JPH05313935A - 情報処理装置の診断回路 - Google Patents
情報処理装置の診断回路Info
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- JPH05313935A JPH05313935A JP4140948A JP14094892A JPH05313935A JP H05313935 A JPH05313935 A JP H05313935A JP 4140948 A JP4140948 A JP 4140948A JP 14094892 A JP14094892 A JP 14094892A JP H05313935 A JPH05313935 A JP H05313935A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 装置立上げ時に行う検出回路の正常性の確認
に要する時間を削減するとともに、装置の故障検出を正
常に行って信頼性を向上させる。 【構成】 検出部検出回路24〜26は検出回路21〜
23と同じデータで同じ検出動作を行っており、その検
出結果と検出回路21〜23の検出結果とを比較してい
る。検出部検出回路24〜26はその比較で不一致を検
出すると、故障情報を故障情報保持部16に保持すると
ともに、故障を検出した旨を停止回路17に通知する。
停止回路17は情報処理装置1の動作を停止するととも
に、その故障を検出した旨を情報抜取り部3に通知す
る。情報抜取り部3はスキャンパス制御回路11を介し
てスキャンパス故障検出回路12,13およびスキャン
パス14,15から情報を読出し、読出した情報を診断
部4に送出する。診断部4はその情報を基に診断を行
う。
に要する時間を削減するとともに、装置の故障検出を正
常に行って信頼性を向上させる。 【構成】 検出部検出回路24〜26は検出回路21〜
23と同じデータで同じ検出動作を行っており、その検
出結果と検出回路21〜23の検出結果とを比較してい
る。検出部検出回路24〜26はその比較で不一致を検
出すると、故障情報を故障情報保持部16に保持すると
ともに、故障を検出した旨を停止回路17に通知する。
停止回路17は情報処理装置1の動作を停止するととも
に、その故障を検出した旨を情報抜取り部3に通知す
る。情報抜取り部3はスキャンパス制御回路11を介し
てスキャンパス故障検出回路12,13およびスキャン
パス14,15から情報を読出し、読出した情報を診断
部4に送出する。診断部4はその情報を基に診断を行
う。
Description
【0001】
【技術分野】本発明は情報処理装置の診断回路に関し、
特に情報処理装置内に設けられたスキャンパスを使用し
て診断を行う診断方式に関する。
特に情報処理装置内に設けられたスキャンパスを使用し
て診断を行う診断方式に関する。
【0002】
【従来技術】スキャンパスを有する情報処理装置の診断
方式では、検出回路が故障を検出したときに情報処理装
置の動作を停止し、スキャンパスを使用して装置内の情
報を読出し、この読出した情報を解析して診断するとい
う診断方法がとられている。この診断方法では診断に使
用する検出回路やスキャンパスそのものが正しく動作す
ることを前提としており、検出回路やスキャンパスが故
障した場合には診断が行えないことになる。
方式では、検出回路が故障を検出したときに情報処理装
置の動作を停止し、スキャンパスを使用して装置内の情
報を読出し、この読出した情報を解析して診断するとい
う診断方法がとられている。この診断方法では診断に使
用する検出回路やスキャンパスそのものが正しく動作す
ることを前提としており、検出回路やスキャンパスが故
障した場合には診断が行えないことになる。
【0003】したがって、検出回路やスキャンパスが故
障しているか否かを診断するために、装置の立上げ時に
プログラムを使用して検出回路やスキャンパスの正常性
を確認する方法がとられている。すなわち、スキャンパ
スは特定パターンのデータをスキャンインし、正しいデ
ータがスキャンアウトされるかを確認することで正常性
の確認を行っている。また、検出回路は試験に必要なデ
ータをスキャンパスに設定し、このデータによって検出
回路が正しく動作するかを確認することで正常性の確認
を行っている。
障しているか否かを診断するために、装置の立上げ時に
プログラムを使用して検出回路やスキャンパスの正常性
を確認する方法がとられている。すなわち、スキャンパ
