JPH06274824A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents

薄膜磁気ヘッド

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JPH06274824A
JPH06274824A JP5057537A JP5753793A JPH06274824A JP H06274824 A JPH06274824 A JP H06274824A JP 5057537 A JP5057537 A JP 5057537A JP 5753793 A JP5753793 A JP 5753793A JP H06274824 A JPH06274824 A JP H06274824A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は薄膜磁気ヘッドに関し、記録能力は
下げずに、ヨー角ロスを少なくして、再生能力を向上さ
せることを目的とする。 【構成】 記録用ヘッド部の下部磁性層としての機能と
再生用ヘッド部の上部シールド層としての機能とを併せ
持つ単一のFeN層44を有する。このFeN層44
は、1.3μmの厚さであり、記録ギャップ49と再生
ギャップ51との間隔は1.7μmである構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜磁気ヘッドに係り、
特に揺動型アクチュエータを備えた磁気ディスク装置用
の薄膜磁気ヘッドに関する。
【0002】磁気ディスク装置は、現在小型化が進んで
おり、これに伴って、磁気ディスクは径が1.8インチ
程度と小径化してきている。
【0003】磁気ディスクが小径化すると、磁気ディス
クと磁気ヘッドとの相対速度が低下する。
【0004】また、磁気ディスクが小径化すると、記録
容量をなるだけ減らさないようにするために、記録トラ
ックを高密度化することも必要となってくる。
【0005】そこで、揺動型アクチュエータに取付けら
れる薄膜磁気ヘッドとしては、磁気ディスクと磁気ヘッ
ドとの相対速度の低下に対応可能であって、且つ記録ト
ラックの高密度化に対応可能である構造のものが要求さ
れている。
【0006】
【従来の技術】図9(A),(B)は例えば特開昭61
−276110号に示される薄膜磁気ヘッド10を示
す。
【0007】薄膜磁気ヘッド10は、基板11上に、コ
イル12を有する記録用ヘッド部13と、磁気抵抗効果
素子14を有する再生用ヘッド部15とが積重された構
成である。
【0008】16,17,18は磁性層、19,20は
絶縁層である。
【0009】21が記録用ギャップ、22が再生用ギャ
ップである。
【0010】磁性層17が記録用ヘッド部13の下部磁
極として且つ再生用ヘッド部15の上部シールドとして
機能する。
【0011】即ち、薄膜磁気ヘッド10は、記録用ヘッ
ド部13の下部磁極と再生用ヘッド部15の上部シール
ドを共通化した、所謂共有型である。
【0012】共有型は、記録用ヘッド部の下部磁極と再
生用ヘッド部の上部シールドとを独立に有する、所謂分
離型に比べて、記録用ギャップ21と再生用ギャップ2
2とのギャップ間隔aを狭くできる。
【0013】磁性層16,17,18は共にNiFe
(パーマロイ)製である。
【0014】再生用ヘッド部15は、磁気抵抗効果素子
14を有する構成であるため、磁気ディスクと磁気ヘッ
ド1との相互速度が低い場合においても、信号は高い出
力で再生される。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ギャップ間隔aを決め
る磁性層17に着目する。
【0016】磁気ディスクの記録層の保磁力Hcが例え
ば1,800Oeであると仮定すると、この記録層に信
号を確実に書き込むには、1,800Oeの二倍強、即
ち、3,600Oe以上の記録磁界強度が必要とされ
る。
【0017】NiFeの飽和磁束密度Bsは1T(テス
ラ)であるため、磁性層17の端に対向する空間に3,
