JPS63176041A - 誤り検査・診断方式 - Google Patents
誤り検査・診断方式Info
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- JPS63176041A JPS63176041A JP621387A JP621387A JPS63176041A JP S63176041 A JPS63176041 A JP S63176041A JP 621387 A JP621387 A JP 621387A JP 621387 A JP621387 A JP 621387A JP S63176041 A JPS63176041 A JP S63176041A
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- Japan
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- signal
- test
- line
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- circuit
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 5
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は高信頼化を目的とした2重化構成のシステム、
装置または回路における誤り検査とテスト・診断を行う
方式に関するものである。
装置または回路における誤り検査とテスト・診断を行う
方式に関するものである。
[従来の技術]
従来、論理回路等のオンライン動作中の故障・誤り検出
のためにはパリティ符号、剰余符号等の誤り検出符号に
よる手法、あるいは2重化してその結果を比較する方法
が提案され実際の装置に採用されている。さらに、これ
らの誤り検査回路により検出された誤り、故障の所在を
明らかにするため、−担オンラインにして試験プログラ
ム等によりテストが実行されるのが一般である。近年V
LS I等回路の巨大化、a雑化に伴い、テストバタン
及びそれに対する正解データの生成はますます高価なも
のとなシ、この観点から非常に多くのランダムバタンを
入力させてその出力を時間的・空間的に圧縮して最終的
にシグナチャ値とし、これを正解シグナチャ値と比較し
てテストする簡易テスト法が提案されている。これは回
路構造に依存しないテスト方法として1979年IEE
E Te5t Conferenceの予稿集p37−
41において明示されておシ。
のためにはパリティ符号、剰余符号等の誤り検出符号に
よる手法、あるいは2重化してその結果を比較する方法
が提案され実際の装置に採用されている。さらに、これ
らの誤り検査回路により検出された誤り、故障の所在を
明らかにするため、−担オンラインにして試験プログラ
ム等によりテストが実行されるのが一般である。近年V
LS I等回路の巨大化、a雑化に伴い、テストバタン
及びそれに対する正解データの生成はますます高価なも
のとなシ、この観点から非常に多くのランダムバタンを
入力させてその出力を時間的・空間的に圧縮して最終的
にシグナチャ値とし、これを正解シグナチャ値と比較し
てテストする簡易テスト法が提案されている。これは回
路構造に依存しないテスト方法として1979年IEE
E Te5t Conferenceの予稿集p37−
41において明示されておシ。
一般に圧a器として既約多項式に基づく線形帰還シフト
レノスタを用いている。この手法はすでにl 983年
VLSI Design Mar、/Apr、号pp3
4−38に6にデートのr−ドアレイLSIのテストと
して、あるいは1982年IEEE Te5t Con
fersnaeの予稿集pp484−492にマイクロ
プロセッサのテスト法としてLSI中に本テスト回路を
内蔵させ実際に応用した報告がある。本簡易テスト法は
、第4図に示す構成を存するものであυ、1は検査・テ
スト対象装置または回路、2はテスト人力バタン発生器
(ランダムバタン発生器)、3は圧縮器(シグナチャ生
成器)であシ通常は線形帰還シフトレジスタ回路(LP
SR)により構成される。4は比較器、5は外部正解シ
グナチャ値(tたはその蓄積器)である。また6は通常
動作時の入力信号。
レノスタを用いている。この手法はすでにl 983年
VLSI Design Mar、/Apr、号pp3
4−38に6にデートのr−ドアレイLSIのテストと
して、あるいは1982年IEEE Te5t Con
fersnaeの予稿集pp484−492にマイクロ
プロセッサのテスト法としてLSI中に本テスト回路を
