JPH0629725B2 - フレ−ム形状測定装置 - Google Patents
フレ−ム形状測定装置Info
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- JPH0629725B2 JPH0629725B2 JP60287491A JP28749185A JPH0629725B2 JP H0629725 B2 JPH0629725 B2 JP H0629725B2 JP 60287491 A JP60287491 A JP 60287491A JP 28749185 A JP28749185 A JP 28749185A JP H0629725 B2 JPH0629725 B2 JP H0629725B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
- B24B9/02—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
- B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B9/08—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass
- B24B9/14—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms
- B24B9/144—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms the spectacles being used as a template
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメガネフレームのレンズ枠、またはレンズ枠形
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、特に、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によつて研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、特に、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によつて研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
従来、メガネフレームのレンズ枠または型板を固定し、
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者
は、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠ま
たは型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至つ
た。
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者
は、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠ま
たは型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至つ
た。
本発明は、メガネフレームの被測定レンズ枠の上側リム
と下側リムとのそれぞれにその内壁を当接させるために
該メガネフレームの上下方向であって反対向きに等しい
量で移動可能な一対のスライダと、該スライダに形成さ
れた切欠部から突出して互いに内向きに挿入され前記被
測定レンズ枠の上側リムと下側リムとを前記被測定レン
ズの光軸と略平行な方向に沿って前記被測定レンズ枠の
厚み方向から接するように支持させる保持棒とを有し、 前記スライダの内壁により上側リムと下側リムとを当接
支持し前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み方向
から上側リムと下側リムとを挟持して前記メガネフレー
ムを保持するフレーム保持手段と、 所定平面と交差し、かつ前記レンズ枠に軸線が位置する
鉛直軸回りに回転するセンサーアームと、 該センサーアームに沿って移動するセンサーヘッドと、 該センサーヘッドに前記鉛直軸と略平行な軸線に沿って
自由移動可能に取り付けられ、前記スライダの内壁に当
接支持され前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み
方向から支持された上側リムと下側リムとのヤゲン溝に
当接させて測定するためのフィーラーと、 前記センサーアームの回転角と前記センサーヘッドの移
動量を電気的に検出し、前記レンズ枠の形状を動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）として計測
する検出手段とから構成された計測手段と、 前記センサーアームの回転中心における動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）から、前記
レンズ枠の幾何学中心を演算する演算手段と を有することを特徴として構成される。
と下側リムとのそれぞれにその内壁を当接させるために
該メガネフレームの上下方向であって反対向きに等しい
量で移動可能な一対のスライダと、該スライダに形成さ
れた切欠部から突出して互いに内向きに挿入され前記被
測定レンズ枠の上側リムと下側リムとを前記被測定レン
ズの光軸と略平行な方向に沿って前記被測定レンズ枠の
厚み方向から接するように支持させる保持棒とを有し、 前記スライダの内壁により上側リムと下側リムとを当接
支持し前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み方向
から上側リムと下側リムとを挟持して前記メガネフレー
ムを保持するフレーム保持手段と、 所定平面と交差し、かつ前記レンズ枠に軸線が位置する
鉛直軸回りに回転するセンサーアームと、 該センサーアームに沿って移動するセンサーヘッドと、 該センサーヘッドに前記鉛直軸と略平行な軸線に沿って
自由移動可能に取り付けられ、前記スライダの内壁に当
接支持され前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み
方向から支持された上側リムと下側リムとのヤゲン溝に
当接させて測定するためのフィーラーと、 前記センサーアームの回転角と前記センサーヘッドの移
