KR100653300B1

KR100653300B1 - 광 디스크 장치 및 광 디스크의 평가 방법

Info

Publication number: KR100653300B1
Application number: KR1020050101684A
Authority: KR
Inventors: 히데미쯔 세노오; 고지 하야시
Original assignee: 산요덴키가부시키가이샤
Priority date: 2004-10-28
Filing date: 2005-10-27
Publication date: 2006-12-05
Also published as: KR20060052250A; US20060285467A1; CN1783310A; JP2006127620A; TW200630991A

Abstract

지터의 평가 정밀도의 향상화에 적합한 광 디스크 장치 및 광 디스크의 평가 방법을 제공한다. 광 디스크에 기록된 재생 신호에 기초하여 상기 광 디스크의 평가를 행하는 광 디스크 장치에 있어서, 복수의 제1 지연 소자를 직렬 접속하여 구성되고, 상기 재생 신호의 2치화 신호를 상기 직렬 접속의 한 쪽의 측으로부터 공급하여 다른 쪽의 측을 향해서 순차적으로 지연시키는 지연 회로와, 상기 지연 회로에 있어서의 상기 복수의 제1 지연 소자 중 적어도 하나로부터 취득한 상기 2치화 신호의 레벨 데이터를 보유하는 데이터 보유 회로와, 상기 레벨 데이터에 기초하여 상기 2치화 신호가 한 쪽 레벨 또는 다른 쪽 레벨을 나타내는 뜻을 식별하는 프로세서를 갖는다.

광 디스크 장치, 재생 신호, 지연 회로, 레벨 데이터, 2치화 신호, 데이터 보유 회로, 기준 클럭, 출력 신호, 제어 전압

Description

광 디스크 장치 및 광 디스크의 평가 방법{OPTICAL DISC DEVICE AND OPTICAL DISC EVALUATION METHOD}

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 구성을 도시하는 도면.

도 2는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 상세한 구성을 도시하는 도면.

도 3은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 데이터 보유 회로에 일괄 보유되는 레벨 데이터 내용의 구체예를 도시하는 도면.

도 4는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 동작을 설명하는 도면.

도 5는 본 발명의 제2 실시 형태에 광 디스크 장치의 상세한 구성을 도시하는 도면.

도 6은 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 전체적인 구성을 도시하는 도면.

도 7은 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 라이트 스트래티지를 설명하는 도면이다.

도 8은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 Gray Zone을 설명하는 도면.

도 9는 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 상세한 구성을 도시하는 도면.

도 10은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 광 디스크 장치의 동작을 설명하는 도면.

도 11은 종래의 광 디스크 장치의 전체적인 구성을 도시하는 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 : 광 픽업

11, 120 : 광 디스크

12, 22 : 서보 회로

13, 23 : 2치화 회로

14 : 디지털 신호 처리 회로

15 : CD-ROM 디코더

16 : 버퍼 RAM

17, 31 : 마이크로컴퓨터

18 : 카운터

20 : 광 픽업

201 : LD(Laser Diode)

203 : PD(Photo Detector)

204 : LD 구동 회로

21 : RF 앰프

24 : 디코더 회로

25 : 지연 회로

251 : 제1 지연 소자

253 : PLL 회로

254 : VCO(Voltage Control 0scillator)

255 : 제2 지연 소자

256 : 인버터 소자

257 : 바이어스 회로

258 : 제1 분주 회로

259 : 제2 분주 회로

2501 : 위상 비교기

2502 : LPF(Low Pass Filter)

26 : 데이터 보유 회로

260 : 플립플롭 회로

27 : 데이터 처리 회로

271 : 가산기

272 : 가산 결과 저장 레지스터

273 : 임계값 저장 레지스터

274 : 비교기

275 : 비교 결과 저장 레지스터

28 : 메모리 액세스 제어 회로

29 : 메모리

30 : 통계 연산 회로

32 : 인코더 회로

33 : 라이트 스트래티지 회로

34 : 지연 제어 회로

35 : 셀렉터

100 : CD 기록 재생 장치

110, 130 : 광 디스크 장치

140 : 아날로그 신호 처리 회로

150 : 디지털 신호 처리 회로

207 라이트 파워 설정부

211 : 바이어스 파워 설정부

208, 212 : 스위치

[특허문헌 1] 일본 특허공개 평11-167720호 공보

[특허문헌 2] 일본 특허공개 평11-273252호 공보

본 발명은 광 디스크 장치 및 광 디스크의 평가 방법에 관한 것이다.

종래, 광 디스크의 평가 장치로서 『지터미터』라고 불리는 평가 장치가 사용되고 있었다(예를 들면 상기 특허 문헌 1을 참조). 이러한 평가 장치는 『지터』라고 불리는 광 디스크로부터 얻어지는 재생 신호의 번짐 상태를 정량적으로 평가하는 것이다. 그러나, 전용의 지터미터는 고가이고, 간편하게 지터의 평가를 행할 수 없었다. 따라서, 광 디스크로 정보의 기록 및(또는) 재생을 행하는 장치(이하, 『광 디스크 장치』라고 칭한다.)를 이용하여 지터의 평가를 하는 방법이 제안되어 있다.

도 11은 지터 평가 기능을 갖는 CD 기록 재생 장치(100)를 도시하는 도면이다.

우선, CD 기록 재생 장치(100)에 있어서의 광 디스크(11)의 통상의 재생 동작에 대해서 설명한다.

광 픽업(10)은 광 디스크(11)에 조사되는 레이저광의 반사광을 수광하여, 그 반사광의 강약을 전압값의 변화로서 취출한다. 서보 회로(12)는 광 디스크(11)에 기억된 피트 또는 랜드에 대응한 데이터를 광 픽업(10)에 의해서 바른 순서로 판독할 수 있도록 광 디스크(11)에 대한 광 픽업(10)의 트랙킹 서보나 포커스 서보 등을 행한다.

2치화 회로(13)는 광 픽업(10)으로부터 출력되는 전압값의 변화를 판독하여 EFM 신호를 생성한다. 이 EFM 신호는 "H"와 "L"가 반복해서 형성된다. "H" 또는 "L"에 상당하는 기간은 3T에서 11T의 사이에 있고 9종류이다. 또한, "1T"란, 1비 트 간격으로 약 230ns이다.

