JP2000331364A - 光ディスク装置及び光ディスクの制御方法 - Google Patents

光ディスク装置及び光ディスクの制御方法

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JP2000331364A
JP2000331364A JP11135094A JP13509499A JP2000331364A JP 2000331364 A JP2000331364 A JP 2000331364A JP 11135094 A JP11135094 A JP 11135094A JP 13509499 A JP13509499 A JP 13509499A JP 2000331364 A JP2000331364 A JP 2000331364A
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skew
optical disk
laser beam
signal
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JP11135094A
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Shinichiro Iimura
紳一郎 飯村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光ディスク装置及び光ディスク装
置の制御方法に関し、例えば、CD−R等の光ディスク
装置に適用して、スキューサーボ回路の調整作業を簡略
化でき、かつ温度変化、経時変化等にも対応することが
できるようにする。 【解決手段】 記録時における再生信号RFの信号レベ
ルを基準にしてスキュー制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置及
び光ディスク装置の制御方法に関し、例えば、CD−R
等の光ディスク装置に適用することができる。本発明
は、記録時に検出される再生信号の信号レベルを基準に
してスキュー制御することにより、スキューサーボ回路
の調整作業を簡略化でき、かつ温度変化、経時変化等に
も対応することができるようにする。
【0002】
【従来の技術】従来、高い開口数の光学系により光ディ
スクをアクセスする光ディスク装置においては、スキュ
ーセンサを用いて光ディスクのスキューを補正するよう
になされている。すなわち図15は、この種の光ディス
ク装置を示すブロック図である。この光ディスク装置1
は、コンピュータ等の外部機器の制御により、この外部
機器より入力されるデータをCD−Rである光ディスク
2に記録し、またこの光ディスク2に記録したデータを
再生して出力する。
【0003】すなわち光ディスク装置1において、スピ
ンドルモータ3は、光ディスク2を所定の回転速度によ
り回転駆動し、光ピックアップ4は、ドライバ5の駆動
により内蔵のレーザーダイオードよりレーザービームを
出射し、対物レンズ4Aを介してこのレーザービームを
光ディスク2に照射する。また光ピックアップ4は、こ
のレーザービームの光量検出結果、レーザービームの戻
り光の受光結果を電流電圧変換して出力する。
【0004】ヘッドアンプ6は、この光ピックアップ4
より出力される戻り光の受光結果を所定利得で増幅して
出力し、マトリックス回路7は、このヘッドアンプ6の
出力信号をマトリックス演算処理することにより、トラ
ッキングエラー量に応じて信号レベルが変化するトラッ
キングエラー信号TE、フォーカスエラー量に応じて信
号レベルが変化するフォーカスエラー信号FE、光ディ
スク2に形成されたレーザービームのガイド溝であるグ
ルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォウブル
信号WB、光ディスク2に形成されたピット列に応じて
信号レベルが変化する再生信号RFを出力する。光ディ
スク装置1では、これらの信号のうち、再生信号RFを
図示しない信号処理回路により処理して、光ディスク2
に記録されたデータを再生する。
【0005】サーボ回路8は、トラッキングエラー信号
TE、フォーカスエラー信号FEの信号レベルが所定の
信号レベルになるように、光ピックアップ4の対物レン
ズ4Aを可動し、これによりトラッキング制御及びフォ
ーカス制御する。
【0006】スライドサーボ回路9は、スライドモータ
10を駆動することにより、光ピックアップ4を光ディ
スク2の半径方向に可動して光ピックアップ4をシーク
させる。ウォウブル信号処理回路11は、ウォウブル信
号WBの信号レベルを補正し、さらにはウォウブル信号
WBからキャリア信号を抽出して出力し、スピンドルサ
ーボ回路12は、このキャリア信号の周波数が所定周波
数になるように、スピンドルモータ3を回転駆動する。
【0007】アドレスデコーダ13は、ウォウブル信号
WBを信号処理してアドレスデータを取得し、このアド
レスデータを中央処理ユニット(CPU)14に出力す
る。
【0008】インターフェース回路(I/F)15は、
外部機器との間で制御コマンド、ステータスデータ、記
録再生に供するデータを入出力する。中央処理ユニット
14は、このインターフェース回路15を介して入力さ
れる制御コマンドにより全体の動作を制御し、さらには
アドレスデコーダ13より入力されるアドレスデータに
従ってスライドサーボ回路9等の動作を制御し、これに
より外部機器からの要求に応じて光ディスク2をアクセ
スする。
【0009】変調回路16は、インターフェース回路1
5を介して外部機器より記録に供するデータの入力を受
け、このデータを光ディスク2の記録に適したフォーマ
ットにより変調して出力する。モニタアンプ17は、光
ピックアップ4より出力されるレーザービームの光量検
出結果を増幅して出力する。自動光量制御回路(AP
C)18は、モニタアンプ17の出力信号が所定の信号
レベルになるように光量制御信号を出力し、ドライバ5
は、光量制御信号に基づいて、光ピックアップ4より出
力されるレーザービームの光量を所定の光量に設定す
る。これにより光ディスク装置1においては、再生時、
所定光量により安定にレーザービームを照射するように
なされている。
【0010】さらにドライバ5は、記録時、中央処理ユ
