JPH06204596A - レーザ発振器の出力制御装置 - Google Patents
レーザ発振器の出力制御装置Info
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Abstract
し、一定レーザ出力制御が不能になり、被加工物が不良
品となることを防止する。 【構成】 レーザ発振器と、レーザ発振器に励起電力を
供給する電源装置と、レーザ発振器の出力するレーザ光
の強度を検出する検出手段と、検出手段に接続されてそ
の抵抗値を測定する測定手段と、検出手段の出力信号に
対応した測定手段の出力信号およびレーザ出力の強度指
令とを入力とし、上記電源装置に対して電力指令を与え
る制御回路と、制御回路に接続されレーザ発振器の入出
力特性が記憶されている記憶手段とから構成した。
Description
る炭酸ガスレーザ発振器の出力制御装置に関するもので
ある。
装置の構成を示すブロック図である。図において、1は
レーザ発振器、2aは出力ミラー、2bは背面ミラー、
3は出力ミラー2aから外部に取り出されるレーザ出
力、4はパワーセンサ、5は制御回路、6は所望のレー
ザ出力の強度を指令するレーザ出力指令、7はパワーセ
ンサ4の出力信号と出力指令6との誤差信号を比較増幅
した電力指令、8は電源装置である。
源装置8より電極に電圧を加えることにより電極間に放
電が生じ、これを出力ミラー2a、背面ミラー2bで構
成した共振器にて増幅し、出力ミラー2aよりレーザ出
力3を得る。同時にこのレーザ出力の一部を背面ミラー
2bからパワーセンサ4へ取り出し、この検出値を制御
回路へと出力する。制御回路5はこの出力値を出力指令
値6と比較し、その差を増幅して誤差信号として電源装
置8へ出力する。電源装置8はこの誤差信号に基づいて
一定レーザ出力制御を行う。
発振器の出力制御装置では、レーザ出力を検出するパワ
ーセンサが熱電対から構成されている場合が多いが、そ
の物性値の経時変化が存在することが知られている。し
かも、その経時変化には線形性はなく、ある値を越えた
時、特性が急変することが経験的に知られている。
装置では、パワーセンサの物性値を測定する手段を備え
ていないため、例えばレーザ発振器で被加工物を加工し
ている時に、上述したようにパワーセンサの特性が急変
し、極端な場合にはその検出出力値がゼロになり、上記
の一定レーザ出力制御が不能になって、以後の被加工物
が全て不良品になってしまうという不具合が生じること
があった。とりわけ、夜間等に長時間の無人運転を行っ
ている最中にこのような不具合が起こると、レーザ発振
器の使用者にとっては致命的である。
ためになされたものであり、パワーセンサの特性が急変
しその検出出力値が急変した場合に、被加工物が不良品
になってしまう、という不具合を防止するとともに、パ
ワーセンサの特性が急変した時に警報信号を出力して、
パワーセンサの交換時期を明示することを目的とする。
発振器の出力制御装置は、レーザ発振器と、このレーザ
発振器に励起電力を供給する電源装置と、上記レーザ発
振器の出力するレーザ光の強度を検出する検出手段と、
この検出手段に接続されてその抵抗値を測定する測定手
段と、上記検出手段の出力信号に応じて出力される上記
測定手段の出力信号およびレーザ出力の強度を指令する
外部からのレーザ出力指令とを入力とし上記電源装置に
対して電力指令を与える制御回路と、この制御回路に接
続され上記レーザ発振器の入出力特性が記憶されている
記憶手段から構成されたレーザ発振器の上記制御回路に
おいて、上記制御回路は、通常時に上記レーザ出力指令
及び上記検出手段の出力信号に基づいて一定レーザ出力
制御を行う部分と、上記測定手段が測定した上記検出手
段の抵抗値がある値を越えた時に上記制御回路はが自動
的に上記一定レーザ出力制御から上記記憶手段に記憶さ
れた上記レーザ発振器の入出力特性に基づいた一定電力
制御に切り換えて制御を行なう部分とを有するようにし
たものである。
装置は、第1の発明のレーザ発振器の出力制御装置にお
いて、レーザ出力の強度を指令するレーザ出力指令部が
レーザ加工システム全体を制御するNC制御装置内に備
えられるとともに、測定手段が測定した検出手段の抵抗
値がある値を越えた時に制御回路が出す信号を入力とし
て上記NC制御装置上に検出手段交換時期の表示をする
表示部を備えるようにしたものである。
