JPH0595237A - 電荷増幅器回路 - Google Patents
電荷増幅器回路Info
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- JPH0595237A JPH0595237A JP4080050A JP8005092A JPH0595237A JP H0595237 A JPH0595237 A JP H0595237A JP 4080050 A JP4080050 A JP 4080050A JP 8005092 A JP8005092 A JP 8005092A JP H0595237 A JPH0595237 A JP H0595237A
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- H03F3/70—Charge amplifiers
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- G—PHYSICS
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- G06G—ANALOGUE COMPUTERS
- G06G7/00—Devices in which the computing operation is performed by varying electric or magnetic quantities
- G06G7/12—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers
- G06G7/18—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals
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- G06G7/1865—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals using capacitive elements using an operational amplifier comprising a capacitor or a resistor in the feedback loop with initial condition setting
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- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
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- H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定結果に誤りを与える漏れ電流を最小化す
るための、リセット用の制御ループを有する電荷増幅器
回路を提供する。 【構成】 本電荷増幅器回路は、前記ループ内に逆平行
に接続され、集積回路（ＩＳＫ）の入力保護ダイオード
を構成する２つのダイオード（Ｄ1 およびＤ2 ）を含
む。動作（測定）相においては、ダイオード抵抗
（ＲD ）は極めて大きく、ダイオード対における電圧降
下は小さいので、電荷増幅器の入力（ＩＮQ ）へ通過す
る漏れ電流は無視できるようになる。一方、リセット相
においては、ダイオード抵抗（ＲDr）は実際上ゼロにな
る。
るための、リセット用の制御ループを有する電荷増幅器
回路を提供する。 【構成】 本電荷増幅器回路は、前記ループ内に逆平行
に接続され、集積回路（ＩＳＫ）の入力保護ダイオード
を構成する２つのダイオード（Ｄ1 およびＤ2 ）を含
む。動作（測定）相においては、ダイオード抵抗
（ＲD ）は極めて大きく、ダイオード対における電圧降
下は小さいので、電荷増幅器の入力（ＩＮQ ）へ通過す
る漏れ電流は無視できるようになる。一方、リセット相
においては、ダイオード抵抗（ＲDr）は実際上ゼロにな
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、演算増幅器、スイッ
チ、およびダイオードから成る、リセット用制御ループ