ニット14より出力される光量制御信号を基準にして、
変調回路16の出力データに応じて光ピックアップ4よ
り出力されるレーザービームの光量を再生時の光量より
間欠的に立ち上げ、これにより光ディスク2に所望のデ
ータを記録する。
【0011】このような構成に係る光ディスク装置1に
おいて、スキューサーボ回路20は、光ピックアップ4
に搭載されたスキューセンサ21のスキュー検出信号S
1を基準にしてスキューモータ22を駆動し、これによ
り光ディスク2のスキューを低減する。
【0012】すなわち図16は、このスキューサーボ回
路20と、関連する周辺構成とを示すブロック図であ
る。この光ディスク装置1において、光ピックアップ4
は、保持部材であるピックアップベース4Bに配置され
る。このピックアップベース4Bは、スライドモータ1
0により回転する送りスクリューの歯に噛み合って、光
ディスク2の半径方向に移動可能に配置される。これに
より光ピックアップ4は、スライドモータ10の駆動に
よりシークするようになされている。
【0013】ピックアップベース4Bは、スピンドルモ
ータ3側の端部を支点Pにして、矢印Aにより示すよう
に回動できるように保持され、この支点Pとは逆側がス
キューモータ22により上下方向に変位するラック24
に載置されるようになされている。これにより光ピック
アップ4は、スキューモータ22の駆動により光ディス
ク2に対する傾きを制御して、いわゆるラジアルスキー
制御できるようになされている。
【0014】スキューセンサ21は、発光素子と受光素
子とを一体化した光学素子であり、発光素子より所定の
検出光を出射し、光ディスク2で反射された検出光を受
光素子で受光する。スキューセンサ21は、この受光素
子における検出光の受光位置に応じて受光結果の信号レ
ベルが変化するように構成される。これによりスキュー
センサ21は、光ディスク2に対する光ピックアップ4
の傾きに応じて信号レベルが変化するスキュー検出信号
S1を出力する。
【0015】スキューサーボ回路20は、ヘッドアンプ
20Aによりこのスキュー検出信号S1を所定利得で増
幅した後、減算回路20Bにおいて、オフセット電圧発
生回路20Cより出力されるオフセット電圧によりこの
スキュー検出信号S1の信号レベルを補正する。さらに
スキューサーボ回路20は、続くエラーアンプ20Dに
よりこの減算回路20Bの出力信号を帯域制限してエラ
ー信号を生成し、このエラー信号に応じてドライバ20
Eによりスキューモータ22を駆動する。
【0016】これによりスキューサーボ回路20は、ス
キュー検出信号S1の信号レベルがオフセット電圧であ
る制御目標電圧になるように、スキューモータ22を駆
動してスキューを低減するようになされ、このときオフ
セット電圧の調整により組み立て時のばらつき等を補正
できるようになされている。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来の光ディ
スク装置1においては、スキューサーボ回路20のオフ
セット電圧調整に時間を要する問題がある。
【0018】すなわち光ディスク装置1においては、各
種構成部品のばらつき、組み立て時のばらつき等を避け
得ず、これらのばらつきをオフセット電圧発生回路20
Cのオフセット電圧調整により吸収することになる。
【0019】しかしながらスキューサーボにおける制御
目標値にあっては、再生時の最適値と記録時の最適値と
が異なる特徴がある。これにより光ディスクの調整工程
では、オフセット電圧を種々に変化させて光ディスク2
にテスト用のデータを記録した後、これを再生して最適
なオフセット電圧を選択するようになされており、この
ような記録再生の動作を切り換えてオフセット電圧を調
整することにより、結局、調整作業に時間を要する問題
があった。
【0020】またこの場合、光ディスク2の書き込み可
能な領域が調整作業で消費されることになり、何台か光
ディスク装置1を調整する毎に、新しく調整用の光ディ
スクが必要になる。
【0021】また一旦最適目標値にオフセット電圧調整
した後であっても、温度変化、経時変化により最適目標
値に必要とされるオフセット電圧が変化する場合もあ
り、この場合には対応することが困難な問題もある。
【0022】因みに、安定度の高い部品の使用により、
このような温度変化、経時変化に対応することも考えら
れるが、この場合、汎用性の高い部品、材料を使用でき
なくなる。
【0023】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、スキューサーボ回路の調整作業を簡略化でき、かつ
温度変化、経時変化等にも対応することができる光ディ
スク装置、光ディスク装置の制御方法を提案しようとす
るものである。
【0024】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め請求項1に係る発明においては、光ディスク装置に適
用して、データの記録時に得られる再生信号の信号レベ
ルを基準にして制御目標を設定し、この制御目標を基準
にして、光ディスクに対するレーザービーム照射手段の
傾きを制御するスキュー制御手段を備えるようにする。
【0025】また請求項7に係る発明においては、光デ
ィスク装置の制御方法に適応して、データの記録時に得
られる再生信号の信号レベルを基準にして、光ディスク
に対するレーザービーム照射手段の傾きを制御する。
【0026】請求項1又は請求項11に係る構成におい
て、記録時に得られる再生信号の信号レベルは、光量を
立ち上げた後、所定時間経過した時点以降では、ピット
等の形成状況に応じて変化し、これにより記録時の条件
を示すことになる。これによりこの再生信号レベルを基
準にして制御目標を設定すれば、記録、再生を繰り返さ
なくても、スキュー調節することができる。また記録時
に制御目標を自動的に設定できることにより、経時変化
等にも対応することができる。
【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。
【0027】(1)第1の実施の形態 (1−1)第1の実施の形態の構成 図1は、図16との対比により本発明の第1の実施の形
態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。この