動量を電気的に検出し、前記レンズ枠の形状を動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）として計測
する検出手段とから構成された計測手段と、 前記センサーアームの回転中心における動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）から、前記
レンズ枠の幾何学中心を演算する演算手段と を有することを特徴として構成される。
以下本発明の実施例を図をもとに説明する。第１図は本
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
本装置は、大きく３つの部分、すなわち、フレームを保
持するフレーム保持装置部１００と、このフレーム保持
装置部１００を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部２００と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部３００とから構成されて
いる。
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
本装置は、大きく３つの部分、すなわち、フレームを保
持するフレーム保持装置部１００と、このフレーム保持
装置部１００を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部２００と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部３００とから構成されて
いる。
支持装置部２００は筐体２０１上に縦方向（測定座標系
のＸ軸方向）に平行に設置されたガイドレール２０２
ａ，２０２ｂを有し、このガイドレール上に移動ステー
ジ２０３が摺動自在に載置されている。移動ステージ２
０３の下面には雌ネジ部２０４が形成されており、この
雌ネジ部２０４にはＸ軸用送りネジ２０５が螺合されて
いる。このＸ軸送りネジ２０５はパルスモータからなる
Ｘ軸モータ２０６により回動される。
のＸ軸方向）に平行に設置されたガイドレール２０２
ａ，２０２ｂを有し、このガイドレール上に移動ステー
ジ２０３が摺動自在に載置されている。移動ステージ２
０３の下面には雌ネジ部２０４が形成されており、この
雌ネジ部２０４にはＸ軸用送りネジ２０５が螺合されて
いる。このＸ軸送りネジ２０５はパルスモータからなる
Ｘ軸モータ２０６により回動される。
移動ステージ２０３の両側フランジ２０７ａ，２０７ｂ
間には測定標系のＹ軸方向と平行にガイド軸２０８が渡
されており、このガイド軸２０８はフランジ２０７ａに
取付けられたガイド軸モータ２０９により回転できるよ
う構成されている。ガイド軸２０８は、その軸と平行に
外面に一条のガイド溝２１０が形成されている。
間には測定標系のＹ軸方向と平行にガイド軸２０８が渡
されており、このガイド軸２０８はフランジ２０７ａに
取付けられたガイド軸モータ２０９により回転できるよ
う構成されている。ガイド軸２０８は、その軸と平行に
外面に一条のガイド溝２１０が形成されている。
ガイド軸２０８にはハンド２１１，２１２が摺動可能に
支持されている。このハンド２１１，２１２の軸穴２１
３，２１４にはそれぞれ突起部２１３ａ，２１４ａが形
成されており、この突起部２１３ａ，２１４ａが前述の
ガイド軸２０８のガイド溝２１０内に係合され、ハンド
ル２１１，２１２のガイド軸２０８の回りの回転を阻止
している。
支持されている。このハンド２１１，２１２の軸穴２１
３，２１４にはそれぞれ突起部２１３ａ，２１４ａが形
成されており、この突起部２１３ａ，２１４ａが前述の
ガイド軸２０８のガイド溝２１０内に係合され、ハンド
ル２１１，２１２のガイド軸２０８の回りの回転を阻止
している。
ハンド２１１は互いに交わる二つの斜面２１５，２１６
を持ち、他方ハンド２１２も同様に互に交わる二つの斜
面２１７，２１８を有している。ハンド２１２の両斜面
２１７，２１８が作る稜線２２０はハンド２１１の斜面
２１５，２１６の作る稜線２１９と平行でかつ同一平面
内に位置するように、また、斜面２１７，２１８のなす
角度と斜面２１５，２１６のなす角度は相等しいように
構成されている。そして両ハンド２１１，２１２の間に
は第５図(B)に示すようにバネ２３０が掛け渡されてい
る。
を持ち、他方ハンド２１２も同様に互に交わる二つの斜
面２１７，２１８を有している。ハンド２１２の両斜面
２１７，２１８が作る稜線２２０はハンド２１１の斜面
２１５，２１６の作る稜線２１９と平行でかつ同一平面
内に位置するように、また、斜面２１７，２１８のなす
角度と斜面２１５，２１６のなす角度は相等しいように
構成されている。そして両ハンド２１１，２１２の間に
は第５図(B)に示すようにバネ２３０が掛け渡されてい
る。
移動ステージ２０３の後側フランジ２２１の一端にはプ
ーリー２２２が回動自在に軸支され、後側フランジ２２
１の他端にはプーリー２２３を有するＹ軸モーター２２
４が取付けられている。プーリー２２３，２２４にはス
プリング２２５を介在させたミニチアベルト２２６が掛
け渡されており、ミニチアベルト２２６の両端はハンド
２１１の上面に植設されたピン２２７に固着されてい
る。
ーリー２２２が回動自在に軸支され、後側フランジ２２
１の他端にはプーリー２２３を有するＹ軸モーター２２
４が取付けられている。プーリー２２３，２２４にはス
プリング２２５を介在させたミニチアベルト２２６が掛
け渡されており、ミニチアベルト２２６の両端はハンド
２１１の上面に植設されたピン２２７に固着されてい
る。
他方、ハンド２１２の上面には、鍔２２８が形成されて
おり、この鍔２２８はハンド２１２の移動により移動ス
テージ２０３の後側フランジ２２１に植設されたピン２
２９の側面に当接するように構成されている。
おり、この鍔２２８はハンド２１２の移動により移動ス
テージ２０３の後側フランジ２２１に植設されたピン２
２９の側面に当接するように構成されている。
計測部３００は、筐体２０１の下面に取付けられたセン
サーアーム回転モータ３０１と筐体２０１の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部３０２から成る。モ
ータ３０１の回転軸に取付けられたプーリー３０３とセ
ンサーアーム部の回転軸３０４との間にはベルト３０５
が掛け渡されており、これによりモータ３０１の回転が
センサーアームに伝達される。
