JPH06324020A - 測定試験器の回転式試験ヘッドに設けられたプローブの直径調節方法とその装置 - Google Patents

測定試験器の回転式試験ヘッドに設けられたプローブの直径調節方法とその装置

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JPH06324020A
JPH06324020A JP6076340A JP7634094A JPH06324020A JP H06324020 A JPH06324020 A JP H06324020A JP 6076340 A JP6076340 A JP 6076340A JP 7634094 A JP7634094 A JP 7634094A JP H06324020 A JPH06324020 A JP H06324020A
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    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Abstract

(57)【要約】 【目的】 状況の違い、特に試験片の大きさの違いに応
じて試験器を簡便に調節できるようにするとともに、特
に手作業の必要性を減らすことにある。 【構成】 試験ヘッド12を所定の角度位置に停止させ
る位置合わせ装置30を外部の調節装置11内に設ける
ことにより、プローブ17上に配置される位置調節可能
な2本の試験レバー18を有した回転式試験ヘッド12
のプローブ位置が自動的に調節される。調節装置には、
測定ピン45とともに試験ヘッドに向って前進して、該
試験ヘッドと係合する調節軸38が内蔵される。プロー
ブ17の正確な位置付けのために、軸38の結合によっ
て行なわれる設定の結果が測定ピン45によって確認さ
れ、制御装置36内で処理される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たとえば漂遊磁束の測
定原理に基づき回転的に駆動される試験ヘッドに設けら
れた測定試験器のプローブ直径を調節する方法とそのた
めの装置に関する。
【0002】
【従来の技術】このような測定試験器の場合には、たと
えば電線やロッド等の試験片とプローブとの距離が測定
結果や試験結果の精度を左右するため、両者間の距離が
特に重要になる。高周波を受けた磁気ヨークにより試験
材料の表面に漂遊磁束を誘導し、偏向した漂遊磁束の出
口を故障点または異常点で測定する漂遊磁束試験装置の
場合には、試験材料の表面にプローブを擦り付けて使用
することさえある。したがって、試験材料の寸法によっ
て両者間の距離を調節しなければならない。
【0003】この距離を手作業で調節する方法がすでに
提案されている。この場合には、試験ヘッドを固定した
まま、物差を用いてスパナで調節することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、状況
の違い、特に試験片の大きさの違いに応じて試験器を簡
便に調節できるようにするとともに、特に手作業の必要
性を減らすことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的は請求項1およ
び3により達成される。
【0006】これにより、特に試験ヘッドの速度をあら
かじめ切り換えて、たとえば毎分約1500回転以上の
常用速度から匍匐送りに低下させた後に、試験ヘッドを
調節位置に固定する。この調節位置では、角形軸等の外
部の調節駆動装置が試験ヘッドの対応する結合点に結合
できる状態となり、調節が可能になる。その間、試験ヘ
ッドは、たとえばロール等の位置合わせ部材により調節
位置に維持される。
【0007】
【実施例】前述の課題を解決するために、本願の第1発
明は、回転的に駆動される試験ヘッド(12)上にプロ
ーブが設けられた測定試験装置、特に電磁試験装置のプ
ローブ直径調節方法において、前記試験ヘッド(12)
を所定の周位置につけるとともに前記位置に保持すると
ともに、前記周位置において結合する外部の調節駆動装
置(28)を動作させて、実際のプローブ位置の外部測
定値による帰還制御を含めてプローブ位置を調節するプ
ローブ直径調節方法を要旨とする。
【0008】また、本願の第2発明は、回転的に駆動さ
れるとともに直径調節機構を有する試験ヘッド(12)
上にプローブ(17)が設けられた測定試験装置、特に
電磁試験装置のプローブ直径調節装置において、 a)前記試験ヘッド(12)を所定の周位置につける動
