JPH0322037A - 故障診断方式 - Google Patents

故障診断方式

Info

Publication number
JPH0322037A
JPH0322037A JP1155739A JP15573989A JPH0322037A JP H0322037 A JPH0322037 A JP H0322037A JP 1155739 A JP1155739 A JP 1155739A JP 15573989 A JP15573989 A JP 15573989A JP H0322037 A JPH0322037 A JP H0322037A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
diagnosis
diagnostic
units
register
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1155739A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Sakai
坂井 高志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1155739A priority Critical patent/JPH0322037A/ja
Publication of JPH0322037A publication Critical patent/JPH0322037A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概   要〕 複数のユニットよりなる情報処理装置の各ユニソト単位
で故障を診断する故障診断方式に関し、故障時にどのユ
ニソト等によって故障が発生したかを的確に判断するこ
とを目的とし、複数のユニットを有する情報処理装置に
おいて、診断を指示する信号を認識する診断認識手段と
、該診断認識手段によって診断であると認識した時に、
レジスタに書かれたデータと予め設定されているデータ
とを比較する比較手段とを前記各ユニットに設け、該比
較手段で不一敗を検出した時に、該比較手段を有する前
記ユニットが故障であるとするように構威する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はコンピュータシステムの故障診断方弐に係り、
更に詳しくは、複数のユニットよりなる情報処理装置の
各ユニソト単位で故障を診断する故障診断方式に関する
〔従来の技術〕
情報処理装置、いわゆるコンピュータシステムは大型化
したため、例えばlカ所の故障であってもそこの故障を
診断するのに多くの時間がかかるという問題が発生した
。これはコンピュータシステムが大きくなればなるほど
重要な問題であり、故障箇所への検出能力の向上、更に
は故障箇所の明確な指摘が求められている。この故障箇
所の検出のために、従来は以下の方式が採用されている
.第1には、システム駆動前に(電源オン時)各レジス
タのSET/RESETの検査、更にはマイクロプログ
ラムによるデータ比較によって故障診断を行っている。
また第2にはシステム起動後、すなわちシステム動作中
に一定時間ごとにマイクロプログラム、または命令プロ
グラムによるデータ比較(パトロール的な診断)によっ
て故障診断を行っている。
第3図は、システム動作中に一定時間ごとにプログラム
でデータ比較し故障診断を行う場合の動作説明図である
。メインストレージニット(MSU:MAIN   S
TORAGE   UNIT)  10をメモリアクセ
スコントロールユニット(MAC:MEMORY  A
CCESS  CONTROLUNIT)11がアクセ
スして、メインストレージユニット10から正しいデー
タを読み取り、ストレージコントロールユニット (S
CU:ST○RAGE  CONTROL  UNIT
)12のレジスタにデータXを書き込む。
このメモリアクセスコントロールユニソトl1によって
、例えばストレージコントロールユニット12内のレジ
スタBにデータを書き込んだ場合、インストラクション
プロセシングユニッ}(IPU : INSTRUCT
 I○N  PROCESSING  UNIT)13
は、ストレージコントロールユニットl2内のセレクタ
(SN)によってレジスタBを選択し、データYを読み
出し、インストラクションプロセシングユニソト13内
の比較回路CでライトデータWと比較する。
ライトデータは予め決められているものであり、レジス
タBに正しい値が書き込まれたならば、正常となる。
前述したようなレジスタの書き込み、更には読み出しに
おいては当然パリティチェソク等が設けられており、パ
リティビットをも読み出し時に検出する。
また、インストラクションプロセシングユニット13に
おいてもそのパリティを検出しており、例えばストレー
ジコントロールユニット12から読み出す時に故障が発
生した場合には、このパリティチェツクによって故障と
判断することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
前述したようなシステム動作中において、一定時間ごと
にマイクロプログラムまたは命令プログラムによるデー
タ比較によって故障を診断する場合、各レジスタの不良
(ライトやリード)においては、パリティーチェックで
チェックすることができる。しかしながら、例えばスト
レージコントロールユニット12内のセレクタ3.1が
不良であって、レジスタBにデータを書き込んだにも係
わらず、セレクタSlがレジスタCを選択し、レジスタ
Cに格納されている何らかのデータとライトデータとを
比較回路Cで比較してしまうことがある8この場合、パ
リティーチェックはレジスタCを選択しているから、レ
ジスタC内に格納されているパリティービットが正常と
なり、レジスタBのパリティーに対するエラー(故障)
を検出することはできず、正常となってしまう。
一方、インストラクションプロセシングユニット13内
でライトデータと比較回路Cで比較しているので、この
比較において不一致と判断し、故障を検出することがで
きる。しかしながら、この故障の判断は特定のレジスタ
にライトし、その後、リードしたら不一致だったという
結果であって、どこが悪いという診断を下すことはでき
ない。このため、従来システムにおいては、故障を検出
することはできても、この故障がどこで発生したもので
あるかを細かく判断することができないという問題を有
していた。すなわち、たとえば被疑箇所を有する基板全
体を交換するのに多大な時間を必要とし、システムダウ
ンが長時間に及び、また工場での修理も長くなる。さら
に、被疑箇所を特定するためには、テストの範囲を小さ
くし、いろいろな機能単位で行えばよいのであるが、こ
れら多くのテスト機能をハードで設けるのは容易ではな
く、またコストの点からも好ましくないという問題があ
った. また、各ユニット内に受け取り/送出データをセーブし
、不一致を検出した場合、それらのセーブしたデータを
スキャンアウト等の方法により読み出しデータ内容を検
査すればよいが、セーブするためのハード量が多くなり
、そのテストに要する時間も多大となる問題を有してい
た。
本発明は故障時にどのユニフト等によって故障が発生し
