JP3447509B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP3447509B2 JP3447509B2 JP8150497A JP8150497A JP3447509B2 JP 3447509 B2 JP3447509 B2 JP 3447509B2 JP 8150497 A JP8150497 A JP 8150497A JP 8150497 A JP8150497 A JP 8150497A JP 3447509 B2 JP3447509 B2 JP 3447509B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ等に用いる
のに好適なアクティブ型の測距装置に関するものであ
る。
のに好適なアクティブ型の測距装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、カメラにおけるアクティブ型
の測距装置として、図１０に示すものが知られている。
図１０は、第１の従来技術に係る測距装置の構成図であ
る。
の測距装置として、図１０に示すものが知られている。
図１０は、第１の従来技術に係る測距装置の構成図であ
る。
【０００３】この図に示す測距装置では、ＣＰＵ１１０
による制御の下、ドライバ１１２は、赤外線発光ダイオ
ード（以下「ＩＲＥＤ」という。）１１４を駆動して赤
外光を出力させ、その赤外光を投光レンズ（図示せず）
を介して測距対象物に投光する。その測距対象物で反射
した赤外光は受光レンズ（図示せず）を経て位置検出素
子（以下「ＰＳＤ」という。）１１６に集光され、ＰＳ
Ｄ１１６は、その赤外光の反射光を受光した位置に応じ
て２つの信号Ｉ1 およびＩ2 を出力する。第１信号処理
回路１１８は、信号Ｉ1 に含まれるノイズとなる定常光
成分を除去し、第２信号処理回路１２０は、信号Ｉ2 に
含まれるノイズとなる定常光成分を除去する。
による制御の下、ドライバ１１２は、赤外線発光ダイオ
ード（以下「ＩＲＥＤ」という。）１１４を駆動して赤
外光を出力させ、その赤外光を投光レンズ（図示せず）
を介して測距対象物に投光する。その測距対象物で反射
した赤外光は受光レンズ（図示せず）を経て位置検出素
子（以下「ＰＳＤ」という。）１１６に集光され、ＰＳ
Ｄ１１６は、その赤外光の反射光を受光した位置に応じ
て２つの信号Ｉ1 およびＩ2 を出力する。第１信号処理
回路１１８は、信号Ｉ1 に含まれるノイズとなる定常光
成分を除去し、第２信号処理回路１２０は、信号Ｉ2 に
含まれるノイズとなる定常光成分を除去する。
【０００４】演算回路１３２は、定常光成分が除去され
た信号Ｉ1 およびＩ2 に基づいて、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ
1＋Ｉ2））を演算により求め、測距対象物までの距離に
応じた出力比信号を出力する。積分回路１３４は、多数
回このようにして演算回路１３２から出力される出力比
信号を積分してＳ／Ｎ比を改善する。この積分回路１３
４から出力される信号（以下「ＡＦ信号」という。）
は、測距対象物までの距離に応じたものである。そし
て、ＣＰＵ１１０は、積分回路１３４から出力されるＡ
Ｆ信号に基づいて、所定の演算を行って距離信号を求
め、この距離信号に基づいてレンズ駆動回路１３６を制
御してレンズ１３８を合焦位置まで移動させる。
た信号Ｉ1 およびＩ2 に基づいて、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ
1＋Ｉ2））を演算により求め、測距対象物までの距離に
応じた出力比信号を出力する。積分回路１３４は、多数
回このようにして演算回路１３２から出力される出力比
信号を積分してＳ／Ｎ比を改善する。この積分回路１３
４から出力される信号（以下「ＡＦ信号」という。）
は、測距対象物までの距離に応じたものである。そし
て、ＣＰＵ１１０は、積分回路１３４から出力されるＡ
Ｆ信号に基づいて、所定の演算を行って距離信号を求
め、この距離信号に基づいてレンズ駆動回路１３６を制
御してレンズ１３８を合焦位置まで移動させる。
【０００５】図１１は、この第１の従来技術の積分回路
１３４から出力されるＡＦ信号と測距対象物までの距離
との関係を示す図である。この図に示すグラフにおい
て、横軸は、測距対象物までの距離Ｌの逆数（１／Ｌ）
であり、縦軸は、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2））すなわ
ちＡＦ信号である。この図に示すように、或る距離Ｌ4
以下では、距離Ｌの逆数（１／Ｌ）に対して出力比は略
線形関係にあり、距離Ｌが大きく（１／Ｌが小さく）な
ると出力比は小さくなる。しかし、距離Ｌ4 以上では、
距離Ｌが大きくなると逆にノイズ成分の影響が大きくな
る。ノイズ成分をＩn （Ｉn ≧０）とすると、出力比
は、（Ｉ1＋Ｉn）／（Ｉ1＋Ｉn＋Ｉ2＋Ｉn）となり、距
離Ｌ4 以遠では、出力比は大きくなる方向に変動する。
しかも、Ｉnはランダムに発生する為、測距条件により
不安定になる。これは、距離Ｌが大きくなると、ＰＳＤ
１１６が受光する反射光の強度が小さくなってノイズ成
分Ｉnが相対的に大きくなるからである。このような現
象が起きると、測距対象物までの距離Ｌを出力比から一
意的に決定することができない。
１３４から出力されるＡＦ信号と測距対象物までの距離
との関係を示す図である。この図に示すグラフにおい
て、横軸は、測距対象物までの距離Ｌの逆数（１／Ｌ）
であり、縦軸は、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2））すなわ
ちＡＦ信号である。この図に示すように、或る距離Ｌ4
以下では、距離Ｌの逆数（１／Ｌ）に対して出力比は略
線形関係にあり、距離Ｌが大きく（１／Ｌが小さく）な
ると出力比は小さくなる。しかし、距離Ｌ4 以上では、
距離Ｌが大きくなると逆にノイズ成分の影響が大きくな
る。ノイズ成分をＩn （Ｉn ≧０）とすると、出力比
は、（Ｉ1＋Ｉn）／（Ｉ1＋Ｉn＋Ｉ2＋Ｉn）となり、距
離Ｌ4 以遠では、出力比は大きくなる方向に変動する。
しかも、Ｉnはランダムに発生する為、測距条件により
不安定になる。これは、距離Ｌが大きくなると、ＰＳＤ
１１６が受光する反射光の強度が小さくなってノイズ成
分Ｉnが相対的に大きくなるからである。このような現
象が起きると、測距対象物までの距離Ｌを出力比から一
意的に決定することができない。
【０００６】そこで、このような問題を解決する測距装
置として、以下のようなものが知られている。図１２
は、第２の従来技術に係る測距装置の構成図である。な
お、この図では、受光側のみ示している。この図に示す
測距装置では、ＰＳＤ１４０から出力された信号Ｉ1 お
よびＩ2 それぞれは、定常光除去回路１４２および１４
４それぞれにより定常光成分が除去された後、演算回路
１４６および１４８の双方に入力する。演算回路１４６
は、定常光成分が除去された信号Ｉ1 およびＩ2に基づ
いて、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2）なる演算を行って出力比を求
め、積分回路１５０は、その出力比を積分する。一方、
演算回路１４８は、Ｉ1＋Ｉ2なる演算を行って光量を求
め、積分回路１５２は、その光量を積分する。そして、
選択部１６０は、出力比および光量の一方を選択して、
これに基づいて測距対象物までの距離を求める。なお、
選択部１６０は、ＣＰＵにおける処理である。
置として、以下のようなものが知られている。図１２
は、第２の従来技術に係る測距装置の構成図である。な
お、この図では、受光側のみ示している。この図に示す
測距装置では、ＰＳＤ１４０から出力された信号Ｉ1 お
よびＩ2 それぞれは、定常光除去回路１４２および１４
４それぞれにより定常光成分が除去された後、演算回路
１４６および１４８の双方に入力する。演算回路１４６
は、定常光成分が除去された信号Ｉ1 およびＩ2に基づ
いて、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2）なる演算を行って出力比を求
め、積分回路１５０は、その出力比を積分する。一方、
演算回路１４８は、Ｉ1＋Ｉ2なる演算を行って光量を求
め、積分回路１５２は、その光量を積分する。そして、
選択部１６０は、出力比および光量の一方を選択して、
これに基づいて測距対象物までの距離を求める。なお、
選択部１６０は、ＣＰＵにおける処理である。
【０００７】また、図１３は、第３の従来技術に係る測
距装置の構成図である。なお、この図でも、受光側のみ
示している。この図に示す測距装置では、ＰＳＤ１７０
から出力された信号Ｉ1 およびＩ2 それぞれは、定常光
除去回路１７２および１７４それぞれにより定常光成分
が除去された後、スイッチ１７６の一端に入力する。こ
のスイッチ１７６は、ＣＰＵにより制御され、定常光除
去回路１７２および１７４のいずれかの出力を積分回路
１７８に入力させるものである。積分回路１７８は、入
力した信号Ｉ1 およびＩ2 の何れか一方を積分し、演算
部１８０は、その積分結果に基づいて、Ｉ1 ／（Ｉ1＋
Ｉ2）なる演算を行って出力比を求め、一方、演算部１
８２は、Ｉ1＋Ｉ2なる演算を行って光量を求める。そし
て、選択部１８４は、出力比および光量の一方を選択し
て、これに基づいて測距対象物までの距離を求める。な
お、演算部１８０，１８２および選択部１８４は、ＣＰ
Ｕにおける処理である。
距装置の構成図である。なお、この図でも、受光側のみ
示している。この図に示す測距装置では、ＰＳＤ１７０
から出力された信号Ｉ1 およびＩ2 それぞれは、定常光
除去回路１７２および１７４それぞれにより定常光成分
が除去された後、スイッチ１７６の一端に入力する。こ
のスイッチ１７６は、ＣＰＵにより制御され、定常光除
去回路１７２および１７４のいずれかの出力を積分回路
１７８に入力させるものである。積分回路１７８は、入
力した信号Ｉ1 およびＩ2 の何れか一方を積分し、演算
部１８０は、その積分結果に基づいて、Ｉ1 ／（Ｉ1＋
Ｉ2）なる演算を行って出力比を求め、一方、演算部１
８２は、Ｉ1＋Ｉ2なる演算を行って光量を求める。そし
て、選択部１８４は、出力比および光量の一方を選択し
て、これに基づいて測距対象物までの距離を求める。な
お、演算部１８０，１８２および選択部１８４は、ＣＰ
Ｕにおける処理である。
【０００８】これら第２および第３の従来技術に係る測
距装置（図１２、図１３）は、共に、測距対象物までの
距離Ｌが小さいときには、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ
2））に基づいて距離Ｌを求め、距離Ｌが大きいときに
は、光量（Ｉ1＋Ｉ2）に基づいて距離Ｌを求めるもので
あり、このようにすることにより、距離Ｌを一意的に決
定することができるものである。
距装置（図１２、図１３）は、共に、測距対象物までの
距離Ｌが小さいときには、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ
2））に基づいて距離Ｌを求め、距離Ｌが大きいときに
は、光量（Ｉ1＋Ｉ2）に基づいて距離Ｌを求めるもので
あり、このようにすることにより、距離Ｌを一意的に決
定することができるものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、第２お
よび第３の従来技術に係る測距装置（図１２、図１３）
は、共に、第１の従来技術に係る測距装置（図１０）の
問題点を解決し得るものではある。しかし、第２の従来
技術に係る測距装置（図１２）は、演算回路および積分
回路を共に２組設ける必要があり、これを第１の従来技
術に係る測距装置（図１０）と比較すると、回路規模が
大きくなってコスト高になるという問題点がある。一
方、第３の従来技術に係る測距装置（図１３）は、回路
規模が小さくなるものの、ＰＳＤ１７０からの信号Ｉ1
およびＩ2の双方を同時に検出することができないの
で、第２の従来技術に係る測距装置（図１２）と同程度
のＳ／Ｎ比で距離Ｌを求めようとすれば２倍の時間を要
する。
よび第３の従来技術に係る測距装置（図１２、図１３）
は、共に、第１の従来技術に係る測距装置（図１０）の
問題点を解決し得るものではある。しかし、第２の従来
技術に係る測距装置（図１２）は、演算回路および積分