サーアーム回転モータ３０１と筐体２０１の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部３０２から成る。モ
ータ３０１の回転軸に取付けられたプーリー３０３とセ
ンサーアーム部の回転軸３０４との間にはベルト３０５
が掛け渡されており、これによりモータ３０１の回転が
センサーアームに伝達される。
センサーアーム部３０２はそのベース３１０の上方に渡
された２本のレール３１１，３１１を有し、このレール
３１１，３１１上にセンサーヘツド部３１２が摺動可能
に取付けられている。センサーヘツド部３１２の一側面
には磁気スケール読み取りヘツド３１３が取付けられ、
これによりベース３１０にレール３１１と平行に取付け
られた磁気スケール３１４を読み取り、センサーヘツド
部３１２の移動量を検出するように構成されている。ま
た、センサーヘツド部３１２の他側には、このヘツド部
３１２を常時アーム端側面へ引つぱるバネ装置３１５の
ぜんまいバネ３１６の一端が固着されている。
された２本のレール３１１，３１１を有し、このレール
３１１，３１１上にセンサーヘツド部３１２が摺動可能
に取付けられている。センサーヘツド部３１２の一側面
には磁気スケール読み取りヘツド３１３が取付けられ、
これによりベース３１０にレール３１１と平行に取付け
られた磁気スケール３１４を読み取り、センサーヘツド
部３１２の移動量を検出するように構成されている。ま
た、センサーヘツド部３１２の他側には、このヘツド部
３１２を常時アーム端側面へ引つぱるバネ装置３１５の
ぜんまいバネ３１６の一端が固着されている。
第４図は、このバネ装置３１５の構成を示している。セ
ンサーアーム部３０２のベース３１０に取り付けられた
ケーシング３１７内には電磁マグネツト３１８が設けら
れ、スライド軸３１９がマグネツト３１８の軸穴内にそ
の軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このスライド
軸３１９は、鍔３２０，３２１を有し、鍔３２０とケー
シング３１７の壁間にはバネ３２３が介在し、バネ３２
３によりスライド軸３１９は常時は第４図の左方に移動
させられている。
ンサーアーム部３０２のベース３１０に取り付けられた
ケーシング３１７内には電磁マグネツト３１８が設けら
れ、スライド軸３１９がマグネツト３１８の軸穴内にそ
の軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このスライド
軸３１９は、鍔３２０，３２１を有し、鍔３２０とケー
シング３１７の壁間にはバネ３２３が介在し、バネ３２
３によりスライド軸３１９は常時は第４図の左方に移動
させられている。
スライド軸３１９の端部には、クラツチ板３２４，３２
５が回動可能に軸支され、一方のクラツチ板３２４には
ぜんまいバネ３１６の一端が固着されている。また両ク
ラツチ板３２４，３２５間にはスライド軸３１９を嵌挿
されたバネ３２６が介在し、常時これらクラツチ板３２
４，３２５の間隔を広げ、ぜんまいバネ３１６とクラツ
チ板３２５との接触を妨げている。さらに、スライド軸
３１９の端部にはワツシヤー３２７が取付けられてい
る。
５が回動可能に軸支され、一方のクラツチ板３２４には
ぜんまいバネ３１６の一端が固着されている。また両ク
ラツチ板３２４，３２５間にはスライド軸３１９を嵌挿
されたバネ３２６が介在し、常時これらクラツチ板３２
４，３２５の間隔を広げ、ぜんまいバネ３１６とクラツ
チ板３２５との接触を妨げている。さらに、スライド軸
３１９の端部にはワツシヤー３２７が取付けられてい
る。
第６図はセンサーヘツド部３１２の構成を示し、レール
３１１に支持されたスライダー３５０には鉛直方向に軸
穴３５１が形成されており、この軸穴３５１にセンサー
軸３５２が挿入されている。センサー軸３５２と軸穴３
５１との間にはセンサー軸３５２に保持されたボールベ
アリング３５３が介在し、これによりセンサー軸３５２
の鉛直軸線回りの回動及び鉛直軸線方向の移動をスムー
ズにしている。
３１１に支持されたスライダー３５０には鉛直方向に軸
穴３５１が形成されており、この軸穴３５１にセンサー
軸３５２が挿入されている。センサー軸３５２と軸穴３
５１との間にはセンサー軸３５２に保持されたボールベ
アリング３５３が介在し、これによりセンサー軸３５２
の鉛直軸線回りの回動及び鉛直軸線方向の移動をスムー
ズにしている。
センサー軸３５２の上部には断面が半月状の切欠きを有
し、この切欠き面３５４は眼鏡フレームのレンズ枠形状
から倣い加工された型板の形状を計測するときにその型
板側面と当接する型板フイーラー構成する。また、セン
サー軸３５２の中央にはアーム３５５が取付けられてお
り、このアーム３５５の上部にはレンズ枠のヤゲン溝と
当接されるソロバン玉形状のヤゲンフイーラー３５６が
回動可能に軸支されている。そして上記切欠き面すなわ
ち型板当接面３５４およびヤゲンフイーラー３５６の円
周点の両方は鉛直なセンサー軸３５２の中心線上に位置
するように構成される。
し、この切欠き面３５４は眼鏡フレームのレンズ枠形状
から倣い加工された型板の形状を計測するときにその型
板側面と当接する型板フイーラー構成する。また、セン
サー軸３５２の中央にはアーム３５５が取付けられてお
り、このアーム３５５の上部にはレンズ枠のヤゲン溝と
当接されるソロバン玉形状のヤゲンフイーラー３５６が
回動可能に軸支されている。そして上記切欠き面すなわ
ち型板当接面３５４およびヤゲンフイーラー３５６の円
周点の両方は鉛直なセンサー軸３５２の中心線上に位置
するように構成される。
スライダー３５０の下方には、センサー軸の鉛直軸方向
移動量すなわちＺ軸方向の移動量は計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー３５８の読み取りヘ
ッド３５９が取付けられている。一方センサー軸３５２
の下端にはセンサー３５８の磁気スケール３６０が取付
けられている。
移動量すなわちＺ軸方向の移動量は計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー３５８の読み取りヘ
ッド３５９が取付けられている。一方センサー軸３５２
の下端にはセンサー３５８の磁気スケール３６０が取付
けられている。
次にフレーム保持装置部１００の構成を第２図(A)及び
第３図をもとに説明する。固定ベース１５０の辺１５１
ａ，１５１ａを有する両側フランジ１５１，１５１１の
中央にはフレーム保持棒１５２、１５２がネジ止めされ
