JP2871966B2 - 障害検出回路検査システム - Google Patents
障害検出回路検査システムInfo
- Publication number
- JP2871966B2 JP2871966B2 JP4218850A JP21885092A JP2871966B2 JP 2871966 B2 JP2871966 B2 JP 2871966B2 JP 4218850 A JP4218850 A JP 4218850A JP 21885092 A JP21885092 A JP 21885092A JP 2871966 B2 JP2871966 B2 JP 2871966B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection circuit
- failure detection
- diagnostic
- control unit
- fault
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は障害検出回路検査シス
テムに関し、特に、情報処理装置内の障害検出回路自体
に障害が有るか否かを判定するための障害検出回路検査
システムに関する。
テムに関し、特に、情報処理装置内の障害検出回路自体
に障害が有るか否かを判定するための障害検出回路検査
システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、大型計算機などの情報処理装置に
は、様々な障害検出回路が設けられている。しかし障害
検出回路自体が正しく動作しているか否かを確認しなく
ては、この障害検出回路の結果に疑問が残る。そこで強
制的に障害検出回路が作動するような仕掛を組み込んで
おき、障害検出回路の動作の正否を確認できる方法がと
られる。
は、様々な障害検出回路が設けられている。しかし障害
検出回路自体が正しく動作しているか否かを確認しなく
ては、この障害検出回路の結果に疑問が残る。そこで強
制的に障害検出回路が作動するような仕掛を組み込んで
おき、障害検出回路の動作の正否を確認できる方法がと
られる。
【0003】強制的に障害検出回路の出力を論理的に1
とするための回路を図9(A),(B),(C)に示
す。図9(A)で組合せ回路523,524は、互いに
二重化された論理回路である。EXOR526は組合せ
論理回路の回路524の出力と障害検出F/FであるD
R525の出力との排他的論理和をとる回路である。障
害検出回路のEC527は回路523と回路524との
出力を比較して、両者に不一致が生じた場合に信号線2
07を論理的に“1”とする障害検出回路である。今、
回路523,回路524の出力信号線203,204が
共に論理的に“1”状態あるとする。DR525が
“0”ならば信号線206は 1+0=1 となり、EC527は障害を検出しない。DR525を
“1”にすると信号線206は 1+1=0 となり、EC527は障害を検出する。
とするための回路を図9(A),(B),(C)に示
す。図9(A)で組合せ回路523,524は、互いに
二重化された論理回路である。EXOR526は組合せ
論理回路の回路524の出力と障害検出F/FであるD
R525の出力との排他的論理和をとる回路である。障
害検出回路のEC527は回路523と回路524との
出力を比較して、両者に不一致が生じた場合に信号線2
07を論理的に“1”とする障害検出回路である。今、
回路523,回路524の出力信号線203,204が
共に論理的に“1”状態あるとする。DR525が
“0”ならば信号線206は 1+0=1 となり、EC527は障害を検出しない。DR525を
“1”にすると信号線206は 1+1=0 となり、EC527は障害を検出する。
【0004】即ち、強制的にEC527の出力信号線2
07を論理的に“1”とできる。また、レジスタのデー
タにパリティビットが付加されている場合、障害検出回
路の検査にはそのパリティビットを誤った値にすればよ
い。以下レジスタに設定するデータにはパリティビット
は含まれているとし、パリティビットについては特に言
及しない。
07を論理的に“1”とできる。また、レジスタのデー
タにパリティビットが付加されている場合、障害検出回
路の検査にはそのパリティビットを誤った値にすればよ
い。以下レジスタに設定するデータにはパリティビット
は含まれているとし、パリティビットについては特に言
及しない。
【0005】図9(B)において、REG529は信号
線209を介してデータを出力し、信号線210はその
データのパリティを出力している。
線209を介してデータを出力し、信号線210はその
データのパリティを出力している。
【0006】この明細書においては、特にことわりがな
いかぎりデータに付与するパリティは偶数パリティであ
るとする。偶数パリティとは、パリティビットを含めて
“1”を示すビットの個数が偶数個である場合を言う。
反対に奇数パリティとは、パリティビットを含めて
“1”を示すビットの個数が奇数個である場合を言う。
いかぎりデータに付与するパリティは偶数パリティであ
るとする。偶数パリティとは、パリティビットを含めて
“1”を示すビットの個数が偶数個である場合を言う。
反対に奇数パリティとは、パリティビットを含めて
“1”を示すビットの個数が奇数個である場合を言う。
【0007】EC522は信号線209かあるいは信号
線212が奇数パリティのときに、信号線213を論理
的に“1”とする障害検出回路である。
線212が奇数パリティのときに、信号線213を論理
的に“1”とする障害検出回路である。
【0008】今、DR530は論理的に“0”であると
する。REG529のデータのビット列が全て0であり
パリティ0ならばEC532は障害を検出しない。
する。REG529のデータのビット列が全て0であり
パリティ0ならばEC532は障害を検出しない。
【0009】次に、REG529の内容はこのままで、
DR530に“1”を書き込んだとする。EXOR53
1は、REG529のパリテとDR530の出力との排
他的論理をとる回路である。EXOR531の出力は 0+1=1 となる。信号線212が奇数パリティになっているの
で、EC522は障害を検出する。即ち強制的にEC5
22の出力を論理的に“1”とできる。
DR530に“1”を書き込んだとする。EXOR53
1は、REG529のパリテとDR530の出力との排
他的論理をとる回路である。EXOR531の出力は 0+1=1 となる。信号線212が奇数パリティになっているの
で、EC522は障害を検出する。即ち強制的にEC5
22の出力を論理的に“1”とできる。
【0010】図9(C)でも、REG521は信号線2
01にデータを出力し、信号線202にそのパリティを
出力しているとする。EC522は、信号線201ある
いは202のどちらかが、奇数パリティとなった時に信
号線214を論理的に“1”とする障害検出回路であ
る。
01にデータを出力し、信号線202にそのパリティを
出力しているとする。EC522は、信号線201ある
いは202のどちらかが、奇数パリティとなった時に信
号線214を論理的に“1”とする障害検出回路であ
る。
【0011】この場合はREG521か、あるいはパリ
ティかのどちらかが奇数パリティとなるようなデータか
あるいはパリティを書き込むことにより強制的にEC5
32の出力を論理的に“1”とできる。以下では、奇数
パリティのデータのことを障害データと称する。
ティかのどちらかが奇数パリティとなるようなデータか
あるいはパリティを書き込むことにより強制的にEC5
32の出力を論理的に“1”とできる。以下では、奇数
パリティのデータのことを障害データと称する。
【0012】上述した以外の障害検出回路についても任
意の値を格納できるF/Fを用いて、強制的に障害検出
回路の出力を論理的に“1”とすることは可能である。
意の値を格納できるF/Fを用いて、強制的に障害検出
回路の出力を論理的に“1”とすることは可能である。
【0013】さて、従来の大型計算機などの情報処理装
置には診断などの目的で情報処理装置内のF/Fに任意
のデータを書き込んだり、あるいはF/Fの内容を読み
出すために装置内のF/F同士を縦続接続してシフトレ
ジスタを形成させ、動作させる。このシフトレジスタを
スキャンパスと呼んでいる。このスキャンパスを複数本
に分けることによってデータの読み書きの高速が図られ
る。これら複数のスキャンパスを用いて、指定のF/F
のデータの読み書きを行うためには、スキャンパス毎に
予め付与されている個別のアドレス(以下スキャンアド
レスとする)とスキャンパスを動作させるスキャンクロ
ック及びスキャンパス動作と通常動作を切り換えるシフ
トモード指定とを制御することにより行われる。
置には診断などの目的で情報処理装置内のF/Fに任意
のデータを書き込んだり、あるいはF/Fの内容を読み
出すために装置内のF/F同士を縦続接続してシフトレ
ジスタを形成させ、動作させる。このシフトレジスタを
スキャンパスと呼んでいる。このスキャンパスを複数本
に分けることによってデータの読み書きの高速が図られ
る。これら複数のスキャンパスを用いて、指定のF/F
のデータの読み書きを行うためには、スキャンパス毎に
予め付与されている個別のアドレス(以下スキャンアド
レスとする)とスキャンパスを動作させるスキャンクロ
