JPH06128088A - 酸化亜鉛単結晶の育成方法 - Google Patents
酸化亜鉛単結晶の育成方法Info
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- JPH06128088A JPH06128088A JP27854292A JP27854292A JPH06128088A JP H06128088 A JPH06128088 A JP H06128088A JP 27854292 A JP27854292 A JP 27854292A JP 27854292 A JP27854292 A JP 27854292A JP H06128088 A JPH06128088 A JP H06128088A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 a軸のみならずc軸方向にも大きなZnO
単結晶を育成し、育成効率の向上したZnO単結晶の育
成方法を提供する。 【構成】 ZnO単結晶を水熱条件下で育成する。種
結晶を複数個用い、これら種結晶のc軸極性を合致さ
せ、エピタキシーを利用して水熱条件下で種結晶同士を
接合する。 【効果】 水熱条件下では、ZnO種結晶はa軸方向
に選択的に成長するので、c軸及びa軸の双方の方向に
大きなZnO単結晶が得られる。
単結晶を育成し、育成効率の向上したZnO単結晶の育
成方法を提供する。 【構成】 ZnO単結晶を水熱条件下で育成する。種
結晶を複数個用い、これら種結晶のc軸極性を合致さ
せ、エピタキシーを利用して水熱条件下で種結晶同士を
接合する。 【効果】 水熱条件下では、ZnO種結晶はa軸方向
に選択的に成長するので、c軸及びa軸の双方の方向に
大きなZnO単結晶が得られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、酸化亜鉛(ZnO)の
単結晶の育成方法に関し、更に詳細には、音響電気効果
素子として好適に用いることができるZnO単結晶の育
成方法に関する。
単結晶の育成方法に関し、更に詳細には、音響電気効果
素子として好適に用いることができるZnO単結晶の育
成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】酸化亜鉛(ZnO)は、化学組成がZn
過剰であるn形半導体であり、また、その結晶構造から
圧電体としても注目されてきた物質である。現在、Zn
Oの利用は薄膜によって行われているが、膜が多結晶で
あるため粒界の影響を受け、伝搬損失が大となるため利
用できないという問題があり、このため、高純度ZnO
の単結晶化が重要な課題となっている。
過剰であるn形半導体であり、また、その結晶構造から
圧電体としても注目されてきた物質である。現在、Zn
Oの利用は薄膜によって行われているが、膜が多結晶で
あるため粒界の影響を受け、伝搬損失が大となるため利
用できないという問題があり、このため、高純度ZnO
の単結晶化が重要な課題となっている。
【0003】ZnOの単結晶化に関しては、「高純度Z
nO単結晶の水熱育成とストイキオメトリーの評価」
(坂上 登著、昭和63年2月、秋田高専研究紀要第2
3号)が報告されている。この文献には水熱合成法によ
るZnO単結晶の育成が記載されており、この育成法に
よれば、ZnO焼結体を結晶育成装置内の下部に、一
方、ZnO種結晶を該育成装置の上部にそれぞれ配置
し、次いで、KOH及びLiOHから成るアルカリ溶媒
を充填する。この状態で、結晶育成装置内を370〜4
00℃の育成温度、700〜1000kg/cm2の圧
力で運転を行うが、ここで、結晶育成装置内の上部と下
部で、下部の温度が上部の温度より10〜15℃高くな
るように運転することにより、ZnOの単結晶を育成す
る。
nO単結晶の水熱育成とストイキオメトリーの評価」
(坂上 登著、昭和63年2月、秋田高専研究紀要第2
3号)が報告されている。この文献には水熱合成法によ
るZnO単結晶の育成が記載されており、この育成法に
よれば、ZnO焼結体を結晶育成装置内の下部に、一
方、ZnO種結晶を該育成装置の上部にそれぞれ配置
し、次いで、KOH及びLiOHから成るアルカリ溶媒
を充填する。この状態で、結晶育成装置内を370〜4
00℃の育成温度、700〜1000kg/cm2の圧
力で運転を行うが、ここで、結晶育成装置内の上部と下
部で、下部の温度が上部の温度より10〜15℃高くな
るように運転することにより、ZnOの単結晶を育成す
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな水熱合成法によるZnO単結晶の育成においては、
六方晶構造におけるa軸方向に選択的に結晶成長し、c
軸方向にはほとんど成長しないという課題があった。従