光ディスク装置31において、スキューサーボ回路32
は、マトリックス回路7より得られる再生信号RFを処
理して処理結果を中央処理ユニット33に出力すること
により、中央処理ユニット33により制御目標であるオ
フセット電圧を決定すると共に、この決定によりオフセ
ット電圧を設定するようになされている。なおこの図1
において、図15及び図16について上述した光ディス
ク装置1と同一の構成は対応する符号を付して示し、重
複した説明は省略する。またヘッドアンプ6、マトリッ
クス回路7の記載は省略して説明する。
【0028】すなわちスキューサーボ回路32におい
て、サンプルホールド回路(S/H)32Aは、光ディ
スク2の最内周に形成された試し書き領域への試し書き
時、タイミングパルスTPを基準にした所定のタイミン
グにより再生信号RFをサンプルホールドして出力す
る。なおこのタイミングパルスTPは、この光ディスク
装置1の動作基準であるシステムクロックを生成するタ
イミングジェネレータより出力される。
【0029】ここで図2に示すよう、レーザービームの
光量を再生時の光量LRより書き込み時の光量LWに立
ち上げると、光ディスク2においては、情報記録面の温
度が徐々に上昇し、この温度が所定温度以上に上昇する
と、ピットPの形成が開始される(図2(A)及び
(B))。この場合、再生信号RFにおいては、ピット
の形成が開始されるまでの間、ピット形成前の情報記録
面が有してなる反射率による戻り光が受光されて生成さ
れることにより、再生時のレーザービーム光量に対する
書き込み時のレーザービーム光量の割合で、再生時に比
して大きな信号レベルVPに立ち上がることになる。
【0030】これに対してピットの形成が開始される
と、順次形成されつつあるピットにより戻り光の光量が
変化することにより、再生信号RFにおいては、信号レ
ベルが急激に低下する。この場合光ディスク装置1にお
いては、レーザービームが光ディスク2の情報記録面を
走査していることにより、ピットPにおいては、一定の
幅にまで広がると、この幅によりレーザービームの走査
方向に広がるように形成され、これにより再生信号RF
の信号レベルにおいても、一定の信号レベルVLまで低
下すると、信号レベルの低下が停止することになる。
【0031】このようにして観察される再生信号RFに
おいて、このレーザービームの光量を立ち上げた直後の
再生信号RFにおけるピークレベルVPと、信号レベル
の低下が停止した信号レベルVLとの間の信号レベル差
は、情報記録面に熱的な変化を与えない程度の光量の小
さなレーザービームの照射における再生信号RFの振幅
に比例することになる。すなわち再生時における再生信
号RFの変調度に比例することになる。
【0032】また書き込み時の光量LWが一定である場
合、信号レベルの低下が停止した信号レベルVLが低い
程、再生時における再生信号RFの変調度が大きくなる
ことになる。すなわちこの信号レベルVLが低い程、ス
キュー制御等の各種条件が適していると判断することが
できる。
【0033】ところがこのようにして信号レベルの低下
が停止した信号レベルVLにあっては、スキュー角を種
々に変化させて測定したところ、スキュー角の変化に対
して感度が低いことが判った。すなわちこの信号レベル
の低下が停止した信号レベルVLにあっては、十分な精
度により最適な条件を検出できない恐れがある。
【0034】これに対して再生信号RFにおいて、急激
な立ち下がりからこの信号レベルVLに遷移する時点t
1の信号レベルV1においては、スキュー角の変化に対
して適当な感度を有し、この信号レベルV1が低い程、
スキュー制御等の各種条件が適していると判断できるこ
とが判った。因みに、この時点t1よりピークレベルV
P側にあっては、この実施の形態においては感度が高す
ぎ、測定精度を確保できなかった。
【0035】これによりこの実施の形態において、サン
プルホールド回路32Aは、レーザービームの光量を立
ち上げた後、一定の時間Tだけ経過した時点t1であ
る、再生信号RFにおける信号レベルの急激な変化が緩
やかな変化となる時点t1で再生信号RFをサンプルホ
ールドする。
【0036】因みに、このような書き込み時における再
生信号RFの挙動は、図3に示すように、短い周期によ
り間欠的にレーザービームの光量を立ち上げて1つのピ
ットPを形成するいわゆるマルチパルスによる記録(図
3(A)〜(C))においても観察され、この場合も、
再生信号RFにおける信号レベルの急激な変化が緩やか
な変化となる時点t1の再生信号レベルV1が低い程、
スキュー制御等の各種条件が適していると判断すること
ができる。
【0037】かくするにつき図4に示すように、この信
号レベルの急激な変化が緩やかな変化となる時点t1の
再生信号レベルV1においては、スキュー角により変化
し(図4(B))、最も再生信号レベルV1が低下する
スキュー角θ2が最も記録に適したスキュー角として制
御目標とすることができ、このスキュー角θ2は、再生
時にジッター量Jが最も小さくなる再生時の最適スキュ
ー角θ1と相違する(図4(A)〜(C))。
【0038】またこの再生信号レベルV1は、光ディス
ク2の回転により変化するものの、光ディスク2を回転
させた状態でスキュー角を徐々に変化させて測定した結
果によれば、光ディスク2の円周方向で検出されるピー
ク値V1P、ボトム値V1B、平均値V1AVの何れの
場合でも、最も再生信号レベルV1が低下するスキュー
角θ2が最も記録に適したスキュー角であった(図4
(D))。
【0039】これらによりスキューサーボ回路32にお
いて、アナログディジタル変換回路(A/D)32Bは
(図1)、このサンプルホールド回路32Aのサンプル
ホールド結果をアナログディジタル変換処理して出力
し、平均値化回路32Cは、このアナログディジタル変
換回路32Bの出力データを平均値化して、図4(D)
において平均値V1AVによる特性の信号レベル検出結
果を中央処理ユニット(CPU)33に出力する。
【0040】ディジタルアナログ変換回路32Dは、中
央処理ユニット33より出力されるオフセット電圧設定
の制御データをラッチし、この制御データをアナログデ
ィジタル変換処理して減算回路20Bに出力する。これ
により光ディスク装置31は、このディジタルアナログ
変換回路32Dに中央処理ユニット33より制御データ