回路を共に２組設ける必要があり、これを第１の従来技
術に係る測距装置（図１０）と比較すると、回路規模が
大きくなってコスト高になるという問題点がある。一
方、第３の従来技術に係る測距装置（図１３）は、回路
規模が小さくなるものの、ＰＳＤ１７０からの信号Ｉ1
およびＩ2の双方を同時に検出することができないの
で、第２の従来技術に係る測距装置（図１２）と同程度
のＳ／Ｎ比で距離Ｌを求めようとすれば２倍の時間を要
する。
【００１０】また、上記何れの従来技術に係る測距装置
とも、外光輝度、温度および電源電圧それぞれが標準範
囲にあるときに好適に動作するよう設計されるが、外光
輝度、温度または電源電圧が変動すると、例えば、ＩＲ
ＥＤは、出射する赤外光の光量が変化したり、定常光成
分を除去するための回路（図１０における信号処理回路
１１８および１２０、図１２における定常光除去回路１
４２および１４４、図１３における定常光除去回路１７
２および１７４）は、ＰＳＤから出力された信号Ｉ1 お
よびＩ2 から定常光成分を十分に除去することができな
かったり、また、演算回路や積分回路も、その動作が設
計値からずれたりする。このような場合、得られる測距
結果は誤差をも含んだものとなり、正確な測距結果は得
られない。特に、測距対象物までの距離が大きい場合
に、この問題は大きい。
とも、外光輝度、温度および電源電圧それぞれが標準範
囲にあるときに好適に動作するよう設計されるが、外光
輝度、温度または電源電圧が変動すると、例えば、ＩＲ
ＥＤは、出射する赤外光の光量が変化したり、定常光成
分を除去するための回路（図１０における信号処理回路
１１８および１２０、図１２における定常光除去回路１
４２および１４４、図１３における定常光除去回路１７
２および１７４）は、ＰＳＤから出力された信号Ｉ1 お
よびＩ2 から定常光成分を十分に除去することができな
かったり、また、演算回路や積分回路も、その動作が設
計値からずれたりする。このような場合、得られる測距
結果は誤差をも含んだものとなり、正確な測距結果は得
られない。特に、測距対象物までの距離が大きい場合
に、この問題は大きい。
【００１１】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、小さい回路規模で且つ短時間に、測距
対象物までの距離が大きくても、また、外光輝度、温度
または電源電圧が変動しても、一意的に距離を求めるこ
とができる測距装置を提供することを目的とする。
れたものであり、小さい回路規模で且つ短時間に、測距
対象物までの距離が大きくても、また、外光輝度、温度
または電源電圧が変動しても、一意的に距離を求めるこ
とができる測距装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決する手段】本発明に係る第１の測距装置
は、(1) 測距対象物に向けて光束を出力する発光手段
と、(2) 測距対象物に投光された光束の反射光を、測距
対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その受光
位置に基づいて、受光光量が一定であれば距離が遠いほ
ど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定であれば
距離が近いほど大きな値である近側信号とを出力する受
光手段と、(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベ
ルと大小比較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレ
ベル以上の場合には遠側信号をそのまま出力し、そうで
ない場合にはクランプ信号を出力するクランプ手段と、
(4) 近側信号とクランプ手段から出力された信号との比
を演算して出力比信号を出力する演算手段と、(5) 外光
輝度を測定する輝度測定手段と、(6) 出力比信号が基準
被検体反射率で定められたクランプ効果有無判断基準レ
ベルより近側である場合、または出力比信号がクランプ
効果有無判断基準レベルより遠側であるとともに輝度測
定手段により測定された外光輝度が標準範囲外である場
合には第１の変換式に従って、そのいずれでもない場合
には第２の変換式に従って、出力比信号を距離に応じた
距離信号に変換する変換手段と、を備えることを特徴と
する。
は、(1) 測距対象物に向けて光束を出力する発光手段
と、(2) 測距対象物に投光された光束の反射光を、測距
対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その受光
位置に基づいて、受光光量が一定であれば距離が遠いほ
ど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定であれば
距離が近いほど大きな値である近側信号とを出力する受
光手段と、(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベ
ルと大小比較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレ
ベル以上の場合には遠側信号をそのまま出力し、そうで
ない場合にはクランプ信号を出力するクランプ手段と、
(4) 近側信号とクランプ手段から出力された信号との比
を演算して出力比信号を出力する演算手段と、(5) 外光
輝度を測定する輝度測定手段と、(6) 出力比信号が基準
被検体反射率で定められたクランプ効果有無判断基準レ
ベルより近側である場合、または出力比信号がクランプ
効果有無判断基準レベルより遠側であるとともに輝度測
定手段により測定された外光輝度が標準範囲外である場
合には第１の変換式に従って、そのいずれでもない場合
には第２の変換式に従って、出力比信号を距離に応じた
距離信号に変換する変換手段と、を備えることを特徴と
する。
【００１３】この第１の測距装置によれば、発光手段か
ら測距対象物に向けて出力された光束は、その測定対象
物で反射し、その反射光は、受光手段により、測距対象
物までの距離に応じた受光位置で受光され、その受光位
置に基づいて、受光光量が一定であれば距離が遠いほど
大きな値である遠側信号と、受光光量が一定であれば距
離が近いほど大きな値である近側信号とが出力される。
クランプ手段により、この遠側信号がクランプ信号のレ
ベルと大小比較され、遠側信号のレベルがクランプ信号
のレベル以上の場合には、遠側信号がそのまま出力さ
れ、そうでない場合には、当該クランプ信号が出力され
る。演算手段により、近側信号とクランプ手段から出力
された信号との比が演算されて出力比信号が出力され
る。そして、変換手段により、出力比信号が基準被検体
反射率で定められたクランプ効果有無判断基準レベルよ
り近側である場合には第１の変換式に従って、そうでな
い場合には輝度測定手段により測定された外光輝度に応
じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従っ
て、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換され出力
される。
ら測距対象物に向けて出力された光束は、その測定対象
物で反射し、その反射光は、受光手段により、測距対象
物までの距離に応じた受光位置で受光され、その受光位
置に基づいて、受光光量が一定であれば距離が遠いほど
大きな値である遠側信号と、受光光量が一定であれば距
離が近いほど大きな値である近側信号とが出力される。
クランプ手段により、この遠側信号がクランプ信号のレ
ベルと大小比較され、遠側信号のレベルがクランプ信号
のレベル以上の場合には、遠側信号がそのまま出力さ
れ、そうでない場合には、当該クランプ信号が出力され
る。演算手段により、近側信号とクランプ手段から出力
された信号との比が演算されて出力比信号が出力され
る。そして、変換手段により、出力比信号が基準被検体
反射率で定められたクランプ効果有無判断基準レベルよ
り近側である場合には第１の変換式に従って、そうでな
い場合には輝度測定手段により測定された外光輝度に応
じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従っ
て、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換され出力
される。
【００１４】本発明に係る第２の測距装置は、(1) 測距
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 温度を測定する
温度測定手段と、(6) 出力比信号が基準被検体反射率で
定められたクランプ効果有無判断基準レベルより近側で
ある場合、または出力比信号がクランプ効果有無判断基
準レベルより遠側であるとともに温度測定手段により測
定された温度が標準範囲外である場合には第１の変換式
に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に
従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換する
変換手段と、を備えることを特徴とする。
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 温度を測定する
温度測定手段と、(6) 出力比信号が基準被検体反射率で
定められたクランプ効果有無判断基準レベルより近側で
ある場合、または出力比信号がクランプ効果有無判断基
準レベルより遠側であるとともに温度測定手段により測
定された温度が標準範囲外である場合には第１の変換式
に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に
従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換する
変換手段と、を備えることを特徴とする。
【００１５】この第２の測距装置では、発光手段、受光
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、変換手段により、出力
比信号が基準被検体反射率で定められたクランプ効果有
無判断基準レベルより近側である場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には温度測定手段により測定
された温度に応じて第１の変換式および第２の変換式の
何れかに従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に
変換されて出力される。
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、変換手段により、出力
比信号が基準被検体反射率で定められたクランプ効果有
無判断基準レベルより近側である場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には温度測定手段により測定
された温度に応じて第１の変換式および第２の変換式の
何れかに従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に
変換されて出力される。
【００１６】本発明に係る第３の測距装置は、(1) 測距
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 電源電圧を測定
する電圧測定手段と、(6) 出力比信号が基準被検体反射
率で定められたクランプ効果有無判断基準レベルより近
側である場合、または出力比信号がクランプ効果有無判
断基準レベルより遠側であるとともに電圧測定手段によ
り測定された電源電圧が標準範囲外である場合には第１
の変換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の
変換式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に
変換する変換手段と、を備えることを特徴とする。
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 電源電圧を測定
する電圧測定手段と、(6) 出力比信号が基準被検体反射
率で定められたクランプ効果有無判断基準レベルより近
側である場合、または出力比信号がクランプ効果有無判
断基準レベルより遠側であるとともに電圧測定手段によ