って、c軸方向に大きなZnO単結晶を得ることができ
ず、得られるZnO単結晶全体としては、育成効率が良
くないという課題があった。本発明は、このような従来
技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、その目
的とするところは、上記a軸方向のみならずc軸方向に
も大きなZnO単結晶を育成し、育成効率の向上したZ
nO単結晶の育成方法を提供することにある。
うな水熱合成法によるZnO単結晶の育成においては、
六方晶構造におけるa軸方向に選択的に結晶成長し、c
軸方向にはほとんど成長しないという課題があった。従
って、c軸方向に大きなZnO単結晶を得ることができ
ず、得られるZnO単結晶全体としては、育成効率が良
くないという課題があった。本発明は、このような従来
技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、その目
的とするところは、上記a軸方向のみならずc軸方向に
も大きなZnO単結晶を育成し、育成効率の向上したZ
nO単結晶の育成方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記目的を
達成すべく鋭意研究した結果、複数のZnO種結晶のc
面同士をエピタキシーを利用して接合することにより、
上記目的が達成できることを見出し本発明を完成するに
至った。従って、本発明のZnO単結晶の育成方法は、
ZnO単結晶を水熱合成法を用いて育成するに当たり、
複数の種結晶のc面同士を、c軸極性を合致させて当接
させ、しかる後、水熱条件下で育成することを特徴とす
る。
達成すべく鋭意研究した結果、複数のZnO種結晶のc
面同士をエピタキシーを利用して接合することにより、
上記目的が達成できることを見出し本発明を完成するに
至った。従って、本発明のZnO単結晶の育成方法は、
ZnO単結晶を水熱合成法を用いて育成するに当たり、
複数の種結晶のc面同士を、c軸極性を合致させて当接
させ、しかる後、水熱条件下で育成することを特徴とす
る。
【0006】
【作用】本発明の育成方法においては、複数のZnO種
結晶のc面同士を当接させることにより、これら種結晶
同士を当接させる。また、この当接は、c軸極性を合致
させて行う。そして、当接させた種結晶を水熱条件下で
育成すると、上記当接に供されたc面同士がエピタキシ
ー作用により接合・一体化し、c軸方向に大きく且つ均
一な種結晶を生成する。このc軸方向に大きな種結晶
は、水熱条件下においてa軸方向に選択的に成長する。
この結果、c軸及びa軸方向の双方に大きなZnO単結
晶が得られることになる。
結晶のc面同士を当接させることにより、これら種結晶
同士を当接させる。また、この当接は、c軸極性を合致
させて行う。そして、当接させた種結晶を水熱条件下で
育成すると、上記当接に供されたc面同士がエピタキシ
ー作用により接合・一体化し、c軸方向に大きく且つ均
一な種結晶を生成する。このc軸方向に大きな種結晶
は、水熱条件下においてa軸方向に選択的に成長する。
この結果、c軸及びa軸方向の双方に大きなZnO単結
晶が得られることになる。
【0007】次に、本発明のZnO単結晶の育成方法に
ついて詳細に説明する。まず、複数のZnO種結晶を用
意する。特に限定されるわけではないが、育成させて得
られるZnO単結晶を後加工するのが容易であるところ
から、複数の種結晶は相互にほぼ同一形状をなしている
のが好ましい。ほぼ同一形状をなすZnO種結晶の作成
方法としては、例えば、1個の種結晶を2個、3個等の
複数個に分割することが挙げられる。即ち、例えば、Z
nO種結晶を、適当な(10−10)面又は(−101
0)面に沿って切断し、頂面及び底面が(0001)面
及び(000−1)面、側面が(10−10)面、(−
1010)面、(−12−10)面及び(1−210)
面によって規定される4角柱を得る。次いで、この4角
柱を適当な(10−10)面又は(−1010)に沿っ
て複数個に均等分割し、ほぼ同一形状をなす複数のZn
O種結晶を得ることができる。
ついて詳細に説明する。まず、複数のZnO種結晶を用
意する。特に限定されるわけではないが、育成させて得
られるZnO単結晶を後加工するのが容易であるところ
から、複数の種結晶は相互にほぼ同一形状をなしている
のが好ましい。ほぼ同一形状をなすZnO種結晶の作成
方法としては、例えば、1個の種結晶を2個、3個等の
複数個に分割することが挙げられる。即ち、例えば、Z
nO種結晶を、適当な(10−10)面又は(−101
0)面に沿って切断し、頂面及び底面が(0001)面
及び(000−1)面、側面が(10−10)面、(−
1010)面、(−12−10)面及び(1−210)
