JPH06227036A - レーザダイオード電力制御回路 - Google Patents

レーザダイオード電力制御回路

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JPH06227036A
JPH06227036A JP5275799A JP27579993A JPH06227036A JP H06227036 A JPH06227036 A JP H06227036A JP 5275799 A JP5275799 A JP 5275799A JP 27579993 A JP27579993 A JP 27579993A JP H06227036 A JPH06227036 A JP H06227036A
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diode
temperature
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/06825Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザプリンタにおいて、過大電力、高温及
び低温、パワーアップ状態及びパワーダウン状態におけ
る過渡電圧スパイク及び過渡電流スパイクから、レーザ
ダイオードを保護する。 【構成】 レーザ画像システムは、レーザダイオード1
と、レーザダイオード保護回路を有する自動電力制御回
路と、を含む。前記レーザダイオード保護回路は、レー
ザ光電力が所定の最大値を越えた場合、レーザダイオー
ドの温度が所定の温度範囲より低いかまたは高くなった
場合、パワーアップ及びパワーダウン時に電力供給が所
定の電圧値より低いか又は高くなった場合、前記レーザ
ダイオード1を迂回して電力を分流する分流回路14が
設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、概してレーザダイオー
ドに関し、より詳細には、過大電力、高温状態または低
温状態、パワーアップ状態及びパワーダウン状態におけ
る過渡電圧スパイクまたは過渡電流スパイクから、レー
ザダイオードを保護する手段を有するレーザダイオード
自動電力制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザダイオードは、様々な光学用途に
おいて、しばしば光源として使用されてきた。たとえ
ば、レーザ印刷の分野では、レーザビームがレンズによ
って集束され、フィルムのような感光性媒体上に走査さ
れる。レーザダイオードは、しばしばコンピュータに記
憶されたディジタルデータによって制御される。画像品
質は、異なるグレイ階調を有する画素で画像を形成し、
フィルム上に連続階調画像を形成することによって向上
される。連続階調放射線撮影レーザプリンタは、撮影用
フィルムを、コンピュータ断層撮影法、磁気共鳴画像
法、ディジタルサブトラクション血管造影法、超音波画
像法等の医用画像法によって生成される電子画像に露出
するためにレーザダイオードが使用されている一例であ
る。
【0003】レーザダイオードにおける問題は、半導体
であるレーザダイオードの発光出力が、動作範囲全体に
おいて直線性がないことである。より詳細には、図11
(電流Iの関数としてのレーザダイオードの光出力Pの
典型的なグラフ)に示したように、生成する曲線は、低
レベルの非直線動作領域を有し、その領域は、ニー領域
(knee region) から、光出力が入力信号値の関数として
直線的に変化する高レベル動作領域へとつながってい
る。直線領域は、レージング領域として知られ、非直線
の低領域は、発光領域または自然放出領域として知られ
ている。曲線は、(1)生成する光学電力出力Pd が、
電流Id の変化に伴い、非直線的に変化する0とニー電
流Ik の間の低領域と、(2)光学電力出力が、電流I
d の変化に伴い、直線的に変化する第2の高領域とを含
む。非直線領域は画像入力信号レベルに応答して連続階
調画像を生成するには不適切である。このため、レーザ
出力範囲は、直線動作領域に限定される。したがって、
レーザダイオードを、しきい電流と呼ばれる既定の電流
レベル以上で動作させるのが一般的である。
【0004】米国特許第4,507,767号は、レー
ザダイオードを光源として含み、半導体レーザと並列の
保護回路を含む光ディスク装置を開示している。この保
護回路は、半導体レーザの光出力に対応するモニタ信号
が既定値を越えた際に、2つの端子が短絡状態になる。
しかし、本特許には、低温または高温状態、あるいはパ
ワーアップ時及びパワーダウン時の電圧スパイク及び電
流スパイクに対し、半導体レーザダイオードを保護する
方法は開示されていない。
【0005】米国特許第4,872,080号は、電流
発生回路によって励磁電流を供給させる半導体レーザ用
保護回路を開示している。この保護回路は、出力がレー