作を行なう位置合わせ手段(30)と、 b)外部の調節駆動装置(28)と前記直径調節機構と
を結合させる結合手段(27)と、 c)前記試験ヘッド(12)と係合する測定位置に配置
可能な外部のプローブ位置測定手段(44)と、 d)設定手段(51)と前記測定手段(44)の測定結
果との関数として前記調節駆動装置を動作させる制御手
段とからなるプローブ直径調節装置を要旨とする。
【0009】プローブを所望の位置に正確に配置するた
めに、たとえば手動入力、測定対象の製品の測定または
プログラムの適用によって新たな所望直径を設定できる
設定手段を設ける以外に、測定手段を介してプローブの
実際の位置を直接的に、または測定ヘッドのプローブに
堅固に接続された測定レバー等の部分を介して測定し、
この測定結果を調節駆動装置の制御に利用する。
【0010】位置合わせ部材と対をなす結合部の一方を
含む調整駆動装置と測定手段とについては、試験ヘッド
への位置合わせ段階にしたがって前記各装置を前進させ
る前進駆動装置をさらに内蔵してもよい単一の装置内に
設けられることが好ましい。
【0011】測定手段は、測定結果を電気信号に変換す
る角度符号器をラック等の手段により駆動する測定ピン
からなるものとすることができる。ゼロ復帰の前に基準
面すなわち結合面の汚れを除去して、汚れた環境で試験
器を動作させた場合でも前記測定段階や結合段階によっ
て完全に満足できる信頼性のある調節を確保することが
できる。そのために、特に、測定ピンまたは結合スピン
ドルに配設可能な圧縮空気管から空気を噴射させること
ができる。前進駆動装置または位置合わせ部材の移動は
空気圧によって行なわれることが好ましいので、すでに
調節装置に圧縮空気を利用できる状態になっているので
ある。
【0012】本発明にしたがって直径調節を行なうこと
により、これまでの手作業を信頼性のある簡便な方法で
自動化することができる。一連の自動生産の枠内におい
て、ある種の直径の変化を事前にプログラムしておくこ
とができる。試験ヘッドの調節と、一般に試験器にした
がって行なわれる対応する生産設備の調節とを連動させ
ることも可能になる。したがって時間が節約されるとと
もに、調節の精度を最大限に高めることができ、したが
って測定の信頼性に関して大きな利点が得られるばかり
でなく、試験ヘッドのプローブ調節に関する信頼性の低
さや調節忘れが原因となって起こりうる誤りや損傷が防
がれる。ここでは、プローブという用語には、測定対象
または試験対象の物体と特定の空間的な関係にあり、か
つ測定信号または試験信号を受信するだけでなく測定ま
たは試験のための信号、電界または磁界その他の物理量
を供給するあらゆる装置が含まれるものとする。
【0013】本発明の前記およびその他の特徴と利点と
については、特許請求の範囲、発明の説明および図面に
より明らかにすることとし、個々の特徴は、単独の形態
のものも半複合的な形態のものも本発明の実施例および
その他の分野において実現可能であり、かつ独立して特
許を受けられる有利な構造として、添付の特許請求の範
囲に基づいて保護されるものである。
【0014】図示例 図1を参照して、以下に本発明の実施例を詳細に説明す
る。
【0015】図1は、直径調節機能を有した測定試験装
置の線図である。
【0016】図1には、線図に示す駆動装置13により
回転せられるとともに、材料試験ラインや機械加工ライ
ンに配備される試験器の一部分をなす試験ヘッド12の
調節装置11が示されている。このような回転式試験ヘ
ッドは、電線や管、棒材等の亀裂や異物混入といった不
良および欠陥の検査に用いられる。超音波法を含めて、
か流探傷法や定電界漂遊磁束法等、さまざまな種類の試
験方法がある。不良試験とは別に、このような試験ヘッ
ドを用いて、たとえば連続厚さ測定を行なうこともでき
る。
【0017】図1の実施例において、試験ヘッド12に
は、中央開口15を有した回転円盤14が内蔵されてお
り、この中央開口に試験対象または検査対象となる金属
棒等の物体16が挿入される。前記物体は製造工場から
直接送られてきて、製造直後に不良試験が行なわれる。
試験は、試験レバー18に固定された対向する2つのプ
ローブ17によって行なわれる。図1ではプローブ17
は顎状またはシュー状の形態をとっているが、特定の試
験方法または測定方法に応じて全く異なった構造にする
こともできる。たとえば前記プローブは、いずも磁気ヨ
ークの両極を含むとともに、漂遊磁束法等のある種の測
定方法では物体16の表面に擦り付けることもできるバ
ネ付きセンサ等の移動可能なセンサを両者間に挟んだも