面によって規定される4角柱を得る。次いで、この4角
柱を適当な(10−10)面又は(−1010)に沿っ
て複数個に均等分割し、ほぼ同一形状をなす複数のZn
O種結晶を得ることができる。
【0008】次に、得られたZnO種結晶のc面、即ち
(0001)面又は(000−1)面を、好ましくは鏡
面レベルで平滑な面に研磨する。また、本発明の育成方
法においては、原子レベルで平滑な面に研磨するのが更
に好ましい。研磨法は、特に限定されるものではない
が、例えば、EEM加工(Elastic Emiss
ion Machining)により行うことができ
る。これに用いる研磨剤も、特に限定されるものではな
く、SiO2、Al2O3、ZrO2等が例示できるが、コ
ロイダル・シリカが好ましい。このように、c面を平滑
にする理由は、c面が粗いと結晶成長の速度が速くな
り、接合せんとするc面同士の整合性が損なわれ易いか
らである。なお、上述の処理は、手順を逆転、即ち、先
に研磨し、その後に種結晶を分割してもよい。
(0001)面又は(000−1)面を、好ましくは鏡
面レベルで平滑な面に研磨する。また、本発明の育成方
法においては、原子レベルで平滑な面に研磨するのが更
に好ましい。研磨法は、特に限定されるものではない
が、例えば、EEM加工(Elastic Emiss
ion Machining)により行うことができ
る。これに用いる研磨剤も、特に限定されるものではな
く、SiO2、Al2O3、ZrO2等が例示できるが、コ
ロイダル・シリカが好ましい。このように、c面を平滑
にする理由は、c面が粗いと結晶成長の速度が速くな
り、接合せんとするc面同士の整合性が損なわれ易いか
らである。なお、上述の処理は、手順を逆転、即ち、先
に研磨し、その後に種結晶を分割してもよい。
【0009】次に、ZnO単結晶を育成する原料として
用いるZnO焼結体を、常法に従って製造する。得られ
た焼結体のうち1〜2mm程度のものを選別するのがよ
い。次に、Ag又はPt等を内部に被覆した育成容器
内、あるいはAg又はPtで作製された育成容器内にに
上記ZnO焼結体を充填する。そして、所要に応じて、
該容器内にバッフル板を設置して、ZnO焼結体を充填
した原料充填部とZnO種結晶を配置する結晶育成部と
に区画する。
用いるZnO焼結体を、常法に従って製造する。得られ
た焼結体のうち1〜2mm程度のものを選別するのがよ
い。次に、Ag又はPt等を内部に被覆した育成容器
内、あるいはAg又はPtで作製された育成容器内にに
上記ZnO焼結体を充填する。そして、所要に応じて、
該容器内にバッフル板を設置して、ZnO焼結体を充填
した原料充填部とZnO種結晶を配置する結晶育成部と
に区画する。
【0010】次いで、ZnO種結晶を該容器内の上方
(バッフル板を用いた場合には、結晶育成部)に配置す
る。この配置に際しては、ZnO種結晶を他のZnO種
結晶に載置し、この際、種結晶同士のc軸極性を合致さ
せる。即ち、上下間の種結晶において、<0001>方
向が同方向を向いているようにする。換言すれば、一方
の種結晶の(000−1)面を他方の種結晶の(000
1)面と当接させるか又は、一方の種結晶の(000
1)面を他方の種結晶の(000−1)面と当接させれ
ばよい。また、ZnO種結晶同士のc軸極性を合致させ
た状態で、焼結によってZnO種結晶同士を当接あるい
は接合させてもよい。
(バッフル板を用いた場合には、結晶育成部)に配置す
る。この配置に際しては、ZnO種結晶を他のZnO種
結晶に載置し、この際、種結晶同士のc軸極性を合致さ
せる。即ち、上下間の種結晶において、<0001>方
向が同方向を向いているようにする。換言すれば、一方
の種結晶の(000−1)面を他方の種結晶の(000
1)面と当接させるか又は、一方の種結晶の(000
1)面を他方の種結晶の(000−1)面と当接させれ
ばよい。また、ZnO種結晶同士のc軸極性を合致させ
た状態で、焼結によってZnO種結晶同士を当接あるい
は接合させてもよい。
【0011】また、上記当接の際、上下間の結晶でa軸
の方位も合致させておくのが好ましい。a軸の方位は、
上述の如く、種結晶の対向する(10−10)面と(−
1010)面を、上下間の種結晶において揃えることに
より合致させることができる。換言すれば、上下間の種
結晶において、<10−10>方向が同方向を向いてい
るようにすればよい。なお、上記結晶面及び方位の特定
は、X線回折等により確認することができる。
の方位も合致させておくのが好ましい。a軸の方位は、
上述の如く、種結晶の対向する(10−10)面と(−
1010)面を、上下間の種結晶において揃えることに
より合致させることができる。換言すれば、上下間の種
結晶において、<10−10>方向が同方向を向いてい
るようにすればよい。なお、上記結晶面及び方位の特定