スは特定パターンのデータをスキャンインし、正しいデ
ータがスキャンアウトされるかを確認することで正常性
の確認を行っている。また、検出回路は試験に必要なデ
ータをスキャンパスに設定し、このデータによって検出
回路が正しく動作するかを確認することで正常性の確認
を行っている。
【0004】このような従来の情報処理装置では、検出
回路やスキャンパスの正常性を装置立上げ時にプログラ
ムを用いて確認しているので、装置が大きくなってスキ
ャンパス量が増加するとプログラムによる検出回路やス
キャンパスの正常性の確認に多大の時間を要することに
なるという問題がある。
回路やスキャンパスの正常性を装置立上げ時にプログラ
ムを用いて確認しているので、装置が大きくなってスキ
ャンパス量が増加するとプログラムによる検出回路やス
キャンパスの正常性の確認に多大の時間を要することに
なるという問題がある。
【0005】また、装置の故障検出時には検出回路やス
キャンパスの正常性を確認することができないため、プ
ログラムによって正常性の確認を行うときには正常に動
作していた検出回路やスキャンパスが故障検出時に正常
に動作しないような場合、装置の故障検出を正常に行う
ことができないという問題がある。
キャンパスの正常性を確認することができないため、プ
ログラムによって正常性の確認を行うときには正常に動
作していた検出回路やスキャンパスが故障検出時に正常
に動作しないような場合、装置の故障検出を正常に行う
ことができないという問題がある。
【0006】さらに、検出回路が故障を検出できないよ
うに故障していると、故障発生時に故障を検出すること
ができず、誤動作によって誤った結果を出力してしまう
という問題がある。
うに故障していると、故障発生時に故障を検出すること
ができず、誤動作によって誤った結果を出力してしまう
という問題がある。
【0007】
【発明の目的】本発明は上記のような従来のものの問題
点を除去すべくなされたもので、装置立上げ時に行う検
出回路の正常性の確認に要する時間を削減することがで
き、装置の故障検出を正常に行って信頼性を向上させる
ことができる情報処理装置の診断回路の提供を目的とす
る。
点を除去すべくなされたもので、装置立上げ時に行う検
出回路の正常性の確認に要する時間を削減することがで
き、装置の故障検出を正常に行って信頼性を向上させる
ことができる情報処理装置の診断回路の提供を目的とす
る。
【0008】
【発明の構成】本発明による情報処理装置の診断回路
は、自装置内の故障を検出する検出部と、自装置内の構
成部品を縦属接続してなるスキャンパス回路とを有する
情報処理装置の診断回路であって、前記検出部の故障を
検出する検出部故障検出手段と、前記検出部および前記
検出部故障検出手段のうち少なくとも一方で故障が検出
されたときに前記情報処理装置の動作を停止する停止手
段と、前記停止手段によって前記情報処理装置の動作が
停止されたときに前記スキャンパス回路から情報を読出
す読出し手段と、前記読出し手段によって読出された前
記スキャンパス回路の情報を基に故障箇所を特定する手
段とを設けたことを特徴とする。
は、自装置内の故障を検出する検出部と、自装置内の構
成部品を縦属接続してなるスキャンパス回路とを有する
情報処理装置の診断回路であって、前記検出部の故障を
検出する検出部故障検出手段と、前記検出部および前記
検出部故障検出手段のうち少なくとも一方で故障が検出
されたときに前記情報処理装置の動作を停止する停止手
段と、前記停止手段によって前記情報処理装置の動作が
停止されたときに前記スキャンパス回路から情報を読出
す読出し手段と、前記読出し手段によって読出された前
記スキャンパス回路の情報を基に故障箇所を特定する手
段とを設けたことを特徴とする。
【0009】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図において、情報処理装置1内に設けら
れた検出回路21〜23は夫々装置を構成する論理回路
(図示せず)の故障を検出している。検出回路21〜2
3各々が論理回路の故障を検出すると、故障情報をスキ
ャンパス15内の障害情報保持部16に出力して保持す
るとともに、故障を検出したことを停止回路17と検出
部検出回路24〜26とに夫々通知する。
ック図である。図において、情報処理装置1内に設けら
れた検出回路21〜23は夫々装置を構成する論理回路
(図示せず)の故障を検出している。検出回路21〜2
