、36の特性を評価し得るようにする。
光量を段階的に切り換えてデイスク状記録媒体21にテ
ストデータを記録した後、テストデータを再生し、該再
生結果RFに基づいて記録時の光量を設定する光デイス
ク装置20において、光ビームを射出すると共に、光ビ
ームの反射光を受光し、反射光に応じて信号レベルが変
化する再生信号RFを生成する再生信号生成手段30
と、再生信号RFのピーク値を順次ピークホールドして
ピークホールド結果を出力するピークホールド手段46
と、ピークホールド結果の最小値3TTOPを検出して
出力する第1の最小値検出手段48と、再生信号RFの
ボトム値を順次ボトムホールドしてボトムホールド結果
を出力するボトムホールド手段47と、ボトムホールド
結果の最大値3TBTMを検出して出力する第1の最大
値検出手段48と、再生信号RFの最大値RFTOPを
検出して出力する第2の最大値検出手段46、48と、
再生信号RFの最小値RFBTMを検出して出力する第
2の最小値検出手段47、48と、ピークホールド結果
の最小値3TTOP、ボトムホールド結果の最大値3T
BTM、再生信号RFの最大値RFTOP及び最小値R
FBTMに基づいて、光ビームの光量を設定する制御手
段35とを備えるようにする。
し、該ピークホールド結果の最小値3TTOPを検出
し、再生信号RFのボトム値を順次ボトムホールドし、
該ボトムホールド結果の最大値3TBTMを検出すれ
ば、簡易かつ迅速に記録系24、25、26、28、デ
イスク状記録媒体21の特性、又は再生系30、36の
評価基準を検出することができる。
OP、ボトムホールド結果の最大値3TBTM、再生信
号RFの最大値RFTOP及び最小値RFBTMに基づ
いて、再生信号RFのアシンメトリAsy、開口率3T
TOP−3TBTM、変調度を検出して、アシンメトリ
Asy等の評価基準を簡易かつ迅速に検出することがで
きる。
光量を簡易に設定することができる。
する。
し、光デイスク21に所望のデータを記録し得るように
なされている。すなわち光デイスク21は、有機色素で
情報記録面を形成したデイスク状記録媒体でなり、光デ
イスク装置20は、スピンドルサーボ回路22でスピン
ドルモータ23を回転駆動することにより、この光デイ
スク21を所定の回転速度で回転駆動する。
時、記録データD2をEFM変調回路24に入力し、こ
こでコンパクトデイスクに適用される変調方式を適用し
てEFM変調する。タイミングジエネレータ(TG)2
5は、EFM変調回路24から出力される変調信号S1
のタイミングを補正してレーザードライバ(DRV)2
6に出力し、レーザードライバ26は、この出力信号の
論理レベルに対応するようにレーザーダイオードを駆動
する。
27は、レーザーダイオードの光量検出結果S2に基づ
いてレーザーダイオードを制御し、これにより記録再生
時、それぞれレーザーダイオードから射出される光ビー
ムの光量を所定値に保持するようになされている。これ
により光デイスク装置20は、このレーザーダイオード
の光ビームを対物レンズ28を介して光デイスク21に
集光し、記録時、変調信号S1に対応して順次ピツトを
形成するようになされている。
21に光ビームを照射して得られる反射光を所定の受光
素子で受光し、ヘツドアンプ(HA)30は、この受光
素子の出力信号を増幅して出力する。このときヘツドア
ンプ30は、受光素子の出力信号を加減算処理して出力
することにより、フオーカスエラー信号FE、トラツキ
ングエラー信号TEを生成して出力し、サーボ回路32
は、このフオーカスエラー信号FE、トラツキングエラ
ー信号TEを基準にして対物レンズ28を上下左右に可
動する。
の受光結果に基づいてトラツキング制御及びフオーカス
制御するようになされ、これにより確実にピツトを形成
し得るようになされ、さらに再生時、確実にデータを再
生し得るようになされている。さらにこの種の光デイス
ク21は、予めピツト形成位置にプリグリーブをウオウ
ブリングして形成するようになされ、このプリグリーブ
に基づいてトラツキングエラー信号TEを生成し得るよ
うになされ、さらにウオウブリングを検出して光デイス
ク21の回転速度情報、位置情報を検出し得るようにな
されている。
素子の出力信号を処理することにより、このプリグルー
ブのウオウブリング情報MPPを検出し、スピンドルサ
ーボ回路22は、このウオウブリング情報MPPを基準
にしてスピンドルモータ23を駆動し、これにより光デ
イスク21を線速度一定の条件で駆動する。
ブリング情報MPPから光ビーム照射位置の位置情報A
TIPを検出し、この位置情報ATIPをシステム制御
回路35に出力する。これによりシステム制御回路35
は、この位置情報ATIPを基準にして全体の動作を制
御し、これにより光デイスク装置20は、所定の領域に
順次データを記録し得るようになされている。