디지털 신호 처리 회로(14)는 2치화 회로(13)로부터 공급되는 EFM 신호에 대해서 EFM 복조를 실시한다. 또한, EFM 복조된 신호에 대해서 CIRC 복호를 실시하여 CD-ROM 데이터를 생성한다. CD-ROM 디코더(15)는 디지털 신호 처리 회로(14)로부터 공급되는 CD-ROM 데이터에 대해서 오류 검출 처리 및 오류 정정 처리를 행하여 호스트 컴퓨터(도시 생략)로 출력한다.

버퍼 RAM(16)은 CD-ROM 디코더(15)에 접속되어, 디지털 신호 처리 회로(14)로부터 CD-ROM 디코더(15)에 공급되는 CD-ROM 데이터를 1 블록 단위로 일시적으로 기억한다. 버퍼 RAM(16)은 대량의 데이터를 기억할 필요가 있기 때문에, 일반적으로는 DRAM이 채용된다.

마이크로컴퓨터(17)는 ROM 및 RAM을 내장한 이른바 원 칩 마이크로컴퓨터로 구성되어, ROM에 기억된 제어 프로그램에 따라서 CD-ROM 디코더(15)의 동작을 제어한다. 동시에, 마이크로컴퓨터(17)는 호스트 컴퓨터로부터 공급되는 커맨드 데이터 또는 디지털 신호 처리 회로(14)로부터 공급되는 서브 코드 데이터를 일단 내장의 RAM에 기억한다. 이에 따라 마이크로컴퓨터(17)는 호스트 컴퓨터로부터의 지시에 응답하여 각 부의 동작을 제어하고, CD-ROM 디코더(15)로부터 호스트 컴퓨터로 원하는 CD-ROM 데이터를 출력시킨다.

다음으로, CD 기록 재생 장치(100)에 있어서의 광 디스크(11)의 지터의 평가 방법에 대해서 설명한다.

광 픽업(10), 광 디스크(11), 서보 회로(12) 및 2치화 회로(13)는 마이크로 컴퓨터(17)에 의해서 광 디스크(11)의 재생 동작과 같은 동작을 행한다. 그러나, 디지털 신호 처리 회로(14) 및 CD-ROM 디코더(15)는 마이크로컴퓨터(17)에 의해서 동작이 정지되고, 버퍼 RAM(16)은 재생 동작과는 다른 동작이 된다.

카운터(18)는 2치화 회로(13)에 접속되어, 2치화 회로(13)로부터 공급되는 EFM 신호를 수신한다. 그리고, 카운터(18)는 EFM 신호보다도 고주파인 카운터 클럭에 의해서, EFM 신호의 각 H/L 구간의 길이를 축차 카운트함과 함께, 각 카운트값을 버퍼 RAM(16)에 순차적으로 기입한다. 또한, 선속도 일정의 CLV 동작의 1 배속 동작에서는 EFM 신호의 1T는 약 230ns이다. 이 때문에, 카운터(18)에서는 예를 들면 1주기 2ns, 즉 500MHz의 카운터 클럭을 이용하여 카운트 동작이 행해진다. 이 경우, EFM 신호의 H/L 구간이 "3T(약 690ns)"일 때 이상 카운트값은 "345", "4T"일 때 이상 카운트값은 "460", …, "11T"일 때 이상 카운트값은 "1265"이다.

이러한 일련의 처리가 광 디스크(11)에 기록된 일정 영역의 데이터에 대해서 행해진 후, 마이크로컴퓨터(17)는 버퍼 RAM(16)에 기록된 각 카운트값을 해석하여지터의 평가를 행하는 것이다.

그런데, CD 기록 재생 장치(100)와 같은 지터의 평가 기능을 갖는 종래의 광 디스크 장치에서는 EFM 신호의 H/L 구간의 측정 정밀도(분해능)를 향상시키기 위해, 카운터(18)에 있어서 다른 회로에 비해서 보다 고주파인 카운터 클럭을 이용할 필요가 생긴다. 그러나, 보다 고주파인 카운터 클럭이 이용되기 때문에, 카운터(18) 자신이나, 카운터(18)를 설치한 광 디스크 장치 전체의 소비 전력의 증대화를 피할 수 없다.

또한, 플립플롭 회로를 이용한 카운터(18) 등의 순서 회로에서는 소정의 설계 기준에 기초하여 회로 규모의 증대화를 억제하면서도 동작 가능 주파수의 제한이 이루어진다. 이 때문에, 전술한 바와 같은 종래의 구조에서는 회로 규모의 제약에 의해서 카운터 클럭의 고주파화, 즉, EFM 신호의 H/L 구간의 측정 정밀도를 향상시키기에는 한계가 있었다.

전술한 과제를 해결하기 위한 주된 본 발명은, 광 디스크에 기록된 재생 신호에 기초하여 상기 광 디스크의 평가를 행하는 광 디스크 장치에 있어서, 복수의 제1 지연 소자를 직렬 접속하여 구성되고, 상기 재생 신호의 2치화 신호를 상기 직렬 접속의 한 쪽의 측으로부터 공급하여 다른 쪽의 측을 향해서 순차적으로 지연시키는 지연 회로와, 상기 지연 회로에 있어서의 상기 복수의 제1 지연 소자 중 적어도 하나로부터 취득한 상기 2치화 신호의 레벨 데이터를 보유하는 데이터 보유 회로와, 상기 레벨 데이터에 기초하여 상기 2치화 신호가 한 쪽 레벨 또는 다른 쪽 레벨을 나타내는 뜻을 식별하는 프로세서를 갖는 것으로 한다.

<제1 실시 형태>=

==광 디스크 장치의 구성===

도 2를 참조하면서, 도 1을 기초로, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 광 디스크 장치(110)의 구성을 설명한다. 또한, 광 디스크 장치(110)는 CD/DVD 미디어 등의 광 디스크(120)에 대해서 레이저광을 조사하여 정보의 재생을 행하는 장치로 한 다. 물론, 광 디스크 기록도 아울러 행하는 장치로 해도 된다.

또한, 광 디스크 장치(110)는 지터라고 불리는 광 디스크(120)로부터 얻어지는 재생 신호의 번짐 상태를 정량적으로 평가하는 기능을 갖는다. 해당 지터를 평가함으로써, 광 디스크(120)의 기록 품위나 재생 품위가 평가되게 된다. 또한, 상세 내용은 후술하겠지만, 지터는 광 디스크(120)로부터 얻어지는 EFM 신호의 H/L 구간의 측정 결과에 기초하여 정량적으로 평가된다.

