JP3239569B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JP3239569B2
JP3239569B2 JP31451593A JP31451593A JP3239569B2 JP 3239569 B2 JP3239569 B2 JP 3239569B2 JP 31451593 A JP31451593 A JP 31451593A JP 31451593 A JP31451593 A JP 31451593A JP 3239569 B2 JP3239569 B2 JP 3239569B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクへデータ
を記録することを可能にした光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクのひとつの応用として、追記
型(WO)光ディスク(以下CD−Rと称する)が提案
されている。このCD−Rは、例えばポリカーボネイト
のディスク状基板に有機色素を付着して情報記録面を形
成し、この情報記録面を保護層で保護する。これによ
り、光ディスク装置は、間欠的に光ビームを照射して情
報記録面の有機色素を熱変化させ、これにより情報記録
面に反射率の低い領域を形成する。
【0003】以下、このCD−Rのデータ構造につい
て、説明する。図9は、CD−Rの最内周部分のデータ
構造を示す。この部分は、リードイン領域よりも内周側
で中心に向かって 00(分):00(秒):00(フレー
ム)から00:35:36までの時間で表されるアドレス決め
がなされている。ここで、1秒は光ディスク同様に75
フレームである。さらに、CD−Rは、トラッキング用
のウォブリング溝を有し、このウォブリング溝をFM変
調することにより、絶対時間(ATIP)が記録され
る。つまり、光ディスク上の絶対アドレスは、予め記録
されている。
【0004】51は、光量調整領域(PCA)を示す。
このPCA51は、記録時の光ビームの光量調整のため
のテスト領域52と、テスト領域52の利用状態を記録
するためのカウント領域53に分けられる。テスト領域
52は、(00:15:35〜00:35:35)の範囲、すなわち
1500フレームから構成され、カウント領域53は、(0
0:13:55〜00:15:05)の範囲、すなわち100 フレー
ムから構成される。
【0005】テスト領域52は、100 の領域(パーテー
ションと称する)54に分割され、従って、1つのパー
テーションが、15フレームから構成される。また、カ
ウント領域53もテスト領域52と同様に100 の領域
(パーテーションと称する)54に分割される。
【0006】テスト領域52の各パーテーション54に
は、記録時の光ビームの光量を最適に調整するために、
光ビームの最大光量から徐々に光量が低くなるテストデ
ータが記録される。このとき、このテスト領域52のパ
ーテーションに対応した、カウント領域53のパーテー
ションに記録済みのマークを付ける。このカウント領域
53のパーテーションとテスト領域52のパーテーショ
ンは、1対1で対応しカウント領域53のパーテーショ
ンを調べることで、このカウント領域53のパーテーシ
ョンに対応したテスト領域52のパーテーションに記録
済みか否かが判断できる。図9は、第1パーテーション
から第3パーテーションまでが使用済みの例を示してい
る。
【0007】55は、1000フレームの大きさのプロ
グラムメモリ領域(PMA)を示す。このPMA55
は、ディスク識別情報と記録途中のトラックの一部のデ
ータが記録され、すなわち仮の覚書の役割を果たしてい
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述のようにCD−R
の構成において、記録するためのPCA51の領域は、
100 回分の領域が用意されている。しかしながら、100
回を超える記録を行う際、最適な記録時の光ビームの光
量調整を行うための領域がPCA51のみでは、不足す
る問題点があった。特に、データを記録する前に必ず最
適な記録時の光ビームの光量調整を行うシステムでは、
記録する回数が制限される。
【0009】一方、最適な記録時の光ビームの光量調整
を省略して、データの記録を行った場合、最適な光ビー
ムの光量でデータが記録されていないため、データのエ
ラーレートが悪くなり、最悪の場合、記録したデータが
読めなくなることがある。
【0010】したがって、この発明の目的は、以上の問
題点を解決し、多数回の光ビームの光量調整を可能とし
