JP2871966B2 - 障害検出回路検査システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は障害検出回路検査シス
テムに関し、特に、情報処理装置内の障害検出回路自体
に障害が有るか否かを判定するための障害検出回路検査
システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、大型計算機などの情報処理装置に
は、様々な障害検出回路が設けられている。しかし障害
検出回路自体が正しく動作しているか否かを確認しなく
ては、この障害検出回路の結果に疑問が残る。そこで強
制的に障害検出回路が作動するような仕掛を組み込んで
おき、障害検出回路の動作の正否を確認できる方法がと
られる。

【０００３】強制的に障害検出回路の出力を論理的に１
とするための回路を図９（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に示
す。図９（Ａ）で組合せ回路５２３，５２４は、互いに
二重化された論理回路である。ＥＸＯＲ５２６は組合せ
論理回路の回路５２４の出力と障害検出Ｆ／ＦであるＤ
Ｒ５２５の出力との排他的論理和をとる回路である。障
害検出回路のＥＣ５２７は回路５２３と回路５２４との
出力を比較して、両者に不一致が生じた場合に信号線２
０７を論理的に“１”とする障害検出回路である。今、
回路５２３，回路５２４の出力信号線２０３，２０４が
共に論理的に“１”状態あるとする。ＤＲ５２５が
“０”ならば信号線２０６は １＋０＝１ となり、ＥＣ５２７は障害を検出しない。ＤＲ５２５を
“１”にすると信号線２０６は １＋１＝０ となり、ＥＣ５２７は障害を検出する。

【０００４】即ち、強制的にＥＣ５２７の出力信号線２
０７を論理的に“１”とできる。また、レジスタのデー
タにパリティビットが付加されている場合、障害検出回
路の検査にはそのパリティビットを誤った値にすればよ
い。以下レジスタに設定するデータにはパリティビット
は含まれているとし、パリティビットについては特に言
及しない。

【０００５】図９（Ｂ）において、ＲＥＧ５２９は信号
線２０９を介してデータを出力し、信号線２１０はその
データのパリティを出力している。

【０００６】この明細書においては、特にことわりがな
いかぎりデータに付与するパリティは偶数パリティであ
るとする。偶数パリティとは、パリティビットを含めて
“１”を示すビットの個数が偶数個である場合を言う。
反対に奇数パリティとは、パリティビットを含めて
“１”を示すビットの個数が奇数個である場合を言う。

【０００７】ＥＣ５２２は信号線２０９かあるいは信号
線２１２が奇数パリティのときに、信号線２１３を論理
的に“１”とする障害検出回路である。

【０００８】今、ＤＲ５３０は論理的に“０”であると
する。ＲＥＧ５２９のデータのビット列が全て０であり
パリティ０ならばＥＣ５３２は障害を検出しない。

【０００９】次に、ＲＥＧ５２９の内容はこのままで、
ＤＲ５３０に“１”を書き込んだとする。ＥＸＯＲ５３
１は、ＲＥＧ５２９のパリテとＤＲ５３０の出力との排
他的論理をとる回路である。ＥＸＯＲ５３１の出力は ０＋１＝１ となる。信号線２１２が奇数パリティになっているの
で、ＥＣ５２２は障害を検出する。即ち強制的にＥＣ５
２２の出力を論理的に“１”とできる。

【００１０】図９（Ｃ）でも、ＲＥＧ５２１は信号線２
０１にデータを出力し、信号線２０２にそのパリティを
出力しているとする。ＥＣ５２２は、信号線２０１ある
いは２０２のどちらかが、奇数パリティとなった時に信
号線２１４を論理的に“１”とする障害検出回路であ
る。

【００１１】この場合はＲＥＧ５２１か、あるいはパリ
ティかのどちらかが奇数パリティとなるようなデータか
あるいはパリティを書き込むことにより強制的にＥＣ５
３２の出力を論理的に“１”とできる。以下では、奇数
パリティのデータのことを障害データと称する。

【００１２】上述した以外の障害検出回路についても任
意の値を格納できるＦ／Ｆを用いて、強制的に障害検出
回路の出力を論理的に“１”とすることは可能である。

【００１３】さて、従来の大型計算機などの情報処理装
置には診断などの目的で情報処理装置内のＦ／Ｆに任意
のデータを書き込んだり、あるいはＦ／Ｆの内容を読み
出すために装置内のＦ／Ｆ同士を縦続接続してシフトレ
ジスタを形成させ、動作させる。このシフトレジスタを
スキャンパスと呼んでいる。このスキャンパスを複数本
に分けることによってデータの読み書きの高速が図られ
る。これら複数のスキャンパスを用いて、指定のＦ／Ｆ
のデータの読み書きを行うためには、スキャンパス毎に
予め付与されている個別のアドレス（以下スキャンアド
レスとする）とスキャンパスを動作させるスキャンクロ
ック及びスキャンパス動作と通常動作を切り換えるシフ
トモード指定とを制御することにより行われる。