ザ光によって制御されるトランスデューサと、トランス
デューサと協同して動作するリミット回路と、リミット
回路によって付勢され、半導体レーザと並列に切り換え
られる電流分流回路と、を含んでいる。許容発光電力に
達すると、過大励磁電流は、分流回路に分流される。し
かし、本特許には、その問題点の他、高温または低温状
態からレーザダイオードを保護する方法の開示はない。
【0006】米国特許第4,791,636号は、レー
ザオシレーティング光導波路から成る半導体レーザを開
示している。レーザオシレーティング光導波路は、光を
吸収する作用のある制御領域と、レーザ光を振動させる
作用のある主領域と、から成る。このレーザ装置は分流
手段を含み、この分流手段により、制御領域に流れる電
流の、レーザ装置に導入される全電流に対する比が、既
定のアルゴリズムに従って設定される。
【0007】米国特許第4,074,334号は、パワ
ートランジスタによって電流の流れを制限する保護装置
を開示している。コレクタ電流とコレクタ−エミッタ電
圧が、選択された電流/電圧曲線を越えた場合、通常、
非導電性の分流トランジスタが動作状態になり、パワー
トランジスタ周辺で電流を分流する。本特許には、高温
または低温状態のモニタリングは開示されていない。
【0008】以下の米国特許は、様々なレーザダイオー
ド制御技術を開示しているが、これらは、レーザダイオ
ードの自動電力制御とレーザダイオードの保護の課題を
十分には解消しない。米国特許第5,019,769
号、米国法定発明登録H322号、米国特許第4,89
0,288号、米国特許第4,501,022号、米国
特許第4,612,671号。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】課題は、一定のレーザ
出力電力を自動的に設定及び維持することにある。
【0010】他の課題は、過大電力、高温及び低温、パ
ワーアップ状態及びパワーダウン状態における過渡電圧
スパイク及び過渡電流スパイクから、レーザダイオード
を保護することである。
【0011】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明によれ
ば、レーザダイオードの自動電力制御及び保護に関連す
る従来技術の問題点を解決することができる。本発明
は、レーザダイオード自動電力制御回路は、過大電力状
態、高温及び低温状態、パワーアップ状態及びパワーダ
ウン状態における過渡電圧スパイク及び過渡電流スパイ
クから、レーザダイオードを保護する手段を含む。本発
明のレーザ画像装置は、レーザ光出力を生成するレーザ
ダイオードと、前記レーザダイオードに電力を供給する
電力供給手段と、前記レーザダイオードを迂回して電力
を分流する分流回路手段と、前記レーザダイオードのレ
ーザ光出力をモニタするレーザ光出力モニタ手段と、前
記レーザダイオードの温度をモニタする温度モニタ手段
と、前記レーザダイオードを駆動する電力供給をモニタ
する電力供給モニタと、下記の1つまたはそれ以上の信
号に応答して、前記レーザダイオードの周囲で電力を分
流するために、前記分流手段を制御する制御手段とを含
む。ここで、 a)前記レーザ光出力モニタ手段は、前記レーザダイオ
ードからの所定の最大レベルを越えるレーザ光を検出し
て、レーザ出力過大信号を出力し、 b)前記温度モニタ手段は、前記レーザダイオードの温
度が所定の温度範囲より低いか高いかを検出して、レー
ザ異常温度信号を出力し、 c)前記電力供給モニタ手段は、前記電力供給手段によ
って前記レーザダイオードに供給される電力が所定の電
圧値範囲より低いか高いかを検出し、電力過大信号また
は電力不足信号を出力する。
【0012】本発明の装置により、一定のレーザ出力電
力が自動的に設定及び維持され、過大出力、高温及び低
温、パワーアップ状態及びパワーダウン状態における過
渡電圧スパイク及び過渡電流スパイクから、レーザダイ
オードを保護することが可能となる。
【0013】
【実施例】まず、図12について説明する。図12に
は、本発明の実施例を組み込んだ医用画像システムが示
されている。図示されたように、医用画像システム11
0は、医用画像法112によって生成されるようなディ
ジタル医用診断画像のソースを含んでいる。医用画像法
112は、たとえば、コンピュータ断層撮影法、磁気共
鳴画像法、超音波画像法、ディジタルサブトラクション
血管造影法、核医学法などの診断用画像法である。ディ
ジタル画像は、記憶蛍光体、ディジタルX線写真、ある
いは、ディジタル画像アーカイブまたは記憶システムか
らも生成することができる。医用画像法112によって
生成される画像は、ディジタル化され、画像記憶/プロ
セッサ114に記憶される。ディジタル画像は、画像記
憶/プロセッサ114に搭載された磁気ディスクドライ
ブまたは光ディスクドライブに記憶することができる。
ディジタル画像を、ウィンドウ幅レベル、階調調整(to
nal gradation )、補間、エッジエンハンスメント等の