は、検出手段の抵抗値がある値を越えた時に、制御回路
が自動的に一定レーザ出力制御から一定電力制御に切り
換えるよう作用にする。
装置は、検出手段の抵抗値がある値を越えた時に、制御
回路が自動的に一定レーザ出力制御から一定電力制御に
切り換えるとともに、NC制御装置に警報信号を出力す
るように作用する。
について説明する。図1において、1はレーザ発振器、
1a、1bは一対の電極、1cは一対の電極1a、1b
間に生じる放電、1dはレーザ発振器1内に満たされた
レーザ媒質ガスである。2aは出力ミラー、2bは背面
ミラーで一対で光共振器を構成している。3は出力ミラ
ーから外部に取り出されるレーザ出力、3aは背面ミラ
ーから取り出されるモニタ出力、4はモニタ出力3aを
入力し測定手段9へ出力するパワーセンサ、5は制御回
路(手段)、6は所望のレーザ出力の強度を指令するレ
ーザ出力指令、7は制御回路5から電源装置8に与えら
れる電力指令、8aは電流検出器である。
種々のものがあるが、一般にグロー放電においては放電
ギャップ長、媒質ガスの圧力及び、媒質ガスの成分比率
を適当に選ぶことにより、放電電圧がほぼ一定に維持さ
れる。また、放電電力=放電電圧×放電電流で表され
る。従って、放電電力の値は、放電1cの放電電流値に
比例する。そこで、電源装置8と電極1a、1bとを接
続する電力線路に設けられた電流検出器8aにより、放
電1cの放電電流値を検出し、それをフィードバックす
ることにより、電力指令7の値に比例した電力をレーザ
発振器1に供給できるようになっている。すなわち、本
実施例の装置は、レーザ出力3を検出してフィードバッ
クし、それがレーザ出力指令6に等しくなるようにレー
ザ発振器への供給電力、換言すれば、電力指令値7を増
減させて、一定レーザ出力制御を行うものである。
られた測定手段であり、パワーセンサの抵抗値が測定で
きるようになっている。また、この測定手段9は、制御
回路5にも接続されており、測定されたパワーセンサの
抵抗値に比例する電圧信号を、制御回路5に出力してい
る。10は、制御回路5に接続して設けられた記憶手段
であり、その入力線及び出力線が、制御回路5に接続さ
れている。記憶手段10には、レーザ発振器1の入出力
特性(放電電流Idとレーザ出力Wrとの関係)が記憶
されていて、制御回路5からの入力信号10a(=所望
のレーザ出力値)に対応した電力指令値を、出力信号1
0bとして制御装置5に出力するように動作する。
を詳細に図示したものである。図2において、4aはモ
ニタ出力3aを適当な出力に減衰する減衰器、4bは、
減衰器4aの出力を入力とするパワーセンサであり、熱
電対から成る。9aはパワーセンサ4bの出力線に接続
された第1の信号選択器であり、後述するバッファ5l
の出力信号に応じて、パワーセンサ4bの出力線を、後
述する第1の増幅器5aまたは後述するブリッジ回路の
いずれかに、選択的に接続するように動作する。すなわ
ち、バッファ5lの出力信号が「1」である時は、パワ
ーセンサ4bの出力線は、後述するブリッジ回路に接続
される。また、バッファ5lの出力信号が「0」である
時は、パワーセンサ4bの出力線は、後述する第1の増
幅器5aに接続される。9b、9c、9dはブリッジ回
路を構成する抵抗器であり、9eはブリッジ回路に電圧
を印加する直流電圧源である。上述のようにパワーセン
サ4bの出力線が、第1の信号選択器9aの動作によ
り、9b、9c、9d、9eで構成されるこのブリッジ
回路に接続された場合に、パワーセンサ4bの抵抗値r
は、 r=R(E−2E0)/(E+2E0) (Ω)・・・・・式(1) (ただし、E>2E0、r<R) r :パワーセンサ4bの抵抗値(Ω) R :抵抗器9b、9c、9dの抵抗値(Ω) E :直流電圧源9eの電圧値(V) E0 :ブリッジ回路の9f、9g間に発生する電圧値
(V) で与えられる。従ってR、Eの値が既知であるとき、E
0 の値が解れば式(1)に基づいて演算をすることによ
り、パワーセンサ4bの抵抗値rが求められる。
おいて、5aは第1の増幅器である。上述のようにパワ
ーセンサ4bの出力線が、第1の信号選択器9aの動作
によりこの第1の増幅器5aに接続された場合に、パワ
ーセンサ4bを構成する熱電対に発生する微少な出力電
圧を増幅するものである。この微少な出力電圧は、レー
ザ出力3の出力強度に比例している。5bは演算器であ
