JPH10228644A

JPH10228644A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH10228644A
Application number: JP9028094A
Authority: JP
Inventors: Misao Fukuda; 操福田; Hiroyuki Hishiyama; 寛之菱山; Keiji Ueno; 圭司上野; Tsuguaki Mashita; 著明真下
Original assignee: Teac Corp; NEC Corp
Current assignee: Teac Corp; NEC Corp
Priority date: 1997-02-12
Filing date: 1997-02-12
Publication date: 1998-08-25
Anticipated expiration: 2017-02-12
Also published as: DE19805354C2; DE19805354A1; JP3361025B2; US5914927A

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は、光ディスクに記録された信号の再
生波形の分解能を検出して記録パワーの自動調整を行う
ことを課題とする。【解決手段】光学系制御回路１７は、製造ラインでの
組立工程が終了した後の検査工程において光学ヘッド１
４の記録パワーの初期調整処理を実行する。光ディスク
１２の所定の領域に光学ヘッド１４の記録パワーを段階
的に変化させつつ所定の信号を記録させた後、再生波の
エンベロープ検出のためのスライスレベルを順次変化さ
せつつ所定信号を再生させ、再生波から所定の周期を有
する信号パターンの検出に対応するスライスレベルから
再生波の分解能を検知し、光学ヘッド１４の記録パワー
を自動調整する。そのため、組立後の検査工程で手間が
かからず、記録パワーの調整作業が不要になって検査作
業を短時間で行える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置に係
り、特に記録媒体としての光ディスクに記録された信号
の再生波形の分解能を検出して記録パワーの自動調整を
行うよう構成された光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えばデータベースやソフトウエアなど
の情報を記憶させる記憶媒体として、光ディスク装置の
レーザ式ピックアップにより再生されるディスク状の記
憶媒体が使用されている。また、光ディスク装置には、
例えばＣＤ（コンパクト・ディスク）又はＣＤ−ＲＯ
Ｍ等と呼ばれるディスクに記憶された情報を読み取る
「再生専用型」のものと、ディスクに情報を書き込むこ
とができる「書き込み可能型」のものとがある。そし
て、書き込み可能型には、１回だけ書き込み可能な
「追記型光ディスク装置（ＣＤ−Ｒ）」と、何回でも
書き込み可能な光磁気ディスク装置、相変化型ディスク
（ＰＤ，ＣＤ−ＲＷ）装置等の「書換え可能型光ディス
ク装置」がある。

【０００３】そして、従来の光ディスク装置は上記〜
のディスク専用であるため、複数台の光ディスク装置
が必要であった。このような不便さを解消するため、例
えば異なる種類のディスクが装着可能とされた光ディス
ク装置の開発が進められている。この種の異なる種類の
ディスクが装着される従来の光ディスク装置としては、
例えばＣＤ−ＲＯＭとＰＤ用ディスクが収納されたディ
スクカートリッジが装着可能とされたものがある。

【０００４】このようなＣＤ・ＰＤ兼用型の光ディスク
装置では、ディスクに記録された情報の読み取りあるい
はディスクの記録面に情報を書き込む光学ヘッドと、光
学ヘッドのフォーカス制御、トラッキング制御やレーザ
ダイオード駆動、レーザパワー制御等を行う光学系制御
部と、ＣＤ系の信号処理部と、ＰＤ系の信号処理部と、
光ディスクを回転させるスピンドルモータを駆動制御す
るモータドライバ等から構成されている。

【０００５】ＣＤ又はＣＤ−ＲＯＭを再生する場合、光
学ヘッドで読み出された信号は、信号系ＡＧＣアンプを
介してＣＤ系信号処理部に入力される。そして、ＣＤ系
信号処理部では、ＥＦＭ復調、エラー訂正処理等の信号
処理を行う。このとき、スピンドルモータは、モータド
ライバによりＣＬＶ（Constant Linear Velocity）制御
されて線速度一定で駆動される。

【０００６】ＰＤを再生する場合、光学ヘッドで読み出
された信号は、信号系ＡＧＣアンプを介してＰＤ系信号
処理部に入力される。また、ＰＤ系信号制御処理部で
は、（２−７）復調、エラー訂正処理等の信号処理を行
う。そして、ＰＤにデータを記録する場合は、データ信
号に（２−７）変調等の信号処理を施して光学系制御部
に記録信号を出力する。このとき、スピンドルモータ
は、モータドライバ及びＰＤ系ＣＡＶ制御回路によりＺ
ＣＡＶ（Zone Constant Angular Velocity) 制御されて
角速度一定で回転制御される。