광 픽업(20)은 광 디스크(120)에 레이저광을 조사하여 광 디스크(120)에 기록된 정보를 재생하는 것이다. 또한, 광 픽업(20)은 광 디스크(120)에 조사되는 레이저광의 반사광을 수광하여, 그 반사광의 강약을 전압값의 변화로서 취출한다.

RF 앰프(21)는 광 픽업(20)에 의해서 광 디스크(120)로부터 취출된 신호를, 후단의 처리가 취급 가능한 레벨에까지 증폭하여 RF 신호(『재생 신호』)를 생성하는 것이다. 또한, RF 앰프(21)는 자신의 증폭율을 자동조정하는 AGC(Automatic Gain Control) 기능이나, 트랙킹 에러 신호나 포커스 에러 신호 등의 각종 서보 제어 신호의 생성 기능을 갖는다.

서보 회로(12)는 RF 앰프(21)로 생성된 서보 제어 신호에 기초하여 광 픽업(20)에 설치된 각종 서보 기구를 제어한다. 이것에 의해서, 예를 들면 광 디스크(120) 상의 피트 또는 랜드에 대응한 데이터를 바른 순서로 판독할 수 있도록, 광 픽업(20)의 트랙킹 서보나 포커스 서보 등을 행한다.

2치화 회로(23)는 RF 앰프(21)로 생성된 RF 신호가 공급되고, 이 RF 신호를 2치화하기 위한 회로이고, 예를 들면 RF 신호 레벨과 소정의 슬라이스 레벨의 비교 를 하는 비교기에 의해서 구성된다. 이 RF 신호의 2치화 신호는 통상 모드인 경우에는 디코더 회로(24)에 공급되고, 광 디스크 평가 모드인 경우에는 지연 회로(25)에 공급된다. 또한, RF 신호의 2치화 신호란, CD 미디어인 경우에는 EFM(8-14 변조) 신호이고, DVD 미디어인 경우에는 EFM-PLus(8-16 변조) 신호이다. 후술의 설명에 있어서 광 디스크(120)는 CD 미디어인 경우이고, RF 신호의 2치화 신호는 EFM 신호인 경우로 한다.

디코더 회로(24)는 2치화 회로(23)로부터 공급되는 EFM 신호에 대해서 EFM 복조 처리를 실시한다. 또한, EFM 복조된 신호에 대해서 CIRC 방식의 오류 정정 처리를 실시한다. 이들 디코드 처리된 신호가 도시되지 않은 A/D 컨버터를 통하여 외부 출력된다.

지연 회로(25)는 도 2에 도시한 바와 같이 복수의 제1 지연 소자(251)를 직렬 접속한 구성을 나타내고 있고, EFM 신호를 지연 회로(25)의 입력측으로부터 공급하여 출력측을 향해서 순차적으로 지연시키는 것이다. 또한, 제1 지연 소자(251)의 지연량(dt)은 「EFM 신호의 기준 주기 1T/제1 지연 소자(251)의 단수(S)」로서 설정된다.

예를 들면 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251)의 단수(S)가 16단인 경우, 1개의 제1 지연 소자(251)의 지연량(dt)은 "T/16"로 설정된다. 이 경우, 지연 회로(25)의 입력측으로부터 EFM 신호가 공급되었을 때, 각 제1 지연 소자(251)가 EFM 신호를 순차적으로 "T/16"마다 지연시키게 된다. 그리고, 지연 회로(25) 상에 EFM 신호가 전파된 기간이, EFM 신호의 기준 주기 1T로 될 때, 제1 지연 소자(251) 각각에는 입력측으로부터 출력측의 순으로 "T/16"마다 지연된 신호의 레벨 데이터(H 또는 L)가 버퍼된 상태가 된다.

데이터 보유 회로(26)는 도 2에 도시한 바와 같이 지연 회로(25)에 있어서의 각 제1 지연 소자(251) 중 어느 하나로부터 취득한 EFM 신호의 복수의 레벨 데이터를 일괄 보유하는 것이다. 구체적으로는 데이터 보유 회로(26)는 일괄 보유하는 레벨 데이터의 수에 따른 복수의 플립플롭 회로(260)를 갖는다. 복수의 플립플롭 회로(260)는 지연 회로(25)로부터 취득한 EFM 신호의 복수의 레벨 데이터 각각이 입력되고, 공통의 클럭 신호에 기초하여 일괄 보유한다.

또한, 데이터 보유 회로(26)는 도 2에 도시한 바와 같이 지연 회로(25)의 제1 지연 소자(251) 각각으로부터 취득한 레벨 데이터, 즉 각 제1 지연 소자(251) 모든 레벨 데이터를 일괄 보유해도 되고, 지연 회로(25)의 제1 지연 소자(251) 중 소정수 간격(예를 들면 짝수번째마다 또는 홀수번째마다)으로 취득한 레벨 데이터를 일괄 보유해도 된다.

데이터 처리 회로(27)는 데이터 보유 회로(26)에 있어서 보유된 복수의 레벨 데이터에 대해서, 마이크로컴퓨터(31)가 해석하기 쉬운 데이터 포맷으로 변환하는 것이다. 또한, 데이터 처리 회로(27)에 있어서의 처리는 마이크로컴퓨터(31)가 실시해도 되는데, 마이크로컴퓨터(31)의 처리 부하를 경감하기 위해 데이터 처리 회로(27)를 설치한 쪽이 바람직하다.

또한, 데이터 처리 회로(27)에 있어서의 처리란, 예를 들면 다음과 같은 처리로 된다. 데이터 보유 회로(26)에 보유된 상태의 복수의 레벨 데이터는 EFM 신 호의 어느 1T 기간에 상당하는 레벨 데이터군에 속하는지 불분명하다. 이 때문에, 데이터 처리 회로(27)는 데이터 보유 회로(26)로부터 적어도 3T 이상의 기간에 상당하는 레벨 데이터군을 해석하고, 해당 레벨 데이터군에 있어서의 H에서 L 또는 L에서 H로의 극성 반전 타이밍을 식별한다. 그리고, 식별된 극성 반전 타이밍에 기초하여 EFM 신호의 H/L 구간 데이터나, 그 H/L 구간이 어느 극성인지를 나타내는 H/L 극성 데이터를 생성한다.