を有する電荷増幅器回路に関する。
チ、およびダイオードから成る、リセット用制御ループ
を有する電荷増幅器回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば圧電トランスジューサと併用され
る電荷増幅器回路は、出力基準点が電荷増幅器上におい
てふらつく欠点を有する。このふらつきはドリフトと呼
ばれる。準静的測定においては、ドリフトはその結果を
かなり誤ったものとする。ドリフトの主な原因は増幅器
の入力における漏れ電流である。電荷増幅器をリセット
するのに半導体スイッチが用いられる場合は、その漏れ
電流の大部分はこのスイッチング装置から発生する。
る電荷増幅器回路は、出力基準点が電荷増幅器上におい
てふらつく欠点を有する。このふらつきはドリフトと呼
ばれる。準静的測定においては、ドリフトはその結果を
かなり誤ったものとする。ドリフトの主な原因は増幅器
の入力における漏れ電流である。電荷増幅器をリセット
するのに半導体スイッチが用いられる場合は、その漏れ
電流の大部分はこのスイッチング装置から発生する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の漏れ
電流を減少せしめることにより、実際に行なわれる最も
要求の厳しい準静的測定においてもそれが無視されうる
ようにすることを目的とする。
電流を減少せしめることにより、実際に行なわれる最も
要求の厳しい準静的測定においてもそれが無視されうる
ようにすることを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的は、リセット用
制御ループ内に用いられるダイオードを、集積回路の入
力保護ダイオードとすることによって達成される。
制御ループ内に用いられるダイオードを、集積回路の入
力保護ダイオードとすることによって達成される。
【０００５】
【実施例】以下、添付図面を参照しつつ、本発明を詳述
する。図１は、従来の電荷増幅器回路を示す。例えば、
圧電形トランスジューサは、荷重を受けると、その荷重
に比例する電荷ＱINを演算増幅器Ｏp の−入力に与え
る。この演算増幅器の＋入力は接地され、入力オフセッ
ト電圧はＵo とされている。理想的な演算増幅器におい
ては、増幅器の入力には電流が流入せず、内部利得Ａ
VOL はほとんど無限大であるので、測定中においては
（スイッチＳは動作位置では開放されている）電荷ＱIN
は負帰還キャパシタンス上へ流れる。このようにして、
増幅器の出力には、次式による電圧ＵA が発生する。
する。図１は、従来の電荷増幅器回路を示す。例えば、
圧電形トランスジューサは、荷重を受けると、その荷重
に比例する電荷ＱINを演算増幅器Ｏp の−入力に与え
る。この演算増幅器の＋入力は接地され、入力オフセッ
ト電圧はＵo とされている。理想的な演算増幅器におい
ては、増幅器の入力には電流が流入せず、内部利得Ａ
VOL はほとんど無限大であるので、測定中においては
（スイッチＳは動作位置では開放されている）電荷ＱIN
は負帰還キャパシタンス上へ流れる。このようにして、
増幅器の出力には、次式による電圧ＵA が発生する。
【０００６】
【数１】
【０００７】従って、理想的な電荷増幅器においては、
出力電圧ＵA は、トランスジューサから供給される電荷
ＱINに正比例し、従ってまた測定量（例えば力）にも比
例する。スイッチＳが閉じられたとき（リセット位
置）、キャパシタは無限大となる、すなわちＣ＝∞。従
って、
出力電圧ＵA は、トランスジューサから供給される電荷
ＱINに正比例し、従ってまた測定量（例えば力）にも比
例する。スイッチＳが閉じられたとき（リセット位
置）、キャパシタは無限大となる、すなわちＣ＝∞。従
って、
【０００８】
【数２】 となる。すなわち、再びスイッチＳを開放することによ
って、新しい測定を行なうと始動点はやはりＵO とな
る。
って、新しい測定を行なうと始動点はやはりＵO とな
る。
【０００９】実際の電荷増幅器においては、負帰還キャ
パシタンスＣに流入する漏れ電流が存在し、これがＵA
に対して、またそれに伴って測定結果に対して、誤りを
与える。スイッチＳは高絶縁性のものでなくてはなら
ず、通常は極めて大形のリードリレーである。
パシタンスＣに流入する漏れ電流が存在し、これがＵA