【０００７】上記のような構成とされた光ディスク装置
においては、光学ヘッドの機械的、電気的なばらつきに
より全ての光ディスクにおいて同じ記録パワーでデータ
（情報）を書き込んでも夫々の分解能にばらつきが生じ
る。そのため、従来においては、組立後の検査工程で光
学ヘッドから出射されるレーザ光の記録パワーの最適値
を検査して記録パワーを最適値に調整する作業が行われ
ている。

【０００８】従来の記録パワーの調整作業は、次のよう
な手順で行われていた。（手順１）光学ヘッドから出射されるレーザ光の記録
パワーを段階的に変更し、異なる記録パワーによる記録
を逐次行う。（手順２）異なる記録パワーで記録された後、記録部
分を再生してオシロスコーブでモニタする。（手順３）所定の分解能が得られる部分の記録パワー
を最適値として、各ドライブのメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）
に記憶させる。（手順４）上記手順１〜３をディスクの最内周及び最
外周で行ない、それ以外の部分は、最内周及び最外周で
求めた最適値から直線近似値として求める。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来は
上記のような手順１〜４を作業者が手作業で行っていた
ため、記録パワーの最適値を調整するのに時間がかかる
ばかりか、作業者の個人誤差により最適値にばらつきが
あった。また、従来は、上記手順で記録パワーの最適値
が調整された状態で光ディスク装置が出荷されるが、出
荷後の経年変化（例えばレンズのくもりや塵埃の付着あ
るいはレーザダイオード自体の劣化等）によりレーザ光
の強度が低下して記録パワーが変動したり、あるいはデ
ィスクのばらつき等により記録パワーが変動するため、
時間の経過と共に読み取りあるいは書き込みを行う際に
エラーが発生しやすくなるといった問題があった。

【００１０】そこで、本発明は上記問題を解決したディ
スク装置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は以下のような特徴を有する。上記請求項１
記載の発明は、装着された光ディスクを線速度一定ある
いは角速度一定に駆動制御する駆動制御手段と、前記光
ディスクに対し情報の読み取りあるいは書き込みを行う
光学ヘッドと、該光学ヘッドを前記光ディスクの半径方
向に移送する移送手段と、前記光ディスクから読み取ら
れた情報あるいは前記光ディスクに書き込む情報に対し
所定の信号処理を施す信号処理手段と、を備える光ディ
スク装置において、前記光ディスクの所定領域に前記光
学ヘッドの記録パワーを段階的に変化させつつ所定信号
を記録させる第１の制御手段と、再生波のエンベロープ
検出のためのスライスレベルを順次変化させつつ前記所
定領域に記録された所定信号を再生させる第２の制御手
段と、前記所定信号の再生波から所定の周期を有する信
号パターンを検出する検出手段と、前記検出手段による
信号パターンの検出に対応するスライスレベルから再生
波の分解能を検知し、前記光学ヘッドの記録パワーを自
動調整する調整手段と、を備えてなることを特徴とする
ものである。

【００１２】従って、請求項１の発明によれば、光ディ
スクの所定の領域に光学ヘッドの記録パワーを段階的に
変化させつつ所定の信号を記録させた後、再生波のエン
ベロープ検出のためのスライスレベルを順次変化させつ
つ所定信号を再生させ、再生波から所定の周期を有する
信号パターンの検出に対応するスライスレベルから再生
波の分解能を検知し、光学ヘッドの記録パワーを自動調
整するため、組立後の検査工程で手間がかからず、記録
パワーの調整作業が不要になって検査作業を短時間で行
える。また、作業者による個人誤差がなくなり、各製品
毎の記録パワーの最適値を容易に調整することができ
る。

【００１３】また、請求項２記載の発明は、前記検出手
段が、スライスレベルに対する再生波の出力レベルに応
じたスライスウインドウを生成するウインドウ生成手段
と、前記スライスウインドウのオープンに対し単一のリ
ードパルスを発生するリードパルス発生手段と、前記信
号処理手段によるエラー訂正符号の発生数をカウント
し、該カウント値に基づいて前記リードパルスの信号パ
ターンを判別する判別手段と、よりなることを特徴とす
るものである。

