JP2001357529A

JP2001357529A - 光学的情報記録装置及びそのレーザ光強度検出方法

Info

Publication number: JP2001357529A
Application number: JP2001111631A
Authority: JP
Inventors: Toyoji Gushima; 豊治具島; Makoto Usui; 誠臼井; Kenji Koishi; 健二小石; Yuichi Kamioka; 優一上岡
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2000-04-12
Filing date: 2001-04-10
Publication date: 2001-12-26

Abstract

(57)【要約】【課題】光ディスクなどへのデータ記録中に、レーザ
パワーを最適にし、またデータの記録中にもアドレス信
号及びサーボ信号を安定に信頼性よく再生する。【解決手段】半導体レーザより出射されたレーザビー
ムは光学的記録媒体に照射されるとともに、出射光検出
用のフォトディテクタでその光強度が電流値に変換さ
れ、信号処理手段でさらにＩ／Ｖ変換などの信号処理が
なされた後、サンプル手段でサンプルパルス生成手段よ
りのサンプルパルスのタイミングでサンプルホールドさ
れる。レーザパワー制御手段はサンプルホールド結果を
用いて、レーザパワーが最適になるように制御する。こ
の際、パルスタイミング設定手段は、レーザ出射光の伝
播経路の応答時間に応じてサンプルパルスのタイミング
を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の記
録媒体への情報の光学的記録、特にパルス状の信号で光
強度を変調したレーザビームを記録媒体に照射すること
による情報の光学的記録に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク等の光学的情報記録媒
体は、コンピュータの外部記憶装置や映像音声記録用と
して開発および商品化が進められている。既に実用化さ
れている記録可能な光ディスクには、有機色素系、相変
化型、光磁気等があるが、いずれもレーザビームを記録
膜に照射することによりデータの記録がなされる。

【０００３】光ディスクへデータを高密度に記録する方
式として、パルス幅変調方式（以下ＰＷＭ方式）が知ら
れている。ＰＷＭ方式は、記録マークの前端及び後端
のエッジがディジタル信号の１に対応するように変調す
る方式であり、記録マークの位置がディジタル信号の１
に対応するように変調するパルス位置変調方式に比べ、
同一長さの記録マーク中により多くのビットを割り当て
ることができるため、高密度化に適している。

【０００４】ＰＷＭ方式では、記録マークの幅に情報を
持つため、記録マークを歪みなく、即ち前端と後端で均
質に形成する必要がある。相変化型光ディスク等で記録
膜の蓄熱効果により、特に長いマークを記録する場合
に、記録マークの半径方向の幅が後半部ほど大きくな
り、いわゆる涙滴状に歪むという課題がある。これを解
決するため、１つの記録マークを複数の短パルス列の照
射により形成する記録方法が提案されている（例えば、
特開平３−１８５６２８号公報）。

【０００５】一般的な光ディスクでは、ディスク面に螺
旋状または同心円状の情報トラックを設け、レーザービ
ームを情報トラックに沿って照射することにより情報の
記録・再生を行う。情報トラックは、記録データの管理
を容易にするために、セクタと呼ばれる単位に区切ら
れ、それぞれに対しアドレスが付与される。

【０００６】記録可能な光ディスクのデータフォーマッ
トは、大きく２種類に分けることができる。１つはアド
レス部とデータ部が分離されたセクタフォーマットであ
り、ＩＳＯ／ＩＥＣ１００８９等で標準化されている光
磁気ディスク、ＤＶＤ―ＲＡＭ等がこれに相当する。ア
ドレス部が完全に分離されているため、記録中であって
もアドレスの再生とデータの記録を互いに影饗させるこ
となく時分割で行う事ができる。また、アドレス部とデ
ータ部の境界は通常Ｇａｐ領域と呼ばれる緩衝領域が設
けられており、記録装置は、データ記録中にＧａｐ領域
を用いて記録中のどのセクタにおいてもレーザパワー制
御を行うことが可能である。

【０００７】もう１つはアドレス部とデータ部が時分割
に分離されていないセクタフォーマットであり、ＣＤ−
Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等がこれに
相当する。分離されたアドレス部がないため、データを
連続して記録することができ、その分、記録密度（フオ
ーマット効率）を高めることが出来る。一方、データの
記録を行いながら、同時にアドレスの再生を行う必要が
あり、レーザパワーの制御もデータ記録中に行わなけれ
ばならない。

【０００８】従来、ＣＤ−Ｒ記録装置では、情報の記録
を行う際に、ＯＰＣ（＝0ptimum Power Contro1）と称
する記録時レーザパワーの最適化制御を行っている。Ｏ
ＰＣは、光ディスクのパワーキャリブレーションエリア
（以下ＰＣＡという）に所定の情報を記録し、記録した
情報を再生することにより行われている。その具体例と
しては、ＰＣＡに対しシンクフレーム単位でレーザパワ
ーを変えながら試し記録を行い、試し記録を行った領域
の再生を行い、最も記録状態の良かったレーザパワーを
選択して、ユーザデータの記録パワーに用いる（追記型
光ディスク規格書オレンジブック参照）。

【０００９】また、ユーザデータの記録時にも記録動作
中の光ディスクからの反射光量に応じて、記録パワーの
制御を行う方式もあり、一般的にＲ−ＯＰＣ（＝Runnin
g-Optimum Power Contro1）と呼ばれている。Ｒ−ＯＰ
Ｃでは、前述したＯＰＣ時における記録マーク形成時の
反射光量と、ユーザデータ記録時の反射光量とを比較
し、比較結果に基づいて、ＯＰＣ時に求めたレーザパワ
ーに対して、リアルタイムでパワー補正を行いながら、
ユーザデータの記録を行う。ここで、反射光量を求める
マーク部としては１１マークが使用される（例えば、特
開平１０−４０５４８号公報）。１１Ｔマークは、ＣＤ
規格で採用されているＥＦＭ（＝Eight toFourteen Mod
ulation）変調符号の最長マーク長に相当し、またシン
クフレームの同期コードが１１Ｔマーク１１Ｔスペース
で構成されているため、１シンクフレームに必ず１回は
出現するマーク長である。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、ＣＤ−
Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷのような連続記録フォーマ
ットでは、データの記録中にはレーザの変調に伴いディ
スクからの反射光量も変化するため、アドレス信号を安
定に再生することは難しい。また、ユーザデータの記録
中にレーザパワー制御を行う期間がないため、データの
記録を行いながら、レーザ出射光量またはディスクから
の反射光量に応じてレーザパワー制御を行う必要があ
る。例えば、記録中のレーザの高パワー部分をサンプル
ホールドする場合には、レーザを変調する記録パルス信
号のタイミングに応じたサンプルパルスを発生する必要
がある。

【００１１】ところが、最近の民生機器の音声から映像
記録用途への応用展開、コンピュータ周辺機器の高速化
要望等に伴い、光ディスク記録装置がどんどん高記録レ
ート化してきている。記録の高速化に伴い、レーザ出射
光量またはディスク反射光量の検出系の伝達特性（伝播
遅延、セトリング等）やその電源電庄、温度の変動が検
出信号の安定なサンプリングに対して与える影響が無視
できなくなってきている。

【００１２】なぜならば、記録が高遠になると、同一の
マーク長であっても、その絶対時間は短くなるため、レ
ーザパワーのサンプルホールドを確実に行うために必要
な時間を確保しにくくなるためである。また、サンプル
ホールドすべきレーザ出射光量またはディスク反射光量
のモニタ信号の時間軸が検出系の伝達特性（伝播遅延、
セトリング等）やその電源電圧、温度の変動により変動
するため、安定なンプルホールドを行うための時間余裕
が少なくなってしまうという課題がある。

【００１３】また、ＣＤ−Ｒ／ＲＷの場合には、従来の
技術で述べたように、１シンクフレームに１回は最長マ
ーク長である１１Ｔが出現するが、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷの
同期コードは１４Ｔを１回含むのみであり、その１４Ｔ
は直前の変調データの系列によりマークになる場合とス
ペースになる場合があるため、シンクフレームに１回１
４Ｔマークが出現するとは限らない。また、ＤＶＤ−Ｒ
／ＲＷで採用されている８−１６変調符号の最長マーク
長もＥＦＭ変調符号と同じく１１Ｔであるが、その出現
確率は非常に低く、これもまた等間隔で出現することが
保証されない。従って、特にＤＶＤ−Ｒ／ＲＷの場合
は、ＣＤ−Ｒ／ＲＷより高記録レートであるのに加え、
安定なサンプルホールドを行えるマーク長（またはスペ
ース長）が必要な時間間隔で得られにくいという課題も
ある。本発明の目的は、レーザ光検出のサンプルタイミ
ングを常に最適に保つことである。本発明の他の目的
は、光ディスク等の記録媒体へのデータ記録の信頼性を
飛躍的に向上することである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の光学的情
報記録装置は、記録すべき情報に応じて光強度を変調し
たレーザビームを記録媒体に照射することにより情報の
記録を行う光学的情報記録装置であって、記録媒体へレ
ーザビームを照射するレーザ光源と、記録すべき情報に
応じて前記レーザ光源の光強度を変調するための記録パ
ルス信号を生成する記録パルス生成手段と、前記記録パ
ルス信号に応じて前記レーザ光源を駆動するレーザ駆動
手段と、前記レーザ光源の出射光を検出する出射光検出
手段と、前記出射光検出手段の検出出力をサンプリング
するサンプル手段と、前記サンプル手段へサンプリング
を指示するサンプルタイミングを生成するサンプルタイ
ミング生成手段とを備える。前記サンプルタイミング生
成手段は、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源及び前
記出射光検出手段を含む伝播経路の応答時間分を少なく
とも遅らせたサンプルタイミングを生成する。応答時間
は、たとえば伝播遅延時間とセトリング時間を含む。

【００１５】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプルタイミング生成手段は、
前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源および前記出射光
検出手段からなる伝播経路を通る信号のセトリング時間
と前記サンプル手段の必要アクイジション時間と必要ア
パーチャ時間の和より長い記録長の記録マークに対して
サンプルタイミングを発生する。

【００１６】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプル手段の出力に応じてレー
ザ光源のパワーを制御するレーザパワー制御手段を備え
る。

【００１７】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光
源、前記出射光検出手段および前記サンプル手段の中の
少なくとも１つの電源電庄をモニタする電源電圧モニタ
手段を備え、前記サンプルタイミング生成手段は前記電
源電圧モニタ手段によりモニタされた電源電圧の値に応
じてサンプルタイミングを可変とする。