ている。この固定ベース１５０の底板１５０ａとフラン
ジ１５１の間には辺１５３ａ、１５３ａを有する可動ベ
ース１５３が挿入されており、可動ベース１５３は固定
ベース１５０の底板１５０ａに取付けられた２枚の板バ
ネ１５４、１５４によつて支持されている。
第３図をもとに説明する。固定ベース１５０の辺１５１
ａ，１５１ａを有する両側フランジ１５１，１５１１の
中央にはフレーム保持棒１５２、１５２がネジ止めされ
ている。この固定ベース１５０の底板１５０ａとフラン
ジ１５１の間には辺１５３ａ、１５３ａを有する可動ベ
ース１５３が挿入されており、可動ベース１５３は固定
ベース１５０の底板１５０ａに取付けられた２枚の板バ
ネ１５４、１５４によつて支持されている。
可動ベース１５３には２本の平行なガイド溝１５５、１
５５が形成され、このガイド溝１５５、１５５にスライ
ダー１５６、１５６の突脚１５６ａ、１５６ａが係合さ
れて、スライダー１５６、１５６が可動ベース１５３上
に摺動可能に載置されている。
５５が形成され、このガイド溝１５５、１５５にスライ
ダー１５６、１５６の突脚１５６ａ、１５６ａが係合さ
れて、スライダー１５６、１５６が可動ベース１５３上
に摺動可能に載置されている。
一方、可動ベース１５３の中央には円形開口１５７が形
成され、その内周にはリング１５８が回動自在に嵌込ま
れている。このリング１５８の上面には２本のピン１５
９、１５９が植設され、このピン１５９、１５９のそれ
ぞれはスライダー１５６、１５６の段付部１５６ｂ、１
５６ｂに形成されたスロツト１５６ｃに挿入されてい
る。
成され、その内周にはリング１５８が回動自在に嵌込ま
れている。このリング１５８の上面には２本のピン１５
９、１５９が植設され、このピン１５９、１５９のそれ
ぞれはスライダー１５６、１５６の段付部１５６ｂ、１
５６ｂに形成されたスロツト１５６ｃに挿入されてい
る。
さらに、スライダー１５６、１５６の中央には縦状の切
欠部１５６ｄ、１５６ｄ形成されており、切欠部１５６
ｄ、１５６ｄ内に前述のフレーム保持棒１５２、１５２
がそれぞれ挿入可能となつている。また、スライダー１
５６、１５６の上面には、スライダー操作時に操作者が
指を挿入して操作しやすくするための穴部１５６ｅ、１
５６ｅが形成されている。
欠部１５６ｄ、１５６ｄ形成されており、切欠部１５６
ｄ、１５６ｄ内に前述のフレーム保持棒１５２、１５２
がそれぞれ挿入可能となつている。また、スライダー１
５６、１５６の上面には、スライダー操作時に操作者が
指を挿入して操作しやすくするための穴部１５６ｅ、１
５６ｅが形成されている。
次に、第２図(B)、(C)及び第５図(A)，(B)をもとに上述
のフレーム形状計測装置の作用を説明する。まず、第２
図(B)に示すように、スライダー１５６、１５６の穴部
１５６ｃ、１５６ｃに指を挿入しスライダー１５６、１
５６の互いの間隔を十分開き、かつ下方に押圧し、可動
ベース１５３と一緒に、板バネ１５４、１５４の弾発力
に抗して保持棒１５２とスライダー１５６、１５６の段
付部１５６ｂ′、１５６ｂとの間隔を十分開ける。
のフレーム形状計測装置の作用を説明する。まず、第２
図(B)に示すように、スライダー１５６、１５６の穴部
１５６ｃ、１５６ｃに指を挿入しスライダー１５６、１
５６の互いの間隔を十分開き、かつ下方に押圧し、可動
ベース１５３と一緒に、板バネ１５４、１５４の弾発力
に抗して保持棒１５２とスライダー１５６、１５６の段
付部１５６ｂ′、１５６ｂとの間隔を十分開ける。
その後、この間隔内にメガネフレーム５００の測定した
い方のレンズ枠５０１を挿入し、レンズ枠５０１の上側
リムと下側リムがスライダー１５６、１５６の内壁に当
接するようにスライダー１５６、１５６の間隔を狭め
る。本実施例においては、スライダー１５６、１５６は
上述したようにリング１５８による連結構造を有してい
るため、スライダー１５６、１５６の一方の移動量がそ
のまま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
い方のレンズ枠５０１を挿入し、レンズ枠５０１の上側
リムと下側リムがスライダー１５６、１５６の内壁に当
接するようにスライダー１５６、１５６の間隔を狭め
る。本実施例においては、スライダー１５６、１５６は
上述したようにリング１５８による連結構造を有してい
るため、スライダー１５６、１５６の一方の移動量がそ
のまま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
次に、レンズ枠５０１の上側リムの略中央が保持棒１５
２の下方にくるようにフレームを滑り込ませた後、スラ
イダー１５６、１５６から操作者が手を離せば、可動ベ
ース１５３は板バネ１５４、１５４の弾発力により上昇
し、レンズ枠５０１は段付部１５６ｂ、１５６ｂと保持
棒１５２、１５２とにより挾持され、かつフレーム５０
０がレンズ枠５０１の幾何学的略中心点とフレーム保持
装置１００の円形開口１５７の中心点１５７ａとをほぼ
一致させるように保持される。
２の下方にくるようにフレームを滑り込ませた後、スラ
イダー１５６、１５６から操作者が手を離せば、可動ベ
ース１５３は板バネ１５４、１５４の弾発力により上昇
し、レンズ枠５０１は段付部１５６ｂ、１５６ｂと保持
棒１５２、１５２とにより挾持され、かつフレーム５０
０がレンズ枠５０１の幾何学的略中心点とフレーム保持
装置１００の円形開口１５７の中心点１５７ａとをほぼ
一致させるように保持される。
またこのときレンズ枠５０１のヤゲン溝の頂点５０１ａ
から固定ベース１５０のフランジ１５１の辺１５１ａま
での距離ｄと可動ベース１５３の辺１５３ａまでの距離
ｄは等しい値をとるように構成されている。
から固定ベース１５０のフランジ１５１の辺１５１ａま
での距離ｄと可動ベース１５３の辺１５３ａまでの距離
ｄは等しい値をとるように構成されている。
次に、このようにしてフレーム５００を保持したフレー
ム保持装置部１００を支持装置２００の予め所定の間隔
に設定したハンド２１１，２１２間に挿入した後、Ｙ軸
モータ２２４を所定角度回転させる。Ｙ軸モータ２２４
の回転によりミニチアベルト２２６が駆動され、ハンド
２１１が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持装置
部１００及びハンド２１２も左方移動を誘起され、鍔２
２８がピン２２９より外れる。
ム保持装置部１００を支持装置２００の予め所定の間隔
に設定したハンド２１１，２１２間に挿入した後、Ｙ軸