【００１４】従って、請求項２の発明によれば、信号処
理手段によるエラー訂正符号の発生数をカウントし、こ
のカウント値に基づいてリードパルスの信号パターンを
判別するため、リードパルスの信号パターンから再生波
の分解能を検知して光学ヘッドの記録パワーを自動調整
することができる。また、請求項３記載の発明は、前記
光ディスクの所定領域が、テスト記録領域であることを
特徴とするものである。

【００１５】従って、請求項３の発明によれば、光ディ
スクのテスト記録領域に光学ヘッドの記録パワーを段階
的に変化させつつ所定信号を記録させるため、光ディス
クの記録領域を使用せずに済み、記録容量の減少を防止
できる。また、請求項４記載の発明は、前記調整手段
が、前記光学ヘッドの記録パワーの低下によるエラー発
生数が所定以上になったとき、前記光学ヘッドの記録パ
ワーを自動調整することを特徴とするものである。

【００１６】従って、請求項４の発明によれば、エラー
発生数が所定以上になったとき、光学ヘッドの記録パワ
ーを自動調整するため、例えば経年変化により光学ヘッ
ドの記録パワーの低下したとき等の必要に応じて光学ヘ
ッドの記録パワーを最適値に設定できる。また、請求項
５記載の発明は、前記調整手段が、予め設定された所定
時間毎に定期的に前記光学ヘッドの記録パワーを自動調
整することを特徴とするものである。

【００１７】従って、請求項５の発明によれば、予め設
定された所定時間毎に定期的に光学ヘッドの記録パワー
を自動調整するため、常に光学ヘッドの記録パワーを最
適値に維持できる。また、請求項６記載の発明は、前記
調整手段が、電源が投入されたとき前記光学ヘッドの記
録パワーを自動調整することを特徴とするものである。

【００１８】従って、請求項６の発明によれば、電源が
投入される度に光学ヘッドの記録パワーを自動調整する
ため、記録又は再生を行う前に必ず光学ヘッドの記録パ
ワーを最適値に設定できる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下図面と共に本発明の実施の形
態について説明する。図１は本発明になる光ディスク装
置のブロック図、図２は光学ヘッドの記録パワーの自動
調整処理のフローチャートである。光ディスク装置１１
は、大略、光ディスク１２を回転駆動するスピンドルモ
ータ１３と、光ディスク１２の記録面にレーザ光を照射
して情報を記録あるいは光ディスク１２に記録された情
報を読み取る光学ヘッド１４と、光学ヘッド１４をディ
スク半径方向に移動させるラジアルモータ１５と、光学
ヘッド１４及び各モータ１３，１５を制御する制御回路
１６とから構成されている。

【００２０】制御回路１６は、各種回路がＬＳＩに集積
されたものであり、光学ヘッド１４に設けられたレーザ
ダイオードから照射されるレーザ光の強度を制御する光
学系制御回路１７と、サーボ系ＡＧＣアンプ１８と、デ
ジタルサーボ処理回路１９と、信号系ＡＧＣアンプ２０
と、ラジアルモータ１５を駆動制御する光学ヘッド送り
制御回路２１と、スピンドルモータ１３を駆動制御する
スピンドル系ドライバ２２と、ＰＤ系ＣＡＶ制御回路２
３と、ＰＤを使用する場合の記録・再生制御を行うＰＤ
系信号処理回路２４と、ＣＤを使用する場合の記録・再
生制御を行うＣＤ系信号処理回路２５と、ＣＤから再生
された音声信号を増幅するオーディオアンプ２６と、フ
ォーカス・トラッキング系制御回路２７とから構成され
ている。

【００２１】ＣＤ又はＣＤ−ＲＯＭを再生する場合、光
学ヘッド１４で読み出された信号は、信号系ＡＧＣアン
プ２０で増幅されてＣＤ系信号処理回路２５に入力され
る。そして、ＣＤ系信号処理回路２５では、ＥＦＭ復
調、エラー訂正処理等の信号処理を行ってオーディオア
ンプ２６を介して出力する。但し、ＣＤ−ＲＯＭの場合
は、オーディオアンプ２６を通さずにインターフェース
に出力される。