内蔵させ実際に応用した報告がある。本簡易テスト法は
、第4図に示す構成を存するものであυ、1は検査・テ
スト対象装置または回路、2はテスト人力バタン発生器
(ランダムバタン発生器)、3は圧縮器(シグナチャ生
成器)であシ通常は線形帰還シフトレジスタ回路(LP
SR)により構成される。4は比較器、5は外部正解シ
グナチャ値(tたはその蓄積器)である。また6は通常
動作時の入力信号。
7はその出力信号である。本構成を利用すればnビット
入力の対象回路1に対し、テスト人力バタン発生器jK
よる2n個のランダムパターンを印加し、その出力を圧
縮器3に入力する。圧m器3は入力テストバタンに同期
してrビットに時間的に圧縮し、これにより最終入カテ
ストパタンの段階でrビットの固有の値(シグナチャ値
)を持つことになる。圧縮器3は一般にr次の既約多項
式に基づ(LFSRを使用することが多く、多項式によ
る除算口・路に等しい。この構成法は宮用、岩垂、今井
著「符号理論」(昭晃堂)のp121〜135に示され
ている。本回路への入力は並列にrビット入力する場合
と空間的に圧縮して1ビツトとしくrビットに対するパ
リティをとる場合が多い)。
入力の対象回路1に対し、テスト人力バタン発生器jK
よる2n個のランダムパターンを印加し、その出力を圧
縮器3に入力する。圧m器3は入力テストバタンに同期
してrビットに時間的に圧縮し、これにより最終入カテ
ストパタンの段階でrビットの固有の値(シグナチャ値
)を持つことになる。圧縮器3は一般にr次の既約多項
式に基づ(LFSRを使用することが多く、多項式によ
る除算口・路に等しい。この構成法は宮用、岩垂、今井
著「符号理論」(昭晃堂)のp121〜135に示され
ている。本回路への入力は並列にrビット入力する場合
と空間的に圧縮して1ビツトとしくrビットに対するパ
リティをとる場合が多い)。
LPSRの最低次数のシフトレノスタへ入力する場合酸
シグナチャ値と比較することで回路1の故障の有無を知
ることができる。この方法によれは対象の構造に基づき
テストバタンおよびその正解バタンを作成する必要はな
く、高速なテストが実行できる利点を有する。また圧縮
器としてr次のLFSRを用いれば、十分長いシーケン
スのテスト入力に対し、ランダムな任意の誤りは1−2
″′rの確率で検出可能であることがIEEPi: T
r、Ifnsaatlons onCornputar
、 Vol 、C−29,A6+pp 510−51
4 K示されている。このような観点から近年VLSI
K対する簡易テスト法として応用されている。
シグナチャ値と比較することで回路1の故障の有無を知
ることができる。この方法によれは対象の構造に基づき
テストバタンおよびその正解バタンを作成する必要はな
く、高速なテストが実行できる利点を有する。また圧縮
器としてr次のLFSRを用いれば、十分長いシーケン
スのテスト入力に対し、ランダムな任意の誤りは1−2
″′rの確率で検出可能であることがIEEPi: T
r、Ifnsaatlons onCornputar
、 Vol 、C−29,A6+pp 510−51
4 K示されている。このような観点から近年VLSI
K対する簡易テスト法として応用されている。
[発明が解決しようとする問題点コ
しかし、これら従来のテスト用回路の使用はあくまでも
故障・誤り検出後のオフラインのテスト用としてのみ使
用されるものであシ、オンライン動作例おける誤り検査
回路としての使用は考えられていなかった。このため、
オンライン誤り検出のためには、l@シ検出用回路が、
オフラインテスト用にはテスト用回路が別個に独立に設
けられるのが通常であシ、これらの冗長な回路の増加に
問題点を有していた。
故障・誤り検出後のオフラインのテスト用としてのみ使
用されるものであシ、オンライン動作例おける誤り検査
回路としての使用は考えられていなかった。このため、
オンライン誤り検出のためには、l@シ検出用回路が、
オフラインテスト用にはテスト用回路が別個に独立に設
けられるのが通常であシ、これらの冗長な回路の増加に
問題点を有していた。
また高信頼化を目的とする2TL化構成のシステムにお
いては1通常双方の系の出力をオンライン中に比較して
故障・誤り検出を行う構成をとるが、これはオンライン
中の誤り検出用のみであシ、どちらの系の故障かを識別
するテスト用構成とはなっていない。そのためには別途
前述のようなテスト用の回路または手段を設けなければ
ならず、全体としての冗長度が大きくなる問題点を有し
ていた。
いては1通常双方の系の出力をオンライン中に比較して
故障・誤り検出を行う構成をとるが、これはオンライン
中の誤り検出用のみであシ、どちらの系の故障かを識別
するテスト用構成とはなっていない。そのためには別途