た光ディスク装置を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明は、追記型光デ
ィスクの記録面内周側の光量調整用領域に光量調整用の
テストデータを記録し、テストデータを再生すること
によって記録時の光ビームの光量を調整するようにし
た、光ディスク装置において、前記光量調整用領域以外
のデータ記録領域の一部を該データ記録領域の記録形式
に従って特定し、該特定されたデータ記録領域の一部に
対して前記データ記録領域の記録データ形式に従って
量調整用のテストデータを記録し、該テストデータを再
生することによって、記録時の光ビームの光量を調整す
るようにしたことを特徴とする光ディスク装置である。
【0012】
【作用】この発明を用いることによりCD−Rにおい
て、100 回を超える最適な光ビームの光量調整が可能と
なる。
【0013】
【実施例】以下、この発明による光ディスク装置を図面
を参照し、説明する。最初に、図1を用いて、CD−R
のデータ構造を全体的に説明する。1は、セッションと
呼ばれる追記されるデータ単位を示す。CD−Rは、P
CA51、PMA55および複数のセッション1から構
成される。各セッションは、プログラム領域2とその前
後のリードイン領域3とリードアウト領域4で構成され
ている。
【0014】図1Bには、このセッション1の詳細なデ
ータ構造を示す。リードイン領域3とリードアウト領域
4に挟まれたプログラム領域2は、記録されるデータ数
に応じてトラック番号TNOが与えられる。この実施例
では、1セッションが3個のデータトラックの場合を示
している。トラック番号TNOで区切られる各トラック
5は、インデックスで区別される2つの領域から構成さ
れる。
【0015】図1Cには、一つのトラック5の詳細なデ
ータ構造を示す。インデックスが `00' の領域6に、ト
ラックディスクリプタが記録される。インデックスが `
01'の領域7は、ユーザデータの記録領域であり、パケ
ット8を単位とするものである。この領域7に対して所
望のデータを記録する方法は、3通り用意さている。す
なわち、トラックアットワンス方式、固定長パケット方
式、可変長パケット方式であり、これらの方式は適宜選
択することが可能である。トラックディスクプリタに
は、これらの記録方式を区別する情報を有する。図1
は、この一実施例として、固定長パケット方式、すなわ
ち1パケットの長さが32ブロックで一定のデータ構造
を示している。
【0016】図1Dには、パケット8の詳細なデータ構
造を示す。パケット8の先頭には、リンクブロック領域
9が位置する。このリンクブロック領域9は、ランイン
領域と共に前のパケットとの接続部分を構成する。この
図示の例は、パケット長を32ブロックとする固定長パ
ケット方式である。ランイン領域10とランアウト領域
11に挟まれてユーザデータ領域12は、32ブロック
で構成されている。このときランイン領域10とランア
ウト領域11は、光ディスクのエラー訂正符号(クロス
インターリーブリードソロモン符号)の構成上、データ
を記録することができない、ガード領域である。
【0017】図1Dに示す、パケット8は、固定長パケ
ットの場合である。次に、トラックアットワンス方式お
よび可変長パケット方式を説明する。図2は、トラック
アットワンス方式のパケットのデータ構造を示す。イン
デックスが `00' の領域6、すなわちトラックディスク
リプタには、このパケットがトラックアットワンス方式
であることを指示する情報が記録されている。インデッ
クスが `01' の領域7は、ユーザデータの記録領域であ
り、トラックアットワンス方式では、ランアウト領域1
1まで擬似的信号(例えば、全て `0' のデータ)が記
録されている。リンクブロックス15は、後述するよう
に、リンクブロック領域9、ランイン領域10、ランア
ウト領域11より構成されている。
【0018】図3は、可変長パケット方式のパケットの
データ構造を示す。インデックスが`00' の領域6、す
なわちトラックディスクリプタには、このパケットが可
変長パケット方式であることを指示する情報が記録され
ている。インデックスが `01' の領域7は、ユーザデー
タの記録領域であり、夫々のパケットは、8ブロック
(ユーザデータ領域12が1ブロック)以上の任意のブ
ロック数とされている。リンクブロックス15は、後述
するように、リンクブロック領域9、ランイン領域1
0、ランアウト領域11より構成されている。
【0019】図4は、固定長パケット方式のパケットの
データ構造を示す。インデックスが`00' の領域6、す