り測定された電源電圧が標準範囲外である場合には第１
の変換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の
変換式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に
変換する変換手段と、を備えることを特徴とする。
【００１７】この第３の測距装置では、発光手段、受光
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、変換手段により、出力
比信号が基準被検体反射率で定められたクランプ効果有
無判断基準レベルより近側である場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には電圧測定手段により測定
された電源電圧に応じて第１の変換式および第２の変換
式の何れかに従って、出力比信号が距離に応じた距離信
号に変換されて出力される。
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、変換手段により、出力
比信号が基準被検体反射率で定められたクランプ効果有
無判断基準レベルより近側である場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には電圧測定手段により測定
された電源電圧に応じて第１の変換式および第２の変換
式の何れかに従って、出力比信号が距離に応じた距離信
号に変換されて出力される。
【００１８】本発明に係る第４の測距装置は、(1) 測距
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 外光輝度を測定
する輝度測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力す
る検出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクラ
ンプ信号のレベル以上であることを示している場合、ま
たは検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベ
ル未満であることを示すとともに輝度測定手段により測
定された外光輝度が標準範囲外である場合には第１の変
換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換
式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換
する変換手段と、を備えることを特徴とする。
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 外光輝度を測定
する輝度測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力す
る検出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクラ
ンプ信号のレベル以上であることを示している場合、ま
たは検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベ
ル未満であることを示すとともに輝度測定手段により測
定された外光輝度が標準範囲外である場合には第１の変
換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換
式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換
する変換手段と、を備えることを特徴とする。
【００１９】この第４の測距装置では、発光手段、受光
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には輝度測定手段により測定された外光輝度
に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従
って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換され
る。
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には輝度測定手段により測定された外光輝度
に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従
って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換され
る。
【００２０】本発明に係る第５の測距装置は、(1) 測距
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 温度を測定する
温度測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ信号
のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力する検
出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であることを示している場合、または
検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル未
満であることを示すとともに温度測定手段により測定さ
れた温度が標準範囲外である場合には第１の変換式に従
って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に従っ
て、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換する変換
手段と、を備えることを特徴とする。
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 温度を測定する
温度測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ信号
のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力する検
出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であることを示している場合、または
検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル未
満であることを示すとともに温度測定手段により測定さ
れた温度が標準範囲外である場合には第１の変換式に従
って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に従っ
て、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換する変換
手段と、を備えることを特徴とする。
【００２１】この第５の測距装置では、発光手段、受光
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には温度測定手段により測定された温度に応
じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従っ
て、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換される。
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には温度測定手段により測定された温度に応
じて第１の変換式および第２の変換式の何れかに従っ
て、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換される。
【００２２】本発明に係る第６の測距装置は、(1) 測距
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 電源電圧を測定
する電圧測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力す
る検出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクラ
ンプ信号のレベル以上であることを示している場合、ま
たは検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベ
ル未満であることを示すとともに電圧測定手段により測
定された電源電圧が標準範囲外である場合には第１の変
換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換
式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換
する変換手段と、を備えることを特徴とする。
対象物に向けて光束を出力する発光手段と、(2) 測距対
象物に投光された光束の反射光を、測距対象物までの距
離に応じた受光位置で受光し、その受光位置に基づい
て、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値で
ある遠側信号と、受光光量が一定であれば距離が近いほ
ど大きな値である近側信号とを出力する受光手段と、
(3) 遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上の
場合には遠側信号をそのまま出力し、そうでない場合に
はクランプ信号を出力するクランプ手段と、(4) 近側信
号とクランプ手段から出力された信号との比を演算して
出力比信号を出力する演算手段と、(5) 電源電圧を測定
する電圧測定手段と、(6) 遠側信号のレベルがクランプ
信号のレベル以上であるか否かを示す検出信号を出力す
る検出手段と、(7) 検出信号が遠側信号のレベルがクラ
ンプ信号のレベル以上であることを示している場合、ま
たは検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベ
ル未満であることを示すとともに電圧測定手段により測
定された電源電圧が標準範囲外である場合には第１の変
換式に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換
式に従って、出力比信号を距離に応じた距離信号に変換
する変換手段と、を備えることを特徴とする。
【００２３】この第６の測距装置では、発光手段、受光
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には電源電圧測定手段により測定された電源
電圧に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れか
に従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換さ
れる。
手段、クランプ手段および演算手段それぞれの作用は、
第１の測距装置と同様であるが、検出手段により、遠側
信号のレベルがクランプ信号のレベル以上であるか否か
を示す検出信号が出力され、変換手段により、検出信号
が遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以上である
ことを示している場合には第１の変換式に従って、そう
でない場合には電源電圧測定手段により測定された電源
電圧に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れか
に従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換さ
れる。
【００２４】なお、これら第１ないし第６の測距装置の
何れもカメラに組み込まれて自動焦点用に用いられるも
のであれば、その距離信号に基づいて撮影レンズが合焦
制御される。
何れもカメラに組み込まれて自動焦点用に用いられるも
のであれば、その距離信号に基づいて撮影レンズが合焦
制御される。
【００２５】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。
【００２６】先ず、本実施形態に係る測距装置の全体の
構成について説明する。図１は、本実施形態に係る測距
装置の構成図である。
構成について説明する。図１は、本実施形態に係る測距
装置の構成図である。
【００２７】ＣＰＵ１は、この測距装置を備えるカメラ
全体を制御するものであり、ＥＥＰＲＯＭ２に予め記憶