【００１４】ＲＥＧ５２１，ＤＲ５２５，５３０がスキ
ャンパスを形成している場合、先述の強制的に障害検出
回路を作動させるためのデータの格納はスキャンパスを
用いて行うことができる。しかし、同じ情報処理装置内
にあっても障害診断等の制御を行う診断制御部はスキャ
ンパスによるデータの格納ができない場合がある。例え
ば、診断制御部はスキャンパス制御を行うが、被診断部
のスキャンパスを作動するには、スキャンアドレスやシ
フトモード指示信号等を一旦、Ｆ／Ｆに受けとってから
制御に用いる事が多い。しかし、この様なスキャン動作
を行うと、Ｆ／Ｆの内容が変っているので、受け取った
データが違うものになってしまう恐れがある。

【００１５】この他にも、診断時における診断プロセッ
サからの指示を受け取り、被診断部を制御しなくてはな
らない診断制御部はスキャンパスによるデータの読み書
きは行えないのが通常である。そこでＲＥＧ５２１やＤ
Ｒ５２５が診断制御部にある場合、スキャンパスによる
データ格納が出来ないので、診断プロセッサから直接Ｒ
ＥＧ５２１やＤＲ５２５に任意の値を格納する方法を用
いる。

【００１６】従来の情報処理装置内の障害検出回路を強
制的に動かすための構成を説明する図１０を参照する
と、診断制御部４２２の障害検出回路検査Ｆ／Ｆ４２５
に診断プロセッサ４３０から、信号線３０１を介して直
接、論理値を設定する障害検出回路検査Ｆ／Ｆ４２５
と、そして、スキャンパス３０２を介して、論理値を格
納する障害検出回路検査Ｆ／Ｆ４２６と、を有する構成
を示している。

【００１７】また、更に、図１０の細部を説明する図１
１を参照すると、診断制御部４２２は診断プロセッサ４
３０から診断するために、信号線３０２を介してスキャ
ンアドレス，信号線３２５を介してスキャンクロック，
信号線３２６を介してスキャンインデータ，信号線３２
７を介してシフトモードのデータを受けとる。そして、
診断制御部４２２で制御信号に変換されて、信号線３０
９を介してスキャンアドレス，信号線３２２を介してス
キャンクロック，信号線３２３を介してスキャンインデ
ータ，信号線３２４を介してシフトモードを被診断部４
２３に与えることにより、スキャンパス３１０，３１
５，および３２２を制御する。各スキャンパスのアドレ
スはスキャンパス３１０をＡ，スキャンパス３１５を
Ｂ，スキャンパス３２２をＣで指定する。スキャンイン
データはスキャンパス上のＦ／Ｆへの書き込みデータで
ある。各障害検出回路ＥＣ４３６，ＥＣ４４３，ＥＣ４
４５が障害を検出する動作はそれぞれ図９におけるＥＣ
５２２およびＥＣ５２７での説明と同じである。ＥＩＦ
４４６，４４７，４４８は、障害検出回路ＥＣ４３６，
４４３，４４５の出力を保持する障害表示Ｆ／Ｆである
ＥＩＦ（Ｅｒｒｏｒ Ｉｎｄｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ）で
ある。ＥＩＦ４４６，４４７，４４８の出力は信号線３
１９，３２０，３２１を介して診断プロセッサ４３０が
読み取る。

【００１８】次に、各部の詳細動作を説明すると、スキ
ャンパスを用いて被診断部４２３のＤＲ４３７およびＲ
ＥＧ４４４に任意の値を書き込む手順は、まずスキャン
パスを動作させるために、情報処理装置４２１をシフト
モードにする。シフトモードの指示は、診断プロセッサ
４３０が信号線３２７を介して診断制御部４２２に指示
を与え、診断制御部４２２が信号線３２４を介して被診
断部４２３を制御することにより行われる。情報処理装
置４２１がシフトモードになると被診断部４２３内にあ
るＦ／Ｆはスキャンパス３１０，３１５および３２２を
構成する。

【００１９】次いで、スキャンパス３１０のスキャンア
ドレスが信号線３０２を介して診断制御部４２２に与え
られる。診断制御部４２２は信号線３０９を介して被診
断部４２３にスキャンアドレスを送出しスキャンパス３
１０を有効にする。

【００２０】次いで、診断プロセッサ４３０は、スキャ
ンパス３１０上のＤＲ４３７が“１”になるようなスキ
ャンクロックとスキャンインデータが信号線３２５，３
２６を介して診断制御部４２２に送出される。診断制御
部４２２は与えられたスキャンクロックとスキャンイン
データをそれぞれ信号線３２２，３２３を介して被診断
部４２３に送出する。この結果スキャンパス３１０が動
きＤＲ４３７に“１”が格納される。ＲＥＧ４４４に障
害データを格納するときも同様である。