【００１８】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光
源、前記出射光検出手段及び前記サンプル手段の中の少
なくとも１つの温度をモニタする温度モニタ手段を設
け、前記サンプルタイミング生成手段は前記温度モニタ
手段によりモニタされた温度に応じてサンプルタイミン
グを可変とする。

【００１９】本発明の第２の光学的情報記録装置は、記
録すべき情報に応じて光強度を変調したレーザビームを
記録媒体に照射することにより情報の記録を行う光学的
情報記録装置であって、記録媒体へレーザビームを照射
するレーザ光源と、記録すべき情報に応じて前記レーザ
光源の光強度を変調するための記録パルス信号を生成す
る記録パルス生成手段と、前記記録パルス信号に応じて
前記レーザ光源を駆動するレーザ駆動手段と、記録媒体
へ照射されたレーザビームに対する反射光を検出する反
射光検出手段と、前記反射光検出手段の検出出力をサン
プリングするサンプル手段と、前記サンプル手段へサン
プリングを指示するサンプルタイミングを生成するサン
プルタイミング生成手段と、前記サンプル手段の出力に
応じてレーザ光源のパワーを制御するレーザパワー制御
手段とを備える。前記サンプルタイミング生成手段は、
前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源及び前記反射光検
出手段を含む伝播経路の応答時間分少なくとも遅らせた
サンプルタイミングを生成する。

【００２０】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプルタイミング生成手段は、
前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源および前記出射光
検出手段からなる伝播経路を通る信号のセトリング時間
と前記サンプル手段の必要アクイジション時間と必要ア
パーチャ時間の和より長い記録長の記録マークに対して
サンプルタイミングを発生する。

【００２１】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプルタイミング生成手段は、
記録媒体の種類に応じてサンプルタイミングを可変す
る。

【００２２】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプル手段の出力に応じてレー
ザ光源のパワーを制御するレーザパワー制御手段を備え
る。

【００２３】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプル手段の出力を用いてサー
ボエラー信号を再生するサーボエラー信号再生手段と、
前記サーボエラー信号を用いて前記記録媒体の所定のト
ラックに前記レーザビームを集光させるサーボ手段を備
える。

【００２４】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記サンプル手段の出力を用いて記録
クロック信号の再生を行う記録クロック再生手段とを備
える。

【００２５】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光
源、前記反射光検出手段及び前記サンプル手段の中の少
なくとも１つの電源電庄をモニタする電源電庄モニタ手
段を備え、前記サンプルタイミング生成手段は前記電源
電圧モニタ手段によりモニタされた電源電庄の値に応じ
てサンプルタイミングを可変とする。

【００２６】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光
源、前記反射光検出手段及び前記サンプル手段の中の少
なくとも１つの温度をモニタする温度モニタ手段をさら
に設け、前記サンプルタイミング生成手段は前記温度モ
ニタ手段によりモニタされた温度に応じてサンプルタイ
ミングを可変とする。

【００２７】前記の第１または第２の光学的情報記録装
置において、好ましくは、さらに、テスト用パルス信号
をレーザ駆動手段へ出力するテストパルス生成手段と、
前記テストパルス信号が印加された際に、サンプル手段
によりサンプリングされる信号に相当する検出信号まで
の応答時間を計測する応答時間計測手段を備え、前記サ
ンプルタイミング生成手段は前記応答時間計測手段によ
り計測された前記応答時間に応じてサンプリングタイミ
ングを決定する。

【００２８】本発明に係る第３の光学的情報記録装置
は、データの位置を管理するための番地情報が予めピッ
トとして形成されている記録媒体に対し情報の記録を行
う光学的情報記録装置であって、データを記録するため
のレーザビームを前記光ディスクのトラックに照射する
レーザ光源と、データ記録中に前記レーザ光源の光強度
を変調するための記録パルス信号を生成する記録パルス
生成手段と、前記記録パルス信号に応じて前記レーザ光
源を駆動するレーザ駆動手段と、光ディスクへ照射され
たレーザビームに対する反射光を検出する反射光検出手
段と、前記反射光検出手段の検出出力を第１のスライス
レベルで二値化する第１の二値化手段と、前記反射光検
出手段の検出出力を第２のスライスレベルで二値化する
第２の二値化手段と、前記第１の二値化手段による第１
の二値化出力と前記第２の二値化手段による第２の二値
化出力を選択する選択手段と、前記選択手段に対し第１
または第２の二値化出力の選択を指示する選択信号を生
成する選択信号生成手段と、前記選択手段の出力を用い
て前記番地情報を再生する番地情報再生手段とを備え
る。前記選択信号生成手段は、前記レーザ駆動手段、前
記レーザ光源、前記反射光検出手段、前記第１の二値化
手段及び前記第２の二値化手段を含む伝播経路の応答時
間に応じて前記選択信号のタイミングを設定する。応答
時間は、たとえば伝播遅延時間とセトリング時間を含
む。

【００２９】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、さらに、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光
源、前記反射光検出手段、前記第１の二値化手段、前記
第２の二値化手段及び前記選択手段の中の少なくとも１
つの電源電庄をモニタする電源電庄モニタ手段を設け、
前記選択信号生成手段は前記電源電圧モニタ手段により
モニタされた電源電庄の値に応じて選択信号のタイミン
グを可変とする。

【００３０】また、本発明に係る第１のレーザ光強度検
出方法では、記録すべき情報に応じて光強度を変調した
レーザビームを記録媒体に照射することにより情報の記
録を行う光学的情報記録において、レーザ光源に記録パ
ルスを印加してから、前記記録パルスに基づいてレーザ
光源よりパルス光が出射され、前記出射されたパルス光
の光量を検出し、検出した光量を所定のサンプルパルス
でサンプルホールドすることにより、レーザビームの光
強度を検出する。ここで、記録パルスの印加からサンプ
ルホールド処理の直前までの伝播経路の応答時間と記録
周波数に基づいて、前記サンプルパルスのタイミングを
決定する。

【００３１】また、本発明に係る第２ののレーザ光強度
検出方法では、記録すべき情報に応じて光強度を変調し
たレーザビームを記録媒体に照射することにより情報の
記録を行う光学的情報記録装置において、レーザ光源に
記録パルスを印加してから、前記記録パルスに基づいて
レーザ光源よりパルス光が記録媒体に照射され、前記照
射されたパルス光の反射光量を検出し、検出した反射光
量を所定のサンプルパルスでサンプルホールドすること
により、レーザビームの反射光強度を検出する。ここ
で、記録パルスの印加からサンプルホールド処理の直前
までの伝播経路の応答時間と記録周波数に基づいて、前
記サンプルパルスのタイミングを決定する。

【００３２】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、記録媒体の種類によつて前記サンプルパルスの
タイミングを変化させる。

【００３３】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セトリング時
間をＴｓとしたとき、記録パルスの印加からサンプル開
始までの時間ｔｘは、ｔｘ＞Ｔｄ＋Ｔｓ（１）を満足する。

【００３４】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、伝播経路のセトリング時間をＴｓ、記録周波数
をｆ、サンプルパルスの幅をＴｗ、サンプルホールドの
アパーチャ時間をＴａとし、サンプルパルスの出力対象
となる最短記録マーク長または最短記録スペース長をｎ
としたとき、ｎ＞（Ｔｓ＋Ｔｗ＋Ｔａ）×ｆ（２）を満足する。

【００３５】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セトリング時
間をＴｓ、記録マークの形成にかかる遅延時間をＴｍと
したとき、記録パルスの印加からサンプル開始までの時
間ｔｙは、ｔｙ＞｛Ｔｄ＋Ｆ（Ｔｓ＋Ｔｍ）｝（３）を満足する。但し、Ｆ（Ｔｓ＋Ｔｍ）はＴｓとＴｍの二
乗加算（√（Ｔｓ^２＋Ｔｍ^２））である。

【００３６】前記の光学的情報記録装置において、好ま
しくは、伝播経路のセトリング時間をＴｓ、記録マーク
の形成にかかる遅延時間をＴｍ、記録周波数をｆ、サン
プルパルスの幅をＴｗ、サンプルホールドのアパーチャ
時間をＴａとし、サンプルパルスの出力対象となる最短
記録マーク長または最短記録スペース長をｍとしたと
き、ｍ＞｛√（Ｔｓ^２＋Ｔｍ^２）＋Ｔｗ＋Ｔａ｝×ｆ（４）の関係を満足する。

【００３７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、添付の図面を参照しながら説明する。

【００３８】（実施の形態１）図１は、本発明の第１の
実施の形態に係る光学的情報記録装置の構成を示す。こ
の光学的情報記録装置において、半導体レーザ１０２よ
り発光されたレーザ光が光学系１０３により集光され、
光学的記録媒体１０１の記録面にビームスポットを照射
することにより、データの記録再生を行う。

【００３９】データの記録時に、データ変調手段１０６
は、記録すべきユーザデータに必要に応じて誤り訂正用
の冗長ビットを付加し、光学的記録媒体１０１へ記録す
る符号系列に変調した変調データ１ａを出力する。例え
ばＤＶＤ−Ｒでは、記録符号系列として８−１６変調符
号が用いられ、形成されるマーク長及びスペース長がそ
れぞれ３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（１Ｔは記録チャネルク
ロツク周期）に限定されている。このため、変調データ
１ａのＨｉｇｈレベルを記録信号のマーク、Ｌｏｗレベ
ルを記録信号のスペースに対応させると、変調データ１
ａはＨｉｇｈレベル及びＬｏｗレベルが３Ｔ〜１１Ｔ及
び１４Ｔの幅に制限されたディジタル信号となる。

【００４０】記録パルス生成手段１０５は、データ変調
手段１０６よりの変調データ１ａのタイミングを必要に
応じて加工した記録パルス信号１ｂを生成し、レーザ駆
動手段１０４へ出力する。記録パルス信号１ｂの波形と
しては、例えば記録マークが記録膜の蓄熱の影響で涙滴
型になるのを回避するために、従来の技術でも述べたマ
ルチパルス記録波形を用いる。また、記録パルス生成手
段１０５は、後述するサンプルパルス生成手段１１０に
対してサンプルパルス出力の基準となるサンプルパルス
基準タイミング１ｉを出力する。