前述のようなテスト用の回路または手段を設けなければ
ならず、全体としての冗長度が大きくなる問題点を有し
ていた。
本発明の目的はこれら冗長な回路の増加を防止すること
を目的とするものであり1%にシグナチャの作成・比較
に設けるテスト用回路を2重化した装置、または回路に
適用し、オンラインとオフラインで内部作成シグナチャ
値と外部より印加された正解シグナチャ値を切替える選
択回路を設けることによジオンライン誤り検査用にも使
用できる形態とすることにある。
を目的とするものであり1%にシグナチャの作成・比較
に設けるテスト用回路を2重化した装置、または回路に
適用し、オンラインとオフラインで内部作成シグナチャ
値と外部より印加された正解シグナチャ値を切替える選
択回路を設けることによジオンライン誤り検査用にも使
用できる形態とすることにある。
[問題点を解決するための手段と作用]本発明は、従来
オフラインテスト用に設けていたテスト回路に、オンラ
イン、オフラインでシグナチャ値の入力を切替える選択
回路を追加し、2重化構成におけるオンライン検査用に
も使用できるようKしたことを最も主要な特徴とするも
のである。従来の技術においては、2重化構成とじて一
般に比較回路を設けて双方の系からの出力を比較してオ
ンライン故障検出用に使用していた。しかし、これでは
2重系のうちどちらの系の故障かの識別は困難であシ、
そのためKは、系毎のテストが実行されるのが通常であ
る。しかし、この比較回路のみではテスト実行できず、
そのため、この比較回路とは別個に第4図に示し九シグ
ナチャ作成用の回路を追加する等別個のテスト用回路ま
たは手段を用意するのが一般であシ、この点が本発明の
特徴と異なる点である。また従来構成におけるオンライ
ン出力比較検査によれば毎クロックの比較が必要である
のに対し1本発明の構成によるオンライン比較では出力
データの履歴を保持していることからクロック毎の比較
は必ずしも必要ではな(,100クロツク毎等の定期的
な比較で検査を行うことができる相異がある。
オフラインテスト用に設けていたテスト回路に、オンラ
イン、オフラインでシグナチャ値の入力を切替える選択
回路を追加し、2重化構成におけるオンライン検査用に
も使用できるようKしたことを最も主要な特徴とするも
のである。従来の技術においては、2重化構成とじて一
般に比較回路を設けて双方の系からの出力を比較してオ
ンライン故障検出用に使用していた。しかし、これでは
2重系のうちどちらの系の故障かの識別は困難であシ、
そのためKは、系毎のテストが実行されるのが通常であ
る。しかし、この比較回路のみではテスト実行できず、
そのため、この比較回路とは別個に第4図に示し九シグ
ナチャ作成用の回路を追加する等別個のテスト用回路ま
たは手段を用意するのが一般であシ、この点が本発明の
特徴と異なる点である。また従来構成におけるオンライ
ン出力比較検査によれば毎クロックの比較が必要である
のに対し1本発明の構成によるオンライン比較では出力
データの履歴を保持していることからクロック毎の比較
は必ずしも必要ではな(,100クロツク毎等の定期的
な比較で検査を行うことができる相異がある。
[実、施例コ
以下図面を参照して本発明の実施例を詳MK説明する。
第1図は本発明の基本的構成を説明する図でめりて、1
〜7は第4図に示しだ構成と同一である。
〜7は第4図に示しだ構成と同一である。
8Gは圧縮器(シグナチャ生成器)4の出力である内部
生成シグナチャ値を示す出力信号、9は外部からの正解
シグナチャ値を示す信号81 と内部生成シグナチャ値
を示す信号8oを選択する選択回路、83は選択回路9
の出力信号である。10はオンライン時に信号8oを、
オフライン時に信号81 を入力させるために切替える
制御信号、11は比較結果を示す出力信号である。12
は比較のためのタイミングを与えるタイミング信号であ
る。1′〜11′は相対に設けた2重系の残シの系の相
当回路または信号である。
生成シグナチャ値を示す出力信号、9は外部からの正解
シグナチャ値を示す信号81 と内部生成シグナチャ値
を示す信号8oを選択する選択回路、83は選択回路9
の出力信号である。10はオンライン時に信号8oを、
オフライン時に信号81 を入力させるために切替える
制御信号、11は比較結果を示す出力信号である。12
は比較のためのタイミングを与えるタイミング信号であ
る。1′〜11′は相対に設けた2重系の残シの系の相
当回路または信号である。
第2図は本発明の第1の実施例を示すもので。
オンライン動作時の構成を示す。これは第1図における
信号10をオンライン側として信号B。
信号10をオンライン側として信号B。
C8’o)を選択回路9 (9’) Kて選択して比較
