JPH079315A - フレーム形状測定装置 - Google Patents

フレーム形状測定装置

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JPH079315A
JPH079315A JP15909593A JP15909593A JPH079315A JP H079315 A JPH079315 A JP H079315A JP 15909593 A JP15909593 A JP 15909593A JP 15909593 A JP15909593 A JP 15909593A JP H079315 A JPH079315 A JP H079315A
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frame
lens
lens frame
measurement
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】フレームPDを短時間で測定できるフレーム形状
測定装置を提供すること。 【構成】演算制御回路は、ヤゲン溝の座標からレンズ枠
の幾何学中心O0と前記レンズ枠のブリッジ側までの距
離を求めると共に、前記CCDからの検出信号を基に左
右のレンズ枠間距離504Lを求めて、前記枠内距離に
レンズ枠間距離の半分の値を加算し、この加算値の2倍
の値をフレームPDとして求めることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメガネフレームのレンズ
枠、またはレンズ枠形状から倣い加工された型板の形状
をデジタル測定する装置、特に、未加工眼鏡レンズをレ
ンズ枠または型板の形状に係る情報によって研削加工す
る玉摺機と併用するに適したフレーム形状測定装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】この種のフレーム形状測定装置として
は、フレーム保持装置の本体の保持面にメガネフレーム
をバネ付勢された保持棒で押さえつけるように保持させ
て、このメガネフレームのヤゲン溝にソロバン玉状のフ
ィーラーを内接させて移動させ、このフィーラーの移動
軌跡を検出することにより、メガネフレームの形状を測
定するようにしたものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、メガネ
フレームのフレームPDの測定においては、従来はメガネ
フレームの左右のレンズ枠の幾何学中心間距離を直接測
定していたので、メガネフレームの両レンズ枠の形状測
定を行わなければならず、測定に時間がかかるという問
題があった。
【0004】そこで、この発明の目的は、フレームPDを
短時間で測定できるフレーム形状測定装置を提供するこ
とにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、測定基準面が設けられた測定装置本体と、前記測定
装置本体に取り付けられ且つ左右のレンズ枠がブリッジ
で接合されたメガネフレームを保持させるフレーム保持
手段と、前記メガネフレームのレンズ枠の内周に設けた
ヤゲン溝に沿って当接移動させられるフィーラーと、前
記フィーラーの前記測定基準面に沿うX−Y軸方向の移
動位置を検出するX−Y方向位置検出手段と、前記各位
置検出手段からの検出信号を基に前記レンズ枠のヤゲン
溝の座標位置及び形状を算出するための演算制御回路と
を備えるフレーム形状測定装置において、前記フレーム
保持手段に保持されたメガネフレームの左右のレンズ枠
に跨る位置に配設されたCCDと、前記左右のレンズ枠
に跨って前記CCDに対向する発光手段を備え、前記演
算制御回路は、前記ヤゲン溝の座標からレンズ枠の幾何
学中心と前記CCDからの検出信号を基に左右レンズ枠
間の中心位置とを求め、その幾何学中心位置と左右レン
ズ枠間中心位置とからフレームPDを求める様にしたフレ
ーム形状測定装置としたことを特徴とする。
【0006】
【実施例】以下本発明の実施例を図をもとに説明する。
【0007】図3は本発明に係るレンズ枠形状測定装置
を示す斜視図である。本装置は、大きく3つの部分、す
なわちメガネフレームの左右のレンズ枠を同時に保持す
るフレーム保持装置部100(フレーム保持手段)と、
このフレーム保持装置部100を支持するとともに、こ
の保持装置部の測定面内への移送及びその測定面内での
移動を司る支持装置部200と、メガネフレームのレン
ズ枠または型板の形状をデジタル測定する計測部300
(測定手段)とから構成されている。 <フレーム保持装置部100(フレーム保持手段)>フ
レーム保持装置部100は図4〜図7に示した様に固定
ベース150を有し、固定ベース150は辺151a,
151aが設けられフランジ151,151を両側に有
する。
【0008】この各フランジ151には、長手方向に間
隔をおいて一対のフレーム保持棒152,152が夫々
ネジ止めされている。尚、フランジ151,151に対
応するフレーム保持棒152,152は、互いに同軸に
設けられていると共に、互いに間隔をおいて対向させら
れている。
【0009】この固定ベース150の底板150aとフ
ランジ151の間には、辺153a、153aを有する
透明材料製の可動ベース153が挿入されている。この
可動ベース153は固定ベース150の底板150aに
取り付けられた2枚の板バネ154、154によって支
持されている。
【0010】可動ベース153には2本の平行なガイド
溝155、155が形成され、このガイド溝155、1
55にスライダー156、156の突起156a、15
6aが係合されて、スライダー156、156が可動ベ
ース153上に摺動可能且つ相対接近・離反可能に嵌挿