【００４１】レーザ駆動手段１０４は、データの記録時
に、記録パルス信号１ｂのタイミングに従い半導体レー
ザ１０２が記録用のパワーで発光するように、レーザ駆
動電流１ｃを発生する。また、レーザ駆動手段１０４
は、半導体レーザ１０２が再生用のパワーで発光するよ
うに、レーザ駆動電流１ｃを発生する。

【００４２】光学系１０３には、光強度を電気信号に変
換する光電変換素子（フォトディテクタ）１０７が内蔵
されている。すなわち半導体レーザ１０２の出射光を検
出し、出射光の強度に応じた振幅の電流に変換するフォ
トディテクタ１０７である。

【００４３】出射光検出用のフォトディテクタ１０７の
出力電流１ｄは信号処理手段ｌ０８に入力される。信号
処理手段１０８では、少なくとも電流を電圧信号に変換
するＩ／Ｖ変換処理が行われ、その後、必要に応じて電
圧振幅を変えるゲイン変換処理、特定の周波数成分のみ
抽出するフィルタ処理等が行われる。そして、各信号処
理が施されたモニタ電圧信号１ｅがサンプル手段１０９
へ出力される。

【００４４】サンプル手段１０９は、信号処理手段１０
８よりのモニタ電圧信号１ｅをサンプルパルス生成手段
１１０よりのサンプルパルス１ｆのタイミングでサンプ
ルホールドする。サンプル手段１０９によりサンプルホ
ールドされた信号１ｇは、レーザパワー制御手段１１１
に供給される。

【００４５】レーザパワー制御手段１１１は、半導体レ
ーザ１０２の出射光を出射光検出用フォトディテクタ１
０７、信号処理手段１０８、サンプル手段１０９を経出
して、サンプル手段１０９によりサンプルホールドされ
た信号１ｇに応じて、レーザ駆動手段１０４の記録パワ
ー設定１ｈを行う。例えば、レーザパワー制御手段１１
１は、光学的記録媒体１０１に記録マークを形成するた
めの記録パワーを、サンプルホールド出力１ｇが予め定
めた振幅レベルとなるように記録パワー設定１ｈを調整
する。

【００４６】パルスタイミング設定手段１１２は、サン
プルパルス生成手段１１０に対してサンプルパルス設定
１ｊ、記録パルス生成手段１０５に対しては記録パルス
設定１１をなす。

【００４７】図２は、図１の各部の動作タイミングの一
例を示すタイミング図である。この例では、９Ｔマーク
・４Ｔスペース・３Ｔマークの記録波形を示している。

【００４８】変調データ１ａに対して、記録パルス信号
１ｂは、図に示すようなマルチパルス波形となる。記録
パルス信号１ｂよりＴｄ１だけ遅れてレーザ駆動電流１
ｃが発生される。ここでＴｄ１はレーザ駆動手段１０４
の回路伝播遅延時間とする。

【００４９】レーザ駆動電流１ｃに応じて半導体レーザ
１０２が発光し、その出射光を検出した出力電流１ｄが
図のように得られる。この際、レーザ発光から出射光の
光電変換出力までの伝播遅延時間をＴｄ２とする。

【００５０】信号処理手段１０８によりＩ／Ｖ変換、ゲ
イン変換、フィルタ処理等を施したモニタ電圧信号１ｅ
は図のような波形となる。この際、信号処理に伴う遅延
時間をＴｄ３とする。

【００５１】さて、サンプル手段１０９においては、こ
の信号処理手段１０８よりのモニタ電圧信号１ｅを、サ
ンプルパルス１ｆのタイミングでサンプルホールドする
（図２におけるＬｏｗパルス期間でサンプルする）ので
あるが、記録マークを形成するための記録パワーを正確
にモニタするには、記録パワーが発光されている期間に
相当するモニタ電庄信号１ｅを確実にサンプルする必要
がある。

【００５２】そのサンプルパルス１ｆのタイミングは、
以下の要素によって決定される。（１）伝播遅延時間（２）セトリング時間（３）データ記録周波数

【００５３】伝播遅延時間（１）は、この場合、記録時
のレーザ出射光の伝播経路、すなわち、レーザ駆動手段
１０４→半導体レーザ１０２→フォトディテクタ１０７
→信号処理手段１０８による遅延時間の合計を示し、Ｔ
ｄ１＋Ｔｄ２＋Ｔｄ３で示される。この時間は、ある記
録マークを形成する際に、記録パルス生成手段１０５が
記録パルス１ｂの第１波立ち上がりを出力してから、信
号処理手段１０８よりのモニタ電庄信号１ｅに記録パル
ス１ｂの第１波に相当する立ち上がり波形が出てくるま
での時間を意味している。従って、記録パワーに相当す
る部分の振幅をサンプルホールドするためには、サンプ
ル手段１０９は、少なくとも記録パルスに対し、伝播遅
延時間（Ｔｄ１＋Ｔｄ２＋Ｔｄ３）に相当する時間遅ら
せてから、サンプルパルスを出し始める必要がある。

【００５４】セトリング時間（２）は、伝播経路の各要
素が生じさせる波形なまりが収束するまでの時間と言い
換えることができる。これは各要素の周波数特性に依存
する。伝播遅延時間（１）のみで、サンプル開始タイミ
ングを決定すると、なまった波形をサンプルしてしまう
ことになり、正確なパワー値を検出することができな
い。このため、記録パルスに対し、伝播遅延時間（１）
にセトリング時間（２）を加算した時間分遅らせてか
ら、サンプルパルスを出し始めると良い。セトリング時
間の見積もりとしては、たとえば各要素毎のセトリング
時間を二乗加算平均したものとすれば良い。

【００５５】データ記録周波数（３）は、記録マークの
時間長さと関係する。各記録マークにおける記録パワー
の印加時間よりセトリング時間を引いた時間が、サンプ
ル手段１０９のアクイジション時間とアパーチャ時間の
和より短いと、正確なパワー値を検出することが出来な
い。従って、サンプルパルスを出力する対象となる記録
マーク長さは、伝播経路のセトリング時間とサンプル手
段１０９の必要アクイジション時間と必要アパーチャ時
間の和より、少なくとも長くなければならない。

【００５６】以上まとめると、（ａ）サンプルパルスの
開始タイミングは、記録パルスの第１波立ち上がりよ
り、伝播経路の伝播遅延時間とセトリング時間の和の分
少なくとも遅らせたタイミングとする。（ｂ）サンプル
パルスの幅は、サンプル手段１０９の必要アクイジショ
ン時間より長い幅とする。さらに、（ｃ）サンプルパル
ス出力対象の記録マーク長は、少なくとも、伝播経路の
セトリング時間とサンプル手段１０９の必要アクイジシ
ョン時間と必要アパーチャ時間の和より長くする。

【００５７】伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セトリン
グ時間をＴｓ、記録周波数をｆ（＝１／Ｔ）、サンプル
パルス幅をＴｗ、サンプル手段１０９のアパーチャ時間
をＴａとすると、サンプルパルスの開始タイミングｔｘ
およびサンプルパルスの出力対象となる最短記録マーク
長ｎはそれぞれ次式で表すことができる。ｔｘ＞Ｔｄ＋Ｔｓ（１）ｎ＞（Ｔｓ＋Ｔｗ＋Ｔａ）×ｆ（２）

【００５８】上に述べたことから、サンプルタイミング
生成手段１１０は、記録パルスの第１波の立ち上がりよ
り、伝播経路（すなわち、レーザ駆動手段１０４、半導
体レーザ１０２、フォトディテクタ１０７及び信号処理
手段１０８）の伝播遅延時間Ｔｄとサンプル手段１０９
のセトリング時間Ｔｓとの和の分少なくとも遅らせたサ
ンプルパルスの開始タイミングｔｘを生成する。このた
め、１つの設定方法では、あらかじめ、伝播経路の各構
成部分について、入力信号と出力信号を測定して応答特
性を求め、伝播遅延時間とセトリング時間を適当な値に
設定する。伝播遅延時間及びセトリング時間は、たとえ
ば図４に示す応答時間計測手段を用いて、伝播経路全体
について測定できる。また、そして、測定データを基に
開始タイミングｔｘを設定する。または、伝播経路を構
成する構成部分の１つ又は複数について、入力信号と出
力信号を測定して応答特性を求め、伝播遅延時間とセト
リング時間を決定し、残りの構成部分について予め決定
しておいた伝播遅延時間とセトリング時間を用いて、そ
れを基に開始タイミングｔｘを設定してもよい。これに
より、伝播遅延時間とセトリング時間の変化が生じる構
成部分についてのみ応答特性を測定してサンプリングタ
イミングを可変とする。

【００５９】次に、サンプルパルスのタイミング生成を
行うサンプルパルス生成手段１１０の具体的構成につい
て説明する。図３はサンプルパルス生成手段１１０の内
部構成例を示す。サンプルパルス生成手段１１０は、複
数のＤフリップフロップ１１０ｌａ、１１０１ｂを備え
る。Ｄフリップフロップ１１０ｌａのクロック端子には
１Ｔ周期の記録クロック信号１１ａが接続されている。
記録クロック信号１１ａは、記録パルス生成手段１０５
で使用されるものと同一位相にすると良い。Ｄフリップ
フロップ１１０ｌａはサンプルパルス基準タイミング１
ｉを入力とする（ｋ−１）段シフトレジスタを構成して
おり、サンプルパルス基準タイミング１ｉと（ｋ−１）
段Ｄフリップフロップの各Ｑ出力は、選択手段１１０２
において選択信号１１ｃにより１本に選択される。選択
された出力１１ｂは、さらに別のＤフリップフロップ１
１０ｌｂに入力され、そのクロック端子には記録クロッ
ク信号１１ａの反転クロック１１ｅ（１８０度位相ず
れ）が接続されている。選択出力１１ｂとＤフリップフ
ロップ１１０１ｂのＱ出力は、さらに選択手段１１０３
で選択信号１１ｄにより１本に選択され、サンプルパル
ス１ｆとして出力される。以上の構成により、０．５Ｔ
の可変単位で、サンプルパルス基準タイミング１ｉに対
して０Ｔから（ｋ−０．５）Ｔの範囲で可変なサンプル
パルス生成手段をフリップフロップを用いて容易に実現
できた。

【００６０】なお、サンプルパルス基準タイミング１ｉ
は、サンプルパルス出力対象の記録マーク長に対する記
録パルス１ｂの第１波と同期した３Ｔ幅のパルスとして
いる。しかし、サンプルパルス基準タイミング１ｉは３
Ｔ幅に限定されるものでないことは言うまでもなく、必
要アクイジション時間との関係において決定され、その
幅は可変にしても良い。