は、X線回折等により確認することができる。
【0012】このように複数のZnO種結晶を配置した
後、KOHとLiOHを含有するアルカリ溶媒を該育成
容器に注入する。注入の割合は、該容器のフリー内容
積、即ち該容器にZnO焼結体及びバッフル板等を設置
した際に残存する容積の60〜85%とするのが好まし
い。この際、このアルカリ溶媒にZnOを飽和させてお
くのが好ましい。昇温過程において、ZnO種結晶は若
干溶解するので、上述の如く平滑化したc面の平滑性が
損なわれ、この結果、c面同士の整合性が損なわれるの
を回避するためである。また、得られるZnO単結晶を
高純度化するために、更にH2O2を注入してもよい。但
し、この場合には、H202の酸化剤としての性質を考慮
して、育成容器内部をPtで被覆するか又は育成容器自
体をPtで作製する必要がある。
後、KOHとLiOHを含有するアルカリ溶媒を該育成
容器に注入する。注入の割合は、該容器のフリー内容
積、即ち該容器にZnO焼結体及びバッフル板等を設置
した際に残存する容積の60〜85%とするのが好まし
い。この際、このアルカリ溶媒にZnOを飽和させてお
くのが好ましい。昇温過程において、ZnO種結晶は若
干溶解するので、上述の如く平滑化したc面の平滑性が
損なわれ、この結果、c面同士の整合性が損なわれるの
を回避するためである。また、得られるZnO単結晶を
高純度化するために、更にH2O2を注入してもよい。但
し、この場合には、H202の酸化剤としての性質を考慮
して、育成容器内部をPtで被覆するか又は育成容器自
体をPtで作製する必要がある。
【0013】次に、該育成容器をオートクレーブ等の圧
力容器内に設置し、圧力媒体(高温高圧下で腐食性の弱
い物質、好ましくは蒸留水)をこの圧力容器内に注入し
て育成容器を浸漬する。つまり、圧力媒体は圧力容器容
器内のフリー内容積の充填率に応じて、その育成温度に
て圧力を発生するが、その圧力が育成容器内の圧力と同
等あるいは若干高めになるように圧力媒体の充填率を設
定することにより、育成容器を保護する。上記の溶媒及
び溶媒濃度で、圧力媒体が蒸留水の場合には、蒸留水の
充填率は60〜80%とするのが好ましい。次に、該オ
ートクレーブを加熱炉内に設置し、上記育成容器の温度
を上昇させて、上記結晶育成部と原料充填部とを所定温
度に加熱する。この際、結晶育成部の温度を原料充填部
の温度より約5〜25℃、好ましくは約10〜20℃低
くするのがよい。即ち、結晶育成部の温度は360〜4
00℃、原料充填部温度は380〜420℃とするのが
好ましい。そして、この状態のまま10〜30日間定常
運転して結晶を育成し、その後、加熱炉を停止して室温
に下げ、ZnO単結晶を取り出す。
力容器内に設置し、圧力媒体(高温高圧下で腐食性の弱
い物質、好ましくは蒸留水)をこの圧力容器内に注入し
て育成容器を浸漬する。つまり、圧力媒体は圧力容器容
器内のフリー内容積の充填率に応じて、その育成温度に
て圧力を発生するが、その圧力が育成容器内の圧力と同
等あるいは若干高めになるように圧力媒体の充填率を設
定することにより、育成容器を保護する。上記の溶媒及
び溶媒濃度で、圧力媒体が蒸留水の場合には、蒸留水の
充填率は60〜80%とするのが好ましい。次に、該オ
ートクレーブを加熱炉内に設置し、上記育成容器の温度
を上昇させて、上記結晶育成部と原料充填部とを所定温
度に加熱する。この際、結晶育成部の温度を原料充填部
の温度より約5〜25℃、好ましくは約10〜20℃低
くするのがよい。即ち、結晶育成部の温度は360〜4
00℃、原料充填部温度は380〜420℃とするのが
好ましい。そして、この状態のまま10〜30日間定常
運転して結晶を育成し、その後、加熱炉を停止して室温
に下げ、ZnO単結晶を取り出す。
【0014】ここで、得られるZnO単結晶を、圧電性
半導体、特に音響効果型探触子材料、超音波増幅材料及
び圧電トランスデューサー等に利用する適性を向上させ
るためには、上記注入するH2O2の濃度を適宜調整し
て、ZnO単結晶の電気伝導度を10-3〜10-61/Ω
・cm程度に調整することができる。この場合、H2O2
濃度をアルカリ溶媒1lに対して0.02〜0.1mo
l未満とするのがよい。
半導体、特に音響効果型探触子材料、超音波増幅材料及
び圧電トランスデューサー等に利用する適性を向上させ
るためには、上記注入するH2O2の濃度を適宜調整し
て、ZnO単結晶の電気伝導度を10-3〜10-61/Ω
・cm程度に調整することができる。この場合、H2O2
濃度をアルカリ溶媒1lに対して0.02〜0.1mo
l未満とするのがよい。
【0015】また、H2O2濃度を上記の値より大きくし
てZnO単結晶を育成し、育成後の単結晶にAl等の3
価金属をドープして電気伝導度を上記の値に調整するこ