のであってもよい。
【0018】試験レバー18は、物体16の搬送方向と
平行な軸19のまわり、すなわち試験ヘッドの回転軸2
0のまわりにおいて旋回可能である。試験ヘッドはヘッ
ドの直径に応じて毎分最高2000回転以上の速度で回
転することもあり、このような試験ヘッドの回転時に実
質的に遠心力の影響を受けずに試験レバーを移動させら
れるように、2つの試験レバー18の各々をつり合いお
もり21で平衡させてある。
【0019】軸19は、ねじ付きスピンドル23により
変位可能な滑り部材22に固定されている。2つのねじ
付きスピンドル23は各々、プローブの中心を通る弦方
向、すなわち半径面25と平行な方向に互いに平行に取
り付けられた軸24に固定されている。両方の軸24は
歯付き駆動ベルト26により互いに結合されて同期運動
を行なう。ねじ付きスピンドルおよび付随の滑り部材2
2の雌ねじは、両側でねじ切り方向が異なっているた
め、2本の軸24が同期的に回転すると滑り部材は互い
に反対方向に移動する。
【0020】レバーは軸19により滑り部材に対して旋
回自在に連接されるが、滑り部材22の各位置でプロー
ブ17が回転軸20に対して一定の最小間隔をあけて配
置されるように、その停止が制限されている。レバーは
バネの張力または遠心力の残留効果等、その他の力に対
して外方に移動可能である。
【0021】試験ヘッド12は外部調整駆動装置28と
結合する結合手段27を有しており、この結合手段は一
方の軸24の端部に内部角形部材として構成可能であ
る。
【0022】円盤14の外周付近に設けられる結合手段
27は、位置合わせ手段30の一部をなす円盤の位置合
わせ用切欠部29に対して所定の周間隔で配置される。
また、固定調節装置11上に配設され、空気シリンダ3
2による調節で位置合わせ用切欠部29と係合・離脱す
るロール31が設けられる。スイッチ33、34は、位
置合わせ手段が2箇所の動作発信位置に達した時に作動
する。電子制御装置36によって制御される空気弁35
がシリンダ32を空気的に動作させる。
【0023】調節駆動装置28は、電気式パルスモータ
や歯車電動機等の電動機または高精度の制御が可能な何
らかの類似の駆動装置により回転せられる調節軸38を
有しており、この調節軸には、試験ヘッドに関連ある端
部に結合手段として角形部材39が設けられている。調
節軸は空気シリンダ40により、長手方向、すなわち試
験ヘッドに対して前後方向に移動可能である。
【0024】この場合もスイッチ41、42により、調
節駆動装置28が2箇所の端部位置に達した時点が監視
される。したがって2つの空気シリンダ32、40によ
り、位置合わせ手段30および調節駆動装置28の変位
駆動装置が形成されることになる。空気シリンダ40は
制御装置36により空気弁43を介して制御される。
【0025】調節装置11にはまた、バネ46の張力で
試験ヘッド12の方向に変位可能な測定ピン45を有す
る測定手段44が内蔵されている。この変位時に測定ピ
ン45が自身上に配設されたラック47を介して、電気
信号発生器として機能して制御装置36に信号を供給す
る絶対角度符号器48を移動させる。
【0026】測定ピン45を測定ヘッドの方向に移動さ
せる方法として、測定ピン45を可動滑り部材上に配設
することもできる。しかし好ましくは、前記測定ピンは
停止部49とこれに対応する停止レバー50とを介して
調節駆動装置28の前進駆動装置に接続されて、空気シ
リンダ40が図の位置にきて、調節駆動装置が非係合状
態となった時には、バネ46の張力に抗して非動作位置
に移動されるものとする。
【0027】駆動装置36は、電気式または電子式の制
御装置として従来の態様に構成可能であり、たとえばキ
ーボード付き入力装置といったような設定装置51から
の信号の処理と角度符号器48からの信号および異なる
切換え信号の測定とを行なうとともに、出力信号を発し
て弁35、43と調整駆動装置の電動機37とを制御し
うる構成にすることができる。
【0028】測定装置の動作において、測定ヘッド12
が測定ヘッド駆動装置13により回転し、したがってプ
ローブ17が、長手方向に、図面に対して直角に延在す
る物体16または試験片のまわりで回転する。試験レバ
ー18の設定については、プローブと物体との間に一定
の最小間隔が維持され、またはセンサが試験片16の表
面上に所定の力で摺動的に案内されるような設定とす
る。
【0029】試験片16の直径の変化によって設定が変
化した場合には、再び所定の最適な間隔になるように、