周知の技法によっても処理することができる。
【0014】本発明に係るレーザ制御回路120によっ
て制御されるレーザダイオード118が使用され、ディ
ジタル画像のハードコピーが感光性媒体116上に生成
される。レーザダイオード118によって生成されるレ
ーザビーム122は、走査光学装置124を使用して整
形され、次いで感光性媒体116上を走査され、たとえ
ば、フィルム、紙等の感光性媒体116上にディジタル
画像が生成される。感光性媒体116は処理されて、固
定画像が生成される。
【0015】医用画像システム110は、システムコン
トローラ126を含む。システムコントローラ126
は、たとえばマイクロプロセッサであり、画像記憶/プ
ロセッサ114と、レーザ制御回路120と、レーザダ
イオード118と、走査光学装置124と、を制御す
る。
【0016】図1を用いて、本発明の実施例を説明す
る。本発明の特徴は、一定のレーザ出力電力を設定及び
維持し、レーザダイオードを保護することである。出力
装置1は、半導体レーザダイオードである。レーザ出力
電力は、レーザダイオード1のバックファセット(back
facet)の電力をモニタするバックファセットホトダイオ
ード2によってモニタされる。レーザダイオード1の温
度は、ハイブリッドに組み込まれたサーミスタ3によっ
てモニタされる。
【0017】レーザダイオード1の電流は、電圧制御電
流ソース4から生成される。電圧制御電流ソース4を制
御する入力電圧は、加算増幅器(amp)5から生成さ
れる。加算増幅器5は、トランスインピーダンス増幅器
6、7、11からの信号が入力される。トランスインピ
ーダンス増幅器6は、バックファセットホトダイオード
2の電流出力を電圧に変換する。トランスインピーダン
ス増幅器7は、スレッショルドDAC8(スレッショル
ドディジタルアナログ変換器)の電流出力を電圧に変換
する。トランスインピーダンス増幅器11は、リニアD
AC12(リニアディジタルアナログ変換器)の電流出
力を電圧に変換する。
【0018】本回路の動作は、自動的にレーザ電力をし
きい値レベルに引き上げる自動スレッショルディングに
よって開始される。
【0019】後に説明するように、スレッショルドレベ
ルは、レーザダイオードの製造者によって決められたも
のとは同一ではなく、レーザ電流に対するレーザ電力出
力の関数従属性が、直線になるレベルである。自動スレ
ッショルドシーケンスは、ディジタル信号(LIN-THR-SE
L) 17(リニアスレッショルドモードセレクト)をハ
イにすることによって実施される。これによって、カウ
ンタをクロックするスレッショルドクロックを、初期値
の000(hex)から増分させる。これらのカウンタ
は、12ビットデータ27をスレッショルドDAC8に
出力する。次いで、これはトランスインピーダンス増幅
器7によって電圧レベルに変換される。アナログ信号(T
HR DAC) 20はトランスインピーダンス増幅器7の出力
であり、加算増幅器5に入力される。加算増幅器5は電
圧制御電流ソース4を駆動し、電圧制御電流ソース4
は、レーザダイオード1からの電流を吸収する。スレッ
ショルド検出器10は、レーザ出力電力をモニタし、あ
らかじめ設定されたレーザしきい電力にそれが達する
と、ディジタル信号(LAS AT THR)22をローにし、スレ
ッショルドクロックカウンタ回路9が12ビットデータ
27を増分するのを停止させる。レーザダイオード1
は、そのレベルを越えるとレーザ電流に対するレーザ出
力の関数従属性が直線となる電力レベルになる。
【0020】12ビットデータ(LINEAR DAC)18は、レ
ーザ出力電力を、しきい電力と最大レーザ電力との間に
制御する。12ビットデータ(LINEAR DAC)18は、リニ
アDAC12へ入力される。次いで、これはトランスイ
ンピーダンス増幅器11によって電圧レベルに変換され
る。アナログ信号(LIN DAC) 21は、トランスインピー
ダンス増幅器11から出力され、加算増幅器5に入力さ
れる。加算増幅器5は電圧制御電流ソース4を駆動し、
電圧制御電流ソース4は、レーザダイオード1からの電
流を吸収する。レーザ過大電力検出器13は、レーザ電
力(出力)をモニタする。あらかじめ設定されたレーザ
電力に達すると、ディジタル信号(LAS OVERPOWER) 23
がローにされ、後に説明するように、レーザを迂回しつ
つ一時的に電流を分流することによって、レーザダイオ
ード1を保護する。
【0021】ネガティブ・フィードバックが使用され、
レーザダイオード1の電力出力を安定化する。このルー
プは、レーザダイオード1と、バックファセットホトダ
イオード2と、トランスインピーダンス増幅器6と、加
算増幅器5と、電力制御電流ソース4と、から成る。本
フィードバックループは、レーザスロープ効率の変動
(単位電流変化当たりの出力光電力の変化)と、レーザ
しきい電流(レーザがシングルモードになる電流)の変