り、ブリッジ回路内の2点9f、9g間に発生する電圧
を入力とし、上記の式(1)に基づいて演算を行ってパ
ワーセンサ4bの抵抗値rを求める動作をする。5c
は、演算器5bの出力信号と、基準電圧信号5dとを入
力とする比較器であり、 (演算器5bの出力信号値)≧(基準電圧信号値5d) である時、信号「1」を出力する。逆に、 (演算器5bの出力信号値)<(基準電圧信号値5d) である時、信号「0」を出力する。5eは、周知のAN
D回路である。
るラッチ回路であり、初期状態での出力は「0」である
が、いったん入力が「1」になると、以後リセットされ
るまで出力を「1」に保つ動作をする。5gは、ラッチ
回路5fの出力線に接続された第2の信号選択器であ
り、ラッチ回路5fの出力信号に応じて、後述する誤差
増幅器5iの出力または、上述した記憶手段10の出力
のいずれかを、上述した電源装置8へ、電力指令7とし
て選択的に接続するものである。すなわち、ラッチ回路
5fの出力信号が「1」である時は、記憶手段10の出
力線10bが、電力指令7として電源装置8へ接続され
る。ラッチ回路5fの出力信号が「0」である時は、誤
差増幅器5iの出力線が、電力指令7として電源装置8
へ接続される。
6の値と、第1の増幅器5aの出力信号の値とを比較増
幅した信号を、第2の信号選択器5gへ出力する。5h
は、図1では図示しなかったが、レーザ発振器1のレー
ザ出力3の「入り/切り」を選択するスイッチであり、
スイッチ5hが「閉」の時、レーザ発振の「しきい値」
以上の電力が電源装置8からレーザ発振器1へ供給さ
れ、レーザ出力3が出力される。以下、この状態を「ビ
ームON」という。逆に、スイッチ5hが「開」の時、
レーザ発振の「しきい値」未満の電力が電源装置8から
レーザ発振器1へ供給されるので、レーザ発振は起こら
ず、レーザ出力3は出力されない。以下、この状態を
「ビームOFF」という。5jは、制御回路5の制御電
源、5kは、制御電源5jのグラウンドである。5l
は、その入力がスイッチ5hに接続された周知のバッフ
ァ回路であり、その出力は、「ビームON」の時
「0」、「ビームOFF」の時「1」となる。
び図2に従って説明する。スイッチ5hが「閉」、すな
わち「ビームON」の時、上述したようにレーザ発振の
「しきい値」以上の電力が電源装置8からレーザ発振器
1へ供給されてレーザ発振が起こり、レーザ出力3が出
力される。この時パワーセンサ4bの出力線は、上述し
た第1の信号選択器9aの動作により、第1の増幅器5
aに接続されているので、制御回路5は、所望のレーザ
出力に相当するレーザ出力指令6の値と、出力されたレ
ーザ出力3の強度に相当する第1の増幅器5aの出力信
号の値とを、誤差増幅器5iにより比較増幅した信号
を、第2の信号選択器5gへ出力する。この時、ラッチ
回路5fの出力信号は「0」であるので、誤差増幅器5
iの出力線が、電力指令(すなわち放電電流指令)7と
して電源装置8へ接続されるように、第2の信号選択器
5gが動作している。すなわち、「ビームON」の時、
レーザ出力3を検出してフィードバックし、レーザ出力
3がレーザ出力指令6に等しくなるようにレーザ発振器
の入力電力(言い換えれば放電電流)を増減させて、一
定レーザ出力制御を行うように動作している。
する。「ビームOFF」の時には、上述したように、レ
ーザ発振の「しきい値」未満の電力が電源装置8からレ
ーザ発振器1へ供給されるのでレーザ発振は起こらず、
レーザ出力3は出力されない。この時パワーセンサ4b
の出力線は、第1の信号選択器9aの動作により、ブリ
ッジ回路に接続されており、ブリッジ回路の9f、9g
間に発生した電圧は、演算器5bにより演算されて、パ
ワーセンサ4bの抵抗値が求められる。比較器5cは、
演算器5bの出力信号、すなわち、パワーセンサ4bの
抵抗値に相当する電圧値と、パワーセンサ4bの劣化の
目安となる基準電圧信号5dの値とを比較して、 (演算器5bの出力信号値)≧(基準電圧信号値5dの
値) である時、信号「1」を出力する。逆に、 (演算器5bの出力信号値)<(基準電圧信号値5dの
値) である時、信号「0」を出力する。
値) であった場合には、ラッチ回路5fの出力は、「0」の
ままなので、次に、「ビームON」した時の動作は、前
述のように、一定レーザ出力制御を行うように動作す
る。逆に、 (演算器5bの出力信号値)≧(基準電圧信号値5dの