【００２２】このとき、スピンドルモータ１３は、スピ
ンドル系ドライバ２２によりＣＬＶ（Constant Linear
Velocity）制御されて線速度一定で駆動される。ＰＤを
再生する場合、光学ヘッド１４で読み出された信号は、
信号系ＡＧＣアンプ２０で増幅されてＰＤ系信号処理回
路２４に入力される。また、ＰＤ系信号制御処理回路２
４では、（２−７）復調、エラー訂正処理等の信号処理
を行ってパーソナルコンピュータ側のインターフェース
に信号を出力する。

【００２３】そして、ＰＤにデータを記録する場合、Ｐ
Ｄ系信号制御処理回路２４は、データ信号に（２−７）
変調等の信号処理を施して光学系制御回路１７に記録信
号を出力する。このとき、スピンドルモータ１３は、ス
ピンドル系ドライバ２２及びＰＤ系ＣＡＶ制御回路２３
によりＺＣＡＶ（Zone Constant Angular Velocity) 制
御されて角速度一定で回転制御される。

【００２４】次に、光学系制御回路１７が実行する光学
ヘッド１４の記録パワー自動調整処理について説明す
る。光学系制御回路１７は、後述するように再生波のエ
ンベロープ検出のためのスライスレベルを順次変化させ
つつ所定信号を再生させ、再生波から所定の周期を有す
る信号パターンの検出に対応するスライスレベルから再
生波の分解能を検知し、光学ヘッド１４の記録パワーを
自動調整するため、組立後の検査工程で手間がかから
ず、記録パワーの調整作業が不要になって検査作業を短
時間で行える。また、作業者による個人誤差がなくな
り、各製品毎の記録パワーの最適値を容易に調整するこ
とができる。

【００２５】図２は光学系制御回路１７が実行する記録
パワー自動調整処理の具体例を説明するためのフローチ
ャートである。光学系制御回路１７は、製造ラインでの
組立工程が終了した後の検査工程において図２に示す光
学ヘッド１４の記録パワーの初期調整処理を実行する。
まず、ステップＳ１（以下「ステップ」を省略する）
で、予め設定された所定の記録パワーで光ディスク１２
のテスト領域に所定の信号（図３（ａ）再生波を参照）
を記録する。

【００２６】Ｓ２では、光学ヘッド１４の記録パワーを
所定の割合（Ａ％）でパワーアップする。続いて、Ｓ３
でパワーアップされた光学ヘッド１４の記録パワーが上
限値を越えたか否かをチェックする。そして、パワーア
ップされた光学ヘッド１４の記録パワーが上限値以下で
あるときは、Ｓ１に戻りＳ１〜Ｓ３の処理を繰り返す。
このようにして段階的に光学ヘッド１４の記録パワーを
上げながら光ディスク１２のテスト領域に所定の信号を
記録する。

【００２７】また、Ｓ３において、光学ヘッド１４の記
録パワーが上限値を越えたときは、Ｓ４に進み、ＬＳＩ
よりなる制御回路１６を第１動作モードから第２動作モ
ードに切り換える。ここで、本実施例の制御回路１６に
使用されるＬＳＩについて説明する。制御回路１６のＰ
Ｄ系信号制御処理回路２４には、信号処理回路の一つと
してパルスディテクタ（パルス検出器）が設けられてお
り、本実施例ではこのパルス検出器から出力される信号
を利用して分解能を自動的にチェックすることを特徴と
する。尚、ＰＤ系信号制御処理回路２４に含まれる各信
号処理回路は、ＬＳＩとマイコンに集積されており、パ
ルスディテクタはＬＳＩに集積されている。

【００２８】そして、ＰＤ系信号制御処理回路２４にお
いては、図３及び図４に示すような波形の信号が得られ
るようになっている。図３に示す波形図は第１動作モー
ドの状態を示しており、図４に示す波形図は第２動作モ
ードの状態を示している。制御回路１６の第１動作モー
ドでは、光学ヘッド１４が光ディスク１２のテスト領域
に記録された信号を読み取って得られた再生波を微分し
て得られた微分波からスライスウィンドが開いている間
に得られた数のリードパルスを生成する。そのため、第
１動作モードの場合、スライスレベルの大きさに拘わら
ず、微分波の波形に対応するリードパルスが生成され
る。