動と、に対してレーザダイオードを安定化する。スロー
プ効率としきい電流は、レーザダイオードのエージング
とレーザの温度の関数として変化する。さらに、本ルー
プが閉鎖されている場合、アナログ信号(THR DAC) 20
及び(LIN DAC) 21に対する加算増幅器5の応答感度を
低下させる。
【0022】図1において、レーザダイオード1の保護
について以下に説明する。本発明に係る保護回路の目的
は、i)過大レーザビーム電力状態、ii)高温及び低
温状態、iii)パワーアップ状態及びパワーダウン状
態における過渡電圧スパイクまたは過渡電流スパイク、
からレーザダイオード1を保護する手段を提供すること
である。
【0023】レーザダイオード1の保護は、低インピー
ダンススイッチ14によってレーザダイオード1に供給
されるべき電流の一部を分流し、レーザダイオード1を
流れる電流を一定時期(期間)減少させることによる。
本実施例において、スイッチ14は、電界効果トランジ
スタであり、たとえば、0.5オーム未満のチャネル抵
抗を有している。このように電流を分流することを、レ
ーザダイオードにクローバ(crowbar) を配置すると言
う。
【0024】電力供給モニタ16は、電力供給電圧をモ
ニタする。後に説明するように、自動電力制御は、電力
シーケンサ130によって調整される。電力シーケンサ
130は、正の電力供給電圧の印加に先行して負の電力
供給電圧を印加し、また、負の電力供給電圧の遮断の前
に正の電力供給電圧を遮断する。それらの印加又は遮断
は、正及び負の電力供給電圧の差としての変化電圧(た
とえば、2ボルト)が検出された時に行われる。これに
よって、電力供給モニタ16は、正の電力供給電圧をモ
ニタするのみとなる。電力シーケンシングの他の利点
は、レーザ駆動回路が十分に付勢されてレーザダイオー
ドによって電流を駆動する以前に、負の電力供給電圧の
みを使用しているクローバスイッチ14が動作状態にな
ることである。パワーアップリセット回路は、ディジタ
ル信号(SLOW START)25をローに設定し、正の電力供給
電圧が印加された後1秒間、そのローを維持する。これ
によってクローバスイッチ14をレーザダイオード1の
両端間で短絡的に動作させ、レーザダイオード1をパワ
ーアップ時の過渡状態から確実に保護する。正の電力供
給電圧が正常値の12ボルトから低下(たとえば10
%)すると、ディジタル信号(PWR RESET) 26がローに
設定され、クローバスイッチ14をレーザダイオード1
の両端間で動作させ、レーザダイオード1をパワーダウ
ン時の過渡状態から確実に保護する。電力保持回路は、
クローバスイッチ回路を動作状態に維持し、電力が当該
回路から除去された後の短期間(たとえば1.4秒間)
レーザダイオードに対する分流作用をなす。
【0025】レーザダイオード温度モニタ15は、サー
ミスタ3を使用してレーザ温度を感知する。温度が、2
5゜Cを中心とするあらかじめ設定した温度ウィンドウ
の範囲外(高温または低温のいずれか)になると、ディ
ジタル信号(LASER OUT TEMP)24がローに設定され、ク
ローバスイッチ14を動作させ、高温及び可能性のある
温度異常状態からレーザダイオード1を確実に保護す
る。もし、その保護がない場合、次のようになる。集積
実装されたレーザダイオード1とバックファセットホト
ダイオード2の温度が上昇する際に異常状態が発生す
る。このような温度上昇はバックファセットホトダイオ
ード2の効率を低下させ、次いでバックファセットホト
ダイオード2の電流出力を低下させる。自動電力制御回
路は、これをレーザ電力の低下として感知し、レーザ電
流を増加させる。レーザ出力効率は温度上昇によって低
下し、増加された電流がさらに温度を上昇させると、レ
ーザダイオード1及びバックファセットホトダイオード
2の双方の効率をさらに低下させることになる。温度異
常の本サイクルにより、レーザダイオード1に損傷を与
え、故障の原因となる。
【0026】レーザ過大電力検出器13は、あらかじめ
設定したレーザダイオード1の最大動作電力未満の限度
を、レーザ電力が越えた場合にこれを感知する。過電力
状態が生じると、ディジタル信号(LASER OVERPOWER) 2
3がローにされる。これによって、クローバスイッチ1
4を動作させ、レーザダイオード1が損傷及び故障の原
因となる電力レベルに達しないよう、確実に保護する。
【0027】以下は、本発明の自動電力制御(APC)
とレーザ保護回路についてのより詳細な説明である。
【0028】レーザダイオード1及びバックファセット
ホトダイオード2 レーザダイオード1は、たとえば、5mW、670nm
のレーザダイオードである。これらのダイオードは、他
のダイオード(たとえば、赤外レーザダイオード)に比
べて過渡状態によって損傷しやすく、より精巧な保護方
式を必要とする。
【0029】レーザダイオード1には、バックファセッ
トホトダイオード2が集積されており、レーザダイオー