なわちトラックディスクリプタには、このパケットが固
定長パケット方式であること、およびパケットの大き
さ、図示の例では、パケット長=18ブロックが記録さ
れている。インデックスが `01' の領域7は、ユーザデ
ータの記録領域であり、トラックディスクリプタに記録
されているパケットのブロック数から構成されている。
リンクブロックス15は、後述するように、リンクブロ
ック領域9、ランイン領域10、ランアウト領域11よ
り構成されている。
【0020】図5は、上述のリンクブロックス15のデ
ータ構造を詳細に示す。このリンクブロックス15は、
リンクブロック領域9が1ブロック、ランイン領域10
が4ブロック、ランアウト領域11が2ブロック、すな
わち合計7ブロックより構成されている。リンクブロッ
クス15のデータ構造は、現パケットのリンクブロック
ス15は、リンクブロック領域9およびランイン領域1
0であり、現パケットの1つ前のパケットのリンクブロ
ックス15は、ランアウト領域11であることを図5に
示す。
【0021】この一実施例では、PCA51に加えて、
プログラム領域2、すなわちユーザデータ領域12をも
光ビームの光量調整領域として使用するものである。よ
り具体的には、特定のトラックを光量調整用として用
い、上述のパケット8を1つの単位として、光ビームの
光量調整を行う。
【0022】一例として、図1中のプログラム領域2の
所望のトラックが光ビームの光量調整用として用いられ
る。このトラックが光量調整用であることを指示する情
報(所定のコード)がトラックディスクリプタのランイ
ン領域10およびランアウト領域11の中に記録されて
いる。このランイン領域10およびランアウト領域11
は、情報未記録領域なので、通常記録されているデータ
は、全て‘0'または全て‘1'が記録されている。この
発明では、このランイン領域10およびまたはランア
ウト領域11に全て‘0'または 全て‘1'以外のデー
タを記録することにより、このトラックが光量調整領域
であることが識別される。
【0023】上述のように、このランイン領域10およ
びランアウト領域11は、データが記録できない区間で
あるが、余裕を見て4ブロックは、余分に設けられてお
り、この点からデータをこれらの領域に記録することが
可能である。
【0024】この発明の光ディスク装置において、光ビ
ームの光量調整は、光量調整領域(PCA)51内のテ
スト領域52およびプログラム領域2において行われ
る。このとき、このプログラム領域が光量調整用のプロ
グラム領域か否かの識別は、光ディスク装置が検出す
る。また、この光量調整用のプログラム領域内におい
て、光ビームの光量調整が施された、最後尾の識別も、
光ディスク装置が再生RF信号のレベル変化から検出す
る。
【0025】光量調整用トラックの記録方式は、固定長
パケット方式および可変長パケット方式の何れでも良
い。そして、トラック長を2分に設定すると、トラック
内に1000パケットを記録することができ、従って、1000
回の光量調整が可能となる。
【0026】次に、この発明に関する光ディスク装置に
ついて図面を参照して説明する。図6は、光ディスク装
置のブロック図の概略図を示し、光ディスク21は、例
えば有機色素で情報記録面を形成したディスク状記録媒
体であり、サーボ回路23によってスピンドルモータ2
2を回転制御することにより、光ディスク21を所定の
線速度一定(CLV)で回転駆動する。光ディスク21
に対してデータを記録し、光ディスク21からデータを
再生するために、スレッド24上に光学ブロック25が
設けられている。スレッド24は、光ディスク21の径
方向にリニアモータ等により送られるものである。
【0027】光ディスク21に光ビームを照射して得ら
れる反射光を受光素子(例えば4分割ディテクタ)で受
光し、光学ブロック25は、この受光素子の出力信号を
増幅してマトリックス回路26へ出力する。マトリック
ス回路26は、4分割ディテクタからの各ディテクタか
ら供給された信号を加減算処理し、再生RF信号、フォ
ーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を生成す
る。生成された信号は、マトリックス回路26からサー
ボ回路23へ供給される。サーボ回路23は、供給され
たフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を使
用して、スレッド24のディスク径方向の送りと光学ブ
ロック25のトラッキングおよびフォーカス制御のため
の制御信号を発生する。