プローブ17の相互間隔も同時に調節されなければなら
ない。そのために、プローブ間隔の新たな所望値または
新たな試験片の直径を設定装置51に入力する。代案と
して、前記値を試験片の直径測定または動作プログラム
から流用することもできる。
【0030】調節開始の信号につづいて、制御装置36
が試験ヘッド駆動装置にパルスを送り、前記パルスによ
り試験ヘッドの駆動速度が匍匐速度に減速される。たと
えば試験ヘッドを毎分1500回転で動作させている場
合には、この時に駆動装置の速度はたとえば毎分20〜
50回転に低下するのである。試験ヘッドの駆動は周波
数変換機を介して行なわれているため、周波数変換機の
相応な作用により、減速することができる。また、まず
最初に試験ヘッドを完全に停止させ、次に再び匍匐速度
で始動させることもできる。
【0031】その後、制御装置が、円盤14に当接する
ロール31として構成された位置合わせ部材をシリンダ
32により前進させるソレノイド弁35に作用し、ここ
で前記ロールが、位置合わせ用切欠部29内にはまり込
む回転する。その結果、スイッチ33が動作して、制御
装置36により試験ヘッドの駆動を即座に停止させる。
試験ヘッドが機械的に位置合わせ位置に固定されるよう
に、ロールは切欠部29と係合したままの状態で維持さ
れる。
【0032】次に弁43により空気シリンダ40が作動
し、調節駆動装置28を試験ヘッドに向って前進させ
る。位置合わせ位置では、結合手段27の接続用六角穴
が調節軸と整合する位置にきて、調節軸38上の角形部
材39によって形成された他方の結合部材と係合固定さ
れるようになる。
【0033】同時に停止レバー50が前方に移動するた
め、測定ピン45もまたバネ46の張力で前方に移動し
て、2つのレバー18の一方の基準面52上に載置され
る。
【0034】図に示すように、測定ピン45の結合前か
つ係合前に、共通の空気接続部55から送風管54を経
て供給される空気が、調節軸および測定ピンに沿って延
在する送風路53から噴射されて、結合面および基準面
52の汚れが除去される。
【0035】スイッチ41により、調節駆動装置と試験
ヘッドとの結合が指示される。軸24が回転し、これに
よって滑り部材22が新たなプローブ位置の方へと互い
に逆方向に移動するように、制御装置が調節駆動装置2
8の電動機を始動させる。
【0036】試験レバー18の基準面上に載置された測
定ピン45は自身の変換器を介してレバーの実測値 す
なわちプローブの実測値を制御装置へと送り、制御装置
がこの実測値と設定装置51を介して入力された所望値
とを比較し、実測値が所望値に対応している場合には調
節駆動装置28のスイッチを切断する。2本の軸の動作
が同期している(歯付きベルト26により同期する)た
め、試験レバー18の一方に関して測定を行なうだけで
よいのである。
【0037】次に制御装置が設定終了の信号を発し、空
気シリンダ32、40が調節駆動装置28と位置合わせ
手段30とを後退させる。これがスイッチ34、42を
介して制御装置へと送り返される。停止アーム50がバ
ネ46の張力に抗して測定ピン45を引き戻すため、測
定ピンは調節駆動装置の後退に従って後退する。こうし
て設定プロセスが終了し、試験ヘッドが再び回転して試
験が継続される。
【0038】
【発明の効果】本発明により完全な自動調節方法と、特
定の実寸の調節に基づいて回転式測定試験ヘッドのプロ
ーブを正確に調節できる装置とが得られるのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】直径調節機能を有した測定試験装置の線図。
【符号の説明】
11 調節装置 12 試験ヘッド 13 駆動装置 14 回転円盤 15 中央開口 16 物体 17 プローブ 18 試験レバー 19 軸 20 回転軸 21 おもり 22 滑り部材 23 スピンドル 24 軸 25 半径面 26 駆動ヘッド 27 結合手段 28 外部調整駆動装置 29 切欠部 30 位置合わせ手段 31 ロール 32 空気シリンダ 33,34 スイッチ 35 空気弁 36 電子制御装置 37 電動機 38 調節軸 39 角形部材 40 空気シリンダ 41,42 スイッチ 43 空気弁 44 測定手段 45 測定ピン 46 バネ 47 ラック 48 絶対角度符号器 49 停止部 50 停止レバー 51 設定装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハンス リンク ドイツ連邦共和国 72762 ロイトリンゲ ン ヘルマン エラース ストラッセ 20 /54