ド1のバックファセットからの光出力をモニタする。
【0030】サーミスタ3 レーザの温度はサーミスタ3によってモニタされる。サ
ーミスタ3はハイブリッドに実装されているのが好まし
い。サーミスタ3は、サーミスタインクの3平面から成
る。このインク平面は電気的に直列で、厚膜ハイブリッ
ド技術を使用してセラミック基盤上にシルクスクリーニ
ングされている。サーミスタは、固定レジスタと直列で
ある。この固定レジスタは、総抵抗を5Kに低減するの
に使用される。ハイブリッドは、レーザダイオード1を
ハイブリッド自体に実装し、サーミスタをレーザダイオ
ードケースと直接接触させ、レーザダイオード1の温度
モニタを効率化する。
【0031】電圧制御電流ソース4及び加算増幅器5 図2は、電圧制御電流ソース4を示している。電圧制御
電流ソース4は、たとえば、nチャネル拡張モードのF
ET型トランジスタ28である。ゲートからソースへの
電圧、すなわちVgsは、FET型トランジスタ28の
電流出力を制御する。FET型トランジスタ28のゲー
トの電圧は、加算演算増幅器29によって設定され、加
算演算増幅器29は、抵抗器30上方の電圧を感知す
る。
【0032】起動時には、信号(VIO REF) 32が加算演
算増幅器29の加算ノード31への唯一の入力であり、
抵抗器30の電圧低下をゼロに設定するよう調節され、
したがって、電流ソースFETには電流が流れない。信
号(VIO REF) 32は、種々の入力から加算演算増幅器2
9への入力オフセット電圧効果を打ち消し、さらに、F
ET型トランジスタ28と抵抗器30間の接合部におい
て、たとえば−8.1ボルトといった負の電圧を設定
し、電流出力を0mAに設定する。
【0033】加算演算増幅器29の加算ノード31への
アナログ信号(THR DAC) 20の入力は、レーザダイオー
ド1のレーザ電力を、たとえば0.5mWといったしき
いレベルに引き上げるのに使用される。加算演算増幅器
29の加算ノード31へのアナログ信号(LIN DAC) 21
の入力は、レーザ電力を、たとえば0.5と4.5mW
の間で変化させるのに使用される。信号(APC FEEDBACK)
33は、レーザ電力と、図1のバックファセットホトダ
イオード2のトランスインピーダンス増幅器6からのソ
ースを安定化するのに使用される。
【0034】クローバスイッチ14及び電力モニタ 図2は、さらに図1のクローバスイッチ14の詳細を示
している。クローバスイッチ14は、pチャネル拡張モ
ードのFET型トランジスタ34である。記載した例で
は、FET型トランジスタ34のゲートは、FET型ト
ランジスタ34を動作状態にし、クローバスイッチ14
を閉鎖するグランド電位にある電圧制御電流ソース4よ
り2ボルト低くなければならない。
【0035】パワーダウン時のクローバスイッチ14へ
の電力を保持するのに使用される電力保持回路35は、
ダイオード36と、抵抗器37と、ダイオード38と、
電流パス抵抗器39と、キャパシタ40と、電流パス抵
抗器41と、ダイオード42と、から成る。パワーアッ
プ時に、キャパシタ40は、電流パス抵抗器39とダイ
オード38とダイオード36を介して蓄電される。電力
シーケンサ130(図10)は、VDD=+12ボルト
に先行して、VBB=−12ボルトを確実に動作状態と
する。これにより、キャパシタ40は完全に蓄電され
る。パワーダウン時に、ダイオード36は、逆バイアス
されて0ボルトに低下し、クローバノード43をVBB
から隔離して、キャパシタ40に接続する。キャパシタ
40は電流パス抵抗器41とダイオード42と抵抗器4
4を介して、接地にゆっくりと放電される。これによっ
て、クローバスイッチ14は、レーザ電流を電力低下後
1.5秒間分流し、パワーダウン過渡状態からレーザを
保護する。
【0036】図3は、クローバ駆動回路45を示してい
る。クローバ駆動回路45は、電力が供給されて動作す
るように設計された。クローバ46が高インピーダンス
であり、図2においてVBB=−12ボルトである場
合、FET型トランジスタ34のソース電圧に対するゲ
ートは−11.3ボルトである。FET型トランジスタ
34は動作状態となり、クローバFET34によってレ
ーザ電流が分流される。図2に示されたクローバ駆動回
路45において、ゲート48の出力は、トランジスタ4
9のベースを駆動し、トランジスタ49の出力を高イン
ピーダンスまたは5ボルトの参照出力(LPM 5V REF)50
との間で切り換える。ゲート48の出力が(LPM 5V REF)
50との差が0.7ボルト以下である場合、トランジス
タ49は遮断され、その出力は高インピーダンス状態と
なる。ゲート48は、パワーアップ時に信号(BRD RESE
T) 19及び(SLOW START)25によってハイに引き上げ
られる。信号(SLOW START)25は,VDD=12ボルト
以後0.5秒間低くなる。ゲート48及び51は、FA
CT技術であることが好ましく、2.0ボルト程度の低