に対して、またそれに伴って測定結果に対して、誤りを
与える。スイッチＳは高絶縁性のものでなくてはなら
ず、通常は極めて大形のリードリレーである。
【００１０】図２は、リセット用の制御ループを有する
電荷増幅器回路を示す。原理的には、この回路は英国特
許第ＧＢ １ ３３０ ４９７号に基づいており、従っ
て１９７３年以後本技術分野はその特許によりカバーさ
れている。以下の実施例は、全て図２に示された実施例
に依存している。図２の回路は、スイッチＳが開放され
ている時（動作位置）は、図１の回路と正確に同様に機
能する。その理由は、リセット用の制御ループが遮断さ
れており、従って、例えば圧電効果によって生じた電荷
ＱINが負帰還キャパシタンスＣ上へ流れ、そこで電圧
電荷増幅器回路を示す。原理的には、この回路は英国特
許第ＧＢ １ ３３０ ４９７号に基づいており、従っ
て１９７３年以後本技術分野はその特許によりカバーさ
れている。以下の実施例は、全て図２に示された実施例
に依存している。図２の回路は、スイッチＳが開放され
ている時（動作位置）は、図１の回路と正確に同様に機
能する。その理由は、リセット用の制御ループが遮断さ
れており、従って、例えば圧電効果によって生じた電荷
ＱINが負帰還キャパシタンスＣ上へ流れ、そこで電圧
【数３】 を作るからである。スイッチＳの開放後は、出力電圧Ｕ
A1は、
A1は、
【００１１】
【数４】 となる。
【００１２】図１の回路におけると同様に、これは出力
電圧がトランスジューサから供給される電荷に正比例
し、従って測定量（力）にも比例することを意味する。
電圧がトランスジューサから供給される電荷に正比例
し、従って測定量（力）にも比例することを意味する。
【００１３】リセットされた時は、負帰還キャパシタン
スＣ上の電荷は、その時閉成されているスイッチＳを経
て流れ去り、キャパシタンスＣにおける電圧はゼロにな
るので、
スＣ上の電荷は、その時閉成されているスイッチＳを経
て流れ去り、キャパシタンスＣにおける電圧はゼロにな
るので、
【００１４】
【数５】 となる。
【００１５】次の測定は、スイッチＳを開く（動作位
置）ことによって、この基準点から開始される。この回
路においてもまた、スイッチＳは開放状態において高絶
縁性のものである。従って、測定相（スイッチＳ開放の
動作相）において漏れ電流が電荷入力ＩＮQ へ流れて出
力電圧ＵA1、またそれによる測定結果に誤りを与えるの
を防止しなくてはならないことは明らかである。図２に
おいて、ＵO1はやはり演算増幅器Ｏp1の入力オフセット
電圧を表わし、また、ＵA2は演算増幅器ＯP2からの出力
電圧であり、ＡVOL1およびＡVOL2は演算増幅器Ｏp1およ
びＯp2の極めて高い開ループ利得である。
置）ことによって、この基準点から開始される。この回
路においてもまた、スイッチＳは開放状態において高絶
縁性のものである。従って、測定相（スイッチＳ開放の
動作相）において漏れ電流が電荷入力ＩＮQ へ流れて出
力電圧ＵA1、またそれによる測定結果に誤りを与えるの
を防止しなくてはならないことは明らかである。図２に
おいて、ＵO1はやはり演算増幅器Ｏp1の入力オフセット
電圧を表わし、また、ＵA2は演算増幅器ＯP2からの出力
電圧であり、ＡVOL1およびＡVOL2は演算増幅器Ｏp1およ
びＯp2の極めて高い開ループ利得である。
【００１６】図３は、電気的に制御されるスイッチング
装置を有する電荷増幅回路を示す。用いられている記号
は、前図におけると同様の意味を有する。電気的に制御
されるスイッチ（鎖線の長方形により示されている）
は、例えば半導体スイッチである。このスイッチング装
置への供給電圧はＵS で表わされている。この供給点か
らは、漏れ電流ｉS が絶縁抵抗ＲS を通って電荷増幅器
の電荷入力ＩＮQ へ流れる。もう１つの漏れ電流ｉ
p は、（動作状態にある）開放されたスイッチＳの絶縁
抵抗Ｒp を通って流れる。これら２つの電流は加算され
て全漏れ電流ｉb となる。それは次式により計算され
る。
装置を有する電荷増幅回路を示す。用いられている記号
は、前図におけると同様の意味を有する。電気的に制御
されるスイッチ（鎖線の長方形により示されている）
は、例えば半導体スイッチである。このスイッチング装