3各々が論理回路の故障を検出すると、故障情報をスキ
ャンパス15内の障害情報保持部16に出力して保持す
るとともに、故障を検出したことを停止回路17と検出
部検出回路24〜26とに夫々通知する。
【0011】検出部検出回路24〜26には検出回路2
1〜23に入力されるデータと同じデータが入力されて
おり、検出回路21〜23と同じ検出動作を行ってい
る。検出部検出回路24〜26では検出回路21〜23
と同じ検出動作によって得た検出結果と検出回路21〜
23の検出結果とを比較し、不一致を検出すると検出回
路21〜23または検出部検出回路24〜26の故障と
して故障情報を障害情報保持部16に出力して保持する
とともに、検出回路21〜23または検出部検出回路2
4〜26の故障を検出したことを停止回路17に通知す
る。
1〜23に入力されるデータと同じデータが入力されて
おり、検出回路21〜23と同じ検出動作を行ってい
る。検出部検出回路24〜26では検出回路21〜23
と同じ検出動作によって得た検出結果と検出回路21〜
23の検出結果とを比較し、不一致を検出すると検出回
路21〜23または検出部検出回路24〜26の故障と
して故障情報を障害情報保持部16に出力して保持する
とともに、検出回路21〜23または検出部検出回路2
4〜26の故障を検出したことを停止回路17に通知す
る。
【0012】停止回路17は検出回路21〜23および
検出部検出回路24〜26の少なくとも一方で故障を検
出したことが通知されると、情報処理装置1の動作を停
止させるとともに、その故障の検出を情報抜取り部3に
通知する。情報抜取り部3は停止回路17から故障の検
出が通知されると、スキャンパス制御回路11にスキャ
ンパス故障検出回路12,13およびスキャンパス1
4,15から情報を抜取るよう指示する。
検出部検出回路24〜26の少なくとも一方で故障を検
出したことが通知されると、情報処理装置1の動作を停
止させるとともに、その故障の検出を情報抜取り部3に
通知する。情報抜取り部3は停止回路17から故障の検
出が通知されると、スキャンパス制御回路11にスキャ
ンパス故障検出回路12,13およびスキャンパス1
4,15から情報を抜取るよう指示する。
【0013】スキャンパス制御回路11は情報抜取り部
3からの指示にしたがってスキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とから情報を抜取って情報抜取り
部3に送出する。この後に、スキャンパス制御回路11
はスキャンパス故障検出回路13とスキャンパス15と
から情報を抜取って情報抜取り部3に送出する。情報抜
取り部3はスキャンパス制御回路11から送られてきた
情報を診断部4に渡すので、診断部4ではその情報を基
に診断が行われる。
3からの指示にしたがってスキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とから情報を抜取って情報抜取り
部3に送出する。この後に、スキャンパス制御回路11
はスキャンパス故障検出回路13とスキャンパス15と
から情報を抜取って情報抜取り部3に送出する。情報抜
取り部3はスキャンパス制御回路11から送られてきた
情報を診断部4に渡すので、診断部4ではその情報を基
に診断が行われる。
【0014】図2は図1の検出部検出回路24の構成を
示すブロック図である。図において、検出部検出回路2
4は検出二重化部24aと検出比較部24bとから構成
されている。検出二重化部24aは検出回路21と同様
にスキャンパス14からデータが入力され、検出回路2
1と同様の検出動作を行う。検出比較部24bは検出回
路21の検出結果と検出二重化部24aの検出結果とを
比較し、その比較結果を検出部検出回路24の検出結果
として出力する。
示すブロック図である。図において、検出部検出回路2
4は検出二重化部24aと検出比較部24bとから構成
されている。検出二重化部24aは検出回路21と同様
にスキャンパス14からデータが入力され、検出回路2
1と同様の検出動作を行う。検出比較部24bは検出回
路21の検出結果と検出二重化部24aの検出結果とを
比較し、その比較結果を検出部検出回路24の検出結果
として出力する。
【0015】検出回路21ではスキャンパス14に保持
されたデータを基に対応する論理回路の故障を検出して
いる。検出回路21で検出された故障情報はスキャンパ
ス15のエラー保持フリップフロップ(以下エラー保持
F/Fとする)16bに保持される。