されているプログラムおよびパラメータに基づいて、こ
の測距装置を含むカメラ全体を制御する。この図に示す
測距装置においては、ＣＰＵ１は、ドライバ３を制御し
てＩＲＥＤ４からの赤外光の出射を制御するとともに、
ドライバ３に供給される電源電圧（或いは、ドライバ３
からＩＲＥＤ４に供給される駆動電流から求められる電
源電圧）の値を入力する。また、ＣＰＵ１は、自動焦点
用ＩＣ（以下「ＡＦＩＣ」という。）１０の動作を制御
するとともに、ＡＦＩＣ１０から出力されるＡＦ信号を
入力する。さらに、ＣＰＵ１は、測光センサ７１により
測定された外光輝度の値を入力し、また、温度センサ７
２により測定された温度の値を入力する。なお、電源電
圧については、ドライバ３やＩＲＥＤ４に限らず、電池
の電圧を直接に測定してもよいし、他の構成部品に供給
される電圧を測定してもよい。
全体を制御するものであり、ＥＥＰＲＯＭ２に予め記憶
されているプログラムおよびパラメータに基づいて、こ
の測距装置を含むカメラ全体を制御する。この図に示す
測距装置においては、ＣＰＵ１は、ドライバ３を制御し
てＩＲＥＤ４からの赤外光の出射を制御するとともに、
ドライバ３に供給される電源電圧（或いは、ドライバ３
からＩＲＥＤ４に供給される駆動電流から求められる電
源電圧）の値を入力する。また、ＣＰＵ１は、自動焦点
用ＩＣ（以下「ＡＦＩＣ」という。）１０の動作を制御
するとともに、ＡＦＩＣ１０から出力されるＡＦ信号を
入力する。さらに、ＣＰＵ１は、測光センサ７１により
測定された外光輝度の値を入力し、また、温度センサ７
２により測定された温度の値を入力する。なお、電源電
圧については、ドライバ３やＩＲＥＤ４に限らず、電池
の電圧を直接に測定してもよいし、他の構成部品に供給
される電圧を測定してもよい。
【００２８】ＩＲＥＤ４から出射された赤外光は、ＩＲ
ＥＤ４の前面に配された投光レンズ（図示せず）を介し
て測距対象物に投光され、その一部が反射され、そし
て、その反射光は、ＰＳＤ５の前面に配された受光レン
ズ（図示せず）を介してＰＳＤ５の受光面上の何れかの
位置で受光される。この受光位置は、測距対象物までの
距離に応じたものである。そして、ＰＳＤ５は、その受
光位置に応じた２つの信号Ｉ1 およびＩ2 を出力する。
信号Ｉ1 は、受光光量が一定であれば距離が近いほど大
きな値である近側信号であり、信号Ｉ2 は、受光光量が
一定であれば距離が遠いほど大きな値である遠側信号で
あり、信号Ｉ1 およびＩ2 の和は、ＰＳＤ５が受光した
反射光の光量を表し、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2））
は、ＰＳＤ５の受光面上の受光位置すなわち測距対象物
までの距離を表す。そして、近側信号Ｉ1 は、ＡＦＩＣ
１０のＰＳＤＮ端子に入力し、遠側信号Ｉ2 は、ＡＦＩ
Ｃ１０のＰＳＤＦ端子に入力する。ただし、実際には、
外界条件により近側信号Ｉ1 および遠側信号Ｉ2 それぞ
れに定常光成分Ｉ0 が付加された信号がＡＦＩＣ１０に
入力される場合がある。
ＥＤ４の前面に配された投光レンズ（図示せず）を介し
て測距対象物に投光され、その一部が反射され、そし
て、その反射光は、ＰＳＤ５の前面に配された受光レン
ズ（図示せず）を介してＰＳＤ５の受光面上の何れかの
位置で受光される。この受光位置は、測距対象物までの
距離に応じたものである。そして、ＰＳＤ５は、その受
光位置に応じた２つの信号Ｉ1 およびＩ2 を出力する。
信号Ｉ1 は、受光光量が一定であれば距離が近いほど大
きな値である近側信号であり、信号Ｉ2 は、受光光量が
一定であれば距離が遠いほど大きな値である遠側信号で
あり、信号Ｉ1 およびＩ2 の和は、ＰＳＤ５が受光した
反射光の光量を表し、出力比（Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2））
は、ＰＳＤ５の受光面上の受光位置すなわち測距対象物
までの距離を表す。そして、近側信号Ｉ1 は、ＡＦＩＣ
１０のＰＳＤＮ端子に入力し、遠側信号Ｉ2 は、ＡＦＩ
Ｃ１０のＰＳＤＦ端子に入力する。ただし、実際には、
外界条件により近側信号Ｉ1 および遠側信号Ｉ2 それぞ
れに定常光成分Ｉ0 が付加された信号がＡＦＩＣ１０に
入力される場合がある。
【００２９】ＡＦＩＣ１０は、集積回路（ＩＣ）であっ
て、第１信号処理回路１１、第２信号処理回路１２、ク
ランプ回路１３、演算回路１４および積分回路１５から
構成される。第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出
力された信号Ｉ1＋Ｉ0を入力し、その信号に含まれる定
常光成分Ｉ0 を除去して、近側信号Ｉ1 を出力するもの
であり、また、第２信号処理回路１２は、ＰＳＤ５から
出力された信号Ｉ2＋Ｉ0を入力し、その信号に含まれる
定常光成分Ｉ0 を除去して、遠側信号Ｉ2 を出力するも
のである。
て、第１信号処理回路１１、第２信号処理回路１２、ク
ランプ回路１３、演算回路１４および積分回路１５から
構成される。第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出
力された信号Ｉ1＋Ｉ0を入力し、その信号に含まれる定
常光成分Ｉ0 を除去して、近側信号Ｉ1 を出力するもの
であり、また、第２信号処理回路１２は、ＰＳＤ５から
出力された信号Ｉ2＋Ｉ0を入力し、その信号に含まれる
定常光成分Ｉ0 を除去して、遠側信号Ｉ2 を出力するも
のである。
【００３０】クランプ回路１３は、第２信号処理回路１
２から出力された遠側信号Ｉ2 を入力し、或る一定レベ
ルのクランプ信号Ｉc および遠側信号Ｉ2 それぞれのレ
ベルを大小比較し、前者が大きいときにはクランプ信号
Ｉc を出力し、そうでないときには遠側信号Ｉ2 をその
まま出力する。以下では、このクランプ回路１３から出
力される信号をＩ2cで表す。ここで、クランプ信号Ｉc
は、図１１で示した距離Ｌ4 に対応する遠側信号Ｉ2 の
レベルと略同じレベルとする。
２から出力された遠側信号Ｉ2 を入力し、或る一定レベ
ルのクランプ信号Ｉc および遠側信号Ｉ2 それぞれのレ
ベルを大小比較し、前者が大きいときにはクランプ信号
Ｉc を出力し、そうでないときには遠側信号Ｉ2 をその
まま出力する。以下では、このクランプ回路１３から出
力される信号をＩ2cで表す。ここで、クランプ信号Ｉc
は、図１１で示した距離Ｌ4 に対応する遠側信号Ｉ2 の
レベルと略同じレベルとする。
【００３１】演算回路１４は、第１信号処理回路１１か
ら出力された近側信号Ｉ1 と、クランプ回路１３から出
力された信号Ｉ2c（遠側信号Ｉ2 およびクランプ信号Ｉ
c の何れか）とを入力し、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2
c））を演算し、その結果を出力する。積分回路１５
は、その出力比を入力し、ＡＦＩＣ１０のＣINT 端子に
接続された積分コンデンサ６とともに、その出力比を多
数回積算し、これによりＳ／Ｎ比の改善を図る。そし
て、その積算された出力比は、ＡＦ信号としてＡＦＩＣ
１０のＳＯＵＴ端子から出力される。
ら出力された近側信号Ｉ1 と、クランプ回路１３から出
力された信号Ｉ2c（遠側信号Ｉ2 およびクランプ信号Ｉ
c の何れか）とを入力し、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2
c））を演算し、その結果を出力する。積分回路１５
は、その出力比を入力し、ＡＦＩＣ１０のＣINT 端子に
接続された積分コンデンサ６とともに、その出力比を多
数回積算し、これによりＳ／Ｎ比の改善を図る。そし
て、その積算された出力比は、ＡＦ信号としてＡＦＩＣ
１０のＳＯＵＴ端子から出力される。
【００３２】ＣＰＵ１は、ＡＦＩＣ１０から出力された
ＡＦ信号を入力し、所定の演算を行ってＡＦ信号を距離
信号に変換し、その距離信号をレンズ駆動回路７に送出
する。レンズ駆動回路７は、その距離信号に基づいて撮
影レンズ８を合焦動作させる。なお、ＣＰＵ１における
ＡＦ信号から距離信号への変換演算については後述す
る。
ＡＦ信号を入力し、所定の演算を行ってＡＦ信号を距離
信号に変換し、その距離信号をレンズ駆動回路７に送出
する。レンズ駆動回路７は、その距離信号に基づいて撮
影レンズ８を合焦動作させる。なお、ＣＰＵ１における
ＡＦ信号から距離信号への変換演算については後述す
る。
【００３３】次に、ＡＦＩＣ１０の第１信号処理回路１
１、クランプ回路１３および積分回路１５について、よ
り具体的な回路構成について説明する。図２は、本実施
形態に係る測距装置における第１信号処理回路１１およ
び積分回路１５の回路図である。また、図３は、本実施
形態に係る測距装置におけるクランプ回路１３の回路図
である。なお、第２信号処理回路１２も、第１信号処理
回路１１と同様の回路構成である。
１、クランプ回路１３および積分回路１５について、よ
り具体的な回路構成について説明する。図２は、本実施
形態に係る測距装置における第１信号処理回路１１およ
び積分回路１５の回路図である。また、図３は、本実施
形態に係る測距装置におけるクランプ回路１３の回路図
である。なお、第２信号処理回路１２も、第１信号処理
回路１１と同様の回路構成である。
【００３４】第１信号処理回路１１は、その回路図が図
２に示されており、ＰＳＤ５から出力された定常光成分
Ｉ0 を含む近側信号Ｉ1 を入力し、これに含まれる定常
光成分Ｉ0 を除去して、近側信号Ｉ1 を出力するもので
ある。ＰＳＤ５の近距離側端子から出力される電流（Ｉ
1 ＋Ｉ0 ）は、ＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子を経て、第
１信号処理回路１１のオペアンプ２０の−入力端子に入
力される。オペアンプ２０の出力端子はトランジスタ２
１のベース端子に接続されており、トランジスタ２１の
コレクタ端子は、トランジスタ２２のベース端子に接続
されている。トランジスタ２２のコレクタ端子には、オ
ペアンプ２３の−入力端子が接続され、このコレクタ端
子の電位が演算回路１４に接続されている。さらに、ト
ランジスタ２２のコレクタ端子には圧縮ダイオード２４
のカソード端子が、また、オペアンプ２３の＋入力端子
には圧縮ダイオード２５のカソード端子がそれぞれ接続
されており、これら圧縮ダイオード２４および２５それ
ぞれのアノード端子には第１基準電源２６が接続されて
いる。
２に示されており、ＰＳＤ５から出力された定常光成分
Ｉ0 を含む近側信号Ｉ1 を入力し、これに含まれる定常
光成分Ｉ0 を除去して、近側信号Ｉ1 を出力するもので
ある。ＰＳＤ５の近距離側端子から出力される電流（Ｉ
1 ＋Ｉ0 ）は、ＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子を経て、第
１信号処理回路１１のオペアンプ２０の−入力端子に入
力される。オペアンプ２０の出力端子はトランジスタ２
１のベース端子に接続されており、トランジスタ２１の
コレクタ端子は、トランジスタ２２のベース端子に接続
されている。トランジスタ２２のコレクタ端子には、オ
ペアンプ２３の−入力端子が接続され、このコレクタ端
子の電位が演算回路１４に接続されている。さらに、ト
ランジスタ２２のコレクタ端子には圧縮ダイオード２４
のカソード端子が、また、オペアンプ２３の＋入力端子
には圧縮ダイオード２５のカソード端子がそれぞれ接続
されており、これら圧縮ダイオード２４および２５それ
ぞれのアノード端子には第１基準電源２６が接続されて
いる。
【００３５】また、ＡＦＩＣ１０のＣＨＦ端子には定常
光除去コンデンサ２７が外付けされており、この定常光
除去コンデンサ２７は、第１信号処理回路１１内の定常
光除去用トランジスタ２８のベース端子に接続されてい
る。定常光除去コンデンサ２７とオペアンプ２３はスイ
ッチ２９を介して接続されており、このスイッチ２９の
オン／オフはＣＰＵ１により制御される。定常光除去用
トランジスタ２８のコレクタ端子はオペアンプ２０の−
入力端子に接続されており、トランジスタ２８のエミッ
タ端子は他端が接地された抵抗３０に接続されている。
光除去コンデンサ２７が外付けされており、この定常光
除去コンデンサ２７は、第１信号処理回路１１内の定常
光除去用トランジスタ２８のベース端子に接続されてい
る。定常光除去コンデンサ２７とオペアンプ２３はスイ
ッチ２９を介して接続されており、このスイッチ２９の