とも可能である。H2O2濃度がアルカリ溶媒1lに対し
て0.1mol以上の場合には、ZnO単結晶中に15
〜120ppmのAlを拡散させることにより、電気伝
導度を10-3〜10-61/Ω・cmに調整することがで
きる。拡散法としては、例えば、Al(OH)3又はA
l2(CO3)3溶液中にZnO単結晶を浸漬し、次い
で、大気中又はO2気流中700〜1000℃で25〜
300hr拡散処理すればよい。溶液濃度はZnO単結
晶の大きさ及び溶液量によって異なるが、ZnO単結晶
が5×5×5mmの大きさで、溶液量が5mlの場合に
は、Al濃度が50〜200ppmの溶液を用いるのが
よい。
てZnO単結晶を育成し、育成後の単結晶にAl等の3
価金属をドープして電気伝導度を上記の値に調整するこ
とも可能である。H2O2濃度がアルカリ溶媒1lに対し
て0.1mol以上の場合には、ZnO単結晶中に15
〜120ppmのAlを拡散させることにより、電気伝
導度を10-3〜10-61/Ω・cmに調整することがで
きる。拡散法としては、例えば、Al(OH)3又はA
l2(CO3)3溶液中にZnO単結晶を浸漬し、次い
で、大気中又はO2気流中700〜1000℃で25〜
300hr拡散処理すればよい。溶液濃度はZnO単結
晶の大きさ及び溶液量によって異なるが、ZnO単結晶
が5×5×5mmの大きさで、溶液量が5mlの場合に
は、Al濃度が50〜200ppmの溶液を用いるのが
よい。
【0016】更に、H2O2を用いずに育成したZnO単
結晶の場合においても、ZnO単結晶中にLiを15〜
120ppm拡散させることにより、電気伝導度を10
-3〜10-61/Ω・cmに調整することができる。拡散
法としては、例えばLiOH溶液中にZnO単結晶を浸
漬し、次いで、大気中又はO2気流中800〜1000
℃で100〜300hr拡散処理することを挙げること
ができる。溶液濃度はZnO単結晶の大きさ及び溶液量
によって異なるが、ZnO単結晶が5×5×5mmの大
きさで、溶液量が5ml場合には、Li濃度が50〜2
00ppmの溶液を用いるのがよい。
結晶の場合においても、ZnO単結晶中にLiを15〜
120ppm拡散させることにより、電気伝導度を10
-3〜10-61/Ω・cmに調整することができる。拡散
法としては、例えばLiOH溶液中にZnO単結晶を浸
漬し、次いで、大気中又はO2気流中800〜1000
℃で100〜300hr拡散処理することを挙げること
ができる。溶液濃度はZnO単結晶の大きさ及び溶液量
によって異なるが、ZnO単結晶が5×5×5mmの大
きさで、溶液量が5ml場合には、Li濃度が50〜2
00ppmの溶液を用いるのがよい。
【0017】また、上述の如く、ZnO単結晶を音響効
果型探触子材料等に適用する際には、30cm2/V・
sec以上のモビリティー(キャリアの移動度)を有
し、該単結晶内における電気伝導度のバラツキ102以
内であることが一層好ましい。モビリティーの調整は、
上述の育成方法のZnO焼結体の焼成において、不純物
重金属を予め除去することにより行うことができる。従
来の方法ではZnO単結晶中にPb等の不純物元素が混
入し、モビリティーを下げることがあった。Pbは、Z
nO粉末中に約5ppm含まれているが、例えば、Zn
の蒸留を繰り返し、高純度のZnを精製した後、このZ
nを用いて高純度のZnO粉末を製造することができ
る。更に、ZnO単結晶内における電気伝導度のバラツ
キは、上記結晶育成部と原料充填部との温度差△Tを、
育成過程の前半より後半に小さくなるように制御するこ
とで1021/Ω・cm以内に抑制することができる。
この温度差△Tは、具体的には、育成期前半においては
10〜25℃、後半においては5〜10℃とすることを
例示できる。
果型探触子材料等に適用する際には、30cm2/V・
sec以上のモビリティー(キャリアの移動度)を有
し、該単結晶内における電気伝導度のバラツキ102以
内であることが一層好ましい。モビリティーの調整は、
上述の育成方法のZnO焼結体の焼成において、不純物
重金属を予め除去することにより行うことができる。従
来の方法ではZnO単結晶中にPb等の不純物元素が混
入し、モビリティーを下げることがあった。Pbは、Z
nO粉末中に約5ppm含まれているが、例えば、Zn
の蒸留を繰り返し、高純度のZnを精製した後、このZ
nを用いて高純度のZnO粉末を製造することができ
る。更に、ZnO単結晶内における電気伝導度のバラツ
キは、上記結晶育成部と原料充填部との温度差△Tを、
育成過程の前半より後半に小さくなるように制御するこ
とで1021/Ω・cm以内に抑制することができる。
この温度差△Tは、具体的には、育成期前半においては
10〜25℃、後半においては5〜10℃とすることを
例示できる。