されている。
【0011】一方、可動ベース153の長手方向両側に
は円形開口157,157が形成され、各円形開口15
7の内周にはリング158が回動自在に嵌込まれてい
る。このリング158の上面には2本のピン159、1
59が植設され、このピン159、159のそれぞれは
スライダー156、156の段付部156b、156b
(保持面)に形成されたスロット156cに挿入されて
いる。
【0012】さらに、スライダー156、156の中央
には縦状の切欠部156d、156dが形成されてお
り、切欠部156d、156d内に前述のフレーム保持
棒152、152がそれぞれ挿入可能となっている。ま
た、スライダー156、156の上面には、スライダー
操作時に操作者が指を挿入して操作しやすくするための
穴部156e、156eが形成されている。 <支持装置200>支持装置部200は図3に示すよう
に筐体201(装置本体)上に縦方向(測定座標系のX
軸方向)に平行に設置されたガイドレール202a,2
02bを有する。このガイドレール202a,202b
にはスライド駒203a,203bが摺動自在に保持さ
れ、スライド駒203a.203b上には移動ステージ
203が固定されていて、移動ステージ203はガイド
レール202a,202bの長手方向に移動可能となっ
ている。しかも、移動ステージ203の下面のスライド
駒203aには雌ネジ部204が形成されており、この
雌ネジ部204にはX軸用送りネジ205が螺合されて
いる。このX軸送りネジ205はパルスモータからなる
X軸モータ206により回動される。
【0013】移動ステージ203の両側フランジ207
a,207b間には測定標系のY軸方向と平行にガイド
軸208が渡されており、このガイド軸208はフラン
ジ207aに取り付けられたガイド軸モータ209(回
動駆動手段であるパルスモータ)により回転できるよう
構成されている。ガイド軸208は、その軸と平行に外
面に一条のガイド溝210が形成されている。このガイ
ド軸208の中心線を含む水平面は図15,16の如く
基準測定面SOとなる。
【0014】ガイド軸208にはハンド211,212
が長手方向に摺動可能に支持されている。このハンド2
11,212の軸穴213,214にはそれぞれ突起部
213a,214aが形成されており、この突起部21
3a,214aが前述のガイド軸208のガイド溝21
0内に係合され、ハンド211,212のガイド軸20
8の回りの回転を阻止している。
【0015】ハンド211は互いに交わる二つの斜面2
15,216を持ち、他方ハンド212も同様に互いに
交わる二つの斜面217,218を有している。ハンド
212の両斜面217,218が作る稜線220はハン
ド211の斜面215,216の作る稜線219と平行
でかつ同一平面内に位置するように、また、斜面21
7,218のなす角度と斜面215,216のなす角度
は相等しいように構成されている。そして両ハンド21
1,212の間には図10に示すようにバネ230が掛
け渡されている。
【0016】この構成によって、ハンド211,212
間にフレーム保持装置100を保持させて、ガイド軸2
08をガイド軸モータ209(パルスモータ)で回動駆
動させることにより、ハンド211,212及びフレー
ム保持装置100は基準測定面SOに対して上下に傾斜
回動させられる。
【0017】移動ステージ203 後側フランジ221
の一端にはプーリー222が回動自在に軸支され後側フ
ランジ221の他端にはプーリー223を有するY軸モ
ーター224(パルスモータ)が取り付けられている。
プーリー223,224にはスプリング225を介在さ
せたミニチアベルト226が掛け渡されており、ミニチ
アベルト226の両端にはハンド211の上面に植設さ
れたピン227に固着されている。
【0018】他方、ハンド212の上面には、鍔228
が形成されており、この鍔228はハンド212の移動
により移動ステージ208の後側フランジ221に植設
されたピン229の側面に当接するように構成されてい
る。
【0019】<計測部300(測定手段)>測定手段と
しての計測部300は、X−Y方向位置検出手段(水平
方向位置検出手段)とZ方向位置検出手段(鉛直方向位
置検出手段)を有する。
【0020】(X−Y方向位置検出手段)このX−Y方
向位置検出手段は、筐体201の下面に取り付けられた
センサーアーム回転モータ301(パルスモータ)と筐
体201の上面に回動自在に軸支されたセンサーアーム
部302と、センサーアーム回転モータ301の回転軸
304に取り付けられたプーリー303と、センサーア
ーム部302のベース310(後述)を筺体201の上
面に水平回転自在に支持している回転軸304と、プー
リー303,回転軸304に掛け渡されたベルト305
を有する。これによりモータ301の回転がセンサーア
ームに伝達される。310a,310aはベース310
の長手方向両端に設けられた起立壁である。尚、センサ
ーアーム部302の回転角度はモータ301の回転制御
量から知ることができる。
【0021】また、X−Y方向位置検出手段は、前述の
ベース310と、このベース310の起立板部310
a,310b間に渡架された互いに平行な2本のレール
311,311と、このレール311,311上に長手
方向に移動自在に装着されたセンサーヘッド部312
と、センサーヘッド部312の一側面に取り付けた磁気
スケール読取りヘッド313と、レール311と平行に
取り付けられた磁気スケール314と、センサーヘッド
部312を常時アーム端側面へ引っ張るバネ装置315
を有する。尚、磁気スケール読み取りヘッド313は、
磁気スケール314を読取ってセンサーヘッド部312
の移動量を検出するように構成されている。