【００２１】ＤＲ４３７に“１”が格納され、又、ＲＥ
Ｇ４４４に障害データが格納されると、診断プロセッサ
４３０は、被診断部４２３が通常動作を行えるような信
号を情報処理装置４２１に与える。この信号を以下アド
バンスクロックと呼ぶ。アドバンスクロックは診断プロ
セッサ４３０から信号線３２８を介して診断制御部４２
２に送出される。診断制御部４２２は受取ったアドバン
スクロックを信号線３２９を介して被診断部４２３に送
出する。スキャンパス動作中のＤＲ４３７やＲＥＧ４４
４の内容は一定ではない。この間のＥＣ４４３，４４５
の出力を無効にして、ＥＩＦ４４７，４４８が不正に点
灯するのを防ぐこともアドバンスクロックの機能の一つ
である。送出するアドバンスクロックのサイクル数は強
制的に障害を生じさせるために使用するＦ／Ｆから、対
応しているＥＩＦまでのＦ／Ｆの段数に等しい。図１１
ではＤＲ４３７からＥＩＦ４４７までのＦ／Ｆの段数を
１サイクル（１Ｔ）であり、ＲＥＧ４４４からＥＩＦ４
４７までの段数も１Ｔであるからこの場合のアドバンス
クロックは１Ｔを送出する。ＤＲ４３７に“１”が格納
された時点でＥＣ４４３の出力である信号線３１６は論
理的に“１”になる。しかし被診断部４２３がアドバン
スクロックを受け取るまでは、ＥＩＦ４４７には信号線
３１６の値を取り込まれない。アドバンスクロックを受
けとると信号線３１６の値がＥＩＦ４４７に取り込まれ
保持される。ＥＩＦ４４８についても同様である。診断
プロセッサ４３０は信号線３２０，３２１を介してＥＩ
Ｆ４４８の内容を読み出す。

【００２２】次に、診断制御部４２２の動作を述べる。
診断制御部４２２は上述したようにスキャンパスによる
データの読み書きは行わない。また、診断制御部４２２
はアドバンスクロックも必要ない。これは診断制御部４
２２は、診断時も診断プロセッサとのやりとりを行うた
めに常に通常動作を行うからである。したがって、診断
制御部４２２の動作は、まず、診断プロセッサ４３０か
ら信号線３０１を介してＤＲ４３２に“１”を書き込
む。ＥＸＯＲ４３５で信号線３０３と組合せ回路４３３
の出力である信号線３０５との排他的論理和が取られ
る。これによりＥＣ４３６は信号線３０８を論理的に
“１”とする。診断制御部４２２は通常動作を行ってい
るのでＥＩＦ４４６にはＤＲ４３２が“１”となった次
のサイクルで信号線３０８の値が取り込まれ保持され
る。診断プロセッサ４３０は信号線３１９を介してＥＩ
Ｆ４４６の内容を読み出す。診断プロセッサ４３０は、
各ＥＩＦ４４６，４４７，４４８の内容からそれぞれ対
応する障害検出回路が正常に動作しているか否かを判定
する。まず予め情報処理装置４２１内のどのＦ／Ｆに、
どのような値を格納すればどのＥＩＦが点灯するのかが
分る検証データを作成しておく。次に実際に強制的に障
害を起こすＦ／Ｆと、実際に格納した値、および対応す
るＥＩＦの値とを先に作成した情報と比較する。比較し
た結果が正しければ検証しようとしている障害検出回路
は正しく動作しており、誤っていれば検証しようとして
いる障害検出回路が誤った動作をしていると判定する。

【００２３】検証データの表である図１２を参照する
と、ＤＲ４３７，ＲＥＧ４４４，ＤＲ４３２に障害検出
回路が動作する論理値を書き込み、対応するＥＩＦを点
灯させて、判定する。ＥＩＦが点灯するというのは、Ｅ
ＩＦが論理的に１になることである。

【００２４】従来の障害検出回路検査システムの動作
は、動作を説明する流れ図１３を参照すると、以下のス
テップで動作する。

【００２５】ステップ１ 診断プロセッサ４３０は情報
処理装置４２１をシフトモードにする。これにより被診
断部４２３は通常動作を停止する。また、内部Ｆ／Ｆは
スキャンパス３１０，３１５，３２２を形成する。

【００２６】ステップ２ 診断プロセッサ４３０はスキ
ャンアドレスＡを指示し、スキャンパス３１０を有効に
する。

【００２７】ステップ３ 診断プロセッサ４３０は、Ｄ
Ｒ４３７を“１”にするためのスキャンインデータとス
キャンクロックを送出する。ＤＲ４３７が“１”になる
と、ＥＣ４４３の出力である信号線３１６が論理的に
“１”となる。この時点ではＥＩＦ４４７はまだ点灯し
ない。

【００２８】ステップ４ 診断プロセッサ４３０はスキ
ャンアドレスＢを指示し、スキャンパス３１５を有効に
する。

【００２９】ステップ５ 診断プロセッサ４３０はＲＥ
Ｇ４４４に障害データを格納すためのスキャンインデー
タとスキャンクロックを送出する。ＲＥＧ４４４に障害
データが格納されるとＥＣ４４５の出力である信号線３
１８が論理的に“１”となる。この時点ではＥＩＦ４４
８はまだ点灯しない。