されたデータを基に対応する論理回路の故障を検出して
いる。検出回路21で検出された故障情報はスキャンパ
ス15のエラー保持フリップフロップ(以下エラー保持
F/Fとする)16bに保持される。
【0016】一方、検出部検出回路24の検出比較部2
4bで検出回路21の検出結果と検出二重化部24aの
検出結果との不一致が検出されると、その情報はスキャ
ンパス15のエラー保持F/F16aに保持される。
尚、図示していないが、検出部検出回路25,26の構
成は上記検出部検出回路24と同様の構成となってお
り、その動作も同様である。
4bで検出回路21の検出結果と検出二重化部24aの
検出結果との不一致が検出されると、その情報はスキャ
ンパス15のエラー保持F/F16aに保持される。
尚、図示していないが、検出部検出回路25,26の構
成は上記検出部検出回路24と同様の構成となってお
り、その動作も同様である。
【0017】図3は図1のスキャンパス故障検出回路1
2の構成を示すブロック図である。図において、スキャ
ンパス故障検出回路12は所定値を保持する正フリップ
フロップ(以下正F/Fとする)12aと、正F/F1
2aに保持された所定値の反転値を保持する逆フリップ
フロップ(以下逆F/Fとする)12bとから構成され
ている。これら正F/F12aと逆F/F12bとから
なるスキャンパス故障検出回路12はスキャンパス制御
回路11とスキャンパス14との間に設けられ、スキャ
ンパス14に縦属接続されている。
2の構成を示すブロック図である。図において、スキャ
ンパス故障検出回路12は所定値を保持する正フリップ
フロップ(以下正F/Fとする)12aと、正F/F1
2aに保持された所定値の反転値を保持する逆フリップ
フロップ(以下逆F/Fとする)12bとから構成され
ている。これら正F/F12aと逆F/F12bとから
なるスキャンパス故障検出回路12はスキャンパス制御
回路11とスキャンパス14との間に設けられ、スキャ
ンパス14に縦属接続されている。
【0018】これら図1〜図3を用いて本発明の一実施
例の動作について説明する。情報処理装置1を構成する
論理回路の一部が故障した場合、この故障は検出回路2
1〜23のうちいずれかによって検出される。
例の動作について説明する。情報処理装置1を構成する
論理回路の一部が故障した場合、この故障は検出回路2
1〜23のうちいずれかによって検出される。
【0019】例えば、検出回路21に関連する論理回路
が故障すると、検出回路21で動作異常が検出され、そ
の故障情報がスキャンパス15のエラー保持F/F16
bに保持されるとともに、異常を検出した旨が停止回路
17に通知される。このとき、検出回路21に関連する
論理回路で故障が発生することによって、検出部検出回
路24の検出二重化部24aでも動作異常を検出するの
で、検出比較部24bから一致を示す信号が出力され
る。よって、停止回路17では正常に動作している検出
回路21から異常を検出した旨の通知を受取ることにな
る。
が故障すると、検出回路21で動作異常が検出され、そ
の故障情報がスキャンパス15のエラー保持F/F16
bに保持されるとともに、異常を検出した旨が停止回路
17に通知される。このとき、検出回路21に関連する
論理回路で故障が発生することによって、検出部検出回
路24の検出二重化部24aでも動作異常を検出するの
で、検出比較部24bから一致を示す信号が出力され
る。よって、停止回路17では正常に動作している検出
回路21から異常を検出した旨の通知を受取ることにな
る。
【0020】停止回路17は検出回路21から異常を検
出した旨の通知を受取ると、情報処理装置1の動作を停
止するとともに、その異常を検出した旨を情報抜取り部
3に通知する。情報抜取り部3は停止回路17から異常
を検出した旨が通知されると、スキャンパス制御回路1
1にスキャンパス故障検出回路12,13およびスキャ
ンパス14,15から情報を抜取るよう指示する。
出した旨の通知を受取ると、情報処理装置1の動作を停
止するとともに、その異常を検出した旨を情報抜取り部
3に通知する。情報抜取り部3は停止回路17から異常
を検出した旨が通知されると、スキャンパス制御回路1
1にスキャンパス故障検出回路12,13およびスキャ
ンパス14,15から情報を抜取るよう指示する。
【0021】スキャンパス制御回路11は情報抜取り部