600Oe以上の磁界強度の磁界を形成するためには、
磁性層17の厚さtは、2.4μm以上であることが必
要である(図3の線I参照)。
【0018】このため、記録用ギャップ21と再生用ギ
ャップ21との間隔aは、例えば約5μmと大きかっ
た。
【0019】この結果、揺動型アクチュエータに取付け
そのときに生じるヨー角を10度とした場合には、ヨー
角ロスは1.75μmと大きく、再生ギャップ22のト
ラック幅が狭くなり、良質の信号の再生が困難であると
共に、磁気ディスクの記録トラックの高密度化を図る上
で支障となっていた。
【0020】そこで、本発明は、上記課題を解決した薄
膜磁気ヘッドを提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、コイ
ルを有し、記録用ギャップを有する記録用ヘッド部と、
磁気抵抗効果素子を有し、再生用ギャップを有する再生
用ヘッド部とが隣接して配された構成の薄膜磁気ヘッド
において、上記記録用ギャップと、再生用ギャップとの
間隔が2μm以下である構成としたものである。
【0022】
【作用】記録用ギャップと再生用ギャップとの間隔を2
μm以下とした構成は、揺動型アクチュエータに適用し
た場合に、ヨー角ロスを小さくするように作用する。
【0023】
【実施例】図1(A),(B)は、本発明の第1実施例
になる薄膜磁気ヘッド30を示す。
【0024】薄膜磁気ヘッド30は、図2に示す磁気デ
ィスク装置31の揺動型アクチュエータ32の先端に取
り付けてある。
【0025】揺動型アクチュエータ32が、角度θの範
囲内で揺動し、薄膜磁気ヘッド30は、最外周の位置P
1 と最内周の位置P2 との間で磁気ディスク33の径方
向に移動されて位置決めされる。
【0026】揺動角度θは、約20度であり、ヨー角θ
1 ,θ2 は約10度である。
【0027】Tcは中央のトラック、Toは最外周のト
ラック、Tiは最内周のトラックである。
【0028】P3 は中央位置である。
【0029】薄膜磁気ヘッド30は、図1(A),
(B)に示すように、基板40上に、絶縁層41、Ni
Fe製の下部シールド層42、磁気抵抗効果素子43、
本発明の要部をなすFeN層44、コイル45、NiF
e製の上部磁性層46及び絶縁層41が積層された構成
である。
【0030】コイル45、上部磁性層46、及び下部磁
性層としてのFeN層44が記録用ヘッド部48を構成
する。49は記録用ギャップである。
【0031】磁気抵抗効果素子43、上部シールド層と
してのFeN層44、下部シールド層42が、再生用ヘ
ッド部50を構成する。51は再生用ギャップである。
【0032】FeNの飽和磁束密度Bsは約2Tであ
り、NiFeの約二倍である。
【0033】図3中、線IIは、飽和磁束密度が2Tの層
の厚さtと、記録ギャップ21の部位の水平方向磁界の
強さとの関係を示す。
【0034】これより、FeN層の厚さを1.3μmに
まで薄くしても、3,600Oeの磁界の強さが得られ
ることが分かる。
【0035】このことに基づき、図1(A),(B)の
薄膜磁気ヘッド30において、FeN層44の厚さt1
を1.3μmと定めてある。
【0036】また記録用ギャップ49のギャップ長b
は、約0.4μm、再生用ギャップ51のギャップ長c
は、約0.4μmである。
【0037】これにより記録用ギャップ49と再生用ギ
ャップ51との間隔a1 は、約1.7μmである。これ
は、従来の半分以下である。
【0038】次に、上記薄膜磁気ヘッド30のヨー角ロ
スについて、図4を参照して説明する。
【0039】磁気ヘッド30が中央位置P3 に位置し、
記録用ギャップ49がトラックTcと一致したとき、ト
ラックTcは再生用ギャップ51に対しては、図4に示
す関係となる。
【0040】揺動型アクチュエータが動作し、磁気ヘッ
ド30が角度θ1 揺動して、最外周位置P0 に到って記
録用ギャップ49がトラックT0 と一致したとき、トラ
ックToは、再生用ギャップ51に対しては、図4に示
す関係となる。
【0041】従って、再生用ギャップ51のトラック幅