【００２９】また、制御回路１６の第２動作モードで
は、光学ヘッド１４が光ディスク１２のテスト領域に記
録された信号を読み取って得られた再生波からスライス
レベルでの波形に対応する数のリードパルスがスライス
ウィンドが開いている間に生成される。そのため、第２
動作モードの場合、例えばスライスレベルＡが設定され
ているときは、再生波の３Ｔパルスに対応するリードパ
ルスを生成することができる。そのため、スライスレベ
ルＡが設定されている場合、十分な分解能が得られる。

【００３０】しかし、スライスレベルＡよりも低いスラ
イスレベルＢが設定されているときは、再生波の３Ｔパ
ルスよりも低いレベルであるので再生波の３Ｔパルスを
検出できず、１つのスライスウィンドが開いている間に
１つのリードパルスしか得られない。そのため、スライ
スレベルＢが設定されている場合、十分な分解能が得ら
れないことになる。

【００３１】例えば、あるレザーパワーで記録された信
号の再生波が図５に示すように得られたとすると、スラ
イスレベルを３０％に設定した場合、３Ｔパルスが全く
得られないことからエラーレートが大きくなる。ここ
で、スライスレベルを徐々に上げていくと、スライスレ
ベルが５０％を越えるあたりから３Ｔパルスが得られる
ようになり、エラーレートが改善される。

【００３２】図６はエラーレートの変化を示すグラフで
ある。このグラフ及び図５に示すスライスレベルの設定
レベルから分かるようにスライスレベルが５０％から５
５％に切り換えた時に３Ｔパルスが正常に得られるよう
になることから、このときの分解能は４５％となる。こ
のような、３Ｔパルスが正常に得られる分解能のチェッ
クを各記録パワー毎について行ない、各記録パワー毎に
検出された分解能から記録パワーの最適値を求める。す
なわち、分解能が４５％となるような記録パワーを最適
値としてメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）に記憶させる。

【００３３】ここで、図２のフローチャートに戻って記
録パワー自動調整処理について説明する。前述したＳ４
において、制御回路１６の第２動作モードが設定される
と、上記のようなスライスウィンドが開いている間に生
成されるリードパルス数が３Ｔパルスに対応した数とな
ったときのスライスレベルから分解能を求めることがで
きる。

【００３４】そのため、次のＳ５では、先ず第１段階と
してのスライスレベルを３０％に設定する。続いて、Ｓ
６において、スライスレベル３０％とした場合の再生波
から得られたリードパルスが３Ｔパターンに対応して検
出されたか否かをチェックする。本実施例においては、
Ｓ６で、上記のように設定されたスライスレベルに対す
る再生波の出力レベルに応じたスライスウインドウを生
成する（ウインドウ生成手段）と共に、スライスウイン
ドウのオープンに対し単一のリードパルスを発生する
（リードパルス発生手段）ことにより信号処理手段とし
てのＰＤ系信号制御処理回路２４によるエラー訂正符号
の発生数をカウントし、このカウント値に基づいてリー
ドパルスの信号パターンを判別する（判別手段）。尚、
エラー訂正符号は、ＰＤ系信号制御処理回路２４からリ
ードパルスに対応して出力されるものである。従って、
エラー訂正符号をカウントすることによりリードパルス
数を認識することが可能となる。

【００３５】このＳ６において、３Ｔパターンに対応す
るリードパルスが検出されないときは、スライスレベル
が低いものと判断してＳ７に移行する。Ｓ７では、スラ
イスレベルを現在の値から５％アップした値に切り換え
る。そして、再び、Ｓ５に戻って第２段階としてのスラ
イスレベルを３５％に設定する。続いて、Ｓ６におい
て、スライスレベル３５％とした場合の再生波から得ら
れたリードパルスが３Ｔパターンに対応して検出された
か否かをチェックする。

【００３６】このようにスライスレベルを５％ずつ徐々
に上げながら３Ｔパルスが検出されるスライスレベルを
求める。従って、Ｓ６において、スライスレベル３５％
とした場合の再生波から得られたリードパルスが３Ｔパ
ターンに対応して検出されたときは、Ｓ８に進み、その
ときのスライスレベルから分解能を認識する。そして、
３Ｔパルスが検出されたときのスライスレベルの値をメ
モリ（ＥＥＰＲＯＭ）に記憶させる。

【００３７】次のＳ１０では、光ディスク１２のテスト
領域に記憶された各段階の記録パワーの分解能を全てチ
ェックしたことを確認する。Ｓ１０において、まだチェ
ックしていない記録パワーの再生波が残っている場合
は、Ｓ１１に移行して次の段階の記録パワーで記憶され
た信号（情報）を読み込む。そして、前述したＳ５に戻
り、Ｓ５〜Ｓ１１の処理を繰り返す。