【００３０】ステップ６ 診断プロセッサ４３０はＤＲ
４３２に“１”を書き込む。ＥＣ４３６の出力である信
号線３０８が論理的に“１”となる。診断制御部４２２
は通常動作を行っているので、ＤＲ４３２が１になった
次のサイクルでＥＩＦ４４６が点灯する。

【００３１】ステップ７ 診断プロセッサ４３０はアド
バンスクロックを１Ｔ送出する。これにより、ＥＩＦ４
４７がＥＣ４４３の出力を取り込み点灯する。同様にＥ
ＩＦ４４８も点灯する。

【００３２】ステップ８ 診断プロセッサ４３０はＥＩ
Ｆ４４６，４４７，４４８の内容を信号線３１９，３２
０，３２１を介して読出す。

【００３３】ステップ９ 診断プロセッサ４３０はＥＩ
Ｆ４４６，４４７，４４８の内容と、図１２に示した検
証データとを比較して、ＥＣ４３６，４４３，４４５が
正常に動作したか否かを判定する。ＥＩＦ４４６を例に
挙げると図１２の項番１の検証データである「ＤＲ４３
７に″１″を書き込んだ時にＥＩＦ４４７は点灯してい
るか？」というのが判定条件である。もしこの条件に全
て合っていたら“ＥＣ４３６は正常”であり、もしこの
条件に合わない場合は“ＥＣ４３６は異常”であると判
定する。しかし、ＥＩＦ４４６は以下の要因でも１にな
り得る。

【００３４】ａ ＥＣ４３６が壊れていて常に信号線３
０８を論理的に“１”としている。

【００３５】ｂ ＥＩＦ４４６自体が壊れていて常に
“１”を保持している。

【００３６】これらの要因でＥＩＦ４４６が１になって
いてもＥＣ４３６が正常か否かは判定できないが、通常
動作中においてこの類の故障を見つけるのは容易であ
る。したがってこの場では言及しない。

【００３７】また、組合せ回路４３３，４３４のいずれ
かが故障して信号線３０５と３０６とに論理的に互いに
逆の値を送出している状態でＤＲ４３２に１を書き込む
と、ＥＩＦ４４６は“０”になるが、この場合はＤＲ４
３２を“０”にしたときにＥＩＦ４４６が“１”になる
ことが確認できればＥＣ４３６は正常に動作をしている
ことが判る。ＥＩＦ４４７，４４８についても同様の判
定を行う。

【００３８】一般に大型計算機などの情報処理装置で
は、ステップ１からステップ９までの動作と、検証デー
タを診断プログラムとしてコーディングしておき、情報
処理装置の立上げ時等にこのプログラムを動作させて、
情報処理装置内の障害検出回路が正しく動作するか否か
を確認する方法を用いている。

【００３９】

【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、診断
制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的
に論理的に１とするＦ／Ｆは診断プロセッサが直接任意
の値を書き込むことができるＦ／Ｆであり、被診断部内
の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的に論理的
に１とするＦ／Ｆはスキャンパスを介して任意の値を書
きこむことのできるＦ／Ｆである。ところが、診断プロ
セッサがＦ／Ｆに直接値を書き込む動作と、スキャンパ
スを介して書き込む動作と、はそれぞれ別の独立した動
作である。このために、情報処理装置内の障害検出回路
の是非を判定するまでの手順において、診断プログラム
のステップ数が増し、処理に時間がかかるという問題点
がある。

【００４０】

【課題を解決するための手段】この発明の障害検出回路
検査システムは、情報処理装置に内蔵され障害診断を行
うための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診
断される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正
しく動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回
路検査システムにおいて、前記障害検出回路の検査を強
制的に行うため、スキャンパスを通じて論理値を設定す
る障害検出回路検査フリップフロップ（以降Ｆ／Ｆと称
す）と、前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部
障害検出手段と、前記障害検出回路検査Ｆ／Ｆの出力を
用いて、前記診断制御部障害検出手段を強制的に検査す
る診断制御部強制障害検出手段と、前記被診断部内の障
害を検出する被診断部障害検出手段と、前記障害検出回
路検査Ｆ／Ｆの出力を用いて、前記被診断部障害検出手
段を強制的に検査する被診断部強制障害検出手段と、前
記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診断
制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判定
し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によっ
て前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか否
かを判定する診断プロセッサと、を有する。

【００４１】

【実施例】次にこの発明について図面を参照して説明す
る。

【００４２】この発明の障害検出回路検査システムの第
一の実施例の構成を示す図１を参照すると、この実施例
は、情報処理装置１に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部２と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部３と、診断制御部２に設けられる診断制御部２
自体の障害検出回路４と、スキャンパスを形成し、スキ
ャンパスによって、任意の論理値が設定され、障害検出
回路の出力を制御する被診断部３の障害検出回路検査Ｆ
／Ｆ５と、被診断部３の処理機能の障害検出回路６と、
診断制御部２の障害検出回路４を検査するための強制障
害検出回路７と、被診断部３の障害検出回路６を検査す
るための強制障害検出回路８と、情報処理装置１に障害
診断情報の送付および診断結果の判断とを行う診断プロ
セッサ９と、から構成される。これら各部の細部を説明
する図２を参照して説明する。