を記録用ギャップ49のトラック幅と等しく定めたとす
ると、再生用ギャップのうちトラック幅方向上寸法d1
で示す部分は、トラックToより磁気ディスクの内周側
にはみ出してしまう部分となる。この部分は、隣りのト
ラックにかかって、クロストークを発生させる虞れがあ
る。
【0042】磁気ヘッド30が角度θ2 揺動して最内周
位置P2 に到って記録用ギャップ49がトラックTiと
一致したとき、トラックTiは、再生用ギャップ51に
対しては、図4に示す関係となる。
【0043】従って、再生用ギャップ51のうちトラッ
ク幅方向上寸法d2 で示す部分が、トラックTiより磁
気ディスクの外周側にはみ出して隣りのトラックにかか
ってしまう部分となる。この部分は、隣りのトラックに
かかって、クロストークを発生させる虞れがある。
【0044】そこで、上記寸法d1 及びd2 の部分は、
予め除いておく必要がある部分であり、ヨー角ロスの部
分である。
【0045】このヨー角ロスの長さ(d1 +d2 )が例
えば2μmであるときには、再生用ギャップ51のトラ
ック幅は所定のトラック幅より2μm狭くならざるを得
ず、磁気ディスク上のトラックの幅を2μm以下にする
と、再生用ヘッドのギャップ長は零となってしまうこと
になる。従って、ヨー角ロスの長さが長くなると、再生
信号の品質が低下すると共に、磁気ディスクのトラック
の高密度化を図ることが困難となる。
【0046】本実施例においては、記録用ギャップ49
と再生用ギャップ51との間の間隔a1 は1.7μmで
あるため、ヨー角ロスは0.6μmとなり、従来の約1
/3にとどまる。
【0047】従って、本実施例の薄膜磁気ヘッドによれ
ば、従来に比べて、品質の良好な信号を再生することが
出来る。
【0048】また、本実施例の、薄膜磁気ヘッド30を
使用することにより、磁気ディスク上のトラックの幅を
従来に比べて狭くすることが出来、この結果トラックを
高密度とすることが出来る。
【0049】次に本発明の別の実施例について説明す
る。
【0050】各実施例共、記録用ギャップ49と再生用
ギャップ51との間の層以外は、図1の薄膜磁気ヘッド
30と同じであり、図5乃至図8中図1に示す構成部分
と対応する部分には同一符号を付し、その説明は省略す
る。
【0051】図5の薄膜磁気ヘッド30Aは、FiSi
層44Aを有する。
【0052】FiSiの飽和磁束密度Bsは2Tであ
る。
【0053】よって、FiSi層44Aの厚さt2
1.3μm、記録ギャップ49と再生ギャップ51との
間隔a2 は1.7μmである。
【0054】図6の薄膜磁気ヘッド30Bは、NiFe
Co層44Bを有する。
【0055】NiFeCoの飽和磁束密度Bsは2Tで
ある。
【0056】よって、NiFeCo層44Bの厚さt3
は1.3μm、記録ギャップ49と再生ギャップ51と
の間隔a3 は1.7μmである。
【0057】図7の薄膜磁気ヘッド30Cは、CoZr
層44Cを有する。
【0058】CoZrの飽和磁束密度Bsは約1.5T
である。
【0059】図3中の線IVからして、CoZr層44C
の厚さt4 は1.5μmとしてある。
【0060】記録ギャップ49と再生ギャップ51との
間隔a4 は、1.9μmである。
【0061】図8の薄膜磁気ヘッド30Dは、CoZr
X(XはCr,Nb,Rh,Te等の第三元素)層44
Dを有する。
【0062】CoZrXの飽和磁束密度Bsは約1.3
Tである。
【0063】図3中の線Vからして、CoZrX層44
Dの厚さt5 は、1.6μmとしてある。
【0064】記録ギャップ49と再生ギャップ51との
間隔a5 は2.0μmである。
【0065】なお、上記実施例は上部シールド層と下部
磁性層とを単一の軟磁性で共有した共有タイプを示した
が、本発明はこれに限らず個別の軟磁性層を使用する分
離タイプにも適用できる。
【0066】
【発明の効果】以上説明した様に、請求項1及び2の発
明によれば、揺動型アクチュエータが適用される場合に
おいて、ヨー角ロスを小さくすることが出来、よって、
トラック幅を広くし得、従って良品質の再生信号を取り
