JPS61223609A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPS61223609A JPS61223609A JP6545485A JP6545485A JPS61223609A JP S61223609 A JPS61223609 A JP S61223609A JP 6545485 A JP6545485 A JP 6545485A JP 6545485 A JP6545485 A JP 6545485A JP S61223609 A JPS61223609 A JP S61223609A
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- Japan
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- signal
- circuit
- time
- light
- integrated
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はカメラ等に用いる測距装置、特に被写体に向け
て光線を投射して被写体の反射光から距離を検出する測
距装置に関し、特に反射光の入射位置に相応して変化す
る２出力から距離情報を得るものに関する・ （従来技術） 従来、被写体距離に相応して変化する２出力から被写体
の距離を演算する方法として種々の方法が知られている
。
て光線を投射して被写体の反射光から距離を検出する測
距装置に関し、特に反射光の入射位置に相応して変化す
る２出力から距離情報を得るものに関する・ （従来技術） 従来、被写体距離に相応して変化する２出力から被写体
の距離を演算する方法として種々の方法が知られている
。
被写体距離に相応して変化する２出力を得る光学系には
例えばｗｃ１図に示す様な光学系が知られている。
例えばｗｃ１図に示す様な光学系が知られている。
第１図において受光素子１が２領域１Ａ、ＩＢＩＣ分割
され、発光素子２から投射され九光束がレンズ群３を介
して被写体４に投射され、この反射光がレンズ群５を介
して受光素子１にて受光され、線受光素子１０１人領域
と１Ｂ領域の差信号から距離情報を演算することができ
、測距が行われる。例えば第１図において、冥線の如く
被写体からの反射光がＩＡ、ＩＢの中心にて受光される
場合は、第２図（イ）で示す様に、ＩＡと１Ｂの受光量
がほぼ等しく彦る。又被写体が４′に示す様に遠方に位
置し、第１図の破線に示す様に反射光が受光素子ＩＫ受
光される場合は、第２図（ロ）に示す様に１人には多量
、１Ｂには少量の入射状態となる。逆に被写体が４′に
示す様に近方に位置し、第１図の鎖線に示す様に反射光
が受光素子ＩＫ受光畜れる場合は第２図（ハ）に示す様
に１人には少８１ ＢＫは多量の光景が入射する。した
がって受光素子ＩＡ、１Ｂの出力の差に基づいて距離信
号を得ることができるわけであるが反射光成分に比して
外光成分が大きい場合には８Ｎ比の悪い信号が得られる
ことになる・そこで外光成分が大きい場合であっても距
離信号を得ようとする方式が従来提案されている。ここ
で従来提案されている方式を第３図を用いて説明する。
され、発光素子２から投射され九光束がレンズ群３を介
して被写体４に投射され、この反射光がレンズ群５を介
して受光素子１にて受光され、線受光素子１０１人領域
と１Ｂ領域の差信号から距離情報を演算することができ
、測距が行われる。例えば第１図において、冥線の如く
被写体からの反射光がＩＡ、ＩＢの中心にて受光される
場合は、第２図（イ）で示す様に、ＩＡと１Ｂの受光量
がほぼ等しく彦る。又被写体が４′に示す様に遠方に位
置し、第１図の破線に示す様に反射光が受光素子ＩＫ受
光される場合は、第２図（ロ）に示す様に１人には多量
、１Ｂには少量の入射状態となる。逆に被写体が４′に
示す様に近方に位置し、第１図の鎖線に示す様に反射光
が受光素子ＩＫ受光畜れる場合は第２図（ハ）に示す様
に１人には少８１ ＢＫは多量の光景が入射する。した
がって受光素子ＩＡ、１Ｂの出力の差に基づいて距離信
号を得ることができるわけであるが反射光成分に比して
外光成分が大きい場合には８Ｎ比の悪い信号が得られる
