JPH03226842A - 不良回路ブロック検出システム - Google Patents
不良回路ブロック検出システムInfo
- Publication number
- JPH03226842A JPH03226842A JP2021839A JP2183990A JPH03226842A JP H03226842 A JPH03226842 A JP H03226842A JP 2021839 A JP2021839 A JP 2021839A JP 2183990 A JP2183990 A JP 2183990A JP H03226842 A JPH03226842 A JP H03226842A
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- JP
- Japan
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- circuit block
- processor
- circuit
- diagnosed
- defective
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- Pending
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Multi Processors (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は不良回路ブロック検出システムに関し、特に出
力を次段に順次伝達するように縦続接続された第1〜第
N (、Nは正の整数)の回路ブロックを含む被診断装
置内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検
出システムに関する。
力を次段に順次伝達するように縦続接続された第1〜第
N (、Nは正の整数)の回路ブロックを含む被診断装
置内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検
出システムに関する。
従来技術
一般に、マルチプロセッサ方式の情報処理装置等におい
て同装置が故障した場合には、その故障診断を行い、不
良部分を交換する等の対策が採られている。以下、マル
チプロセッサ方式の情報処理装置の故障診断について説
明する。
て同装置が故障した場合には、その故障診断を行い、不
良部分を交換する等の対策が採られている。以下、マル
チプロセッサ方式の情報処理装置の故障診断について説
明する。
従来、マルチプロセッサ方式の情報処理装置の故障時に
おける故障診断の方法としては、■各プロセッサに結果
の判明している処理(プログラム)を実行させ、結果と
期待値との違いから解析して行く方法、■故障と考えら
れる回路を物理的に交換して診断する方法、■故障プロ
セッサを構成している回路を物理的に順次交換して行く
方法があった。
おける故障診断の方法としては、■各プロセッサに結果
の判明している処理(プログラム)を実行させ、結果と
期待値との違いから解析して行く方法、■故障と考えら
れる回路を物理的に交換して診断する方法、■故障プロ
セッサを構成している回路を物理的に順次交換して行く
方法があった。
しかしながら、上述した従来の故障診断には、以下のよ
うな欠点があった。
うな欠点があった。
(1)上述の■の方法は、特別な処理を実行させる必要
があり、この処理(プログラム)作成する必要がある。
があり、この処理(プログラム)作成する必要がある。
(2)上述の■及び■の方法は、各回路の予備部品が必
要となる。
要となる。
(3)上述の■の方法は、結果からの解析が必要であり
、また■及び■の方法は人手による物理的な部品交換が
伴い、いずれの場合も、診断の結果が判明するまでに長
時間を要する。
、また■及び■の方法は人手による物理的な部品交換が
伴い、いずれの場合も、診断の結果が判明するまでに長
時間を要する。
(4)故障の内容によっては処理(プログラム)結果ま
で到達することができず、有効な診断を行うことができ
ない場合がある。
で到達することができず、有効な診断を行うことができ
ない場合がある。
よって、迅速かつ確実に不良回路ブロックを検出するシ
ステムが望まれていた。
ステムが望まれていた。
発明の目的
本発明の目的は、装置の不良回路ブロックを迅速かつ確
実(ご検出することができる不良回路ブロック検111
システムを提供することである。
実(ご検出することができる不良回路ブロック検111
システムを提供することである。
発明の構成
本発明による不良回路ブロック検出システムは、t(1