【００６１】また、サンプルパルス基準タイミング１ｉ
の開始位置も、記録パルス１ｂの第１波と同期に限定さ
れるものでなく、伝播経路の（伝播遅延時間＋セトリン
グ時間）の最短値で決定すれば良く、Ｄフリップフロッ
プの段数ｋは、伝播経路の（伝播遅延時間＋セトリング
時間）の（最長値−最短値）で見積もって決定すれば良
い。

【００６２】また、タイミング可変単位は０．５Ｔとし
たが、これに限定されるものではない。例えば１Ｔ単位
としてもよいし、０．２５Ｔ単位としても良い。１Ｔ単
位の場合は、最終段のＤフリップフロップ１１０１ｂと
選択手段１１０３が不要になるのは言うまでもない。
０．２５Ｔの場合は、例えば記録クロック信号１１ａの
１／４の周期で、記録クロック信号１１ａと位相が決め
られた関係にあるクロツク信号で最終段のＤフリップフ
ロップを動作させれば良い。

【００６３】また、サンプルパルスのタイミングは、基
本的には式（１）及び（２）に基づいて決定すると良
い。たとえば、伝播経路の伝播遅延時間が１００ナノ
秒、セトリング時間が５０ナノ秒、記録周波数が３０Ｍ
Ｈｚ（１Ｔ＝３３ナノ秒）であるとすると、サンプルパ
ルスの開始タイミングｔｘは式（１）により、ｔｘ＞１００＋５０＝１５０ナノ秒となり、１Ｔは３３ナノ秒であることからｔｘ＞（１５０÷３３）Ｔ≒４．５５Ｔとなる。このため、Ｄフリップフロップの段数にして５
段以上の位置を選択すれば良い。

【００６４】また、サンプル手段１０９のアパーチャ時
間が１０ナノ秒であるとすると、サンプルパルスの出力
対象となる最短記録マーク長ｎは式（２）よりｎ＞（５０ナノ＋３Ｔ＋１０ナノ）×ｆとなる。ｆ＝１／Ｔ＝３０ＭＨｚであるから、ｎ＞４．８となるため、５Ｔ以上の記録マークに対してサンプルパ
ルスを出力すると良い。

【００６５】次に、図４と図５を用いて、伝播経路の伝
播遅延時間とセトリング時間をどのように求めるかにつ
いて説明する。

【００６６】図４は、テスト信号を用いて伝播経路の伝
播遅延時間とセトリング時間を求める具体的構成例を示
す。また、図５は、図４の各構成要素の動作を説明する
ためのタイミング図である。図４において、光学的記録
媒体１０１、半導体レーザ１０２、光学系１０３、レー
ザ駆動手段１０４、信号処理手段１０８は、図１で説明
したものと同様であり、その機能説明は省略する。

【００６７】テストパルス生成手段６０２は、テストモ
ードにおいてレーザ駆動手段１０４に対してテストパル
ス信号６ａを出力する。伝播経路の応答特性を測定する
のが目的であるため、テストパルス信号６ａの波形とし
ては、応答特性を安定に測定可能なように、通常動作に
おける記録パルス信号よりも十分幅の広い矩形波とする
ことが望ましい。

【００６８】レーザ駆動手段１０４は、テストパルス信
号６ａを受けて、半導体レーザ１０２が所定の記録パワ
ーと同等のパワーで発光するように駆動電流６ｂを印加
する。

【００６９】印加された駆動電流６ｂにより発光した半
導体レーザ１０２よりのレーザ光は、通常記録時と同様
に出射光検出用フォトディテクタ１０７により検出さ
れ、出射光量に応じた振幅の電流信号６ｃが出力され
る。

【００７０】信号処理手段１０８は、入力された電流信
号６ｃに対して、通常記録時と同様に、Ｉ／Ｖ変換等の
信号処理後の出力６ｄを応答時間計測手段６０１へ出力
する。応答時間計測手段６０１に対しては、別途テスト
パルス生成手段６０２より、応答時間の計測開始を知ら
せるタイミング信号６ｅが入力される。タイミング信号
６ｅはテストパルス信号６ａと同一でも良い。

【００７１】図６は、応答時間計測手段６０１の内部構
成の１例を示す。この例では、応答時間計測手段６０１
は、信号処理手段１０８よりの入力６ｄを所定の電庄レ
ベルと比較するコンパレータ７０１と、コンパレータ７
０１の出力とテストパルス生成手段６０２よりのタイミ
ング信号６ｅの遅延時間を測定するカウンタ７０２から
構成されている。

【００７２】テストモードにおいて、テストパルス信号
６ａの立ち上がりエッジ（ＬｏｗレベルからＨｉｇｈレ
ベルへの変化点）が印加されると、信号処理手段の出力
６ｄは伝播経路の応答特性により所定時間遅延して立ち
上がる。コンパレータ７０１は、信号処理手段の出力６
ｄが予め設定しておいた比較電圧レベルより高くなる
と、Ｈｉｇｈレベルを出力する。比較電庄のレベルはセ
トリング時のなまり波形の部分をＨｉｇｈレベルとしな
い程度に高くし、波形が完全に整定した部分では確実に
Ｈｉｇｈレベルとなるように調整しておく。

【００７３】カウンタ７０２は、タイミング信号６ｅの
立ち上がりエッジからコンパレータ７０１出力の立ち上
がりエッジまでの時間を固定周波数のクロック信号でカ
ウントすることにより計測する。クロック信号の周期は
サンプルパルスのタイミング可変単位と同等以上である
ことが望ましい。

【００７４】以上説明したように、コンパレータとカウ
ンタを用いた簡単な構成で、伝播経路の応答時間を計測
することが可能となる。テストモードにおいて計測した
応答時間を基に、通常記録時において図１にて説明した
サンプルパルス生成手段１１０のサンプルパルスタイミ
ング設定１ｊの値を決定すると良い。

【００７５】次に、図７は、応答時間計測手段６０１の
別の構成例を示す。この例では、応答時間計測手段６０
１は、信号処理手段１０８の出力１ｄのアナログ波形を
ディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段８０１と、Ａ
／Ｄ変換されたディジタル信号を記憶する記憶手段８０
２と、記憶されたディジタル信号からその立ち上がり波
形を検出し、テストパルス信号６ａの開始位置を示すタ
イミング信号６ｅとの時間関係を測定する検出手段８０
３から構成されている。

【００７６】Ａ／Ｄ変換手段８０１によりアナログ／デ
ィジタル変換された信号処理手段１０８の出力６ｄに相
当するディジタル信号は、応答時間の計測開始を知らせ
るタイミング信号６ｅと同期して、記憶手段８０２に記
憶される。記憶手段８０２によるディジタル信号サンプ
ルの取込み間隔はサンプルパルスのタイミング可変単位
と同等かそれ以上であることが望ましい。記憶手段８０
２はＦＩＦＯメモリで構成されていても良く、ＳＲＡ
Ｍ、ＤＲＳＭの様なランダムアクセス型のメモリで構成
されていても良い。検出手段８０３は、記憶手段８０２
に記憶されたディジタル信号サンプルの値を読み取り、
立ち上がりエッジの部分が何番目のサンプルであるかを
検出する。この際、セトリング時のなまり波形の部分は
外して、波形が完全に整定した部分のサンプルを検出す
ると良い。検出されたサンプルの位置から、伝播経路の
応答時間を求めることが可能となる。

【００７７】以上より、図７に示した構成では、記憶手
段８０２により記憶されたディジタル信号サンプルの値
の経緯を確認することにより、立ち上がり位置を検出で
きる。従って、入力される信号処理手段１０８の出力１
ｄの振幅レベルが変化したり、セトリング時の波形がオ
ーバーシュートしているような場合でも、立ち上がり位
置を検出できなかったり、誤検出することがなくなるた
め、図６のコンパレータとカウンタによる構成に比較し
て、より安定に伝播経路の応答時間を測定できる。

【００７８】図６の構成に比べて、図７の構成の方が若
干複雑ではあるが、Ａ／Ｄ変換手段８０１と記憶手段８
０２については、他の機能ブロツクとの共用を図ること
ができれば、コストの増加にはつながらない。例えば、
光学的情報記録再生装置において、再生信号処理手段の
一部または全部がディジタル回路により構成されている
ような場合には、通常高速なＡ／Ｄ変換手段が使用され
ているため、これを共用すると良い。また、光ディスク
装置等には、記録データまたは再生データの一時記憶の
ためにバッファメモリを使用している場合が多く、これ
を共用すると良い。また、検出手段８０３についても、
ＤＳＰ（ディジタル・シグナル・プロセッサ）やＣＰＵ
（中央処理装置）が他の機能のために使用されている場
合には、これを用いてソフトウェア処理により実現する
ことも可能である。

【００７９】なお、以上の説明では、テストパルス信号
６ａに対する信号処理手段１０８の出力６ｄの応答時間
を、それらの立ち上がりエッジにより測定する構成とし
たが、これに限定されるものではない。必要に応じて立
ち下がりエッジにより測定してもよいし、立ち上がりエ
ッジによる測定と立ち下がりエッジによる測定を併用し
てもよい。

【００８０】また、テストモードにおいては、伝播経路
の応答時間を計測するのみであるから、光学的記録媒体
１０１に対してレーザビームを照射する必要はない。

【００８１】また、応答時間計測手段６０１とテストパ
ルス生成手段６０２は、図１に示す光学的情報記録装置
に組込んでもよいし、組込まなくてもよい。これらを組
込んだ場合は、装置の実動作中にテストモードに切替え
ることにより、いつでも伝播経路の応答特性を測定でき
る。従つて、装置の実動作中に、周囲温度の変化や、電
源電圧の変動等に伴つて、伝播経路の応答特性が変化す
るようなことがあっても、それに対応して、常にサンプ
ルパルスのタイミングを適正に保つことが可能となる。

【００８２】応答時間計測手段６０１とテストパルス生
成手段６０２を装置に組込まない場合には、装置の出荷
前等にレーザ駆動手段１０４の入力である記録パルス１
ｂを外部から制御可能になっており、かつ信号処理手段
１０８よりのモニタ電庄信号１ｅを外部からモニタ可能
となっている必要がある。これらが満たされていれば、
装置出荷前の工程において、伝播経路の応答特性を測定
することにより、サンプルパルスタイミング設定１ｊの
値を個別調整することが可能である。従って、装置毎に
応答特性にバラツキがあっても個別調整による合わせ込
みを行うことで、サンプルパルスのタイミングを適正に
保つことが可能となる。また、応答時間計測手段６０１
とテストパルス生成手段６０２を組込まない分、装置の
コスト低減を図ることも可能となる。