オン／オフはＣＰＵ１により制御される。定常光除去用
トランジスタ２８のコレクタ端子はオペアンプ２０の−
入力端子に接続されており、トランジスタ２８のエミッ
タ端子は他端が接地された抵抗３０に接続されている。
【００３６】クランプ回路１３は、その回路図が図３に
示されている。クランプ回路１３の判定用コンパレータ
３７の＋入力端子は、第２信号処理回路１２のトランジ
スタ２２のコレクタ端子に接続されるとともに、スイッ
チ３８を介して演算回路１４の入力端子に接続されてい
る。一方、判定用コンパレータ３７の−入力端子は、＋
入力端子に接続されているトランジスタ２２および圧縮
ダイオード２４と同様に、トランジスタ５１のコレクタ
端子と圧縮ダイオード５２のカソード端子とに接続され
るとともに、スイッチ３９を介して演算回路１４の入力
端子に接続されている。
示されている。クランプ回路１３の判定用コンパレータ
３７の＋入力端子は、第２信号処理回路１２のトランジ
スタ２２のコレクタ端子に接続されるとともに、スイッ
チ３８を介して演算回路１４の入力端子に接続されてい
る。一方、判定用コンパレータ３７の−入力端子は、＋
入力端子に接続されているトランジスタ２２および圧縮
ダイオード２４と同様に、トランジスタ５１のコレクタ
端子と圧縮ダイオード５２のカソード端子とに接続され
るとともに、スイッチ３９を介して演算回路１４の入力
端子に接続されている。
【００３７】また、トランジスタ５１のベース端子に
は、定電流源４１が接続されており、これによって所定
のクランプレベルが設定されて、所定の大きさの電流が
トランジスタ５１のベース端子に入力される。この電流
はトランジスタ５１のベース電流となり、その大きさに
応じたコレクタ電位が判定用コンパレータ３７の−入力
端子に入力される。
は、定電流源４１が接続されており、これによって所定
のクランプレベルが設定されて、所定の大きさの電流が
トランジスタ５１のベース端子に入力される。この電流
はトランジスタ５１のベース電流となり、その大きさに
応じたコレクタ電位が判定用コンパレータ３７の−入力
端子に入力される。
【００３８】また、スイッチ３９には判定用コンパレー
タ３７の出力端子が接続されており、判定用コンパレー
タ３７の出力信号が入力される。また、スイッチ３８に
はインバータ４０を介して判定用コンパレータ３７の出
力端子が接続されており、判定用コンパレータ３７の出
力信号が反転されてから入力される。したがって、スイ
ッチ３８および３９は、判定用コンパレータ３７からの
出力信号により、一方がオン状態になると、他方がオフ
状態となる関係にある。
タ３７の出力端子が接続されており、判定用コンパレー
タ３７の出力信号が入力される。また、スイッチ３８に
はインバータ４０を介して判定用コンパレータ３７の出
力端子が接続されており、判定用コンパレータ３７の出
力信号が反転されてから入力される。したがって、スイ
ッチ３８および３９は、判定用コンパレータ３７からの
出力信号により、一方がオン状態になると、他方がオフ
状態となる関係にある。
【００３９】積分回路１５は、その回路構成が図２に示
されている。ＡＦＩＣ１０のＣINT端子に外付けされた
積分コンデンサ６は、スイッチ６０を介して演算回路１
４の出力端子に接続され、スイッチ６２を介して定電流
源６３に接続され、スイッチ６５を介してオペアンプ６
４の出力端子に接続され、また、直接にオペアンプ６４
の−入力端子に接続され、さらに、その電位がＡＦＩＣ
１０のＳＯＵＴ端子から出力される。これらスイッチ６
０，６２および６５は、ＣＰＵ１からの制御信号により
制御される。また、オペアンプ６４の＋入力端子には、
第２基準電源６６が接続されている。
されている。ＡＦＩＣ１０のＣINT端子に外付けされた
積分コンデンサ６は、スイッチ６０を介して演算回路１
４の出力端子に接続され、スイッチ６２を介して定電流
源６３に接続され、スイッチ６５を介してオペアンプ６
４の出力端子に接続され、また、直接にオペアンプ６４
の−入力端子に接続され、さらに、その電位がＡＦＩＣ
１０のＳＯＵＴ端子から出力される。これらスイッチ６
０，６２および６５は、ＣＰＵ１からの制御信号により
制御される。また、オペアンプ６４の＋入力端子には、
第２基準電源６６が接続されている。
【００４０】以上のように構成されるＡＦＩＣ１０の作
用について、図２および図３を参照しながら説明する。
ＣＰＵ１は、ＩＲＥＤ４を発光させていないときには、
第１信号処理回路１１のスイッチ２９をオン状態にす
る。このときにＰＳＤ５から出力される定常光成分Ｉ0
は、第１信号処理回路１１に入力して、オペアンプ２０
ならびにトランジスタ２１および２２から構成される電
流増幅器により電流増幅され、圧縮ダイオード２４によ
り対数圧縮されて電圧信号に変換され、この電圧信号が
オペアンプ２３の−入力端子に入力する。オペアンプ２
０に入力する信号が大きいと、圧縮ダイオードのＶF が
大きくなるので、オペアンプ２３から出力される信号が
大きく、したがって、コンデンサ２７が充電される。す
ると、トランジスタ２８にベース電流が供給されること
になるので、トランジスタ２８にコレクタ電流が流れ、
第１信号処理回路１１に入力した信号Ｉ0 のうちオペア
ンプ２０に入力する信号は小さくなる。そして、この閉
ループの動作が安定した状態では、第１信号処理回路１
１に入力した信号Ｉ0 の全てがトランジスタ２８に流
れ、コンデンサ２７には、そのときのベース電流に対応
した電荷が蓄えられる。
用について、図２および図３を参照しながら説明する。
ＣＰＵ１は、ＩＲＥＤ４を発光させていないときには、
第１信号処理回路１１のスイッチ２９をオン状態にす
る。このときにＰＳＤ５から出力される定常光成分Ｉ0
は、第１信号処理回路１１に入力して、オペアンプ２０
ならびにトランジスタ２１および２２から構成される電
流増幅器により電流増幅され、圧縮ダイオード２４によ
り対数圧縮されて電圧信号に変換され、この電圧信号が
オペアンプ２３の−入力端子に入力する。オペアンプ２
０に入力する信号が大きいと、圧縮ダイオードのＶF が
大きくなるので、オペアンプ２３から出力される信号が
大きく、したがって、コンデンサ２７が充電される。す
ると、トランジスタ２８にベース電流が供給されること
になるので、トランジスタ２８にコレクタ電流が流れ、
第１信号処理回路１１に入力した信号Ｉ0 のうちオペア
ンプ２０に入力する信号は小さくなる。そして、この閉
ループの動作が安定した状態では、第１信号処理回路１
１に入力した信号Ｉ0 の全てがトランジスタ２８に流
れ、コンデンサ２７には、そのときのベース電流に対応
した電荷が蓄えられる。
【００４１】ＣＰＵ１がＩＲＥＤ４を発光させるととも
にスイッチ２９をオフ状態にすると、このときにＰＳＤ
５から出力される信号Ｉ1＋Ｉ0のうち定常光成分Ｉ0
は、コンデンサ２７に蓄えられた電荷によりベース電位
が印加されているトランジスタ２８にコレクタ電流とし
て流れ、近側信号Ｉ1 は、オペアンプ２０ならびにトラ
ンジスタ２１および２２から構成される電流増幅器によ
り電流増幅され、圧縮ダイオード２４により対数圧縮さ
れ電圧信号に変換されて出力される。すなわち、第１信
号処理回路１１からは、定常光成分Ｉ0 が除去されて近
側信号Ｉ1 のみが出力され、その近側信号Ｉ1 は、演算
回路１４に入力する。一方、第２信号処理回路１２も、
第１信号処理回路１１と同様に、定常光成分Ｉ0 が除去
されて遠側信号Ｉ2 のみが出力され、その遠側信号Ｉ2
は、クランプ回路１３に入力する。
にスイッチ２９をオフ状態にすると、このときにＰＳＤ
５から出力される信号Ｉ1＋Ｉ0のうち定常光成分Ｉ0
は、コンデンサ２７に蓄えられた電荷によりベース電位
が印加されているトランジスタ２８にコレクタ電流とし
て流れ、近側信号Ｉ1 は、オペアンプ２０ならびにトラ
ンジスタ２１および２２から構成される電流増幅器によ
り電流増幅され、圧縮ダイオード２４により対数圧縮さ
れ電圧信号に変換されて出力される。すなわち、第１信
号処理回路１１からは、定常光成分Ｉ0 が除去されて近
側信号Ｉ1 のみが出力され、その近側信号Ｉ1 は、演算
回路１４に入力する。一方、第２信号処理回路１２も、
第１信号処理回路１１と同様に、定常光成分Ｉ0 が除去
されて遠側信号Ｉ2 のみが出力され、その遠側信号Ｉ2
は、クランプ回路１３に入力する。
【００４２】しかし、外光輝度が高い場合には、トラン
ジスタ２８に流れるコレクタ電流が変動し、定常光成分
Ｉ0 が大きくなる。温度が変動した場合には、アンプ利
得やＩＲＥＤ４からの出射光量が変動し、ノイズ成分Ｉ
n が大きくなり、また、クランプ電流が変動する。さら
に、電源電圧が変動した場合には、ＩＲＥＤ４からの出
射光量が変動し、ノイズ成分Ｉn が大きくなる。測距対
象物までの距離が遠くＰＳＤ５に入射する反射光の光量
が少ないときに、このような誤差が加わると、出力比信
号が５０％に近づくため、無限遠判定精度が低下する。
本実施形態に係る測距装置は、このような場合であって
も確実な無限遠判別結果を得ることができるものであ
る。
ジスタ２８に流れるコレクタ電流が変動し、定常光成分
Ｉ0 が大きくなる。温度が変動した場合には、アンプ利
得やＩＲＥＤ４からの出射光量が変動し、ノイズ成分Ｉ
n が大きくなり、また、クランプ電流が変動する。さら
に、電源電圧が変動した場合には、ＩＲＥＤ４からの出
射光量が変動し、ノイズ成分Ｉn が大きくなる。測距対
象物までの距離が遠くＰＳＤ５に入射する反射光の光量
が少ないときに、このような誤差が加わると、出力比信
号が５０％に近づくため、無限遠判定精度が低下する。
本実施形態に係る測距装置は、このような場合であって
も確実な無限遠判別結果を得ることができるものであ
る。
【００４３】クランプ回路１３に入力した遠側信号Ｉ2
は、クランプ回路１３の判定用コンパレータ３７の＋入
力端子に入力する。定電流源４１から出力された信号
は、トランジスタ５１のベース電流として流れ、これに
伴い生じるトランジスタ５１のコレクタ端子の電位（ク
ランプ信号Ｉc ）が判定用コンパレータ３７の−入力端
子に入力する。近側信号Ｉ2 とクランプ信号Ｉc とは、
判定用コンパレータ３７により大小比較され、その結果
に応じて、スイッチ３８および３９のうち一方がオンさ
れ、他方がオフされる。すなわち、近側信号Ｉ2 がクラ
ンプ信号Ｉc より大きいときには、スイッチ３８がオン
状態となり、スイッチ３９がオフ状態となり、クランプ
回路１３の出力信号Ｉ2cとして近側信号Ｉ2 が出力され
る。大小関係が逆の場合には、スイッチ３８がオフ状態
となり、スイッチ３９がオン状態となり、クランプ回路
１３の出力信号Ｉ2cとしてクランプ信号Ｉc が出力され
る。
は、クランプ回路１３の判定用コンパレータ３７の＋入
力端子に入力する。定電流源４１から出力された信号
は、トランジスタ５１のベース電流として流れ、これに
伴い生じるトランジスタ５１のコレクタ端子の電位（ク
ランプ信号Ｉc ）が判定用コンパレータ３７の−入力端
子に入力する。近側信号Ｉ2 とクランプ信号Ｉc とは、
判定用コンパレータ３７により大小比較され、その結果
に応じて、スイッチ３８および３９のうち一方がオンさ
れ、他方がオフされる。すなわち、近側信号Ｉ2 がクラ
ンプ信号Ｉc より大きいときには、スイッチ３８がオン
状態となり、スイッチ３９がオフ状態となり、クランプ
回路１３の出力信号Ｉ2cとして近側信号Ｉ2 が出力され
る。大小関係が逆の場合には、スイッチ３８がオフ状態
となり、スイッチ３９がオン状態となり、クランプ回路
１３の出力信号Ｉ2cとしてクランプ信号Ｉc が出力され
る。
【００４４】クランプ回路１３から出力された信号Ｉ2c
および第１信号処理回路１１から出力された近側信号Ｉ
1 は、演算回路１４に入力され、演算回路１４により出
力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2c））が演算されて出力され、そ
の出力比は、積分回路１５に入力する。ＩＲＥＤ４が所
定回数だけパルス発光している時には、積分回路１５の
スイッチ６０はオン状態とされ、スイッチ６２および６
５はオフ状態とされて、演算回路１４から出力された出
力比信号は積分コンデンサ６に蓄えられる。そして、所
定回数のパルス発光が終了すると、スイッチ６０はオフ
状態とされ、スイッチ６５はオン状態とされて、積分コ
ンデンサ６に蓄えられた電荷は、オペアンプ６４の出力