モータ２２４を所定角度回転させる。Ｙ軸モータ２２４
の回転によりミニチアベルト２２６が駆動され、ハンド
２１１が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持装置
部１００及びハンド２１２も左方移動を誘起され、鍔２
２８がピン２２９より外れる。
同時に、フレーム保持装置部１００は引張りバネ２３０
により両ハンド２１１、２１２で挾持される。このと
き、フレーム保持装置部１００の固定ベース１５０のフ
ランジ１５１の辺１５１ａ、１５２ａはそれぞれハンド
２１１の斜面２１５とハンド２１２の斜面２１７に当接
され、また可動ベース１５３の両辺１５３ａ，１５３ａ
はそれぞれハンド２１１の斜面２１６とハンド２１２の
斜面２１８に当接される。
により両ハンド２１１、２１２で挾持される。このと
き、フレーム保持装置部１００の固定ベース１５０のフ
ランジ１５１の辺１５１ａ、１５２ａはそれぞれハンド
２１１の斜面２１５とハンド２１２の斜面２１７に当接
され、また可動ベース１５３の両辺１５３ａ，１５３ａ
はそれぞれハンド２１１の斜面２１６とハンド２１２の
斜面２１８に当接される。
本実施例においては、上述したようにメガネ枠５０１の
ヤゲン溝の頂点５０１ａから辺１５１ａと辺１５３ａそ
れぞれへの距離ｄは互いに等しいため、フレーム保持装
置１００はハンド２１１、２１２に挾持されると、レン
ズ枠５０１のヤゲン溝頂点５０１ａが両ハンドの稜線２
１９，２２０が作る基準面Ｓ上に自動的に位置される。
ヤゲン溝の頂点５０１ａから辺１５１ａと辺１５３ａそ
れぞれへの距離ｄは互いに等しいため、フレーム保持装
置１００はハンド２１１、２１２に挾持されると、レン
ズ枠５０１のヤゲン溝頂点５０１ａが両ハンドの稜線２
１９，２２０が作る基準面Ｓ上に自動的に位置される。
次に、ガイド軸回転モータ２０９の所定角度の回転によ
りフレーム保持装置部１００が第５図(A)の二点鎖線で
示す位置へ旋回し、この基準面Ｓは計測部３００のヤゲ
ンフイーラー３５６の初期位置と同一平面で停止する。
りフレーム保持装置部１００が第５図(A)の二点鎖線で
示す位置へ旋回し、この基準面Ｓは計測部３００のヤゲ
ンフイーラー３５６の初期位置と同一平面で停止する。
次に、Ｙ軸モータ２２４をさらに回転させフレーム保持
装置部１００を保持したハンド２１１、２１２をＹ軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部１００の円形
開口中心点１５９ａと計測部３００の回転軸３０４中心
とを概略一致させる。この時、移動の途中でヤゲンフイ
ーラー３５６はレンズ枠５０１のヤゲン溝に当接する。
装置部１００を保持したハンド２１１、２１２をＹ軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部１００の円形
開口中心点１５９ａと計測部３００の回転軸３０４中心
とを概略一致させる。この時、移動の途中でヤゲンフイ
ーラー３５６はレンズ枠５０１のヤゲン溝に当接する。
ヤゲンフイーラー３５６の初期位置は、第５図(A)、(B)
に図示するように、センサー軸３５２の下端に植設され
たピン３５２ａがセンサーアーム部のベース３１０に取
付けられたハンガー３１０ａに当接することにより、そ
の方向が規制されている。これにより、Ｙ軸モータ２２
４の回転によつてメガネフレーム５００が移動すると、
常にフイーラー３５６はヤゲン溝に入いることができ
る。
に図示するように、センサー軸３５２の下端に植設され
たピン３５２ａがセンサーアーム部のベース３１０に取
付けられたハンガー３１０ａに当接することにより、そ
の方向が規制されている。これにより、Ｙ軸モータ２２
４の回転によつてメガネフレーム５００が移動すると、
常にフイーラー３５６はヤゲン溝に入いることができ
る。
続いて、モータ３０１を予め定めた単位回転パルス数毎
に回転させる。このときセンサーヘツド部３１２はメガ
ネフレーム５００の形状、すなわちレンズ枠５０１の動
径にしたがつてレール３１１、３１１上を移動し、その
移動量は磁気スケール３１４と読み取りヘツド３１３に
より読み取られる。
に回転させる。このときセンサーヘツド部３１２はメガ
ネフレーム５００の形状、すなわちレンズ枠５０１の動
径にしたがつてレール３１１、３１１上を移動し、その
移動量は磁気スケール３１４と読み取りヘツド３１３に
より読み取られる。
モータ３０１の回転角θと読み取りヘツド３１３からの
読み取り量ρとからレンズ枠形状は（ρｎ，θｎ）（ｎ
＝１、２、３……Ｎ）として計測される。
読み取り量ρとからレンズ枠形状は（ρｎ，θｎ）（ｎ
＝１、２、３……Ｎ）として計測される。
ここで、この第１回目の計測は前述した様に、第７図に
示すように、回転軸３０４の中心Ｏはレンズ枠５０１の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
示すように、回転軸３０４の中心Ｏはレンズ枠５０１の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
第２回目の計測は、第１回目の計測データ（ρｎ，θ
ｎ）を極座標一直交座標変換した後のデータ（Xn,Yn）
からＸ軸方向の最大値をもつ被計測点Ｂ（Xb,yn）、Ｘ
軸方向で最小値をもつ被計測点Ｄ（Xd,yd）、Ｙ軸方向
で最大値をもつ被測定点Ａ（Xa，ya）及びＹ軸方向で最
小値をもつ被計測点Ｃ（Xc,yc）を選び、レンズ枠の幾
何学中心Ooを として求めた後、このXo，yo値にとづいてＸ軸モータ２
０６とＹ軸モータ２２４を駆動させ、ハンド２１１，２
１２で挾持されたフレーム保持装置部１００を移動し、
これによりレンズ枠５０１の幾何学中心Ooをセンサーア
ーム３０２の回転中心Ｏと一致させ、再度レンズ枠形状
を計測し、幾何学中心Ooにおける計測値（ｏρｎ，ｏρ
ｎ）（ｎ＝１：２：３……Ｎ）を求める。
ｎ）を極座標一直交座標変換した後のデータ（Xn,Yn）
からＸ軸方向の最大値をもつ被計測点Ｂ（Xb,yn）、Ｘ
軸方向で最小値をもつ被計測点Ｄ（Xd,yd）、Ｙ軸方向
で最大値をもつ被測定点Ａ（Xa，ya）及びＹ軸方向で最
小値をもつ被計測点Ｃ（Xc,yc）を選び、レンズ枠の幾
何学中心Ooを として求めた後、このXo，yo値にとづいてＸ軸モータ２
０６とＹ軸モータ２２４を駆動させ、ハンド２１１，２
１２で挾持されたフレーム保持装置部１００を移動し、
これによりレンズ枠５０１の幾何学中心Ooをセンサーア
ーム３０２の回転中心Ｏと一致させ、再度レンズ枠形状