電圧で動作可能で、高信号に対して0.1ボルト以内の
供給電圧で出力を有することが保証されている。ゲート
48は(LPM 5V REF)50によって動作され、トランジス
タ49のベースからエミッタへの電圧を−0.1ボルト
に保つ。この電圧は、トランジスタ49を動作するのに
必要な0.7ボルトより非常に低く、トランジスタ49
のエミッタを高インピーダンス状態に保つ。
【0037】図3の電力供給モニタ回路16は、正の電
力供給VDDをモニタし、ディジタル信号(SLOW START)
25及び(PWR RESET) 26を生成する。電力供給モニタ
回路16は、トランジスタ52を含む分割回路を有して
いる。トランジスタ52は、VDD及び接地間の抵抗器
53及び54の接合部に接続されたベースと、抵抗器5
5によってVDDに接続されたコレクタと、抵抗器56
によって接地に接続されるエミッタとを有する。抵抗器
61及びキャパシタ57は、低電圧感知回路59用の遅
延回路を形成する。低電圧感知回路59及び60は、そ
れぞれ、VDD電圧があらかじめ設定された値を越えて
いるか否か感知する。抵抗器61及びキャパシタ57の
時間定数によって決定される、あらかじめ設定された遅
延の間、低電圧感知回路59は、低電圧を感知し、信号
(SLOW START)を生成する。低電圧感知回路60が低電圧
を感知した場合、Dフリップフロップ47を介し、遅延
することなく、信号(PWR RESET) を生成する。これらの
信号は双方共クローバスイッチ14を駆動する。低電圧
感知回路59は、パワーアップ時に遅延をもってレーザ
をクローバするのに使用される。低電圧感知回路60
は、電力VDDの低下を即座に検知し、パワーアップ時
に遅延をもってレーザをクローバするのに使用される。
【0038】電力がさらに0.5秒間安定である後、信
号(SLOW START)25がハイになる。信号(BRD RESET) 1
9がソフトウェアによって放出され、クローバ分流を除
去し、レーザダイオード1を動作させる。(ローに)設
定された場合に、クローバFET34によってレーザ電
流を分流するその他の信号は、信号(LASER OUT TEMP)2
4と信号(PWR RESET) 26と信号(LASER OVERPOWER) 2
3である。レーザダイオード1が、望ましい温度範囲よ
り高いか、あるいは低いと判断される温度となった場
合、信号(LASER OUT TEMP)24が設定される。高温状態
では、レーザダイオードの劣化を招き、低温ではレーザ
上の結露の原因となる。低温状態では、サーミスタへの
接続が切断されたことを示すことがあり、負の温度係数
により、レーザの加熱の原因となり、温度異常を招き、
レーザダイオードの損傷の原因となり得る。正の電力供
給VDDが12ボルトから10%低下すると、信号(POW
ER RESET) 26が設定され、レーザをクローバする。ホ
トダイオードからの電流フィードバックが、レーザ電力
があらかじめ設定した最大電力レベルより高いことを示
している場合、信号(LASER OVERPOWER) が設定される。
【0039】スレッショルド操作 図1、5、6について説明する。スレッショルドクロッ
ク70は、タイマ71(たとえばNE555)を含む。
タイマ71は、高い状態にある3つのディジタル信号(L
AS AT TH) 22、(SLOW START)25、(LIN THR SEL) 1
7のすべてによって駆動される。通常の操作では、信号
(SLOW START)25が、電力が安定された後1秒間ローに
され、信号(LAS AT THR)22及び信号(LIN THR SEL) 1
7は、パワーアップ時にハードウェアによってハイに設
定される。ソフトウェアが信号(LIN THR SEL) 17を高
く書き込む場合、スレッショルドクロック70は、レー
ザダイオード1がスレッショルド状態に達し、信号(LAS
AT THR)22がローに設定され、スレッショルドクロッ
クを停止するまで振動可能となる。
【0040】スレッショルドクロック70は、スレッシ
ョルドカウンタ72をクロックする。スレッショルドカ
ウンタ72は、パワーアップ時に初期化され、次いで、
信号(LAS AT THR)22がローに設定されて停止されるま
で、000からFFF(16進数)までをカウントす
る。スレッショルドカウンタ72は、たとえば、継続型
4ビットカウンタ73、74、75を含む12ビットカ
ウンタである。
【0041】スレッショルドカウンタ72の12ビット
ディジタル出力(THR D) (0:11)76は、12ビッ
トのラッチ77によってラッチされる。ラッチ77の出
力は、12ビットのスレッショルドディジタルアナログ
変換器8(図5)への入力として使用される。スレッシ
ョルドDAC8の出力は、トランスインピーダンス増幅
器7によって変換され、加算増幅器5に対するアナログ
電圧入力(THR DAC) 20を供給し、電圧制御電流ソース
4を駆動する。
