JPH03255372A - 積分回路 - Google Patents

積分回路

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JPH03255372A
JPH03255372A JP5175690A JP5175690A JPH03255372A JP H03255372 A JPH03255372 A JP H03255372A JP 5175690 A JP5175690 A JP 5175690A JP 5175690 A JP5175690 A JP 5175690A JP H03255372 A JPH03255372 A JP H03255372A
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公成 田宮
Akihiko Satokata
昭彦 里方
Kazuhiro Sakamoto
和博 坂本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野〕 この発明は、センサ等の微小電流の計測に用いる積分回
路に関する。
〔従来の技術〕
従来、センサから得られる微小電流を積分により計測す
る回路については種々の提案が成されているが、その−
例としてカメラ等における輝度測定回路として用いる積
分回路を、第7図に基づいて説明する。
第7図において、101は第1の演算増幅器で、該演算
増幅器101の十入力端子は基準電圧源102が接続さ
れており、出力端子には回路電源VC(にコレクタを接
続したトランジスタ103のベースが接続されている。
そして該トランジスタ103のエミッタには第1の演算
増幅器101の一入力端子が接続され、更に電流源10
4がスイッチSWlを介してGNDとの間に接続されて
いる。また第1の演算増幅器101の電源端子とGND
間には、前記スイッチS W + と連動するスイッチ
SW2が接続されている。
第2の演算増幅器105の十−入力端子間にはフォトダ
イオード106が接続されており、そして+入力端子に
は前記第1の演算増幅器101の一入力端子及びトラン
ジスタ103のエミッタが接続されると共に、積分コン
デンサ107が接続されており、また−入力端子と出力
端子とが直接接続されている。第2の演算増幅器105
の出力端子はコンパレータ108の一入力端子に接続さ
れ、該コンパレータ108の十入力端子には比較電圧源
109が接続されている。
このように構成されている積分回路において、積分開始
前にはスイッチSWI及びSW2は閉じており、第2の
演算増幅器105の十入力端子には基準電圧源102の
基準電圧■□、が加わっている。
この状態でスイッチS W +及びSW!を開放すると
、第1の演算増幅器101は不動作状態となり、トラン
ジスタ103もオフとなって、フォトダイオード106
に生じる光電流は積分コンデンサ107に流れる。この
時第2の演1増幅器105の出力は次式(1)に示す値
となる。
ここで、IP:フォトダイオードの光電流t:積分時間 C:積分コンデンサの容量 またこの第2の演算増幅器105の出力電圧はコンパレ
ータ108の一入力端子に印加されているので、コンパ
レータ108の一入力端子、すなわち第2の演算増幅器
105の出力電圧が次式(2)で表される値になったと
き、コンパレータ108の出力レベルが反転する。
に こで、Vy、、:比較電圧源の比較電圧この一連の動作
によりコンパレータ108は次式(3)で示す幅のパル
スを出力する。
■? したがって上記パルスの幅をカウントすることにより、
フォトダイオード106の光電流を求めることができる
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、上記第7図に示した従来の積分回路において
、スイッチSW+、SWzが開放状態、すなわち積分動
作中、トランジスタ103はオフしており、第1の演算
増幅器101の出力、すなわちトランジスタ1030ベ
ースは開放又は低電圧に固定され、トランジスタ103
のエミッタにはフォトダイオード106の出力電圧が加
わる。したがってトランジスタ103のエミッタ・ベー
ス間には逆バイアス■8がかかるため、この逆バイアス