【0028】これによりトラッキング制御およびフォー
カス制御が行われ、これらの制御により所定の位置に確
実にピットを形成し得るようになされ、さらに再生時、
確実にデータを再生し得るようになされている。さら
に、光ディスク21は、予めピット形成位置と対応する
グルーブをウォブリングして形成するようになされ、こ
のグルーブに基づいてトラッキングエラー信号を生成す
るようになされている。さらに、ウォブリングがFM変
調され、これを復調することによって、光ディスク21
の位置情報(ATIP)を検出するようになされてい
る。
【0029】この位置情報は、CPUブロック29へ供
給され、CPUブロック29は、この位置情報を基準に
して光ディスク21に対応するアクセスを制御し、これ
により光ディスク装置は、所定の領域に順次データを記
録し得るようになされている。
【0030】ここで、記録時においては、有機色素を熱
変化させてピットを形成することにより、データを記録
する。光ディスク装置においては、同一の条件でレーザ
ダイオードを駆動した場合でも、周囲温度、有機色素の
感度に応じてピットの大きさが変化する特徴がある。こ
のため光ディスク装置においては、光ビームの光量を順
次切り換えて光量調整領域にテストデータを記録した
後、このテストデータを再生してアシンメトリを検出す
る。さらに光ディスク装置は、このアシンメトリ検出結
果を基準にしてアシンメトリが最適値になる光ビームの
光量の制御信号データを選択し、最適な光量で所望のデ
ータを記録する。これにより光ディスク装置は、周囲温
度等が変化した場合でも、常に一定形状のピットを形成
し、再生信号のジッタ等を低減し得るようになされてい
る。
【0031】ここで、アシンメトリとは、ピットとラン
ドとの時間平均の比を表し、再生データにおいて論理 `
0' および `1' の発生確率が等しくなるスライスレベ
ルと再生信号のピークレベル、ボトムレベルとの関係式
で表される。スライスレベルからピークレベルを `A'
、スライスレベルからボトムレベルを `B' としてア
シンメトリAsyは式(1)で表される。
【0032】 Asy=(B−A)/(2×(A+B)) (1)
【0033】光学ブロック25からマトリックス回路2
6を介してRF処理回路27へ供給された信号は、再生
RF信号を生成し、アシンメトリ検出回路28へ供給さ
れる。アシンメトリ検出回路28では、後述するように
再生RF信号の信号レベルが検出され、この信号レベル
検出結果は、ディジタル信号としてCPUブロック29
へ供給される。
【0034】CPUブロック29は、アシンメトリ検出
回路28からの検出結果を用いて所定の光量調整領域に
記録したテストデータのアシンメトリを検出し、検出さ
れたアシンメトリが所定の値となるように、記録時の光
ビームの光量を設定するための光量制御データを発生す
る。すなわち、CPUブロック29は、自動光量制御回
路30へ光量制御データを出力することにより、光ビー
ムの光量を自由に設定し得るようになされ、これによっ
て、記録時の光ビームの光量を最適な値に制御し、ま
た、記録および再生時、夫々光ビームの光量を記録およ
び再生用の光量に切り換えられる。
【0035】さらに、CPUブロック29は、記録開始
前、サーボ回路23および自動光量制御回路30を制御
することにより、光ビームの光量を最大値から段階的に
切り換えて、光ビームの各光量で所定のテストデータを
光ディスク21の光量調整領域に記録し、続いて再生時
の光量に切り換えてこのテストデータを再生する。
【0036】ここでテストデータは、パルス幅3T〜11
Tの記録信号で形成され、これによりCPUブロック2
9は、各光ビームの光量で光ディスク21へ記録したテ
ストデータのアシンメトリを検出し、検出されたアシン
メトリから光ビームの光量の制御信号のデータをメモリ
31へ記憶する。そして、このアシンメトリが最適にな
る光ビームの光量の制御信号のデータをメモリ31から
読み出すことにより、記録時の最適な光ビームの光量が
設定される。
【0037】アシンメトリ検出回路28の一例について
図7を参照して説明する。このアシンメトリ検出回路2
8は、再生RF信号を微分回路41に入力し、ここで正
弦波状に変化する再生RF信号を微分し、この再生RF
信号ピークレベルに立ち上がりおよびボトムレベルに
立ち下がるタイミングで信号レベルが‘0'レベルを横
切る微分信号を生成する。比較回路42は、‘0'レベ
ルを基準にしてこの微分信号の信号レベルを検出するこ
とにより、この微分信号が‘0'レベルを横切るタイミ
ングで信号レベルが切り換わる出力信号を生成し、エッ