置への供給電圧はＵS で表わされている。この供給点か
らは、漏れ電流ｉS が絶縁抵抗ＲS を通って電荷増幅器
の電荷入力ＩＮQ へ流れる。もう１つの漏れ電流ｉ
p は、（動作状態にある）開放されたスイッチＳの絶縁
抵抗Ｒp を通って流れる。これら２つの電流は加算され
て全漏れ電流ｉb となる。それは次式により計算され
る。
【００１７】
【数６】
【００１８】測定中（スイッチＳ開放の動作状態）にお
いては、この全漏れ電流は電荷入力ＩＮQ へ流れ、前述
のように測定結果に誤差を与える。この現象によって生
じる単位時間あたりのＵA1の電圧変化は、
いては、この全漏れ電流は電荷入力ＩＮQ へ流れ、前述
のように測定結果に誤差を与える。この現象によって生
じる単位時間あたりのＵA1の電圧変化は、
【００１９】
【数７】 となる。
【００２０】例： １００ｐＦのキャパシタンスＣおよ
び１０-11 Ａの漏れ電流の場合（実際上極めてありうる
場合）には、上式によれば１００ｍＶ／ｓｅｃのドリフ
トが存在し、これは１０Ｖのフルスケール出力信号ＵA
の場合ならば、ドリフトが毎秒フルスケール出力の１％
になることを意味する。これは要求の厳しい測定におい
ては、大き過ぎる。
び１０-11 Ａの漏れ電流の場合（実際上極めてありうる
場合）には、上式によれば１００ｍＶ／ｓｅｃのドリフ
トが存在し、これは１０Ｖのフルスケール出力信号ＵA
の場合ならば、ドリフトが毎秒フルスケール出力の１％
になることを意味する。これは要求の厳しい測定におい
ては、大き過ぎる。
【００２１】以上の推論においては、半導体スイッチか
ら発生して電荷増幅器の入力へ供給され、測定中にドリ
フトすることによって測定信号に誤差を与える漏れ電流
が主役を演じてきた。図４および図５には、電荷増幅器
回路における漏れ電流から生じる結果が、やはり簡単化
された形式で概略的に示されている。
ら発生して電荷増幅器の入力へ供給され、測定中にドリ
フトすることによって測定信号に誤差を与える漏れ電流
が主役を演じてきた。図４および図５には、電荷増幅器
回路における漏れ電流から生じる結果が、やはり簡単化
された形式で概略的に示されている。
【００２２】図４においては、演算増幅器Ｏp の−（反
転）入力は、接地に対し、抵抗ＲO 端においてＵO の電
圧にある。このために、ＵO は事実上０に等しいものと
仮定されうる。従って、一定電流
転）入力は、接地に対し、抵抗ＲO 端においてＵO の電
圧にある。このために、ＵO は事実上０に等しいものと
仮定されうる。従って、一定電流
【００２３】
【数８】
【００２４】が−（反転）入力へ流れ、これは同時に負
帰還キャパシタンスＣを越えて、出力ＵA に、
帰還キャパシタンスＣを越えて、出力ＵA に、
【００２５】
【数９】 による一定の電圧変化を与える。
【００２６】時間に対するこのＵA の変化は図５に示さ
れている。それは、電圧源Ｕe のスイッチオンの瞬間
（図におけるｔ＝０）においてはゼロであり、その後、
キャパシタンスＣへ流れ込む電流ｉb が一定であるため
に直線的に変化する。このようにして、図３の回路にお
いては、出力電圧ＵA のドリフトもまた起こる。
れている。それは、電圧源Ｕe のスイッチオンの瞬間
（図におけるｔ＝０）においてはゼロであり、その後、
キャパシタンスＣへ流れ込む電流ｉb が一定であるため
に直線的に変化する。このようにして、図３の回路にお
いては、出力電圧ＵA のドリフトもまた起こる。
【００２７】図６には、このドリフトを防止する１つの
可能な方法が示されている。そこには、スイッチ（例え
ば半導体スイッチ）と電荷増幅器の入力ＩＮQ との間に
ダイオードを含むリセット制御ループを有する電荷増幅
器が示されている。２つのダイオードＤ1 およびＤ2 は
逆平行に接続されている。ノード「ａ」および「ｂ」
は、図８における基準点である。これらのダイオードの
機能は図７によって説明され、図７は、ダイオード対を
通る電流ｉD を、ダイオード電圧ＵD の関数として示し
ている。理想的には、２つの屈曲点電圧−Ｕk および＋
Ｕk の間の特性は事実上水平で、すなわち両ダイオード
を通る電流ｉD は極めて小さく、それらの抵抗ＲD は極
めて大きい。すなわち、
可能な方法が示されている。そこには、スイッチ（例え
ば半導体スイッチ）と電荷増幅器の入力ＩＮQ との間に