ことになる・そこで外光成分が大きい場合であっても距
離信号を得ようとする方式が従来提案されている。ここ
で従来提案されている方式を第３図を用いて説明する。
第３図に訃いて受光素子ＩＡ、ＩＢＫはそれぞれ増幅回
路６ム、６Ｂ直流成分カット用のバイパスフィルター９
Ａ、９Ｂ、検波回路７Ａ、 ７Ｂが接続され、更に検波
回路７Ａ、７Ｂの出力は積分回路８Ａ、８ＢＫ接続され
る。発光素子２はパルス発光を行う様に−ｔイクロコン
ピュータ１１から出力されるパルス信号（不図示）ＶＣ
より駆動される駆動回路１５により駆動され、検波回路
７Ａ、７Ｂにより前記発光素子２のパルス発光に応じて
バイパルスフィルター９Ａ、９Ｂの出力は同期検ｅ−Ｊ
れる・し九がって積分回路Ｂ人、８ＢＨ同期検波され九
出 ”力が積分され加算器１２、差動器１３によ
りそれぞれの積分値の和と差が演算される。
路６ム、６Ｂ直流成分カット用のバイパスフィルター９
Ａ、９Ｂ、検波回路７Ａ、 ７Ｂが接続され、更に検波
回路７Ａ、７Ｂの出力は積分回路８Ａ、８ＢＫ接続され
る。発光素子２はパルス発光を行う様に−ｔイクロコン
ピュータ１１から出力されるパルス信号（不図示）ＶＣ
より駆動される駆動回路１５により駆動され、検波回路
７Ａ、７Ｂにより前記発光素子２のパルス発光に応じて
バイパルスフィルター９Ａ、９Ｂの出力は同期検ｅ−Ｊ
れる・し九がって積分回路Ｂ人、８ＢＨ同期検波され九
出 ”力が積分され加算器１２、差動器１３によ
りそれぞれの積分値の和と差が演算される。
ここで積分値の和が所定値に達した際に積分値の差を検
出することＫより、合焦であるか、あるいは合焦からど
の程度ずれているかを検出することができ、その結果に
応じてモータ駆動回路１６がモータ１０を駆動する様構
成畜れている。
出することＫより、合焦であるか、あるいは合焦からど
の程度ずれているかを検出することができ、その結果に
応じてモータ駆動回路１６がモータ１０を駆動する様構
成畜れている。
かかる方式に依れば同期検波を行って、その出力を積分
しているため外光成分が発光素子２の反射光成分に比べ
て大きい場合であっても距離信号を得ることができるわ
けであるが、かかる方式においては受光素子ＩＡ、ＩＢ
Ｋ対応して積分回路、検波回路を含む信号処理回路が
２系統必要になるため回路規模が大きくなるばかシか、
２系統の回路特性（例えばオフセット電圧、積分特性、
同期検波特性等）を合わせる必要があった◎ また特開昭６０−１９１１６号公報には二つの受光素子
を用いて該受光素子の一方の信号を所定時間積分し、次
に該受光素子の両方の信号の和で逆方向に積分を行い、
積分値が第１の所定の値に達するまでの時間を距離情報
として得る様にして、信号処理回路を２系統用いず、１
系統とするととくよって回路構成を簡単にした測距装置
が開示されている。
しているため外光成分が発光素子２の反射光成分に比べ
て大きい場合であっても距離信号を得ることができるわ
けであるが、かかる方式においては受光素子ＩＡ、ＩＢ
Ｋ対応して積分回路、検波回路を含む信号処理回路が
２系統必要になるため回路規模が大きくなるばかシか、
２系統の回路特性（例えばオフセット電圧、積分特性、
同期検波特性等）を合わせる必要があった◎ また特開昭６０−１９１１６号公報には二つの受光素子
を用いて該受光素子の一方の信号を所定時間積分し、次
に該受光素子の両方の信号の和で逆方向に積分を行い、
積分値が第１の所定の値に達するまでの時間を距離情報
として得る様にして、信号処理回路を２系統用いず、１
系統とするととくよって回路構成を簡単にした測距装置
が開示されている。
かかる方法においては受光素子の一方の信号を所定時間
積分する際に受光素子の出力が低く、積分を行っても積
分値が第２の所定の値に達しない場合には被写体が極め
て遠距離にあると判断している。ところが前記積分値が
前記第２の所定の値よシわずかに大きい場合に逆積分を
行うと、もともと積分値のレベルが低く逆積分を開始し
てから積分値が第１の所定値に達するまでの時間が非常
に短かいため正確な距離が得られないという欠点があっ
た◎ （発明の目的） 本発明はかかる上述の欠点を解消して常に正確な測距情