메모리 액세스 제어 회로(28)는 메모리(29)에의 액세스(기입/판독)를 제어하는 것이다. 예를 들면 메모리 액세스 제어 회로(28)는 데이터 처리 회로(27)에 있어서 생성된 데이터를, 메모리(29)의 소정의 기억 영역에 기입하기 위한 제어를 한다. 또한, 메모리(29)는 마이크로컴퓨터(31)가 액세스 가능한 DRAM이나 SDRAM 등의 기억 장치이다.

통계 연산 회로(30)는 메모리 액세스 제어 회로(28)를 통하여 메모리(29)에 기억된 EFM 신호의 측정 데이터를 판독하고, 각종 통계 연산을 실시한 결과를 다시 메모리(29)의 소정의 기억 영역에 기입하는 것이다. 예를 들면 통계 연산 회로(30)는 EFM 신호의 각 H/L 구간(3T∼11T)의 출현 빈도를 산정하게 된다.

마이크로컴퓨터(31)는 광 디스크 장치(110) 전체의 제어를 담당하는 프로세서이다. 특히, 마이크로컴퓨터(31)는 데이터 보유 회로(26)에 있어서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터에 기초하여 EFM 신호의 H/L 구간의 길이를 식별하는 것이다. 예를 들면 마이크로컴퓨터(31)는 통계 연산 회로(30)에 의해서 메모리(29)에 기입된 EFM 신호의 각 H/L 구간(3T∼11T)의 출현 빈도를 히스토그램화하여 지터를 정량 적으로 평가한다. 또한, 지터의 평가는 히스토그램에 한정되지 않고, 평균값이나 분산치 등의 그 밖의 통계량의 계산으로 실시해도 된다.

===광 디스크 장치의 동작의 구체예===

도 3을 기초로, 데이터 보유 회로(26)가 지연 회로(25)로부터 복수의 레벨 데이터를 일괄 보유하는 경우의 실시양태를 설명한다.

지연 회로(25) 상에서의 EFM 신호의 전파 기간이, EFM 신호의 기준 주기 1T로 될 때, 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251) 각각에는 지연 회로(25)의 입력측으로부터 출력측의 순으로, 순차적으로 지연된 신호의 레벨 데이터(H 또는 L)가 버퍼된 상태가 된다. 그래서, 데이터 보유 회로(26)는 EFM 신호의 기준 주기 1T를 경과할 때마다, 지연 회로(25)로부터 취득한 EFM 신호의 기준 주기 1T에 상당하는 복수의 레벨 데이터를 일괄 보유하는 것이다.

도 4를 기초로, 데이터 보유 회로(26)에 있어서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터가 지터의 평가에 이용되는 경우의 실시양태를 설명한다. 또한, 동도에는 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251)의 단수(S)가 4단이고, 데이터 보유 회로(26)에는 4단의 제1 지연 소자(251) 각각의 지연 신호가 공급되는 4개의 플립플롭 회로(260)가 설치되는 경우를 나타내고 있다.

동도에 도시하는 예에서는 기간 A에서 기간 F까지의 합계 6T의 기간에 걸쳐, 데이터 보유 회로(26)에 일괄 보유된 레벨 데이터군에 의해, H 레벨 기간 5T에 상당하는 EFM 신호를 관측할 수 있다.

그래서, 데이터 처리 회로(27)는 기간 A에서 기간 F까지의 사이에 데이터 보 유 회로(26)에 일괄 보유된 레벨 데이터군을 해석한다. 이 결과, 기간 A에 대응하는 레벨 데이터 "0001"에 의해서, EFM 신호의 L에서 H로의 극성 반전 타이밍을 식별한다. 또한, 기간 B에서 기간 E까지의 레벨 데이터가 연속해서 "1"인 뜻을 식별한다. 또한, 기간 F에 대응하는 레벨 데이터 "1110"에 의해서, EFM 신호의 H에서 L로의 극성 반전 타이밍을 식별한다.

이 결과, 데이터 처리 회로(27)는 기간 A 및 기간 F에서 식별된 극성 반전 타이밍에 기초하여 H 레벨 기간 5T에 상당하는 EFM 신호의 실측 길이를 나타내는 H/L 구간 데이터나, 그 H/L 구간 데이터가 H인 뜻을 나타내는 H/L 극성 데이터를 생성한다. 그리고, 이들 실측 데이터는 메모리 액세스 제어 회로(28)를 통하여 메모리(29)의 소정의 기억 영역에 기입되는 것이다.

또한, 동도에 도시하는 예에서, 기간 F에서 기간 I까지의 합계 4T의 기간에 걸쳐 데이터 보유 회로에 일괄 보유된 레벨 데이터군에 의해서, L 레벨 기간 3T에 상당하는 EFM 신호가 관측된다. 이 경우의 데이터 처리 회로(27)의 처리는 전술한 H 레벨 기간 5T에 상당하는 EFM 신호인 경우와 같기 때문에 설명을 생략한다.

===효과의 실례===

전술한 실시 형태에 있어서, 데이터 보유 회로(26)에 있어서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터는 지연 회로(25)로부터 일괄하여 취득된 데이터로서, 지연 회로(25)의 지연량에 따른 기간(예를 들면 EFM 신호의 기준 주기 1T)당의 각 샘플 데이터에 상당한다. 여기서, 마이크로컴퓨터(31)는 광 디스크 평가에 있어서 EFM 신호의 H/L 구간의 길이를 식별하기 위해, 지연 회로(25)의 지연량에 따른 기간 당의 각 샘플 데이터를 한번에 참조할 수 있다.

즉, 전술한 실시 형태에 따르면, 도 11에 도시한 카운터(18)를 이용한 종래 방식과 같이, EFM 신호의 각 H/L 구간을 카운터 클럭에 기초하여 축차 측정하는 처리가 불필요해진다. 이 때문에, EFM 신호의 각 H/L 구간의 측정 정밀도(분해능)를 향상시킬 때, 종래 방식에 있어서의 카운터 클럭의 고주파화 등에 수반하는 각종 제약이 없어진다.

또한, 전술한 실시 형태에 있어서, 데이터 보유 회로(26)를 구성하는 복수의 플립플롭 회로(260)에서는 공통의 클럭 신호에 기초하여 지연 회로(25)로부터 취득한 복수의 레벨 데이터를 일괄 보유하게 된다. 즉, 전술한 실시 형태에서는 종래 방식과 같이 카운터 클럭에 의해서 축차 측정을 하지 않는다.