ック及びスキャンパス動作と通常動作を切り換えるシフ
トモード指定とを制御することにより行われる。
【0014】REG521,DR525,530がスキ
ャンパスを形成している場合、先述の強制的に障害検出
回路を作動させるためのデータの格納はスキャンパスを
用いて行うことができる。しかし、同じ情報処理装置内
にあっても障害診断等の制御を行う診断制御部はスキャ
ンパスによるデータの格納ができない場合がある。例え
ば、診断制御部はスキャンパス制御を行うが、被診断部
のスキャンパスを作動するには、スキャンアドレスやシ
フトモード指示信号等を一旦、F/Fに受けとってから
制御に用いる事が多い。しかし、この様なスキャン動作
を行うと、F/Fの内容が変っているので、受け取った
データが違うものになってしまう恐れがある。
ャンパスを形成している場合、先述の強制的に障害検出
回路を作動させるためのデータの格納はスキャンパスを
用いて行うことができる。しかし、同じ情報処理装置内
にあっても障害診断等の制御を行う診断制御部はスキャ
ンパスによるデータの格納ができない場合がある。例え
ば、診断制御部はスキャンパス制御を行うが、被診断部
のスキャンパスを作動するには、スキャンアドレスやシ
フトモード指示信号等を一旦、F/Fに受けとってから
制御に用いる事が多い。しかし、この様なスキャン動作
を行うと、F/Fの内容が変っているので、受け取った
データが違うものになってしまう恐れがある。
【0015】この他にも、診断時における診断プロセッ
サからの指示を受け取り、被診断部を制御しなくてはな
らない診断制御部はスキャンパスによるデータの読み書
きは行えないのが通常である。そこでREG521やD
R525が診断制御部にある場合、スキャンパスによる
データ格納が出来ないので、診断プロセッサから直接R
EG521やDR525に任意の値を格納する方法を用
いる。
サからの指示を受け取り、被診断部を制御しなくてはな
らない診断制御部はスキャンパスによるデータの読み書
きは行えないのが通常である。そこでREG521やD
R525が診断制御部にある場合、スキャンパスによる
データ格納が出来ないので、診断プロセッサから直接R
EG521やDR525に任意の値を格納する方法を用
いる。
【0016】従来の情報処理装置内の障害検出回路を強
制的に動かすための構成を説明する図10を参照する
と、診断制御部422の障害検出回路検査F/F425
に診断プロセッサ430から、信号線301を介して直
接、論理値を設定する障害検出回路検査F/F425
と、そして、スキャンパス302を介して、論理値を格
納する障害検出回路検査F/F426と、を有する構成
を示している。
制的に動かすための構成を説明する図10を参照する
と、診断制御部422の障害検出回路検査F/F425
に診断プロセッサ430から、信号線301を介して直
接、論理値を設定する障害検出回路検査F/F425
と、そして、スキャンパス302を介して、論理値を格
納する障害検出回路検査F/F426と、を有する構成
を示している。
【0017】また、更に、図10の細部を説明する図1
1を参照すると、診断制御部422は診断プロセッサ4
30から診断するために、信号線302を介してスキャ
ンアドレス,信号線325を介してスキャンクロック,
信号線326を介してスキャンインデータ,信号線32
7を介してシフトモードのデータを受けとる。そして、
診断制御部422で制御信号に変換されて、信号線30
9を介してスキャンアドレス,信号線322を介してス
キャンクロック,信号線323を介してスキャンインデ
ータ,信号線324を介してシフトモードを被診断部4
23に与えることにより、スキャンパス310,31
5,および322を制御する。各スキャンパスのアドレ
スはスキャンパス310をA,スキャンパス315を
B,スキャンパス322をCで指定する。スキャンイン
データはスキャンパス上のF/Fへの書き込みデータで
ある。各障害検出回路EC436,EC443,EC4
45が障害を検出する動作はそれぞれ図9におけるEC
522およびEC527での説明と同じである。EIF
446,447,448は、障害検出回路EC436,
443,445の出力を保持する障害表示F/Fである
EIF(Error Indicate Flag)で
ある。EIF446,447,448の出力は信号線3
19,320,321を介して診断プロセッサ430が
読み取る。
1を参照すると、診断制御部422は診断プロセッサ4
30から診断するために、信号線302を介してスキャ
ンアドレス,信号線325を介してスキャンクロック,
信号線326を介してスキャンインデータ,信号線32
7を介してシフトモードのデータを受けとる。そして、
診断制御部422で制御信号に変換されて、信号線30
9を介してスキャンアドレス,信号線322を介してス
キャンクロック,信号線323を介してスキャンインデ
ータ,信号線324を介してシフトモードを被診断部4
23に与えることにより、スキャンパス310,31
5,および322を制御する。各スキャンパスのアドレ
スはスキャンパス310をA,スキャンパス315を
B,スキャンパス322をCで指定する。スキャンイン
データはスキャンパス上のF/Fへの書き込みデータで
ある。各障害検出回路EC436,EC443,EC4
45が障害を検出する動作はそれぞれ図9におけるEC
522およびEC527での説明と同じである。EIF
446,447,448は、障害検出回路EC436,
443,445の出力を保持する障害表示F/Fである
EIF(Error Indicate Flag)で
ある。EIF446,447,448の出力は信号線3
19,320,321を介して診断プロセッサ430が
読み取る。
【0018】次に、各部の詳細動作を説明すると、スキ
ャンパスを用いて被診断部423のDR437およびR
EG444に任意の値を書き込む手順は、まずスキャン
パスを動作させるために、情報処理装置421をシフト
モードにする。シフトモードの指示は、診断プロセッサ
430が信号線327を介して診断制御部422に指示
を与え、診断制御部422が信号線324を介して被診
断部423を制御することにより行われる。情報処理装
置421がシフトモードになると被診断部423内にあ
るF/Fはスキャンパス310,315および322を
構成する。
ャンパスを用いて被診断部423のDR437およびR
EG444に任意の値を書き込む手順は、まずスキャン
パスを動作させるために、情報処理装置421をシフト
モードにする。シフトモードの指示は、診断プロセッサ
430が信号線327を介して診断制御部422に指示
を与え、診断制御部422が信号線324を介して被診
断部423を制御することにより行われる。情報処理装
置421がシフトモードになると被診断部423内にあ
るF/Fはスキャンパス310,315および322を
構成する。
【0019】次いで、スキャンパス310のスキャンア
ドレスが信号線302を介して診断制御部422に与え
られる。診断制御部422は信号線309を介して被診
断部423にスキャンアドレスを送出しスキャンパス3
10を有効にする。
ドレスが信号線302を介して診断制御部422に与え
られる。診断制御部422は信号線309を介して被診
断部423にスキャンアドレスを送出しスキャンパス3
10を有効にする。
【0020】次いで、診断プロセッサ430は、スキャ
ンパス310上のDR437が“1”になるようなスキ
ャンクロックとスキャンインデータが信号線325,3
26を介して診断制御部422に送出される。診断制御
部422は与えられたスキャンクロックとスキャンイン
データをそれぞれ信号線322,323を介して被診断
部423に送出する。この結果スキャンパス310が動
きDR437に“1”が格納される。REG444に障
害データを格納するときも同様である。
ンパス310上のDR437が“1”になるようなスキ
ャンクロックとスキャンインデータが信号線325,3
26を介して診断制御部422に送出される。診断制御
部422は与えられたスキャンクロックとスキャンイン
データをそれぞれ信号線322,323を介して被診断
部423に送出する。この結果スキャンパス310が動
きDR437に“1”が格納される。REG444に障
害データを格納するときも同様である。
【0021】DR437に“1”が格納され、又、RE
G444に障害データが格納されると、診断プロセッサ
430は、被診断部423が通常動作を行えるような信
号を情報処理装置421に与える。この信号を以下アド
バンスクロックと呼ぶ。アドバンスクロックは診断プロ
セッサ430から信号線328を介して診断制御部42
2に送出される。診断制御部422は受取ったアドバン
スクロックを信号線329を介して被診断部423に送
出する。スキャンパス動作中のDR437やREG44
4の内容は一定ではない。この間のEC443,445
の出力を無効にして、EIF447,448が不正に点
灯するのを防ぐこともアドバンスクロックの機能の一つ
である。送出するアドバンスクロックのサイクル数は強
制的に障害を生じさせるために使用するF/Fから、対
応しているEIFまでのF/Fの段数に等しい。図11
ではDR437からEIF447までのF/Fの段数を
1サイクル(1T)であり、REG444からEIF4
47までの段数も1Tであるからこの場合のアドバンス