報を得る測距装置を提供することを目的とする〇 （実施例） 第４−１図は本発明の実施例のブロック図である。
積分する際に受光素子の出力が低く、積分を行っても積
分値が第２の所定の値に達しない場合には被写体が極め
て遠距離にあると判断している。ところが前記積分値が
前記第２の所定の値よシわずかに大きい場合に逆積分を
行うと、もともと積分値のレベルが低く逆積分を開始し
てから積分値が第１の所定値に達するまでの時間が非常
に短かいため正確な距離が得られないという欠点があっ
た◎ （発明の目的） 本発明はかかる上述の欠点を解消して常に正確な測距情
報を得る測距装置を提供することを目的とする〇 （実施例） 第４−１図は本発明の実施例のブロック図である。
第４−１図において、第３図と同一の機能を有する要素
については同じ符号を付し説明を省略する。
については同じ符号を付し説明を省略する。
第４−１図において、２分割の受光素子１人。
１Ｂの出力は制御回路１１５により制御されるアナログ
スイッチＩＱＩＡ、ＩＱＩＢを介して増幅回路６ＶＣ接
続されておシ、それぞれのアナログスイッチの開閉によ
り、入力信号をＡ＋Ｂ、Ａ、Ｈの３つのうちから１つ選
択することができる。ここで増巾された信号は直流成分
カット用のバイパスフィルター９、検波回路７を介して
積分回路８に接続される。積分回路８の出力は入力電圧
に応じて有限の電圧範囲内を変化し、比較器１１４に加
えられ、所定のしきい値と比較器れて、その判定結果が
マイコン１１１に入力される。ｔた積分回路８はマイコ
ン１１１からの信号によシ積分、逆積分を切り換える様
に構成されている０例えば第４−２図に示す様に逆積分
の際には検波回路７の出力を反転器せる反転器１１７と
、積分器１１８と、該反転回路を介して積分器に信号を
入力するか反転回路を介さずに積分器に入力させるかを
マイコン１１１からの信号により切り換えるアナログス
イッチ１１９，１２０から構成嘔れる・ここでしきい値
は積分時ＶＨ，逆積分時ＶＯという値をとる。
スイッチＩＱＩＡ、ＩＱＩＢを介して増幅回路６ＶＣ接
続されておシ、それぞれのアナログスイッチの開閉によ
り、入力信号をＡ＋Ｂ、Ａ、Ｈの３つのうちから１つ選
択することができる。ここで増巾された信号は直流成分
カット用のバイパスフィルター９、検波回路７を介して
積分回路８に接続される。積分回路８の出力は入力電圧
に応じて有限の電圧範囲内を変化し、比較器１１４に加
えられ、所定のしきい値と比較器れて、その判定結果が
マイコン１１１に入力される。ｔた積分回路８はマイコ
ン１１１からの信号によシ積分、逆積分を切り換える様
に構成されている０例えば第４−２図に示す様に逆積分
の際には検波回路７の出力を反転器せる反転器１１７と
、積分器１１８と、該反転回路を介して積分器に信号を
入力するか反転回路を介さずに積分器に入力させるかを
マイコン１１１からの信号により切り換えるアナログス
イッチ１１９，１２０から構成嘔れる・ここでしきい値
は積分時ＶＨ，逆積分時ＶＯという値をとる。
ヨ １１６は比較器１１４に印加されるしきい
値を発生する回路であり、積分回路によシ積分が行われ
る際にはしきい値がＶＨ１逆積分が行われる際にはＶＯ
に変化する様マイコン１１１からの信号によシ自動的に
切り換わる。
値を発生する回路であり、積分回路によシ積分が行われ
る際にはしきい値がＶＨ１逆積分が行われる際にはＶＯ
に変化する様マイコン１１１からの信号によシ自動的に
切り換わる。
次に以上の様に構成された本実施例の動作を第５図、第
６図を用いて説明する。
６図を用いて説明する。
第５図は以上の様に構成された本実施例の測距装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。
作を説明するためのタイムチャートである。
第６図は第４−１図に示したマイコン１１１のフローチ
ャートである。第５図において測距サイクルは！１区間
（０〜Ｔ、）、第２区間（Ｔｏ〜２Ｔｏ ）第３区間（
２Ｔ０〜３Ｔ０）、第４区間（３Ｔ、〜４Ｔ０）の４区
間に分けられる。第６図に示したフローチャートを用−
て説明する。
ャートである。第５図において測距サイクルは！１区間
（０〜Ｔ、）、第２区間（Ｔｏ〜２Ｔｏ ）第３区間（
２Ｔ０〜３Ｔ０）、第４区間（３Ｔ、〜４Ｔ０）の４区