値) であった場合には比較器5cの出力は「1」となり、ま
た「ビームOFF」の時にはバッファ回路5lの出力も
「1」であるため、AND回路5fの出力は「1」とな
り、ラッチ回路5fの出力は、「1」に変わりラッチさ
れる。従って、次に「ビームON」した時には、前述の
ように、記憶手段10の出力線10bが、電力指令(す
なわち放電電流指令)7として電源装置8へ接続される
ように、第2の信号選択器5gが動作する。すなわち、
「ビームON」の時、予め記憶手段10に記憶されたレ
ーザ発振器1の入出力特性(レーザ出力Wrと放電電流
Idとの関係を表すもの)に基づいて、所望のレーザ出
力指令6に相当する、電力指令(放電電流指令)7が出
力されるため、一定電力制御が行われる。ここでラッチ
回路5fの出力は、いったん「1」に変わると以後リセ
ットされるまでは「1」のままラッチされるので、以後
の「ビームON」時にも引き続き一定電力制御が行われ
る。
一定電力制御が行なわれている場合を示すブロック図で
ある。この図を用いてその動作について説明する。制御
装置5はレーザ出力指令6の値(所望のレーザ出力値)
を入力し、それを記憶手段10に出力する。記憶手段1
0はその入力(10a)に対応した出力(10b)を、
記憶しているレーザ発振器の入出力特性(レーザ出力W
r−放電電流Id、またはWr−放電電力Wdの関係)
に基づいて、制御装値5に出力する。制御装置5は、そ
れを電流指令(または電力指令)7として電源装値8に
出力する。電源装置8は、電極1a、1bに電力を供給
しつつ、放電電流Idを電流検出器8によりフィードバ
ックして、放電電流Id(または放電電力Wd)が電流
指令7に等しくなるように、制御を行なうものである。
図4は、上記19項及び20項で説明した動作(ビーム
ON時及びビームOFF時の動作)をフローチャートで
示したものである。
5にて説明する。図5において、11はレーザ加工シス
テム全体(発振器、冷却装置、駆動テーブル、加工ヘッ
ド、等)を制御するNC制御装置である。図6は、図5
において破線で囲まれた部分を詳細に図示したものであ
る。図6において、5fは、AND回路5eの出力を入
力とするラッチ回路であり、5mは、ラッチ回路5fの
出力信号であり、NC制御装置11に接続されている。
6は、NC制御装置11から制御回路5へ出力されるレ
ーザ出力指令、5hは、同じくNC制御装置11から制
御回路5へ出力されるビームON/OFFスイッチであ
る。11aは、NC制御装置11上に設置された表示装
置(CRT等)である。
び図6に従って説明する。第1の発明の動作と同様に、
スイッチ5hが「閉」、すなわち「ビームON」の時、
上述したように、レーザ発振の「しきい値」以上の電力
が電源装置8からレーザ発振器1へ供給されてレーザ発
振が起こり、レーザ出力3が出力される。この時パワー
センサ4bの出力線は、第1の信号選択器9aの動作に
より、第1の増幅器5aに接続されているので、制御回
路5は、所望のレーザ出力に相当するレーザ出力指令6
の値と、出力されたレーザ出力のの強度に相当する第1
の増幅器5aの出力信号の値とを、誤差増幅器5iによ
り比較増幅した信号を、第2の信号選択器5gへ出力す
る。
「0」であるので、誤差増幅器5iの出力線が、電力指
令(放電電流指令)7として電源装置8へ接続されるよ
うに、第2の信号選択器5gが動作している。すなわ
ち、「ビームON」の時、レーザ出力3を検出してフィ
ードバックし、レーザ出力3がレーザ出力指令6に等し
くなるようにレーザ発振器の入力電力(放電電流)を増
減させて、一定レーザ出力制御を行うように動作してい
る。また、この時、ラッチ回路5fの出力信号5mが
「0」、すなわち「パワーセンサ正常」であるため、N
C制御装置11上に設置された表示装置は、パワーセン
サに関しては何ら表示しない。
する。「ビームOFF」の時には、上述したように、レ
ーザ発振の「しきい値」未満の電力が電源装置8からレ
ーザ発振器1へ供給されるのでレーザ発振は起こらず、
レーザ出力3は出力されない。この時パワーセンサ4b
の出力線は、第1の信号選択器9aの動作により、ブリ
ッジ回路に接続されており、ブリッジ回路の9f、9g
間に発生した電圧は、演算器5bにより演算されて、パ
ワーセンサ4bの抵抗値が求められる。比較器5cは、
演算器5bの出力信号、すなわち、パワーセンサ4bの