クロックは1Tを送出する。DR437に“1”が格納
された時点でEC443の出力である信号線316は論
理的に“1”になる。しかし被診断部423がアドバン
スクロックを受け取るまでは、EIF447には信号線
316の値を取り込まれない。アドバンスクロックを受
けとると信号線316の値がEIF447に取り込まれ
保持される。EIF448についても同様である。診断
プロセッサ430は信号線320,321を介してEI
F448の内容を読み出す。
G444に障害データが格納されると、診断プロセッサ
430は、被診断部423が通常動作を行えるような信
号を情報処理装置421に与える。この信号を以下アド
バンスクロックと呼ぶ。アドバンスクロックは診断プロ
セッサ430から信号線328を介して診断制御部42
2に送出される。診断制御部422は受取ったアドバン
スクロックを信号線329を介して被診断部423に送
出する。スキャンパス動作中のDR437やREG44
4の内容は一定ではない。この間のEC443,445
の出力を無効にして、EIF447,448が不正に点
灯するのを防ぐこともアドバンスクロックの機能の一つ
である。送出するアドバンスクロックのサイクル数は強
制的に障害を生じさせるために使用するF/Fから、対
応しているEIFまでのF/Fの段数に等しい。図11
ではDR437からEIF447までのF/Fの段数を
1サイクル(1T)であり、REG444からEIF4
47までの段数も1Tであるからこの場合のアドバンス
クロックは1Tを送出する。DR437に“1”が格納
された時点でEC443の出力である信号線316は論
理的に“1”になる。しかし被診断部423がアドバン
スクロックを受け取るまでは、EIF447には信号線
316の値を取り込まれない。アドバンスクロックを受
けとると信号線316の値がEIF447に取り込まれ
保持される。EIF448についても同様である。診断
プロセッサ430は信号線320,321を介してEI
F448の内容を読み出す。
【0022】次に、診断制御部422の動作を述べる。
診断制御部422は上述したようにスキャンパスによる
データの読み書きは行わない。また、診断制御部422
はアドバンスクロックも必要ない。これは診断制御部4
22は、診断時も診断プロセッサとのやりとりを行うた
めに常に通常動作を行うからである。したがって、診断
制御部422の動作は、まず、診断プロセッサ430か
ら信号線301を介してDR432に“1”を書き込
む。EXOR435で信号線303と組合せ回路433
の出力である信号線305との排他的論理和が取られ
る。これによりEC436は信号線308を論理的に
“1”とする。診断制御部422は通常動作を行ってい
るのでEIF446にはDR432が“1”となった次
のサイクルで信号線308の値が取り込まれ保持され
る。診断プロセッサ430は信号線319を介してEI
F446の内容を読み出す。診断プロセッサ430は、
各EIF446,447,448の内容からそれぞれ対
応する障害検出回路が正常に動作しているか否かを判定
する。まず予め情報処理装置421内のどのF/Fに、
どのような値を格納すればどのEIFが点灯するのかが
分る検証データを作成しておく。次に実際に強制的に障
害を起こすF/Fと、実際に格納した値、および対応す
るEIFの値とを先に作成した情報と比較する。比較し
た結果が正しければ検証しようとしている障害検出回路
は正しく動作しており、誤っていれば検証しようとして
いる障害検出回路が誤った動作をしていると判定する。
診断制御部422は上述したようにスキャンパスによる
データの読み書きは行わない。また、診断制御部422
はアドバンスクロックも必要ない。これは診断制御部4
22は、診断時も診断プロセッサとのやりとりを行うた
めに常に通常動作を行うからである。したがって、診断
制御部422の動作は、まず、診断プロセッサ430か
ら信号線301を介してDR432に“1”を書き込
む。EXOR435で信号線303と組合せ回路433
の出力である信号線305との排他的論理和が取られ
る。これによりEC436は信号線308を論理的に
“1”とする。診断制御部422は通常動作を行ってい
るのでEIF446にはDR432が“1”となった次
のサイクルで信号線308の値が取り込まれ保持され
る。診断プロセッサ430は信号線319を介してEI
F446の内容を読み出す。診断プロセッサ430は、
各EIF446,447,448の内容からそれぞれ対
応する障害検出回路が正常に動作しているか否かを判定
する。まず予め情報処理装置421内のどのF/Fに、
どのような値を格納すればどのEIFが点灯するのかが
分る検証データを作成しておく。次に実際に強制的に障
害を起こすF/Fと、実際に格納した値、および対応す
るEIFの値とを先に作成した情報と比較する。比較し
た結果が正しければ検証しようとしている障害検出回路
は正しく動作しており、誤っていれば検証しようとして
いる障害検出回路が誤った動作をしていると判定する。
【0023】検証データの表である図12を参照する
と、DR437,REG444,DR432に障害検出
回路が動作する論理値を書き込み、対応するEIFを点
灯させて、判定する。EIFが点灯するというのは、E
IFが論理的に1になることである。
と、DR437,REG444,DR432に障害検出
回路が動作する論理値を書き込み、対応するEIFを点
灯させて、判定する。EIFが点灯するというのは、E
IFが論理的に1になることである。
【0024】従来の障害検出回路検査システムの動作
は、動作を説明する流れ図13を参照すると、以下のス
テップで動作する。
は、動作を説明する流れ図13を参照すると、以下のス
テップで動作する。
【0025】ステップ1 診断プロセッサ430は情報
処理装置421をシフトモードにする。これにより被診
断部423は通常動作を停止する。また、内部F/Fは
スキャンパス310,315,322を形成する。
処理装置421をシフトモードにする。これにより被診
断部423は通常動作を停止する。また、内部F/Fは
スキャンパス310,315,322を形成する。
【0026】ステップ2 診断プロセッサ430はスキ
ャンアドレスAを指示し、スキャンパス310を有効に
する。
ャンアドレスAを指示し、スキャンパス310を有効に
する。
【0027】ステップ3 診断プロセッサ430は、D
R437を“1”にするためのスキャンインデータとス
キャンクロックを送出する。DR437が“1”になる
と、EC443の出力である信号線316が論理的に
“1”となる。この時点ではEIF447はまだ点灯し
ない。
R437を“1”にするためのスキャンインデータとス
キャンクロックを送出する。DR437が“1”になる
と、EC443の出力である信号線316が論理的に
“1”となる。この時点ではEIF447はまだ点灯し
ない。
【0028】ステップ4 診断プロセッサ430はスキ
ャンアドレスBを指示し、スキャンパス315を有効に
する。
ャンアドレスBを指示し、スキャンパス315を有効に
する。
【0029】ステップ5 診断プロセッサ430はRE
G444に障害データを格納すためのスキャンインデー
タとスキャンクロックを送出する。REG444に障害
データが格納されるとEC445の出力である信号線3
18が論理的に“1”となる。この時点ではEIF44
8はまだ点灯しない。
G444に障害データを格納すためのスキャンインデー
タとスキャンクロックを送出する。REG444に障害
データが格納されるとEC445の出力である信号線3
18が論理的に“1”となる。この時点ではEIF44
8はまだ点灯しない。
【0030】ステップ6 診断プロセッサ430はDR
432に“1”を書き込む。EC436の出力である信
号線308が論理的に“1”となる。診断制御部422
は通常動作を行っているので、DR432が1になった
次のサイクルでEIF446が点灯する。
432に“1”を書き込む。EC436の出力である信
号線308が論理的に“1”となる。診断制御部422
は通常動作を行っているので、DR432が1になった
次のサイクルでEIF446が点灯する。
【0031】ステップ7 診断プロセッサ430はアド
バンスクロックを1T送出する。これにより、EIF4
47がEC443の出力を取り込み点灯する。同様にE
IF448も点灯する。
バンスクロックを1T送出する。これにより、EIF4
47がEC443の出力を取り込み点灯する。同様にE
IF448も点灯する。
【0032】ステップ8 診断プロセッサ430はEI
F446,447,448の内容を信号線319,32
0,321を介して読出す。
F446,447,448の内容を信号線319,32
0,321を介して読出す。
【0033】ステップ9 診断プロセッサ430はEI
F446,447,448の内容と、図12に示した検
証データとを比較して、EC436,443,445が
正常に動作したか否かを判定する。EIF446を例に
挙げると図12の項番1の検証データである「DR43
7に″1″を書き込んだ時にEIF447は点灯してい
るか?」というのが判定条件である。もしこの条件に全
て合っていたら“EC436は正常”であり、もしこの
条件に合わない場合は“EC436は異常”であると判
定する。しかし、EIF446は以下の要因でも1にな
り得る。
F446,447,448の内容と、図12に示した検
