JPH0559322U - 電子部品実装基板の接続具 - Google Patents

電子部品実装基板の接続具

Info

Publication number
JPH0559322U
JPH0559322U JP150692U JP150692U JPH0559322U JP H0559322 U JPH0559322 U JP H0559322U JP 150692 U JP150692 U JP 150692U JP 150692 U JP150692 U JP 150692U JP H0559322 U JPH0559322 U JP H0559322U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
board
receptacle
test
contact probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP150692U
Other languages
English (en)
Inventor
賢一 高橋
忠一 村山
Original Assignee
新潟日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 新潟日本電気株式会社 filed Critical 新潟日本電気株式会社
Priority to JP150692U priority Critical patent/JPH0559322U/ja
Publication of JPH0559322U publication Critical patent/JPH0559322U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被検査基板と検査基板との接続を半田付けす
ることなく容易に行えるようにし、メンテナンスにおけ
る保守性を向上させる。 【構成】 固定板に固定するソケットを二段構造とし、
上段部に被試験基板と接続するスプリング・コンタクト
・プローブを挿入し、下段部に試験基板に固定されたリ
セプタクルのソケット挿入部を挿入して被試験基板と試
験基板とを接続する。 【効果】 ソケットの下段部にリセプタクルのソケット
挿入部を挿入するだけで接続が完了するために、接続に
要する時間を短縮することができ、試験基板を汎用的に
使用することができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、電子部品実装基板の電気的特性および電気的機能を試験する検査装 置に利用する。本考案は、被試験基板にスプリング・コンタクト・プローブ式剣 山状治具を介して試験基板、入出力機器、あるいはコントロール基板を接続する 電子部品実装基板の接続具に関する。
【0002】
【従来の技術】
被試験基板を実速度、実機能で試験しようとする際、被試験基板の接続端子に 試験基板、入出力機器、あるいはコントロール基板などをスプリング・コンタク ト・プローブを介して接続する必要がある。従来、この種の接続具はスプリング ・コンタクト・プローブ用のソケットと試験基板、入出力機器、あるいはコント ロール基板の内蔵機器とを多列型多極コネクタ取付け用反転接続基板および各内 蔵機器専用のコネクタを介して半田付けすることにより接続するか、または内蔵 機器とソケットとを直接半田付けすることにより接続し、そこからラッピングに より回路に配線を行っていた。
【0003】 従来使用されていた多列型多極コネクタ取付け用反転接続基板には、本願出願 人の出願として、複数列に配列されたコネクタのリードピンとスプリング・コン タクト・プローブのソケットとを電気的に接続する反転接続基板を多層構造に配 置し、1ピンごとに列間で交差反転させて配線するように基板上にプリントパタ ーン化し、内層に電源および接地の全面パターンを設けたものがある。
【0004】 このような従来の方法では、コネクタのリード・ピンとスプリング・コンタク ト・プローブのソケットとを1ピンごとに線材によりラッピングもしくは半田付 けして配線を行い、また、実速度で被試験基板を動作させるために信号の遅延や 干渉を考慮して配線長を構造上可能な限り短くするようにコネクタを被試験基板 上の目的とする位置付近に設け向きを逆向きとし、また多列型コネクタの場合に は列間が反転するため交差配線を行っていた。この方法では、配線作業に高度の 熟練技術を要するとともにコスト高となり、また線長を短くしようとしても限界 があるために試験信号の遅延や干渉が生じていた。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上述した従来のスプリング・コンタクト・プローブのソケットと内蔵機器との 接続は、ラッピングもしくは半田付けにより行われていたために、取りはずしが 困難となりメンテナンスの際の保守性が悪く、また、試験基板、入出力機、コン トロール基板などのいずれかを交換すれば同一の検査装置で他の被試験基板にも 適用可能な場合でも、取り付け、取りはずしが困難なことから専用の検査装置を 個別に製作しなければならず、2倍コストを必要とする欠点があった。
