JPH0547933A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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Publication number
JPH0547933A
JPH0547933A JP23230491A JP23230491A JPH0547933A JP H0547933 A JPH0547933 A JP H0547933A JP 23230491 A JP23230491 A JP 23230491A JP 23230491 A JP23230491 A JP 23230491A JP H0547933 A JPH0547933 A JP H0547933A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
wiring
integrated circuit
correction
semiconductor integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23230491A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiro Daitou
敏浩 大塔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0547933A publication Critical patent/JPH0547933A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明の目的は回路構成を容易に修正するこ
とである。 【構成】 基本セル2は下地1に形成されており、下地
1には修正用配線群4が配列されている。回路構成を修
正する必要が生じると、修正用配線群4がA,C,D,
E,F,Bと接続されて基本セル2が互いに接続され
る。 【効果】 本発明の効果は回路修正の容易化と、回路修
正での配線の配線抵抗軽減による電気特性の変動防止で
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に、回路修正に使用するための配線層を下地に備える
ことを特徴とする半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に半導体集積回路における配線層
は、半導体集積回路の開発時に、素子を接続する配線と
して使用している。また、半導体集積回路が開発された
後に回路を修正する必要が生じた場合、通常、FIB装
置かレーザ直描装置を用いることによって、回路の修正
に必要な新たな配線を作成し、不要な配線を削除してい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述のように従来の半
導体集積回路では、開発後に回路修正の必要がある場
合、FIB装置かレーザ直描装置を用いて回路の修正を
行っていたが、以下の問題点を含んでいた。まず、新た
な配線を追加する場合、素子間の距離が長いほど作業に
長時間を要し、回路修正が容易ではない。特に、追加す
る配線で接続する素子間の距離が著しく長いと修正が不
可能な場合もあった。次に、追加する配線の材質は、通
常の配線の材質と異なるのでシート抵抗などの特性が異
なり、半導体集積回路の評価をしにくかった。また、下
層に基本セルの通常配線の含む配線領域が存在している
場合でも、どの配線が修正に使用できるか改めて検討を
要し、直ちに使用できなかった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の要旨は下
地層に形成された回路構成体と、該回路構成体を接続し
て集積回路とする配線体とを有する半導体集積回路にお
いて、上記下地層に回路構成修正用の配線群を設けたこ
とである。
【0005】本発明の第2の要旨は下地層に形成された
回路構成体と、該回路構成体を接続して集積回路とする
配線体とを有する半導体集積回路において、上記下地層
に予備回路と、回路構成修正用の配線群を設けたことで
ある。
【0006】
【発明の作用】上記半導体集積回路によると、回路構成
体を配線体で接続し集積回路を形成した後に、回路構成
の変更が必要となったときには、配線体を切断し、修正
用の配線群を選択的に用いて新たな集積回路を形成す
る。このとき、予備回路を必要としているなら、修正用
の配線群で予備回路に接続する。
【0007】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。図1は本発明の第1実施例を概略示す平
面図である。ゲートアレイの下地1上に構成された基本
セル2は、設計データに基づき、配線3によって接続さ
れる。
【0008】ここで、下地1上のAとBを新たに接続す
る必要が生じたとすると、下地1上に予め格子状に用意
されている修正用配線4を用い、修正用配線4上のC,
D,E,Fを、A−C,B−F,D−Eのように接続す
ることにより修正することができる。
【0009】従来例では、A−C−D−E−F−Bの経
路の配線長を新たに作る必要があったが、本実施例では
A−C,F−Bの長さにほぼ等しい修正作業で済む。ま
た、下地に埋め込む修正用配線4をFIB装置やレーザ
直描装置で作成する配線よりシート抵抗の小さい材質を
用いることで修正用配線の特性及びその距離による影響
を小さくできる。図2は本発明の第2実施例を示す平面
図である。本実施例では、1つの半導体集積回路上に、
回路故障時に切り替えて使用できる予備の回路を更に形
成している。例えば、回路21が故障したとすると故障
回路21と接続されている被接続回路22,23を配線
3を切断点24,25で切断して故障回路21から分離
する。次に、予備回路26を修正用配線4を利用して被
接続回路22,23に接続する。すなわち、修正箇所3
1,32を設け予備回路26を被接続回路23に接続
し、修正箇所33,34,35を設けて予備回路26を
被接続回路22に接続している。
【0010】このように修正用配線4と予備回路26を
用い、回路を修正することができる。予備に載せる回路
は、予め入出力端子を修正用配線4の領域付近まで配線
しておき、接続先の回路の端子も修正することを考慮し
ておくことで、回路の修正を容易にすることが可能であ
る。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、下地に修
正用の配線を予め備えるようにしたので、新たに接続し
ようとする素子間の距離が大きくても修正用の配線を用
いることで、新たに追加する配線長を作業上短くするこ
とができるという効果を有する。また、修正用配線の材
質を通常の配線と同じ材質で形成することができるの
で、新たに追加する配線の配線抵抗を小さくすることが
でき、回路の特性が大きく変更することがないという効
果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の概念を示す平面図であ
る。
【図2】本発明の第2実施例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 下地層 2 基本セル(回路構成体) 3 配線 4 修正用配線群 21〜23 回路(回路構成体) 26 予備回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下地層に形成された回路構成体と、該回
    路構成体を接続して集積回路とする配線体とを有する半
    導体集積回路において、上記下地層に回路構成修正用の
    配線群を設けたことを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 下地層に形成された回路構成体と、該回
    路構成体を接続して集積回路とする配線体とを有する半
    導体集積回路において、上記下地層に予備回路と、回路
    構成修正用の配線群を設けたことを特徴とする半導体集
    積回路。
JP23230491A 1991-08-19 1991-08-19 半導体集積回路 Pending JPH0547933A (ja)

Priority Applications (1)

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JP23230491A JPH0547933A (ja) 1991-08-19 1991-08-19 半導体集積回路

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JP23230491A JPH0547933A (ja) 1991-08-19 1991-08-19 半導体集積回路

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JPH0547933A true JPH0547933A (ja) 1993-02-26

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JP23230491A Pending JPH0547933A (ja) 1991-08-19 1991-08-19 半導体集積回路

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JP (1) JPH0547933A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6274934B1 (en) 1999-07-26 2001-08-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device and method of manufacturing thereof
US7050093B1 (en) 1998-06-15 2006-05-23 Industrial Electric Industrial Co., Ltd. Video camera pivoting apparatus, a pivoting video camera apparatus, and a monitoring system with a pivoting video camera

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7050093B1 (en) 1998-06-15 2006-05-23 Industrial Electric Industrial Co., Ltd. Video camera pivoting apparatus, a pivoting video camera apparatus, and a monitoring system with a pivoting video camera
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