抵抗値に相当する電圧値と、パワーセンサ4bの劣化の
目安となる基準電圧信号5dの値とを比較して、 (演算器5bの出力信号値)≧(基準電圧信号値5dの
値) である時、信号「1」を出力する。逆に、 (演算器5bの出力信号値)<(基準電圧信号値5dの
値) である時、信号「0」を出力する。
値) であった場合には、ラッチ回路5fの出力は、「0」の
ままなので、次に、「ビームON」した時の動作は、前
述のように、一定レーザ出力制御を行うように動作す
る。逆に、 (演算器5bの出力信号値)≧(基準電圧信号値5dの
値) であった場合には、比較器5cの出力は「1」となり、
またバッファ回路5lの出力も「1」であるため、AN
D回路5fの出力は「1」となり、ラッチ回路5fの出
力は、「1」に変わりラッチされる。この時、ラッチ回
路5fの出力信号5mが「1」、すなわち「パワーセン
サ異常」となるため、NC制御装置11上に設置された
表示装置は、「パワーセンサ交換時期」の表示をする。
は、前述のように、記憶手段10の出力線10bが、電
力指令(放電電流指令)7として電源装置8へ接続され
るように、第2の信号選択器5gが動作する。すなわ
ち、「ビームON」の時、予め記憶手段10に記憶され
たレーザ発振器1の入出力特性(レーザ出力Wrと放電
電流Idとの関係を表すもの)に基づいて、所望のレー
ザ出力指令6に相当する、電力指令(電流指令)7が出
力されるため、一定電力制御が行われる。ここで、ラッ
チ回路5fの出力は、いったん「1」に変わると以後リ
セットされるまでは「1」のままラッチされるので、以
後の「ビームON」時にも引き続き一定電力制御が行わ
れる。同様に、NC制御装置11上に設置された表示装
置は、「パワーセンサ交換時期」の表示を持続する。
御装置では、測定手段が測定したパワーセンサの抵抗値
がある値を越えた時に、制御回路が、自動的に、一定レ
ーザ出力制御から、一定電力制御に切り換えるようにし
たので、レーザ発振器で被加工物を加工している時に、
パワーセンサの特性が急変し、その検出出力値がゼロに
なり、一定レーザ出力制御が不能になって、被加工物が
全て不良品になってしまうという不具合を未然に防止で
きる効果がある。
装置では、制御回路は、レーザ加工システム全体を制御
するNC制御装置に接続されており、上記測定手段が測
定したパワーセンサの抵抗値がある値を越えた時に、上
記制御回路が、自動的に一定レーザ出力制御から、上記
記憶手段に記憶されたレーザ発振器の入出力特性に基づ
いて、一定電力制御に切り換えるとともに、このNC制
御装置に警報信号を出力して、NC制御装置上の表示装
置に表示するようにしたので、第1の発明と同様、被加
工物が全て不良品になってしまうという不具合を未然に
防止できる効果があるとともに、パワーセンサの交換時
期が明確になり、レーザ加工作業者のメンテナンス上の
便宜を図ることができる効果がある。
出力制御装置の構成を示すブロック図である。
ある。
一定電力制御を示すブロック図である。
パワーセンサの劣化を検出するステップを示すフローチ
ャート図である。
出力制御装置の構成を示すブロック図である。
ある。
すブロック図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 レーザ発振器と、このレーザ発振器に励
起電力を供給する電源装置と、上記レーザ発振器の出力
するレーザ光の強度を検出する検出手段と、この検出手
段に接続され上記検出手段の特性値を測定する測定手段
と、上記検出手段の出力信号に応じて出力される上記測
定手段の出力信号およびレーザ出力の強度を指令するレ
ーザ出力指令部からのレーザ出力指令とを入力とし上記
電源装置に対して電力指令を与える制御手段と、この制
御手段に接続され上記レーザ発振器の入出力特性が記憶
されている記憶手段から構成され、上記制御手段は、上
記レーザ出力指令及び上記検出手段の出力信号に基づい
て一定レーザ出力制御を行う部分と、上記記憶手段に記
憶された上記レーザ発振器の入出力特性に基づいた一定
電力制御にて制御を行なう部分とを有することを特徴と
するレーザ発振器の出力制御装置。 - 【請求項2】 請求項1記載のレーザ発振器の出力制御
装置において、レーザ出力の強度を指令するレーザ出力
指令部がNC制御装置内に備えられるとともに、検出手
段の特性値が異常状態を示す時に上記NC制御装置上に