ダイオードを含むリセット制御ループを有する電荷増幅
器が示されている。２つのダイオードＤ1 およびＤ2 は
逆平行に接続されている。ノード「ａ」および「ｂ」
は、図８における基準点である。これらのダイオードの
機能は図７によって説明され、図７は、ダイオード対を
通る電流ｉD を、ダイオード電圧ＵD の関数として示し
ている。理想的には、２つの屈曲点電圧−Ｕk および＋
Ｕk の間の特性は事実上水平で、すなわち両ダイオード
を通る電流ｉD は極めて小さく、それらの抵抗ＲD は極
めて大きい。すなわち、
【００２８】
【数１０】
【００２９】これは、スイッチ位置ＳU （動作時）にお
いて、両ダイオードのノード「ｂ」を演算増幅器Ｏp1の
＋入力と同じ電位（ここでは接地されている）にするこ
とによって利用される。その時、これは、
いて、両ダイオードのノード「ｂ」を演算増幅器Ｏp1の
＋入力と同じ電位（ここでは接地されている）にするこ
とによって利用される。その時、これは、
【００３０】
【数１１】 を与える。
【００３１】リセット相においては（スイッチＳU はノ
ード「ｂ」をＵA2に接続している）、演算増幅器Ｏp が
十分に駆動されていることによりダイオード電圧｜ＵD
｜は常に｜Ｕk ｜になっているので、その抵抗は実際上
ゼロになる。
ード「ｂ」をＵA2に接続している）、演算増幅器Ｏp が
十分に駆動されていることによりダイオード電圧｜ＵD
｜は常に｜Ｕk ｜になっているので、その抵抗は実際上
ゼロになる。
【００３２】以上においては、理想的な場合が示され
た。実際には、もちろんダイオードの特性は屈曲点電圧
の間において正確に水平にはならず、わずかに傾き、オ
ーム抵抗のようにゼロを通過する。従って抵抗は無限大
ではなく、漏れ電流は電荷入力ＩＮQ になお達すること
ができ、測定結果に誤差を与える。以上の説明から、こ
のダイオード回路において求められるべき改善の方向が
明らかになり、それは
た。実際には、もちろんダイオードの特性は屈曲点電圧
の間において正確に水平にはならず、わずかに傾き、オ
ーム抵抗のようにゼロを通過する。従って抵抗は無限大
ではなく、漏れ電流は電荷入力ＩＮQ になお達すること
ができ、測定結果に誤差を与える。以上の説明から、こ
のダイオード回路において求められるべき改善の方向が
明らかになり、それは
【００３３】
【数１２】 とすることである。
【００３４】これは、極めて大きいＲD0を与える、すな
わち屈曲点電圧間においてできるだけ水平な特性を与え
る解決法を求めるべきであることを意味する。この種の
解決法は見出され、図８に示されている。図８は、上述
の要求を満たす特殊なダイオードを有する。図７のグラ
フに示された特性を有するダイオード回路部分を示す。
本発明によれば、用いられるダイオードは集積回路の入
力保護ダイオードである。これらのダイオードは、例え
ば静電的な放電によって生じる過電圧から、敏感な回路
の入力を保護するのに役立ち、それらは、高い逆バイア
スまたは高い電流負荷容量のような、一般のダイオード
に対する通常の要求を満たす必要はない。
わち屈曲点電圧間においてできるだけ水平な特性を与え
る解決法を求めるべきであることを意味する。この種の
解決法は見出され、図８に示されている。図８は、上述
の要求を満たす特殊なダイオードを有する。図７のグラ
フに示された特性を有するダイオード回路部分を示す。
本発明によれば、用いられるダイオードは集積回路の入
力保護ダイオードである。これらのダイオードは、例え
ば静電的な放電によって生じる過電圧から、敏感な回路
の入力を保護するのに役立ち、それらは、高い逆バイア
スまたは高い電流負荷容量のような、一般のダイオード
に対する通常の要求を満たす必要はない。
【００３５】破線によって示されているのは集積回路Ｉ
ＳＫであり、これは集積されたダイオード対Ｄ1 および
Ｄ2 を含む。この集積回路には、３つの入力ＩＮおよび
供給接続−ＵS および＋ＵS が提供されている。入力Ｉ
Ｎは点「ａ」を経て電荷増幅器ＩＮQ と接続され、一方
供給接続−ＵS および＋ＵS はいっしょに連結され、点
「ｂ」を経てスイッチＳU （図６）と接続される。図６
の回路のダイオード部分との類似は明らかである。
ＳＫであり、これは集積されたダイオード対Ｄ1 および