を設定して制御目標値を設定できるようになされてい
る。
【0041】中央処理ユニット33は、図15について
上述した中央処理ユニット14に代えて配置され、中央
処理ユニット14の処理手順に加えて、スキューサーボ
回路32より出力される信号検出結果を基準にしてスキ
ューサーボ回路32にオフセット電圧を設定する。
【0042】図5は、この中央処理ユニット33におけ
るオフセット電圧の設定処理手順を示すフローチャート
である。中央処理ユニット33は、ステップSP1から
ステップSP2に移り、ここで書き込みの制御コマンド
が入力されたか否か判断する。ここで否定結果が得られ
ると、中央処理ユニット33は、ステップSP2からス
テップSP3に移り、他のコマンドが入力されたか否か
判断する。ここで否定結果が得られると、中央処理ユニ
ット33は、ステップSP2に戻るのに対し、肯定結果
が得られると、ステップSP3からステップSP4に移
り、制御コマンドに対応する処理を実行した後、ステッ
プSP2に戻る。
【0043】これに対して書き込みの制御コマンドが入
力された場合、中央処理ユニット33は、ステップSP
2からステップSP5に移り、スライドサーボ回路の動
作を制御して光ピックアップ4を光ディスク2の試し書
き領域にシークさせる。続いて中央処理ユニット33
は、ステップSP6に移り、書き込み光量の設定処理を
実行し、これにより書き込み時の最適光量を検出し、こ
の書き込み光量による光量制御信号をドライバ5に出力
する。
【0044】続いて中央処理ユニット33は、ステップ
SP7に移り、オフセット電圧を初期設定電圧にセット
する。中央処理ユニット33は、続いてステップSP8
に移り、このオフセット電圧、ステップSP6で検出し
た書き込み光量により所定のテスト用データを光ディス
ク2に繰り返し記録し、この記録時におけるスキューサ
ーボ回路32の信号レベル検出結果を取り込む。
【0045】続いて中央処理ユニット33は、ステップ
SP9に移り、ここで事前に設定されたオフセット電圧
の範囲における再生信号レベルの検出を終了したか否か
判断し、否定結果が得られると、ステップSP10に移
り、オフセット電圧を切り換えてステップSP8に戻
る。
【0046】これにより中央処理ユニット33は、ステ
ップSP8−SP9−SP10−SP8の処理手順を繰
り返し、オフセット電圧の切り換えにより順次スキュー
角を変化させてスキューサーボ回路32による再生信号
レベルの検出結果を取得する。さらにこの信号レベルの
検出を所定のオフセット電圧の範囲で終了すると、中央
処理ユニット33は、ステップSP11に移り、このよ
うにして検出した信号レベルの検出結果より最も信号レ
ベルが小さくなるオフセット電圧を検出し、これにより
図4について上述した最適なスキュー角θ2に対応する
オフセット電圧を検出する。
【0047】これにより中央処理ユニット33は、書き
込み時に検出される再生信号RFの信号レベルを基準に
して制御目標であるオフセット電圧を検出し、この検出
したオフセット電圧をスキューサーボ回路32にセット
すると、ステップSP12に移ってこの処理手順を終了
し、外部機器より入力されるデータを順次光ディスク2
に記録する。
【0048】(1−2)実施の形態の動作 以上の構成において、外部機器より書き込みの制御コマ
ンドが入力される、光ディスク装置31においては(図
1)、中央処理ユニット33の制御により光ピックアッ
プ4が光ディスク2の試し書き領域にシークし、ここで
書き込みの最適光量が検出される。
【0049】さらに光ディスク装置31においては、中
央処理ユニット33によりオフセット電圧を順次切り換
えて光ディスク2に対する光ピックアップ4の傾きであ
るスキュー角が順次切り換えられ、各スキュー角におい
て、再生時の光量よりこの書き込みの最適光量に間欠的
にレーザービームの光量が立ち上げられ、所定のテスト
データが光ディスク2に記録される。
【0050】すなわち光ディスク装置31においては、
スキューセンサ21により光ディスク2に対する光ピッ
クアップ4の傾きが検出され、この傾き検出結果である
スキュー検出信号S1が中央処理ユニット33により設
定されたオフセット電圧により減算回路20Bで補正さ
れる。さらにこの減算回路20Bの出力信号によりスキ
ューモータ22が駆動され、これによりオフセット電圧
で決まるスキュー角により順次、テストデータが光ディ
スク2に記録される。
【0051】このようにして光ディスク2にテストデー
タを記録する際に、光ディスク装置31においては、レ
ーザービームの戻り光が光ピックアップ4で検出され、
この検出結果がヘッドアンプ6により増幅された後、マ
トリックス回路7によりマトリックス演算処理され、こ
れにより光ピックアップ4、スピンドルモータ3の制御
に必要な各種信号と共に、光ディスク2に形成されたピ
ット列に応じて信号レベルが変化する再生信号RFが生
成される。
【0052】この再生信号RFにおいては、書き込み時
の光量にレーザービームの光量を立ち上げると急減に信
号レベルが立ち上がり(図2及び図4)、光ディスク2
においてレーザービーム照射位置の温度が所定温度以上
に上昇してピットの形成が開始されると、急激に信号レ
ベルが立ち下がった後、信号レベルの立ち下がりが停止
する。
【0053】この再生信号RFにおいては、この信号レ
ベルが急激に立ち下がって信号レベルの立ち下がりが停
止するまでの間の信号レベルが低い程、スキュー角が適
切に設定されていることを示す。これにより光ディスク
装置31においては、この期間の間で最も信号レベルの
検出に適したレーザービームの光量を立ち上げた後、一
定の時間Tだけ経過した時点t1である、再生信号RF
における信号レベルの急激な変化が緩やかな変化となる
時点t1において、サンプルホールド回路32Aにより
再生信号RFの信号レベルV1がサンプルホールドさ
れ、この信号レベルV1がアナログディジタル変換回路
32Bによりアナログディジタル変換処理される。さら
に続く平均値化回路32Cにおいて、光ディスク2の円
周方向におけるこの信号レベルV1の変化が平均値化さ
れ、中央処理ユニット33に取り込まれる。
【0054】これにより中央処理ユニット33におい
て、オフセット電圧を種々に設定して、各オフセット電
圧に対応するスキュー角においてテストデータを書き込