■1により、次式(4)で示すリーク電流Ilが流れる
但し、q:電子の電荷量 に:ポルッマン定数 T:絶対温度 Is:PN接合の飽和電流 このリーク電流1つは逆バイアス■、及び温度上昇と共
に増加する。このリーク電流Ilが生じると第2の演算
増幅器105の出力は、となり、フォトダイオード10
6の光電流が小さいと、大きな誤差が生じるか、もしく
は測定不能となる。
本発明は、従来の積分回路における上記問題点を解決す
るためになされたもので、積分中のリーク電流を抑え、
微小電流の測定を可能にする積分回路を提供することを
目的とする。
〔課題を解決するための手段及び作用〕上記問題点を解
決するため、本発明は、第1図の概念図に示すように、
基準電圧を供給する基準電圧源1と、積分コンデンサを
接続した積分アンプ2と、前記基準電圧源1に接続され
前記積分アンプ2の積分開始及び終了を制御するスイッ
チング回路3とを備えた積分回路において、ベースを電
流源4に接続し、エミッタを前記積分アンプ2の出力端
に接続し、コレクタを前記スイッチング回路3に接続し
た帰還トランジスタ5を設けるものである。なお第1図
において、6はバッファアンブで、7は電流源4を電源
電圧VCCへの接続をオン・オフするスイッチである。
このように構成した積分回路において、積分開始前は、
スイッチング回路3を構成しているスイッチングトラン
ジスタ等のスイッチング素子はオンしており、基準電圧
源lの基準電圧が積分アンプ2に加わり、積分アンプの
出力は基準電圧と等しくなる。この際、電流源4を開状
態にしておくことにより帰還トランジスタ5はオフして
いる。
この状態において、外部から積分開始信号を与えてスイ
ッチング回路3をオフにすることにより積分が始まる。
これと同時に電流源4を閉状態にすることにより、定電
流が帰還トランジスタ50ベースに流れ込み、帰還トラ
ンジスタ5はオンする。
この時帰還トランジスタ5は飽和するため、帰還トラン
ジスタ5のコレクタ・エミッタ間は、エミッタの電位が
変わっても飽和電圧V ct <smr、(L=。
0.2V)に保たれる。この帰還トランジスタ5のコレ
クタをスイッチング回路3のリークが問題となるスイッ
チングトランジスタ等のスイッチング素子の端子と接続
することにより、スイッチング回路3中のリークが生じ
るスイッチング素子の端子間が前記飽和電圧VC1(S
AT、に保たれるので、スイッチング回路のリーク電流
を抑えることができ、微小電流の測定が可能となる。
〔実施例〕
次に実施例について説明する。第2図は、本発明に係る
積分回路の第1実施例を示す回路構成図であり、第1図
に示した概念図に示した部材と対応する部材には、同一
符号を付して示している。
第2図において、11は第1の演算増幅器で、該演算増
幅器11の十入力端子には基準電圧源1が接続されてい
る。また第1の演算増幅器11の出力端子にはスイッチ
ングトランジスタ120ベースが接続されており、該ス
イッチングトランジスタ12のエミッタには第1の演算
増幅器11の一入力端子と、GNDにスイッチSW、を
介して接続されている電流源(1)13の一端が接続さ
れており、また該トランジスタ12のコレクタは電源電
圧VCCに接続されている。なお前記第1の演算増幅器
11の一電源端子はスイッチSWtを介してGNDに接
続されている。
14は第2の演算増幅器で、該第2の演算増幅器14の
十−入力端子間にはフォトダイオード15が接続されて
おり、十入力端子には前記第1の演算増幅器11の一入
力端子及びスイッチングトランジスタ12のエミッタが
接続されると共に、積分コンデンサ16が接続されてい
る。また第2の演算増幅器14の一入力端子とiカ端子
は直結されていて、その出力端子は第3の演算増幅器6
の十入力端子に接続されている。第3の演算増幅器6の
一入力端子と出力端子は直結されていてバッファアンプ
として用いられ、その出力端子は帰還トランジスタ5の
エミッタに接続されている。
そして帰還トランジスタ5のベースには電源電圧■cc
にスイッチC8Wを介して接続されている電流t<z>
4が接続され、コレクタは前記スイッチングトランジス
タ12のベースに接続されている。
第3の演算増幅器6の出力端子はコンパレータ17の十