Ｄ2 を含む。この集積回路には、３つの入力ＩＮおよび
供給接続−ＵS および＋ＵS が提供されている。入力Ｉ
Ｎは点「ａ」を経て電荷増幅器ＩＮQ と接続され、一方
供給接続−ＵS および＋ＵS はいっしょに連結され、点
「ｂ」を経てスイッチＳU （図６）と接続される。図６
の回路のダイオード部分との類似は明らかである。
【００３６】図６のＳU として半導体スイッチが用いら
れる時は、動作相中において漏れ電流はもはや電荷増幅
器入力ＩＮQ へは流れず、図３に従って接地へ導かれ
る。入力保護ダイオードは阻止方向へバイアスされる。
れる時は、動作相中において漏れ電流はもはや電荷増幅
器入力ＩＮQ へは流れず、図３に従って接地へ導かれ
る。入力保護ダイオードは阻止方向へバイアスされる。
【図１】従来の電荷増幅器回路を示す図。
【図２】リセット用の制御ループを有する電荷増幅器回
路を示す図。
路を示す図。
【図３】図２に類似した制御ループと、電気的に制御さ
れるスイッチとを有する電荷増幅器回路における入力漏
れ電流の原因を示す図。
れるスイッチとを有する電荷増幅器回路における入力漏
れ電流の原因を示す図。
【図４】図３に対する説明回路図。
【図５】図４の回路における、時間対出力電圧のグラフ
を示す図。
を示す図。
【図６】図２に類似したリセット用制御ループを有する
が、スイッチと電荷増幅器入力との間にダイオードをさ
らに追加された電荷増幅器回路を示す図。
が、スイッチと電荷増幅器入力との間にダイオードをさ
らに追加された電荷増幅器回路を示す図。
【図７】図６に示されたダイオード回路の電流−電圧特
性を示す図。
性を示す図。
【図８】集積回路の入力保護ダイオードを用いている、
図６の電荷増幅器回路の、本発明によるダイオード部分
を示す図。
図６の電荷増幅器回路の、本発明によるダイオード部分
を示す図。
Ｓ スイッチ（断続器） ＳU 転極スイッチ Ｏｐｅｒａｔｅ 測定動作用スイッチ整定位置 Ｒｅｓｅｔ リセット用スイッチ位置 Ｃ 負帰還キャパシタンス Ｏp 演算増幅器 ＱIN 入力電荷 ＩＮQ 電荷増幅器入力 ＵO 演算増幅器の入力オフセット電圧 ＵA 出力電圧 ＯP1 第１演算増幅器 ＯP2 第２演算増幅器 ＵO1 第１演算増幅器の入力オフセット電圧 ＵA1 第１演算増幅器の出力電圧 ＵO2 第２演算増幅器の入力オフセット電圧 ＵA2 第２演算増幅器の出力電圧 ＡVOL 演算増幅器の開ループ利得 ＲS ，Ｒp 電気的に制御される半導体スイッチの絶縁
抵抗 ｉs ，ｉp ，ｉb 漏れ電流 ＋／− ＵS 供給電圧 ＲO 入力抵抗 ｔ 時間 ＵD ダイオード電圧 −ＵD 負のダイオード電圧 ＋ＵD 正のダイオード電圧 ＋ｉD 正のダイオード電流 −ｉD 負のダイオード電流 Ｕk ダイオードの限界電圧すなわち屈曲点電圧 ＲDO 動作時のダイオード抵抗 ＲDr リセット時のダイオード抵抗 ａ，ｂ 回路の接続点 ＩＮ 入力接続 −ＵS ，＋ＵS 供給電圧接続 ＩＳＫ 入力保護ダイオードを有する集積回路 ＩＳＫ 回路
抵抗 ｉs ，ｉp ，ｉb 漏れ電流 ＋／− ＵS 供給電圧 ＲO 入力抵抗 ｔ 時間 ＵD ダイオード電圧 −ＵD 負のダイオード電圧 ＋ＵD 正のダイオード電圧 ＋ｉD 正のダイオード電流 −ｉD 負のダイオード電流 Ｕk ダイオードの限界電圧すなわち屈曲点電圧 ＲDO 動作時のダイオード抵抗 ＲDr リセット時のダイオード抵抗 ａ，ｂ 回路の接続点 ＩＮ 入力接続 −ＵS ，＋ＵS 供給電圧接続 ＩＳＫ 入力保護ダイオードを有する集積回路 ＩＳＫ 回路
Claims (3)
- 【請求項１】 演算増幅器、スイッチ、およびダイオー
ドから成る、リセット用制御ループを有する電荷増幅器
回路であって、該ダイオード（Ｄ1 ，Ｄ2 ）が集積回路
（ＩＳＫ）の入力保護ダイオードであることを特徴とす
る電荷増幅器回路。 - 【請求項２】 前記入力保護ダイオードが阻止方向に電
気的にバイアスされていることを特徴とする請求項１記
載の電荷増幅器回路。 - 【請求項３】 前記スイッチ（ＳU ）が電気的に制御さ
れる半導体スイッチであることを特徴とする請求項１ま
たは請求項２記載の電荷増幅器。
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