【００４３】診断プロセッサ９から信号線１０１を介し
てシフトモードが指示されると診断制御部２がそれを受
け取り、信号線１１３を介して、被診断部３をシフトモ
ードに制御する。シフトモードが指示されると被診断部
３は通常動作を停止する。そして、被診断部３の内部Ｆ
／Ｆは３本のスキャンパスを形成する。即ちＤＲ５３−
ＲＥＧ３１−ＤＲ５２はスキャンパス１１７を形成す
る。ＲＥＧ３５はスキャンパス１２４を形成する。ＥＩ
Ｆ６３−ＲＥＧ３６−ＥＩＦ６４はスキャンパス１２５
を形成する。

【００４４】ここでスキャンパス１１７のスキャンアド
レスをＡ，スキャンパス１２４のスキャンアドレスを
Ｂ，スキャンパス１２５のスキャンアドレスをＣとす
る。

【００４５】診断制御部２は、診断プロセッサ９が信号
線１０２を介して送付したスキャンアドレスを受けと
り、信号線１１４を介して被診断部３の各スキャンパス
を制御する。スキャンインデータ，スキャンクロック，
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ９からそれ
ぞれの信号線１０３，１０４，および１０５を介して診
断制御部２に送付される。診断制御部２は、それらを受
け取り、各々信号線１１５，１１６，および１０５を介
して被診断部３にそれぞれ送付する。

【００４６】組合せ回路２１，２２は互いに二重化され
た組合せ回路で、障害診断制御部２に含まれる。組合せ
回路３３，３４も互いに二重化された組合せ回路で、被
診断部に含まれる。論理積回路７１は被診断部３に送出
されるアドバンスクロック１０５と、被診断部３のスキ
ャンパス１１７上にあるＤＲ５１の出力との論理積をと
る。ＤＲ５３は強制障害検出回路を制御する障害検出回
路検査Ｆ／Ｆに相当する。ＥＸＯＲ７２は論理積回路７
１の出力と組合せ回路２１の出力の信号線１０７との排
他的論理和をとる排他的論理和回路である。ＥＣ４１は
信号線１０９と信号線１１０とを比較し、両者に不一致
が生じたとき信号線１１１を論理的に１とする障害検出
回路である。そして、ＤＲ５３と、有効なタイミングを
指定するための論理積回路７１とＥＸＯＲ７２と障害検
出回路のＥＣ４１とは、診断制御部の強制障害検出回路
と障害検出回路とに含まれる。

【００４７】ＥＸＯＲ８１は組合せ回路３２の出力とＤ
Ｒ５１の出力との排他的論理和をとるＥＸＯＲ回路であ
る。ＥＣ６１は信号線１２２と１２１とを比較し、両者
に不一致が生じたら信号線１２３を論理的に１とする障
害検出回路である。そして、障害検出回路検査Ｆ／Ｆで
あるＤＲ５３とＥＸＯＲ８１とＥＣ６１とによって、被
診断部３の強制障害検出回路８および障害検出回路６を
構成する。

【００４８】ＥＣ６２はＲＥＧ３５に障害データが格納
されると信号線１２７を論理的に１とする障害検出回路
である。そして、スキャンパス１２４によって、障害デ
ータをＲＥＧ３５に設定し、ＥＣ６２によって強制障害
検出回路８および障害検出回路６を構成している。ＥＩ
Ｆ４２，６３，６４は、ＥＣ４１，６１，６２の出力を
それぞれ保持する障害表示Ｆ／ＦのＥＩＦである。診断
プロセッサ９は信号線１１２，１２８，１３０を介して
ＥＩＦ４２，６３，６４の出力を読み出す。

【００４９】説明図２と、流れ図４を併用して、この実
施例の詳細な動作の説明をする。

【００５０】まず、この実施例について、予め作成する
検証データは図３に示される。そして、スキャンパスの
制御や障害検出回路の動作は従来技術で説明した通であ
る。

【００５１】ステップ１ 診断プロセッサ９は情報処理
装置１をシフトモードにする。これにより、被診断部３
は通常動作を停止する。そして、スキャンパス１１７，
１２４，１２５が形成される。

【００５２】ステップ２ 診断プロセッサ９はスキャン
アドレスＡを指示し、スキャンパス１１７を有効にす
る。

【００５３】ステップ３ 診断プロセッサ９はＤＲ５３
を論理値１とするためのスキャンインデータとスキャン
クロックを送付する。ＤＲ５３が論理値１になるとＥＸ
ＯＲ８１によって信号線１２２と信号線１２１とに不一
致が生じＥＣ６１は信号線１２３を論理的に“１”とす
る。同時にＤＲ５１の出力は論理積回路７１に送出され
る。