3からの指示にしたがってスキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とから情報を抜取って情報抜取り
部3に送出する。この後に、スキャンパス制御回路11
はスキャンパス故障検出回路13とスキャンパス15と
から情報を抜取って情報抜取り部3に送出する。情報抜
取り部3はスキャンパス制御回路11から送られてきた
情報を診断部4に送出する。診断部4は情報抜取り部3
から送られてきた情報を基に診断を行う。
3からの指示にしたがってスキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とから情報を抜取って情報抜取り
部3に送出する。この後に、スキャンパス制御回路11
はスキャンパス故障検出回路13とスキャンパス15と
から情報を抜取って情報抜取り部3に送出する。情報抜
取り部3はスキャンパス制御回路11から送られてきた
情報を診断部4に送出する。診断部4は情報抜取り部3
から送られてきた情報を基に診断を行う。
【0022】これに対して、検出回路21が故障する
と、検出比較部24bから不一致を示す信号が出力され
るので、その信号がスキャンパス15のエラー保持F/
F16aに保持されるとともに、検出回路21または検
出部検出回路24の異常を検出した旨が停止回路17に
通知される。
と、検出比較部24bから不一致を示す信号が出力され
るので、その信号がスキャンパス15のエラー保持F/
F16aに保持されるとともに、検出回路21または検
出部検出回路24の異常を検出した旨が停止回路17に
通知される。
【0023】停止回路17では上述した動作と同様に動
作するので、スキャンパス制御回路11によってスキャ
ンパス故障検出回路12,13およびスキャンパス1
4,15から読出された情報が診断部4に送出される。
このとき、スキャンパス15から抜取られた情報の中に
は検出比較部24bで比較不一致を検出した旨を示すエ
ラー保持F/F16aが“1”という情報と、検出回路
21および検出二重化部24aの入力情報すべてとを含
むので、診断部4はそれらの情報を基に検出回路21ま
たは検出部検出回路24が故障したという診断を下すこ
とができる。
作するので、スキャンパス制御回路11によってスキャ
ンパス故障検出回路12,13およびスキャンパス1
4,15から読出された情報が診断部4に送出される。
このとき、スキャンパス15から抜取られた情報の中に
は検出比較部24bで比較不一致を検出した旨を示すエ
ラー保持F/F16aが“1”という情報と、検出回路
21および検出二重化部24aの入力情報すべてとを含
むので、診断部4はそれらの情報を基に検出回路21ま
たは検出部検出回路24が故障したという診断を下すこ
とができる。
【0024】また、検出二重化部24aが故障すると、
検出回路21が故障した時と同様に、検出比較部24b
の比較結果が不一致となり、スキャンパス15内のエラ
ー保持F/F16aがセットされる。このとき、診断部
4は検出比較部24bで比較不一致を検出した旨を示す
エラー保持F/F16aが“1”という情報と、検出回
路21および検出二重化部24aの入力情報すべてとを
基に検出回路21または検出部検出回路24が故障した
という診断を下すことができる。
検出回路21が故障した時と同様に、検出比較部24b
の比較結果が不一致となり、スキャンパス15内のエラ
ー保持F/F16aがセットされる。このとき、診断部
4は検出比較部24bで比較不一致を検出した旨を示す
エラー保持F/F16aが“1”という情報と、検出回
路21および検出二重化部24aの入力情報すべてとを
基に検出回路21または検出部検出回路24が故障した
という診断を下すことができる。
【0025】さらに、検出比較部24bが検出回路21
の検出結果と検出二重化部24aの検出結果との不一致
を検出しないように故障したときも、情報処理装置1の
検出回路21に関連する回路の故障は検出回路21で検
出することが可能であり、情報処理装置1が誤った情報
を正しいものとして処理する可能性はほとんどなくな
る。
の検出結果と検出二重化部24aの検出結果との不一致
を検出しないように故障したときも、情報処理装置1の
検出回路21に関連する回路の故障は検出回路21で検
出することが可能であり、情報処理装置1が誤った情報
を正しいものとして処理する可能性はほとんどなくな
る。
【0026】尚、検出回路22,23および検出部検出
回路25,26のうち一方が故障した場合についても、