たかを的確に判断することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理ブロック図である.本発明は複数
のユニット1〜3を有する情報処理装置におけるもので
ある。
診断認識手段1−1〜3−1は各ユニットにそれぞれ設
けられ、診断を指示する信号Sを認識する。
比較手段1−2〜3−2は、各ユニットにそれぞれ設け
られ、同一ユニット内の診断認識千段1−1〜3−1に
よって診断であると認識した時に、レジスタに書かれた
データと予め設定されているデータとを比較する。
〔作   用〕
診断を指示する信号Sが各ユニソト1〜3の認識手段1
−1〜3−1に加わると、各認識手段は診断指示である
ことを認識し、比較手段1−2〜3−2に診断検出信号
を出力する。比較手段1−2〜3−2は、この信号によ
って予め設定されているデータとユニット内のレジスタ
の値とを比較する. 診断指示信号Sが加わって診断認識手段1−1〜3−1
で診断であるとLy2識した時には、各ユニフト1〜3
は診断動作をするので、比較手段1は比較結果をそれぞ
れ各ユニット単位で出力する.この時の診断は実際の処
理動作ではなく診断動作であるので、この各ユニット間
より出力される故障信号を判別することにより、どのユ
ニットで故障したかを求めることができる. 〔実  施  例〕 以下図面を用いて本発明を詳細に説明する.第2図は、
本発明の実施例の構戒図である.診断時にHレベルが加
わる制御線Cは、各論理あるいは物理単位であるユニッ
} (Ul , Ux)21,22が有するアンドゲー
ト23、24の1個の入力ゲートにそれぞれ加わる。診
断線に加わる信号は診断時にHレベルであり、非診断時
はLレベルである。非診断時はLレベルであるので、ア
ンドゲート23、24の出力もLレベルとなり、通常動
作時である時にはエラー検出信号を出力しない.一方、
制御線Cに加わる診断信号がHレベルとなると、アンド
ゲート23、24はオンとなる。
ユニット(Ul 、uz)21 22のレジスタ27、
28、例えばユニット21のレジスタ27は出力レジス
タであり、ユニット22のレジスタ28が入力レジスタ
である。この各レジスタの出力を予め定められたデータ
パターンに対応し、正転および反転して各ナンドゲート
25、26にそれぞれ加える。すなわち、ナンドゲート
25、26は予め定められたデータパターンを検出する
ためのものである。
診断時に、マイクロプログラム等が、各レジスタ27、
28に予め定められたデータパターン例えば8ビントの
10101010を送出格納すれば、ナンドゲート25
、26に0に対応する値を反転入力に加え、■に対応す
る値を正転入カに加える.0に対応する値を反転して加
えるので、ナンドゲート25、26は予め定められた値
がレジスタから出力された時にはローレベルを出力する
それに対し、どれか1ビットでも狂っている場合にはハ
イレベルを出力する。このナンドゲート25、26の出
力は、アンドゲート23、24に加わっている。
また、アンドゲート23、24にはタイミング信号が各
ユニット内で作威されて、アンドゲート23、24に加
わっており、アンドゲート23、24は制imcの診断
信号がハイレベルとなりタイξング信号が加わったとき
にその結果を出力する.すなわち、一致でない時には各
アンドゲート23、24の出力はHレベルとなる。この
Hレベルが出力されると、エラー検出信号C.cz と
なり、例えば全ユニットを制御する制御回路にエラー信
号を出力する.すなわち、各ユニット21、22は診断
であることが指示されると、出力部/入力部のデータが
定められたデータか否かを比較し、不一致ならエラー検
出を表示する。診断を複数種設ければ、(例えば、0 
1 0 1 0 1 0 1)“O”又は“1″に固定
している故障も検出できる。
前述のレジスタ27、28は、例えば特定のレジスタで
あってもよい。この場合、テストプログラムは各ユニッ
ト内の特定レジスタに特定のデー夕を書くことによって
ユニットのレジスタの診断を行うことができる。
以上述べたが、本発明は制御線Cによって診断を開始す
ることに限らず、コマンド等によって別な指示を認識す
る様に構威し、その指示が加わったときに、すなわちコ
マンドが加わった時に、その結果を出力するようにして
もよい。
また、実施例においては、10101010等のデータ
を予め決定し、それをナンドゲート25、26で検出し
ているが、そのパターンに限らず、例えばデイップスイ
・ノチ等によって各ユニット単位で変更し、診断プログ
ラム中において各ユニット単位で別々のデータを書き、
比較することも可能である。この場合には、例えばユニ
ットのデコーダ等の故障により同時にユニットが動作し
、複数のレジスタに同時に書き込まれても、異なるデー
タがユニットに格納されるので、それを比較することに
よってどのユニソトのデコーダ等の故障かをも診断する
ことができる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明によれば各ユニット内に比較
回路を設け、この比較回路によってレジスタに書き込ん
だデータが正しいか否かを比較し、診断時にこの結果を
出力するので、例えば特定時間単位で診断指示信号を加
え診断することによって、常にユニットが正常に動作し
ているかを検出することができる.
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理ブロック図、 第2図は、本発明の実施例の構威図、 第3図は、従来の診断方式図である。 1−1〜3−1・・・診断認識手段、 1−2〜3−2・・・比較手段、 1〜3・・・ユニット. 1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数のユニット(1〜3)を有する情報処理装置におい
    て、 診断を指示する信号(S)を認識する診断認識手段(1
    −1〜3−1)と、 該診断認識手段(1−1〜3−1)によって診断である
    と認識した時に、レジスタに書かれたデータと予め設定
    されているデータとを比較する比較手段(1−2〜3−
    2)とを前記各ユニット(1〜3)に設け、該比較手段
    (1−2〜3−2)で不一致を検出した時に、該比較手
    段(1−2〜3−2)を有する前記ユニットが故障であ
    るとすることを特徴とする故障診断方式。
JP1155739A 1989-06-20 1989-06-20 故障診断方式 Pending JPH0322037A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1155739A JPH0322037A (ja) 1989-06-20 1989-06-20 故障診断方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1155739A JPH0322037A (ja) 1989-06-20 1989-06-20 故障診断方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0322037A true JPH0322037A (ja) 1991-01-30