【0042】直線操作 次に図1及び4について説明する。12ビットディジタ
ルデータ(APC D) (0:11)78は、HI−Z入力ラ
ッチ79への入力である。このラッチされたデータ(BUF
APC.D) (0:11)80は、リニアDAC12とその
トランスインピーダンス増幅器11によってアナログ信
号(LIN DAC) 21に変換される。
【0043】レーザダイオード1の直線動作は、しきい
電力の最小電力から最大電力までの範囲にある。
【0044】LAS_AT_THR22及びレーザ過大
電力検出器13 次に図1及び8について説明する。Elantec E
L2252コンポーネントのような高速比較器81が使
用され、信号(APC FEEDBACK)33を参照電圧と比較す
る。
【0045】信号(APC FEEDBACK)33が、たとえばレー
ザ電力の4.85mW相当の4.85ボルト以上である
場合、ディジタル信号(LASER OVERPOWER) 23が(ロー
に)設定される。信号(LASER OVERPOWER) 23の指定
は、クローバスイッチ14の分流器をレーザダイオード
1に配置し、レーザダイオード1を、たとえば5.0m
Wの最大電力の超過から保護するのに使用される。
【0046】信号(APC FEEDBACK)33が、増幅器82に
よって得られる+6の利得により、レーザ電力の0.5
mW相当の3.0ボルト以上になると、ディジタル信号
(LASER AT THR)22が(ローに)設定される。指定され
たLASER AT THR22がスレッショルドクロック70とス
レッショルドカウンタ72を停止すると、スレッショル
ドカウンタ72の最後の値がスレッショルドDAC8に
ラッチされ、レーザダイオード1をしきい電力に保持す
る。
【0047】レーザダイオード温度モニタ15 図1及び9について説明する。図9において、増幅器8
5は、サーミスタ3の抵抗と抵抗器86、すなわち参照
抵抗器との差分を増幅するのに使用される。これによっ
て、熱電冷却機(TEC)87を駆動するのに使用され
る誤差電圧を生成する。熱電冷却機(TEC)87は、
レーザダイオード1を加熱または冷却する。レーザダイ
オード温度モニタ15(図1)は、演算増幅器88及び
89と、それぞれに付随する回路を含む。本回路はウィ
ンドウ比較器として動作し、レーザダイオード1が25
゜Cより高いかまたは低いかを判断し、適切な信号(LAS
ERUNDERTEMP) 90または(LASER OVERTEMP)91を指定
する。これらの信号90、91は、レーザダイオード1
に対するクローバスイッチ14に印加することが可能
で、温度損傷を防止する。接続が不適切な場合、負の温
度係数に対して開電式となり、サーミスタ3は低温状態
となり、TEC87(図9)によって、最大の熱をレー
ザダイオード1に加えさせる。これによってバックファ
セットホトダイオード2の効率を低減させ、レーザ電力
サーボループによってレーザダイオード1をオーバドラ
イブさせる。もう一方の状態では、サーミスタ3は短絡
され、レーザダイオード1は、レーザダイオード1上に
結露する点まで冷却され、光学的汚染を引き起す。
【0048】電力シーケンサ 図1及び10について説明する。図10は、電力シーケ
ンサ130を示している。電力シーケンサ130は、+
15ボルトの入力正電圧(SW P15V) 92及び−15ボル
トの入力負電圧(SW N15V) 93とをモニタし、レーザ駆
動回路に電力を印加する以前に、総電圧降下の30ボル
トに対し、これらの合計が2ボルト以内であることを判
断する。説明のため、正の12ボルトVDDに対する電
力シーケンサの上部半分のみについて説明する。下部半
分は、これの鏡像体となる(ただし、負の12ボルト供
給VBBについては、対応するダイオード98及び10
4を除く)。信号92、93は、電力シーケンサ30に
印加される以前に、フィルタ94、95によってフィル
タリングされる。
【0049】電力をモニタする手段は、28ボルトツェ
ナーダイオード96を使用し、供給電圧がほぼ±15ボ
ルトに達した場合にのみ、トランジスタ97のベース−
エミッタ電圧がトランジスタ97をオンにするのに十分
大きくなるよう、±15ボルトの間で少なくとも28ボ
ルト±1%降下させることによる。ダイオード98はV
DD回路で使用されるが、VBB回路では使用されず、
ツェナーダイオード96、96’の1%許容差によって
VBBがオンの間にVDDがオンとなるのを確実に防止
する。トランジスタ97がオンになると、抵抗器99、
100を介して、電流がコレクタに流れる。これによっ
て抵抗器99の電圧を十分に下降させ、トランジスタ1
01をオンにする。抵抗器102及びキャパシタ103
の時間定数によって時間遅延が形成される。これによっ
て、VDDが始動される前に、±15ボルト安定化後、
12秒の遅延を行う。このディレイの間、電力供給が低
下し、ダイオード104はパスを供給し、キャパシタ1
03を急速に放電し、時間遅延を終了する。