む際の再生信号RFにおける信号レベルの急激な変化が
緩やかな変化となる時点t1の再生信号レベルV1が検
出され(図4)、これらの信号レベルのうち、最も信号
レベルが小さくなるオフセット電圧が最適な制御目標値
としてスキューサーボ回路32にセットされる。
【0055】これにより光ディスク装置31において
は、書き込み時における再生信号レベルに基づいて制御
目標であるオフセット電圧が最適値に設定され、このオ
フセット電圧に対応するスキュー角により光ディスク2
に所望のデータが記録される。
【0056】かくするにつき、このようにして光ディス
ク2にテストデータを記録して、その記録時における再
生信号レベルに基づいて最適なスキュー角を設定するこ
とにより、光ディスク装置31においては、工場におけ
るスキュー調整作業を極めて簡略化することができ、部
品精度によっては、無調整とすることができる。従って
その分、スキュー調整作業を簡略化することができる。
【0057】また経時変化、温度変化による最適なスキ
ュー角が変化した場合でも、これら経時変化、温度変化
に対応することができる。
【0058】(1−3)第1の実施の形態の効果 以上の構成によれば、書き込み時における再生信号レベ
ルに基づいて制御目標を設定することにより、スキュー
サーボ回路の調整作業を簡略化することができ、さらに
は温度変化、経時変化等にも対応することができる。
【0059】またレーザービームの光量を立ち上げた後
の、再生信号RFにおける信号レベルの急激な変化が緩
やかになる所定の時点t1の再生信号レベルV1を検出
して、制御目標を設定することにより、適切な感度、精
度により制御目標値を設定することができる。
【0060】(2)第2の実施の形態 図6は、図1との対比により本発明の第2の実施の形態
に係る光ディスク装置を示すブロック図である。この図
6に示す構成において、図1について上述した実施の形
態と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重複し
た説明は省略する。
【0061】この光ディスク装置41は、第1の実施の
形態の構成に係る光ディスク装置31と同様にして、試
し書き領域におけるテストデータの記録により、中央処
理ユニット43で制御目標を検出し、この制御目標によ
りスキュー制御する。この処理において、この実施の形
態においては、再生信号レベルV1により制御目標を検
出し、この検出した再生信号レベルV1を基準にしてス
キュー制御する。
【0062】すなわちスキューサーボ回路42におい
て、微分回路42Aは、ヘッドアンプ20Aを介してス
キュー検出信号S1を入力し、このスキュー検出信号S
1を微分して出力することにより、スキュー検出信号S
1の増減を示す微分信号を出力する。微分回路42B
は、アナログディジタル変換回路32Bの出力信号を微
分して出力することにより、サンプルホールド回路32
Aで検出された再生信号レベルの増減を示す微分信号を
出力する。乗算回路42Cは、これら微分回路42A及
び42Bの出力信号を乗算して出力し、比較回路(CM
P)42Dは、0レベルを基準にして乗算信号を2値化
することにより、乗算信号の極性を判定して出力する。
【0063】これにより図7に示すように、比較回路4
2Dは、スキュー検出信号S1、再生信号レベルV1の
増減に応じて論理値が切り換わる判定結果を出力する。
ここで図8に示すように、スキュー検出信号S1は、組
み立て誤差等に対応する信号レベルだけオフセットして
スキューエラー量に比例して信号レベルが変化するのに
対し(図8(A))、再生信号レベルV1においては、
スキューエラー量をパラメータとした略二次曲線の特性
となる(図8(B))。これにより比較回路42Dは、
このようにして乗算回路42Cの出力信号を判定するこ
とにより、光ディスク2に対してレーザービームを照射
している条件が、この図8に示す特性曲線図のスキュー
エラー量が0である右側か左側かを判定して出力するよ
うになされている。
【0064】ディジタルアナログ変換回路(D/A)4
2Eは、中央処理ユニット43より出力される制御目標
の制御データをラッチし、このラッチした制御データを
減算回路42Fに出力する。選択回路42Gは、減算回
路42Fの出力データを直接に選択入力端に入力し、ま
た反転増幅回路42Hを介して極性を反転して選択入力
端に入力する。選択回路42Gは、これらの入力を比較
回路42Dの比較結果により選択出力する。
【0065】選択回路42Iは、減算回路20B及びエ
ラーアンプ20D間に介挿されて、試し書き時、減算回
路20Bの出力信号をエラーアンプ20Dに選択出力す
るのに対し、ユーザーエリアへの書き込み時、選択回路
42Gの選択出力をエラーアンプ20Dに出力する。
【0066】これによりスキューサーボ回路42におい
ては、試し書き時、スキュー検出信号S1の信号レベル
が中央処理ユニット43により設定される制御目標とな
るようにスキューモータ22を駆動するのに対し、ユー
ザーエリアへの書き込み時、再生信号RFより検出され
る再生信号レベルV1の信号レベルが中央処理ユニット
43により設定される制御目標となるようにスキューモ
ータ22を駆動するようになされている。
【0067】中央処理ユニット43は、図15について
上述した中央処理ユニット14に代えて配置され、中央
処理ユニット14の処理手順に加えて、スキューサーボ
回路42より出力される信号検出結果を基準にしてスキ
ューサーボ回路32に制御目標値を設定する。
【0068】図9は、図5との対比によりこの中央処理
ユニット43における制御目標値のの設定処理手順を示
すフローチャートである。中央処理ユニット43は、こ
の処理手順において、図5の処理と同一の符号を用いて
示すように、第1の実施の形態について上述した中央処
理ユニット33と同様に、書き込みの制御コマンドに応
動して光ピックアップ4を光ディスク2の試し書き領域
にシークさせ、ここで書き込み時の最適光量を検出し、
続いて所定のオフセット電圧の範囲で、順次オフセット
電圧を切り換えてスキュー角を変化させ、各スキュー角
でスキューサーボ回路42による再生信号レベルV1の
検出結果を取得する。
【0069】このようしてオフセット電圧を順次変化さ
せて再生信号レベルV1を検出すると、中央処理ユニッ
ト43は、ステップSP9からステップSP21に移