【0022】そして、X−Y方向位置検出手段では、モ
ータ301の回動制御量と磁気スケール読み取りヘッド
313の検出信号から、後述するフィーラーの水平方向
(X−Y方向)の位置(極座標)を知ることができる。
【0023】(バネ装置315)図8は、バネ装置31
5の構成を示している。このバネ装置315は、ベース
310の起立板部310aに取り付けられたケーシング
317と、ケーシング317内に設けられた電磁マグネ
ット318と、電磁マグネット318の軸穴内にその軸
線方向に摺動可能に嵌挿されたスライド軸319を有す
る。尚、スライド軸319はレール311と直交する方
向に延びている。
【0024】このスライド軸319は鍔320,321
を有し、鍔320とケーシング317との間にはバネ3
23が介装されて、スライド軸319を常時左方に付勢
している。
【0025】スライド軸319の端部にはクラッチ板3
24,325が回動可能に軸支され、クラッチ板32
4,325間にはスライド軸319に捲回したぜんまい
バネ316が配設されている。このぜんまいバネ316
は、一端がクラッチ板324に固着され、他端がセンサ
ヘッド部312のスライダー350に固定されて、セン
サヘッド部312を起立板部310a側に付勢してい
る。
【0026】また、両クラッチ板324,325間には
スライド軸319に捲回した圧縮バネ326が介装され
ている。この圧縮バネ326は、常時、クラッチ板32
4,325の間隔を広げて、ぜんまいバネ316とクラ
ッチ板325との接触を妨げている。さらに、スライド
軸319の端部にはワッシャー327が取り付けられて
いる。
【0027】(センサーヘッド部312)図11はセン
サーヘッド部312は、長手方向に移動自在にレール3
11に支持されたスライダー350を有する。このスラ
イダー350には鉛直方向に向けて形成した軸穴351
が設けられ、この軸穴351にはセンサー軸352が挿
入され、このセンサー軸352と軸穴351との間には
センサー軸352に保持されたボールベアリング353
が介装されている。これにより、センサー軸352の鉛
直軸線回りの回動及び鉛直軸線方向の移動をスムーズに
している。
【0028】センサー軸352の上部には断面が半月状
の切欠きを有し、この切欠き面である型板当接面354
は眼鏡フレームのレンズ枠形状から倣い加工された型板
の形状を計測するときにその型板側面と当接する型板フ
イーラーを構成する。また、センサー軸352の中央に
はアーム355が取り付けられており、このアーム35
5の上部にはレンズ枠のヤゲン溝と当接されるソロバン
玉形状のヤゲンフイーラー356が可動可能に軸支され
ている。そして上記切欠き面すなわち型板当接面354
およびヤゲンフイーラー356の円周点の両方は鉛直な
センサー軸352の中心線状に位置するように構成され
る。
【0029】(Z方向位置検出手段)スライダー350
の下部とセンサー軸352(可動軸)の下部との間に
は、上述したセンサー軸352の鉛直軸方向移動量すな
わちZ軸方向野移動量を計測するためのZ方向位置検出
手段であるリニアセンサが介装されている。
【0030】このリニアセンサは、スライダー350の
下端部に固定された光学的センサーであるラインCCD3
58(ラインセンサ)と、センサー軸352を挟んでラ
インCCD358と対向するラインLED359(ライン
発光手段)を有する。
【0031】また、Z方向位置検出手段は、センサー軸
352の下端に一体に設けられた円柱状のスケール36
0を有する。なお、このスケール360には図に示すよ
うに環状溝360aが透光部として形成されている。
【0032】また、Z方向位置検出手段のスケール36
0の下端部には、アーム355の屈曲する方向と直交し
且つ型板当接面354と平行な方向に向けて突出するピ
ン352a,352aが一体に設けられている。このピ
ン352a,352aには図9,10に示した如くベー
ス310に固定された板バネ製のハンガー310hが弾
接して、アーム355,ヤゲンフィーラー356及び型
板当接面354の向きがスライダー350の移動方向を
向くように設定されている。
【0033】(レンズ枠間距離測定手段)筺体201に
はレンズ枠間距離測定手段700が設けられている。こ
のレンズ枠間距離測定手段700は、筺体201の側部
に取り付けられた側面形状がコ字状の支持アーム701
と、支持アーム701の先端に取り付けられた発光手段
としてのラインLED702と、筺体201の底面に取
り付けられたライン状エリアCCD703を有する。この
ラインLED702及びライン状エリアCCD703は一
定の幅を有していて、ラインLED702はラインLE
D702に対向させられている。
【0034】<演算制御回路の構成・機能>上述のフレ
ーム形状計測装置は図1に示した演算制御回路600に
より作動制御される。以下、この演算制御回路600の
構成及び機能を図1〜図18を用いて作用と共に説明す
る。
【0035】この演算制御回路600は、メガネフレー
ム500を保持させたフレーム保持装置100がハンド
211,212に装着されて、メガネフレーム500の
レンズ枠501のヤゲン溝502にフィーラー356が
当接させられると、図18のステップ1で予備測定を行
って動径情報(ρn,θn)を得た後、この予備測定で得
られた動径情報(ρn,θn)を基に測定部におけるヤゲ
ン溝502の傾きをステップ2で調整して、ステップ3
で本測定を行い終了する。以下、フレーム保持、ステッ
プ1〜3について説明する。
【0036】[フレーム保持]まず、図4に示したスライ
ダー156、156の穴部156e、156eに指を挿
入して、スライダー156、156の互いの間隔を十分
開くと共に、スライダー156,156を図5の如くの