証データとを比較して、EC436,443,445が
正常に動作したか否かを判定する。EIF446を例に
挙げると図12の項番1の検証データである「DR43
7に″1″を書き込んだ時にEIF447は点灯してい
るか?」というのが判定条件である。もしこの条件に全
て合っていたら“EC436は正常”であり、もしこの
条件に合わない場合は“EC436は異常”であると判
定する。しかし、EIF446は以下の要因でも1にな
り得る。
【0034】a EC436が壊れていて常に信号線3
08を論理的に“1”としている。
08を論理的に“1”としている。
【0035】b EIF446自体が壊れていて常に
“1”を保持している。
“1”を保持している。
【0036】これらの要因でEIF446が1になって
いてもEC436が正常か否かは判定できないが、通常
動作中においてこの類の故障を見つけるのは容易であ
る。したがってこの場では言及しない。
いてもEC436が正常か否かは判定できないが、通常
動作中においてこの類の故障を見つけるのは容易であ
る。したがってこの場では言及しない。
【0037】また、組合せ回路433,434のいずれ
かが故障して信号線305と306とに論理的に互いに
逆の値を送出している状態でDR432に1を書き込む
と、EIF446は“0”になるが、この場合はDR4
32を“0”にしたときにEIF446が“1”になる
ことが確認できればEC436は正常に動作をしている
ことが判る。EIF447,448についても同様の判
定を行う。
かが故障して信号線305と306とに論理的に互いに
逆の値を送出している状態でDR432に1を書き込む
と、EIF446は“0”になるが、この場合はDR4
32を“0”にしたときにEIF446が“1”になる
ことが確認できればEC436は正常に動作をしている
ことが判る。EIF447,448についても同様の判
定を行う。
【0038】一般に大型計算機などの情報処理装置で
は、ステップ1からステップ9までの動作と、検証デー
タを診断プログラムとしてコーディングしておき、情報
処理装置の立上げ時等にこのプログラムを動作させて、
情報処理装置内の障害検出回路が正しく動作するか否か
を確認する方法を用いている。
は、ステップ1からステップ9までの動作と、検証デー
タを診断プログラムとしてコーディングしておき、情報
処理装置の立上げ時等にこのプログラムを動作させて、
情報処理装置内の障害検出回路が正しく動作するか否か
を確認する方法を用いている。
【0039】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、診断
制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的
に論理的に1とするF/Fは診断プロセッサが直接任意
の値を書き込むことができるF/Fであり、被診断部内
の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的に論理的
に1とするF/Fはスキャンパスを介して任意の値を書
きこむことのできるF/Fである。ところが、診断プロ
セッサがF/Fに直接値を書き込む動作と、スキャンパ
スを介して書き込む動作と、はそれぞれ別の独立した動
作である。このために、情報処理装置内の障害検出回路
の是非を判定するまでの手順において、診断プログラム
のステップ数が増し、処理に時間がかかるという問題点
がある。
制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的
に論理的に1とするF/Fは診断プロセッサが直接任意
の値を書き込むことができるF/Fであり、被診断部内
の障害を検出する障害検出回路の出力を強制的に論理的
に1とするF/Fはスキャンパスを介して任意の値を書
きこむことのできるF/Fである。ところが、診断プロ
セッサがF/Fに直接値を書き込む動作と、スキャンパ
スを介して書き込む動作と、はそれぞれ別の独立した動
作である。このために、情報処理装置内の障害検出回路
の是非を判定するまでの手順において、診断プログラム
のステップ数が増し、処理に時間がかかるという問題点
がある。
【0040】
【課題を解決するための手段】この発明の障害検出回路
検査システムは、情報処理装置に内蔵され障害診断を行
うための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診
断される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正
しく動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回
路検査システムにおいて、前記障害検出回路の検査を強
制的に行うため、スキャンパスを通じて論理値を設定す
る障害検出回路検査フリップフロップ(以降F/Fと称
す)と、前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部
障害検出手段と、前記障害検出回路検査F/Fの出力を
用いて、前記診断制御部障害検出手段を強制的に検査す
る診断制御部強制障害検出手段と、前記被診断部内の障
害を検出する被診断部障害検出手段と、前記障害検出回
路検査F/Fの出力を用いて、前記被診断部障害検出手
段を強制的に検査する被診断部強制障害検出手段と、前
記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診断
制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判定
し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によっ
て前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか否
かを判定する診断プロセッサと、を有する。
検査システムは、情報処理装置に内蔵され障害診断を行
うための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診
断される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正
しく動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回
路検査システムにおいて、前記障害検出回路の検査を強
制的に行うため、スキャンパスを通じて論理値を設定す
る障害検出回路検査フリップフロップ(以降F/Fと称
す)と、前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部
障害検出手段と、前記障害検出回路検査F/Fの出力を
用いて、前記診断制御部障害検出手段を強制的に検査す
る診断制御部強制障害検出手段と、前記被診断部内の障
害を検出する被診断部障害検出手段と、前記障害検出回
路検査F/Fの出力を用いて、前記被診断部障害検出手
段を強制的に検査する被診断部強制障害検出手段と、前
記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診断
制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判定
し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によっ
て前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか否
かを判定する診断プロセッサと、を有する。
【0041】
【実施例】次にこの発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0042】この発明の障害検出回路検査システムの第
一の実施例の構成を示す図1を参照すると、この実施例
は、情報処理装置1に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部2と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部3と、診断制御部2に設けられる診断制御部2
自体の障害検出回路4と、スキャンパスを形成し、スキ
ャンパスによって、任意の論理値が設定され、障害検出
回路の出力を制御する被診断部3の障害検出回路検査F
/F5と、被診断部3の処理機能の障害検出回路6と、
診断制御部2の障害検出回路4を検査するための強制障
害検出回路7と、被診断部3の障害検出回路6を検査す
るための強制障害検出回路8と、情報処理装置1に障害
診断情報の送付および診断結果の判断とを行う診断プロ
セッサ9と、から構成される。これら各部の細部を説明
する図2を参照して説明する。
一の実施例の構成を示す図1を参照すると、この実施例
は、情報処理装置1に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部2と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部3と、診断制御部2に設けられる診断制御部2
自体の障害検出回路4と、スキャンパスを形成し、スキ
ャンパスによって、任意の論理値が設定され、障害検出
回路の出力を制御する被診断部3の障害検出回路検査F