カを次段に順次伝達するように縦続接続された第1〜第
N(NはW−の整数)の回路ブロックを含む被診断装置
内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検出
システムであって、前記被診断装置の正常状態における
ものと同一の構成を有する正常装置と、前記第1の回路
ブロックから順次回路ブロックを指定する指定手段と、
この指定された回路ブロックと前記正常装置内の対応す
る回路ブロックとの接続を入換える接続入換手段と、前
記接続入換手段によって接続か入換えられる前後の前記
被診断装置の人出力特性の診断を行い、両特性に差異が
あるとき、そのときに指定されている回路ブロックを不
良と判定する手段とを有することを特徴とする。
カを次段に順次伝達するように縦続接続された第1〜第
N(NはW−の整数)の回路ブロックを含む被診断装置
内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検出
システムであって、前記被診断装置の正常状態における
ものと同一の構成を有する正常装置と、前記第1の回路
ブロックから順次回路ブロックを指定する指定手段と、
この指定された回路ブロックと前記正常装置内の対応す
る回路ブロックとの接続を入換える接続入換手段と、前
記接続入換手段によって接続か入換えられる前後の前記
被診断装置の人出力特性の診断を行い、両特性に差異が
あるとき、そのときに指定されている回路ブロックを不
良と判定する手段とを有することを特徴とする。
実施例
次に、木発明について図面を参照して説明する。
第1−図は木発明による不良回路ブロック検出システム
の一実施例の構成を示すブロック図である。
の一実施例の構成を示すブロック図である。
図において、10及び20はマルチプロセッサを構成す
る各プロセッサであり、この実施例においては2台存在
するものとする。
る各プロセッサであり、この実施例においては2台存在
するものとする。
30はサービスプロセッサであり、本システムによる診
断処理の制御を行う。このサービスプロセッサ30は入
力情報を勾え、期待値が得られるか否かを判定する試験
診断制御回路32と、この制御回路32の制御の下、置
換信号311〜31.Nを送…する置換制御回路31と
を含んで構成されている。
断処理の制御を行う。このサービスプロセッサ30は入
力情報を勾え、期待値が得られるか否かを判定する試験
診断制御回路32と、この制御回路32の制御の下、置
換信号311〜31.Nを送…する置換制御回路31と
を含んで構成されている。
11.1.2.・・・、1Nはプロセッサ10の内部の
回路ブロックであり、これら各回路ブロックと同一構成
とされた回路ブロック21,22゜2Nがプロセッサ2
0内に設けられているものとする。また、la、lb、
2a、2b、 ・−、Na。
回路ブロックであり、これら各回路ブロックと同一構成
とされた回路ブロック21,22゜2Nがプロセッサ2
0内に設けられているものとする。また、la、lb、
2a、2b、 ・−、Na。
Nbは置換回路である。この置換回路は置換制御回路3
1からの置換信号に応じて各回路の接続入換えを行う。
1からの置換信号に応じて各回路の接続入換えを行う。
いま、プロセッサ]0の回路107211〜回路ブロッ
ク1Nのいずれかで故障が起きていると仮定する。つま
り、プロセッサ1−0か被診断装置であるものとし、そ
の中から不良回路ブロックを特定する診断方法について
説明する。
ク1Nのいずれかで故障が起きていると仮定する。つま
り、プロセッサ1−0か被診断装置であるものとし、そ
の中から不良回路ブロックを特定する診断方法について
説明する。
プロセッサ]0は不良回路ブロックを内在しているため
、” A ”という人力情報を人力しても、期待値であ
る′X″という1直は出力されない。
、” A ”という人力情報を人力しても、期待値であ
る′X″という1直は出力されない。
方、プロセッサ20は正常であり、故障を内在しておら
ず、入力”A”に対して出力は期待値とおり パX“と
なる。この条件の下での動作について第2図を用いて説
明する。第2図は診断動作手順を示すフローチャー1・
である。
ず、入力”A”に対して出力は期待値とおり パX“と
なる。この条件の下での動作について第2図を用いて説
明する。第2図は診断動作手順を示すフローチャー1・
である。
まず、診断を制御する4j l−ビスプロセッサ30が
最初の置換回路を決定する(ステップ101)。
最初の置換回路を決定する(ステップ101)。
次に、置換回路1a、1.bに対して回路ブロック11
と回路ブロック21との置換信号311が発せられ、こ