【0050】VBBに対する電力シーケンスは、VDD
の10分の1の時間定数を有し、VBBが最初に始動
し、次いでVDDが始動する。レーザ保護回路はVBB
によって付勢されるため、この電力が最初に印加され
る。
【0051】図7は、バックファセットホトダイオード
2のトランスインピーダンス増幅器6を示している。図
示したように、ホトダイオード2からの信号(PHOTODIOD
E)105及び負の参照信号(N 8.1VREF) 106が、それ
ぞれ、並列に接続された演算増幅器107及び108に
印加される。演算増幅器107及び108の出力は演算
増幅器109への入力で、演算増幅器109の出力は信
号(APC FEEDBACK)である。この信号は、たとえば、1ボ
ルト/mWのレーザ電力の出力を有する。
【0052】本発明は、レーザダイオードプリンタのよ
うなレーザ画像システムにおいて用途がある。
【0053】
【発明の効果】本発明の画像装置により、一定のレーザ
出力電力が自動的に設定及び維持され、過大電力、高温
及び低温、パワーアップ状態及びパワーダウン状態にお
ける過渡電圧スパイク及び過渡電流スパイクから、レー
ザダイオードを保護することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザダイオード保護回路のブロック
図である。
【図2】図1に示した本発明の電圧制御電流ソース4、
加算増幅器5、クローバスイッチ14のブロック図であ
る。
【図3】本発明のクローバ駆動回路45のブロック図で
ある。
【図4】本発明の図1に示したトランスインピーダンス
増幅器11による変換のブロック図である。
【図5】本発明の図1に示したトランスインピーダンス
増幅器7によるスレッショルド操作のブロック図であ
る。
【図6】本発明の図1に示したトランスインピーダンス
増幅器7によるスレッショルド操作のブロック図であ
る。
【図7】本発明の図1に示したバックファセットホトダ
イオード2のトランスインピーダンス増幅器6のブロッ
ク図である。
【図8】本発明の図1に示したレーザ過大電力検出器1
3のブロック図である。
【図9】本発明の図1に示したレーザダイオード温度モ
ニタ15のブロック図である。
【図10】本発明の図1に示した電力シーケンサ130
のブロック図である。
【図11】レーザダイオード動作曲線のグラフ図であ
る。同図において、発光出力Pは、レーザダイオードの
電流Iの関数である。
【図12】レーザダイオードと本発明のレーザ制御回路
の実施例を組み込んだ画像システムのブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 レーザダイオード 2 バックファセットホトダイオード 3 サーミスタ 4 電圧制御電流ソース(電力供給手段) 5 加算増幅器(amp) 13 レーザ過大電力検出器(レーザ光出力モニタ手
段) 14 クローバスイッチ(低インピーダンススイッチ、
分流回路手段) 15 レーザダイオード温度モニタ(温度モニタ手段) 16 電力供給モニタ(電力供給モニタ手段)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ画像装置において、 レーザ光出力を生成するレーザダイオード(1)と、 前記レーザダイオードに電力を供給する電力供給手段
    (130)、(4)と、 前記レーザダイオードを迂回して電力を分流させる分流
    回路手段(14)と、 前記レーザダイオードを画像信号によって変調する変調
    手段(12)と、 前記レーザダイオードのレーザ光出力をモニタするレー
    ザ光出力モニタ手段(13)と、 前記レーザダイオード(1)の温度をモニタする温度モ
    ニタ手段(15)と、 前記ダイオードに供給される電力をモニタする電力供給
    モニタ手段(16)と、 前記レーザダイオード(1)を迂回して電力を分流させ
    るために前記分流手段(14)を制御する制御手段と、 を含み、 前記制御手段は、 a)前記レーザダイオード(1)からの前記レーザ光が
    所定の最大値を超過したことが検出された場合に、前記
    レーザ光出力モニタ手段(13)によって生成されるレ
    ーザ出力過大信号と、 b)前記レーザダイオード(1)の温度が所定温度範囲
    より低いかまたは高いことが検出された場合に、前記温
    度モニタ手段(15)によって生成されるレーザ異常温
    度信号と、 c)前記電力供給手段によって前記レーザダイオード
    (1)に供給される電力が所定の電圧値範囲より低いか
    または高いことが検出された場合に、前記電力供給モニ
    タ手段(16)によって生成される電力過大信号または
    電力不足信号と、 の中で1つまたはそれ以上の信号に応答して分流制御を
    行うことを特徴とする装置。
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