入力端子に接続され、該コンパレータ17の一入力端子
にば比較電圧dl11Bが接続されている。
そして第1の演算増幅器11.スイッチングトランジス
タ12.電流源(1)13 、スイッチSW+、SWx
によってスイッチング回路3を構成しており、また第2
の演算増幅器14.フォトダイオード15.積分コンデ
ンサ16とで積分アンプ2を構成している。
なお帰還トランジスタ5のベース・エミッタ間にはスイ
ッチング特性向上のための抵抗RIを接続しており、第
2及び第3の演算増幅器14,6は微小電流を計測する
ことを前提としているため、入力部をMOSトランジス
タで構成したものを用いるのが望ましい。
次にこのように構成した積分回路の動作について説明す
る。まず積分開始前と積分中における各スイy f S
 Wr、  S Wt、  CS W(7)状態を第1
!に示す。
第1表 積分開始前においては、スイッチSw、、SWzは閉じ
ているので、第2の演算増幅器14の十入力端子、その
出力端子及び第3の演算増幅器6の出力端子におけるA
、B、C点の電位は基準電圧源の電圧■□1となる。こ
の時、スイッチC3Wは開であるので、帰還トランジス
タ5はオフしており、積分アンプ2の動作に影響を及ぼ
さない、この状態において、 積分開始信号によりスイ
ッチSW1.3Wgが開に、スイッチC3Wが閉に切り
換えられると、積分が始まり、前記A、B、C点の電位
は、前記(1)式で示したと同様に、 V、、、+1、
・t/Cとなる。
これに伴い飽和した帰還トランジスタ5のコレクタ端子
り点の電位は、 となる、この動作によりスイッチングトランジスタ12
のベース・エミッタ間は、積分動作中、逆バイアスV 
ct (s*t、(”io、 2 V)に保たれる。−
船釣にトランジスタのベース・エミッタ間に、このレベ
ルの逆バイアスをかけた状態で生しるリーク電流は、測
定限界以下であるので問題とならず、したがってフォト
ダイオードに生ずる微小光電流を高精度で測定すること
ができる。
第3図は第2実施例を示す回路構成図で、第2図に示し
た第1実施例と同−又は同等の部材には同一符号を付し
て示している。この実施例は、帰還トランジスタ5をP
NP )ランジスタで構成したものであり、第1実施例
においてNPN トランジスタで構成した場合と電流の
流れる方向が異なるのみで、同一の作用効果をもつもの
である。
第4図は第3実施例を示す回路構成図で、同様に第2図
に示した第1実施例と同−又は同等の部材には同一符号
を付して示している。この実施例は、第1の演算増幅器
11の出力端子にスイッチングトランジスタ12のエミ
ッタを接続し、ベース・エミッタ間には抵抗R1を接続
すると共にベースに電流5(1)13を接続し、コレク
タを第2の演算増幅器14の千人力端子に接続する。そ
して第1の演算増幅器11の一入力端子と第2の演算増
幅器14の一入力端子(出力端子)とを直結して構成す
るものである。
このように構成した積分回路においては、スイッチング
トランジスタ12がオフの時には、そのベース・エミッ
タ間に電位差がなく、ベース・コレクタ間の電位差が帰
還トランジスタ5の飽和電圧v ct tss□に保た
れるため、スイッチングトランジスタ12の全ての端子
がほぼ同電位となり、リーク電流が有効に抑制される。
第5図は、本発明におけるスイッチング回路をIC化し
た実施例を示す回路構成図で、トランジスタQ7がスイ
ッチングトランジスタであり、トランジスタQ1が帰還
トランジスタである。この実施例においては、上記各実
施例と同様に、積分動作中、帰還トランジスタQ、OC
E間を飽和電圧V CE (SAT+ に保つことによ
り、スイッチングトランジスタQ、OBE間の電位を帰
還トランジスタQ、の飽和電圧V CE +SA□に保
つ動作と共に、次に述べる機能を備えている。
すなわち、本発明に係るスイッチング回路を用いると、
スイッチングトランジスタQ7のBE間が飽和電圧V 
C1(SAT+ に保たれると同時に、差動段のトラン
ジスタQ4のCB間も飽和電圧V C+! (SAT。
に保たれることになる。これによりIC化に伴って形成
される差動段のトランジスタQ4の寄生トランジスタが
動作するのを防止することができる。
もしこの差動段のトランジスタQ4の寄生トランジスタ