【0006】 本考案は、このような課題を解決するもので、低コストで保守性を向上させる ことができる接続具を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案は、被試験基板に設けられた端子に所定の圧力をもって接触し電気的に 接続するスプリング・コンタクト・プローブと、このスプリング・コンタクト・ プローブを一方に保持し、他方に試験基板を接続するソケットと、このソケット を固定する固定板とを備えた電子部品実装基板の接続具において、前記ソケット の内部中央部にストッパを設けて二段構造とし、その一方に前記スプリング・コ ンタクト・プローブを保持し、前記二段構造の他方に挿入されるソケット挿入部 および前記試験基板に接続されるリードを含むリセプタクルを備えたことを特徴 とする。
【0008】 前記ソケットおよび前記リセプタクル中央部外周に抜け止め用のリング状突起 が設けられることが望ましい。
【0009】
【作用】 固定板に固定されたソケットを被試験基板に接続するスプリング・コンタクト ・プローブ挿入側と試験基板に固定されたリセプタクル挿入側との二段構造にす ることにより、リセプタクルのソケット挿入部をソケットの下段部に挿入するだ けで被試験基板と試験基板とが接続される。
【0010】 これにより、接続操作が極めて簡単になり、接続作業の時間を短縮しメンテナ ンスにおける保守性を向上させることができる。また、試験基板を汎用的に使用 することができるために設備費用を削減することができる。
【0011】
【実施例】
次に、本考案実施例を図面に基づいて説明する。図1(a)は本考案実施例の ソケットの形状を示す図、同図(b)は本考案実施例のリセプタクルの形状を示 す図、図2および図3はその使用状態を示す断面図である。
【0012】 本考案実施例は、被試験基板5に設けられた端子に所定の圧力をもって接触し 電気的に接続するスプリング・コンタクト・プローブ6を一方に保持し、他方に 試験基板3またはコントロール基板9を接続するソケット1と、このソケット1 を固定する固定板4とを備え、さらに、本考案の特徴として、ソケット1の内部 中央部にストッパを設けて二段構造とし、その一方にスプリング・コンタクト・ プローブ6を保持し、前記二段構造の他方に挿入されるソケット挿入部Dおよび 試験基板3またはコントロール基板9に接続されるリードEを含むリセプタクル 2を備える。
【0013】 ソケット1およびリセプタクル2の中央部外周には抜け止め用のリング状突起 GおよびストッパFがそれぞれ設けられる。
【0014】 すなわち、ソケット1は図2および図3に示すスプリング・コンタクト・プロ ーブ6およびリセプタクル2の挿入用として二つの挿入口AおよびBを有し、圧 入部Cには固定板4からの抜け出しを防ぐために、リング状の突起Gが設けられ 、その内部にはスプリング・コンタクト・プローブ6およびリセプタクル2の挿 入時のストッパが設けられる。
【0015】 リセプタクル2はソケット挿入部Dとラッピングもしくは半田付け用のリード Eを有し、中央にはリードEが接続される試験基板3に固定するためのストッパ Fが設けられる。
【0016】 図2および図3は本考案の両端挿入型ポーキュパイ・ソケットおよびリセプタ クルを使用した検査装置の構成例を示したもので、図2はあらかじめ被試験基板 専用コネクタ7が接続された試験基板3に半田付けされたリセプタクル2をソケ ット1にはめ込むように構成された検査装置を示したもので、必要に応じてネジ 10により補強固定される。同図中、4は固定板、5は被試験基板、6はスプリ ング・コンタクト・プローブ、8は試験基板もしくは入出力機器を示す。また、 図3はコントロール基板9を直接リセプタクル2に接続しラッピングにより回路 へ配線を行った例を示したものである。
【0017】 このように、被試験基板5と試験基板(入出力機器)8もしくはコントロール 基板9との取り付け、取り外しをソケット1とリセプタクル2とにより容易に行 うことができる。
【0018】
【考案の効果】
以上説明したように本考案によれば、1本のソケットをソケット部とリセプタ クル部に分割することにより、検査装置の内蔵機器の取り付け、取りはずしを容 易に行うことができ、これによりメンテナンスにおける保守性を向上させるとと もに、修理時間の短縮を図ることができる効果がある。また、内蔵機器の交換に より別の被試験基板の検査装置として使用可能な場合には、被試験基板個別の検 査装置の作製が不要となり設備費用を削減することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本考案実施例のソケットの形状を示す
図、(b)は本考案実施例のリセプタクル形状を示す
図。
【図2】本考案による使用状態の一例を示す断面構造図
(半田付けタイプ)。
【図3】本考案による使用状態の他の例を示す断面構造
図(ラッピングタイプ)。
【符号の説明】
1 ソケット 2 リセプタクル 3 試験基板 4 固定板 5 被試験基板 6 スプリング・コンタクト・プローブ 7 被試験基板専用コネクタ 8 試験基板(入出力機器) 9 コントロール基板 10 ネジ A、B 挿入口 C 圧入部 D ソケット挿入部 E リード F ストッパ G リング状突起