【0018】また、上記分割した種結晶は、約10〜1
5日間で接合・一体化し、かつa軸方向にも成長してい
るため、この期間経過後に該種結晶を取り出し、c軸方
向に沿ってこの結晶を分割し、これをZnO種結晶とし
て用い、通常の水熱条件下で育成させてもよい。予めc
軸方向が大きな種結晶を用いることができるため、この
方法によっても、c軸及びa軸方向の双方に大きなZn
O単結晶を得ることができる。なお、この場合には、種
結晶の接合が終了しているので、上記アルカリ溶媒にZ
nOを飽和させなくてもよい。
5日間で接合・一体化し、かつa軸方向にも成長してい
るため、この期間経過後に該種結晶を取り出し、c軸方
向に沿ってこの結晶を分割し、これをZnO種結晶とし
て用い、通常の水熱条件下で育成させてもよい。予めc
軸方向が大きな種結晶を用いることができるため、この
方法によっても、c軸及びa軸方向の双方に大きなZn
O単結晶を得ることができる。なお、この場合には、種
結晶の接合が終了しているので、上記アルカリ溶媒にZ
nOを飽和させなくてもよい。
【0019】
【実施例】以下、本発明を実施例により詳細に説明する
が、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。 (実施例1〜3) (単結晶の育成)ZnO種結晶を、上述の如く切断して
4角柱形状の種結晶を得た。この種結晶を(10−1
0)面に沿って切断して2分割した。得られたそれぞれ
の分割種結晶のc面をEEM法で研磨した。これによ
り、縦7mm×横3mm×厚さ1.5mmの分割種結晶
が2個得られた。
が、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。 (実施例1〜3) (単結晶の育成)ZnO種結晶を、上述の如く切断して
4角柱形状の種結晶を得た。この種結晶を(10−1
0)面に沿って切断して2分割した。得られたそれぞれ
の分割種結晶のc面をEEM法で研磨した。これによ
り、縦7mm×横3mm×厚さ1.5mmの分割種結晶
が2個得られた。
【0020】次に、ZnO粉末500gと蒸留水500
gとを混合し、100℃で2時間乾燥させた。得られた
乾燥体を、酸素雰囲気下、アルミナ容器中1100℃で
24時間焼結し、得られたZnO焼結体から粒径1〜2
mmのものをふるい分けして選別した。200gのZn
O焼結体1を、図1に示す育成容器10に充填した。こ
の育成容器10は、熱電対挿入部12、12’を備え、
内径30mm×高さ300mmのほぼ円筒形状をなし、
内容積は250mlであり、また、その内部にはPtが
被覆されている。次いで、育成容器10内に開孔率5%
のバッフル板3を設置して、該容器10内を原料充填部
14と結晶育成部16とに区画した。
gとを混合し、100℃で2時間乾燥させた。得られた
乾燥体を、酸素雰囲気下、アルミナ容器中1100℃で
24時間焼結し、得られたZnO焼結体から粒径1〜2
mmのものをふるい分けして選別した。200gのZn
O焼結体1を、図1に示す育成容器10に充填した。こ
の育成容器10は、熱電対挿入部12、12’を備え、
内径30mm×高さ300mmのほぼ円筒形状をなし、
内容積は250mlであり、また、その内部にはPtが
被覆されている。次いで、育成容器10内に開孔率5%
のバッフル板3を設置して、該容器10内を原料充填部
14と結晶育成部16とに区画した。
【0021】次いで、上記分割種結晶の一方に、他方の
分割種結晶を載置した。この際、X線回折を用いて、上
述の如くc軸及びa軸の方向を合致させた。その後、図
3に示すように、上側の分割種結晶7aと下側の分割種
結晶7bとをPt線9で締結し、一方、他のPt線9’
を上側の分割種結晶7aに貫通し、このPt線9’の両
端をフレーム5に締結することにより、分割種結晶7a
と7bをフレーム5に固定した。このフレーム5を上記
結晶育成部16に配置した。
分割種結晶を載置した。この際、X線回折を用いて、上
述の如くc軸及びa軸の方向を合致させた。その後、図
3に示すように、上側の分割種結晶7aと下側の分割種
結晶7bとをPt線9で締結し、一方、他のPt線9’
を上側の分割種結晶7aに貫通し、このPt線9’の両
端をフレーム5に締結することにより、分割種結晶7a
と7bをフレーム5に固定した。このフレーム5を上記
結晶育成部16に配置した。
【0022】育成容器10に、3molのKOHと1.
5molのLiOHを含有し且つZnOを飽和させたア
ルカリ溶液を注入した。注入量は育成容器10のフリー
内容積の80%とした。そして、更に、0.08mol
のH2O2を注入した。次いで、図2に示すように、育成
容器10をオートクレーブ20内に設置し、熱電対1
8、18’を配置した後に、オートクレーブ20に蒸留
水22を注入した。注入量はオートクレーブ20のフリ