【００３８】また、Ｓ１０において、光ディスク１２の
テスト領域に記憶された全ての記録パワーの再生波をチ
ェックし終わったときは、Ｓ１２に進み、計測した各分
解能からレーザパワーの最適値を選択する。そして、Ｓ
１３でこの最適値をメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）に記憶させ
る。これで、最適値の自動調整処理が終了する。図７及
び図８に示す波形図は、光学ヘッド１４に設けられたレ
ーザダイオードの記録パワーを段階的に上げた場合の再
生波を記録したものである。図７は記録パワーが比較的
低い値に設定された場合のデータであり、図８は記録パ
ワーが比較的高い値に設定された場合のデータである。

【００３９】図７に示す波形１の場合、スライスレベル
３５％位で３Ｔパターンに対応するリードパルスが検出
され始め、スライスレベル４５％位で完全に３Ｔパター
ンに対応するリードパルスが検出される。そのため、分
解能が５５％となるようにレーザ光の記録パワーを調整
することにより光ディスク１２に記録されたデータ（情
報）を完全に読み取ることができる。

【００４０】図８に示す波形６の場合、スライスレベル
５０％位で３Ｔパターンに対応するリードパルスが検出
され始め、スライスレベル５５％位で完全に３Ｔパター
ンに対応するリードパルスが検出される。そのため、分
解能が５５％となるようにレーザ光の記録パワーを調整
することにより光ディスク１２に記録されたデータ（情
報）を完全に読み取ることができる。

【００４１】完全にデータを読み取ることができる状態
とは、読み取られた信号にパルス抜けがなく、エラーな
しで光ディスク１２に記録されたデータを読み取れる状
態であることを意味する。尚、データを読み取りのばら
つきを吸収するため、複数のセクタで動作チェックを行
う。上記結果より、波形１の分解能は５５％、波形６の
分解能は４５％となる。このように、スライスレベルを
変化させてパルスの発生数（エラー数）をカウントする
ことにより自動判定することが可能となる。

【００４２】図９は光磁気ディスク装置１１が出荷され
た後に所定の条件が満たされたとき光学系制御回路１７
が記録パワー自動調整処理を実行する場合のフローチャ
ートである。図９のＳ２１において、記録エラー回数を
カウントする。次のＳ２２では、カウントされた記録エ
ラー回数が３回を越えたか否かを判定しており、記録エ
ラー回数が３回を越えていないときはＳ２１，Ｓ２２の
処理を繰り返す。

【００４３】そして、記録エラー回数が３回を越えたと
きは、Ｓ２２からＳ２３に進み、前述した記録パワー自
動調整処理（図２に示す処理）を実行する。これで、出
荷後の記録パワー自動調整処理が行われて分解能から光
学ヘッド１４から出射されるレーザ光の記録パワーが最
適値に調整される。Ｓ２４では、記録パワー自動調整処
理が終了したか否かを確認している。そのため、Ｓ２４
で前述した図２のＳ１〜Ｓ１３の処理が終了したことを
確認すると、Ｓ２５に進み、記録エラー回数のカウンタ
をゼロクリアする。

【００４４】このように、記録エラー回数が３回を越え
た時点で記録パワー自動調整処理が行われるため、例え
ば出荷後の経年変化（例えばレンズのくもりや塵埃の付
着あるいはレーザダイオード自体の劣化等）によりレー
ザ光の強度が低下して記録パワーが変動したり、あるい
はディスクのばらつき等により記録パワーが変動しても
その都度記録パワー自動調整処理が実行されるため、常
に光ディスク１２に記録されたデータ（情報）を完全に
読み取ることができる。

【００４５】図１０は光磁気ディスク装置１１が出荷さ
れた後に図９に示す条件とは別の条件が満たされたとき
光学系制御回路１７が記録パワー自動調整処理を実行す
る場合のフローチャートである。図１０のＳ３１におい
て、組立工程後の初期設定で記録パワーが自動調整され
た後、時間カウンタによりクロックパルスを積算して計
時を行う。