【００８３】また、応答時間計測手段６０１とテストパ
ルス生成手段６０２を装置に組込まない場合にも、電源
電圧と周辺温度をモニタする手段を新たに付加すること
により、電源電庄や周辺温度の変動に対応して、常にサ
ンプルパルスのタイミングを適正に保つことが可能であ
る。

【００８４】以上に述べた方法を実現する具体例につい
て、図８を用いて説明する。図８は、パルスタイミング
設定手段１１２の内部構成、及び、周辺の１構成例を示
す。

【００８５】パルスタイミング設定手段１１２は、サン
プルパルス設定値テーブル９０３及び記録パルス設定値
テーブル９０４を内蔵している。サンプルパルス設定値
テーブル９０３は、記録周波数、伝播経路の応答特性
（工程調整時に予め測定した常温、標準電庄における応
答特性）、電源電圧モニタ結果、温度モニタ結果をパラ
メータとして、サンプルパルス設定１ｊの値を決定する
テーブルである。電源電圧モニタ結果は電源電庄モニタ
手段９０１の出力を用いる。温度モニタ結果は温度モニ
タ手段９０２の出力を用いる。

【００８６】記録パルス設定値テーブル９０４は、予め
定められた記録ストラテジに応じて記録パルス設定１１
を決定するとともに、記録周波数、伝播経路の応答特
性、電源電庄モニタ結果及び温度モニタ結果をパラメー
タとして、サンプルパルスを出力する対象マーク長をも
決定する。

【００８７】なお、サンプルパルス設定値テーブル９０
３及び記録パルス設定値テーブル９０４は、各パラメー
タ入力に対して、設定値が記憶されたＲＯＭ（＝Read 0
nlyMemory）により構成してもよいし、上述した式
（１）や（２）にパラメータ入力を当てはめて設定値を
求める演算器により構成してもよいし、ソフトウェア処
理により実現してもよい。

【００８８】例えば、式（１）及び（２）に電源電圧変
動、周辺温度変動の要素を加味すると、以下のようにな
る。即ち、電源変動係数をｐ、温度変動係数をｑ、標準
電源電圧と電源電庄モニタ結果の差をｖ、常温と温度モ
ニタ結果の差をｔと置くと、ｔｘ＞（Ｔｄ＋Ｔｓ）×（１−ｐ×ｖ）×（１＋ｑ×ｔ）（５）ｎ＞｛Ｔｓ×（１−ｐ×ｖ）×（１＋ｑ×ｔ）＋Ｔｗ＋Ｔａ｝×ｆ（６）となる。

【００８９】一般的に電源電庄が高くなると伝播遅延時
間及びセトリング時間は短くなるため、電源変動係数を
（−ｐ）と負の値にした。また、一般的に周辺温度が高
くなると伝播遅延時間及びセトリング時間は長くなるた
め、温度変動係数を（＋ｑ）と正の値にした。

【００９０】ここでは、伝播遅延時間Ｔｄとセトリング
時間Ｔｓが電源電庄変動と周辺温度変動の影響を受ける
として定式化したが、アクイジション時間とアパーチャ
時間も影饗を受けると考えて、Ｔｗ及びＴａに対して
も、係数をかけても良い。また、伝播遅延時間に対して
もセトリング時間に対しても、電源変動係数と温度変動
係数は共通の値を用いて定式化したが、別々の値にして
も差し支えない。

【００９１】このように構成されたパルスタイミング設
定手段を光学的情報記録装置に組込むことにより、応答
時間計測手段６０１とテストパルス生成手段６０２を組
込まなくても、電源電圧や周辺温度の変動に対応して、
常にサンプルパルスのタイミングを適正に保つことが可
能である。

【００９２】なお、テストパルス生成手段６０２は、記
録パルス生成手段１０５と共用を図ることが可能であ
る。即ち、通常記録モードでは変調データ１ａに従い記
録パルス１ｂを生成し、テストモードでは伝播経路の応
答特性を測定可能なテストパルス信号６ａを生成するよ
うに、記録パルス生成手段１０５を動作させれば良い。
これにより、テストパルス生成手段６０２を装置に組込
むことによるコスト増加はほとんど無くなる。

【００９３】また、伝播経路の応答時間を計測する応答
時間計測手段６０１の具体的構成例を２種類説明した
が、言うまでもなく応答時間計測はこれらの方法や構成
に限定されるものではない。

【００９４】なお、本実施形態においては、記録マーク
を形成するパワー（記録パワー）を検出する方法につい
て述べたが、これに限定されるものではない。例えば、
記録マークを形成しない部分のパワー（スペース部）を
検出する方法として適用できる。

【００９５】また、ＤＶＤ−ＲＡＭ等に応用されている
書換可能な相変化メディアに対しては、記録膜をアモル
ファス（非晶質）化することにより記録マークを形成す
るピークパワーと、クリスタル（結晶質）化することに
よりスペース部を形成するバイアスパワーと、記録マー
クをマルチパルスで形成する際の底パワー（ボトムパワ
ー）というように、記録動作中にレーザパワーレベルを
３種類以上切替える記録方法も提案されている。本実施
形態において説明した方法や構成を用いて、上記３種類
以上のどのパワーレベルの検出にも適用できる。

【００９６】以上、実施の形態１について、複数の図面
を用いて説明したように、記録パルス信号から、半導体
レーザ−出射光検出用フォトディテクタ−Ｉ／Ｖ変換等
の信号処理を経出して、サンプル手段に至るまでの伝播
経路の応答時間に応じて、サンプル手段に対するサンプ
ルパルスのタイミングを可変にすることにより、常に最
適なタイミングでレーザ出射光量を正確に検出できるこ
とを示した。これにより、常に最適なレーザパワー制御
を行うことが可能となり、光学的情報記録装置の記録信
頼性を向上できる。

【００９７】実施の形態１においては、本発明の考え方
をレーザ出射光量の検出とレーザパワー制御へと適用し
たが、次の実施形態では、光学的記録媒体に照射された
レーザビームに対する反射光量の検出に適用を図ってい
る。

【００９８】（実施の形態２）図９は、本発明に係る第
２の実施の形態の光学的情報記録装置の構成を示す。図
９において、図１と同じ符号を付与した各構成要素、す
なわち、光学的記録媒体１０１、半導体レーザ１０２、
レーザ駆動手段１０４、記録パルス生成手段１０５及び
データ変調手段１０６は、図１で説明したものと同様で
あり、その機能説明は省略する。

【００９９】この光学的情報記録装置では、光学系２０
１は、光学的記録媒体１０１の記録面に照射されたレー
ザビームからの反射光量を検出する反射光検出用のフォ
トディテクタ２０２を内蔵している。フォトディテクタ
２０２は反射光の強度に応じた振幅の電流信号２ｄを出
力する。

【０１００】信号処理手段２０３は、反射光検出用のフ
ォトディテクタ２０２の出力電流２ｄをＩ／Ｖ変換等信
号処理した結果のモニタ電庄信号２ｅをサンプル手段２
０４へ出力する。サンプル手段２０４は、モニタ電庄信
号２ｅを、サンプルパルス生成手段２０６よりのサンプ
ルパルス２ｆのタイミングでサンプルホールドする。サ
ンプルホールド結果の出力２ｇはレーザパワー制御手段
２０５へと供給される。

【０１０１】レーザパワー制御手段２０５は、サンプル
手段２０４によるサンプルホールド出力２ｇに応じて、
レーザ駆動手段１０４の記録パワー設定２ｈを行う。例
えば、レーザパワー制御手段２０５は、光学的記録媒体
１０１からの反射光量のモニタ結果に相当するサンプル
ホールド出力２ｇがある振幅レベルとなるように記録パ
ワー設定２ｈを調整する。

【０１０２】記録動作中に、光学的記録媒体からの反射
光量をモニタすることにより、記録マークの形成状態を
把握できる。例えば、ＤＶＤ−Ｒのように有機色素系材
料を用いた記録膜を有する記録媒体に対して、レーザビ
ームの照射による記録膜の熱分解や基板変形で記録マー
クを形成するような場合に適用できる。記録動作中の光
学的記録媒体からの反射光量に応じて、記録パワーの制
御を行う方式は、従来技術でも述べたＲ−ＯＰＣとして
知られている。

【０１０３】サンプルパルス生成手段２０６によるサン
プルパルス２ｆのタイミングは、以下の要素によって決
定される。（１）伝播遅延時間（２）セトリング時間（３）データ記録周波数（４）光学的記録媒体の種類

【０１０４】伝播遅延時間（１）は、この実施形態の場
合、記録時のレーザ出射から光学的記録媒体の反射光の
伝播経路、すなわち、レーザ駆動手段１０４−半導体レ
ーザ１０２−光学的記録媒体１０１−フォトディテクタ
２０２−信号処理手段２０３による遅延時間の合計を示
す。

【０１０５】セトリング時間（２）は、実施の形態１で
説明したのと同様、伝播経路の各要素が生じさせる波形
なまりが収束するまでの時間であり、各要素の周波数特
性に依存する。

【０１０６】データ記録周波数（３）は、記録マークの
時間長さと関係する。実施の形態１で説明したように、
正確なパワー値の検出を行うために、サンプルパルスを
出力する対象となる記録マーク長さは、伝播経路のセト
リング時間とサンプル手段２０４の必要アクイジション
時間と必要アパーチャ時間の和より、少なくとも長くな
ければならない。

【０１０７】光学的記録媒体の種類（４）は、記録膜の
材料の種類と言うことも出来る。反射光量をモニタする
ことにより、記録マークの形成伏態を把握することが目
的であるから、記録マークの形成状態に対して、最も反
射光量の変化が大きく出る位置で反射光量のモニタを行
うことが、最適パワーの制御を行うために必要である。
ところが、この反射光量の変化点が、記録膜の感度によ
り異なる。