如く板バネ154,154の弾発力に抗して下方に押圧
することにより、保持棒152とスライダー156、1
56の段付部156b、156bとの間隔を十分開け
る。
【0037】その後、この間隔内にメガネフレーム50
0のレンズ枠501,501を挿入し、レンズ枠50
1,501の上側リムと下側リムがスライダー156、
156の内壁に当接するようにスライダー156、15
6の間隔を狭めて、スライダー156,156から手を
離すことにより、メガネフレームの左右のレンズ枠50
1,501が板バネ154,154の弾性力により、保
持棒152,152と156b,156bとの間に保持
されることになる。なお、特開昭61−267732号
の第2図に開示されている様に、左右レンズ枠501の
一方のみを同様にして保持させる様にした構成でもよ
い。
【0038】本実施例においては、スライダー156、
156は上述したようにリング158による連結構造を
有しているため、スライダー156、156の一方の移
動量がそのまま他方のスライダーに等しい移動量を与え
る。次に、レンズ枠501の上側リムの略中央が保持棒
152の下方にくるようにフレームを滑り込ませた後、
スライダー156、156から操作者が手を離す。これ
により、可動ベース153は板バネ154、154の弾
発力により上昇して、レンズ枠501は図6,図9に示
した如く段付部156b、156bと保持棒152、1
52とにより挟持される。この際、かつフレーム500
がレンズ枠501の幾何学的略中心点とフレーム保持装
置100の円形開口157の中心点157a(図7参
照)とをほぼ一致させるように保持される。
【0039】また、図6に示した様に、このときレンズ
枠501のヤゲン溝の頂点501aから図4に示した固
定ベース150のフランジ151の辺151aまでの距
離d(図6参照)と可動ベース153の辺153aまで
の距離dは等しい値をとるように構成されている。
【0040】次に、このようにしてフレーム500を保
持したフレーム保持装置部100を支持装置200の予
め所定の間隔に設定したハンド211,212間に挿入
した後、Y軸モータ224(パルスモータ)を所定角度
回転させる。Y軸モータ224の回転によりミニチアベ
ルト226が駆動され、ハンド211が左方に一定量だ
け移動され、フレーム保持装置部100及びハンド21
2も左方移動を誘起され、鍔228がピン229より外
れる。
【0041】これと同時に、フレーム保持装置部100
は図10に示した如く引張りバネ230により両ハンド
211、212で挟持される。このとき、フレーム保持
装置部100の固定ベース150のフランジ151の辺
151a、151aはそれぞれハンド211の斜面21
5とハンド212の斜面217に当接され、また可動ベ
ース153の両辺153a、153aはそれぞれハンド
211の斜面216とハンド212の斜面218に当接
される。
【0042】本実施例においては、上述したようにメガ
ネ枠501のヤゲン溝の頂点501aから辺151aか
ら辺153aそれぞれへの距離dは互いに等しいため、
フレーム保持装置100はハンド211、212に挟持
されると、レンズ枠501のヤゲン溝頂点501aが両
ハンドの稜線219,220が作る基準面S上に自動的
に位置される。
【0043】次に、ガイド軸回転モータ209の所定角
度の回転によりフレーム保持装置部100が図9の二点
斜線で示す位置へ旋回し、この基準面Sは計測部300
のヤゲンフィーラー356の初期位置(基準測定面S
O)と同一平面で停止する。
【0044】次にY軸モータ224をさらに回転させフ
レーム保持装置部100を保持したハンド211、21
2をY軸方向に一定量移動させ、フレーム保持装置部1
00の円形開口中心点157hと計測部300の回転軸
304中心とを概略一致させる。この時、移動の途中で
ヤゲンフィーラー356はレンズ枠501のヤゲン溝5
02に当接する。
【0045】ヤゲンフィーラー356の初期位置は、図
9,図10に図示すように、センサー軸352の下端に
植設されたピン352aとセンサーアーム部のベース3
10に取り付けられたハンガー310aとにより、その
方向が規制されている。これにより、Y軸モータ224
の回転によってメガネフレーム500が移動すると、常
にフィーラー356はヤゲン溝に入ることができる。
【0046】ステップ1 [予備測定] (回転角θnに対する動径長ρnの測定)この状態から測
定をスタートさせると、シーケンス制御回路610によ
り発光制御回路710が作動制御させられて、発光制御
回路710がラインLED358により発光させられる
と共に、図18のステップ1で予備測定が開始される。
【0047】この予備測定では、演算制御回路600に
より、まず、モータ301を予め定めた単位回転パルス
数毎に回転させて、ベース310を所定量回転させる。
これにより、センサーヘッド部312はメガネフレーム
500の形状、すなわちレンズ枠501の動径にしたが
ってレール311、311上を移動し、その移動量は磁
気スケール314と読取りヘッド313により読みとら
れる。これにより、モータ301の回転角θと読取りヘ
ッド313からの読取り角ρとからレンズ枠形状は(ρ
n、θn)(n=1、2、3…N)として計測される。
【0048】ここで、この第1回目の計測は前述したよ
うに、図1に示した回転軸304の中心Oは図12のレ
ンズ枠501の幾何学中心と概略一致させて測定したも
のである。
【0049】第2回目の計測は、第1回目の計測データ
(ρn、θn)を極座標一直交座標変換した後のデータ
(Xn、Yn)からX軸方向の最大値をもつ被計測点B
(xb、yb)、X軸方向で最小値をもつ被計測点D(x
d、yd)、Y軸方向で最大値をもつ被測定点A(Xa