端子から供給される逆電位の電荷によって減少してい
く。ＣＰＵ１は、積分コンデンサ６の電位をモニタし
て、元の電位に復帰するのに要する時間を測定し、その
時間に基づいてＡＦ信号を求め、更に、測距対象物まで
の距離を求める。
および第１信号処理回路１１から出力された近側信号Ｉ
1 は、演算回路１４に入力され、演算回路１４により出
力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2c））が演算されて出力され、そ
の出力比は、積分回路１５に入力する。ＩＲＥＤ４が所
定回数だけパルス発光している時には、積分回路１５の
スイッチ６０はオン状態とされ、スイッチ６２および６
５はオフ状態とされて、演算回路１４から出力された出
力比信号は積分コンデンサ６に蓄えられる。そして、所
定回数のパルス発光が終了すると、スイッチ６０はオフ
状態とされ、スイッチ６５はオン状態とされて、積分コ
ンデンサ６に蓄えられた電荷は、オペアンプ６４の出力
端子から供給される逆電位の電荷によって減少してい
く。ＣＰＵ１は、積分コンデンサ６の電位をモニタし
て、元の電位に復帰するのに要する時間を測定し、その
時間に基づいてＡＦ信号を求め、更に、測距対象物まで
の距離を求める。
【００４５】このようにして得られたＡＦ信号と測距対
象物までの距離Ｌとの関係を図４に示す。図４は、本実
施形態に係る測距装置の積分回路から出力されるＡＦ信
号と測距対象物までの距離との関係を示す図である。こ
の図に示すグラフにおいて、横軸は、測距対象物までの
距離Ｌの逆数（１／Ｌ）であり、縦軸は、出力比（Ｉ1
／（Ｉ1＋Ｉ2））すなわちＡＦ信号である。この図に示
すように、測距対象物までの距離Ｌが或る距離Ｌ4 以下
（Ｌ≦Ｌ4 ）では、クランプ回路１３から出力される信
号は、Ｉ2 であり、出力比は、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2）であ
り、距離Ｌの逆数（１／Ｌ）に対して出力比は略線形関
係にあり、距離Ｌが大きく（１／Ｌが小さく）なると出
力比は小さくなる。また、距離Ｌが距離Ｌ4 以上（Ｌ≧
Ｌ4 ）では、クランプ回路１３から出力される信号は、
Ｉc であり、出力比は、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉc）であり、こ
の場合も、距離Ｌが大きくなると出力比は小さくなる。
このように、クランプ回路１３を用いれば、測距対象物
までの距離Ｌは、出力比（ＡＦ信号）から一意的かつ安
定に決定することができる。
象物までの距離Ｌとの関係を図４に示す。図４は、本実
施形態に係る測距装置の積分回路から出力されるＡＦ信
号と測距対象物までの距離との関係を示す図である。こ
の図に示すグラフにおいて、横軸は、測距対象物までの
距離Ｌの逆数（１／Ｌ）であり、縦軸は、出力比（Ｉ1
／（Ｉ1＋Ｉ2））すなわちＡＦ信号である。この図に示
すように、測距対象物までの距離Ｌが或る距離Ｌ4 以下
（Ｌ≦Ｌ4 ）では、クランプ回路１３から出力される信
号は、Ｉ2 であり、出力比は、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉ2）であ
り、距離Ｌの逆数（１／Ｌ）に対して出力比は略線形関
係にあり、距離Ｌが大きく（１／Ｌが小さく）なると出
力比は小さくなる。また、距離Ｌが距離Ｌ4 以上（Ｌ≧
Ｌ4 ）では、クランプ回路１３から出力される信号は、
Ｉc であり、出力比は、Ｉ1 ／（Ｉ1＋Ｉc）であり、こ
の場合も、距離Ｌが大きくなると出力比は小さくなる。
このように、クランプ回路１３を用いれば、測距対象物
までの距離Ｌは、出力比（ＡＦ信号）から一意的かつ安
定に決定することができる。
【００４６】ＣＰＵ１は、このようにして得られたＡＦ
信号に基づいて、撮影レンズ８の駆動量を表す距離信号
を演算により求め、その距離信号をレンズ駆動回路７に
送出して撮影レンズ８を合焦動作させる。図５は、本実
施形態に係る測距装置におけるＡＦ信号から距離信号へ
の変換の説明図である。この図に示すグラフでは、横軸
は、測距対象物までの距離Ｌの逆数（１／Ｌ）であり、
左縦軸はＡＦ信号であり、右縦軸は距離信号である。ま
た、このグラフでは、距離ＬとＡＦ信号との関係および
距離Ｌと距離信号との関係をそれぞれ示しており、特
に、距離Ｌ2，Ｌ3，Ｌ4およびＬ5（ただし、Ｌ2＜Ｌ3＜
Ｌ4＜Ｌ5）それぞれに対して、ＡＦ信号はｙ2，ｙ3，ｙ
4およびｙ5それぞれであり、距離信号はｘ2，ｘ3，ｘ4
およびｘ5それぞれであることを示している。
信号に基づいて、撮影レンズ８の駆動量を表す距離信号
を演算により求め、その距離信号をレンズ駆動回路７に
送出して撮影レンズ８を合焦動作させる。図５は、本実
施形態に係る測距装置におけるＡＦ信号から距離信号へ
の変換の説明図である。この図に示すグラフでは、横軸
は、測距対象物までの距離Ｌの逆数（１／Ｌ）であり、
左縦軸はＡＦ信号であり、右縦軸は距離信号である。ま
た、このグラフでは、距離ＬとＡＦ信号との関係および
距離Ｌと距離信号との関係をそれぞれ示しており、特
に、距離Ｌ2，Ｌ3，Ｌ4およびＬ5（ただし、Ｌ2＜Ｌ3＜
Ｌ4＜Ｌ5）それぞれに対して、ＡＦ信号はｙ2，ｙ3，ｙ
4およびｙ5それぞれであり、距離信号はｘ2，ｘ3，ｘ4
およびｘ5それぞれであることを示している。
【００４７】ここで、距離Ｌ≦Ｌ4 の範囲および距離Ｌ
＞Ｌ4 の範囲それぞれにおいて、ＡＦ信号は距離Ｌの逆
数（１／Ｌ）に対して略線形関係であり、また、距離Ｌ
の全範囲において、距離信号は距離Ｌの逆数（１／Ｌ）
に対して略線形関係である。したがって、距離Ｌ≦Ｌ4
の範囲および距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲それぞれにおいて、Ａ
Ｆ信号と距離信号との間の関係も略線形関係である。
＞Ｌ4 の範囲それぞれにおいて、ＡＦ信号は距離Ｌの逆
数（１／Ｌ）に対して略線形関係であり、また、距離Ｌ
の全範囲において、距離信号は距離Ｌの逆数（１／Ｌ）
に対して略線形関係である。したがって、距離Ｌ≦Ｌ4
の範囲および距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲それぞれにおいて、Ａ
Ｆ信号と距離信号との間の関係も略線形関係である。
【００４８】そこで、基準被検体反射率（３６％）で定
められるクランプ効果有無判断基準レベルCOUNT_B とＡ
Ｆ信号ｙとの大小を比較し、その結果に応じて違いに異
なる係数の変換式で、ＡＦ信号ｙを距離信号ｘに変換す
る。なお、基準被検体反射率の場合、クランプ効果有無
判断基準レベルCOUNT_B に対応する距離ＬはＬ4 であ
り、また、COUNT_B はｙ4 に等しい。すなわち、距離Ｌ
≦Ｌ4 の範囲では、
められるクランプ効果有無判断基準レベルCOUNT_B とＡ
Ｆ信号ｙとの大小を比較し、その結果に応じて違いに異
なる係数の変換式で、ＡＦ信号ｙを距離信号ｘに変換す
る。なお、基準被検体反射率の場合、クランプ効果有無
判断基準レベルCOUNT_B に対応する距離ＬはＬ4 であ
り、また、COUNT_B はｙ4 に等しい。すなわち、距離Ｌ
≦Ｌ4 の範囲では、
【００４９】
【数１】
【００５０】
【数２】
なるパラメータに基づいて、ＡＦ信号ｙから距離信号ｘ
を
を
【００５１】
【数３】
なる変換式で求める。
【００５２】一方、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲では、測光セン
サ７１により測定された外光輝度の値、温度センサ７２
により測定された温度の値、または、ドライバ３から入
力した電源電圧の値に応じて異なる変換式に従って、Ａ
Ｆ信号ｙから距離信号ｘを求める。すなわち、外光輝
度、温度および電源電圧の何れもが標準範囲にあるとき
には、
サ７１により測定された外光輝度の値、温度センサ７２
により測定された温度の値、または、ドライバ３から入
力した電源電圧の値に応じて異なる変換式に従って、Ａ
Ｆ信号ｙから距離信号ｘを求める。すなわち、外光輝
度、温度および電源電圧の何れもが標準範囲にあるとき
には、
【００５３】
【数４】
【００５４】
【数５】
なるパラメータに基づいて、ＡＦ信号ｙから距離信号ｘ
を
を
【００５５】
【数６】
なる変換式で求め、外光輝度、温度および電源電圧の何
れかが標準範囲外にあるときには、上記 (3)式で表され
る変換式で求める。
れかが標準範囲外にあるときには、上記 (3)式で表され
る変換式で求める。
【００５６】なお、パラメータＡ2（(1)式），Ｂ2（(2)
式），Ａ3（(4)式）およびＢ3（(5)式）、ならびに、外
光輝度、温度および電源電圧それぞれの標準範囲（すな
わち、 (3)式および (6)式の何れの変換式を選択するか
の判断基準）は、この測距装置が組み込まれるカメラ毎
に製造時に求められ、ＥＥＰＲＯＭ２等に予め記憶され
ている。そして、これらのパラメータは測距時にＣＰＵ
１により読み出されて、(3)式または(6)式の演算が行わ
れて、ＡＦ信号ｙから距離信号ｘへ変換される。
式），Ａ3（(4)式）およびＢ3（(5)式）、ならびに、外
光輝度、温度および電源電圧それぞれの標準範囲（すな
わち、 (3)式および (6)式の何れの変換式を選択するか
の判断基準）は、この測距装置が組み込まれるカメラ毎
に製造時に求められ、ＥＥＰＲＯＭ２等に予め記憶され
ている。そして、これらのパラメータは測距時にＣＰＵ
１により読み出されて、(3)式または(6)式の演算が行わ
れて、ＡＦ信号ｙから距離信号ｘへ変換される。
【００５７】このようにすることにより、外光輝度、温
度および電源電圧それぞれが変動しても、一意的に距離
を求めることができる。また、距離が無限遠の場合に
は、距離信号ｘを或一定値（例えば、撮影レンズ８を最
遠設定点に対応する距離信号値AFINF ）とすることで、
さらに安定した撮影レンズ８の合焦制御を行うことがで
きる。
度および電源電圧それぞれが変動しても、一意的に距離
を求めることができる。また、距離が無限遠の場合に
は、距離信号ｘを或一定値（例えば、撮影レンズ８を最
遠設定点に対応する距離信号値AFINF ）とすることで、
さらに安定した撮影レンズ８の合焦制御を行うことがで
きる。
【００５８】次に、本実施形態に係る測距装置における
ＡＦ信号および距離信号の計算例を示す。
ＡＦ信号および距離信号の計算例を示す。
【００５９】図６および図７それぞれは、高反射率の測
距対象物までの距離Ｌに対するＡＦ信号および距離信号
それぞれの計算結果を示すグラフである。図７（ａ）
は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (6)式で表される変換
式に従ってＡＦ信号を距離信号に変換した結果を示し、
図７（ｂ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表
される変換式（すなわち、距離Ｌ≦Ｌ4 の範囲における
変換式と同一の変換式）に従ってＡＦ信号を距離信号に
変換した結果を示す。ここで、測距対象物の標準反射率
３６％に対して、反射率９０％の場合すなわち外光輝度
が高い場合であって、クランプ信号Ｉc のレベルを１．
５ｎＡとし、第１信号処理回路１１から出力される近側
信号Ｉ1 および第２信号処理回路１２から出力される遠
側信号Ｉ2それぞれに０．２ｎＡの誤差信号が加えられ
ているものとしている。
距対象物までの距離Ｌに対するＡＦ信号および距離信号
それぞれの計算結果を示すグラフである。図７（ａ）
は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (6)式で表される変換
式に従ってＡＦ信号を距離信号に変換した結果を示し、
図７（ｂ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表
される変換式（すなわち、距離Ｌ≦Ｌ4 の範囲における
変換式と同一の変換式）に従ってＡＦ信号を距離信号に
変換した結果を示す。ここで、測距対象物の標準反射率
３６％に対して、反射率９０％の場合すなわち外光輝度
が高い場合であって、クランプ信号Ｉc のレベルを１．
５ｎＡとし、第１信号処理回路１１から出力される近側
信号Ｉ1 および第２信号処理回路１２から出力される遠
側信号Ｉ2それぞれに０．２ｎＡの誤差信号が加えられ
ているものとしている。
【００６０】これらの図に示すように、反射率９０％の