ジ検出回路43は、この出力信号の立ち上がりエッジお
よび立ち下がりエッジで夫々信号レベルが立ち上がり、
所定期間経過して信号レベルが立ち下がるエッジ検出信
号POSおよびNEGを出力する。
【0038】サンプリングパルス生成回路44は、この
エッジ検出信号POSおよびNEGの信号レベルが立ち
上がるタイミングで夫々信号レベルが立ち上がる第1お
よび第2のサンプリングパルスを生成し、このサンプリ
ングパルスをサンプルホールド回路(S/H)46およ
び47に出力する。サンプルホールド回路46および4
7は、夫々この第1および第2のサンプリングパルスを
基準にして再生RF信号をサンプルホールドする。
【0039】これにより図8に示すように、アシンメト
リ検出回路28は、サンプルホールド回路46におい
て、再生RF信号の信号レベルがピークレベルに立ち上
がるタイミングtP1、tP2、tP3、‥‥で、順次
再生RF信号の信号レベルをサンプリングするようにな
され、これとは逆にサンプルホールド回路47におい
て、再生RF信号の信号レベルがボトムレベルに立ち下
がるタイミングtN1、tN2、tN3、‥‥、で順次
再生RF信号の信号レベルをサンプリングするようにな
されている。
【0040】ピークボトムホールド回路48は、サンプ
ルホールド回路46および47のサンプルホールド結果
のピーク値およびボトム値を夫々ホールドすることによ
り、パルス幅11Tのランドを再生して得られる再生RF
信号のピークレベルRFTOP、パルス幅11Tのピット
を再生して得られる再生RF信号のボトムレベルRFB
TM、パルス幅3Tのランドを再生して得られる再生R
F信号のピークレベル3TTOP、パルス幅3Tのピッ
トを再生して得られる再生RF信号のボトムレベル3T
BTMを検出し、この検出結果をCPUブロック29に
出力する。
【0041】これによりCPUブロック29は、次の
(2)式
【0042】
【数1】
【0043】の演算処理を実行してアシンメトリAsyを
検出し得るようになされている。すなわち、この出力の
光ディスク21においては、パルス幅3Tのピットおよ
びランドの発生確率が全体の1/3を占め、これにより
パルス幅3Tのピークレベル3TTOPおよびボトムレ
ベル3TBTMを加算すれば、論理 `0' および `1'
の発生確率が等しくなるスライスレベルSLの2倍のレ
ベルを検出することができる。
【0044】従って、式(1)に対応して式(2)の演
算処理を実行して簡易にアシンメトリAsyを検出する
ことができる。このときアシンメトリ検出回路28にお
いては、ピークレベルおよびボトムレベルを順次サンプ
リングした後、各サンプリング結果の最小値および最大
値を検出してパルス幅3Tのピークレベル3TTOPお
よびボトムレベル3TBTM、パルス幅11Tのピークレ
ベルRFTOPおよびボトムレベルRFBTMを検出す
ることにより、従来に比して格段に短い時間でアシンメ
トリAsyを検出することができ、そのため短い光量調
整領域で記録時の光ビームの光量調整を行うことができ
る。
【0045】また、かかる上述のアシンメトリ検出方法
を用いることによりパケット8の最小単位である8ブロ
ックで、光ビームの光量調整を行うことができる。
【0046】以上の構成によれば、ピークレベルおよび
ボトムレベルを順次サンプリングした後、各サンプリン
グ結果の最小値および最大値を検出してパルス幅3Tの
ピークレベル3TTOPおよびボトムレベル3TBT
M、パルス幅11TのピークレベルRFTOPおよびボト
ムレベルRFBTMを検出し、この検出結果に基づいて
アシンメトリを検出することにより、短い時間でかつ簡
易にアシンメトリを検出することができ、これにより短
い光量調整領域で記録時の光ビームの光量調整を行うこ
とができる。
【0047】上述のように光ビームの光量調整は、最大
光量から徐々に光量を弱めてテストデータの記録を行
い、その記録されたテストデータを読み取ることにより
最適な光ビームの光量調整を行う。
【0048】この発明では、光ビームの光量調整は、光
量調整領域(PCA)51内のテスト領域52およびプ
ログラム領域2において行われる。しかし、プログラム
領域2は、従来読み取り可能なディジタルデータが記録
されている。そのため、光量調整のためにプログラム領
域2が使用される場合、光量調整を施すと、読み取り不
可能な範囲をも含まれ、光ディスク装置は、このような
光ディスクを記録不良と判断する。この問題を生じない
ように、2段階で光ビームの光量調整を行うようにして
る。
【0049】すなわち、電源投入時、あるいはディスク