力信号を増幅することにより、反射光の光量に応じて信
号レベルが変化する再生信号RFを生成して出力し、プ
ロセス回路36は、この再生信号RFを2値化して復調
することにより、再生時、再生データを出力し得るよう
になされている。これにより光デイスク装置20は、再
生時、光ビームの光量を低減してプロセス回路36の出
力信号を所定の信号処理回路で処理することにより、光
デイスク21に記録したデータを再生し得るようになさ
れている。
メトリ検出回路で再生信号RFの信号レベルを検出し、
この信号レベル検出結果をアナログデイジタル変換回路
(A/D)37でデイジタル値に変換してシステム制御
回路35に出力する。これによりシステム制御回路35
は、所定の試し書き領域に記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、該検出結果に基づいて記録時、光ビ
ームの光量を設定するようになされている。
タルアナログ変換回路(D/A)38を介して自動光量
制御回路27に光量制御データを出力することにより、
光ビームの光量を自由に設定し得るようになされ、これ
により記録及び再生時、それぞれ光ビームの光量を記録
及び再生用の光量に切り換える。さらにシステム制御回
路35は、記録開始前、タイミングジエネレータ25及
び自動光量制御回路27を制御することにより、光ビー
ムの光量を段階的に切り換えて、各光量で所定のテスト
データを光デイスク21の試し書き領域に記録し、続い
て再生時の光量に切り換えてこのテストデータを再生す
る。
〜11Tの記録信号S1で形成され、これによりシステム
制御回路35は、各光量で記録したテストデータのアシ
ンメトリを検出し、このアシンメトリが最適になる光量
を記録時の光量に設定する。なおデコーダ39は、復調
結果からサブコードを誤り訂正処理してシステム制御回
路35に出力するようになされている。
出するアシンメトリ検出回路40は、再生信号RFを微
分回路41に入力し、ここで正弦波状に変化する再生信
号RFを微分し、この再生信号RFがピークレベルに立
ち上がり及びボトムレベルに立ち下がるタイミングで信
号レベルが0レベルを横切る微分信号を生成する。比較
回路42は、0レベルを基準にしてこの微分信号の信号
レベルを検出することにより、この微分信号が0レベル
を横切るタイミングで信号レベルが切り換わる出力信号
を生成し、エツジ検出回路43は、この出力信号の立ち
上がりエツジ及び立ち下がりエツジでそれぞれ信号レベ
ルが立ち上がり、所定期間経過して信号レベルが立ち下
がるエツジ検出信号POS及びNEGを出力する。
エツジ検出信号POS及びNEGの信号レベルが立ち上
がるタイミングでそれぞれ信号レベルが立ち上がる第1
及び第2のサンプリングパルスを生成し、このサンプリ
ングパルスをサンプルホールド回路(S/H)46、4
7に出力する。サンプルホールド回路46、47は、そ
れぞれこの第1及び第2のサンプリングパルスを基準に
して再生信号RFをサンプルホールドする。
リ検出回路40は、サンプルホールド回路46におい
て、再生信号RFの信号レベルがピークレベルに立ち上
がるタイミングtP1、tP2、tP3、……で、順次
再生信号RFの信号レベルをサンプリングするようにな
され、これとは逆にサンプルホールド回路47におい
て、再生信号RFの信号レベルがボトムレベルに立ち下
がるタイミングtN1、tN2、tN3、……で、順次
再生信号RFの信号レベルをサンプリングするようにな
されている。
ルホールド回路46及び47のサンプルホールド結果の
ピーク値及びボトム値をそれぞれホールドすることによ
り、パルス幅11Tのランドを再生して得られる再生信号
RFのピークレベルRFTOP、パルス幅11Tのピツト
を再生して得られる再生信号RFのボトムレベルRFB
TM、パルス幅3Tのランドを再生して得られる再生信
号RFのピークレベル3TTOP、パルス幅3Tのピツ
トを再生して得られる再生信号RFのボトムレベル3T
BTMを検出し、この検出結果をアナログデイジタル変
換回路37に出力する。
ようになされている。すなわちこの種の光デイスク21
においては、パルス幅3Tのピツト及びランドの発生確
率が全体の1/3を占め、これによりパルス幅3Tのピ
ークレベル3TTOP及びボトムレベル3TBTMを加
算すれば、論理0及び1の発生確率が等しくなるスライ
スレベルSLの2倍のレベルを検出することができる。
処理を実行して簡易にアシンメトリAsyを検出するこ
とができる。このときアシンメトリ検出回路40におい
ては、ピークレベル及びボトムレベルを順次サンプリン
グした後、各サンプリング結果の最小値及び最大値を検
出してパルス幅3Tのピークレベル3TTOP及びボト
ムレベル3TBTM、パルス幅11TのピークレベルRF
TOP及びボトムレベルRFBTMを検出することによ
り、従来に比して各段的に短い時間でアシンメトリAs