a)及びY軸方向で最小値をもつ被計測点C(xc、y
c)を選び、レンズ枠の幾何学中心O0を O0(x0、y0)= ((xb+xd)/2,(ya+yc)/2) … (1) として求めた後、このx0、y0値にもとづいてx軸モー
タ206(パルスモータ)とY軸モータ224(パルス
モータ)を駆動させ、ハンド211、212で挟持され
たフレーム保持装置部100を移動し、これによりレン
ズ枠501の幾何学中心O0をセンサーアーム302の
回転中心Oと一致させ、再度レンズ枠形状を測定し、幾
何学中心O0における測定値(0ρn0θn)(n=1:
2:3…N)を求める。
【0050】上述の幾何学中心O0に基づくレンズ枠形
状の計測時には、ラインLED359が発光させられ
て、ラインLED359から射出される光の一部がスケ
ール360の環状溝360aの部分を透過してラインCC
D358に投影されていると共に、ヤゲンフィーラー3
56のセンサー軸352が上下動作せられる。
【0051】この上下動に伴って移動位置検出回路61
5は、ラインCCD359の光が投影されている部分の出
力信号を基に、この部分のアドレスデータを検出して、
この検出データをデータメモリ611に入力する。この
様にしてZ軸方向のヤゲンフィーラー356の移動位置
も同時に計測される。これにより結局レンズ枠形状は(
0ρn0θn、Zn)(n=1、2、3…N)の三次元情
報が得られることとなる。
【0052】以上述べたレンズ枠501の動径計測にお
いて、ヤゲンフィーラー356がレンズ枠501から計
測途中ではずれるようなことがあると、図12にeで示
すように、その動径計測データが直前の計測データから
大きくはずれるため、予め動径変化範囲aを定めてお
き、その範囲からずれたときはセンサーアーム部302
の回転は停止し、同時に図8に示したバネ装置315の
電磁マグネット318を励磁し、鍔321を引着する。
【0053】これによりクラッチ板324、325がぜ
んまいバネ316を挟持し、その巻き取り作用を阻止す
るため、センサーヘッド部312のアーム355がレン
ズ枠に引っ掛かり、メガネフレーム500をきずつける
ことを防止できる。このようなフィーラー356のはず
れがあった後は、再度メガネフレーム500を初期計測
位置に復帰させ、計測をしなおす。
【0054】図13はメガネフレーム500のレンズ枠
501から倣い加工により型取りされた型板510の形
状を計測するための型板保持部材110の構成を示して
いる。型板保持部材110は、腕部111とこの両端部
に取り付けられた円柱状の支柱112、113及び腕部
111の中央に取り付けられた保持支柱120とから構
成される。保持支柱120の先端端面には中央に太いピ
ン116がその両横に細いピン114、115が植設さ
れ、これらピン114〜116により型板510が保持
支柱120に装着される。
【0055】型板保持部材110は、その支柱112、
113がハンド211、212により挟持される。そし
てハンド211、212が計測位置へ下降したとき、型
板510はセンサー部312の型板当接面354と同一
平面内に位置され、ハンド211、212の移動により
型板当接面354が型板510の側面に当接し、センサ
ーアーム302の回転によりその動径(tρn:tθ
n)が測定される。
【0056】図1は本願のフレーム形状測定装置の演算
制御回路を示すブロック図である。ドライバ回路601
ないし604はそれぞれX軸モータ206、Y軸モータ
224、センサーアーム回転モータ301、及びガイド
軸回転モータ209に接続される。ドライバ601ない
し604はシーケンス制御回路610の制御のもとにパ
ルス発生器609から供給されるパルス数に応じて上記
各パルスモータの回転駆動を制御する。
【0057】読取りヘッド313の移動量は、読取り出
力カウンタ605で計数され、比較回路606に入力さ
れる。比較回路606は基準値発生回路607からの動
径変化範囲aに相当する信号とカウンタ605からの計
数値の変化量とを比較し、計数値が範囲a内にあるとき
は、カウンタ605の計数値ρn及びパルス発生器60
9からのパルス数をアーム355の回転角に変換し、そ
の値θnとを組として(ρn、θn)をデータメモリ61
1へ入力し、これを記憶させる。
【0058】(動径情報(ρn、θn)に対するZ軸方向
のデータznの計測)次に、シーケンス制御回路610
はゲート回路612を演算回路613側へ切換え、デー
タメモリ611に記憶されている第1回目の動径情報
(ρn、θn)に基づいてレンズ枠501の幾何学中心O
0を演算させ、そのデータをシーケンス制御回路610
へ入力させる。シーケンス制御回路610は演算回路6
13からのデータに基づいて前述の(1)式からx0
0を求め、ドライバ601、608に必要なパルス数
を入力してモータ224,206を駆動し、レンズ枠5
00の中心をセンサーアーム302の回転中心に一致さ
せる。
【0059】これと同時にシーケーンス制御回路610
は、移動位置検出回路615を作動させて、ラインCCD
359の光が投影されている部分の画素のアドレスを検
出させる。そして再度Z軸方向データを含むレンズ枠形
状情報(0ρn0θn、zn)を計測し、このデータをデ
ータメモリ611に記憶させる。
【0060】ここで、もしカウンタ605からの計数値
ρnまたは0ρnが基準値発生回路607からの出力され
る動径変化範囲aより大きいときは、比較回路606は
その旨をシーケンス制御回路610に出力し、この出力
を受けた回路610はドライバ608を作動させてバネ
装置315の電磁マグネット318を励破させ、フィー
ラー336の移動を阻止するとともに、ドライバ604
へのパルス供給を停止し、モータ301の回転を防止す
る。
【0061】この様な予備測定では、図9,図15に示