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転的に駆動される試験ヘッド(12)
    上にプローブが設けられた測定試験装置、特に電磁試験
    装置のプローブ直径調節方法において、前記試験ヘッド
    (12)を所定の周位置につけるとともに前記位置に保
    持するとともに、前記周位置において結合する外部の調
    節駆動装置(28)を動作させて、実際のプローブ位置
    の外部測定値による帰還制御を含めてプローブ位置を調
    節するプローブ直径調節方法。
  2. 【請求項2】 調節工程の開始前に前記試験ヘッド(1
    2)の速度を実質的に低下させる請求項1に記載の方
    法。
  3. 【請求項3】 回転的に駆動されるとともに直径調節機
    構を有する試験ヘッド(12)上にプローブ(17)が
    設けられた測定試験装置、特に電磁試験装置のプローブ
    直径調節装置において、 a)前記試験ヘッド(12)を所定の周位置につける動
    作を行なう位置合わせ手段(30)と、 b)外部の調節駆動装置(28)と前記直径調節機構と
    を結合させる結合手段(27)と、 c)前記試験ヘッド(12)と係合する測定位置に配置
    可能な外部のプローブ位置測定手段(44)と、 d)設定手段(51)と前記測定手段(44)の測定結
    果との関数として前記調節駆動装置を動作させる制御手
    段とからなるプローブ直径調節装置。
  4. 【請求項4】 前記位置合わせ手段(30)に、好まし
    くは前記試験ヘッド(12)上の切欠部である位置合わ
    せマーク(29)と協動し、かつ前記試験ヘッドの駆動
    装置(13)を停止させる位置合わせ信号を発信させ
    る、位置合わせ位置まで移動可能な位置合わせ部材(3
    1)、好ましくはロールが設けられる請求項3に記載の
    調節装置。
  5. 【請求項5】 前記位置合わせ手段(30)の始動前に
    動作して前記試験ヘッド駆動装置(13)の速度を低下
    させる減速装置を含む請求項3または請求項4に記載の
    調節装置。
  6. 【請求項6】 調節のために回転可能かつ結合のために
    前進駆動装置(40)により前記試験ヘッド(12)の
    方へ移動可能な調節軸上に、任意に角形部材として構成
    される結合手段(27、39)が設けられる請求項3〜
    5のいずれか1項に記載の調節装置。
  7. 【請求項7】 前記測定手段(44)が、前記試験ヘッ
    ド(12)との係合測定時に好ましくは前進駆動装置
    (40)をにより移動可能な測定部材(45)を有する
    請求項3〜6のいずれか1項に記載の調節装置。
  8. 【請求項8】 前記測定部材(45)が、前記プローブ
    (17)を担う少なくとも一方の試験レバー(18)に
    接触する請求項7に記載の調節装置。
  9. 【請求項9】 前記測定部材(45)が、好ましくは回
    転式変換器(48)、特に絶対角度符号器を駆動するバ
    ネ付き測定ピンである請求項7または請求項8に記載の
    調節装置。
  10. 【請求項10】 前記位置合わせ手段(30)と調節駆
    動装置(28)と結合手段(39)と測定手段(44)
    とが外部の調節装置(11)上に配設される請求項3〜
    9のいずれか1項に記載の調節装置。
  11. 【請求項11】 前記結合手段(27、39)および/
    または測定部材(45)が、両者の係合前に作動すると
    ともに好ましくは長手方向に貫通する空気噴射路の形態
    をとる洗浄装置(53)を有する請求項3〜10のいず
    れか1項に記載の調節装置。
JP6076340A 1993-04-30 1994-03-24 測定試験器の回転式試験ヘッドに設けられたプローブの直径調節装置 Expired - Fee Related JP2777971B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012169008A1 (ja) * 2011-06-07 2012-12-13 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PT1105721E (pt) * 1999-06-15 2007-04-30 Georgsmarienhuette Gmbh Trem de laminagem.