ー内容積の70%とした。
5molのLiOHを含有し且つZnOを飽和させたア
ルカリ溶液を注入した。注入量は育成容器10のフリー
内容積の80%とした。そして、更に、0.08mol
のH2O2を注入した。次いで、図2に示すように、育成
容器10をオートクレーブ20内に設置し、熱電対1
8、18’を配置した後に、オートクレーブ20に蒸留
水22を注入した。注入量はオートクレーブ20のフリ
ー内容積の70%とした。
【0023】次に、オートクレーブ20をキャップ24
により封止し、このオートクレーブ20を電気炉30内
に設置した。この電気炉30は、育成温度の微調整を可
能にすべく上下2段型の構成となっており、かつ、熱電
対32、34を備えている。次いで、結晶育成部16の
温度が、原料充填部14の温度より常に低くなるように
して昇温し、結晶育成部を380℃、原料充填部を39
5℃に昇温した。このままの状態で20日間定常運転
し、その後に電気炉を室温に下げてから、ZnO単結晶
を取り出した。
により封止し、このオートクレーブ20を電気炉30内
に設置した。この電気炉30は、育成温度の微調整を可
能にすべく上下2段型の構成となっており、かつ、熱電
対32、34を備えている。次いで、結晶育成部16の
温度が、原料充填部14の温度より常に低くなるように
して昇温し、結晶育成部を380℃、原料充填部を39
5℃に昇温した。このままの状態で20日間定常運転
し、その後に電気炉を室温に下げてから、ZnO単結晶
を取り出した。
【0024】(実施例4〜5)上記分割種結晶を3段重
ねにして当接させた以外は、実施例1〜3と同様の操作
を繰り返した。 (性能評価)上記各例で得られたZnO単結晶につき、
縦、横及び厚さの寸法を測定し、得られた結果を表1に
示す。
ねにして当接させた以外は、実施例1〜3と同様の操作
を繰り返した。 (性能評価)上記各例で得られたZnO単結晶につき、
縦、横及び厚さの寸法を測定し、得られた結果を表1に
示す。
【0025】
【表1】
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数のZnO種結晶のc面同士をエピタキシーを利用し
て接合することとしたため、a軸方向のみならずc軸方
向にも大きなZnO単結晶を育成でき、育成効率の向上
したZnO単結晶の育成方法を提供することができる。
複数のZnO種結晶のc面同士をエピタキシーを利用し
て接合することとしたため、a軸方向のみならずc軸方
向にも大きなZnO単結晶を育成でき、育成効率の向上
したZnO単結晶の育成方法を提供することができる。
【図1】本発明に係る育成容器の一例を示す略示的斜視
図である。
図である。
【図2】本発明に係る結晶育成装置の一例を示す略示的
断面図である。
断面図である。
【図3】分割種結晶の配置方法の一例を示す斜視説明図
である。
である。
1 ZnO焼結体 3 バッフル板 5 フレーム 7a、7b 分割種結晶 9、9’ Pt線 10 育成容器 12、12’ 熱電対挿入部 14 原料充填部 16 結晶育成部 18、18’ 熱電対 20 オートクレーブ 22 蒸留水 24 キャップ 30 電気炉 32、34 熱電対
Claims (5)
- 【請求項1】 ZnO単結晶を水熱合成法を用いて育成
するに当たり、複数の種結晶のc面同士を、c軸極性を
合致させて当接させ、しかる後、水熱条件下で育成する
ことを特徴とするZnO単結晶の育成方法。 - 【請求項2】 上記複数の種結晶が、互いにほぼ同一形
状をなすことを特徴とする請求項1記載の育成方法。 - 【請求項3】 上記種結晶同士を当接させる際に、a軸
方向も合致させることを特徴とする請求項1又は2記載
の育成方法。 - 【請求項4】 育成に用いる溶媒として、ZnOが飽和
しているアルカリ溶液を用いることを特徴とする請求項
1〜3のいずれか1つの項に記載の育成方法。 - 【請求項5】 請求項1記載の育成法により得られたZ
nO単結晶を、種結晶として用い、水熱条件下で育成す
ることを特徴とするZnO単結晶の育成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27854292A JPH06128088A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 酸化亜鉛単結晶の育成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27854292A JPH06128088A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 酸化亜鉛単結晶の育成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06128088A true JPH06128088A (ja) | 1994-05-10 |