した様に、レンズ枠501が傾斜しているため、レンズ
枠501の上端部及び下端部ではヤゲン溝502の中心
線503がθだけ傾斜している。このため、フィーラー
356がレンズ枠501のヤゲン溝502の溝底部に当
接することができず傾斜面502a,502bのいずれ
かに接触した状態となる。
【0062】この結果、予備測定では、レンズ枠501
のヤゲン溝502の上端部と下端部間の距離dを正確に
測定することはできず、実際には2Δdだけ小さいcの
寸法が測定(計測)される。このため、この誤差を無く
すため、演算制御回路600は、次のステップ2で傾斜
θを補正し、ステップ3で正確な測定をする。
【0063】ステップ2 [ヤゲン溝傾斜調整(傾斜補正)]演算制御回路600
は、この様にして得られたレンズ枠形状情報(0ρn0
θn、zn)の内、基準測定面SOからの高さznの最小
(hmin)のものと最大のもの(hmax)を基に、図9,
図15に示したレンズ枠502の傾斜(フレーム傾斜)
角θ、即ちヤゲン溝502のhmin,hmaxを結ぶ中心線
503の基準測定面SOに対する角θを求める。尚、こ
こで左右方向のフィーラー356の移動量をa,z方向
のフィーラー356の移動量をbとすると、傾斜角θは
tanθ=b/aから求めることができる。
【0064】次に、演算制御回路600は、モータ20
9を駆動制御して、ガイド軸208を回動制御すること
により、ハンド211,212と一体にフレーム保持装
置100及びメガネフレーム500を下方に角度θだけ
回動させて停止する。この位置ではメガネフレーム50
0のレンズ枠501の上記中心線503が図9,図15
に示した様に基準測定面SOと平行な状態となる。この
基準測定面SOはフィーラー356の頂点を含む平面と
平行であるので、レンズ枠501の上記中心線503は
フィーラー356の頂点を含む平面と平行となる。
【0065】ステップ3 [本測定]演算制御回路600は、この様な傾斜補正が終
了すると、フィーラー356によりステップ1と同様に
して新たなレンズ枠形状情報(0ρn0θn、zn)を測
定する。この測定時には、フィーラー356がヤゲン溝
502に略一致して、フィーラー356の頂点がヤゲン
溝502の底部に係合するので、レンズ枠501のヤゲ
ン溝502の距離dを略正確に測定できる。
【0066】この様にして得られた、新たなレンズ枠形
状情報(0ρn0θn、zn)はデータメモリ611に記
憶され、測定が終了する。
【0067】尚、本実施例では、レンズ枠502のフレ
ーム傾斜のみを補正して形状測定を行うようにしたが、
レンズ枠502のヤゲン溝502の全ての点における中
心線の傾斜を上述したようにして順次水平に補正して、
この各点の座標測定を行うことにより、フレーム形状を
測定するようにすることもできる。また、予め入力され
た、レンズ枠501の幾何学中心O0とセンサーアーム
302の回転中心Oとの差である偏心情報を基に、セン
サーアーム302の回転中心Oを中心とした測定を行う
ようにしてもよい。
【0068】[レンズ枠間距離検出]一方、シーケンス制
御回路610は、本測定が終了すると、発光制御回路7
10を作動制御してラインLED358を消灯させると
共に、LED702を点灯させ、モータ224を作動制
御してフィーラー356がレンズ枠501の中央に位置
するまでハンド211,212をY方向に移動させ停止
させる。
【0069】この際のハンド211,212のY軸方向
への移動制御量はモータ224の制御パルス数から正確
に求めることができると共に、ラインLED703の取
付位置(取付座標)は一定位置に設定されて予め分かっ
ているので、上述した様にして求めたレンズ枠501の
幾何学中心O0とラインLED703の位置関係を演算
回路613により求めて、この左右レンズ枠に跨る測定
位置データをデータメモリ611に記憶させる。
【0070】これによってラインLED702から射出
された光が、発光部表面に設けられた図示しないレンズ
の作用により平行光束にされて、図20(a)の如くメ
ガネフレーム500のブリッジ504からずれた位置の
部分及び左右のレンズ枠501,501の一部すなわ
ち、メガネフレーム500の左右のレンズ枠501,5
01に跨る位置をライン状エリアCCD703に投影す
る。
【0071】この際、レンズ枠間距離検出回路704
は、ライン状エリアCCD703を走査して、図20
(b)の如くライン状エリアCCD703の光が投影され
ている部分と投影されていない部分のアドレスデータ及
び光量を検出して、この検出データからメガネフレーム
500のレンズ枠501,501の枠幅のそれぞれの重
心位置G1,G2を求め、ライン状エリアCCD703の
基準位置BPからの距離を演算し差を取って、左右のレ
ンズ枠501,501に跨る距離504Lのデータをデ
ータメモリ611入力する。
【0072】[フレームPD算出]この左右レンズ枠に跨る
距離504Lのデータがデータメモリ611に入力され
ると、演算制御回路612は、左右レンズ枠501,5
01に跨る距離の半分(1/2)の中間位置Pを求め、
ライン状エリアCCD703の基準位置BPから中間位置
Pまでの距離を、既に入力されている、ライン状エリア
CCD703の基準位置BPから回転軸304の中心Oま
での予め定められた距離に加算して、この加算値を2倍
することにより、メガネフレーム500の左右のレンズ
枠501,501の幾何学中心間距離(フレームPD)を
求め、このフレームPDをデータメモリ611に記憶させ
る。
【0073】尚、メガネフレーム500のレンズ枠50
1の枠幅(リム幅)が予め分からない場合でも、図20
(b)に示した様に、ライン状エリアCCD703により
検出される光量からレンズ枠501の枠幅(リム幅)H