DE19963231A1 (de) * 1999-12-27 2001-06-28 Foerster Inst Dr Friedrich Prüfeinrichtung zum Prüfen von langgestreckten Gegenständen
DE102005036332B4 (de) * 2005-07-29 2007-05-31 Walcher Meßtechnik GmbH Positioniereinrichtung
US8097712B2 (en) 2007-11-07 2012-01-17 Beelogics Inc. Compositions for conferring tolerance to viral disease in social insects, and the use thereof
US8962584B2 (en) 2009-10-14 2015-02-24 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem, Ltd. Compositions for controlling Varroa mites in bees
MX2012010479A (es) 2010-03-08 2012-10-09 Monsanto Technology Llc Moleculas polinucleotidicas para regulacion genetica en plantas.
EP2755466A4 (en) 2011-09-13 2015-04-15 Monsanto Technology Llc METHODS AND COMPOSITIONS FOR CONTROLLING WEEDS
US10806146B2 (en) 2011-09-13 2020-10-20 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for weed control
EP3296402B1 (en) 2011-09-13 2020-04-15 Monsanto Technology LLC Methods and compositions for weed control
CA2848680C (en) 2011-09-13 2020-05-19 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for weed control
EP2755988B1 (en) 2011-09-13 2018-08-22 Monsanto Technology LLC Methods and compositions for weed control
US10829828B2 (en) 2011-09-13 2020-11-10 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for weed control
US10760086B2 (en) 2011-09-13 2020-09-01 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for weed control
US10240161B2 (en) 2012-05-24 2019-03-26 A.B. Seeds Ltd. Compositions and methods for silencing gene expression
US10683505B2 (en) 2013-01-01 2020-06-16 Monsanto Technology Llc Methods of introducing dsRNA to plant seeds for modulating gene expression
MX2015008611A (es) 2013-01-01 2016-02-03 Seeds Ltd Ab Metodos para introducir dsrna en semillas de plantas para modular la expresion genetica.
EP2967082A4 (en) 2013-03-13 2016-11-02 Monsanto Technology Llc METHOD AND COMPOSITIONS FOR WEED CONTROL
BR112015023051A2 (pt) 2013-03-13 2017-11-14 Monsanto Technology Llc método para controle de ervas daninhas, composição herbicida, cassete de expressão microbiano e método de produção de polinucleotídeo
US10568328B2 (en) 2013-03-15 2020-02-25 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for weed control
JP6668236B2 (ja) 2013-07-19 2020-03-18 モンサント テクノロジー エルエルシー Leptinotarsa防除用組成物及びその方法
US9850496B2 (en) 2013-07-19 2017-12-26 Monsanto Technology Llc Compositions and methods for controlling Leptinotarsa
MX2016005778A (es) 2013-11-04 2016-12-20 Monsanto Technology Llc Composiciones y metodos para controlar infestaciones de plagas y parasitos de los artropodos.
UA119253C2 (uk) 2013-12-10 2019-05-27 Біолоджикс, Інк. Спосіб боротьби із вірусом у кліща varroa та у бджіл
AR099092A1 (es) 2014-01-15 2016-06-29 Monsanto Technology Llc Métodos y composiciones para el control de malezas utilizando polinucleótidos epsps
EP3125676A4 (en) 2014-04-01 2018-02-14 Monsanto Technology LLC Compositions and methods for controlling insect pests
CA2953347A1 (en) 2014-06-23 2015-12-30 Monsanto Technology Llc Compositions and methods for regulating gene expression via rna interference
US11807857B2 (en) 2014-06-25 2023-11-07 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for delivering nucleic acids to plant cells and regulating gene expression
CN114009454A (zh) 2014-07-29 2022-02-08 孟山都技术公司 用于控制昆虫害虫的组合物和方法
CN108064288B (zh) 2015-01-22 2021-11-26 孟山都技术公司 用于控制叶甲属的组合物和方法
EP3302053B1 (en) 2015-06-02 2021-03-17 Monsanto Technology LLC Compositions and methods for delivery of a polynucleotide into a plant
US10655136B2 (en) 2015-06-03 2020-05-19 Monsanto Technology Llc Methods and compositions for introducing nucleic acids into plants