【０１０８】図１０は、記録膜の感度と反射光量の変化
及び反射光量の最適モニタ位置の関係を示す。記録パル
スに伴う高レーザパワーの印加（ａ）に対して、記録膜
が高感度であれば、記録マークの形成が早く進行するた
め、（ｂ）に示すように反射光量の変化も早く現れる。
これに対し、記録膜の感度が低い場合には、記録膜の形
成までに時間がかかるために、（ｃ）に示すように反射
光量の変化が遅く現れる。従って、（ｂ）、（ｃ）それ
ぞれに対する反射光量の最適モニタ位置は図に示すよう
に異なることになる。記録パルス第１波に伴う反射光量
変化から最適モニタ位置までの時間を、記録マーク形成
遅延時間と定義する。

【０１０９】以上まとめると、サンプルパルスの開始タ
イミングは、記録パルスの第１波立ち上がりより、伝播
経路の伝播遅延時間とセトリング時間と記録マーク形成
遅延時間に応じて決定される。サンプルパルスの幅は、
サンプル手段２０４の必要アクイジション時間より長い
幅とする。さらに、サンプルパルス出力対象の記録マー
ク長は、伝播経路のセトリング時間とサンプル手段２０
４の必要アクイジション時間と必要アパーチャ時間の和
に記録マーク形成遅延時間を加味して決定する。

【０１１０】伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セトリン
グ時間をＴｓ、記録マーク形成遅延時間をＴｍ、記録周
波数をｆ（＝１／Ｔ）、サンプルパルス幅をＴｗ、サン
プル手段１０９のアパーチャ時間をＴａとすると、サン
プルパルスの開始タイミングｔｙと、サンプルパルスの
出力対象となる最短記録マーク長ｍは、それぞれ次式で
表わせる。ｔｙ＞｛Ｔｄ＋Ｆ（Ｔｓ＋Ｔｍ）｝（３）ｍ＞｛Ｆ（Ｔｓ＋Ｔｍ）＋Ｔｗ＋Ｔａ｝×ｆ（４）ここでＦ（Ｔｓ＋Ｔｍ）はＴｓとＴｍの２乗加算（√
（Ｔｓ^２＋Ｔｍ^２））を示す。セトリング時間Ｔｓと記
録マーク形成遅延時間Ｔｍは、ともに伝播遅延時間Ｔｄ
とは別の加算要素であるが、互いに独立の事象であるた
め、２乗加算による見積もりとした。

【０１１１】サンプルパルスのタイミングは、基本的に
式（３）と式（４）を用いて決定すると良い。サンプル
パルス生成手段２０６によるサンプルパルス２ｆの生成
については、実施の形態１において特に図３等を用いて
示した方法、構成を同様に採用すればよい。

【０１１２】また、伝播経路の応答時間（伝播遅延時間
とセトリング時間）についても、出射光量の検出が反射
光量の検出に変わったのみで、実施の形態１で示した方
法・構成と同様であり、ここでの説明は省略する。但
し、反射光量の検出を行う必要があるので、応答時間を
計測するテストモードにおいても、通常記録時と同様に
光学的記録媒体１０１にレーザビームを照射する必要が
あることは言うまでもない。

【０１１３】以上、実施の形態２について、複数の図面
を用いて説明したように、記録パルス信号から、半導体
レーザ−光学的記録媒体−フォトディテクタ−Ｉ／Ｖ変
換等の信号処理を経出して、サンプル手段に至るまでの
伝播経路の応答時間に応じて、サンプル手段に対するサ
ンプルパルスのタイミングを可変にすることにより、常
に最適なタイミングでレーザ出射光量の検出を正確に行
うことが出来る。

【０１１４】また、光学的記録媒体の種類（記録膜の感
度等）に応じて記録マークの形成までにかかる時間が異
なることから、その遅延時間に応じてサンプルパルスの
タイミングを可変にすることを示した。これにより、常
に最適なレーザパワー制御を行うことが可能となり、光
学的情報記録装置の記録信頼性を向上できる。

【０１１５】なお、本実施形態においては、記録マーク
を形成するパワー（記録パワー）を検出する方法につい
て述べたが、これに限定されるものではない。例えば、
記録マークを形成しない部分のパワー（スペース部）を
検出する方法として適用できる。

【０１１６】また、ＤＶＤ−ＲＡＭ等に応用されている
書換可能な相変化メディアに対しては、記録膜をアモル
ファス（非晶質）化することにより記録マークを形成す
るピークパワーと、クリスタル（結晶質）化することに
よりスペース部を形成するバイアスパワーと、記録マー
クをマルチパルスで形成する際の底パワー（ボトムパワ
ー）というように、記録動作中にレーザパワーレベルを
３種類以上切替える記録方法も提案されている。本実施
形態において説明した方法や構成を用いて、上記３種類
以上のどのパワーレベルの検出にも適用することが可能
である。

【０１１７】本実施形態において、記録動作中における
光学的記録媒体からの反射光量のモニタ結果を記録レー
ザパワー制御に用いたが、これに限定されるものではな
い。

【０１１８】例えば、記録動作中のレーザビームトラッ
キングの安定化のため、トラッキングサーボ系の検出信
号（トラッキングエラー信号）として、反射光量のモニ
タ結果をサンプル手段によりサンプルホールドして使用
しても良い。

【０１１９】図１１は、本発明に係る第３の実施の形態
の光学的情報記録装置の構成を示す。これは、反射光量
検出のサンプルホールド結果を適用した別の実施形態で
ある。図１１において、図１、図９と同じ符号を付与し
た各構成要素、すなわち、半導体レーザ１０２、レーザ
駆動手段１０４、記録パルス生成手段１０５、データ変
調手段１０６は、図１、図９で説明したものと同様であ
り、その機能説明は省略する。図１１の光学的情報記録
装置では、半導体レーザ１０２から出射されたレーザビ
ームは、光ピックアップ３０２に内蔵の対物レンズ３０
３で集光され光ディスク３０１の記録面に照射される。

【０１２０】図示していないが、光ディスク３０１はス
ピンドルモータ等により回転させられ、レーザビームは
記録面に形成された案内溝（トラック）に沿つて照射さ
れるように、トラッキングとフォーカシングが制御され
る。すなわち、情報の記録・再生が可能なように、アク
チュエータ３１０を駆動することにより対物レンズ３０
３の位置決めを行う。

【０１２１】光ディスク３０１からの反射光は、プリズ
ムミラー３０４を通して反射光検出用フォトディテクタ
３０５に入り電流信号に変換される。反射光検出用のフ
ォトディテクタ３０５は、図示していないが、好ましく
は、２分割またはそれ以上の部分に分割し、光ディスク
３０１からの反射光量を分割されたそれぞれの光検出部
で検出し、それぞれ別々に検出電流を出力する。

【０１２２】例えば反射光検出用のフォトディテクタ３
０５として、光ディスク３０１のトラッキング方向に対
して２分割されたフォトディテクタを使用した場合に
は、信号処理手段３０６において２分割された光検出部
の両出力の差を取る事により、公知のプツシュプル方式
によるトラッキングエラー信号を得る。

【０１２３】信号処理手段３０６において、Ｉ／Ｖ変換
処理、分割されたフォトディテクタの信号間の和・差演
算処理等の適切な信号処理を行った後の信号を、サンプ
ル手段３０７においてサンプルパルス生成手段３０９よ
りのサンプルパルスのタイミングでサンプルホールドす
る。

【０１２４】サンプルパルスのタイミングについては、
パルスタイミング設定手段３１１の設定により可変と
し、その可変方法の詳細については実施の形態２におい
て前述の通りとする。すなわち、レーザビーム反射光の
伝播経路の応答時間に応じて、サンプルパルスの開始タ
イミング及びサンプルパルス出力対象のスペース長を可
変にすると良い。なお、データ記録中でもスペース部の
反射光量は、記録媒体の種類によつて変動することは少
ないため、本例の場合、記録媒体の種類に応じてサンプ
ルパルスのタイミングを変化させなくても良い。

【０１２５】以上に述べた構成により、データ記録中の
トラッキングエラー信号のサンプル期間をスペース部分
のみとし、記録パルス印加に伴い高パワーレーザが照射
される記録マーク部分に対してはホールド期間とするこ
とで、記録パルスのもれ込みによるトラッキングエラー
信号の乱れを除去することが可能となる。これによりデ
ータ記録中のトラッキングエラー信号のＳ／Ｎ比が飛躍
的に向上し、トラッキング制御の安定性を高めることが
できる。

【０１２６】また、光学的記録媒体に予め記録されてい
るクロック再生用の検出信号を、記録動作中にも安定し
て得るために、反射光量のモニタ結果を可変タイミング
のサンプルパルスによりサンプルホールドして使用して
も良い。また、光学的記録媒体に予め記録されているプ
リピットアドレス再生用の検出信号を、記録動作中にも
安定して得るために、反射光量のモニタ結果を２値化ス
ライスレベルの異なる２種類の２値化手段で２値化し、
可変タイミングの選択信号により選択して使用しても良
い。

【０１２７】図１２は、本発明に係る光学的情報記録装
置の構成例を示す。ここで、反射光量検出のサンプルホ
ールド結果を適用した別の実施形態が示される。なお、
図１２において、図１、図９及び図１１と同じ符号を付
与した各構成要素、すなわち、半導体レーザ１０２、レ
ーザ駆動手段１０４、記録パルス生成手段１０５、デー
タ変調手段１０６、光ピックアップ３０２、対物レンズ
３０３、プリズムミラー３０４、反射光検出用フォトデ
ィテクタ３０５については、図１、図９、図１１で説明
したものと同様であり、その機能説明は省略する。

【０１２８】光ディスク４００には、図示していない
が、データ記録の基準となる記録クロックとデータの位
置を管理するためのアドレスとを得るための情報が予め
記録されているとする。記録クロックを得るための情報
としては、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−
ＲＡＭ等の光ディスクフォーマットに採用されているウ
ォブルグルーブ等がある。

【０１２９】ウォブルグルーブは、光ディスクに螺旋状
または同心円上の所定の周期で蛇行した案内溝が情報ト
ラックに沿って形成されているものである。光ディスク
の半径方向、即ちビームスポットの追従方向と垂直の方
向に蛇行しているため、公知のプツシュプル方式等によ
るトラッキングエラー信号を用いれば、ウォブルグルー
ブの蛇行周期に相当する信号成分であるウォブル信号を
再生できる。このウォブル信号を用いて逓倍ＰＬＬを構
成すれば、ウォブルグルーブの蛇行周期の逓倍周波数の
クロック信号を再生することが可能であり、これをデー
タ記録の基準クロックとすることが出来る。