/F5と、被診断部3の処理機能の障害検出回路6と、
診断制御部2の障害検出回路4を検査するための強制障
害検出回路7と、被診断部3の障害検出回路6を検査す
るための強制障害検出回路8と、情報処理装置1に障害
診断情報の送付および診断結果の判断とを行う診断プロ
セッサ9と、から構成される。これら各部の細部を説明
する図2を参照して説明する。
【0043】診断プロセッサ9から信号線101を介し
てシフトモードが指示されると診断制御部2がそれを受
け取り、信号線113を介して、被診断部3をシフトモ
ードに制御する。シフトモードが指示されると被診断部
3は通常動作を停止する。そして、被診断部3の内部F
/Fは3本のスキャンパスを形成する。即ちDR53−
REG31−DR52はスキャンパス117を形成す
る。REG35はスキャンパス124を形成する。EI
F63−REG36−EIF64はスキャンパス125
を形成する。
てシフトモードが指示されると診断制御部2がそれを受
け取り、信号線113を介して、被診断部3をシフトモ
ードに制御する。シフトモードが指示されると被診断部
3は通常動作を停止する。そして、被診断部3の内部F
/Fは3本のスキャンパスを形成する。即ちDR53−
REG31−DR52はスキャンパス117を形成す
る。REG35はスキャンパス124を形成する。EI
F63−REG36−EIF64はスキャンパス125
を形成する。
【0044】ここでスキャンパス117のスキャンアド
レスをA,スキャンパス124のスキャンアドレスを
B,スキャンパス125のスキャンアドレスをCとす
る。
レスをA,スキャンパス124のスキャンアドレスを
B,スキャンパス125のスキャンアドレスをCとす
る。
【0045】診断制御部2は、診断プロセッサ9が信号
線102を介して送付したスキャンアドレスを受けと
り、信号線114を介して被診断部3の各スキャンパス
を制御する。スキャンインデータ,スキャンクロック,
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ9からそれ
ぞれの信号線103,104,および105を介して診
断制御部2に送付される。診断制御部2は、それらを受
け取り、各々信号線115,116,および105を介
して被診断部3にそれぞれ送付する。
線102を介して送付したスキャンアドレスを受けと
り、信号線114を介して被診断部3の各スキャンパス
を制御する。スキャンインデータ,スキャンクロック,
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ9からそれ
ぞれの信号線103,104,および105を介して診
断制御部2に送付される。診断制御部2は、それらを受
け取り、各々信号線115,116,および105を介
して被診断部3にそれぞれ送付する。
【0046】組合せ回路21,22は互いに二重化され
た組合せ回路で、障害診断制御部2に含まれる。組合せ
回路33,34も互いに二重化された組合せ回路で、被
診断部に含まれる。論理積回路71は被診断部3に送出
されるアドバンスクロック105と、被診断部3のスキ
ャンパス117上にあるDR51の出力との論理積をと
る。DR53は強制障害検出回路を制御する障害検出回
路検査F/Fに相当する。EXOR72は論理積回路7
1の出力と組合せ回路21の出力の信号線107との排
他的論理和をとる排他的論理和回路である。EC41は
信号線109と信号線110とを比較し、両者に不一致
が生じたとき信号線111を論理的に1とする障害検出
回路である。そして、DR53と、有効なタイミングを
指定するための論理積回路71とEXOR72と障害検
出回路のEC41とは、診断制御部の強制障害検出回路
と障害検出回路とに含まれる。
た組合せ回路で、障害診断制御部2に含まれる。組合せ
回路33,34も互いに二重化された組合せ回路で、被
診断部に含まれる。論理積回路71は被診断部3に送出
されるアドバンスクロック105と、被診断部3のスキ
ャンパス117上にあるDR51の出力との論理積をと
る。DR53は強制障害検出回路を制御する障害検出回
路検査F/Fに相当する。EXOR72は論理積回路7
1の出力と組合せ回路21の出力の信号線107との排
他的論理和をとる排他的論理和回路である。EC41は
信号線109と信号線110とを比較し、両者に不一致
が生じたとき信号線111を論理的に1とする障害検出
回路である。そして、DR53と、有効なタイミングを
指定するための論理積回路71とEXOR72と障害検
出回路のEC41とは、診断制御部の強制障害検出回路
と障害検出回路とに含まれる。
【0047】EXOR81は組合せ回路32の出力とD
R51の出力との排他的論理和をとるEXOR回路であ
る。EC61は信号線122と121とを比較し、両者
に不一致が生じたら信号線123を論理的に1とする障
害検出回路である。そして、障害検出回路検査F/Fで
あるDR53とEXOR81とEC61とによって、被
診断部3の強制障害検出回路8および障害検出回路6を
構成する。
R51の出力との排他的論理和をとるEXOR回路であ
る。EC61は信号線122と121とを比較し、両者
に不一致が生じたら信号線123を論理的に1とする障
害検出回路である。そして、障害検出回路検査F/Fで
あるDR53とEXOR81とEC61とによって、被
診断部3の強制障害検出回路8および障害検出回路6を
構成する。
【0048】EC62はREG35に障害データが格納
されると信号線127を論理的に1とする障害検出回路
である。そして、スキャンパス124によって、障害デ
ータをREG35に設定し、EC62によって強制障害
検出回路8および障害検出回路6を構成している。EI
F42,63,64は、EC41,61,62の出力を
それぞれ保持する障害表示F/FのEIFである。診断
プロセッサ9は信号線112,128,130を介して
EIF42,63,64の出力を読み出す。
されると信号線127を論理的に1とする障害検出回路
である。そして、スキャンパス124によって、障害デ
ータをREG35に設定し、EC62によって強制障害
検出回路8および障害検出回路6を構成している。EI
F42,63,64は、EC41,61,62の出力を
それぞれ保持する障害表示F/FのEIFである。診断
プロセッサ9は信号線112,128,130を介して
EIF42,63,64の出力を読み出す。
【0049】説明図2と、流れ図4を併用して、この実
施例の詳細な動作の説明をする。
施例の詳細な動作の説明をする。
【0050】まず、この実施例について、予め作成する
検証データは図3に示される。そして、スキャンパスの
制御や障害検出回路の動作は従来技術で説明した通であ
る。
検証データは図3に示される。そして、スキャンパスの
制御や障害検出回路の動作は従来技術で説明した通であ
る。
【0051】ステップ1 診断プロセッサ9は情報処理
装置1をシフトモードにする。これにより、被診断部3
は通常動作を停止する。そして、スキャンパス117,
124,125が形成される。
装置1をシフトモードにする。これにより、被診断部3
は通常動作を停止する。そして、スキャンパス117,
124,125が形成される。
【0052】ステップ2 診断プロセッサ9はスキャン
アドレスAを指示し、スキャンパス117を有効にす
る。
アドレスAを指示し、スキャンパス117を有効にす
る。
【0053】ステップ3 診断プロセッサ9はDR53
を論理値1とするためのスキャンインデータとスキャン
クロックを送付する。DR53が論理値1になるとEX
OR81によって信号線122と信号線121とに不一
致が生じEC61は信号線123を論理的に“1”とす
る。同時にDR51の出力は論理積回路71に送出され
る。
を論理値1とするためのスキャンインデータとスキャン
クロックを送付する。DR53が論理値1になるとEX
OR81によって信号線122と信号線121とに不一
致が生じEC61は信号線123を論理的に“1”とす
る。同時にDR51の出力は論理積回路71に送出され
る。
【0054】ステップ4 診断プロセッサ9はスキャン
アドレスBを指示し、スキャンパス124を有効にす
る。
アドレスBを指示し、スキャンパス124を有効にす
る。
【0055】ステップ5 診断プロセッサ9はREG3
5に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送出する。REG35に障害データ
が格納されるとEC62は信号線127を論理的に
“1”とする。
5に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送出する。REG35に障害データ
が格納されるとEC62は信号線127を論理的に
“1”とする。
【0056】ステップ6 診断プロセッサ9はアドバン
スクロックを1T送出する。EIF63は信号線123
を取り込み保持する。同様にEIF64を信号線127
を取り込み保持する。同時に論理積回路71が動作し、
信号線108が論理的に“1”となりEXOR72に送
付される。これにより信号線109と110とで不一致
が生じEC41は信号線111を論理的に1にする。診
断制御部2は通常動作を行っているのでEIF42は次
のサイクルで信号線111の値を取り込み保持する。
スクロックを1T送出する。EIF63は信号線123