を計測し、幾何学中心Ooにおける計測値（ｏρｎ，ｏρ
ｎ）（ｎ＝１：２：３……Ｎ）を求める。
上述の幾何学中心Ooに基づくレンズ枠形状の計測時に
は、センサー３５８によりＺ軸方向のセンサーヘツド３
１２の移動量も同時に計測される。これにより結局レン
ズ形状は（ｏρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）（ｎ＝１、２、３…
…Ｎ）の三次元情報が得られることとなる。
は、センサー３５８によりＺ軸方向のセンサーヘツド３
１２の移動量も同時に計測される。これにより結局レン
ズ形状は（ｏρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）（ｎ＝１、２、３…
…Ｎ）の三次元情報が得られることとなる。
以上述べたレンズ枠５０１の動径計測において、ヤゲン
フイーラー３５６がレンズ枠５０１から計測途中ではず
れるようなことがあると、第７図にｅで示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲ａを定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部３０２の回転は停止
し、同時に第４図に示したバネ装置３１５の電磁マグネ
ツト３１８を励磁し、鍔３２１を引着する。
フイーラー３５６がレンズ枠５０１から計測途中ではず
れるようなことがあると、第７図にｅで示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲ａを定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部３０２の回転は停止
し、同時に第４図に示したバネ装置３１５の電磁マグネ
ツト３１８を励磁し、鍔３２１を引着する。
これによりクラツチ板３２４，３２５がぜんまいバネ３
１６を挾持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘツド部３１２のアーム３５５がレンズ枠に引つ掛か
り、メガネフレーム５００をきずつけることを防止でき
る。このようなフイーラー３５６のはずれがあつた後
は、再度メガネフレーム５００を初期計測位置に復帰さ
せ、計測をしなおす。
１６を挾持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘツド部３１２のアーム３５５がレンズ枠に引つ掛か
り、メガネフレーム５００をきずつけることを防止でき
る。このようなフイーラー３５６のはずれがあつた後
は、再度メガネフレーム５００を初期計測位置に復帰さ
せ、計測をしなおす。
第８図はメガネフレーム５００のレンズ枠５０１から倣
い加工により型取りされた型板５１０の形状を計測する
ための型板保持部材１１０の構成を示している。型板保
持部材１１０は、腕部１１１とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱１１２、１１３及び腕部１１１の中央に
取付けられた保持支柱１２０とから構成される。保持支
柱１２０の先端端面には中央に太いピン１１６がその両
横に細いピン１１４，１１５が植設され、これらピン１
１４〜１１６により型板５１０が保持支柱１２０に装着
される。
い加工により型取りされた型板５１０の形状を計測する
ための型板保持部材１１０の構成を示している。型板保
持部材１１０は、腕部１１１とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱１１２、１１３及び腕部１１１の中央に
取付けられた保持支柱１２０とから構成される。保持支
柱１２０の先端端面には中央に太いピン１１６がその両
横に細いピン１１４，１１５が植設され、これらピン１
１４〜１１６により型板５１０が保持支柱１２０に装着
される。
型板保持部材１１０は、その支柱１１２，１１３がハン
ド２１１、２１２により挾持される。そしてハンド２１
１，２１２が計測位置へ下降したとき、型板５１０はセ
サー部３１２の型板当接面３５４と同一平面内に位置さ
れ、ハンド２１１、２１２の移動により型板当接面３５
４が型板５１０の側面に当接し、センサーアーム３０２
の回転によりその動径（ｔρｎ：ｔθｎ）が測定され
る。
ド２１１、２１２により挾持される。そしてハンド２１
１，２１２が計測位置へ下降したとき、型板５１０はセ
サー部３１２の型板当接面３５４と同一平面内に位置さ
れ、ハンド２１１、２１２の移動により型板当接面３５
４が型板５１０の側面に当接し、センサーアーム３０２
の回転によりその動径（ｔρｎ：ｔθｎ）が測定され
る。
第９図は本願のフレーム形状測定装置の演算・制御回路
を示すブロツク図である。ドライバ回路６０１ないし６
０４はそれぞれＸ軸モータ２０６、Ｙ軸モータ２２４、
センサーアーム回転モータ３０１、及びガイド軸回転モ
ータ２０９に接続される。ドライバ６０１ないし６０４
はシーケンス制御回路６１０の制御のもとにパルス発生
器６０９から供給されるパルス数に応じて上記各パルス
モータの回転駆動を制御する。
を示すブロツク図である。ドライバ回路６０１ないし６
０４はそれぞれＸ軸モータ２０６、Ｙ軸モータ２２４、
センサーアーム回転モータ３０１、及びガイド軸回転モ
ータ２０９に接続される。ドライバ６０１ないし６０４
はシーケンス制御回路６１０の制御のもとにパルス発生
器６０９から供給されるパルス数に応じて上記各パルス
モータの回転駆動を制御する。
読み取りヘツド３１３の読み取り出力はカウンタ６０５
で計測され、比較回路６０６に入力される。比較回路６
０６は基準値発生回路６０７からの動径変化範囲ａに相
当する信号とカウンタ６０５からの計数値の変化量とを
比較し、計測値が範囲ａ内にあるときは、カウンタ６０
５の計数値ρｎ及びパルス発生器６０９からのパルス数
をセンサーアーム３５５の回転角に変換し、その値θｎ
とを組として（ρｎ，θｎ）をデータメモリ６１１へ入
力し、これを記憶させる。
で計測され、比較回路６０６に入力される。比較回路６
０６は基準値発生回路６０７からの動径変化範囲ａに相
当する信号とカウンタ６０５からの計数値の変化量とを
比較し、計測値が範囲ａ内にあるときは、カウンタ６０
５の計数値ρｎ及びパルス発生器６０９からのパルス数
をセンサーアーム３５５の回転角に変換し、その値θｎ
とを組として（ρｎ，θｎ）をデータメモリ６１１へ入
力し、これを記憶させる。
次に、シーケンス制御回路６１０はゲート回路６１２を
演算回路６１３側へ切換え、データメモリ６１１に記憶
