JPH062199Y2 - 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置 - Google Patents

電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置

Info

Publication number
JPH062199Y2
JPH062199Y2 JP13402187U JP13402187U JPH062199Y2 JP H062199 Y2 JPH062199 Y2 JP H062199Y2 JP 13402187 U JP13402187 U JP 13402187U JP 13402187 U JP13402187 U JP 13402187U JP H062199 Y2 JPH062199 Y2 JP H062199Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
sample
chamber
electron microscope
valve
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP13402187U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6438752U (ja
Inventor
好則 青木
喬雄 畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP13402187U priority Critical patent/JPH062199Y2/ja
Publication of JPS6438752U publication Critical patent/JPS6438752U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH062199Y2 publication Critical patent/JPH062199Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、極低温試料ステージ等の大型ホルダを電子顕
微鏡のゴニオメータに設置し、試料観察する様な場合に
使用して有効な試料ホルダ排気装置に関するものであ
る。
[従来技術] 第2図及び第3図は、従来から使用されている電子顕微
鏡の試料装置の概略を示し、1は試料室(対物レンズヨ
ーク)、2は対物レンズの磁極片である。前記試料室の
側壁にはゴニオメータ3が設置されており、この中に試
料ホルダ4が挿入される。前記ゴニオメータは実際には
試料のX,Y移動機構や傾斜機構を有しているがここで
は省略してある。又、試料室との境界には第3図から分
るように仕切弁5が設けられ、ゴニオメータの内部に試
料交換用の予備室6が形成される。この予備室はバルブ
7を介して油拡散ポンプ8及び油回転ポンプ9に接続し
ており、内部を所定の真空度まで排気可能である。前記
試料ホルダ4は大型ケース10に結合されており、この
ケース内にパイプ11を介して導入される冷媒が前記ホ
ルダ4の内部を介して試料ステージ12まで導入され
る。試料ホルダ4,ケース10及びステージ12の内部
は空胴化され、ステージ12の部分に設けた孔12aか
ら排気可能に構成してある。又、前記ケース10にはス
テージ12先端に保持した試料の移動機構等も組込んで
ある。このような装置で試料を検鏡するには、先ず第3
図に示すように仕切弁5を閉じておき、バルブ7閉の状
態でホルダ4をゴニオメータ3内に挿入し、次いでバル
ブ7を開いて油拡散ポンプ8及び油回転ポンプ9により
予備室6内を排気する。この排気により、予備室内の真
空度が向上すると同時に孔12aを通じてステージ1
2,ホルダ4及びケース10の内部が排気される。この
排気が完了するとパイプ11を介して液体He等の冷媒
がケース10内に導入され、ステージ12先端付近に保
持された試料が所定の温度に冷却される。一定の温度に
冷却されたとき、又は冷却の過程において仕切弁5を開
きホルダ4を押し込み、試料を対物レンズの磁極片2間
に配置し(第2図の状態)、その冷却中の試料を電子顕
微鏡観察する。このとき、バルブ7は閉の状態にしてあ
り、ステージ12,ホルダ4及びケース10内は孔12
aを介して試料室1と連通し、試料室の排気装置により
排気されることになる。試料の低温検鏡が終了した場合
には、前記とは逆にホルダー4を引出し、予備室6内を
図示しないがリーク弁を通して空気を導入し、該予備室
内が大気になった後でホルダを大気中に取出し、次の検
鏡試料に交換する。
[考案が解決しようとする問題点] このような装置では、液体Heを導入する場合、前述し
たように大型のケース10,ホルダ4及び試料ステージ
12の内部をステージ12に設けた小さな孔12aを介
し、予備室6に接続した排気装置により排気しなければ
ならないが、実際に大気中に置かれたステージ、ホルダ
及びケースの内部には水蒸気やその他大気中の汚物が付
着しており、前記孔12aを通しての排気には長時間を
費し、一日に数回の検鏡しか行なえない場合がある。現
状の限られたスペースからホルダ部やステージ部分を太
くして排気コンダクタンスを高くすることはできず、装