を取り込み保持する。同様にEIF64を信号線127
を取り込み保持する。同時に論理積回路71が動作し、
信号線108が論理的に“1”となりEXOR72に送
付される。これにより信号線109と110とで不一致
が生じEC41は信号線111を論理的に1にする。診
断制御部2は通常動作を行っているのでEIF42は次
のサイクルで信号線111の値を取り込み保持する。
【0057】ステップ7 診断プロセッサ9はEIF4
2,63,64の内容を信号線112,128,130
を介して読み出す。
2,63,64の内容を信号線112,128,130
を介して読み出す。
【0058】ステップ8 診断プロセッサ9は、EIF
42,63,64の内容と図3に示した検証データとか
ら、EIF42,63,64は正常な動作結果であるか
否かを判定する。
42,63,64の内容と図3に示した検証データとか
ら、EIF42,63,64は正常な動作結果であるか
否かを判定する。
【0059】EIF42を例にとると「DR53に論理
値1を書きこんだときにEIF42は点灯しているか
?」というのが図3の1項の判定基準である。もしこの
条件に合っていたらEC41は正常であり、この条件に
合わない場合はEC41は異常であると判定する。EI
F63,64についても同様に判定する。
値1を書きこんだときにEIF42は点灯しているか
?」というのが図3の1項の判定基準である。もしこの
条件に合っていたらEC41は正常であり、この条件に
合わない場合はEC41は異常であると判定する。EI
F63,64についても同様に判定する。
【0060】この実施例と従来技術の場合を比較するた
め、図2と図11において障害検出を行う箇所が同一で
あるとしたとき、それぞれ対応した動作の流れ図4と図
13とを比較する。この実施例をもとにした図4のステ
ップ数=8が、従来技術をもとにした図13のステップ
数=9よりも少なくなっている。この様に、被診断部に
あるF/Fにスキャンパスを介して任意の値を書き込
み、その出力で診断制御部の障害検出回路の出力を強制
的に論理的に“1”とすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するためのステップ数を削
減できる。図2ではDR51をEC41とEC61とで
共用しているが、同一スキャンパス上のF/Fであれ
ば、別々のF/Fでもよい(例えばDR52)。同一ス
キャンパス上の複数のF/Fの値を書き込む動作は、ス
キャンクロックとスキャンインデータを変えるだけでよ
いからである。
め、図2と図11において障害検出を行う箇所が同一で
あるとしたとき、それぞれ対応した動作の流れ図4と図
13とを比較する。この実施例をもとにした図4のステ
ップ数=8が、従来技術をもとにした図13のステップ
数=9よりも少なくなっている。この様に、被診断部に
あるF/Fにスキャンパスを介して任意の値を書き込
み、その出力で診断制御部の障害検出回路の出力を強制
的に論理的に“1”とすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するためのステップ数を削
減できる。図2ではDR51をEC41とEC61とで
共用しているが、同一スキャンパス上のF/Fであれ
ば、別々のF/Fでもよい(例えばDR52)。同一ス
キャンパス上の複数のF/Fの値を書き込む動作は、ス
キャンクロックとスキャンインデータを変えるだけでよ
いからである。
【0061】ただし、いづれの場合もスキャンパス上の
F/Fの出力を診断制御部側で使用する時には、アドバ
ンスクロック等で有効とする必要がある。これはスキャ
ンパスが動作している間に目的のF/Fの値は不特定で
あり、このために不本意に診断制御部の障害検出回路の
出力が論理的に“1”となってしまうことを防ぐためで
ある。
F/Fの出力を診断制御部側で使用する時には、アドバ
ンスクロック等で有効とする必要がある。これはスキャ
ンパスが動作している間に目的のF/Fの値は不特定で
あり、このために不本意に診断制御部の障害検出回路の
出力が論理的に“1”となってしまうことを防ぐためで
ある。
【0062】この第一の実施例では、診断制御部2内の
障害検出回路は唯一つとして説明したが、これが複数個
になっても同様の手段を用いることにより、前述したス
テップ数を削減することができる。そして、被診断個所
が増すと、ステップ数の節減効果は大きくなる。また、
この実施例中では、障害検出回路の種類を限定して記述
してあるが、種々様々な障害検出回路であっても、従来
の技術の項で述べた通り任意の値を格納できるF/Fを
用いて、強制的にそれらの障害検出回路の出力を論理的
に“1”とすることができる。
障害検出回路は唯一つとして説明したが、これが複数個
になっても同様の手段を用いることにより、前述したス
テップ数を削減することができる。そして、被診断個所
が増すと、ステップ数の節減効果は大きくなる。また、
この実施例中では、障害検出回路の種類を限定して記述
してあるが、種々様々な障害検出回路であっても、従来
の技術の項で述べた通り任意の値を格納できるF/Fを
用いて、強制的にそれらの障害検出回路の出力を論理的
に“1”とすることができる。
【0063】情報処理装置内の障害検出回路の障害のあ
るなしを判定するためのステップ数を削減する方法とし
て、上述とは異る構成もできる。
るなしを判定するためのステップ数を削減する方法とし
て、上述とは異る構成もできる。
【0064】次に、請求項2に基づく第2の実施例を示
す。
す。
【0065】第2の実施例の構成を示す図5を参照する
と、情報処理装置1に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部2と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部3と、診断制御部2に設けられる診断制御部2
自体の障害検出回路4と、障害検出回路の検査を行うた
め、任意の論理値を診断プロセッサの書込みデータを信
号線201によって直接設定され、障害検出回路4の出
力を制御する障害検出回路検査F/F5と、被診断部で
処理機能を実行する回路に設ける障害検出回路6と、診
断制御部2の障害検出回路4を検査するための強制障害
検出回路7と、被診断部3の障害検出回路を検査するた
めの強制障害検出回路8と、情報処理装置1に障害診断
情報の送付および診断結果の判断を行う診断プロセッサ
9で構成する。障害検出回路検査F/F5は診断プロセ
ッサ9から直接、任意の論理値を設定されて、診断制御
部2自体および被診断部3の強制障害検出回路を制御す
る点が、第1の実施例と異なる。これら各部の細部を図
6を参照して説明する。
と、情報処理装置1に内蔵され、障害診断を行う障害診
断制御部2と、障害診断対象である処理機能を実行する
被診断部3と、診断制御部2に設けられる診断制御部2
自体の障害検出回路4と、障害検出回路の検査を行うた
め、任意の論理値を診断プロセッサの書込みデータを信
号線201によって直接設定され、障害検出回路4の出
力を制御する障害検出回路検査F/F5と、被診断部で
処理機能を実行する回路に設ける障害検出回路6と、診
断制御部2の障害検出回路4を検査するための強制障害
検出回路7と、被診断部3の障害検出回路を検査するた
めの強制障害検出回路8と、情報処理装置1に障害診断
情報の送付および診断結果の判断を行う診断プロセッサ
9で構成する。障害検出回路検査F/F5は診断プロセ
ッサ9から直接、任意の論理値を設定されて、診断制御
部2自体および被診断部3の強制障害検出回路を制御す
る点が、第1の実施例と異なる。これら各部の細部を図
6を参照して説明する。
【0066】EXOR81はDR51と組合せ回路33
の出力の排他的論理和をとる排他的論理和回路である。
EC61は、信号線823と信号線824との比較を行
い、両者に不一致が生じ場合に信号線825を論理的に
“1”とする障害検出回路である。DR51,EXOR
81は強制障害検出回路、ならびにEC61は障害検出
回路にそれぞれ相当する。EC41は信号線810と信
号線811との比較を行い、両者に不一致が生じた場合
に信号線812を論理的に“1”とする障害検出回路で
ある。そして、DR51とEXOR71は強制障害検出
回路7、ならびにEC41は障害検出回路4にそれぞれ
相当する。EC62はREG35に障害データがスキャ
ンパスを介して格納されたときに信号線829を論理的
に“1”として、強制的に障害を検出する障害検出回路
である。EIF42,63,64はEC41,61,6
2の出力を保持するEIFである。診断プロセッサ9は
信号線813,830,831を介してEIF42,6
3,64の内容を読み出す。診断プロセッサ9は信号線
801を介して診断制御部2の障害検出回路F/Fであ
るDR51に任意の値を書き込む。シフトモード,スキ
ャンアドレス,スキャンクロック,スキャンインデータ
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ9より各々
信号線802,803,804,805,および814
を介して診断制御部2に送付される。診断制御部2は上
述した各々の信号を受け取り、信号線816,817,
818,819および815を介して、被診断部3にこ
れらの信号を送付し制御する。信号線820,826,
827はスキャンパスである。信号線820のスキャン