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被試験基板に設けられた端子に所定の圧
    力をもって接触し電気的に接続するスプリング・コンタ
    クト・プローブと、 このスプリング・コンタクト・プローブを一方に保持
    し、他方に試験基板を接続するソケットと、 このソケットを固定する固定板とを備えた電子部品実装
    基板の接続具において、 前記ソケットの内部中央部にストッパを設けて二段構造
    とし、その一方に前記スプリング・コンタクト・プロー
    ブを保持し、 前記二段構造の他方に挿入されるソケット挿入部および
    前記試験基板に接続されるリードを含むリセプタクルを
    備えたことを特徴とする電子部品実装基板の接続具。
  2. 【請求項2】 前記ソケットおよび前記リセプタクル中
    央部外周に抜け止め用のリング状突起が設けられた請求
    項1記載の電子部品実装基板の接続具。
JP150692U 1992-01-20 1992-01-20 電子部品実装基板の接続具 Pending JPH0559322U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP150692U JPH0559322U (ja) 1992-01-20 1992-01-20 電子部品実装基板の接続具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP150692U JPH0559322U (ja) 1992-01-20 1992-01-20 電子部品実装基板の接続具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0559322U true JPH0559322U (ja) 1993-08-06

Family

ID=11503367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP150692U Pending JPH0559322U (ja) 1992-01-20 1992-01-20 電子部品実装基板の接続具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0559322U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6054720A (en) Apparatus and method for evaluating the surface insulation resistance of electronic assembly manufacture
JPH0559322U (ja) 電子部品実装基板の接続具
KR20090058862A (ko) 반도체 패키지 테스트 보드
US10966313B2 (en) Method for manufacturing printed circuit board having test point, and printed circuit board manufactured thereby
JPS6325573A (ja) 集積回路のテストボ−ド
JP3128442B2 (ja) バーンイン試験用ボード
JP3224952B2 (ja) 回路基板のコネクタ取付構造
KR200147597Y1 (ko) 테스트 지그
KR100246320B1 (ko) 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드
KR100216894B1 (ko) Bga 반도체패키지의 전기테스트장치
TWI385391B (zh) 高效率和高準確度之測試治具
JPH0684379U (ja) 集積回路の検査装置用治具
KR0130142Y1 (ko) 반도체 디바이스 테스트용 소켓
JPH088000A (ja) コネクタ
KR100421662B1 (ko) 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조
KR19980048139A (ko) 반도체 테스터기의 연결용 부재
JPH04294080A (ja) 回路基板とピングリットアレイとの接続方法,及びその方法に使用される接続器
JPH08254569A (ja) 電子基板用検査治具
JP2003014806A (ja) プリント配線板の検査治具
JPH04359172A (ja) 高周波ic用特性試験治具
JPH05133992A (ja) 回路基板検査方法と検査基板並びに回路基板検査装置
JPH11102764A (ja) アダプターボード
JPS63100762A (ja) 混成集積回路の製造方法
JPH0637771U (ja) プロービング装置
JPH0625775U (ja) Icテスタ用テストボード