間に分けられる。第６図に示したフローチャートを用−
て説明する。
（１）第１区間（０〜７． ） ：
まず積分電圧をＶ。Ｋ初期化し、ム十Ｂの積分を開始す
る。ム＋Ｂの積分はマイコン１１１からの信号によシ制
御回路１１５がアナログスイッチ１０１ムと１０１Ｂの
両方をＯＮすることで成畜れる。
る。ム＋Ｂの積分はマイコン１１１からの信号によシ制
御回路１１５がアナログスイッチ１０１ムと１０１Ｂの
両方をＯＮすることで成畜れる。
マイコンは所定の積分時間Ｔ０をカウントし、その間積
分電圧は入力信号に応じて上昇を続ける。
分電圧は入力信号に応じて上昇を続ける。
７０秒間の積分を完了すると、積分電圧は略々ＶＨとな
り、これがム＋Ｂの積分値とがる。
り、これがム＋Ｂの積分値とがる。
（２１第２区間、第３区間（Ｔｏ〜５Ｔ０）：次ニマイ
コン１１１からの信号により制御回路１１５がアナログ
スイッチのうち１０１Ｂを開き、Ｂ側のセンサを切り離
す。それとほぼ同時に積分入力の極性を切換え積分回路
８にマイコン１１１からの信号が伝達されて、第４−２
図に示したアナログスイッチ１１９，１２０が切り換え
られて逆積分を開始する。この積分は−Ａの積分となる
。この積分を最大２Ｔ０秒間（スタート後、Ｔｏから３
Ｔｏｉで行うわけであるが、そのカウントと同時に積分
電圧が基準電圧ｖＯとクロスしたかどうかを見つづけ、
クロスした場合は残りの積分時間ＴＭ（ＴＭ＝Ｔ−３Ｔ
ｏ。
コン１１１からの信号により制御回路１１５がアナログ
スイッチのうち１０１Ｂを開き、Ｂ側のセンサを切り離
す。それとほぼ同時に積分入力の極性を切換え積分回路
８にマイコン１１１からの信号が伝達されて、第４−２
図に示したアナログスイッチ１１９，１２０が切り換え
られて逆積分を開始する。この積分は−Ａの積分となる
。この積分を最大２Ｔ０秒間（スタート後、Ｔｏから３
Ｔｏｉで行うわけであるが、そのカウントと同時に積分
電圧が基準電圧ｖＯとクロスしたかどうかを見つづけ、
クロスした場合は残りの積分時間ＴＭ（ＴＭ＝Ｔ−３Ｔ
ｏ。
−Ｔｏ（ＴＭ（ｏ；クロスした時点をＴとする）を計算
し、後述する（４）の処理にうつる。２Ｔｏ秒間でクロ
スし々かった場合はＡ（Ｂとみなし、次の処理にうつる
〇 （３）第４区間（３ＴＯ〜４Ｔｏ ） ：コントはマイ
コン１１１からの信号により制御回路１１５がアナログ
スイッチ１０１Ａを開き、反対１ｃ １０１Ｂを閉じて
、Ｂ側センサの信号が積分回路８に伝達される様に切換
える。積分入力の極性はそのままで逆積分を続ける。こ
こからの積分は−Ｂの積分となる。この積分は最大Ｔｏ
秒間（スタート後３Ｔｏから４Ｔｏまで）行い、やはり
そのカウントと同時に積分電圧が基醜電圧ｖｏと
したかどうかを見つづけ、クロスした場合は、この逆積
分に要した時間ＴＶ（ＴＭ＝Ｔ−５ＴＯ，ｏ（ＴＭ（Ｔ
ｏ ）を求めて以上で積分を行うサイク、／！／は終了
するわけではあるが測距情報を得るため次の処理（４）
へうつる。
し、後述する（４）の処理にうつる。２Ｔｏ秒間でクロ
スし々かった場合はＡ（Ｂとみなし、次の処理にうつる
〇 （３）第４区間（３ＴＯ〜４Ｔｏ ） ：コントはマイ
コン１１１からの信号により制御回路１１５がアナログ
スイッチ１０１Ａを開き、反対１ｃ １０１Ｂを閉じて
、Ｂ側センサの信号が積分回路８に伝達される様に切換
える。積分入力の極性はそのままで逆積分を続ける。こ
こからの積分は−Ｂの積分となる。この積分は最大Ｔｏ
秒間（スタート後３Ｔｏから４Ｔｏまで）行い、やはり
そのカウントと同時に積分電圧が基醜電圧ｖｏと
したかどうかを見つづけ、クロスした場合は、この逆積
分に要した時間ＴＶ（ＴＭ＝Ｔ−５ＴＯ，ｏ（ＴＭ（Ｔ
ｏ ）を求めて以上で積分を行うサイク、／！／は終了
するわけではあるが測距情報を得るため次の処理（４）
へうつる。
（４） ここではモーター駆動の方向と速度を決定す
る◎さて、求められたＴＭは−ＴＯ〜Ｔｏの範囲内にあ
るが、これをＲ≧Ｔ Ｍ／ＴＯの計算により一１〜１の
範囲に正規化する〇 この数値の極性がモーター駆動の回転方向を示し、絶対
値が速度制御のデユーティ−値を示す。すなわち極性が
負である場合、Ａ〉Ｂっまり前ピン状態であや、駆動方
向は繰込む向、逆に極性が正である場合、ＡくＢ１つま