を知ることができる。
【0074】従って、例えば、メタルフレームのリム幅
がh(例えば2mm)以下であるとすると、実際にエリア
CCD703により検出される枠幅(リム幅)Hが H≦h(例えば2mm)…(2) H<h(例えば2mm)…(3) のいずれであるかを演算回路613で判断させることが
できる。この判断に於て、(2)の場合にはメタルフレ
ームであり、(3)の場合にはセルフレームであること
が判別される。
【0075】[玉摺機等へのデータ供給]この様にして得
られた各データ(メタルフレームであるかセルフレーム
であるかのデータを含む)は、演算回路を介してフロッ
ピーディスクやICメモリカード或はハードディスク等
の記録媒体に記憶される。
【0076】尚、メガネフレームがメタルフレームの場
合には、メガネフレームを熱で一旦柔らかくしてから研
削されたレンズをメガネフレームのレンズ枠にはめ込む
ため、メタルフレームのレンズ枠にはめ込むレンズは測
定したレンズ枠形状よりも若干大きい形状で研削する。
このため、演算回路613により予めメタルフレームの
場合の研削形状を求めて、演算回路を介してフロッピー
ディスクやICメモリカード或はハードディスク等の記
録媒体に記憶させておく。
【0077】また、データメモリ611に記憶されたレ
ンズ枠形状情報(0ρn0θn、zn)及びフレームPD
は、必要に応じゲート回路612の切換により、例えば
本出願人がさきに出願した特願昭58−225197で
開示したデジタル玉摺機や型取機あるいはフレームの型
状が設計値通りに加工されているか否かを判定する判定
装置等へ供給される。
【0078】データメモリ611に記憶されたレンズ枠
形状情報(0ρn0θn、zn)のZn情報からレンズ枠の
カーブ値cを必要に応じ演算回路613で求めることが
できる。
【0079】その演算は図14(A)及び(B)に示す
ようにレンズ枠上の少なくとも2点a、bにおける動径
ρiA、ρiBと、この2点のZ軸方向のセンサーヘッド移
動値ZA、ZBから、レンズ枠501のヤゲン軌跡を含む
球体SPの曲率半径Rを R2=ρiA 2+(Z0−ZA22=ρiB 2+(Z0−ZB2 … (4) から求め、ヤゲンのカーブ値cは求められたRから C={(n−1)/R} ×1000 … (5) (ただしnは定数でn=1.523)として実行され
る。
【0080】なお、シーケンス制御回路はプログラムメ
モリ614に内蔵のプログラムによって上述の計測ステ
ップを実行する。
【0081】また、このステップ1〜3に示したように
して得られたデータをもとに加工された仕上がりサイズ
のレンズLは、図17に示した様に図15の寸法dとほ
ぼ同じ寸法に加工されることになる。尚、フレームPDは
デジタル玉摺機や型取機あるいはフレームの型状が設計
値通りに加工されているか否かを判定する判定装置等で
求めてもよい。
【0082】[第2実施例]図19は、この発明の第2実
施例、すなわち、プーリ303とベルト305でモータ
301の回転をベース310に伝達させると共に、磁気
スケール読取ヘッド313と磁気スケール314からな
るヘッド移動量検出手段を設けた上記実施例の他の例を
示したものである。
【0083】本実施例では、ベース310を図19に示
した如く円盤状に形成して、ベース310の周面にギヤ
部310aを設けたベース歯車とし、このギヤ部310
aにモータ301の出力軸301aに設けた駆動ギヤ3
01bを噛合させることにより、モータ301の回転を
ベース310に伝達するようにしている。図19中、O
で示された部分が図3に示した回転軸304で回転自在
に筺体201に支持されることになる。
【0084】また、ヘッド移動量読取手段は、ベース3
10の下面に固定され且つ出力軸312aがベース31
0を貫通するロータリーエンコーダ312bと、レール
311と平行にセンサーヘッド部312に固定されたラ
ック312cと、出力軸312aに固定され且つラック
312cに噛合するピニオン312dを有する。
【0085】この場合、センサーヘッド部312がレー
ル311に沿って移動すると、ラック312cによりピ
ニオン312dが回転させられて、ロータリーエンコー
ダ312bがセンサーヘッド部312の移動量を検出し
て検出信号を出力する。この検出信号は移動量検出回路
615を介してデータメモリ611に入力される。
【0086】図19中、310bはベース310に設け
られたスリット、311a,311bはベース310上
に固定され且つレール311,311の両端を保持する
レール保持部材、803はベース310の周縁部に固定
され且つ一部が周縁から突出する遮光板である。
【0087】更に、本実施例では、ラインLED702
を図示しないブラケットを介して図3の筺体201の底
面上に固定し、このラインLED702の下方に位置さ
せたライン状エリアCCD703を図3の筺体201の底
面に固定させる。この場合、ラインLED702及びラ
イン状エリアCCD703はX方向に向ける。しかも、ベ
ース310の回転に伴って、ラインLED702とライ
ン状エリアCCD703との間を遮光板803が横切るよ
うに設定して、遮光板803のライン状エリアCCD70
3への投影位置からベース310の回転中心Oに対する
ライン状エリアCCD703の位置を求めることができる
ようにしている。
【0088】本実施例でも、ベース310の駆動方式が
ベルト式から歯車式に変わると共に、センサーヘッドの
移動を読みとる手段がマグネスケールからロータリーエ
ンコーダに変わったのみで、測定制御及びフレームPDの
演算等は上記実施例と同じであるので、その説明は省略
する。
【0089】[その他の実施例]以上説明した実施例で
は、スケール360に設けた環状溝360aを透光部と