上述した処理動作と同様にして、検出回路22,23お
よび検出部検出回路25,26のうち一方が故障したこ
とを検出することができる。
回路25,26のうち一方が故障した場合についても、
上述した処理動作と同様にして、検出回路22,23お
よび検出部検出回路25,26のうち一方が故障したこ
とを検出することができる。
【0027】ここで、スキャンパス故障検出回路12
は、図3に示すように、正F/F12aと逆F/F12
bとから構成されており、スキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とは連続したスキャンレジスタと
なるように構成されている。よって、スキャンパス制御
回路11はスキャンパス14のフリップフロップ数より
も2回多くシフト動作を行うことで、スキャンパス故障
検出回路12およびスキャンパス14の情報を抜取るこ
とができる。
は、図3に示すように、正F/F12aと逆F/F12
bとから構成されており、スキャンパス故障検出回路1
2とスキャンパス14とは連続したスキャンレジスタと
なるように構成されている。よって、スキャンパス制御
回路11はスキャンパス14のフリップフロップ数より
も2回多くシフト動作を行うことで、スキャンパス故障
検出回路12およびスキャンパス14の情報を抜取るこ
とができる。
【0028】また、このスキャンパス故障検出回路12
においては情報処理装置1が正常動作中であれば、正F
/F12aに“1”がセットされ、逆F/F12bに
“0”がセットされるようになっている。したがって、
スキャンパス制御回路11によって抜取られたスキャン
パス14からの情報に続いて、スキャンパス故障検出回
路12から“01”という情報が抜取られることにな
る。
においては情報処理装置1が正常動作中であれば、正F
/F12aに“1”がセットされ、逆F/F12bに
“0”がセットされるようになっている。したがって、
スキャンパス制御回路11によって抜取られたスキャン
パス14からの情報に続いて、スキャンパス故障検出回
路12から“01”という情報が抜取られることにな
る。
【0029】例えば、スキャンパス14内の1フリップ
フロップが“0”故障していれば、この故障したフリッ
プフロップ以降の抜取り情報がすべて“0”となる。こ
の場合、スキャンパス制御回路11はスキャンパス14
の情報に続くスキャンパス故障検出回路12の情報が
“01”とはならないので、スキャンパス14の異常を
情報抜取り部3を介して診断部4に通知する。
フロップが“0”故障していれば、この故障したフリッ
プフロップ以降の抜取り情報がすべて“0”となる。こ
の場合、スキャンパス制御回路11はスキャンパス14
の情報に続くスキャンパス故障検出回路12の情報が
“01”とはならないので、スキャンパス14の異常を
情報抜取り部3を介して診断部4に通知する。
【0030】診断部4はスキャンパス14から抜取った
情報が誤っていることを情報抜取り部3を介して受取る
と、スキャンパス14が故障している旨の診断を下す。
同時に、診断部4はそのとき抜取った情報では検出回路
21や検出部検出回路24で検出した故障の診断を行う
ことができないと判断するので、誤診断を防止すること
ができる。尚、スキャンパス故障検出回路13から抜取
られた情報によってスキャンパス15の故障が検出され
た場合にも、上述した処理動作と同様にして、スキャン
パス15の故障の診断や誤診断の防止を行うことができ
る。
情報が誤っていることを情報抜取り部3を介して受取る
と、スキャンパス14が故障している旨の診断を下す。
同時に、診断部4はそのとき抜取った情報では検出回路
21や検出部検出回路24で検出した故障の診断を行う
ことができないと判断するので、誤診断を防止すること
ができる。尚、スキャンパス故障検出回路13から抜取
られた情報によってスキャンパス15の故障が検出され
た場合にも、上述した処理動作と同様にして、スキャン
パス15の故障の診断や誤診断の防止を行うことができ
る。
【0031】このように、検出部検出回路24〜26で
検出回路21〜23と同じ検出動作を行い、検出回路2
1〜23と同じ検出動作によって得た検出結果と検出回
路21〜23の検出結果とを比較して不一致を検出した
ときにその情報をスキャンパス15のエラー保持F/F
16aに保持するとともに、診断部4でエラー保持F/
F16a,16bの情報およびスキャンパス14,15
の情報を基に診断を行って故障箇所を特定することによ