【０１３０】また、アドレスを得るための情報として
は、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクフ
ォーマットに採用されているランドプリピット等があ
る。一般に光ディスクでは、螺旋状または同心円上にプ
リカッテングした案内溝の部分をグルーブといい、グル
ーブと隣接のグルーブの溝間をランドと呼ぶ。ランドプ
リピットは、ランドの部分にも所定の間隔で光ディスク
のカッテング時にピットを形成し、アドレス情報を埋め
込んだものである。

【０１３１】ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスク
フォーマットでは、ユーザデータはグルーブに記録され
るので、情報記録装置のビームスポットもグルーブの中
心に追従するようにトラッキング制御される。従って、
ランドプリピットはビームスポットのずれた位置で検出
されるので、前述のウォブル信号と同様に、公知のプツ
シュプル方式等によるトラッキングエラー信号を用いて
再生できる。

【０１３２】図１２の装置では、光ディスク４００上に
予め記録されているクロック再生用の検出信号から記録
クロックを得るため、サンプル手段４０１のサンプルホ
ールド出力を記録クロック生成手段４０２に入力してい
る。また、光ディスク上に予め記録されているアドレス
再生用の検出信号から光ディスク上における物理的位置
を示す番地情報を得るため、相異なる２種類の２値化ス
ライスレベルで２値化した信号を選択した結果をアドレ
ス再生手段４０３に入力している。

【０１３３】より具体的に説明すると、データ記録時に
反射光検出用フォトディテクタ３０５により検出された
検出電流４ａは信号処理手段４０６において、Ｉ／Ｖ変
換、フィルタ等の適切な信号処理を行った後、ランドプ
リピット情報に相当する信号成分を含む再生信号４ｂ
と、ウォブルグルーブの蛇行周期に相当する信号成分を
含む再生信号４ｃとが出力される。

【０１３４】再生信号４ｂは２値化手段４０５ａ及び４
０５ｂの入力される。２値化手段４０５ａはデータ再生
中及びデータ記録中の低レーザパワー部分に対して、再
生信号４ｂの２値化処理を行うものであり、その２値化
スライスレベルは低レーザパワー照射時にランドプリピ
ット情報を２値化抽出できるレベルに設定するものとす
る。また、２値化手段４０５ｂはデータ記録中の高レー
ザパワー部分に対して、再生信号４ｂの２値化処理を行
うものであり、その２値化スライスレベルは高レーザパ
ワー照射時にランドプリピット情報を２値化抽出できる
レベルに設定するものとする。すなわち、２値化手段４
０５ａの２値化スライスレベルよりも、２値化手段４０
５ｂの２値化スライスレベルの方が、高い電庄レベルに
設定される。

【０１３５】上記の様に、２種類の２値化手段４０５ａ
及び４０５ｂにより２値化処理された結果である２値化
信号４ｄ及び４ｅは、選択手段４０４によりいずれか一
方を選択して、ランドプリピット２値化信号４ｈとして
アドレス再生手段４０３へ出力される。選択手段４０４
による２値化信号４ｄ、４ｅの選択は、サンプルパルス
生成手段４０７よりの選択タイミング信号４ｇに応じて
なされる。

【０１３６】一方、再生信号４ｃはサンプル手段４０１
に入力される。サンプル手段４０１は、サンプルパルス
生成手段４０７よりのサンプルパルス４ｆのタイミング
で再生信号４ｃをサンプルホールドし、サンプルホール
ド結果の信号を記録クロック生成手段４ｉへ出力する。

【０１３７】サンプルパルス生成手段４０７は、サンプ
ルパルス４ｆと選択タイミング信号４ｇのタイミング
を、パルスタイミング設定手段４０８の設定に応じて可
変にする。その可変方法の詳細については実施の形態２
において前述の通りとする。すなわち、レーザビーム反
射光の伝播経路の応答時間に応じて、サンプルパルス４
ｆの開始タイミング、選択タイミング信号４ｇの切替タ
イミング、及びサンプルパルス４ｆの出力対象スペース
長等を可変にすると良い。なお、データ記録中でもスペ
ース部の反射光量は、記録媒体の種類に依つて変動する
ことは少ないため、本実施形態の場合、記録媒体の種類
に応じてこれらのタイミングを変化させなくても良い。

【０１３８】以上に述べた構成により、データ記録中の
ウォブル信号のサンプル期間をスペース部分のみとし、
記録パルス印加に伴い高パワーレーザが照射される記録
マーク部分に対してはホールド期間とすることで、記録
パルスのもれ込みによるウォブル信号の乱れを除去でき
る。これによりデータ記録中のウォブル信号のＳ／Ｎ比
が向上し、記録クロックのジッタを低減することができ
るため、記録性能・信頼性の向上につながる。

【０１３９】また、データ記録中に、ランドプリピット
の２値化手段を２種類用意しておき、記録マーク部用と
スペース部用に２値化スライスレベルを別々に設定し、
マーク／スペースの切替えに応じて、２本の２値化信号
を切替えることにより、常に最適なスライスレベルでラ
ンドプリピットを２値化することが可能となる。これに
より、データ記録申のランドプリピットアドレスの読み
取りエラーレートを改善することができるため、データ
記録の信頼性の向上につながる。

【０１４０】なお、サーボエラー検出の回路は、具体的
には、たとえば特開平７−３２０２８２８号公報に記載
されているような回路を用いればよい。また、プリピッ
ト情報検出の回路は、具体的には、たとえば特開平１０
−２８３６３８号公報に記載されているような回路を用
いればよい。また、ウォブル信号検出の回路は、具体的
には、たとえば特開２０００−１１３４５４号公報に記
載されているような回路を用いればよい。したがって、
上述の説明においては、これらの回路の説明を省略し
た。

【０１４１】

【発明の効果】本発明の光学的情報記録装置及びレーザ
光強度検出方法によれば、レーザ光源の出射光検出また
は記録媒体からの反射光検出のサンプルタイミングを系
の伝播遅延時間及びセトリング時間に応じて可変にした
ことにより、回路のプロセスばらつき、電源電圧、環境
温度等のさまざまな変動要素があっても、常に検出信号
のサンプルタイミングを最適に保つことが可能となる。

【０１４２】従って、光ディスク等記録媒体へのデータ
記録中に、いかなる場合にもレーザーパワーを最適に保
ち、また、サーボ信号、アドレス信号及びクロック信号
を安定に再生することが可能となり、装置の信頼性を飛
躍的に向上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置の構成を示すブロック図

【図２】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置の内部動作を説明するためのタイミング図

【図３】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、サンプルパルス生成手段１１０の内
部構成の一例を示すブロック図

【図４】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、伝播経路の応答時間を計測するため
の装置構成例を示すブロック図

【図５】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、応答時間計測手段による伝播経路の
応答時間測定動作を説明するための図

【図６】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、応答時間計測手段の内部構成の一例
を示すブロック図

【図７】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、応答時間計測手段の内部構成の別の
例を示すブロック図

【図８】本発明の第１の実施の形態に係る光学的情報
記録装置において、パルスタイミング設定手段及びその
周辺の構成例を示すブロック図

【図９】本発明の第２の実施の形態に係る光学的情報
記録装置の構成を示すブロック図

【図１０】本発明の第２の実施の形態に係る光学的情
報記録装置において、記録媒体の記録膜の感度と反射光
量の変化、及び反射光量の最適モニタ位置の関係を示す
図

【図１１】本発明の第３の実施形態に係る光学的情報
記録装置の構成を示すブロック図

【図１２】本発明の第４の実施形態に係る光学的情報
記録装置の構成を示すブロック図

【符号の説明】

１０１光学的記録媒体１０２半導体レーザ１０３光学系１０４レーザ駆動手段１０５記録パルス生成手段１０６データ変調手段１０７出射光検出フォトディテクタ、３０２光ピックアップ３０３対物レンズ３Ｏ４プリズムミラー４０２記録クロック生成手段４０３アドレス再生手段６０１応答時間計測手段６０２テストパルス生成手段７０１コンパレータ７０２カウンタ８０１Ａ／Ｄ変換手段８０２記憶手段８０３検出手段

フロントページの続き (72)発明者小石健二大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内 (72)発明者上岡優一大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB05 CC01 CC16 CC18 DD03 FF36 KK03 5D119 AA23 AA41 BA01 BB02 BB04 DA01 EC09 HA06 HA07 HA17 HA19 HA30 HA31 HA44