したが必ずしもこれに限定されるものではない。例え
ば、スケール360に設ける透光部は、図2(b)の如
くスケール360に設けた薄幅の透明円形部360bで
あってもよい。
【0090】また、図2(d),(c)の如く環状溝3
60aや透明円形部360bを軸方向に複数等ピッチで
設けるとともに、ラインLED702やライン状エリア
CCD703に代えてLED702aと受光素子703a
を設けた構成としてもよい。この場合には、LED70
2aからの光が受光素子703aに達したときに受光素
子703aから出力される信号をカウントすることで、
フィーラー356のZ方向への移動量を正確に測定でき
る。
【0091】
【効果】以上説明したように、この発明は、測定基準面
が設けられた測定装置本体と、前記測定装置本体に取り
付けられ且つ左右のレンズ枠がブリッジで接合されたメ
ガネフレームを保持させるフレーム保持手段と、前記メ
ガネフレームのレンズ枠の内周に設けたヤゲン溝に沿っ
て当接移動させられるフィーラーと、前記フィーラーの
前記測定基準面に沿うX−Y軸方向の移動位置を検出す
るX−Y方向位置検出手段と、前記各位置検出手段から
の検出信号を基に前記レンズ枠のヤゲン溝の座標位置及
び形状を算出するための演算制御回路とを備えるフレー
ム形状測定装置において、前記フレーム保持手段に保持
されたメガネフレームの左右のレンズ枠に跨る位置に配
設されたCCDと、前記左右のレンズ枠に跨って前記C
CDに対向する発光手段を備え、前記演算制御回路は、
前記ヤゲン溝の座標からレンズ枠の幾何学中心と前記C
CDからの検出信号を基に左右レンズ枠間の中心位置と
を求め、その幾何学中心位置と左右レンズ枠間中心位置
とからフレームPDを求める様にした構成としたので、レ
ンズ枠のヤゲン溝の深さに関係なくフレームPDを短時間
で測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図3に示したフレーム形状測定装置の演算制御
回路図である。
【図2】(a)は図1のZ軸方向の移動量検出手段の要
部拡大説明図、(b),(c),(d)は(a)のZ軸
方向の移動量検出手段の他の例を示す説明図である。
【図3】この発明にかかるフレーム形状測定装置を示す
斜視図である。
【図4】図3に示したフレーム保持装置とメガネとの関
係を示す斜視図である。
【図5】図3,4に示したフレーム保持装置の作用説明
図である。
【図6】図3,4に示したフレーム保持装置にメガネを
保持させた状態を示す作用説明図である。
【図7】図4のAーA線に沿う断面図である。
【図8】図3に示したバネ部材の断面図である。
【図9】図3に示した支持装置部とセンサー部の関係を
示す模式図である。
【図10】図9に示した支持装置部とセンサー部の関係
を示す断面図である。
【図11】図3,図9,10に示したセンサー部の一部
を断面して示した正面図である。
【図12】レンズ枠の計測値からその幾何学中心を求め
る為の模式図である。
【図13】図3に示したハンドに保持させて用いる型板
保持部材を示す斜視図である。
【図14】(A),(B)はレンズ枠のカーブ値Cの計算する
ための説明図である。
【図15】図3に示したフレーム形状測定装置を用いて
メガネフレームを予備測定している状態を示す説明図で
ある。
【図16】図3に示したフレーム形状測定装置を用いて
メガネフレームを本測定している状態を示す説明図であ
る。
【図17】図16に示した本測定で得られた仕上がりレ
ンズサイズを示す説明図である。
【図18】図3に示したフレーム形状測定装置を用いて
のフレーム形状測定の説明のためのフローチャートであ
る。
【図19】この発明に係るフレーム形状測定装置の第2
実施例を示す要部斜視図である。
【図20】(a)はレンズ枠間距離測定の説明図、(b)は
(a)のライン状エリアCCDとその出力との関係を示す
説明図である。
【符号の説明】
SO…測定基準面 100…フレーム保持装置(フレーム保持手段) 210…筺体(測定装置本体) 352…センサー軸(可動軸) 356…フィーラー 360…スケール 500…メガネフレーム 501…レンズ枠 502…ヤゲン溝 504L…鼻当部幅 600…演算制御回路 702…ラインLED(Z方向位置検出手段であるリニ
アセンサの一部) 703…ライン状エリアCCD(Z方向位置検出手段であ
るリニアセンサの一部)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定基準面が設けられた測定装置本体
    と、 前記測定装置本体に取り付けられ且つ左右のレンズ枠が
    ブリッジで接合されたメガネフレームを保持させるフレ
    ーム保持手段と、 前記メガネフレームのレンズ枠の内周に設けたヤゲン溝
    に沿って当接移動させられるフィーラーと、 前記フィーラーの前記測定基準面に沿うX−Y軸方向の
    移動位置を検出するX−Y方向位置検出手段と、 前記各位置検出手段からの検出信号を基に前記レンズ枠
    のヤゲン溝の座標位置及び形状を算出するための演算制
    御回路とを備えるフレーム形状測定装置において、 前記フレーム保持手段に保持されたメガネフレームの左
    右のレンズ枠に跨る位置に配設されたCCDと、前記左
    右のレンズ枠に跨って前記CCDに対向する発光手段を
    備え、 前記演算制御回路は、前記ヤゲン溝の座標からレンズ枠
    の幾何学中心と前記CCDからの検出信号を基に左右レ
    ンズ枠間の中心位置とを求め、その幾何学中心位置と左
    右レンズ枠間中心位置とからフレームPDを求めることを
    特徴とするフレーム形状測定装置。
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