って、従来のように装置立上げ時にプログラムを用いて
検出回路21〜23の診断を行う必要がなくなる。よっ
て、装置立上げ時に行う検出回路の正常性の確認に要す
る時間を削減することができる。
検出回路21〜23と同じ検出動作を行い、検出回路2
1〜23と同じ検出動作によって得た検出結果と検出回
路21〜23の検出結果とを比較して不一致を検出した
ときにその情報をスキャンパス15のエラー保持F/F
16aに保持するとともに、診断部4でエラー保持F/
F16a,16bの情報およびスキャンパス14,15
の情報を基に診断を行って故障箇所を特定することによ
って、従来のように装置立上げ時にプログラムを用いて
検出回路21〜23の診断を行う必要がなくなる。よっ
て、装置立上げ時に行う検出回路の正常性の確認に要す
る時間を削減することができる。
【0032】また、検出回路21〜23および検出部検
出回路24〜26の故障も検出できるので、検出できる
障害の範囲を拡張することができるとともに、装置の故
障検出を正常に行って情報処理装置1の信頼性を向上さ
せることができる。
出回路24〜26の故障も検出できるので、検出できる
障害の範囲を拡張することができるとともに、装置の故
障検出を正常に行って情報処理装置1の信頼性を向上さ
せることができる。
【0033】さらに、各々異なる値を保持する正F/F
12aおよび逆F/F12bからなるスキャンパス故障
検出回路12,13をキャンパス14,15に縦属接続
することによって、スキャンパス14,15からの情報
抜取り時にスキャンパス14,15の故障を診断するこ
とができるとともに、スキャンパス14,15の故障と
診断したときにスキャンパス14,15から抜取った情
報を無効として誤診断を防止することができる。
12aおよび逆F/F12bからなるスキャンパス故障
検出回路12,13をキャンパス14,15に縦属接続
することによって、スキャンパス14,15からの情報
抜取り時にスキャンパス14,15の故障を診断するこ
とができるとともに、スキャンパス14,15の故障と
診断したときにスキャンパス14,15から抜取った情
報を無効として誤診断を防止することができる。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、自
装置内の故障を検出する検出部の故障を検出する検出部
故障検出手段を設け、検出部および検出部故障検出手段
のうち少なくとも一方で故障が検出されたときに情報処
理装置の動作を停止するとともに、装置内の構成部品を
縦属接続してなるスキャンパス回路から読出された情報
を基に故障箇所を特定することによって、装置立上げ時
に行う検出回路の正常性の確認に要する時間を削減する
ことができ、装置の故障検出を正常に行って信頼性を向
上させることができるという効果がある。
装置内の故障を検出する検出部の故障を検出する検出部
故障検出手段を設け、検出部および検出部故障検出手段
のうち少なくとも一方で故障が検出されたときに情報処
理装置の動作を停止するとともに、装置内の構成部品を
縦属接続してなるスキャンパス回路から読出された情報
を基に故障箇所を特定することによって、装置立上げ時
に行う検出回路の正常性の確認に要する時間を削減する
ことができ、装置の故障検出を正常に行って信頼性を向
上させることができるという効果がある。
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図2】図1の検出部検出回路の構成を示すブロック図
である。
である。
【図3】図1のスキャンパス故障検出回路の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
1 情報処理装置 3 情報抜取り部 4 診断部 11 スキャンパス制御回路 12,13 スキャンパス故障検出回路 12a 正フリップフロップ 12b 逆フリップフロップ 14,15 スキャンパス 16 故障情報保持部 17 停止制御回路 21〜23 検出回路 24〜26 検出部検出回路 24a 検出二重化部 24b 検出比較部
Claims (4)
- 【請求項1】 自装置内の故障を検出する検出部と、自
装置内の構成部品を縦属接続してなるスキャンパス回路
とを有する情報処理装置の診断回路であって、前記検出
部の故障を検出する検出部故障検出手段と、前記検出部
および前記検出部故障検出手段のうち少なくとも一方で
故障が検出されたときに前記情報処理装置の動作を停止