アドレスをA,信号線826のスキャンアドレスをB,
および信号線827のスキャンアドレスをCとする。組
合せ回路21,22は互いに二重化した回路である。組
合せ回路33,34は互いに二重化した回路である。E
XOR71はDR51の出力と組合せ回路21の出力の
排他的論理和をとる回路である。情報処理装置1内の障
害検出回路の正否を判定する動作を第2の実施例の構成
を説明する図6および流れ図8を参照して、説明をす
る。また、予め作成しておく検証データは図7に示す。
の出力の排他的論理和をとる排他的論理和回路である。
EC61は、信号線823と信号線824との比較を行
い、両者に不一致が生じ場合に信号線825を論理的に
“1”とする障害検出回路である。DR51,EXOR
81は強制障害検出回路、ならびにEC61は障害検出
回路にそれぞれ相当する。EC41は信号線810と信
号線811との比較を行い、両者に不一致が生じた場合
に信号線812を論理的に“1”とする障害検出回路で
ある。そして、DR51とEXOR71は強制障害検出
回路7、ならびにEC41は障害検出回路4にそれぞれ
相当する。EC62はREG35に障害データがスキャ
ンパスを介して格納されたときに信号線829を論理的
に“1”として、強制的に障害を検出する障害検出回路
である。EIF42,63,64はEC41,61,6
2の出力を保持するEIFである。診断プロセッサ9は
信号線813,830,831を介してEIF42,6
3,64の内容を読み出す。診断プロセッサ9は信号線
801を介して診断制御部2の障害検出回路F/Fであ
るDR51に任意の値を書き込む。シフトモード,スキ
ャンアドレス,スキャンクロック,スキャンインデータ
およびアドバンスクロックは診断プロセッサ9より各々
信号線802,803,804,805,および814
を介して診断制御部2に送付される。診断制御部2は上
述した各々の信号を受け取り、信号線816,817,
818,819および815を介して、被診断部3にこ
れらの信号を送付し制御する。信号線820,826,
827はスキャンパスである。信号線820のスキャン
アドレスをA,信号線826のスキャンアドレスをB,
および信号線827のスキャンアドレスをCとする。組
合せ回路21,22は互いに二重化した回路である。組
合せ回路33,34は互いに二重化した回路である。E
XOR71はDR51の出力と組合せ回路21の出力の
排他的論理和をとる回路である。情報処理装置1内の障
害検出回路の正否を判定する動作を第2の実施例の構成
を説明する図6および流れ図8を参照して、説明をす
る。また、予め作成しておく検証データは図7に示す。
【0067】ステップ1 診断プロセッサ9は信号線8
01を介してDR51に論理値1を書き込む。DR51
に論理値1が格納されると、EC41は信号線812を
論理的に“1”にする。また、信号線807によってE
C61が信号線825を論理的に1とする。診断制御部
2,被診断部3ともに通常動作を行っているのでEIF
42,63は次のサイクルで信号線812,825の値
を各々とり込み点灯する。
01を介してDR51に論理値1を書き込む。DR51
に論理値1が格納されると、EC41は信号線812を
論理的に“1”にする。また、信号線807によってE
C61が信号線825を論理的に1とする。診断制御部
2,被診断部3ともに通常動作を行っているのでEIF
42,63は次のサイクルで信号線812,825の値
を各々とり込み点灯する。
【0068】ステップ2 診断プロセッサ9は情報処理
装置1をシフトモードにする。これにより被診断部3は
通常動作を停止し、スキャンパス820,826および
827が形成される。
装置1をシフトモードにする。これにより被診断部3は
通常動作を停止し、スキャンパス820,826および
827が形成される。
【0069】ステップ3 診断プロセッサ9はスキャン
アドレスBを指示し、スキャンパス826を有効にす
る。
アドレスBを指示し、スキャンパス826を有効にす
る。
【0070】ステップ4 診断プロセッサ9はREG3
5に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送付する。REG35に障害データ
が設定されるとEC62は信号線829を論理的に
“1”にする。
5に障害データを格納するためのスキャンインデータと
スキャンクロックを送付する。REG35に障害データ
が設定されるとEC62は信号線829を論理的に
“1”にする。
【0071】ステップ5 診断プロセッサ9はアドバン
スクロックを1T送出する。これによりEIF63は信
号線825を取り込み点灯する。EIF64は信号線8
29を取り込み点灯する。
スクロックを1T送出する。これによりEIF63は信
号線825を取り込み点灯する。EIF64は信号線8
29を取り込み点灯する。
【0072】ステップ6 診断プロセッサ9はEIF4
2,63,64の内容を読み出す。
2,63,64の内容を読み出す。
【0073】ステップ7 診断プロセッサ9はEIF4
2,63,64の内容と、図7に示した検証データとか
らEIF42,63,64は正常に動作した結果である
か否かを判定する。EIF42を例にとると「DR51
に1を書き込んだときにEIF42は点灯しているか
?」というのが、図7に示した判定基準である。もしこ
の条件に合致していたらEC41は正常であり、この条
件に合致しない場合はEC41は異常であると判定す
る。EIF63,64についても同様に判定をする。図
2と図6において障害検出を行う箇所が同一であるとし
た場合に、それぞれに対応した動作のフローチャート図
4と図8とを比較すると、第2の実施例を図8のステッ
プ数が従来の技術をもとにした図13のステップ数より
も少なくなっていることがわかる。
2,63,64の内容と、図7に示した検証データとか
らEIF42,63,64は正常に動作した結果である
か否かを判定する。EIF42を例にとると「DR51
に1を書き込んだときにEIF42は点灯しているか
?」というのが、図7に示した判定基準である。もしこ
の条件に合致していたらEC41は正常であり、この条
件に合致しない場合はEC41は異常であると判定す
る。EIF63,64についても同様に判定をする。図
2と図6において障害検出を行う箇所が同一であるとし
た場合に、それぞれに対応した動作のフローチャート図
4と図8とを比較すると、第2の実施例を図8のステッ
プ数が従来の技術をもとにした図13のステップ数より
も少なくなっていることがわかる。
【0074】上述の説明によれば、診断制御部2にある
障害検出回路F/Fに任意の値を書き込み、その出力で
被診断部3の障害検出回路の出力を強制的に論理的に
“1”とすることにより、情報処理装置内の障害検出回
路の正否を判定するためのステップ数を削減することが
できる。
障害検出回路F/Fに任意の値を書き込み、その出力で
被診断部3の障害検出回路の出力を強制的に論理的に
“1”とすることにより、情報処理装置内の障害検出回
路の正否を判定するためのステップ数を削減することが
できる。
【0075】図6ではREG35にスキャンパス826
を用いて障害データを格納しているが、図9(B)の回
路構成であればEC62の出力を強制的に論理的1とす
るのに診断制御部2にあるF/FのDR51の出力を用
いることが可能である。
を用いて障害データを格納しているが、図9(B)の回
路構成であればEC62の出力を強制的に論理的1とす
るのに診断制御部2にあるF/FのDR51の出力を用
いることが可能である。
【0076】また、被診断部3で診断制御部2にある診
断プロセッサ9が直接書き込む障害検出回路F/Fの出
力を用いる時は、ステップ1の様に被診断部3が通常動
作中に使用することができる。
断プロセッサ9が直接書き込む障害検出回路F/Fの出
力を用いる時は、ステップ1の様に被診断部3が通常動
作中に使用することができる。
【0077】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
診断制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強
制的に論理的に1とする障害検出回路F/Fを、スキャ
ンパスを介して書き込む障害検出回路F/Fにすること
により、情報処理装置内の障害検出回路の正否を判定す
るまでの過程における診断プログラムのステップ数を削
減することが可能である。また、被診断部内の障害を検
出する障害検出回路の出力を強制的に論理的に1とする
障害検出回路F/Fを、診断プロセッサが直接書き込む
障害検出回路F/Fにすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するまでの過程における診
断プログラムのステップ数を削減することが可能であ
る。
診断制御部内の障害を検出する障害検出回路の出力を強
制的に論理的に1とする障害検出回路F/Fを、スキャ
ンパスを介して書き込む障害検出回路F/Fにすること
により、情報処理装置内の障害検出回路の正否を判定す
るまでの過程における診断プログラムのステップ数を削
減することが可能である。また、被診断部内の障害を検
出する障害検出回路の出力を強制的に論理的に1とする
障害検出回路F/Fを、診断プロセッサが直接書き込む