Family

ID=15612383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1155739A Pending JPH0322037A (ja) 1989-06-20 1989-06-20 故障診断方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0322037A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6229827B2 (ja)
KR100825068B1 (ko) 램 테스트 및 고장처리 시스템
JPH0322037A (ja) 故障診断方式
KR950012495B1 (ko) 메모리 진단장치 및 방법
JPS5911452A (ja) パリテイチエツク回路の試験方式
JP2871966B2 (ja) 障害検出回路検査システム
JP3576978B2 (ja) メモリポート、記憶装置、情報処理システム
JP2006277133A (ja) 半導体集積回路及びメモリデータチェック方法
KR950010559B1 (ko) 원격 정보처리 시스템의 이상 위치 감지방법
JPH079636B2 (ja) バス診断装置
JPH04181448A (ja) メモリテスト装置
JPH0495884A (ja) 半導体試験装置
CN116913366A (zh) 基于总线的sram实时自检和修复方法、装置及系统
JPH03125246A (ja) メモリテスト装置
JPS6223336B2 (ja)
JPS63753A (ja) メモリエラ−訂正・検出回路の試験方式
JPS63174141A (ja) 情報処理装置の試験診断方式
JPS60173647A (ja) 情報処理装置のエラ−発生箇所検出方式
KR19990048292A (ko) 데이터 버스상의 장애 검출 방법
JPH10161939A (ja) メモリ制御装置
JPH06139094A (ja) 情報処理装置
JPS63118953A (ja) パリテイ異常検出方式
JPS6134647A (ja) 画像メモリ診断方式
JPH0310347A (ja) 故障検出回路
JPH06208479A (ja) 情報処理装置の診断方式