する停止手段と、前記停止手段によって前記情報処理装
置の動作が停止されたときに前記スキャンパス回路から
情報を読出す読出し手段と、前記読出し手段によって読
出された前記スキャンパス回路の情報を基に故障箇所を
特定する手段とを設けたことを特徴とする診断回路。 - 【請求項2】 前記検出部故障検出手段に、前記検出部
に入力される情報と同一の情報を入力とし、前記検出部
と同一動作を行う検出手段と、前記検出部の出力と前記
検出手段の出力とを比較する比較手段とを設け、前記比
較手段の比較結果を前記検出部故障検出手段の検出情報
として出力するようにしたことを特徴とする請求項1記
載の診断回路。 - 【請求項3】 前記スキャンパス回路に、所定値を保持
する第1の保持手段と、前記所定値の反転値を保持する
第2の保持手段とを縦属接続してなるスキャンパス故障
検出手段を設けたことを特徴とする請求項1または請求
項2記載の診断回路。 - 【請求項4】 前記検出部および前記検出部故障検出手
段のうち少なくとも一方で故障が検出されたときに前記
検出部および前記検出部故障検出手段各々の検出情報を
保持する保持手段と、前記検出部および前記検出部故障
検出手段のうち少なくとも一方で故障が検出されたとき
に前記保持手段の内容を読出す読出し手段とを設けたこ
とを特徴とする請求項1,2,3のいずれか記載の診断
回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4140948A JPH05313935A (ja) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 情報処理装置の診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4140948A JPH05313935A (ja) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 情報処理装置の診断回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05313935A true JPH05313935A (ja) | 1993-11-26 |
Family
ID=15280538
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4140948A Pending JPH05313935A (ja) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 情報処理装置の診断回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05313935A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010177737A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理装置の性能向上防止方法及びプログラム |
WO2016203505A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び診断テスト方法 |
-
1992
- 1992-05-06 JP JP4140948A patent/JPH05313935A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010177737A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理装置の性能向上防止方法及びプログラム |
WO2016203505A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び診断テスト方法 |
US10281525B2 (en) | 2015-06-18 | 2019-05-07 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device and diagnostic test method for both single-point and latent faults using first and second scan tests |
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