されている第１回目の動径情報（ρｎ，θｎ）に基いて
レンズ枠５０１の幾何学中心Ooを演算させ、そのデータ
をシーケンス制御回路６１０へ入力させる。シーケンス
制御回路６１０は演算回路６１３からのデータに基いて
前述の(1)式からXo，Yoを求め、ドライバ６０１、６０
３に必要なパルス数を入力してモータ２０６、２２４を
駆動し、レンズ枠５００の中心をセンサーアーム３０２
の回転中心に一致させる。
演算回路６１３側へ切換え、データメモリ６１１に記憶
されている第１回目の動径情報（ρｎ，θｎ）に基いて
レンズ枠５０１の幾何学中心Ooを演算させ、そのデータ
をシーケンス制御回路６１０へ入力させる。シーケンス
制御回路６１０は演算回路６１３からのデータに基いて
前述の(1)式からXo，Yoを求め、ドライバ６０１、６０
３に必要なパルス数を入力してモータ２０６、２２４を
駆動し、レンズ枠５００の中心をセンサーアーム３０２
の回転中心に一致させる。
これと同時にシーケンス制御回路６１０はカウンタ回路
６１５を指令し、Ｚ軸センサー３５８からのデータを計
数するよう指令する。そして再度Ｚ軸方向データを含む
レンズ枠形状情報（ｏρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）を計測し、
このデータをデータメモリ６１１に記憶させる。ここ
で、もしカウンタ６０５からの計数値ρｎまたはｏρｎ
が基準値発生回路６０７からの出力される動径変化範囲
ａより大きいときは、比較回路６０６はその旨をシーケ
ンス制御回路６１０に出力し、この出力を受けた回路６
１０はドライバ６０８を作動させてバネ装置３１５の電
磁マグネツト３１８を励磁させ、フイーラー３５６の移
動を阻止するとともに、ドライバ６０４へのパルスの供
給を停止し、モータ３０１の回転を防止する。
６１５を指令し、Ｚ軸センサー３５８からのデータを計
数するよう指令する。そして再度Ｚ軸方向データを含む
レンズ枠形状情報（ｏρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）を計測し、
このデータをデータメモリ６１１に記憶させる。ここ
で、もしカウンタ６０５からの計数値ρｎまたはｏρｎ
が基準値発生回路６０７からの出力される動径変化範囲
ａより大きいときは、比較回路６０６はその旨をシーケ
ンス制御回路６１０に出力し、この出力を受けた回路６
１０はドライバ６０８を作動させてバネ装置３１５の電
磁マグネツト３１８を励磁させ、フイーラー３５６の移
動を阻止するとともに、ドライバ６０４へのパルスの供
給を停止し、モータ３０１の回転を防止する。
データメモリ６１１に記憶されたレンズ枠形状情報（ｏ
ρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）は必要に応じゲート回路６１２の
切換えにより、例えば本出願人がさきに出願した特願昭
５８−２２５１９７で開示したデジタル玉摺機や型取機
あるいはフレームの型状が設計値通りに加工されている
か否かを判定する判定装置等へ供給される。
ρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）は必要に応じゲート回路６１２の
切換えにより、例えば本出願人がさきに出願した特願昭
５８−２２５１９７で開示したデジタル玉摺機や型取機
あるいはフレームの型状が設計値通りに加工されている
か否かを判定する判定装置等へ供給される。
データメモリ６１１に記憶されたレンズ枠形状情報（ｏ
ρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）のＺｎ情報からレンズ枠のカーブ
値ｃを必要に応じ演算回路６１３で求めることができ
る。
ρｎ，ｏθｎ，Ｚｎ）のＺｎ情報からレンズ枠のカーブ
値ｃを必要に応じ演算回路６１３で求めることができ
る。
その演算は第１０図(A)及び(B)に示すようにレンズ枠上
の少なくとも２点ａ、ｂにおける動径ρＡ、ρＢと、こ
の２点のＺ軸方向のセンサーヘツド移動値ＺA，ＺBか
ら、レンズ枠５０１のヤゲン軌跡を含む球体SPの曲率半
径Ｒを Ｒ2＝ρＡ 2＋（Zo−ＺA）２ Ｒ2＝ρＢ 2＋（Zo−ＺB）２……(2) から求め、ヤゲンのカーブ値Ｃは求められたＲから （ただしｎは定数でｎ＝１．５２３） として実行される。
の少なくとも２点ａ、ｂにおける動径ρＡ、ρＢと、こ
の２点のＺ軸方向のセンサーヘツド移動値ＺA，ＺBか
ら、レンズ枠５０１のヤゲン軌跡を含む球体SPの曲率半
径Ｒを Ｒ2＝ρＡ 2＋（Zo−ＺA）２ Ｒ2＝ρＢ 2＋（Zo−ＺB）２……(2) から求め、ヤゲンのカーブ値Ｃは求められたＲから （ただしｎは定数でｎ＝１．５２３） として実行される。
なお、シーケンス制御回路はプログラムメモリ６１４に
内蔵のプログラムによつて上述の計測ステツプを実行す
る。
内蔵のプログラムによつて上述の計測ステツプを実行す
る。
特殊で挟持し難くいメガネフレームを確実にかつその幾
何学中心が所定の位置となるように挟持し、高精度なデ
ジタル計測を可能にすることができる利点を有する。
何学中心が所定の位置となるように挟持し、高精度なデ
ジタル計測を可能にすることができる利点を有する。
第１図は本発明に係るフレーム形状装置を示す斜視図、
第２図(A)は、そのフレーム保持装置を示す斜視図、第
２図(B)、(C)はその保持装置の作動を示す縦断面図、第
３図は第２図(A)の線Ａ−Ａに沿つた断面図、第４図は
バネ部材の構造を示す縦正中断面図、第５図(A)は支持
装置部とセンサー部の関係を示す横式図であり、第５図
(B)はその断面図、第６図はセンサー部を示す一部切欠
断面で示した正面図、第７図はレンズ枠の計測値からそ
の幾何学中心を求める関係を示す模式図、第８図は型板
保持部材を示す斜視図、第９図は本発明の実施例の演算
・制御回路のブロツク図、第１０図(A)及び(B)はレンズ
枠のカーブ値Ｃの計算原理の説明図である。 １００……フレーム保持装置 １５２……保持枠 １５６……スライダー ２００……支持装置部 ２１１，２１２……ハンド ３００……計測部 ３０２……センサーアーム部。
第２図(A)は、そのフレーム保持装置を示す斜視図、第
２図(B)、(C)はその保持装置の作動を示す縦断面図、第
３図は第２図(A)の線Ａ−Ａに沿つた断面図、第４図は
バネ部材の構造を示す縦正中断面図、第５図(A)は支持
装置部とセンサー部の関係を示す横式図であり、第５図
(B)はその断面図、第６図はセンサー部を示す一部切欠