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録すべき情報に応じて光強度を変調し
たレーザビームを記録媒体に照射することにより情報の
記録を行う光学的情報記録装置であって、記録媒体へレーザビームを照射するレーザ光源と、記録
すべき情報に応じて前記レーザ光源の光強度を変調する
ための記録パルス信号を生成する記録パルス生成手段
と、前記記録パルス信号に応じて前記レーザ光源を駆動
するレーザ駆動手段と、前記レーザ光源の出射光を検出
する出射光検出手段と、前記出射光検出手段の検出出力
をサンプリングするサンプル手段と、前記サンプル手段
へサンプリングを指示するサンプルタイミングを生成す
るサンプルタイミング生成手段とを備え、前記サンプルタイミング生成手段は、前記レーザ駆動手
段、前記レーザ光源及び前記出射光検出手段を含む伝播
経路の応答時間分を少なくとも遅らせたサンプルタイミ
ングを生成することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項２】さらに、前記サンプルタイミング生成手
段は、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源および前記
出射光検出手段からなる伝播経路を通る信号のセトリン
グ時間と前記サンプル手段の必要アクイジション時間と
必要アパーチャ時間の和より長い記録長の記録マークに
対してサンプルタイミングを発生することを特徴とする
請求項１に記載された光学的情報記録装置。
【請求項３】さらに、前記サンプル手段の出力に応じ
てレーザ光源のパワーを制御するレーザパワー制御手段
とを備えることを特徴とする請求項１または請求項２に
記載された光学的情報記録装置。
【請求項４】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レー
ザ光源、前記出射光検出手段および前記サンプル手段の
中の少なくとも１つの電源電庄をモニタする電源電圧モ
ニタ手段を備え、前記サンプルタイミング生成手段は前
記電源電圧モニタ手段によりモニタされた電源電圧の値
に応じてサンプルタイミングを可変とすることを特徴と
する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載された
光学的情報記録装置。
【請求項５】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レー
ザ光源、前記出射光検出手段及び前記サンプル手段の中
の少なくとも１つの温度をモニタする温度モニタ手段を
設け、前記サンプルタイミング生成手段は前記温度モニ
タ手段によりモニタされた温度に応じてサンプルタイミ
ングを可変とすることを特徴とする請求項１から請求項
３のいずれか１項に記載された光学的情報記録装置。
【請求項６】さらに、テスト用パルス信号をレーザ駆
動手段へ出力するテストパルス生成手段と、前記テスト
パルス信号が印加された際に、サンプル手段によりサン
プリングされる信号に相当する検出信号までの応答時間
を計測する応答時間計測手段とを備え、前記サンプルタ
イミング生成手段は前記応答時間計測手段により計測さ
れた前記応答時間に応じてサンプリングタイミングを決
定することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれ
か１項に記載の光学的情報記録装置。
【請求項７】記録すべき情報に応じて光強度を変調し
たレーザビームを記録媒体に照射することにより情報の
記録を行う光学的情報記録装置であって、記録媒体へレーザビームを照射するレーザ光源と、記録
すべき情報に応じて前記レーザ光源の光強度を変調する
ための記録パルス信号を生成する記録パルス生成手段
と、前記記録パルス信号に応じて前記レーザ光源を駆動
するレーザ駆動手段と、記録媒体へ照射されたレーザビ
ームに対する反射光を検出する反射光検出手段と、前記
反射光検出手段の検出出力をサンプリングするサンプル
手段と、前記サンプル手段へサンプリングを指示するサ
ンプルタイミングを生成するサンプルタイミング生成手
段とを備え、前記サンプルタイミング生成手段は、前記レーザ駆動手
段、前記レーザ光源及び前記反射光検出手段を含む伝播
経路の応答時間分少なくとも遅らせたサンプルタイミン
グを生成することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項８】さらに、前記サンプルタイミング生成手
段は、前記レーザ駆動手段、前記レーザ光源および前記
出射光検出手段からなる伝播経路を通る信号のセトリン
グ時間と前記サンプル手段の必要アクイジション時間と
必要アパーチャ時間の和より長い記録長の記録マークに
対してサンプルタイミングを発生することを特徴とする
請求項７に記載された光学的情報記録装置。
【請求項９】さらに、前記サンプルタイミング生成手
段は、記録媒体の種類に応じてサンプルタイミングを可
変することを特徴とする請求項７または請求項８に記載
された光学的情報記録装置。
【請求項１０】さらに、前記サンプル手段の出力に応
じてレーザ光源のパワーを制御するレーザパワー制御手
段を備えることを特徴とする請求項７から請求項９のい
ずれか１項に記載された光学的情報記録装置。
【請求項１１】さらに、前記サンプル手段の出力を用
いてサーボエラー信号を再生するサーボエラー信号再生
手段と、前記サーボエラー信号を用いて前記記録媒体の
所定のトラックに前記レーザビームを集光させるサーボ
手段とを備えることを特徴とする請求項７から請求項９
のいずれか１項に記載された光学的情報記録装置。
【請求項１２】さらに、前記サンプル手段の出力を用
いて記録クロック信号の再生を行う記録クロック再生手
段を備えることを特徴とする請求項７に記載された光学
的情報記録装置。
【請求項１３】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レ
ーザ光源、前記反射光検出手段及び前記サンプル手段の
中の少なくとも１つの電源電庄をモニタする電源電庄モ
ニタ手段を備え、前記サンプルタイミング生成手段は前
記電源電圧モニタ手段によりモニタされた電源電庄の値
に応じてサンプルタイミングを可変とすることを特徴と
する請求項７から請求項１２のいずれか１項に記載の光
学的情報記録装置。
【請求項１４】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レ
ーザ光源、前記反射光検出手段及び前記サンプル手段の
中の少なくとも１つの温度をモニタする温度モニタ手段
を設け、前記サンプルタイミング生成手段は前記温度モ
ニタ手段によりモニタされた温度に応じてサンプルタイ
ミングを可変とすることを特徴とする請求項７から請求
項１２のいずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
【請求項１５】さらに、テスト用パルス信号をレーザ
駆動手段へ出力するテストパルス生成手段と、前記テス
トパルス信号が印加された際に、サンプル手段によりサ
ンプリングされる信号に相当する検出信号までの応答時
間を計測する応答時間計測手段とを備え、前記サンプル
タイミング生成手段は前記応答時間計測手段により計測
された前記応答時間に応じてサンプリングタイミングを
決定することを特徴とする請求項７から請求項１２のい
ずれか１項に記載の光学的情報記録装置。
【請求項１６】データの位置を管理するための番地情
報が予めピットとして形成されている記録媒体に対し情
報の記録を行う光学的情報記録装置であって、データを
記録するためのレーザビームを前記光ディスクのトラッ
クに照射するレーザ光源と、データ記録中に前記レーザ
光源の光強度を変調するための記録パルス信号を生成す
る記録パルス生成手段と、前記記録パルス信号に応じて
前記レーザ光源を駆動するレーザ駆動手段と、光ディス
クへ照射されたレーザビームに対する反射光を検出する
反射光検出手段と、前記反射光検出手段の検出出力を第
１のスライスレベルで二値化する第１の二値化手段と、
前記反射光検出手段の検出出力を第２のスライスレベル
で二値化する第２の二値化手段と、前記第１の二値化手
段による第１の二値化出力と前記第２の二値化手段によ
る第２の二値化出力を選択する選択手段と、前記選択手
段に対し第１または第２の二値化出力の選択を指示する
選択信号を生成する選択信号生成手段と、前記選択手段
の出力を用いて前記番地情報を再生する番地情報再生手
段とを備え、前記選択信号生成手段は、前記レーザ駆動手段、前記レ
ーザ光源、前記反射光検出手段、前記第１の二値化手段
及び前記第２の二値化手段を含む伝播経路の応答時間に
応じて前記選択信号のタイミングを設定することを特徴
とする光学的情報記録装置。
【請求項１７】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レ
ーザ光源、前記反射光検出手段、前記第１の二値化手
段、前記第２の二値化手段及び前記選択手段の中の少な
くとも１つの電源電庄をモニタする電源電庄モニタ手段
を設け、前記選択信号生成手段は前記電源電圧モニタ手
段によりモニタされた電源電庄の値に応じて選択信号の
タイミングを可変とすることを特徴とする請求項１６に
記載された光学的情報記録装置。
【請求項１８】さらに、前記レーザ駆動手段、前記レ
ーザ光源、前記反射光検出手段、前記第１の二値化手
段、前記第２の二値化手段及び前記選択手段の中の少な
くとも１つの温度をモニタする温度モニタ手段を設け、
前記選択信号生成手段は前記温度モニタ手段によりモニ
タされた温度に応じて選択信号のタイミングを可変とす
ることを特徴とする請求項１６に記載の光学的情報記録
装置。
【請求項１９】記録すべき情報に応じて光強度を変調
したレーザビームをレーザ光源が記録媒体に照射するこ
とにより情報の記録を行う光学的情報記録装置におい
て、レーザ光源に記録パルスを印加してから、前記記録
パルスに基づいてレーザ光源よりパルス光を出射し、出
射した前記パルス光の光量を検出し、検出した光量を所
定のサンプルパルスでサンプルホールドすることによ
り、レーザビームの光強度を検出するレーザ光強度検出
方法であって、前記サンプルパルスのタイミングを、記録パルスの印加
からサンプルホールド処理の直前までの伝播経路の応答
時間分少なくとも遅らせ、かつ、サンプリングに必要な
アクイジション時間と必要アパーチャ時間の和より長い
記録長の記録マークに対してサンプルタイミングを発生
することを特徴とするレーザ光強度検出方法。
【請求項２０】伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セト
リング時間をＴｓとしたとき、記録パルスの印加からサ
ンプル開始までの時間ｔｘは、ｔｘ＞Ｔｄ＋Ｔｓの関係式を満足することを特徴とする請求項１９に記載
のレーザ光強度検出方法。
【請求項２１】伝播経路のセトリング時間をＴｓ、記
録周波数をｆ、サンプルパルスの幅をＴｗ、サンプルホ
ールドのアパーチャ時間をＴａとし、サンプルパルスの
出力対象となる最短記録マーク長または最短記録スペー
ス長をｎとしたとき、最短記録マーク長または最短記録
スペース長ｎは、ｎ＞（Ｔｓ＋Ｔｗ＋Ｔａ）×ｆの関係式を満足することを特徴とする請求項１９に記載
のレーザ光強度検出方法。
【請求項２２】記録すべき情報に応じて光強度を変調
したレーザビームをレーザ光源が記録媒体に照射するこ
とにより情報の記録を行う光学的情報記録装置におい
て、レーザ光源に記録パルスを印加してから、前記記録
パルスに基づいてレーザ光源よりパルス光を記録媒体に
照射し、照射した前記パルス光の反射光量を検出し、検
出した光量を所定のサンプルパルスでサンプルホールド
することにより、レーザビームの光強度を検出するレー
ザ光強度検出方法であって、前記サンプルパルスのタイミングを、記録パルスの印加
からサンプルホールド処理の直前までの伝播経路の応答
時間分少なくとも遅らせ、かつ、サンプリングに必要な
アクイジション時間と必要アパーチャ時間の和より長い
記録長の記録マークに対してサンプルタイミングを発生
することを特徴とするレーザ光強度検出方法。
【請求項２３】伝播経路の伝播遅延時間をＴｄ、セト
リング時間をＴｓ、記録マークの形成にかかる遅延時間
をＴｍとしたとき、記録パルスの印加からサンプル開始
までの時間ｔｙは、ｔｙ＞｛Ｔｄ＋√（Ｔｓ^２＋Ｔｍ^２）｝の関係式を満足することを特徴とする請求項２２に記載
のレーザ光強度検出方法。
【請求項２４】伝播経路のセトリング時間をＴｓ、記
録マークの形成にかかる遅延時間をＴｍ、記録周波数を
ｆ、サンプルパルスの幅をＴｗ、サンプルホールドのア
パーチャ時間をＴａとし、サンプルパルスの出力対象と
なる最短記録マーク長または最短記録スペース長をｍと
したとき、最短記録スペース長ｍは、ｍ＞｛√（Ｔｓ^２＋Ｔｍ^２）＋Ｔｗ＋Ｔａ｝×ｆの関係式を満足することを特徴とする請求項２２に記載
のレーザ光強度検出方法。
【請求項２５】さらに、記録媒体の種類によって前記
サンプルパルスのタイミングを変化することを特徴とす
る請求項２２に記載されたレーザ光強度検出方法。