が動作すると、フォトダイオード15の光電流は積分コ
ンデンサ16に流れず、この寄生トランジスタを流れる
ので著しく計測精度が低下してしまう。
この点について更に詳細に説明すると、第6図^に示す
ように、IC化した差動段のトランジスタQ4を構成す
るNPN )ランジスタには、そのベース領域と基板間
に寄生PNP トランジスタQ1が形成され、第6図田
)の等価回路に示すように接続されることになる。ここ
で本発明に係るスイッチング回路を用いない場合の差動
段のトランジスタQ4に注目して、その動作を説明する
と、積分動作中、このトランジスタQ4のコレクタ端子
の電圧は、積分動作前にコンデンサC1にチャージされ
ていたある電位■8である。これに対してトランジスタ
Q4のベースの電位は、(1)式で示したように、(V
mxy+ I p−t / C)のように太き(変化し
、この電位が、 上記(7)式で示す値に達すると、寄生トランジスタQ
8が動作し、光電流Itが流れてしまい、正しい積分が
行われなくなる。しかしながら本発明のようにスイッチ
ング回路を設けることにより、トランジスタQ4のCB
間が飽和電圧■α(3^ア)に保持されるようになって
いるので該トランジスタQ4の寄生トランジスタQヨの
動作を確実に防止することができ、高精度の微小光電流
の計測を行うことができる。
〔発明の効果〕
以上実施例に基づいて説明したように、本発明によれば
、積分中に動作する帰還トランジスタにより積分アンプ
の出力電圧に追従した電圧がスイッチング回路に加え、
リークの原因となるスイッチング回路を構成するスイッ
チング素子の端子間の電位差を低く抑えるように構成し
たので、リーク電流が小さく抑えられ高精度で微小電流
を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る積分回路を説明するための概念
図、第2図は、本発明の第1実施例を示す回路構成図、
第3図は、本発明の第2実施例を示す回路構成図、第4
図は、本発明の第3実施例を示す回路構成図、第5図は
、本発明のスイッチング回路をIC化した実施例を示す
回路構成図、第6図^は、寄生トランジスタの形成態様
を示す図、第6図G)は、寄生トランジスタを接続した
等価回路を示す図、第7図は、従来の積分回路の構成例
を示す図である。 図において、1は基準電圧源、2は積分アンプ、3はス
イッチング回路、4は電流源、5は帰還トランジスタ、
6はバッファアンプを示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基準電圧を供給する基準電圧源と、積分コンデンサ
    を接続した積分アンプと、前記基準電圧源に接続され前
    記積分アンプの積分開始及び終了を制御するスイッチン
    グ回路とを備えた積分回路において、ベースを電流源に
    接続し、エミッタを前記積分アンプの出力端に接続し、
    コレクタを前記スイッチング回路に接続した帰還トラン
    ジスタを設けたことを特徴とする積分回路。 2、前記帰還トランジスタのベースに接続した電流源は
    、前記積分アンプの積分開始及び終了に従ってオン/オ
    フするように構成されていることを特徴とする請求項1
    記載の積分回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05327463A (ja) * 1992-05-15 1993-12-10 Mitsubishi Electric Corp 出力回路
JP2010139241A (ja) * 2008-12-09 2010-06-24 Nec Corp 温度測定回路、及び、方法
CN103001096A (zh) * 2012-08-22 2013-03-27 苏州久三智能科技有限公司 一种电线感应装置

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CN103001096A (zh) * 2012-08-22 2013-03-27 苏州久三智能科技有限公司 一种电线感应装置

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