シ後ピン状態であシ、駆動方向は繰出す向となる・ま九
合焦点ｔこ近づくにつれて、１Ｒ１はゼロに近づき、な
めらかに減速して合焦点（深度内）で停止する。
る◎さて、求められたＴＭは−ＴＯ〜Ｔｏの範囲内にあ
るが、これをＲ≧Ｔ Ｍ／ＴＯの計算により一１〜１の
範囲に正規化する〇 この数値の極性がモーター駆動の回転方向を示し、絶対
値が速度制御のデユーティ−値を示す。すなわち極性が
負である場合、Ａ〉Ｂっまり前ピン状態であや、駆動方
向は繰込む向、逆に極性が正である場合、ＡくＢ１つま
シ後ピン状態であシ、駆動方向は繰出す向となる・ま九
合焦点ｔこ近づくにつれて、１Ｒ１はゼロに近づき、な
めらかに減速して合焦点（深度内）で停止する。
以上説明したサイクルの第３区間から第４区間において
は逆積分をＡからＢに切υ換えているがこのサイクルを
設けるととＫよ９次の効果がある・ 例えば第２図の（ハ）に示す様にセンサ１Ｂにほとんど
の光が入射している場合にはセンナ１人の出力が低いた
めムでのみ逆積分を行うと積分値が初期値に達するまで
非常に時間がかかるが本実施例に依れば逆積分をＡから
Ｂに切シ換えているため、かかる場合においても逆積分
に要する時間が短かくなる。
は逆積分をＡからＢに切υ換えているがこのサイクルを
設けるととＫよ９次の効果がある・ 例えば第２図の（ハ）に示す様にセンサ１Ｂにほとんど
の光が入射している場合にはセンナ１人の出力が低いた
めムでのみ逆積分を行うと積分値が初期値に達するまで
非常に時間がかかるが本実施例に依れば逆積分をＡから
Ｂに切シ換えているため、かかる場合においても逆積分
に要する時間が短かくなる。
以上において上述した測距サイクルはＡＢの大小関係に
よシ変化し、第５図にタイムチャートを示す様に次のａ
、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ ＩＩｃ示すパターンに分けられる。
よシ変化し、第５図にタイムチャートを示す様に次のａ
、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ ＩＩｃ示すパターンに分けられる。
ａ かかる場合は反射光が＃１とんど受光素子１ＢＫ入
射する場合を示す。この場合は受光素子ＩＡＫ入射する
反射光が小ざいため第２〜！１区間の積分値はほとんど
変化せず、測距サイクルが終了する（積分値がｖｏに達
し比較器１ムによシ判定畜れる）Ｋは第４区間の最後ま
で要する。
射する場合を示す。この場合は受光素子ＩＡＫ入射する
反射光が小ざいため第２〜！１区間の積分値はほとんど
変化せず、測距サイクルが終了する（積分値がｖｏに達
し比較器１ムによシ判定畜れる）Ｋは第４区間の最後ま
で要する。
ｂ かかる場合は受光素子ＩＡ、ＩＢの出力がＢ〉Ａ
） ｏの場合を示す。この場合は受光素子１Ｂに入射す
る光量の方が受光素子ＩＡＫ入射する光景よシも大きい
場合を示すが、＠４区間において測距サイクルが終了す
る。
） ｏの場合を示す。この場合は受光素子１Ｂに入射す
る光量の方が受光素子ＩＡＫ入射する光景よシも大きい
場合を示すが、＠４区間において測距サイクルが終了す
る。
Ｃかかる場合は受光素子ＩＡ、ＩＢの出力がＡ−Ｂ〉０
の場合を示す。この場合は受光素子１ム。
の場合を示す。この場合は受光素子１ム。
ＩＢＫ入射する光量がほぼ等しく、合焦である場合を示
すが、第３区間の終わりで＃１ぼ測距サイクルが終了す
る。
すが、第３区間の終わりで＃１ぼ測距サイクルが終了す
る。
ｄｌ かかる場合は受光素子ＩＡ、ＩＢの出力がＡ〉
Ｂ〉０の場合を示す・この場合は受光素子１ＡＫ入射す
る光量の方が受光素子１Ｂ６２人射する光量よシも大き
い場合を示すが、第３区間に測距サイクルが終了する。
Ｂ〉０の場合を示す・この場合は受光素子１ＡＫ入射す
る光量の方が受光素子１Ｂ６２人射する光量よシも大き
い場合を示すが、第３区間に測距サイクルが終了する。
ｅ かかる場合は反射光がほとんど受光素子１ムに入射
する場合を示す。この場合は受光素子１人の出力が、受
光素子１人の出力と受光素子１Ｂの出力との和にほぼ等
しいため第２区間の終わりもしくは第３区間の初めて測
距サイクルが終了する＠ ここで被写体が急激に移動したり、消えたりしない場合