器4(4’)に入力させる構成である。このような構造
を有していることから、装置または回路1および1′の
オンライン動作中における片系の故障による影響は圧縮
器3および3′におけるシグナチャ値の相異となりて現
われ、比較回路4,4′の出力にて検出できる。この場
合の正解シグナチャ値は互いに相手の出力に基づくシグ
ナチャ値とするもので、常時、または定期的に(12の
タイミング信号の指示による)比較して装置または回路
1および1′の正常性を監視できる。
器4(4’)に入力させる構成である。このような構造
を有していることから、装置または回路1および1′の
オンライン動作中における片系の故障による影響は圧縮
器3および3′におけるシグナチャ値の相異となりて現
われ、比較回路4,4′の出力にて検出できる。この場
合の正解シグナチャ値は互いに相手の出力に基づくシグ
ナチャ値とするもので、常時、または定期的に(12の
タイミング信号の指示による)比較して装置または回路
1および1′の正常性を監視できる。
シグナチャ値の不一致を検出した2重系は次にオフライ
ンテストモードに入る。この段階で信号10を1オフラ
イン”とすることにより両系は分離され1個別にテスト
が実施される。1s3図は本発明の第2の実施例を示す
もので、オフラインテストモード時の両系の構成を示す
ものである。これはya1図における信号1011Cよ
り選択回路9(9′)において外部正解シグナチャ信号
81を選択することにより実現できる。破線にて示した
信号7 (7’)の一部はオンライン動作時に使用され
テストモード時には使われない信号線である。テスト入
力バタン発生器2(2’)は通常オンライン動作時に入
力レソスタとして動作し、テストモード時に疑似ランダ
ムバタン発生器となる回路としてもよく、そのためには
あらかじめレソスタはシフトレジスタによるLFSRの
構成としておき、オンライン通常モードとオフラインテ
ストモードで構成が切替えられる構成としておかねばな
らない。
ンテストモードに入る。この段階で信号10を1オフラ
イン”とすることにより両系は分離され1個別にテスト
が実施される。1s3図は本発明の第2の実施例を示す
もので、オフラインテストモード時の両系の構成を示す
ものである。これはya1図における信号1011Cよ
り選択回路9(9′)において外部正解シグナチャ信号
81を選択することにより実現できる。破線にて示した
信号7 (7’)の一部はオンライン動作時に使用され
テストモード時には使われない信号線である。テスト入
力バタン発生器2(2’)は通常オンライン動作時に入
力レソスタとして動作し、テストモード時に疑似ランダ
ムバタン発生器となる回路としてもよく、そのためには
あらかじめレソスタはシフトレジスタによるLFSRの
構成としておき、オンライン通常モードとオフラインテ
ストモードで構成が切替えられる構成としておかねばな
らない。
この点からテスト人力バタン発生器2(2’)は通常装
置または回路1(x’)中に含まれると考えてもよい。
置または回路1(x’)中に含まれると考えてもよい。
テストモードにおいてテスト人力バタン発生器2および
2′より2n個のパターンが発生でき、1個毎のパタン
に同期して圧縮器3および3′へのクロックタイミング
が加えられてシグナチャ値を生成していく。最後のバタ
ンか印加された段階で圧縮器3およびJ/に最終的なシ
グナチャ値が生成される。一方、5より正解シグナチャ
値が信号81の信号線を通して印加され、比較器4およ
び4′で生成シグナチャ値の信号BoC8’o)との比
較動作が行われる。これにより障害を生じていたROM
でもよく、またプログラムにより外部よ)与えるもので
もよい。また圧縮器(シグナチャ生成器)J(、?’)
の構成として出力信号7(7’)をそのまま並列にLS
FRK入力して圧縮させる並列構成の場合や、出力信号
7 (7’)のパリティをとシ空間的に圧縮して1ビツ
ト出力とし、LFSRの最低次数に相当するシフトレジ
スタへ入力させる直列構成の場合等としてもオンライン
検査として実行でき、本構成に含まれることは明白であ
る。
2′より2n個のパターンが発生でき、1個毎のパタン
に同期して圧縮器3および3′へのクロックタイミング
が加えられてシグナチャ値を生成していく。最後のバタ
ンか印加された段階で圧縮器3およびJ/に最終的なシ
グナチャ値が生成される。一方、5より正解シグナチャ
値が信号81の信号線を通して印加され、比較器4およ
び4′で生成シグナチャ値の信号BoC8’o)との比
較動作が行われる。これにより障害を生じていたROM
でもよく、またプログラムにより外部よ)与えるもので
もよい。また圧縮器(シグナチャ生成器)J(、?’)