測距対象物から高輝度の外光が入射した場合に得られた
ＡＦ信号（図６）を、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (6)
式で表される変換式に従って距離信号に変換すると、距
離Ｌが非常に大きい範囲において距離信号の値が大きく
なっており、無限遠判定がなされていない（図７
（ａ））。これに対して、ＡＦ信号（図６）を、距離Ｌ
＞Ｌ4 の範囲においても (3)式で表される変換式に従っ
て距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲に
おいて距離信号の値は小さく一定値AFINF （無限遠判
定）になっている（図７（ｂ））。
測距対象物から高輝度の外光が入射した場合に得られた
ＡＦ信号（図６）を、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (6)
式で表される変換式に従って距離信号に変換すると、距
離Ｌが非常に大きい範囲において距離信号の値が大きく
なっており、無限遠判定がなされていない（図７
（ａ））。これに対して、ＡＦ信号（図６）を、距離Ｌ
＞Ｌ4 の範囲においても (3)式で表される変換式に従っ
て距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲に
おいて距離信号の値は小さく一定値AFINF （無限遠判
定）になっている（図７（ｂ））。
【００６１】図８は、温度が変動した場合における測距
対象物までの距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示す
グラフである。図８（ａ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲にお
いて(6)式で表される変換式に従ってＡＦ信号を距離信
号に変換した結果を示し、図８（ｂ）は、距離Ｌ＞Ｌ4
の範囲において (3)式で表される変換式に従ってＡＦ信
号を距離信号に変換した結果を示す。ここで、標準温度
２０℃に対して、温度−１０℃の場合であって、ＩＲＥ
Ｄ４から出射される赤外光の光量が１．２５倍となり、
クランプ信号Ｉc のレベルが１．２５倍となった場合を
示している。
対象物までの距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示す
グラフである。図８（ａ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲にお
いて(6)式で表される変換式に従ってＡＦ信号を距離信
号に変換した結果を示し、図８（ｂ）は、距離Ｌ＞Ｌ4
の範囲において (3)式で表される変換式に従ってＡＦ信
号を距離信号に変換した結果を示す。ここで、標準温度
２０℃に対して、温度−１０℃の場合であって、ＩＲＥ
Ｄ４から出射される赤外光の光量が１．２５倍となり、
クランプ信号Ｉc のレベルが１．２５倍となった場合を
示している。
【００６２】この図に示すように、標準温度よりも３０
℃低い温度の場合に得られたＡＦ信号を、距離Ｌ＞Ｌ4
の範囲において (6)式で表される変換式に従って距離信
号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲において距
離信号の値が大きくなっており、無限遠判定がなされて
いない（図８（ａ））。これに対して、ＡＦ信号を、距
離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換式に従
って距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲
において距離信号の値は小さく一定値（無限遠判定）に
なっている（図８（ｂ））。
℃低い温度の場合に得られたＡＦ信号を、距離Ｌ＞Ｌ4
の範囲において (6)式で表される変換式に従って距離信
号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲において距
離信号の値が大きくなっており、無限遠判定がなされて
いない（図８（ａ））。これに対して、ＡＦ信号を、距
離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換式に従
って距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲
において距離信号の値は小さく一定値（無限遠判定）に
なっている（図８（ｂ））。
【００６３】図９は、電源電圧が変動した場合における
測距対象物までの距離Ｌに対する距離信号の計算結果を
示すグラフである。図９（ａ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲
において (6)式で表される変換式に従ってＡＦ信号を距
離信号に変換した結果を示し、図９（ｂ）は、距離Ｌ＞
Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換式に従ってＡ
Ｆ信号を距離信号に変換した結果を示す。ここで、標準
電圧２．８５Ｖに対して、電圧３．２Ｖの場合であっ
て、ＩＲＥＤ４から出射される赤外光の光量が１．１５
倍となり、電源ノイズが０．１５ｎＡである場合を示し
ている。
測距対象物までの距離Ｌに対する距離信号の計算結果を
示すグラフである。図９（ａ）は、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲
において (6)式で表される変換式に従ってＡＦ信号を距
離信号に変換した結果を示し、図９（ｂ）は、距離Ｌ＞
Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換式に従ってＡ
Ｆ信号を距離信号に変換した結果を示す。ここで、標準
電圧２．８５Ｖに対して、電圧３．２Ｖの場合であっ
て、ＩＲＥＤ４から出射される赤外光の光量が１．１５
倍となり、電源ノイズが０．１５ｎＡである場合を示し
ている。
【００６４】この図に示すように、標準電圧よりも０．
３５Ｖ高い電圧の場合に得られたＡＦ信号を、距離Ｌ＞
Ｌ4 の範囲において (6)式で表される変換式に従って距
離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲におい
て距離信号の値が大きくなっており、無限遠判定がなさ
れていない（図９（ａ））。これに対して、ＡＦ信号
を、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換
式に従って距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大き
い範囲において距離信号の値は小さく一定値（無限遠判
定）になっている（図９（ｂ））。
３５Ｖ高い電圧の場合に得られたＡＦ信号を、距離Ｌ＞
Ｌ4 の範囲において (6)式で表される変換式に従って距
離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大きい範囲におい
て距離信号の値が大きくなっており、無限遠判定がなさ
れていない（図９（ａ））。これに対して、ＡＦ信号
を、距離Ｌ＞Ｌ4 の範囲において (3)式で表される変換
式に従って距離信号に変換すると、距離Ｌが非常に大き
い範囲において距離信号の値は小さく一定値（無限遠判
定）になっている（図９（ｂ））。
【００６５】以上のように、本実施形態に係る測距装置
によれば、外光輝度、温度または電源電圧が変動したと
しても、遠距離測距の精度が優れ、確実な無限遠判定が
可能となる。
によれば、外光輝度、温度または電源電圧が変動したと
しても、遠距離測距の精度が優れ、確実な無限遠判定が
可能となる。
【００６６】なお、上記実施形態では、ＣＰＵ１におけ
るＡＦ信号ｙから距離信号への変換に際して、 (3)式お
よび (6)式の何れを用いるかの判断を、ＡＦ信号ｙが基
準被検体反射率で定められたクランプ効果有無判断基準
レベルより遠側であるか否かに基づいていた。しかし、
遠側信号Ｉ2 のレベルがクランプ信号Ｉc のレベル以上
であるか否かに基づいて、 (3)式および (6)式の選択を
してもよい。この場合、図１および図３において、ＣＰ
Ｕ１は、クランプ回路１３内の判定用コンパレータ３７
からの出力信号を入力し、この信号に基づいて (3)式お
よび (6)式の何れか一方を選択して、ＡＦ信号ｙから距
離信号ｙへ変換する。
るＡＦ信号ｙから距離信号への変換に際して、 (3)式お
よび (6)式の何れを用いるかの判断を、ＡＦ信号ｙが基
準被検体反射率で定められたクランプ効果有無判断基準
レベルより遠側であるか否かに基づいていた。しかし、
遠側信号Ｉ2 のレベルがクランプ信号Ｉc のレベル以上
であるか否かに基づいて、 (3)式および (6)式の選択を
してもよい。この場合、図１および図３において、ＣＰ
Ｕ１は、クランプ回路１３内の判定用コンパレータ３７
からの出力信号を入力し、この信号に基づいて (3)式お
よび (6)式の何れか一方を選択して、ＡＦ信号ｙから距
離信号ｙへ変換する。
【００６７】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり本発明によ
れば、発光手段から測距対象物に向けて出力された光束
は、その測定対象物で反射し、その反射光は、受光手段
により、測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光
され、その受光位置に基づいて、受光光量が一定であれ
ば距離が遠いほど大きな値である遠側信号Ｉ2 と、受光
光量が一定であれば距離が近いほど大きな値である近側
信号Ｉ1 とが出力される。クランプ手段により、この遠
側信号Ｉ2 がクランプ信号のレベルＩc と大小比較さ
れ、遠側信号Ｉ2 のレベルがクランプ信号のレベルＩc
以上の場合には、遠側信号Ｉ2 がそのまま出力され、そ
うでない場合には、当該クランプ信号Ｉc が出力され
る。演算手段により、近側信号Ｉ1 とクランプ手段から
出力された信号Ｉ2cとの比が演算されて出力比信号が出
力される。
れば、発光手段から測距対象物に向けて出力された光束
は、その測定対象物で反射し、その反射光は、受光手段
により、測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光
され、その受光位置に基づいて、受光光量が一定であれ
ば距離が遠いほど大きな値である遠側信号Ｉ2 と、受光
光量が一定であれば距離が近いほど大きな値である近側
信号Ｉ1 とが出力される。クランプ手段により、この遠
側信号Ｉ2 がクランプ信号のレベルＩc と大小比較さ
れ、遠側信号Ｉ2 のレベルがクランプ信号のレベルＩc
以上の場合には、遠側信号Ｉ2 がそのまま出力され、そ
うでない場合には、当該クランプ信号Ｉc が出力され
る。演算手段により、近側信号Ｉ1 とクランプ手段から
出力された信号Ｉ2cとの比が演算されて出力比信号が出
力される。
【００６８】そして、変換手段により、遠側信号Ｉ2 の
レベルがクランプ信号Ｉc のレベル以上である場合には
第１の変換式に従って、そうでない場合には、外光輝
度、温度または電源電圧に応じて第１の変換式および第
２の変換式の何れかに従って、出力比信号が距離に応じ
た距離信号に変換されて出力される。あるいは、検出手
段により、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以
上であるか否かを示す検出信号が出力され、変換手段に
より、検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレ
ベル以上であることを示している場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には外光輝度、温度または電
源電圧に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れ
かに従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換
される。この測距装置がカメラに組み込まれて自動焦点
用に用いられるものであれば、その距離信号に基づいて
撮影レンズが合焦制御される。
レベルがクランプ信号Ｉc のレベル以上である場合には
第１の変換式に従って、そうでない場合には、外光輝