置の効率的な使用の面から大いに問題があった。
そこで本考案の目的は、内部容量が大きく排気しにくい
ような試料装置の排気を事前に簡単に行なえるような装
置を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] この目的を達成する本考案は、検鏡中の試料を任意に移
動させるゴニオメータ、このゴニオメータ内に設けられ
た予備室、この予備室と電子顕微鏡の試料室との間に設
けられた真空仕切り弁、前記予備室の真空を粗引する手
段を有し、試料を保持した試料ホルダを前記予備室を通
して光軸と直角な方向から試料室内の検鏡位置に挿入す
る電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置であって、前記予備
室に試料ホルダを抜いた状態で気密を保って嵌入される
筒状体、該筒状体に一端が接続されているフレキシブル
真空チューブ、該真空チューブの他端に接続された筒状
のホルダ保持体、前記チューブによって接続される前記
予備室とホルダ保持体間の連通を制御するための弁手
段、前記ホルダ保持体に接続された不活性ガス供給手段
とを備え、検鏡前の試料ホルダを前記ホルダ保持体に嵌
挿して真空引きされたホルダ保持体内に不活性ガスを入
れることを特徴としている。
[作用] 本考案においては予備室に筒状体を試料ホルダと交換可
能に嵌挿し、この筒状体に試料ホルダが嵌入される保持
体を真空的に連結し、予備室の真空ポンプを利用して容
量の大きな試料ホルダ部分を事前に排気しておき、更に
は該ホルダ内を窒素ガス等の不活性ガスで置換し、検鏡
時の再排気を短時間で行なえるようにするものである。
[実施例] 第1図は本考案の一実施例を示す断面図であり、第2
図、第3図と同符号は同様な構成部材を示してある。1
3は筒状体で、前記試料ホルダ4と同一の直径に加工さ
れており、一端は開放され、ホルダに代えてゴニオメー
タ3の予備室6内に嵌挿可能である。該筒状体の開放し
ない端部はジョイント14を介してフレキシブル真空チ
ューブ15の一端に連結されている。該フレキシブルチ
ューブ15の他端は真空開閉用のバルブ16を介して筒
状の試料ホルダ保持体17に接続している。該ホルダ保
持体17の内径は前記ゴニオメータ3の予備室の内径と
等しくされており、試料ホルダ4が気密を保って嵌挿で
きる構造である。前記保持体17のバルブ16に接近し
た部分にはパイプ18が連結され、このパイプはバルブ
19を介して窒素ガス等の不活性ガス貯蔵タンク20に
接続している。21は前記ゴニオメータ3の端部に取付
けたマイクロスイッチであり、筒状体13に設けた突起
22が該マイクロスイッチを押したときバルブ7の駆動
源23に信号を送り、該バルブを開の状態にする働きを
する。
このような装置において、試料の検鏡を行わないとき、
筒状体13をゴニオメータ3の予備室6内に図示のよう
に嵌挿し、筒状の保持体17の開放端から試料ホルダ4
を嵌挿する。筒状体の突起22がマイクロスイッチ21
に当接すると駆動源23が働き、バルブ7が開の状態に
なる。このとき、仕切弁5及びバルブ19は閉の状態
に、バルブ16を開の状態にしておくと油回転ポンプ9
及び油拡散ポンプ8により予備室6内が排気され、それ
に嵌挿された筒状体13、フレキシブル真空チューブ1
5を介してホルダ保持体17内が排気される。これによ
り、該ホルダ保持体の孔12aを通して真空的に連通し
たステージ12,ホルダー4及びケース10内は該孔か
ら排気されることになる。一定時間ホルダ等の内部を排
気し、空気や水蒸気を充分に排出したならばバルブ16
及び7を閉じ、バルブ19を開にする。その結果、保持
体17の内部に窒素ガスが導入され、ホルダーやケース
内に該窒素ガスが注入される。そこで、該ホルダーを保
持体から引出し、又前記予備室6から筒状体を抜き出
し、前記窒素ガスにより内部が置換されたホルダを予備
室内に挿入する。その後、バルブ7を開の状態にして予
備室内を排気すれば、ステージ部の孔12aを通してホ
ルダ4及びケース10内の窒素ガスが排出される。この
窒素ガスの排気は内部を大気に晒した場合に付着する水
蒸気や他の汚物の排気に比して、極めて短時間に排気で
きる。その後の試料観察は従来と同様である。
[効果] 以上説明したように、本考案においては試料の検鏡中以
外のときはゴニオメータの予備室に筒状体13を挿入
し、それと真空的に接続した保持体に試料ホルダ4を嵌
挿し、事前に該ホルダやケース内を排気しておき、且つ
窒素ガス等による置換を行なえるようにしてあるので、
検鏡時には短時間でホルダやケース内の排気が行なえ、
効率的な装置の使用が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2図及び第
3図は従来の電子顕微鏡の試料装置の概略を示す断面図
である。 1:試料室、2:対物レンズ磁極片 3:ゴニオメータ、4:試料ホルダ 5:仕切弁、6:予備室 7:バルブ、8:油拡散ポンプ 9:油回転ポンプ、10:大型ケース 11:パイプ、12:ステージ 12a:孔、13:筒状体 14:ジョイント、15:真空チューブ 16:バルブ、17:保持体 18:パイプ、19:バルブ 20:ガス貯蔵タンク、21:マイクロスイッチ 22:突起、23:駆動源