【００５４】ステップ４ 診断プロセッサ９はスキャン
アドレスＢを指示し、スキャンパス１２４を有効にす
る。

【００５５】ステップ５ 診断プロセッサ９はＲＥＧ３
５に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送出する。ＲＥＧ３５に障害データ
が格納されるとＥＣ６２は信号線１２７を論理的に
“１”とする。

【００５６】ステップ６ 診断プロセッサ９はアドバン
スクロックを１Ｔ送出する。ＥＩＦ６３は信号線１２３
を取り込み保持する。同様にＥＩＦ６４を信号線１２７
を取り込み保持する。同時に論理積回路７１が動作し、
信号線１０８が論理的に“１”となりＥＸＯＲ７２に送
付される。これにより信号線１０９と１１０とで不一致
が生じＥＣ４１は信号線１１１を論理的に１にする。診
断制御部２は通常動作を行っているのでＥＩＦ４２は次
のサイクルで信号線１１１の値を取り込み保持する。

【００５７】ステップ７ 診断プロセッサ９はＥＩＦ４
２，６３，６４の内容を信号線１１２，１２８，１３０
を介して読み出す。

【００５８】ステップ８ 診断プロセッサ９は、ＥＩＦ
４２，６３，６４の内容と図３に示した検証データとか
ら、ＥＩＦ４２，６３，６４は正常な動作結果であるか
否かを判定する。

【００５９】ＥＩＦ４２を例にとると「ＤＲ５３に論理
値１を書きこんだときにＥＩＦ４２は点灯しているか
？」というのが図３の１項の判定基準である。もしこの
条件に合っていたらＥＣ４１は正常であり、この条件に
合わない場合はＥＣ４１は異常であると判定する。ＥＩ
Ｆ６３，６４についても同様に判定する。

【００６０】この実施例と従来技術の場合を比較するた
め、図２と図１１において障害検出を行う箇所が同一で
あるとしたとき、それぞれ対応した動作の流れ図４と図
１３とを比較する。この実施例をもとにした図４のステ
ップ数＝８が、従来技術をもとにした図１３のステップ
数＝９よりも少なくなっている。この様に、被診断部に
あるＦ／Ｆにスキャンパスを介して任意の値を書き込
み、その出力で診断制御部の障害検出回路の出力を強制
的に論理的に“１”とすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するためのステップ数を削
減できる。図２ではＤＲ５１をＥＣ４１とＥＣ６１とで
共用しているが、同一スキャンパス上のＦ／Ｆであれ
ば、別々のＦ／Ｆでもよい（例えばＤＲ５２）。同一ス
キャンパス上の複数のＦ／Ｆの値を書き込む動作は、ス
キャンクロックとスキャンインデータを変えるだけでよ
いからである。

【００６１】ただし、いづれの場合もスキャンパス上の
Ｆ／Ｆの出力を診断制御部側で使用する時には、アドバ
ンスクロック等で有効とする必要がある。これはスキャ
ンパスが動作している間に目的のＦ／Ｆの値は不特定で
あり、このために不本意に診断制御部の障害検出回路の
出力が論理的に“１”となってしまうことを防ぐためで
ある。

【００６２】この第一の実施例では、診断制御部２内の
障害検出回路は唯一つとして説明したが、これが複数個
になっても同様の手段を用いることにより、前述したス
テップ数を削減することができる。そして、被診断個所
が増すと、ステップ数の節減効果は大きくなる。また、
この実施例中では、障害検出回路の種類を限定して記述
してあるが、種々様々な障害検出回路であっても、従来
の技術の項で述べた通り任意の値を格納できるＦ／Ｆを
用いて、強制的にそれらの障害検出回路の出力を論理的
に“１”とすることができる。

【００６３】情報処理装置内の障害検出回路の障害のあ
るなしを判定するためのステップ数を削減する方法とし
て、上述とは異る構成もできる。

【００６４】次に、請求項２に基づく第２の実施例を示
す。

【００６５】第２の実施例の構成を示す図５を参照する
と、情報処理装置１に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部２と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部３と、診断制御部２に設けられる診断制御部２
自体の障害検出回路４と、障害検出回路の検査を行うた
め、任意の論理値を診断プロセッサの書込みデータを信
号線２０１によって直接設定され、障害検出回路４の出
力を制御する障害検出回路検査Ｆ／Ｆ５と、被診断部で
処理機能を実行する回路に設ける障害検出回路６と、診
断制御部２の障害検出回路４を検査するための強制障害
検出回路７と、被診断部３の障害検出回路を検査するた
めの強制障害検出回路８と、情報処理装置１に障害診断
情報の送付および診断結果の判断を行う診断プロセッサ
９で構成する。障害検出回路検査Ｆ／Ｆ５は診断プロセ
ッサ９から直接、任意の論理値を設定されて、診断制御
部２自体および被診断部３の強制障害検出回路を制御す
る点が、第１の実施例と異なる。これら各部の細部を図
６を参照して説明する。