度、温度または電源電圧に応じて第１の変換式および第
２の変換式の何れかに従って、出力比信号が距離に応じ
た距離信号に変換されて出力される。あるいは、検出手
段により、遠側信号のレベルがクランプ信号のレベル以
上であるか否かを示す検出信号が出力され、変換手段に
より、検出信号が遠側信号のレベルがクランプ信号のレ
ベル以上であることを示している場合には第１の変換式
に従って、そうでない場合には外光輝度、温度または電
源電圧に応じて第１の変換式および第２の変換式の何れ
かに従って、出力比信号が距離に応じた距離信号に変換
される。この測距装置がカメラに組み込まれて自動焦点
用に用いられるものであれば、その距離信号に基づいて
撮影レンズが合焦制御される。
【００６９】このような構成としたので、回路規模を大
きくすることなく且つ短時間に、従来の光量測距併用方
式と同程度の測距結果が得られ、測距対象物までの距離
が大きくても一意的かつ安定に距離を求めることができ
る。また、外光輝度、温度または電源電圧の変動があっ
たとしても、一意的かつ安定に距離を求めることがで
き、遠距離測距の精度が優れ、確実な無限遠判定が可能
となる。
きくすることなく且つ短時間に、従来の光量測距併用方
式と同程度の測距結果が得られ、測距対象物までの距離
が大きくても一意的かつ安定に距離を求めることができ
る。また、外光輝度、温度または電源電圧の変動があっ
たとしても、一意的かつ安定に距離を求めることがで
き、遠距離測距の精度が優れ、確実な無限遠判定が可能
となる。
【図１】本実施形態に係る測距装置の構成図である。
【図２】本実施形態に係る測距装置における第１信号処
理回路および積分回路の回路図である。
理回路および積分回路の回路図である。
【図３】本実施形態に係る測距装置におけるクランプ回
路の回路図である。
路の回路図である。
【図４】本実施形態に係る測距装置の積分回路から出力
されるＡＦ信号と測距対象物までの距離との関係を示す
図である。
されるＡＦ信号と測距対象物までの距離との関係を示す
図である。
【図５】本実施形態に係る測距装置におけるＡＦ信号か
ら距離信号への変換の説明図である。
ら距離信号への変換の説明図である。
【図６】高反射率の測距対象物までの距離Ｌに対するＡ
Ｆ信号の計算結果を示すグラフである。
Ｆ信号の計算結果を示すグラフである。
【図７】高反射率の測距対象物までの距離Ｌに対する距
離信号の計算結果を示すグラフである。
離信号の計算結果を示すグラフである。
【図８】温度が変動した場合における測距対象物までの
距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示すグラフであ
る。
距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示すグラフであ
る。
【図９】電源電圧が変動した場合における測距対象物ま
での距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示すグラフで
ある。
での距離Ｌに対する距離信号の計算結果を示すグラフで
ある。
【図１０】第１の従来技術に係る測距装置の構成図であ
る。
る。
【図１１】第１の従来技術の積分回路から出力されるＡ
Ｆ信号と測距対象物までの距離との関係を示す図であ
る。
Ｆ信号と測距対象物までの距離との関係を示す図であ
る。
【図１２】第２の従来技術に係る測距装置の構成図であ
る。
る。
【図１３】第３の従来技術に係る測距装置の構成図であ
る。
る。
１…ＣＰＵ、２…ＥＥＰＲＯＭ、３…ドライバ、４…Ｉ
ＲＥＤ（発光ダイオード）、５…ＰＳＤ（位置検出素
子）、６…積分コンデンサ、７…レンズ駆動回路、８…
撮影レンズ、１０…ＡＦＩＣ（自動焦点用ＩＣ）、１１
…第１信号処理回路、１２…第２信号処理回路、１３…
クランプ回路、１４…演算回路、１５…積分回路。
ＲＥＤ（発光ダイオード）、５…ＰＳＤ（位置検出素
子）、６…積分コンデンサ、７…レンズ駆動回路、８…
撮影レンズ、１０…ＡＦＩＣ（自動焦点用ＩＣ）、１１
…第１信号処理回路、１２…第２信号処理回路、１３…
クランプ回路、１４…演算回路、１５…積分回路。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01C 3/00 - 3/32
G01B 11/00 - 11/30 102
G02B 7/28 - 7/40
G03B 13/32 - 13/36
Claims (6)
- 【請求項１】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 外光輝度を測定する輝度測定手段と、 前記出力比信号が基準被検体反射率で定められたクラン
プ効果有無判断基準レベルより近側である場合、または
前記出力比信号が前記クランプ効果有無判断基準レベル
より遠側であるとともに前記輝度測定手段により測定さ
れた外光輝度が標準範囲外である場合には第１の変換式
に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に
従って、前記出力比信号を前記距離に応じた距離信号に
変換する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 温度を測定する温度測定手段と、 前記出力比信号が基準被検体反射率で定められたクラン
プ効果有無判断基準レベルより近側である場合、または
前記出力比信号が前記クランプ効果有無判断基準レベル
より遠側であるとともに前記温度測定手段により測定さ
れた温度が標準範囲外である場合には第１の変換式に従
って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に従っ
て、前記出力比信号を前記距離に応じた距離信号に変換
する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項３】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 電源電圧を測定する電圧測定手段と、 前記出力比信号が基準被検体反射率で定められたクラン
プ効果有無判断基準レベルより近側である場合、または
前記出力比信号が前記クランプ効果有無判断基準レベル
より遠側であるとともに前記電圧測定手段により測定さ
れた電源電圧が標準範囲外である場合には第１の変換式
に従って、そのいずれでもない場合には第２の変換式に
従って、前記出力比信号を前記距離に応じた距離信号に
変換する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項４】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 外光輝度を測定する輝度測定手段と、 前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベル以上
であるか否かを示す検出信号を出力する検出手段と、 前記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信
号のレベル以上であることを示している場合、または前
記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号
のレベル未満であることを示すとともに前記輝度測定手
段により測定された外光輝度が標準範囲外である場合に
は第１の変換式に従って、そのいずれでもない場合には
第２の変換式に従って、前記出力比信号を前記距離に応
じた距離信号に変換する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項５】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 温度を測定する温度測定手段と、 前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベル以上
であるか否かを示す検出信号を出力する検出手段と、 前記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信
号のレベル以上であることを示している場合、または前
記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号
のレベル未満であることを示すとともに前記温度測定手
段により測定された温度が標準範囲外である場合には第
１の変換式に従って、そのいずれでもない場合には第２
の変換式に従って、前記出力比信号を前記距離に応じた
距離信号に変換する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項６】 測距対象物に向けて光束を出力する発光
手段と、 前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記
測距対象物までの距離に応じた受光位置で受光し、その
受光位置に基づいて、受光光量が一定であれば前記距離
が遠いほど大きな値である遠側信号と、受光光量が一定
であれば前記距離が近いほど大きな値である近側信号と
を出力する受光手段と、 前記遠側信号を入力してクランプ信号のレベルと大小比
較し、前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベ
ル以上の場合には前記遠側信号をそのまま出力し、そう
でない場合には前記クランプ信号を出力するクランプ手
段と、 前記近側信号と前記クランプ手段から出力された信号と
の比を演算して出力比信号を出力する演算手段と、 電源電圧を測定する電圧測定手段と、 前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号のレベル以上
であるか否かを示す検出信号を出力する検出手段と、 前記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信
号のレベル以上であることを示している場合、または前
記検出信号が前記遠側信号のレベルが前記クランプ信号
のレベル未満であることを示すとともに前記電圧測定手
段により測定された電源電圧が標準範囲外である場合に
は第１の変換式に従って、そのいずれでもない場合には
第２の変換式に従って、前記出力比信号を前記距離に応
じた距離信号に変換する変換手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8150497A JP3447509B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 測距装置 |
| US09/281,906 US6026246A (en) | 1997-03-31 | 1999-03-31 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8150497A JP3447509B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10281756A JPH10281756A (ja) | 1998-10-23 |
| JP3447509B2 true JP3447509B2 (ja) | 2003-09-16 |
Family
ID=13748201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8150497A Expired - Fee Related JP3447509B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3447509B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294325A (ja) | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 測距装置 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP8150497A patent/JP3447509B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10281756A (ja) | 1998-10-23 |
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