【００４６】次のＳ３２では、時間カウンタのカウント
値（経過時間）Ｔが予め設定された所定時間Ｔａを越え
たか否かを判定しており、所定時間Ｔａが経過されたと
きはＳ３３に進み、前述した記録パワー自動調整処理
（図２に示す処理）を実行する。これで、出荷後の記録
パワー自動調整処理が行われて分解能から光学ヘッド１
４から出射されるレーザ光の記録パワーが最適値に調整
される。

【００４７】Ｓ３４では、記録パワー自動調整処理が終
了したか否かを確認している。そのため、Ｓ３４で前述
した図２のＳ１〜Ｓ１３の処理が終了したことを確認す
ると、Ｓ３５に進み、時間カウンタをゼロクリアする。
このように、出荷後に所定時間が経過すると、定期的に
記録パワー自動調整処理が行われる。そのため、例えば
出荷後の経年変化によりレーザ光の強度が低下しても定
期的に記録パワー自動調整処理が実行されるため、常に
光ディスク１２に記録されたデータ（情報）を完全に読
み取ることができる。

【００４８】図１１は光磁気ディスク装置１１が出荷さ
れた後に図９、図１０に示す条件とは別の条件が満たさ
れたとき光学系制御回路１７が記録パワー自動調整処理
を実行する場合のフローチャートである。図１１のＳ４
１において、組立工程後の初期設定で記録パワーが自動
調整された後、光磁気ディスク装置１１の電源スイッチ
（図示せず）がオンに操作されて電源が投入されたか否
かを判定する。

【００４９】Ｓ４１で電源が投入されると、次のＳ４２
に進み、前述した記録パワー自動調整処理（図２に示す
処理）を実行する。これで、出荷後の記録パワー自動調
整処理が行われて分解能から光学ヘッド１４から出射さ
れるレーザ光の記録パワーが最適値に調整される。Ｓ４
３では、記録パワー自動調整処理が終了したか否かを確
認している。そのため、Ｓ４３で前述した図２のＳ１〜
Ｓ１３の処理が終了したことを確認すると今回の処理を
終了する。

【００５０】このように、光磁気ディスク装置１１の電
源スイッチ（図示せず）がオンに操作される度に記録パ
ワー自動調整処理が行われるため、光学ヘッド１４は常
に光ディスク１２に記録されたデータ（情報）を完全に
読み取ることができる。尚、上記実施例のようなＣＤ−
ＲＯＭ又はＰＤ用のディスクに限らず、光学ヘッドから
のレーザ光が照射されて記録又は再生を行う方式の光デ
ィスク装置であれば他の方式の光ディスク装置にも適用
できるのは勿論である。

【００５１】

【発明の効果】上述の如く、上記請求項１の発明によれ
ば、光ディスクの所定の領域に光学ヘッドの記録パワー
を段階的に変化させつつ所定の信号を記録させた後、再
生波のエンベロープ検出のためのスライスレベルを順次
変化させつつ所定信号を再生させ、再生波から所定の周
期を有する信号パターンの検出に対応するスライスレベ
ルから再生波の分解能を検知し、光学ヘッドの記録パワ
ーを自動調整するため、組立後の検査工程で手間がかか
らず、記録パワーの調整作業が不要になって検査作業を
短時間で行える。また、作業者による個人誤差がなくな
り、各製品毎の記録パワーの最適値を容易に調整するこ
とができる。

【００５２】また、請求項２の発明によれば、信号処理
手段によるエラー訂正符号の発生数をカウントし、この
カウント値に基づいてリードパルスの信号パターンを判
別するため、リードパルスの信号パターンから再生波の
分解能を検知して光学ヘッドの記録パワーを自動調整す
ることができる。また、請求項３の発明によれば、光デ
ィスクのテスト記録領域に光学ヘッドの記録パワーを段
階的に変化させつつ所定信号を記録させるため、光ディ
スクの記録領域を使用せずに済み、記録容量の減少を防
止できる。

【００５３】また、請求項４の発明によれば、エラー発
生数が所定以上になったとき、光学ヘッドの記録パワー
を自動調整するため、例えば経年変化により光学ヘッド
の記録パワーの低下したとき等の必要に応じて光学ヘッ
ドの記録パワーを最適値に設定できる。また、請求項５
の発明によれば、予め設定された所定時間毎に定期的に
光学ヘッドの記録パワーを自動調整するため、常に光学
ヘッドの記録パワーを最適値に維持できる。