따라서, 종래 방식과 같은 측정 정밀도를 얻을 때, 복수의 플립플롭 회로(260)에 이용되는 공통의 클럭 신호는 종래 방식의 카운터 클럭과 비교하여 저주파인 클럭을 이용할 수 있다. 예를 들면 종래 방식에 있어서의 카운터 클럭의 주파수를 "f1", 취득되는 레벨 데이터의 수 즉 플립플롭 회로(260)의 수를 "n"으로 한 경우, 전술한 실시 형태에서는 종래 방식과 같은 측정 정밀도를 얻을 때에는 복수의 플립플롭 회로(260)에 이용되는 공통의 클럭 신호는 "f1/n"이 된다.

또한, 전술한 실시 형태에 있어서, 데이터 보유 회로(26)는 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251) 각각으로부터 취득한 레벨 데이터를 일괄 보유할 경우, EFM 신호의 각 H/L 구간의 측정 정밀도를 최대로 할 수 있다.

또한, 전술한 실시 형태에 있어서, 데이터 보유 회로(26)가, 지연 회로(25) 를 구성하는 제1 지연 소자(251) 중 소정수 간격으로 취득한 레벨 데이터를 일괄 보유할 경우, 데이터 보유 회로(26)의 플립플롭 회로(260)의 개수를 감소시켜 회로 규모를 축소할 수 있다.

<제2 실시 형태>

===PLL 회로에 의한 지연 조정===

그런데, 전술한 실시 형태에 있어서, 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251)는 온도 변화나 제조 편차 등의 요인에 의해서 각 지연량에 편차가 생길 수 있다. 따라서, 지연 회로(25)의 지연량을 고정밀도로 설정하고 싶은 경우에는 도 5에 도시하는 것 같은 지연 회로(25)의 지연량을 제어하기 위해 PLL 회로(253)를 설치하기로 한다.

우선, 도 5에 도시하는 PLL 회로(253)를 설치한 경우의 지연 회로(25)의 구성을 설명한다.

PLL 회로(253)는 VCO(254), 제1 분주 회로(258), 제2 분주 회로(259), 위상 비교기(2501), LPF(2502)를 갖는다.

VCO(254)는 복수의 제2 지연 소자(255)가 링 형상으로 접속된다. 구체적으로는 복수의 제2 지연 소자(255)가 직렬 접속되어 있고, 최종단의 제2 지연 소자(255)의 출력이 인버터 소자(256)를 통하여 초단의 제2 지연 소자(255)의 입력에 부귀환되게 된다.

또한, 제2 지연 소자(255) 각각의 한 쪽 전원 단자에는 바이어스 회로(257)에서 발생한 바이어스 전압(Vb)이 공급되고, 제2 지연 소자(255) 각각의 다른 쪽 전원 단자에는 LPF(2502)로부터 제어 전압(Vt)이 공급되어 구성된다. 즉, VCO(254)는 각 제2 지연 소자(255)의 지연량이 제어 전압(Vt)에 기초하여 제어되는 것이다.

제1 분주 회로(258)는 VCO(254)의 출력 신호를 "1/n"로 분주하는 것이다. 제2 분주 회로(259)는 PLL 회로(253)의 외부로부터 공급되는 기준 클럭 신호를 "1/m"로 분주하는 것이다.

위상 비교기(2501)는 제1 분주 회로(258)의 분주 신호와, 제2 분주 회로(259)의 분주 신호의 위상 비교를 하는 것이다. 또한, 제1 분주 회로(258) 및 제2 분주 회로(259)를 설치하지 않은 경우, 위상 비교기(2501)는 VCO(254)의 출력 신호와 기준 클럭 신호의 위상 비교를 하게 된다.

LPF(2502)는 위상 비교기(2501)의 출력 신호에 따른 제어 전압(Vt)을 생성하는 것이다. 또한, 위상 비교기(2501)에 있어서 생성된 제어 신호는 일반적으로 차지 펌프 회로를 통하여 LPF(2502)에 출력된다.

지연 회로(25)는 전술한 바와 같이, 직렬 접속된 제1 지연 소자(251)에 의해서 EFM 신호를 순차적으로 지연시키는 것이다. 또한, 제1 지연 소자(251) 각각의 한 쪽 전원 단자에는 바이어스 회로(257)로부터 공급된 바이어스 전압(Vb)이 공급되고, 제1 지연 소자(251) 각각의 다른 쪽 전원 단자에는 LPF(2502)로부터 제어 전압(Vt)이 공급된다.

다음으로, PLL 회로(253)를 설치한 경우의 지연 회로(25)의 동작을 설명한다.

우선, PLL 회로(253)가, 위상 비교기(2501)에 있어서 위상차를 없애도록 제어 전압(Vt)의 제어를 한 결과, 로크 상태가 된다. 이 때, VCO(254)의 출력 주파수 f1, 기준 클럭 신호의 주파수 f0으로 하면, 수학식 1의 관계가 성립한다.

한편, VCO(254)에서는 LPF(2502)로부터의 제어 전압(Vt)에 의해서 제2 지연 소자(255) 각각의 지연량(dt)이 설정되어 있고, 초단의 제2 지연 소자(255)에 입력된 신호가 각 제2 지연 소자(255)에 의해서 순차적으로 지연된다. 그리고, 최종단의 제2 지연 소자(255)에서는 신호가 반전되어 초단의 제2 지연 소자(255)에 귀환된다. 따라서, 수학식 2의 관계가 성립한다.

T/2 : VCO(254) 출력의 반주기

dt : 지연량

S : 제2 지연 소자(255)의 단수

그리고, 전술한 수학식 1 및 수학식 2를 이용하여, 다음의 수학식 3의 관계가 성립한다.

즉, 제2 지연 소자의 단수(S)와 분주비(m, n)를 결정하면, 제2 지연 소자(255)의 지연량(dt)은 기준 클럭 신호의 주파수(f0)에만 의존하는 일정한 값으로 된다.

또한, 지연 회로(25)를 구성하는 제1 지연 소자(251)는 VCO(254)를 구성하는 제2 지연 소자(255)와 같은 구성이고, 제2 지연 소자(255)와 같이 바이어스 전압(Vb) 및 제어 전압(Vt)이 공급된다. 이 때문에, 지연 회로(25)의 제1 지연 소자(251)의 지연량은 VCO(254)의 제2 지연 소자(255)의 지연량(dt)과 동일해지고, PLL 회로(253)의 로크 시에는 기준 클럭 신호의 주파수(f0)에 의존한 일정한 값이 되는 것이다.