交換がされる毎にPCA51内のテスト領域において、
最適な光ビームの光量範囲の設定を行い、次の段階とし
て、プログラム領域において、その光量範囲内の最適な
光ビームの光量微調整を行う。
【0050】なお、PCA51、すなわち光ビームの光
量調整のためのテスト領域52とテスト領域52の利用
状態を記録するためのカウント領域53は、PCA51
とプログラムメモリ領域(PMA)55の間、プログラ
ム領域2、リードアウト領域4の外周側の領域に100 回
をこえた場合の光量調整領域を構成することができる。
【0051】
【発明の効果】この発明によれば、追記型光ディスク装
置において記録データの品質を保ち、100 回を超えたデ
ータ記録をすることができる。従って、100 回を超える
追記であっても光量を最適なものに調整できる。
【0052】また、プログラム領域内の記録では、100
回を超えたデータの記録が頻繁に行われるので、100 回
を超えた最適な光ビームの光量の調整が可能であること
は、追記型光ディスク装置に不可欠の機能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明が適用された光ディスク上のデータ構
造の一例である。
【図2】追記型光ディスクのトラックのデータ構造の一
例の略線図である。
【図3】追記型光ディスクのトラックのデータ構造の一
例の略線図である。
【図4】追記型光ディスクのトラックのデータ構造の一
例の略線図である。
【図5】追記型光ディスクのパケット接続部分の一例の
略線図である。
【図6】光ディスク装置の一例のブロック図である。
【図7】アシンメトリ検出回路を示す一例のブロック図
である。
【図8】動作の説明に供する信号波形図である。
【図9】従来の追記型光ディスクの内周側のデータ構造
の一例の略線図である。
【符号の説明】
2 プログラム領域 3 リードイン領域 4 リードアウト領域 5 トラック 8 パケット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−143997(JP,A) 特開 平4−255915(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/013

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 追記型光ディスクの記録面内周側の光量
    調整用領域に光量調整用のテストデータを記録し、
    ストデータを再生することによって記録時の光ビームの
    光量を調整するようにした、光ディスク装置において、前記 光量調整用領域以外のデータ記録領域の一部を該デ
    ータ記録領域の記録形式に従って特定し、該特定された
    データ記録領域の一部に対して前記データ記録領域の記
    データ形式に従って光量調整用のテストデータを記録
    し、該テストデータを再生することによって、記録時の
    光ビームの光量を調整するようにしたことを特徴とする
    光ディスク装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光ディスク装置におい
    て、前記光調整用領域において光ビームの光量を調整した後
    に、前記特定された光量調整用領域以外のデータ記録領
    域の一部において記録時の光ビームの光量を調整 するよ
    うにしたことを特徴とする光ディスク装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記録の光ディスク装置におい
    て、前記特定された データ記録領域の一部を識別するための
    識別情報を前記データ記録領域の記録データの形式に従
    って前記特定されたデータ記録領域の一部の所定の部分
    に記録するようにしたことを特徴とする光ディスク装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の光ディスク装置におい
    て、 前記光量調整用領域以外のデータ記録領域の記録形式
    は、所定の冗長区間を含む固定長または可変長の記録単
    位からなり、 前記特定されたデータ記録領域の一部に対して光量調整
    用のテストデータを記録するときは、前記記録単位に夫
    々テストデータとして識別情報を上記冗長区間に記録す
    るようにしたことを特徴とする光ディスク装置。
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