JPH0535514A - 故障検出回路 - Google Patents

故障検出回路

Info

Publication number
JPH0535514A
JPH0535514A JP3186774A JP18677491A JPH0535514A JP H0535514 A JPH0535514 A JP H0535514A JP 3186774 A JP3186774 A JP 3186774A JP 18677491 A JP18677491 A JP 18677491A JP H0535514 A JPH0535514 A JP H0535514A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
data
outputs
fault
failure detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3186774A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinya Shiraishi
慎也 白石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Software Shikoku Ltd
Original Assignee
NEC Software Shikoku Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Software Shikoku Ltd filed Critical NEC Software Shikoku Ltd
Priority to JP3186774A priority Critical patent/JPH0535514A/ja
Publication of JPH0535514A publication Critical patent/JPH0535514A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Hardware Redundancy (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】二重化回路の演算器における故障検出回路の故
障の検出をできるだけ少ないハードウェアで実現する。 【構成】故障検出の為の二重化回路において、データX
1を入力し処理した後にデータY1を出力する演算器1
と、演算器1と同じ構成をとりデータX1を入力しデー
タY2を出力する演算器2と、故障検出指示回路4に指
示されて故障試験時に演算器2の出力を強制的に全て0
又は1にするビットごとの選択器10〜41と、この出
力と演算器1の出力データY1とを比較し一致/不一致
を検出する各ビットごとの比較器50〜81とその出力
の論理積を求めるアンドゲートから成る比較手段とを備
えて構成される。 【効果】以上述べたようにハードウェアで故障検出回路
の故障を検出する事ができるという効果がある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は故障検出回路に関し、特
に回路の故障を検出する為に回路を二重化し、二重化さ
れた回路の出力データを比較することによって回路の故
障を検出する故障検出回路に関する。すなわち、故障試
験時、二重化した回路の一方の出力を強制的に全てのビ
ットにわたり0又は1にする事により、故障検出回路の
故障の検出を行なう方式に関する。
【0002】
【従来の技術】通常、ハードウェアの信頼性をあげる為
に二重化した演算器1,2のそれぞれの出力を比較器5
0〜81から構成される故障検出回路によって比較し、
不一致となった場合にエラーを報告するという方法があ
る。上記のように二重化を行った場合、演算部へは同じ
データを入力するため、各々の演算部からは演算部が故
障しない限り同じデータが出力される。ここで故障検出
回路が常に一致を示すように故障していた場合、演算部
が故障したとしてもそれを検出することができない。
【0003】そこで、故障検出回路が故障していないか
を調べるために、従来では図2にみるように、二重化し
た演算器1,2のうち、一方の演算器2の出力のビット
に対応してフリップフロップ(以下「F/F」という)
110〜141及び反転回路150〜181を設け、検
査する故障検出回路に入力するデータをF/F110〜
141の指示により反転回路150〜181を通して反
転することにより、故障検出回路の故障を検査するとい
う方法がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の故障検
出回路の故障の検出方法では、演算部の出力データのビ
ット毎にF/Fを持つためハードウェア量が増大すると
いう欠点がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の故障検出回路
は、故障検出の為の二重化回路において、データX1を
入力し処理した後にデータY1を出力する第1の回路
と、前記第1の回路と同じ構成をとりデータX1を入力
しデータY2を出力する第2の回路と、故障試験時に第
2の回路の出力を強制的に全て0又は1にする第3の回
路と、前記第3の回路の出力データY1とを比較し一致
/不一致を検出する比較手段とを備えて構成される。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0007】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。
【0008】図1において、1は端子A,Bから入力し
演算を行う32ビットの演算器であり、2は演算器1と
全く同じ構成をとり、端子A,Bから入力し演算を行う
32ビットの演算器2である。10〜41は演算器2の
出力とF/F6の出力とを入力とし、F/F5の指示に
より、この入力のうちどちらかを選択し出力する選択器
である。50〜81は演算器1と選択器10〜41の出
力とを各ビット毎に比較し、一致/不一致を検出する故
障検出回路である。3は比較器10〜41の全てが一致
を検出したかを調べるアンドゲートである。4は故障試
験時に選択器10〜41がF/F6を選択し0または1
を出力するための指示をF/F5およびF/F6に送る
故障検出指示回路である。5は故障検出指示回路4によ
り選択器10〜41の切替指示を受け取りこれを保持す
るF/Fである。6は故障検出指示回路4により送出さ
れた0または1を保持するF/Fである。
【0009】次に演算器1への入力データA,Bを操作
し、出力データを と“1”をシフトすることにより故障検出回路の故障を
1づつ検査する場合について簡単に説明する。
【0010】まず、故障検出指示回路4によりF/F5
に1がセットされる。同時にF/F6に0がセットされ
る。F/F5に1がセットされると、選択器10〜41
はF/F6を選択し全て0を比較器50〜81に出力す
る。上の動作により比較器50〜81のB入力は全て0
に固定され、A入力へは演算器1から100...00
のデータが入力される。このとき比較器50は不一致を
検出し、51〜81は一致を検出しANDゲート3によ
り不一致が検出されれば、比較器50が常に一致する方
向には故障していないことがわかる。同様に、演算器1
から010...00,001...00,・・・のデ
ータを出力することにより比較器51〜81を調べるこ
とができる。
【0011】上記の例では、比較器50〜81のB入力
に0を固定した場合について述べたが、F/F6に1を
セットすることによりB入力を1に固定し、演算器1の
出力を011...11,101...11,11
0...11,・・・とすることにより同様の試験をす
ることができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、二重化し
た回路の一方の出力を強制的にオール0またはオール1
にするという方法をとることにより、故障検出回路のハ
ードウェアを減らすことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図。
【図2】従来の技術による故障検出回路の構成を示すブ
ロック図。
【符号の説明】
1,2 演算器 3 ANDゲート 4 故障検出指示回路 5,6 フリップフロップ回路(F/F) 10〜41 選択器 50〜81 故障検出回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 故障検出の為の二重化回路において、デ
    ータX1を入力し処理した後にデータY1を出力する第
    1の回路と、前記第1の回路と同じ構成をとりデータX
    1を入力しデータY2を出力する第2の回路と、故障試
    験時に第2の回路の出力を強制的に全て0又は1にする
    第3の回路と、前記第3の回路の出力データY1とを比
    較し一致/不一致を検出する比較手段とを備えて成るこ
    とを特徴とする故障検出回路。
JP3186774A 1991-07-26 1991-07-26 故障検出回路 Pending JPH0535514A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3186774A JPH0535514A (ja) 1991-07-26 1991-07-26 故障検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3186774A JPH0535514A (ja) 1991-07-26 1991-07-26 故障検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0535514A true JPH0535514A (ja) 1993-02-12