【００５４】また、請求項６の発明によれば、電源が投
入される度に光学ヘッドの記録パワーを自動調整するた
め、記録又は再生を行う前に必ず光学ヘッドの記録パワ
ーを最適値に設定できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明になる光ディスク装置のブロック図であ
る。

【図２】光学ヘッドの記録パワーの自動調整処理のフロ
ーチャートである。

【図３】ＬＳＩの第１動作モードの状態を示す波形図で
ある。

【図４】ＬＳＩの第２動作モードの状態を示す波形図で
ある。

【図５】あるレザーパワーで記録された信号の再生波を
示す波形図である。

【図６】エラーレートの変化を示すグラフである。

【図７】記録パワーが比較的低い値に設定された場合の
データの波形図である。

【図８】記録パワーが比較的高い値に設定された場合の
データの波形図である。

【図９】光磁気ディスク装置が出荷された後に所定の条
件が満たされたとき光学系制御回路が記録パワー自動調
整処理を実行する場合のフローチャートである。

【図１０】光磁気ディスク装置が出荷された後に図９に
示す条件とは別の条件が満たされたとき光学系制御回路
が記録パワー自動調整処理を実行する場合のフローチャ
ートである。

【図１１】光磁気ディスク装置が出荷された後に図９、
図１０に示す条件とは別の条件が満たされたとき光学系
制御回路が記録パワー自動調整処理を実行する場合のフ
ローチャートである。

【符号の説明】

１１光ディスク装置１２光ディスク１３スピンドルモータ１４光学ヘッド１５ラジアルモータ１６制御回路１７光学系制御回路１８サーボ系ＡＧＣアンプ１９デジタルサーボ処理回路２０信号系ＡＧＣアンプ２１光学ヘッド送り制御回路２２スピンドル系ドライバ２３ＰＤ系ＣＡＶ制御回路２４ＰＤ系信号処理回路２５ＣＤ系信号処理回路

フロントページの続き (72)発明者上野圭司東京都武蔵野市中町３丁目７番３号ティアック株式会社内 (72)発明者真下著明東京都武蔵野市中町３丁目７番３号ティアック株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】装着された光ディスクを線速度一定ある
いは角速度一定に駆動制御する駆動制御手段と、前記光ディスクに対し情報の読み取りあるいは書き込み
を行う光学ヘッドと、該光学ヘッドを前記光ディスクの半径方向に移送する移
送手段と、前記光ディスクから読み取られた情報あるいは前記光デ
ィスクに書き込む情報に対し所定の信号処理を施す信号
処理手段と、を備える光ディスク装置において、前記光ディスクの所定領域に前記光学ヘッドの記録パワ
ーを段階的に変化させつつ所定信号を記録させる第１の
制御手段と、再生波のエンベロープ検出のためのスライスレベルを順
次変化させつつ前記所定領域に記録された所定信号を再
生させる第２の制御手段と、前記所定信号の再生波から所定の周期を有する信号パタ
ーンを検出する検出手段と、前記検出手段による信号パターンの検出に対応するスラ
イスレベルから再生波の分解能を検知し、前記光学ヘッ
ドの記録パワーを自動調整する調整手段と、を備えてなることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】前記検出手段は、スライスレベルに対する再生波の出力レベルに応じたス
ライスウインドウを生成するウインドウ生成手段と、前記ウインドウ生成手段により生成されたスライスウイ
ンドウのオープンに対し単一のリードパルスを発生する
リードパルス発生手段と、前記信号処理手段によるエラー訂正符号の発生数をカウ
ントし、該カウント値に基づいて前記リードパルスの信
号パターンを判別する判別手段と、よりなることを特徴とする前記請求項１記載の光ディス
ク装置。
【請求項３】前記光ディスクの所定領域は、テスト記
録領域であることを特徴とする前記請求項１記載の光デ
ィスク装置。
【請求項４】前記調整手段は、前記光学ヘッドの記録
パワーの低下によるエラー発生数が所定以上になったと
き、前記光学ヘッドの記録パワーを自動調整することを
特徴とする前記請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】前記調整手段は、予め設定された所定時
間毎に定期的に前記光学ヘッドの記録パワーを自動調整
することを特徴とする前記請求項１記載の光ディスク装
置。
【請求項６】前記調整手段は、電源が投入されたとき
前記光学ヘッドの記録パワーを自動調整することを特徴
とする前記請求項１記載の光ディスク装置。