には前述の様Ｋｉ＠３区間あるいは第４区間において測
距サイクルが終了するが（積分値はＶｏｉｄ達するが、
）第５図に示し九第３区間と第４区間との境界点Ｐを境
として測距サイクルが境界点より早く終了するか、遅く
終了するかによって前ピンか後ピンかを判断し、測距サ
イクルの終了時と境界点Ｐとの時間差ＴＭの前記ＴＯＫ
対する値ＩＴＭ／ＴＯ＋を演算することによりデフォー
カス量を判定することができる。
する場合を示す。この場合は受光素子１人の出力が、受
光素子１人の出力と受光素子１Ｂの出力との和にほぼ等
しいため第２区間の終わりもしくは第３区間の初めて測
距サイクルが終了する＠ ここで被写体が急激に移動したり、消えたりしない場合
には前述の様Ｋｉ＠３区間あるいは第４区間において測
距サイクルが終了するが（積分値はＶｏｉｄ達するが、
）第５図に示し九第３区間と第４区間との境界点Ｐを境
として測距サイクルが境界点より早く終了するか、遅く
終了するかによって前ピンか後ピンかを判断し、測距サ
イクルの終了時と境界点Ｐとの時間差ＴＭの前記ＴＯＫ
対する値ＩＴＭ／ＴＯ＋を演算することによりデフォー
カス量を判定することができる。
かかる値ｌ ＴＭ／Ｔｏ ｌけ前述の様にマイコンによ
り演算され、ＩＴＭ／？ｏｌ＞ｋ（ｋは合焦中を設定す
る丸めの定数であＦ）Ｉ＞ｋ＞ｏである）であれば非合
焦、ｌ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌ≦Ｘであれば合焦である０次
にかかる値ＩＴＭ／ＴＯ＋と測距情報について更に説明
する。尚、本発明において測距情報とは前ピン、後ビン
合焦の判別だけを行って出力される情報も含む。
り演算され、ＩＴＭ／？ｏｌ＞ｋ（ｋは合焦中を設定す
る丸めの定数であＦ）Ｉ＞ｋ＞ｏである）であれば非合
焦、ｌ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌ≦Ｘであれば合焦である０次
にかかる値ＩＴＭ／ＴＯ＋と測距情報について更に説明
する。尚、本発明において測距情報とは前ピン、後ビン
合焦の判別だけを行って出力される情報も含む。
まず、前述のａ、ｂとして示したパターンにおける場合
を第７図の工を用いて説明する。ここで積分値が初期値
に達した際には積分時と逆積分時の全電荷量は等しいの
で次の式が成り立つ。
を第７図の工を用いて説明する。ここで積分値が初期値
に達した際には積分時と逆積分時の全電荷量は等しいの
で次の式が成り立つ。
（Ａ＋Ｂ）Ｔｏ＝Ａ−２ＴＯ＋ＢＴＭ （１１（
１）式を整理すると −Ｂ ｌ Ｔ Ｍ／′ｒｏ ｌ 冨Ｂ （２）とな
る。
１）式を整理すると −Ｂ ｌ Ｔ Ｍ／′ｒｏ ｌ 冨Ｂ （２）とな
る。
ｉ九前述のｄ、ｅとして示したパターンにおける場合を
第７図の■を用いて説明する。かかる場合は逆積分を行
っている間に１逆積分に用いる受光素子をアナログスイ
ッチで切ｂｅえる７１時間前に積分値が初期値に達する
０したがって次の式が成り立つ。
第７図の■を用いて説明する。かかる場合は逆積分を行
っている間に１逆積分に用いる受光素子をアナログスイ
ッチで切ｂｅえる７１時間前に積分値が初期値に達する
０したがって次の式が成り立つ。
（Ａ＋Ｂ）ＴＯ＝ Ａ、（２ＴＯ−ＴＭ） （５１
（３）式を整理すると −Ｂ Ｉ ＴＭ／Ｔｏ ｌ ”” Ｔ（４） となる０したがって得られる値Ｉ ＴＭ／Ｔｏ ｌは１
．Ｉｆのいずれの場合にも受光素子ＩＡ、ＩＢの出力の
差すなわち被測距体までの距離情報に相応する信号を受
光素子ＩＡ、ＩＢのいずれかの出力で規格化した値とな
る。
（３）式を整理すると −Ｂ Ｉ ＴＭ／Ｔｏ ｌ ”” Ｔ（４） となる０したがって得られる値Ｉ ＴＭ／Ｔｏ ｌは１
．Ｉｆのいずれの場合にも受光素子ＩＡ、ＩＢの出力の
差すなわち被測距体までの距離情報に相応する信号を受
光素子ＩＡ、ＩＢのいずれかの出力で規格化した値とな
る。
また第４図に示したモータＶをディーティ駆動する場合
にはかかるデエーティを前記Ｉ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌに応
じて変えれば例えばｌ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌが小ζい場合