yを検出することができ、その分短い試し書き領域で記
録時の光量を選定することができる。
の分光デイスク21の情報記録面を有効に使用して記録
密度を向上することができる。さらに限られた試し書き
領域を有効に使用して光量を設定し得ることにより、未
記録領域にデータを追記する際に、この追記の回数を従
来に比して増大することができ、その分この種の光デイ
スク装置の使い勝手を向上することができる。
トムレベルを順次サンプリングした後、各サンプリング
結果の最小値及び最大値を検出してパルス幅3Tのピー
クレベル3TTOP及びボトムレベル3TBTM、パル
ス幅11TのピークレベルRFTOP及びボトムレベルR
FBTMを検出し、この検出結果に基づいてアシンメト
リを検出することにより、短い時間でかつ簡易にアシン
メトリを検出することができ、これにより短い試し書き
領域で記録時の光量を選定することができる。
検出回路を示し、ウインド生成回路51で生成したウイ
ンド信号S4及びS5を基準にして再生信号RFの信号
レベルを検出する。
回路51は、所定の基準レベルと再生信号RF(図5
(A))の間で比較結果CMP(図5(B))を得、こ
の比較結果CMPの立ち上がりエツジを基準にして比較
結果CMPを1/2分周することにより、再生信号RF
の信号レベルが立ち上がつた後、所定期間信号レベルが
Hレベルに保持されるウインド信号S3を生成する(図
5(C))。さらにウインド生成回路51は、これとは
逆に比較結果CMPの立ち下がりエツジを基準にして比
較結果CMPを1/2分周することにより、再生信号R
Fの信号レベルが立ち下がつた後、所定期間信号レベル
がLレベルに保持されるウインド信号S4を生成する
(図5(F))。
ド回路53は、それぞれこのウインド信号S3及びS4
の信号レベルが立ち上がり及び立ち下がる期間の間、再
生信号RFの信号レベルをピークホールド及びボトムホ
ールドし、これによりアシンメトリ検出回路50は、そ
れぞれピークホールド回路52及びボトムホールド回路
53で再生信号RFのピークレベル及びボトムレベルを
順次検出するようになされている。
れぞれピークホールド回路52及びボトムホールド回路
53のホールド結果をサンプルホールドし、このためタ
イミング発生回路56は、ウインド生成回路51の比較
結果CMP及びウインド信号S3、S4を基準にして、
サンプルホールド回路54及び55のサンプリングパル
スSH1及びSH2(図5(D)及び(G)、ピークホ
ールド回路52及びボトムホールド回路53のクリア信
号CR1及びCR2(図5(E)及び(H))を生成す
る。
検出回路50においては、再生信号RF(図6(A))
から生成した比較結果CMP(図6(B))を基準にし
て、ピークホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
及びボトムホールド、サンプルホールド、クリヤの処理
を並列的に順次繰り返し、この場合ピークホールド回路
52にパルス幅3Tのピークレベル3TTOP及びパル
ス幅11TのピークレベルRFTOPが順次ピークホール
ドされ(図6(C))、このピークホールド結果が続く
サンプルホールド回路54でサンプルホールドされるこ
とになる(図6(D))。
ド回路58は、それぞれサンプルホールド回路54及び
55のサンプルホールド結果をボトムホールド及びピー
クホールドし、これによりそれぞれパルス幅3Tのピー
クレベル3TTOP及びボトムレベル3TBTMを出力
する(図6(E))。これに対してピークホールド回路
59及びボトムホールド回路60は、それぞれ再生信号
RFをピークホールド及びボトムホールドし、これによ
りパルス幅11TのピークレベルRFTOP及びボトムレ
ベルRFBTMを検出する。
ルス幅3Tのピークレベル3TTOP及びボトムレベル
3TBTM、パルス幅11TのピークレベルRFTOP及
びボトムレベルRFBTMを続くアナログデイジタル変
換回路でデイジタル値に変換してシステム制御回路に出
力することにより、(2)式について上述したようにア
シンメトリを検出することができ、これにより簡易かつ
迅速にアシンメトリを検出することができる。
基準にしてパルス幅3Tのピークレベル3TTOP及び
ボトムレベル3TBTMを検出するようにしても、ピー
クレベル及びボトムレベルの各サンプリング結果の最小
値及び最大値を検出することにより、第1の実施例と同
様の効果を得ることができる。
検出に適用した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、光デイスクの記録再生系、さらには光デイスク
の特性評価に広く適用することができる。すなわち光デ
イスク装置においては、変調度を次式
及び光デイスクの特性が優れていると判断することがで
きる。さらに開口率においては、パルス幅3Tの最大値