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5871452A (ja) * 1981-10-23 1983-04-28 Kawasaki Steel Corp 磁気探傷機のセツチング装置
JPS6346844U (ja) * 1986-09-16 1988-03-30

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1305091A (ja) 1969-04-23 1973-01-31
US3612987A (en) * 1970-04-13 1971-10-12 Amf Inc Inspection apparatus for moving elongated articles including means for extending and retracting a sensor relative to the article
CA1038038A (en) 1976-04-30 1978-09-05 Northern Telecom Limited Apparatus for measuring and indicating the thickness of non-metallic coatings
DE2847716C3 (de) * 1978-11-03 1981-04-23 Institut Dr. Friedrich Förster Prüfgerätebau, 7410 Reutlingen Rotierkopf zum Prüfen von langgestrecktem ferromagnetischem Prüfgut
GB2045436B (en) * 1979-03-23 1983-03-23 British Steel Corp Rotary ultrasonic testing apparatus
DE2936660C2 (de) * 1979-09-11 1984-05-10 M.A.N. Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg AG, 8500 Nürnberg Manipulator zur Prüfung von Rohrumfangs- und Rohrlängsschweißnähten
US4596953A (en) * 1982-04-14 1986-06-24 Daidotokushuko Kabushikikaisha Apparatus for scanning a material for detection of flaws and having material axis deviation detection
US4641092A (en) * 1982-07-08 1987-02-03 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Rotary probe apparatus for detecting flaws in a test object
US4554496A (en) * 1983-02-25 1985-11-19 Johnson Service Company Controllable rotary actuator
US4641532A (en) * 1984-12-27 1987-02-10 Westinghouse Electric Corp. Apparatus for adjustably mounting ultrasonic testing devices
DE3603153A1 (de) * 1986-02-01 1987-08-06 Nukem Gmbh Anordnung fuer die zerstoerungsfreie pruefung von zylinderfoermigen werkstuecken
GB8626673D0 (en) * 1986-11-07 1986-12-10 British Steel Corp Rotary ultrasonic testing apparatus
DE3739190A1 (de) * 1987-11-19 1989-06-01 Foerster Inst Dr Friedrich Rotierkopf zum abtasten der oberflaeche zylindrischer pruefteile
JPH02221857A (ja) * 1989-02-22 1990-09-04 Hara Denshi Sokki Kk 回転式漏洩磁束探傷機の回転ヘッド機構
DE3916122C1 (ja) * 1989-05-18 1990-09-27 Hoesch Ag, 4600 Dortmund, De
DE3937262A1 (de) * 1989-07-20 1991-01-31 Geze Gmbh & Co Bodentuerschliesser
DE3937261C2 (de) * 1989-11-09 1996-04-11 Foerster Inst Dr Friedrich Rotierkopf zum Abtasten von metallischem Prüfgut
DE9010086U1 (ja) * 1990-07-03 1990-10-04 Krautkraemer Gmbh & Co, 5030 Huerth, De
DE4021546A1 (de) * 1990-07-06 1992-01-16 Boehm Gmbh & Co Kg Messeinrichtung zur beruehrungslosen lage- bzw. laengenmessung an werkstuecken
CH681181A5 (ja) * 1990-07-31 1993-01-29 Egco Ag
US5111142A (en) * 1990-08-08 1992-05-05 Systems Research Laboratories, Inc. Eddy current proble with adjustable position rotating head
DE4141257C2 (de) * 1991-12-14 1996-08-29 Foerster Inst Dr Friedrich Vorrichtung zum Schutz einer mit mindestens einem Prüfkopf versehenen Prüfvorrichtung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5871452A (ja) * 1981-10-23 1983-04-28 Kawasaki Steel Corp 磁気探傷機のセツチング装置
JPS6346844U (ja) * 1986-09-16 1988-03-30

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012169008A1 (ja) * 2011-06-07 2012-12-13 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
CN103562715A (zh) * 2011-06-07 2014-02-05 三菱电机株式会社 钢丝绳探伤装置
JP5661181B2 (ja) * 2011-06-07 2015-01-28 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
US9075023B2 (en) 2011-06-07 2015-07-07 Mitsubishi Electric Corporation Wire rope flaw detector

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DE4314274C2 (de) 1995-11-30
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DE4314274A1 (de) 1994-11-03

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