り、ここで信号レベルの検出結果V1より最も信号レベ
ルが小さくな信号レベルV1を検出し、この信号レベル
V1による制御データをディジタルアナログ変換回路4
2Eにセットする。
【0070】さらに中央処理ユニット43は、続くステ
ップSP22において、選択回路42Iの接点を再生信
号RFによるスキュー制御側に切り換えた後、ステップ
SP23に移ってこの処理手順を終了する。これにより
中央処理ユニット43は、オルセット電圧の設定により
試し書き領域で順次スキュー角を変化させて再生信号レ
ベルV1を検出し、実際のユーザーエリアへのデータ記
録時には、この再生信号レベルV1を制御目標としたス
キュー制御をスキューサーボ回路42に指示する。
【0071】図6に示す構成によれば、試し書き領域で
検出した再生信号レベルV1より、制御目標を検出し、
この制御目標によりスキュー制御するようにしても、第
1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【0072】(3)第3の実施の形態 図10は、図6との対比により本発明の第3の実施の形
態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。この
図10に示す構成において、図6について上述した実施
の形態と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重
複した説明は省略する。
【0073】この光ディスク装置51は、図6について
上述したスキューサーボ回路32における微分回路42
A及び42B、乗算回路42C、比較回路42Dに代え
て、アナログディジタル変換回路(A/D)52A、遅
延回路52B及び52C、比較回路52D及び52E、
イクスクルーシブオア回路52Fにより、選択回路42
Gの切り換え信号を生成する。
【0074】すなわちアナログディジタル変換回路52
Aは、ヘッドアンプ20Aより出力されるスキュー検出
信号S1をアナログディジタル変換処理して出力する。
比較回路52Dは、このアナログディジタル変換回路5
2Aの出力信号と、遅延回路52Bを介して所定クロッ
ク周期だけ遅延して入力されるアナログディジタル変換
回路52Aの出力信号とを比較して比較結果を出力する
ことにより、スキュー検出信号S1の増減に対応して論
理レベルが切り換わる比較結果を出力する。
【0075】比較回路52Eは、アナログディジタル変
換回路32Bの出力信号と、遅延回路52Cを介して所
定クロック周期だけ遅延して入力されるアナログディジ
タル変換回路32Bの出力信号とを比較して比較結果を
出力することにより、再生信号レベルV1の増減に対応
して論理レベルが切り換わる比較結果を出力する。
【0076】イクスクルーシブオア回路52Fは、これ
ら比較回路52D及び52Eの出力信号を排他的論理和
演算処理し、これにより選択回路42Gの切り換え信号
を生成して出力する。
【0077】図10に示す構成によれば、論理回路によ
り選択回路42Gの切り換え信号を生成するようにして
も、第2の実施の形態と同様の効果を得ることができ
る。
【0078】(4)第4の実施の形態 図11は、本発明の第4の実施の形態に係る中央処理ユ
ニットのスキュー制御に関する処理手順を示すフローチ
ャートである。この実施の形態に係る光ディスク装置6
1においては、この処理手順に係る中央処理ユニットの
構成が異なる点を除いて、第1の実施の形態と同一の構
成であることにより、図1において、異なる構成を括弧
書きの符号により示し、重複した記載を省略する。
【0079】この実施の形態に係る光ディスク装置61
は、この中央処理ユニット63の処理手順により、試し
書き領域における試し書きを省略して、いわゆる山登り
法によりスキュー制御する。
【0080】すなわち中央処理ユニット63は、書き込
みを開始すると、ステップSP31からステップSP3
2に移り、ここで減算回路20Bに与えるオフセット電
圧が初期設定値であるセンター値となるように、ディジ
タルアナログ変換回路32Dに制御データを出力する。
続いて中央処理ユニット63は、ステップSP33に移
り、ここで平均値化回路32Cを介して、このオフセッ
ト電圧における再生信号レベルV1を検出する。
【0081】続いて中央処理ユニット63は、ステップ
SP34に移り、オフセット電圧を微増させ、この微増
させたオフセット電圧における再生信号レベルV1を検
出する。
【0082】中央処理ユニット63は、続くステップS
P35において、このようにして連続して検出した2つ
の再生信号レベルV1を比較して再生信号レベルV1の
変化を検出する。ここで中央処理ユニット63は、この
再生信号レベルV1が何ら変化していない場合、ステッ
プSP35の処理手順を繰り返し、オフセット電圧を現
在の電圧に維持する。
【0083】これに対して、再生信号レベルV1が減少
している場合、中央処理ユニット63は、ステップSP
34に戻り、さらにオフセット電圧を減少させて再生信
号レベルV1を検出し、これによりスキュー角を最適な
条件に近づける。またこれとは逆に、再生信号レベルが
増大している場合、中央処理ユニット63は、ステップ
SP35からステップSP36に移り、ここでステップ
SP34とは逆にオフセットを減少させて再生信号レベ
ルV1を検出する。
【0084】続いて中央処理ユニット63は、ステップ
SP37に移り、連続して検出した再生信号レベルV1
の比較により再生信号レベルV1の変化を判定する。こ
こで再生信号レベルV1が何ら変化していない場合、中
央処理ユニット63は、ステップSP37の処理手順を
繰り返し、オフセット電圧を現在の電圧に維持する。
【0085】これにに対して、再生信号レベルV1が減
少している場合、中央処理ユニット63は、ステップS
P36に戻り、さらにオフセット電圧を減少させて再生
信号レベルV1を検出し、これによりスキュー角を最適
な条件に近づける。またこれとは逆に、再生信号レベル
が増大している場合、中央処理ユニット63は、ステッ
プSP37からステップSP34に移り、ステップSP
36とは逆にオフセットを増大させて再生信号レベルV
1を検出する。
【0086】以上の構成によれば、記録時の再生信号レ
ベルV1の変化によりいわゆる山登り法により、制御目
標を順次切り換えてスキュー制御するようにしても、第