3TTOP及び最小値3TBTMのレベル差で求めるこ
とができ、この開口率が大きい程、記録再生系及び光デ
イスクの特性が優れていると判断することができる。ま
たこの開口率及び変調率を基準にして光デイスクの未記
録領域も検出することができる。従つて光デイスク装置
だけでなく、種々の評価装置等に適用して、簡易かつ迅
速に評価基準を得ることができる。
のピーク値及びボトム値を順次ホールドし、該ホールド
結果の最小値及び最大値をそれぞれ検出することによ
り、簡易かつ迅速に記録系、デイスク状記録媒体、又は
再生系の評価基準を検出することができ、これにより迅
速かつ確実にアシンメトリ等を検出することができる光
デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法を得ること
ができる。
ブロツク図である。
ある。
を示すブロツク図である。
る。
る。
波形図である。
である。
58、59……ピークホールド回路、21……光デイス
ク、35……システム制御回路、36……プロセス回
路、46、47、54、55……サンプルホールド回
路、53、57、60……ボトムホールド回路。
Claims (5)
- 【請求項1】情報記録面に順次ピツトを形成したデイス
ク状記録媒体に対して、光ビームを照射して上記ピツト
に応じて変化する反射光を受光し、上記反射光に応じて
信号レベルが変化する再生信号を得、 上記再生信号のピーク値を順次ピークホールドし、該ピ
ークホールド結果の最小値を検出し、 上記再生信号のボトム値を順次ボトムホールドし、該ボ
トムホールド結果の最大値を検出し、 上記再生信号の最大値及び最小値を検出し、 上記ピークホールド結果の最小値、上記ボトムホールド
結果の最大値、上記再生信号の最大値及び最小値に基づ
いて、上記ピツトを形成する記録系、上記デイスク状記
録媒体、又は上記光ビームを照射して上記再生信号を生
成する再生系の特性を評価し得るようにしたことを特徴
とする光デイスク装置の評価方法。 - 【請求項2】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号のアシンメトリを検出
し、 上記アシンメトリを基準にして上記ピツトを形成する記
録系、上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照
射して上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得
るようにしたことを特徴とする請求項1に記載の光デイ
スク装置の評価方法。 - 【請求項3】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号の開口率を検出し、 上記開口率を基準にして上記ピツトを形成する記録系、
上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照射して
上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得るよう
にしたことを特徴とする請求項1に記載の光デイスク装
置の評価方法。 - 【請求項4】上記ピークホールド結果の最小値、上記ボ
トムホールド結果の最大値、上記再生信号の最大値及び
最小値に基づいて、上記再生信号の変調度を検出し、 上記変調度を基準にして上記ピツトを形成する記録系、
上記デイスク状記録媒体、又は上記光ビームを照射して
上記再生信号を生成する再生系の特性を評価し得るよう
にしたことを特徴とする請求項1に記載の光デイスク装
置の評価方法。 - 【請求項5】光ビームの光量を段階的に切り換えてデイ
スク状記録媒体にテストデータを記録した後、上記テス
トデータを再生し、該再生結果に基づいて記録時の光量
を設定する光デイスク装置において、 上記光ビームを射出すると共に、上記光ビームの反射光
を受光し、上記反射光に応じて信号レベルが変化する再
生信号を生成する再生信号生成手段と、 上記再生信号のピーク値を順次ピークホールドしてピー
クホールド結果を出力するピークホールド手段と、 上記ピークホールド結果の最小値を検出して出力する第
1の最小値検出手段と、 上記再生信号のボトム値を順次ボトムホールドしてボト
ムホールド結果を出力するボトムホールド手段と、 上記ボトムホールド結果の最大値を検出して出力する第
1の最大値検出手段と、 上記再生信号の最大値を検出して出力する第2の最大値
検出手段と、 上記再生信号の最小値を検出して出力する第2の最小値
検出手段と、 上記ピークホールド結果の最小値、上記ボトムホールド
結果の最大値、上記再生信号の最大値及び最小値に基づ
いて、上記光ビームの光量を設定する制御手段とを具え
ることを特徴とする光デイスク装置。
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