にはモータＭの駆動デユーティを低く Ｌ、ＩＴＭ／Ｔ
ｏｌが大きい場合にはモータｙの駆動デユーティを高く
することによってよシ安定表レンズ駆動を行うことがで
きる・ 以上の様に説明した実施例においては第１区間における
積分時間Ｔ、は発光パルス数が定になる様に一定の値に
固定されているが、被写体の距ｍが極めて小ざい場合に
は反射光の強度が大きいため積分を行っていると積分時
間ＴＯが経過する前に積分値すなわち積分回路の積分電
圧が回路のダイナミックレンジの上限に達して回路が飽
和してしまって、正確な測距が行えなくなる場合がある
。そこで、第１区間における積分を一定時間行わすに積
分値が一定値に達するまで積分を行い、「積分を行う上
でかかった時間をＴｏとして記憶し、該時間Ｔｏに応じ
て第２区間、第３区間の逆積分を前述と同様に行っても
よい。
にはかかるデエーティを前記Ｉ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌに応
じて変えれば例えばｌ Ｔ Ｍ／Ｔｏ ｌが小ζい場合
にはモータＭの駆動デユーティを低く Ｌ、ＩＴＭ／Ｔ
ｏｌが大きい場合にはモータｙの駆動デユーティを高く
することによってよシ安定表レンズ駆動を行うことがで
きる・ 以上の様に説明した実施例においては第１区間における
積分時間Ｔ、は発光パルス数が定になる様に一定の値に
固定されているが、被写体の距ｍが極めて小ざい場合に
は反射光の強度が大きいため積分を行っていると積分時
間ＴＯが経過する前に積分値すなわち積分回路の積分電
圧が回路のダイナミックレンジの上限に達して回路が飽
和してしまって、正確な測距が行えなくなる場合がある
。そこで、第１区間における積分を一定時間行わすに積
分値が一定値に達するまで積分を行い、「積分を行う上
でかかった時間をＴｏとして記憶し、該時間Ｔｏに応じ
て第２区間、第３区間の逆積分を前述と同様に行っても
よい。
また前述の様に積分電圧が回路のダイナミックレンジの
上限に達して回路が飽和してしまう様な場合には前記積
分値に圧縮をかける様、回路を構成してもよ％ｆｈ６ また、逆積分の順序をム→Ｂと固定化せず、前回の結果
から予想される今回のＡとＢの大小関係から、大きいと
予想される方から逆積分を開始するようＫして、平均の
測距周期（時間）を短縮するようにしてもよい・ また本実施例においては被測距体からの反射光の入射角
に対応して変化する２種類の信号を出力する受光手段と
して受光素子ＩＡ、ＩＢを設けて第２図にその平面を示
す形状としたが他の形状であってもかまわないのは勿論
、その他の半導体装置検出素子ＰＡＤ等を用いてもよい
。
上限に達して回路が飽和してしまう様な場合には前記積
分値に圧縮をかける様、回路を構成してもよ％ｆｈ６ また、逆積分の順序をム→Ｂと固定化せず、前回の結果
から予想される今回のＡとＢの大小関係から、大きいと
予想される方から逆積分を開始するようＫして、平均の
測距周期（時間）を短縮するようにしてもよい・ また本実施例においては被測距体からの反射光の入射角
に対応して変化する２種類の信号を出力する受光手段と
して受光素子ＩＡ、ＩＢを設けて第２図にその平面を示
す形状としたが他の形状であってもかまわないのは勿論
、その他の半導体装置検出素子ＰＡＤ等を用いてもよい
。
（発明の効果）
以上説明した様に本発明に依れば被測距体からの反射光
の入射角に対応して変化する２種類の信号の和を所定時
間積分して次に前１２種類の信号の一方で所定時間の２
倍の時間逆積分を行い、次いで他方の信号で逆積分を行
っていき、積分値が初期値に達するまでの時間から測距
情報を得る様にしているので、被写体が遠距離に′ある
様な場合であっても常忙安定して正確な距離情報を得る
ことができる。
の入射角に対応して変化する２種類の信号の和を所定時
間積分して次に前１２種類の信号の一方で所定時間の２
倍の時間逆積分を行い、次いで他方の信号で逆積分を行
っていき、積分値が初期値に達するまでの時間から測距
情報を得る様にしているので、被写体が遠距離に′ある
様な場合であっても常忙安定して正確な距離情報を得る
ことができる。
第１図は本発明の測距装置の光学系を示す概略図、