【００６６】ＥＸＯＲ８１はＤＲ５１と組合せ回路３３
の出力の排他的論理和をとる排他的論理和回路である。
ＥＣ６１は、信号線８２３と信号線８２４との比較を行
い、両者に不一致が生じ場合に信号線８２５を論理的に
“１”とする障害検出回路である。ＤＲ５１，ＥＸＯＲ
８１は強制障害検出回路、ならびにＥＣ６１は障害検出
回路にそれぞれ相当する。ＥＣ４１は信号線８１０と信
号線８１１との比較を行い、両者に不一致が生じた場合
に信号線８１２を論理的に“１”とする障害検出回路で
ある。そして、ＤＲ５１とＥＸＯＲ７１は強制障害検出
回路７、ならびにＥＣ４１は障害検出回路４にそれぞれ
相当する。ＥＣ６２はＲＥＧ３５に障害データがスキャ
ンパスを介して格納されたときに信号線８２９を論理的
に“１”として、強制的に障害を検出する障害検出回路
である。ＥＩＦ４２，６３，６４はＥＣ４１，６１，６
２の出力を保持するＥＩＦである。診断プロセッサ９は
信号線８１３，８３０，８３１を介してＥＩＦ４２，６
３，６４の内容を読み出す。診断プロセッサ９は信号線
８０１を介して診断制御部２の障害検出回路Ｆ／Ｆであ
るＤＲ５１に任意の値を書き込む。シフトモード，スキ
ャンアドレス，スキャンクロック，スキャンインデータ
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ９より各々
信号線８０２，８０３，８０４，８０５，および８１４
を介して診断制御部２に送付される。診断制御部２は上
述した各々の信号を受け取り、信号線８１６，８１７，
８１８，８１９および８１５を介して、被診断部３にこ
れらの信号を送付し制御する。信号線８２０，８２６，
８２７はスキャンパスである。信号線８２０のスキャン
アドレスをＡ，信号線８２６のスキャンアドレスをＢ，
および信号線８２７のスキャンアドレスをＣとする。組
合せ回路２１，２２は互いに二重化した回路である。組
合せ回路３３，３４は互いに二重化した回路である。Ｅ
ＸＯＲ７１はＤＲ５１の出力と組合せ回路２１の出力の
排他的論理和をとる回路である。情報処理装置１内の障
害検出回路の正否を判定する動作を第２の実施例の構成
を説明する図６および流れ図８を参照して、説明をす
る。また、予め作成しておく検証データは図７に示す。

【００６７】ステップ１ 診断プロセッサ９は信号線８
０１を介してＤＲ５１に論理値１を書き込む。ＤＲ５１
に論理値１が格納されると、ＥＣ４１は信号線８１２を
論理的に“１”にする。また、信号線８０７によってＥ
Ｃ６１が信号線８２５を論理的に１とする。診断制御部
２，被診断部３ともに通常動作を行っているのでＥＩＦ
４２，６３は次のサイクルで信号線８１２，８２５の値
を各々とり込み点灯する。

【００６８】ステップ２ 診断プロセッサ９は情報処理
装置１をシフトモードにする。これにより被診断部３は
通常動作を停止し、スキャンパス８２０，８２６および
８２７が形成される。

【００６９】ステップ３ 診断プロセッサ９はスキャン
アドレスＢを指示し、スキャンパス８２６を有効にす
る。

【００７０】ステップ４ 診断プロセッサ９はＲＥＧ３
５に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送付する。ＲＥＧ３５に障害データ
が設定されるとＥＣ６２は信号線８２９を論理的に
“１”にする。

【００７１】ステップ５ 診断プロセッサ９はアドバン
スクロックを１Ｔ送出する。これによりＥＩＦ６３は信
号線８２５を取り込み点灯する。ＥＩＦ６４は信号線８
２９を取り込み点灯する。

【００７２】ステップ６ 診断プロセッサ９はＥＩＦ４
２，６３，６４の内容を読み出す。

【００７３】ステップ７ 診断プロセッサ９はＥＩＦ４
２，６３，６４の内容と、図７に示した検証データとか
らＥＩＦ４２，６３，６４は正常に動作した結果である
か否かを判定する。ＥＩＦ４２を例にとると「ＤＲ５１
に１を書き込んだときにＥＩＦ４２は点灯しているか
？」というのが、図７に示した判定基準である。もしこ
の条件に合致していたらＥＣ４１は正常であり、この条
件に合致しない場合はＥＣ４１は異常であると判定す
る。ＥＩＦ６３，６４についても同様に判定をする。図
２と図６において障害検出を行う箇所が同一であるとし
た場合に、それぞれに対応した動作のフローチャート図
４と図８とを比較すると、第２の実施例を図８のステッ
プ数が従来の技術をもとにした図１３のステップ数より
も少なくなっていることがわかる。

【００７４】上述の説明によれば、診断制御部２にある
障害検出回路Ｆ／Ｆに任意の値を書き込み、その出力で
被診断部３の障害検出回路の出力を強制的に論理的に
“１”とすることにより、情報処理装置内の障害検出回
路の正否を判定するためのステップ数を削減することが
できる。