1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【0087】(5)第5の実施の形態 図12は、図1との対比により本発明の第5の実施の形
態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。この
図12に示す構成において、図1について上述した実施
の形態と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重
複した説明は省略する。
【0088】この光ディスク装置71において、スキュ
ーサーボ回路72は、アナログディジタル変換回路32
Bの出力信号をピークホールド回路72A及びボトムホ
ールド回路72Bによりそれぞれピークホールド及びボ
トムホールドする。さらにこれらピークホールド結果及
びボトムホールド結果を加算回路72Cにより加算し、
この加算結果を再生信号レベルV1の検出結果として中
央処理ユニット33に出力する。
【0089】これによりこの実施の形態では、周内の平
均値に代えて、図4(D)について上述したピーク値及
びボトム値の平均値により再生信号レベルV1を検出
し、この再生信号レベルV1により制御目標値を設定す
るようになされている。
【0090】図12に示す構成によれば、周内の平均値
に代えて、周内のピーク値及びボトム値の平均値により
再生信号レベルV1を検出するようにしても、上述の実
施の形態と同様の効果を得ることができる。
【0091】(6)他の実施の形態 なお上述の実施の形態においては、ピットの形成により
再生信号レベルが急激な変化を開始した後、この急激な
変化が緩やかになる時点t1で再生信号RFの信号レベ
ルをサンプリングする場合について述べたが、本発明は
これに限らず、例えば図13に示すように、実用上十分
な特性を得ることができる場合、レーザービームの照射
を開始して所定時間T3だけ経過した急激な変化を呈す
る時点t3における再生信号レベルを基準にしても良
く、また再生信号レベルがほぼ一定となったレベルを基
準としてもよい。
【0092】また上述の実施の形態においては、所定の
時点t1における再生信号レベルを検出する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、実用上充分な検出
精度を確保できる場合、種々の検出手法を広く適用する
ことができ、例えば図13に示すように、レーザービー
ムの照射を開始した後、所定の電圧VLとなるまでの時
間T1の計測により、又はこの電圧VL以上に再生信号
レベルが立ち上がっている期間T2の時間計測により、
さらには第1基準レベルから第2の基準レベルまでの変
化に要する時間の時間計測により、さらにはこれらの期
間の再生信号レベルの積分値等により、再生信号レベル
を基準にして制御目標を設定するようにしてもよい。
【0093】また上述の実施の形態においては、ピット
の形成により反射率が低下する構成の光ディスクに所望
のデータを記録する場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、これとは逆にピットの形成により反射率が
増大する構成の光ディスクに所望のデータを記録する場
合にも広く適応することができる。なおこの場合は、図
14に示すように、ピットの形成が開始されると、再生
信号レベルが増大することにより、例えば第1〜第5の
実施の形態の構成によりスキュー制御する場合、この再
生信号レベルの急激な増大が緩やかになる時点t1で再
生信号レベルV1をサンプリングし、さらにこのサンプ
リングした再生信号レベルV1が最も増大するようにス
キュー制御することになる。
【0094】また上述の実施の形態においては、光ディ
スクの半径方向について、スキューを補正する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、これに代えて、
又はこれに加えて光ディスクの円周接線方向についてス
キューを補正する場合にも適用することができる。
【0095】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、記録時に
おける再生信号の信号レベルを基準にしてスキュー制御
することにより、スキューサーボ回路の調整作業を簡略
化でき、かつ温度変化、経時変化等にも対応することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る光ディスク装
置を示すブロック図である。
【図2】図1の光ディスク装置の動作の説明に供する信
号波形図である。
【図3】図2との対比によりマルチパルスによる記録に
おける信号波形図である。
【図4】スキュー角と再生信号波形との関係を示す特性
曲線図である。
【図5】図1の光ディスク装置における中央処理ユニッ
トの処理手順を示すフローチャートである。
【図6】本発明の第2の実施の形態に係る光ディスク装
置を示すブロック図である。
【図7】図6の光ディスク装置の比較回路の動作の説明
に供する図表である。
【図8】図6の光ディスク装置の動作の説明に供する特
性曲線図である。
【図9】図6の光ディスク装置における中央処理ユニッ
トの処理手順を示すフローチャートである。
【図10】本発明の第3の実施の形態に係る光ディスク
装置を示すブロック図である。
【図11】図10の光ディスク装置における中央処理ユ
ニットの処理手順を示すフローチャートである。
【図12】本発明の第4の実施の形態に係る光ディスク
装置を示すブロック図である。
【図13】他の実施の形態に係る光ディスク装置の説明
に供する信号波形図である。
【図14】ピットの形成により反射率が増大する構成の
光ディスクへの適用の説明に供する信号波形図である。
【図15】従来の光ディスク装置の全体構成を示すブロ
ック図である。
【図16】図15の光ディスク装置のスキュー制御の説
明に供するブロック図である。
【符号の説明】
1、31、41、51、61、71……光ディスク装
置、2……光ディスク、4……光ピックアップ、10…
…スライドモータ、14、33、43、63……中央処
理ユニット、20、32、42、52、72……スキュ
ーサーボ回路、21……スキューセンサ、22……スキ