障害検出回路F/Fにすることにより、情報処理装置内
の障害検出回路の正否を判定するまでの過程における診
断プログラムのステップ数を削減することが可能であ
る。
【図1】この発明の第1の実施例の構成を示す図であ
る。
る。
【図2】図1の構成の細部を説明する図である。
【図3】図2の説明例の障害の判定基準を説明する図で
ある。
ある。
【図4】図2の動作を説明する流れ図である。
【図5】この発明の第2の実施例の構成を示す図であ
る。
る。
【図6】図5の構成の細部を説明する図である。
【図7】図6の説明例の障害の判定基準を説明する図で
ある。
ある。
【図8】図6の動作を説明する流れ図である。
【図9】従来技術おける強制障害検出回路(A),
(B),(C)を示す図である。
(B),(C)を示す図である。
【図10】従来技術の障害検出回路検査システムであ
る。
る。
【図11】図10の構成の細部を説明する図である。
【図12】図11の説明例の障害の判定基準を説明する
図である。
図である。
【図13】図11の動作を説明する流れ図である。
1 情報処理装置 2 診断制御部 3 被診断部 4 障害検出回路 5 障害検出回路検査F/F 6 障害検出回路 7 強制障害検出回路 8 強制障害検出回路 9 診断プロセッサ 21 組合せ回路 22 21と互いに二重化されている組合せ回路 31 レジスタ 32 レジスタ 33 組合せ回路 34 組合せ回路 35 レジスタ 36 レジスタ 41 障害検出回路 42 障害表示F/F EIF(Error Ind
icate Flag) 51 診断プロセッサが直接格納するレジスタ 52 スキャンパス上のF/F 53 スキャンパス上のF/F 61 障害検出回路 62 障害検出回路 63 EIF 64 EIF 71 論理積回路(AND回路) 72 排他的論理和回路 81 排他的論理和回路 101から130 信号線 801から831 信号線
icate Flag) 51 診断プロセッサが直接格納するレジスタ 52 スキャンパス上のF/F 53 スキャンパス上のF/F 61 障害検出回路 62 障害検出回路 63 EIF 64 EIF 71 論理積回路(AND回路) 72 排他的論理和回路 81 排他的論理和回路 101から130 信号線 801から831 信号線
Claims (2)
- 【請求項1】 情報処理装置に内蔵され障害診断を行う
ための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診断
される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正し
く動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回路
検査システムにおいて、 前記障害検出回路の検査を強制的に行うため、スキャン
パスを通じて論理値を設定する障害検出回路検査フリッ
プフロップ(以降F/Fと称す)と、 前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部障害検出
手段と、 前記障害検出回路検査F/Fの出力を用いて、前記診断
制御部障害検出手段を強制的に検査する診断制御部強制
障害検出手段と、 前記被診断部内の障害を検出する被診断部障害検出手段
と、 前記障害検出回路検査F/Fの出力を用いて、前記被診
断部障害検出手段を強制的に検査する被診断部強制障害
検出手段と、 前記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診
断制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判
定し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によ
って前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか
否かを判定する診断プロセッサと、 を有し、前記障害検出回路自体を検査することを特徴と
する障害検出回路検査システム。 - 【請求項2】 情報処理装置に内蔵され障害診断を行う
ための診断制御部と、前記診断制御部によって障害診断
される被診断部とがそれぞれ有する障害検出回路が正し
く動作しているか否かを強制的に検査する障害検出回路
検査システムにおいて、 前記障害検出回路の検査を強制的に行うため、直接論理
値を設定する障害検出回路検査F/Fと、 前記診断制御部内の障害を検出する診断制御部障害検出
手段と、 前記障害検出回路検査F/Fの出力を用いて、前記診断
制御部障害検出手段を強制的に検査する診断制御部強制
障害検出手段と、 前記被診断部内の障害を検出する被診断部障害検出手段
と、 前記障害検出回路検査F/Fの出力を用いて、前記被診
断部障害検出手段を強制的に検査する被診断部強制障害
検出手段と、 前記診断制御部強制障害検出手段の出力によって前記診
断制御部障害検出手段が正しく動作しているか否かを判
定し、また、前記被診断部強制障害検出手段の出力によ
って前記被診断部障害検出手段が正しく動作しているか
否かを判定する診断プロセッサと、 を有し、前記障害検出回路自体を検査することを特徴と
する障害検出回路検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4218850A JP2871966B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 障害検出回路検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4218850A JP2871966B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 障害検出回路検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0667922A JPH0667922A (ja) | 1994-03-11 |
JP2871966B2 true JP2871966B2 (ja) | 1999-03-17 |
Family
ID=16726318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4218850A Expired - Lifetime JP2871966B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 障害検出回路検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2871966B2 (ja) |
-
1992
- 1992-08-18 JP JP4218850A patent/JP2871966B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0667922A (ja) | 1994-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5959914A (en) | Memory controller with error correction memory test application | |
JPS6229827B2 (ja) | ||
JPS6134639A (ja) | 電子回路試験装置 | |
JPH07129426A (ja) | 障害処理方式 | |
JPS58225453A (ja) | 診断回路の誤り検出方式 | |
JP2871966B2 (ja) | 障害検出回路検査システム | |
JP2806856B2 (ja) | 誤り検出訂正回路の診断装置 | |
KR950012495B1 (ko) | 메모리 진단장치 및 방법 | |
JP2000259444A (ja) | データ処理装置及びその試験方法 | |
JPH05313935A (ja) | 情報処理装置の診断回路 | |
JPS63174141A (ja) | 情報処理装置の試験診断方式 | |
JP3173648B2 (ja) | 故障検出方式 | |
JPS60173647A (ja) | 情報処理装置のエラ−発生箇所検出方式 | |
JP2002215471A (ja) | メモリポート、記憶装置、情報処理システム | |
JP2605781B2 (ja) | パリティ回路の自動診断装置 | |
JP2578186B2 (ja) | 故障検出回路の診断方式 | |
JPH05298139A (ja) | 情報処理装置の診断回路 | |
JPH0322037A (ja) | 故障診断方式 | |
JPH06139089A (ja) | 情報処理装置の障害処理装置 | |
JPH06208479A (ja) | 情報処理装置の診断方式 | |
JPH09152995A (ja) | 計算機システム | |
JPH0370811B2 (ja) | ||
JPH06139094A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS63231554A (ja) | 記憶装置 | |
JPH01277951A (ja) | データ転送装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981201 |