Family
ID=17598715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27854292A Withdrawn JPH06128088A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 酸化亜鉛単結晶の育成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06128088A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1335044A4 (en) * | 2000-03-27 | 2003-08-13 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | ZINC OXIDE SEMICONDUCTOR MATERIAL |
JP2004002152A (ja) * | 2002-02-22 | 2004-01-08 | Mitsubishi Chemicals Corp | 窒化物単結晶の製造方法 |
CN100352972C (zh) * | 2005-06-22 | 2007-12-05 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 大尺寸ZnO籽晶的拼装方法 |
JP2008251569A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Stanley Electric Co Ltd | 半導体装置とその製造方法、及びテンプレート基板 |
WO2015029569A1 (ja) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | 株式会社村田製作所 | 人工水晶の育成方法 |
-
1992
- 1992-10-16 JP JP27854292A patent/JPH06128088A/ja not_active Withdrawn
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1335044A4 (en) * | 2000-03-27 | 2003-08-13 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | ZINC OXIDE SEMICONDUCTOR MATERIAL |
US6936188B1 (en) | 2000-03-27 | 2005-08-30 | Tohoku Techno Arch Co., Ltd. | Zinc oxide semiconductor material |
JP2004002152A (ja) * | 2002-02-22 | 2004-01-08 | Mitsubishi Chemicals Corp | 窒化物単結晶の製造方法 |
CN100352972C (zh) * | 2005-06-22 | 2007-12-05 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 大尺寸ZnO籽晶的拼装方法 |
JP2008251569A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Stanley Electric Co Ltd | 半導体装置とその製造方法、及びテンプレート基板 |
WO2015029569A1 (ja) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | 株式会社村田製作所 | 人工水晶の育成方法 |
CN105518188A (zh) * | 2013-08-29 | 2016-04-20 | 株式会社村田制作所 | 人造水晶的培育方法 |
JP6083474B2 (ja) * | 2013-08-29 | 2017-02-22 | 株式会社村田製作所 | 人工水晶の育成方法 |
US9976232B2 (en) | 2013-08-29 | 2018-05-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Artificial quartz crystal growth method |
CN105518188B (zh) * | 2013-08-29 | 2020-06-26 | 株式会社村田制作所 | 人造水晶的培育方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |