JPH06250076A - カメラ用測距装置 - Google Patents

カメラ用測距装置

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Publication number
JPH06250076A
JPH06250076A JP3530293A JP3530293A JPH06250076A JP H06250076 A JPH06250076 A JP H06250076A JP 3530293 A JP3530293 A JP 3530293A JP 3530293 A JP3530293 A JP 3530293A JP H06250076 A JPH06250076 A JP H06250076A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
signal
current
voltage
light projecting
Prior art date
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Pending
Application number
JP3530293A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomihiko Aoyama
富彦 青山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
Priority to JP3530293A priority Critical patent/JPH06250076A/ja
Publication of JPH06250076A publication Critical patent/JPH06250076A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測距精度の向上を目的としたものである。 【構成】 アクティブ型の測距装置において、受光回路
に投光信号の周期の整数倍の遅延時間を持つ遅延回路を
設け、さらにおのおのの遅延された信号を加え合わせる
加算器を持ち、この加算処理された信号を用いて距離演
算をさせる。 【効果】 投光素子の発光周波数よりも高い周端数成分
を遅延回路とロジック部とから構成できるため、IC
(集積回路)化が容易であり、通常のアナログフィルタ
のようにコンデンサや抵抗を外付けする必要がない。ま
た、アナログフィルタのように素子の特性の経時変化に
よって中心周波数がずれてS/Nが悪化するようなこと
がない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ用測距装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来の測距装置は、例えば特開昭和59
−64805号公報に開示されているように、図6のよ
うな構成になっており、投光素子(この例では近赤外投
光素子、以下IREDという)2によって投光された光
は被写体5に当たり、その反射光が受光素子(この例で
は半導体位置検出素子、以下PSDという)7に入射す
る。PSD7からの受光位置に応じた光電流I1、I2
はそれぞれ電流電圧変換回路10、20へと流れ込む。
電流電圧変換回路10は電流I1を電圧信号に変換し、
BPF16はこの信号の不要な帯域をカットし、17は
この信号をIRED2の発光に同期して検波し、平滑器
18はこの信号を平滑化する。アナログ・デジタル(以
下A/Dという)変換器15はこの信号をA/D変換
し、中央演算装置(以下CPUという)3に出力する。
電流電圧変換回路20からA/D変換器25までの回路
でも同様な処理を行いCPU3にデータを出力する。C
PU3へ取り込んだ電流電圧変換回路10と電流電圧変
換回路20のデータにより演算を行い、PSD7のどの
場所へ反射光が当たったかを計算し、それによって被写
体5までの距離を算出する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしこの方法では被
写体5までの距離が遠くなると、反射光が小さくなり相
対的にノイズが増加し信号対雑音比(以下S/Nとい
う)が悪くなる。遠距離の被写体を測距するために、信
号成分以外の帯域を減衰させるためにバンドパスフィル
タ(以下BPFという)16、26を挿入し、S/Nを
改善している。
【0004】しかし、測距の精度を上げるためにBPF
16、26の共振の鋭さ(以下Qという)を大きくする
と、S/Nは向上するものの信号波形が変化し、また同
期検波時の位相もずれてくるために、かえって測距結果
が不正確になり遠距離時の精度も悪くなってしまう。
【0005】本発明の目的は、信号波形を変化させるこ
となく、また投光の周波数が変化しても影響を受けずに
遠距離まで精度よく測距することを目的とするものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明では、被写体へパルス光を照射する投光手
段と、前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受
光する受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変
換する電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換前記回路
の出力信号をに投光信号の周期の整数倍の遅延時間だけ
遅らせる1つ以上の遅延回路と、前記遅延回路の各々の
出力信号を加え合わせる加算器とを備えている。
【0007】
【作用】BPFの代わりに投光周期T0の整数倍の複数
の遅延回路を設け、それらの出力を同一周期内で重ね合
わせることによりランダムノイズ成分(投光周波数より
高域で、かつ投光周波数と相関関係にない周波数成分)
をキャンセルし、歪みのない信号を得るようにした。
【0008】この信号を所定のタイミングにてサンプリ
ングしてアナログ・デジタル変換し、CPU3にて演算
し、測距結果とする。
【0009】
【実施例】本発明の一実施例の構成を図1に基づいて説
明する。IRED駆動回路1はIRED2を駆動するた
めの駆動回路であり、CPU3から信号が出力される
と、IRED2を駆動する。IRED2から出力された
光は投光レンズ4によって集められ、被写体5に向けて
投光される。この光の一部が被写体5によって反射さ
れ、受光レンズ6によって再び集められ、PSD7上に
結像する。PSD7は受光位置に応じた電流I1とI2
を出力する。電流電圧変換回路10は電流I1を電圧信
号に変換し、コンデンサ11によって低周波成分をカッ
トして遅延回路群12に出力する。遅延回路群12はあ
らかじめCPU3によって各々IRED2の点灯周期T
0の1〜N倍の遅延時間に設定された遅延回路を回数N
個にわたって並列に接続したもので、図2で示されるよ
うに、これらの遅延回路はまったく遅延のない信号電圧
Va、遅延回路12bによって周期T0だけ遅延させた
信号電圧Vb、遅延回路12cによって周期T0の2倍
だけ遅延させた信号電圧Vc、以下同様にしてそれぞれ
周期T0の整数倍だけ遅延させた信号電圧を出力し、最
後に遅延回路12dによって周期T0のN倍だけ遅延さ
せた信号電圧Vdをそれぞれ加算器13に出力する。加
算器13はこれらの信号電圧を加算して割算器14に出
力し、割算器14は加算器13の出力した信号電圧をN
+1で割った信号電圧VeをA/D変換器15に出力す
る。A/D変換器15はN×T0よりも時間Ts、すな
わち発光時間の約半分の時間だけ遅れたタイミングで電
圧Veをサンプリングし、電圧V1としてCPU3に出
力する。
【0010】以上は電流I1の処理の流れであるが、電
流I2も図1の電流電圧変換回路20からA/D変換器
25までの回路によってまったく同様な処理を施され、
CPU3に電圧V2として出力される。CPU3は電圧
V1およびV2から次のような値Xを算出する。
【0011】X=V1/(V1+V2) このようにして求められた値Xと、CPU3に内蔵され
ている不揮発性の読み出し可能なメモリ(リード・オン
リ・メモリ、以下ROMという)3aにあらかじめ記憶
されている距離テーブル(図3)とから被写体までの距
離を算出し、モータ30を駆動してレンズ鏡筒31を適
正な位置に駆動する。
【0012】本発明の他の実施例として、CPU3には
揮発性の読み書き可能なメモリ(ランダム・アクセス・
メモリ、以下RAMという)3bを内蔵し、図4のよう
に遅延回路と割算器を持たず、電流電圧変換回路10の
出力を増幅器19を通してA/D変換器15に、電流電
圧変換回路20の出力を増幅器29を通してA/D変換
器25にそれぞれ入力し、図5のTs、T0+Ts、2
×T0+Ts、…、N×T0+Ts、の各タイミングで
サンプリングしたデータを積算し、最後にN+1で割る
ことによっても電圧V1とV2を得ることができる。
【0013】
【発明の効果】以上の実施例からも明らかなように、投
光素子の発光周波数よりも高い周波数成分を遅延回路と
ロジック部とから構成できるため、IC(集積回路)化
が容易であり、通常のアナログフィルタのようにコンデ
ンサや抵抗を外付けする必要がない。また、アナログフ
ィルタのように素子の特性の経時変化によって中心周波
数がずれてS/Nが悪化するようなことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の構成図である。
【図2】本発明の第1の実施例の信号波形の処理を表す
図である。
【図3】本発明の実施例の値Xを求めるROM3a上の
テーブルである。
【図4】本発明の第2の実施例の構成図である。
【図5】本発明の第2の実施例の信号波形の処理を表す
図である。
【図6】従来の測距回路の構成図である。
【符号の説明】
2 近赤外投光素子(IRED) 7 半導体位置検出素子(PSD) 10、20 電流電圧変換回路 12、22 遅延回路群 13、23 加算器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被写体へパルス光を照射する投光手段と、
    前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光する
    受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換する
    電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力信号
    を投光信号の周期の整数倍の時間だけ遅らせる複数の遅
    延回路と、前記遅延回路の各々の出力信号を加え合わせ
    る加算器とを持ち、前記加算器の出力信号によって距離
    を演算することを特徴とするカメラ用測距装置。
JP3530293A 1993-02-24 1993-02-24 カメラ用測距装置 Pending JPH06250076A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3530293A JPH06250076A (ja) 1993-02-24 1993-02-24 カメラ用測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3530293A JPH06250076A (ja) 1993-02-24 1993-02-24 カメラ用測距装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06250076A true JPH06250076A (ja) 1994-09-09

Family

ID=12437990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3530293A Pending JPH06250076A (ja) 1993-02-24 1993-02-24 カメラ用測距装置

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JP (1) JPH06250076A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017173172A (ja) * 2016-03-24 2017-09-28 株式会社トプコン パルス信号の処理装置およびパルス信号の処理方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017173172A (ja) * 2016-03-24 2017-09-28 株式会社トプコン パルス信号の処理装置およびパルス信号の処理方法

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