上記検出手段の交換時期の表示をする表示部を備えるよ
うにしたことを特徴とするレーザ発振器の出力制御装
置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5001185A JP2830671B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | レーザ発振器の出力制御装置 |
TW082100857A TW237572B (ja) | 1993-01-07 | 1993-02-09 | |
DE4400184A DE4400184C2 (de) | 1993-01-07 | 1994-01-05 | Ausgangsleistungs-Regelvorrichtung und -Regelverfahren für Laseroszillatoren |
US08/178,002 US5499257A (en) | 1993-01-07 | 1994-01-06 | Output control apparatus for laser oscillator |
US08/520,643 US5638389A (en) | 1993-01-07 | 1995-08-29 | Output control apparatus for laser oscillator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5001185A JP2830671B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | レーザ発振器の出力制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06204596A true JPH06204596A (ja) | 1994-07-22 |
JP2830671B2 JP2830671B2 (ja) | 1998-12-02 |
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US20030174744A1 (en) * | 2002-03-13 | 2003-09-18 | Reilly Timothy J. | Digital control of burst mode laser |
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KR100576156B1 (ko) * | 2003-10-22 | 2006-05-03 | 삼성전자주식회사 | 댐이 형성된 반도체 장치 및 그 반도체 장치의 실장 구조 |
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US5003624A (en) * | 1990-03-29 | 1991-03-26 | Hughes Aircraft Company | Automatic bias controller for electro-optic modulator |
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US5280536A (en) * | 1991-10-11 | 1994-01-18 | Coherent, Inc. | Method and apparatus for supplying pulsed power to an ophthalmic laser system |
US5272716A (en) * | 1991-10-15 | 1993-12-21 | Mcdonnell Douglas Corporation | Hand held laser apparatus |
FR2694423B1 (fr) * | 1992-07-30 | 1994-12-23 | France Telecom | Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser. |
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Cited By (1)
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