第２図（イ）（ロ）（ハ）は受光素子ＩＡ、ＩＢに入射
する光の状態を示す平面図、 第３図は従来の測距装置の回路のブロック図、躯４−１
図は本発明の一実施例の測距装置のブロック図、第４−
２図は第４−１図のブロック８の回路図、 第５図は第４図にブロック図を示した測距装置のタイム
チャート、第６図けｍ４−１図に示り、タマイコン１１
１のフロｆヤード、第７図は第〜 ５図に示したタイムチャートの説明図である。 ＩＡ、ＩＢｄ受光素子 ２Ｆｉ発光素子 ３は投光レンズ群 ４は被写体 ｓＦｉ受光レンズ群 ６は増幅回路 ７は検波回路 Ｂは積分回路 ９はバイパスフィルタ １０は光学系駆動用モータ １１．１１１はマイコン １２は加算器 １３け減算器 １４．１１４は比較回路 １５は発光駆動回路 １６はモータ駆動回路
する光の状態を示す平面図、 第３図は従来の測距装置の回路のブロック図、躯４−１
図は本発明の一実施例の測距装置のブロック図、第４−
２図は第４−１図のブロック８の回路図、 第５図は第４図にブロック図を示した測距装置のタイム
チャート、第６図けｍ４−１図に示り、タマイコン１１
１のフロｆヤード、第７図は第〜 ５図に示したタイムチャートの説明図である。 ＩＡ、ＩＢｄ受光素子 ２Ｆｉ発光素子 ３は投光レンズ群 ４は被写体 ｓＦｉ受光レンズ群 ６は増幅回路 ７は検波回路 Ｂは積分回路 ９はバイパスフィルタ １０は光学系駆動用モータ １１．１１１はマイコン １２は加算器 １３け減算器 １４．１１４は比較回路 １５は発光駆動回路 １６はモータ駆動回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 発光手段と、被測距体からの反射光の入射角に対応して
変化する２種類の信号を出力する受光手段と、 前記２種類の信号の和を所定時間積分し、次に前記２種
の信号の一方の信号で前記所定時間の略２倍の時間逆積
分を行い、更に次に前記２種類の信号の他方の信号で逆
積分を行い、前記逆積分において積分値が初期値に達し
たことを検出する検出手段と、 該検出手段により積分値が初期値に達するまでの時間か
ら前記被測距体までの測距情報を出力する手段とを具備
したことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6545485A JPS61223609A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6545485A JPS61223609A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61223609A true JPS61223609A (ja) | 1986-10-04 |
Family
ID=13287602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6545485A Pending JPS61223609A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61223609A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5033052A (en) * | 1988-03-22 | 1991-07-16 | Fujitsu Limited | Optical semiconductor device and production method thereof |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6545485A patent/JPS61223609A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5033052A (en) * | 1988-03-22 | 1991-07-16 | Fujitsu Limited | Optical semiconductor device and production method thereof |
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