【００７５】図６ではＲＥＧ３５にスキャンパス８２６
を用いて障害データを格納しているが、図９（Ｂ）の回
路構成であればＥＣ６２の出力を強制的に論理的１とす
るのに診断制御部２にあるＦ／ＦのＤＲ５１の出力を用
いることが可能である。

【００７６】また、被診断部３で診断制御部２にある診
断プロセッサ９が直接書き込む障害検出回路Ｆ／Ｆの出
力を用いる時は、ステップ１の様に被診断部３が通常動
作中に使用することができる。

【００７７】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
診断制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強
制的に論理的に１とする障害検出回路Ｆ／Ｆを、スキャ
ンパスを介して書き込む障害検出回路Ｆ／Ｆにすること
により、情報処理装置内の障害検出回路の正否を判定す
るまでの過程における診断プログラムのステップ数を削
減することが可能である。また、被診断部内の障害を検
出する障害検出回路の出力を強制的に論理的に１とする
障害検出回路Ｆ／Ｆを、診断プロセッサが直接書き込む
障害検出回路Ｆ／Ｆにすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するまでの過程における診
断プログラムのステップ数を削減することが可能であ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施例の構成を示す図であ
る。

【図２】図１の構成の細部を説明する図である。

【図３】図２の説明例の障害の判定基準を説明する図で
ある。

【図４】図２の動作を説明する流れ図である。

【図５】この発明の第２の実施例の構成を示す図であ
る。

【図６】図５の構成の細部を説明する図である。

【図７】図６の説明例の障害の判定基準を説明する図で
ある。

【図８】図６の動作を説明する流れ図である。

【図９】従来技術おける強制障害検出回路（Ａ），
（Ｂ），（Ｃ）を示す図である。

【図１０】従来技術の障害検出回路検査システムであ
る。

【図１１】図１０の構成の細部を説明する図である。

【図１２】図１１の説明例の障害の判定基準を説明する
図である。

【図１３】図１１の動作を説明する流れ図である。

【符号の説明】

１ 情報処理装置 ２ 診断制御部 ３ 被診断部 ４ 障害検出回路 ５ 障害検出回路検査Ｆ／Ｆ ６ 障害検出回路 ７ 強制障害検出回路 ８ 強制障害検出回路 ９ 診断プロセッサ ２１ 組合せ回路 ２２ ２１と互いに二重化されている組合せ回路 ３１ レジスタ ３２ レジスタ ３３ 組合せ回路 ３４ 組合せ回路 ３５ レジスタ ３６ レジスタ ４１ 障害検出回路 ４２ 障害表示Ｆ／Ｆ ＥＩＦ（Ｅｒｒｏｒ Ｉｎｄ
ｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ） ５１ 診断プロセッサが直接格納するレジスタ ５２ スキャンパス上のＦ／Ｆ ５３ スキャンパス上のＦ／Ｆ ６１ 障害検出回路 ６２ 障害検出回路 ６３ ＥＩＦ ６４ ＥＩＦ ７１ 論理積回路（ＡＮＤ回路） ７２ 排他的論理和回路 ８１ 排他的論理和回路 １０１から１３０ 信号線 ８０１から８３１ 信号線

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報処理装置に内蔵され障害診断を行う
   ための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診断
   される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正し
   く動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回路
   検査システムにおいて、 前記障害検出回路の検査を強制的に行うため、スキャン
   パスを通じて論理値を設定する障害検出回路検査フリッ
   プフロップ（以降Ｆ／Ｆと称す）と、 前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部障害検出
   手段と、 前記障害検出回路検査Ｆ／Ｆの出力を用いて、前記診断
   制御部障害検出手段を強制的に検査する診断制御部強制
   障害検出手段と、 前記被診断部内の障害を検出する被診断部障害検出手段
   と、 前記障害検出回路検査Ｆ／Ｆの出力を用いて、前記被診
   断部障害検出手段を強制的に検査する被診断部強制障害
   検出手段と、 前記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診
   断制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判
   定し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によ
   って前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか
   否かを判定する診断プロセッサと、 を有し、前記障害検出回路自体を検査することを特徴と
   する障害検出回路検査システム。
2. 【請求項２】 情報処理装置に内蔵され障害診断を行う
   ための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診断
   される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正し
   く動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回路
   検査システムにおいて、 前記障害検出回路の検査を強制的に行うため、直接論理
   値を設定する障害検出回路検査Ｆ／Ｆと、 前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部障害検出
   手段と、 前記障害検出回路検査Ｆ／Ｆの出力を用いて、前記診断
   制御部障害検出手段を強制的に検査する診断制御部強制
   障害検出手段と、 前記被診断部内の障害を検出する被診断部障害検出手段
   と、 前記障害検出回路検査Ｆ／Ｆの出力を用いて、前記被診
   断部障害検出手段を強制的に検査する被診断部強制障害
   検出手段と、 前記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診
   断制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判
   定し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によ
   って前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか
   否かを判定する診断プロセッサと、 を有し、前記障害検出回路自体を検査することを特徴と
   する障害検出回路検査システム。