이와 같이, 지연 회로(25)에 PLL 회로(253)를 설치함으로써, 온도 변화나 제조 편차 등의 여러 가지 요인에 따른 제1 지연 소자(251)의 지연량의 변동을 억제하여 안정화시킬 수 있다. 또한, 이 결과, EFM 신호의 각 H/L 구간의 측정을 안정적으로 행하는 것이 가능해진다.

<제3 실시 형태>

===라이트 스트래티지 회로와의 공용화===

도 6은 본 발명의 그 밖의 실시 형태에 따른 광 디스크 장치(130)의 구성을 도시하는 도면이다. 또한, 도 1에 도시하는 광 디스크 장치(110)와 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 부호를 붙이고 설명은 생략한다.

광 디스크 장치(130)는 광 픽업(20), 아날로그 신호 처리 회로(140), 디지털 신호 처리 회로(150), 마이크로컴퓨터(31)에 의해서 구성되고, 광 디스크(120)에 레이저광을 조사하여 정보의 기록 재생을 행하는 장치로 한다.

광 픽업(20)은 LD(201), PD(203), LD 구동 회로(204), 기타 대물 렌즈나 각종 서보 기구를 구비한다.

LD(201)는 LD 구동 회로(204)로부터 공급되는 구동 전류(ILD)에 기초하여 광 디스크(120)에 대해서 기록/재생을 하기 위한 레이저광을 출사하는 발광 소자이다. 또한, LD(201)의 구동 방식(라이트 스트래티지)으로서는 광 디스크(120)가 추기형 광 디스크인 경우, 도 7에 도시하는 것 같은 멀티 펄스 변조 방식의 패턴이 이용된다. 즉, 톱 펄스와 멀티 펄스에 의한 기록 펄스에 의해서 1개의 기록 마크를 생성하도록 하여, 기록 마크에 생기는 열 분포를 제어하는 것이다. 또한, 기록 펄스는 라이트 파워(Pw)와 바이어스 파워(Pb)의 2치의 파워 레벨로 형성된다.

PD(203)는 광 디스크(120)로부터의 반사광의 일부를 수광하여, 이 수광 광량에 비례한 수광 전류(IPD)를 생성하는 수광 소자이다. 이 수광 전류(IPD)는 전압으로 변환되어 RF 앰프(21)에 공급된다. 이 결과, RF 앰프(21)에서는 RF 신호나 각종 서보 제어 신호가 생성된다.

LD 구동 회로(204)는 스위치(208, 212)의 ON/OFF를 전환함으로써 생성되는 변조 신호(Vmod)에 기초하여 LD(201)를 구동하기 위한 구동 전류(ILD)를 생성한다.

아날로그 신호 처리 회로(140)는 광 디스크 구동용 아날로그 신호 처리를 하는 것이다. 예를 들면 아날로그 신호 처리 회로(140)는 RF 신호나 각종 서보 제어 신호를 생성하는 RF 앰프(21)를 갖는다.

라이트 파워 설정부(207)는 라이트 파워 신호(VWDC)를 생성하여, 스위치 (208)가 ON한 경우에 LD 구동 회로(204)에 공급된다.

바이어스 파워 설정부(211)는 바이어스 파워 신호(VBDC)를 생성하여, 스위치(212)가 ON한 경우에 LD 구동 회로(204)에 공급된다.

따라서, LD 구동 회로(204)는 라이트 파워 설정부(207)에서 생성된 라이트 파워 신호(VWDC)와, 바이어스 파워 설정부(211)에서 생성된 바이어스 파워 신호(VBDC)가 합성된 변조 신호(Vmod)에 기초하여 LD(201)를 구동하게 된다. 이 결과, 도 7에 도시한 바와 같이 라이트 파워값(Pw)과 바이어스 파워값(Pb)으로 형성되는 기록 펄스가 LD(201)로부터 출력된다.

디지털 신호 처리 회로(150)는 디지털 서보 처리나 인코드/디코드 처리 등, 광 디스크 제어용 디지털 신호 처리를 하는 것이다. 즉, 도 1에 도시하는 점선 테두리 내의 광 픽업(20) 및 RF 앰프(21)를 제외한 구성 요소가, 디지털 신호 처리 회로(150)에 설치된다. 또한, 광 디스크 장치(130)는 광 디스크 기록을 행하기 위해 인코더 회로(32), 라이트 스트래티지 회로(33)를 더 갖는다.

인코더 회로(32)는 외부 장치(퍼스널 컴퓨터 등)로부터 공급되는 광 디스크(120)에의 기록 데이터(화상/음성/영상 데이터 등)에 대해서, 광 디스크(120)의 규격에 따른 소정의 변조 처리를 하는 것이다.

라이트 스트래티지 회로(33)는 인코더 회로(32)에 의해서 기록 데이터에 대해서 소정의 변조 처리를 실시한 변조 데이터에 기초하여 변조 스위치 신호(Smod)를 생성하고, 변조 스위치 신호(Smod)를 스위치(208, 212)에 공급한다. 이 결과, 변조 스위치 신호(Smod)에 기초한 스위치(208, 212)의 ON/OFF 전환에 의해서, LD 구동 회로(204)에 공급되는 변조 신호(Vmod), 즉, 광 디스크(120)에 기록을 하기 위한 기록 펄스가 생성된다.

또한, 라이트 스트래티지 회로(33)에는 광 디스크(120)의 종류나 회전 속도에 의해서 기록 상태가 변화하는 것에의 대책으로서, 라이트 스트래티지 회로(33)에 의해서 생성된 기록 펄스를 레이저 기구에 직접 송출하는 것이 아니라, 해당 기록 펄스를 지연시켜 레이저 기구에 송출하기 위한 지연 제어 회로(34) 및 셀렉터(35)를 설치하는 것이 제안되어 있다. 예를 들면 특허문헌 2의 도 2에 개시된다.

지연 제어 회로(34)는 도 5에 도시한 지연 회로(25)와 같이 지연 소자가 복수단 직렬로 접속되어 구성된 회로와, 해당 지연 소자의 지연량을 제어하기 위한 PLL 회로를 갖는다. 지연 제어 회로(34)는 인코더 회로(32)에서 생성된 EFM 신호 등, 기록 펄스의 생성원으로 되는 신호를, PLL 회로에 의해서 지연량이 설정된 직렬 접속의 지연 소자에 의해서 순차적으로 지연시킨다.