Family

ID=16194389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3186774A Pending JPH0535514A (ja) 1991-07-26 1991-07-26 故障検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0535514A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0006328B2 (en) System using integrated circuit chips with provision for error detection
US20130212452A1 (en) Apparatus and Method for Comparing Pairs of Binary Words
US4727548A (en) On-line, limited mode, built-in fault detection/isolation system for state machines and combinational logic
JP3537087B2 (ja) 半導体装置及び半導体装置の検査方法
EP0151694B1 (en) Logic circuit with built-in self-test function
JP2004531141A (ja) デジタルシステム及び該デジタルシステムのエラー検出方法
JPH0535514A (ja) 故障検出回路
JP2006038831A (ja) スキャン試験回路を備えた半導体集積回路
JP2000259444A (ja) データ処理装置及びその試験方法
JP3173648B2 (ja) 故障検出方式
JP2871966B2 (ja) 障害検出回路検査システム
JPS61195431A (ja) 自動検査可能なパリテイチエツク回路
JPH03189736A (ja) 選択回路の障害検出方式
JPH02105635A (ja) データ誤り検出回路
JPH0540151A (ja) スキヤン経路故障診断法
JPH06274360A (ja) エラーチェック回路
JPH0495885A (ja) 大規模集積回路故障検出回路
JPH01187475A (ja) 半導体集積回路の試験装置
JPH0693473B2 (ja) 検査機能を有する半導体集積回路
JPS63176041A (ja) 誤り検査・診断方式
JPS6088371A (ja) 論理回路
JPH06259333A (ja) パリティエラー検査機構
JPH08152459A (ja) 半導体装置及びその試験方法
JPS63106838A (ja) デ−タバツフアチエツク回路
JPS63213040A (ja) 入力ポ−ト診断回路