ューモータ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所望のデータを光ディスクに記録する光デ
    ィスク装置において、 前記光ディスクにレーザービームを照射して戻り光を受
    光し、前記データの記録によって前記光ディスクに形成
    された光学的特性の変化に応じて信号レベルが変化する
    再生信号を出力すると共に、記録時、前記レーザービー
    ムの光量を間欠的に立ち上げるレーザービーム照射手段
    と、 前記データの記録時に得られる前記再生信号の信号レベ
    ルを基準にして制御目標を設定し、前記制御目標を基準
    にして、前記光ディスクに対する前記レーザービーム照
    射手段の傾きを制御するスキュー制御手段とを備えるこ
    とを特徴とする光ディスク装置。
  2. 【請求項2】前記スキュー制御手段は、 所定のテストデータの記録時に得られる前記再生信号の
    信号レベルを基準にして、前記制御目標を設定すること
    を特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
  3. 【請求項3】前記スキュー制御手段は、 前記光ディスクに対する前記レーザービーム照射手段の
    傾きを検出して傾き検出結果を出力する傾き検出手段
    と、 前記傾き検出結果が所定の設定値になるように、前記レ
    ーザービーム照射手段を傾ける駆動手段とを有し、 前記設定値を変化させて前記再生信号の信号レベルを検
    出し、該検出結果に基づいて、前記設定値に前記制御目
    標を設定することを特徴とする請求項1に記載の光ディ
    スク装置。
  4. 【請求項4】前記スキュー制御手段は、 前記光ディスクに対する前記レーザービーム照射手段の
    傾きを検出して傾き検出結果を出力する傾き検出手段
    と、 前記傾き検出結果が所定の設定値になるように、前記レ
    ーザービーム照射手段を傾けた後、前記再生信号の信号
    レベルが所定の設定値になるように、前記レーザービー
    ム照射手段を傾ける駆動手段とを有し、 前記傾き検出結果に対応する設定値を変化させて前記再
    生信号の信号レベルを検出し、該検出結果に基づいて、
    前記再生信号の信号レベルに対応する前記設定値に前記
    制御目標を設定することを特徴とする請求項1に記載の
    光ディスク装置。
  5. 【請求項5】前記スキュー制御手段は、 前記光ディスクに対する前記レーザービーム照射手段の
    傾きを検出して傾き検出結果を出力する傾き検出手段
    と、 前記傾き検出結果が所定の設定値になるように、前記レ
    ーザービーム照射手段を傾ける駆動手段とを有し、 前記設定値の変化に対応する前記再生信号の信号レベル
    の変化を基準にして前記設定値を適宜変化させてスキュ
    ー制御することを特徴とする請求項1に記載の光ディス
    ク装置。
  6. 【請求項6】前記スキュー制御手段は、 前記レーザービームの光量を立ち上げた後、所定時間経
    過した測定時点で前記再生信号の信号レベルを検出し、
    該検出結果に基づいて制御目標を設定し、 前記測定時点が、 前記再生信号の信号レベルが急激な変化から緩やな変化
    となった時点であることを特徴とする請求項1に記載の
    光ディスク装置。
  7. 【請求項7】所望のデータを光ディスクに記録する光デ
    ィスク装置の制御方法において、 前記光ディスク装置は、 レーザービーム照射手段により、前記光ディスクにレー
    ザービームを照射して戻り光を受光し、所定のデータの
    記録によって前記光ディスクに形成された光学的特性の
    変化に応じて信号レベルが変化する再生信号を出力する
    と共に、記録時、前記レーザービームの光量を間欠的に
    立ち上げ、 前記光ディスク装置の制御方法は、 前記データの記録時に得られる前記再生信号の信号レベ
    ルを基準にして、前記光ディスクに対する前記レーザー
    ビーム照射手段の傾きを制御することを特徴とする光デ
    ィスク装置の制御方法。
  8. 【請求項8】前記レーザービームの光量を立ち上げた
    後、所定時間経過した測定時点で前記再生信号の信号レ
    ベルを検出し、該検出結果に基づいて制御目標を設定し
    て前記レーザービーム照射手段の傾きを制御し、 前記測定時点が、 前記再生信号の信号レベルが急激な変化より緩やな変化
    となった時点であることを特徴とする請求項7に記載の
    光ディスク装置の制御方法。
  9. 【請求項9】所定のテスト用のデータの記録により、前
    記レーザービーム照射手段の傾きの制御目標を設定する
    ことを特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置の制
    御方法。
  10. 【請求項10】前記レーザービーム照射手段の傾きを変
    化させて検出される前記再生信号の信号レベルに基づい
    て、前記再生信号の信号レベルに対応する前記レーザー
    ビーム照射手段の傾きの量が所定の制御目標となるよう
    に前記レーザービーム照射手段の傾きを制御することを
    特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置の制御方
    法。
  11. 【請求項11】前記レーザービーム照射手段の傾きを変
    化させて検出される前記再生信号の信号レベルに基づい
    て、前記再生信号の信号レベルが所定の制御目標となる
    ように前記レーザービーム照射手段の傾きを制御するこ
    とを特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置の制御
    方法。
  12. 【請求項12】前記レーザービーム照射手段の傾きの変
    化に対応する前記再生信号の信号レベルの変化に基づい
    て、前記レーザービーム照射手段の傾きを制御すること
    を特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置の制御方
    法。
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