の構成として出力信号7(7’)をそのまま並列にLS
FRK入力して圧縮させる並列構成の場合や、出力信号
7 (7’)のパリティをとシ空間的に圧縮して1ビツ
ト出力とし、LFSRの最低次数に相当するシフトレジ
スタへ入力させる直列構成の場合等としてもオンライン
検査として実行でき、本構成に含まれることは明白であ
る。
また比較タイミング信号12は、オンライン時には常時
比較する形としてもあるいは100クロツク毎等の定期
的なタイミングで比較する形としてもよい。テストモー
ト”時にはテスト人力バタン発生器2(2’)の印加バ
タンの終了時点または十分長いデータシーケンスの後の
あらかじめ定めた時点とすればよい。
比較する形としてもあるいは100クロツク毎等の定期
的なタイミングで比較する形としてもよい。テストモー
ト”時にはテスト人力バタン発生器2(2’)の印加バ
タンの終了時点または十分長いデータシーケンスの後の
あらかじめ定めた時点とすればよい。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、本来テスト用に設
けていた回路を2重系構成におけるオンライン誤り検査
用としても適用できる利点がある。
けていた回路を2重系構成におけるオンライン誤り検査
用としても適用できる利点がある。
またこのためにはオンライン通常動作時とオフラインテ
スト動作時においてシグナチャ入力を切替える選択回路
のみを追加すればよく、全体としての誤り検査・診断に
必要となるノ・−ドウエア量の増加を極力おさえること
ができる利点がある。
スト動作時においてシグナチャ入力を切替える選択回路
のみを追加すればよく、全体としての誤り検査・診断に
必要となるノ・−ドウエア量の増加を極力おさえること
ができる利点がある。
テスト用ハードウェア内蔵の形となるため、テストは通
常動作時と同等の動作速度で実行でき、実際の動作条件
における動的な回路動作の下でテストが行える利点があ
る。
常動作時と同等の動作速度で実行でき、実際の動作条件
における動的な回路動作の下でテストが行える利点があ
る。
第1図は本発明の基本構成の一例を示すブロック図、第
2図は本発明の一実施例を示す図であジオンライン動作
モード時の構成図、)篤3図は本発明の他の実施例を示
す図であシオフラインテストモード時の構成図、第4図
は従来の簡易テスト用回路を示すブロック図である。 1・・・検査テスト対象装置または回路%2・・・テス
ト人力バタン発生器、3・・・圧縮器(シグナチャ生成
器]、4・・・比較器、5・・・外部正解シグナチャ値
またはその蓄積器、6・・・装置または回路1への入力
信号、7・・・装置または回路1の出力信号、8G・・
・圧縮器3の出力信号、 8m・・・外部正解シグナチ
ャ信号、8鵞・・・選択回路9の出力信号、9・・・選
択回路、10・・・オンライン、オフライン切替制御信
号、11・・・比較器出力信号、12・・・タイミング
信号、II〜11′・・・2重系のうちの他系の上記相
当する回路または信号。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
2図は本発明の一実施例を示す図であジオンライン動作
モード時の構成図、)篤3図は本発明の他の実施例を示
す図であシオフラインテストモード時の構成図、第4図
は従来の簡易テスト用回路を示すブロック図である。 1・・・検査テスト対象装置または回路%2・・・テス
ト人力バタン発生器、3・・・圧縮器(シグナチャ生成
器]、4・・・比較器、5・・・外部正解シグナチャ値
またはその蓄積器、6・・・装置または回路1への入力
信号、7・・・装置または回路1の出力信号、8G・・
・圧縮器3の出力信号、 8m・・・外部正解シグナチ
ャ信号、8鵞・・・選択回路9の出力信号、9・・・選
択回路、10・・・オンライン、オフライン切替制御信
号、11・・・比較器出力信号、12・・・タイミング
信号、II〜11′・・・2重系のうちの他系の上記相
当する回路または信号。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
Claims (1)
- 2重化した装置(それぞれを系と呼ぶ)において、系の
出力を時間的に圧縮して固有のシグナチャ値を生成する
圧縮器と、この圧縮器からの固有のシグナチャ値と外部
より与える外部正解シグナチャ値をそれぞれオンライン
動作モード・オフラインテストモードで切換える選択回
路をそれぞれの系において有し、かつ前記選択回路を通
して出力した他系の圧縮器の出力と自系の圧縮器の出力
とをビット毎に比較する比較器をそれぞれの系において
有し、オンライン動作モード時に双方の系からのシグナ
チャ値を比較し各系中の誤りを検査するとともに、オフ
ラインテストモード時には選択回路にて外部よりの正解
シグナチャ値を選択して圧縮器の出力を比較し、それぞ
れの系における故障診断を実行することを特徴とする誤
り検査・診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP621387A JPS63176041A (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 | 誤り検査・診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP621387A JPS63176041A (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 | 誤り検査・診断方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63176041A true JPS63176041A (ja) | 1988-07-20 |
Family
ID=11632246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP621387A Pending JPS63176041A (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 | 誤り検査・診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63176041A (ja) |
-
1987
- 1987-01-16 JP JP621387A patent/JPS63176041A/ja active Pending
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