断面で示した正面図、第７図はレンズ枠の計測値からそ
の幾何学中心を求める関係を示す模式図、第８図は型板
保持部材を示す斜視図、第９図は本発明の実施例の演算
・制御回路のブロツク図、第１０図(A)及び(B)はレンズ
枠のカーブ値Ｃの計算原理の説明図である。 １００……フレーム保持装置 １５２……保持枠 １５６……スライダー ２００……支持装置部 ２１１，２１２……ハンド ３００……計測部 ３０２……センサーアーム部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０２Ｃ 13/00 (72)発明者 鈴木 泰雄 東京都板橋区蓮沼町75番１号 東京光学機 械株式会社内 (72)発明者 波田野 義行 東京都板橋区蓮沼町75番１号 東京光学機 械株式会社内 (72)発明者 大串 博明 東京都板橋区蓮沼町75番１号 東京光学機 械株式会社内 (56)参考文献 特開 昭51−119580（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−158829（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−38919（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−52249（ＪＰ，Ａ) 実開 昭47−56981（ＪＰ，Ｕ)
Claims (3)
- 【請求項１】メガネフレームの被測定レンズ枠の上側リ
ムと下側リムとのそれぞれにその内壁を当接させるため
に該メガネフレームの上下方向であって反対向きに等し
い量で移動可能な一対のスライダと、該スライダに形成
された切欠部から突出して互いに内向きに挿入され前記
被測定レンズ枠の上側リムと下側リムとを前記被測定レ
ンズの光軸と略平行な方向に沿って前記被測定レンズ枠
の厚み方向から接するように支持させる保持棒とを有
し、 前記スライダの内壁により上側リムと下側リムとを当接
支持し前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み方向
から上側リムと下側リムとを挟持して前記メガネフレー
ムを保持するフレーム保持手段と、 所定平面と交差し、かつ前記レンズ枠に軸線が位置する
鉛直軸回りに回転するセンサーアームと、 該センサーアームに沿って移動するセンサーヘッドと、 該センサーヘッドに前記鉛直軸と略平行な軸線に沿って
自由移動可能に取り付けられ、前記スライダの内壁に当
接支持され前記保持棒により前記被測定レンズ枠の厚み
方向から支持された上側リムと下側リムとのヤゲン溝に
当接させて測定するためのフィーラーと、 前記センサーアームの回転角と前記センサーヘッドの移
動量を電気的に検出し、前記レンズ枠の形状を動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）として計測
する検出手段とから構成された計測手段と、 前記センサーアームの回転中心における動径情報
（ρｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３，…，Ｎ）から、前記
レンズ枠の幾何学中心を演算する演算手段と を有することを特徴とするフレーム形状測定装置。 - 【請求項２】前記フレーム保持手段は、前記平面に沿っ
て移動可能であり、前記レンズ枠のヤゲン軌跡上の一点
が前記平面と一致するように前記フレームを配置可能
で、且つ前記フィーラーは前記平面内で最初に前記一点
でヤゲン軌跡と接触するように構成されたことを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載のフレーム形状測定装
置。 - 【請求項３】前記レンズ枠の幾何学中心に前記センサー
アームの回転中心が位置するように、前記フレーム保持
手段または前記計測手段を移動させる移動手段を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載のフレーム
形状測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28170284 | 1984-12-25 | ||
| JP59-281702 | 1984-12-25 |
Related Child Applications (4)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63123593A Division JP2588423B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | フレーム形状測定装置 |
| JP12359288A Division JPS64513A (en) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | Spectacle frame supporting device |
| JP63325641A Division JP2593705B2 (ja) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | フレーム形状測定装置 |
| JP17773793A Division JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61267732A JPS61267732A (ja) | 1986-11-27 |
| JPH0629725B2 true JPH0629725B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=17642785
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60287491A Expired - Fee Related JPH0629725B2 (ja) | 1984-12-25 | 1985-12-20 | フレ−ム形状測定装置 |
| JP17773793A Expired - Lifetime JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17773793A Expired - Lifetime JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
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