出すことが出来る。また、磁気ディスクのトラックの幅
を狭くして、トラック密度を上げることが出来る。
【0067】請求項3乃至6の発明によれば、コイルと
磁気抵抗効果素子との間の軟磁性層の材料を飽和磁束密
度の高い材料とすることにより、記録能力の低下を引き
起こすことなく、しかも請求項1及び2の発明と同じく
良質の信号を再生出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の薄膜磁気ヘッドを示す図
である。
【図2】図1の薄膜磁気ヘッドを適用してなる磁気ディ
スク装置を示す図である。
【図3】飽和磁束密度をパラメータとして膜厚と発生す
る磁界との関係を示す図である。
【図4】図1の薄膜磁気ヘッドのヨー角ロスを説明する
図である。
【図5】本発明の第2実施例の薄膜磁気ヘッドを示す図
である。
【図6】本発明の第3実施例の薄膜磁気ヘッドを示す図
である。
【図7】本発明の第5実施例の薄膜磁気ヘッドを示す図
である。
【図8】本発明の第3実施例の薄膜磁気ヘッドを示す図
である。
【図9】従来の薄膜磁気ヘッドの1例を示す図である。
【符号の説明】
30A〜30D 薄膜磁気ヘッド 31 磁気ディスク装置 32 揺動型アクチュエータ 33 磁気ディスク 40 基板 41 絶縁層 42 NiFe製の下部シールド層 43 磁気抵抗効果素子 44 FeN層 4A FeSi層 44B NiFeCo層 44C CoZr層 44D CoZrX層 45 コイル 46 NiFe製の上部磁性層 47 絶縁層 48 記録用ヘッド部 49 記録用ギャップ 50 再生用ヘッド部 51 再生用ギャップ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コイル(45)を有し、記録用ギャップ
    (49)を有する記録用ヘッド部(48)と、磁気抵抗
    効果素子(43)を有し、再生用ギャップ(51)を有
    する再生用ヘッド部(50)とが隣接して配された構成
    の薄膜磁気ヘッドにおいて、 上記記録用ギャップ(49)と、再生用ギャップ(5
    1)との間隔が2μm以下である構成としたことを特徴
    とする薄膜磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 コイルを有し、記録用ギャップを有する
    記録用ヘッド部と、磁気抵抗効果素子を有し、再生用ギ
    ャップを有する再生用ヘッド部とが隣接して配された構
    成の薄膜磁気ヘッドにおいて、 上記コイルと上記磁気抵抗効果素子との間に、厚さが2
    μm以下である単一の軟磁性層(44,44A〜44
    D)を有し、 上記記録用ギャップ(49)と、再生用ギャップ(5
    1)との間隔が2μm以下である構成としたことを特徴
    とする薄膜磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 コイルを有し、記録用ギャップを有する
    記録用ヘッド部と、磁気抵抗効果素子を有し、再生用ギ
    ャップを有する再生用ヘッド部とが隣接して配された構
    成の薄膜磁気ヘッドにおいて、 上記コイルと上記磁気抵抗効果素子との間に、飽和磁束
    密度が1,3テスラ以上の単一の軟磁性層(44,44
    A〜44D)を有してなることを特徴とする薄膜磁気ヘ
    ッド。
  4. 【請求項4】 単一の軟磁性層がFeN又はFeSi層
    (44,44A)からなることを特徴とする請求項3記
    載の薄膜磁気ヘッド。
  5. 【請求項5】 単一の軟磁性層がNiFeCo層(44
    B)からなることを特徴とする請求項3記載の薄膜磁気
    ヘッド。
  6. 【請求項6】 単一の軟磁性層がCoZr又はCoZr
    X(XはCr,Nb,Rh、Ta等の第三元素)層(4
    4C,44D)からなることを特徴とする請求項3記載
    の薄膜磁気ヘッド。
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