셀렉터(35)는 지연 제어 회로(34)에 있어서의 직렬 접속의 지연 소자로부터 어느 하나의 출력을 선택하여 지연 신호로서 취출하는 것이다. 이 지연 신호에 기초하여 여러 가지 기록 상태에 적합한 변조 스위치 신호(Smod), 나아가서는 기록 펄스가 생성되게 된다.

그래서, 광 디스크 장치(130)에서는 도 5에 도시한 지연 회로(25)를, 도 5에 도시한 PLL 회로(253)를 설치한 경우의 지연 회로(25)와 동일 구성인 라이트 스트래티지 회로(33)의 지연 제어 회로(34)와 공용하는 것으로 한다. 즉, 2치화 회로(23)에 있어서 생성된 EFM 신호는 지연 제어 회로(34)에 있어서의 직렬 접속의 지 연 소자의 입력측에 공급되어 순차적으로 지연시키게 된다. 한편, 데이터 보유 회로(26)는 지연 제어 회로(34)에 있어서의 직렬 접속의 지연 소자 중 어느 하나로부터 얻어진 EFM 신호의 복수의 레벨 데이터를 일괄 보유하게 된다. 이 결과, 광 디스크 장치(130)에는 도 5에 도시한 PLL 회로(253)를 설치한 경우의 지연 회로(25)를 새로 설치할 필요가 없게 된다. 그 때문에, 디지털 신호 처리 회로(150)의 회로 규모의 삭감이나, 소비 전력의 저감화를 도모할 수 있다.

<제4 실시 형태>

===Gray Zone===

전술한 실시 형태에 있어서, 데이터 보유 회로(26)를 구성하는 플립플롭 회로(260)에서는 입력 데이터(레벨 데이터)와 클럭 신호는 비동기이기 때문에, EFM 신호가 "H에서 L로" 또는 "L에서 H로" 극성 반전되는 극성 반전 타이밍과, 클럭 신호의 엣지가 "H에서 L로" 또는 "L에서 H로" 전환되는 엣지 타이밍의 시간차가 극히 작은 경우가 생길 수 있다. 도 8은 이 경우에 있어서의 지연 회로(25), 데이터 보유 회로(26)의 동작 모습을 도시하는 도면이다.

도 8에 도시한 바와 같이 클럭 신호의 엣지 타이밍 부근에 상당하는 플립플롭 회로(260)에서는 셋업 타임 또는 홀드 타임에 기인하여, H 또는 L 중 어느 레벨이 보유된 것인지 부정으로 되는 사상이 생길 수 있다. 여기서, 플립플롭 회로(260)에 공급되는 클럭 신호의 엣지 타이밍을 기준으로 하여, 셋업 타임과 홀드 타임을 포함시킨 기간을 『Gray Zone』이라 칭한다.

===Gray Zone 대책===

전술한 Gray Zone의 대책으로서, 데이터 보유 회로(26)에 있어서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터 각각에 대해서, 연속하는 전후의 두 개의 레벨 데이터와의 상관 계수를 산정함과 함께, 해당 상관 계수에 기초하여 EFM 신호의 레벨의 극성 반전 타이밍을 식별한다.

그래서 데이터 처리 회로(27)는 전술한 상관 계수를 산정함과 함께, 산정한 상관 계수에 기초하여 EFM 신호의 레벨의 극성 반전 타이밍을 식별한다. 따라서, 마이크로컴퓨터(31)는 식별된 EFM 신호의 극성 반전 타이밍에 기초하여 Gray Zone을 의식하지 않고, EFM 신호의 H/L 구간의 길이를 식별할 수 있다. 이 결과, 지터의 평가 정밀도가 더 한층 향상된다.

도 9는 데이터 처리 회로(27)에 설치한 Gray Zone 대책의 구조의 일례를 도시하는 도면이다.

데이터 처리 회로(27)는 가산기(271), 가산 결과 저장 레지스터(272), 임계값 저장 레지스터(273), 비교기(274), 비교 결과 저장 레지스터(275)를 갖는 것으로 한다.

가산기(271)는 데이터 보유 회로(26)의 플립플롭 회로(260) 각각에 대응시켜 배치된다. 또한, 가산기(271)는 데이터 보유 회로(26)의 플립플롭 회로(260) 각각에 보유되는 레벨 데이터군 중, 자신에게 대응하는 레벨 데이터와, 해당 레벨 데이터와 시계열적으로 연속하는 전후의 두 개의 레벨 데이터의 가산을 한다. 가산 결과는 가산 결과 저장 레지스터(272)에 저장되는 것으로 한다.

또한, 지연 회로(25)의 출력측의 레벨 데이터를 보유하는 플립플롭 회로 (260)에 대응된 가산기(271)에서는 전 사이클(EFM 신호의 기준 주기 1T 전)에 데이터 보유 회로(26)에 보유된 지연 회로(25)의 입력측의 레벨 데이터를, 자신에게 대응하는 레벨 데이터에 대해서 시계열적으로 전의 레벨 데이터로서 이용한다.

비교기(274)는 가산 결과 저장 레지스터(272) 각각에 저장된 가산 결과와, 임계값 저장 레지스터(273)에 저장된 소정의 임계값의 비교를 한다. 이 비교 결과는 비교 결과 저장 레지스터(275)에 저장되는 것으로 한다.

다음으로, 전술한 데이터 처리 회로(27)에 의해서, EFM 신호의 극성 반전 타이밍이 식별되는 뜻을 설명한다.

예를 들면 도 9에 도시한 바와 같이 Gray Zone에 대응하는 레벨 데이터를 보유하는 플립플롭 회로(260)가 2개인 경우로 한다. 이 경우, Gray Zone에 대응하는 2개의 레벨 데이터는 "1" 또는 "0" 중 어느 레벨로도 될 수 있는 부정의 상태가 된다. 또한, 그 2개의 플립플롭 회로(260)에 대해서 시계열적으로 전의 레벨 데이터를 보유하는 플립플롭 회로(260)군과, 시계열적으로 후의 레벨 데이터를 보유하는 플립플롭 회로(260)군에서는 상호 상반되는 레벨을 유지하게 된다.

여기서, 데이터 보유 회로(26)에 보유된 복수의 레벨 데이터에 있어서, H에서 L로 전환되는 극성 반전 타이밍을 갖는 것으로 한다. 이 때, Gray Zone에 대응하는 2개의 레벨 데이터를 포함하지 않는 시계열적으로 연속한 3개의 레벨 데이터는 「"1", "1", "1"」 또는「"0", "O", "0"」으로 된다. 이 때, 산정되는 상관 계수는 "3" 또는 "0"이다.