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】検鏡中の試料を任意に移動させるゴニオメ
    ータ、このゴニオメータ内に設けられた予備室、この予
    備室と電子顕微鏡の試料室との間に設けられた真空仕切
    り弁、前記予備室の真空を粗引する手段を有し、試料を
    保持した試料ホルダを前記予備室を通して光軸と直角な
    方向から試料室内の検鏡位置に挿入する電子顕微鏡の試
    料ホルダ排気装置であって、前記予備室に試料ホルダを
    抜いた状態で気密を保って嵌入される筒状体、該筒状体
    に一端が接続されているフレキシブル真空チューブ、該
    真空チューブの他端に接続された筒状のホルダ保持体、
    前記チューブによって接続される前記予備室とホルダ保
    持体間の連通を制御するための弁手段、前記ホルダ保持
    体に接続された不活性ガス供給手段とを備え、検鏡前の
    試料ホルダを前記ホルダ保持体に嵌挿して真空引きされ
    たホルダ保持体内に不活性ガスを入れることを特徴とす
    る電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置。
JP13402187U 1987-09-02 1987-09-02 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置 Expired - Lifetime JPH062199Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13402187U JPH062199Y2 (ja) 1987-09-02 1987-09-02 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13402187U JPH062199Y2 (ja) 1987-09-02 1987-09-02 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6438752U JPS6438752U (ja) 1989-03-08
JPH062199Y2 true JPH062199Y2 (ja) 1994-01-19

Family

ID=31392412

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13402187U Expired - Lifetime JPH062199Y2 (ja) 1987-09-02 1987-09-02 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH062199Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6438752U (ja) 1989-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110487609B (zh) 超高真空原位薄膜刻蚀电极生长系统
JPH062199Y2 (ja) 電子顕微鏡の試料ホルダ排気装置
JPH0374036A (ja) 電子顕微鏡における試料交換装置
JP2005158288A (ja) 電子顕微鏡用試料冷却ホルダ
JP2002214091A (ja) 試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡
JP3998435B2 (ja) 試料交換装置
JP2867389B2 (ja) イオンビーム装置およびその使用方法
JP2017050181A (ja) 搬送装置、処理装置、真空装置および荷電粒子ビーム装置
JPH06208841A (ja) 走査電子顕微鏡のクライオ装置
JPS59191251A (ja) 雰囲気試料運搬室
JPH0357001Y2 (ja)
JPS612250A (ja) 走査電子顕微鏡およびその類似装置における試料導入装置
JP4181447B2 (ja) 透過電子顕微鏡における試料交換装置
JPH0781937B2 (ja) トランスファ・ベッセル装置
JPH10104138A (ja) 冷却試料分析装置
JPS6059643A (ja) 電子顕微鏡の試料室内壁の清浄方法および装置
JPH0548357Y2 (ja)
JPH08111200A (ja) 走査形電子顕微鏡
JPH05258701A (ja) 電子線装置
JPS607047A (ja) 電子線装置の試料処理装置
JPH10148594A (ja) リークチェック装置及び方法
JPS5856952B2 (ja) 走査電子顕微鏡およびその類似装置の試料処理装置
JPS5855616B2 (ja) 走査電子顕微鏡等の試料装置
JP4016829B2 (ja) 分析装置への試料導入ブローブとそれを備えた試料直接導入装置
JPH0355238Y2 (ja)