또한, Gray Zone에 대응하는 2개의 레벨 데이터를 양쪽 포함하는 시계열적으 로 연속한 3개의 레벨 데이터는 「"1", "0", "1"」 또는「"0", "1", "0"」으로 된다. 이 때, 산정되는 상관 계수는 "2" 또는 "1"이다.

따라서, 이 경우, Gray Zone에 대응하는 2개의 레벨 데이터의 상관 계수는 시계열적으로 「"2"에서 "1"로」반드시 전환되게 된다. 그리고, 데이터 처리 회로(27)는 이 사상을 이용하여 도 10에 도시한 바와 같이 시계열적으로 연속한 3개의 레벨 데이터의 가산 결과인 상관 계수("3", "2", "1", "0")와, Gray Zone에 대응하는 2개의 레벨 데이터의 전환를 식별하기 위한 임계값 "1.5"의 비교를 한다. 이 결과, 데이터 처리 회로(27)는 Gray Zone을 의식하지 않고, EFM 신호의 극성 반전 타이밍을 보다 확실하게 식별하는 것이 가능해진다.

또한, 데이터 처리 회로(27)는 시계열적으로 연속한 3개의 레벨 데이터와, 그것에 대응하는 상관 계수를 대응시킨 테이블 정보를 미리 기억해도 된다. 즉, 데이터 처리 회로(27)는 데이터 보유 회로(26)에 보유된 시계열적으로 연속한 3개의 레벨 데이터를 취득함과 함께, 그 취득한 3개의 레벨 데이터에 대응하는 상관 계수를, 미리 기억해 둔 테이블 정보로부터 구함으로써 EFM 신호의 극성 반전 타이밍을 보다 확실하게 식별할 수 있다.

이상, 본 발명의 실시 형태에 대해서 설명했지만, 전술한 실시 형태는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위한 것이고, 본 발명을 한정해서 해석하기 위한 것이 아니다. 본 발명은 그 취지를 일탈하지 않고서 변경/개량될 수 있음과 함께, 그 등가물도 포함되는 것이다.

본 발명에 따르면, 지터의 평가 정밀도의 향상화에 적합한 광 디스크 장치 및 광 디스크의 평가 방법을 제공할 수 있다.

Claims

광 디스크에 기록된 재생 신호에 기초하여 상기 광 디스크의 평가를 행하는 광 디스크 장치에 있어서,

복수의 제1 지연 소자를 직렬 접속하여 구성되고, 상기 재생 신호의 2치화 신호를 상기 직렬 접속의 한 쪽의 측으로부터 공급하여 다른 쪽의 측을 향해서 순차적으로 지연시키는 지연 회로와,

상기 지연 회로에서의 상기 복수의 제1 지연 소자 중 적어도 하나로부터 취득한 상기 2치화 신호의 레벨 데이터를 보유하는 데이터 보유 회로와,

상기 레벨 데이터에 기초하여 상기 2치화 신호가 한 쪽 레벨 또는 다른 쪽 레벨을 나타내는 뜻을 식별하는 프로세서

를 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제1항에 있어서,

기준 클럭과 출력 신호에 기초하여 제어 전압을 생성하고, 상기 제어 전압에 기초하여 발진하는 상기 출력 신호를 생성하는 PLL 회로를 더 갖고 있고,

상기 지연 회로는 상기 제어 전압에 기초하여 상기 각 제1 지연 소자의 지연량을 제어하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,

상기 데이터 보유 회로가 상기 레벨 데이터의 수에 따른 복수의 플립플롭 회로를 갖고 있고,

상기 복수의 플립플롭 회로는 상기 지연 회로로부터 취득한 상기 2치화 신호의 복수의 레벨 데이터 각각이 입력되어 보유되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제3항에 있어서,

상기 데이터 보유 회로가 상기 지연 회로의 상기 제1 지연 소자 각각으로부터 취득한 상기 레벨 데이터를 일괄 보유하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제3항에 있어서,

상기 데이터 보유 회로가 상기 지연 회로의 상기 제1 지연 소자 중 소정수 간격으로 취득한 상기 레벨 데이터를 일괄 보유하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,

상기 광 디스크에의 기록 데이터에 대해서 소정의 변조 처리를 실시한 변조 데이터에 기초하여 상기 광 디스크에 기록을 하기 위한 기록 펄스를 생성함과 함께, 상기 기록 펄스의 생성원으로 되는 신호의 지연량을 제어하기 위한 지연 제어 회로를 설치한 라이트 스트래티지 회로를 갖고 있고,

상기 지연 회로는 상기 라이트 스트래티지 회로에 설치된 상기 지연 제어 회로와 공용화한 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제3항에 있어서,

상기 데이터 보유 회로에서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터 각각의, 연속하는 복수의 레벨 데이터와의 상관 계수에 기초하여 상기 보유된 복수의 레벨 데이터의 극성을 식별하는 데이터 처리 회로를 더 갖고 있고,

상기 프로세서는 상기 데이터 처리 회로에서 식별된 극성에 기초하여 상기 2치화 신호가 한 쪽 레벨 및 다른 쪽 레벨을 나타내는 뜻을 식별하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제7항에 있어서,

상기 데이터 처리 회로는 상기 데이터 보유 회로에서 일괄 보유된 복수의 레벨 데이터 각각에 대해서, 전후의 연속하는 두 개의 레벨 데이터와 가산한 결과를 상기 상관 계수로 하고, 상기 가산한 결과와 소정의 임계값의 비교 결과에 기초하여 상기 극성을 식별하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
광 디스크에 기록된 재생 신호에 기초하여 행하는 광 디스크의 평가 방법에있어서,

직렬 접속된 복수의 제1 지연 소자에 대해서 상기 재생 신호의 2치화 신호를 상기 직렬 접속의 한 쪽의 측으로부터 공급하여 다른 쪽의 측을 향해서 순차적으로 지연시키는 공정과,

상기 직렬 접속에서의 상기 복수의 제1 지연 소자 중 적어도 하나로부터 취득한 상기 2치화 신호의 레벨 데이터를 보유하는 공정과,

상기 레벨 데이터에 기초하여 상기 2치화 신호가 한 쪽 레벨 또는 다른 쪽 레벨을 나타내는 뜻을 식별하는 공정

을 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 평가 방법.