れによって回路ブロック11と回路ブロック21とが論
理的に置換えられる(ステップ102)。第3図は、そ
の状態の概要を示すブロック図である。この図のように
、プロセッサー0は回路ブロック11の代わりに、プロ
セッサ20内の回路ブロック21を使用したことになる
。
と回路ブロック21との置換信号311が発せられ、こ
れによって回路ブロック11と回路ブロック21とが論
理的に置換えられる(ステップ102)。第3図は、そ
の状態の概要を示すブロック図である。この図のように
、プロセッサー0は回路ブロック11の代わりに、プロ
セッサ20内の回路ブロック21を使用したことになる
。
第2図に戻り、この状態で前述の′A”という情報を入
力し、出力が“X”になるか否かを確認する(ステップ
103 、104 )。
力し、出力が“X”になるか否かを確認する(ステップ
103 、104 )。
以上のように、置換信号311 、81.2 、・・・
、 SINを順次光して回路ブロックの接続入換を行う
という動作を回路ブロックINまで順次実行して行く(
ステップ104→105→102・・・)。そして、出
力が期待値である“X”となったとき、置換えられてい
た回路ブロックが不良回路ブロック、すなわち故障して
いると特定できるのである(ステップ104→106)
。
、 SINを順次光して回路ブロックの接続入換を行う
という動作を回路ブロックINまで順次実行して行く(
ステップ104→105→102・・・)。そして、出
力が期待値である“X”となったとき、置換えられてい
た回路ブロックが不良回路ブロック、すなわち故障して
いると特定できるのである(ステップ104→106)
。
つまり、本発明においては、被診断プロセッサを構成す
る回路ブロックを論理的に正常なプロセッザ内の回路ブ
ロックと順次自動的に置換えることによって診断してい
るのである。
る回路ブロックを論理的に正常なプロセッザ内の回路ブ
ロックと順次自動的に置換えることによって診断してい
るのである。
この診断方法によって前述の問題を解決し、不良回路ブ
ロックを迅速かつ確実に検出できるのである。
ロックを迅速かつ確実に検出できるのである。
なお、以上は被検出プロセッサ内に故障が存在するとい
う前提で診断を行っているが、動作確認、例えば装置出
荷前の動作確認の際に同様の診断を行っても不良を容易
に検出できることは明らかである。
う前提で診断を行っているが、動作確認、例えば装置出
荷前の動作確認の際に同様の診断を行っても不良を容易
に検出できることは明らかである。
また、本実施例においてはプロセッサを診断する場合に
ついて説明したが、その他の装置について広く本発明を
適用できることは明らかである。
ついて説明したが、その他の装置について広く本発明を
適用できることは明らかである。
発明の詳細
な説明したように本発明は、被診断装置内の各回路ブロ
ックを正常なものと順次入換え、期待値が得られるまで
続けるという診断動作を自動化したことにより、不良回
路ブロックが迅速かつ確実に検出できるという効果があ
る。
ックを正常なものと順次入換え、期待値が得られるまで
続けるという診断動作を自動化したことにより、不良回
路ブロックが迅速かつ確実に検出できるという効果があ
る。
第1図は本発明の実施例による不良回路ブロック検出シ
ステムの構成を示すブロック図、第2図は第1図の構成
における診断動作手順を示すフローチャート、第3図は
回路ブロックが置換えられた状態を示すブロック図であ
る。 主要部分の符号の説明 1020・・・・・プロセッサ 11.12.・・・、1N。 21.22.・・・、2N・・・・・・回路ブロックl
a、lb 2a 2b・・・Na、Nb・・・・・・置換回路30・・・
・・・サービスプロセッザ
ステムの構成を示すブロック図、第2図は第1図の構成
における診断動作手順を示すフローチャート、第3図は
回路ブロックが置換えられた状態を示すブロック図であ
る。 主要部分の符号の説明 1020・・・・・プロセッサ 11.12.・・・、1N。 21.22.・・・、2N・・・・・・回路ブロックl
a、lb 2a 2b・・・Na、Nb・・・・・・置換回路30・・・
・・・サービスプロセッザ
Claims (1)
- (1)出力を次段に順次伝達するように縦続接続された
第1〜第N(Nは正の整数)の回路ブロックを含む被診
断装置内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロッ
ク検出システムであって、前記被診断装置の正常状態に
おけるものと同一の構成を有する正常装置と、前記第1
の回路ブロックから順次回路ブロックを指定する指定手
段と、この指定された回路ブロックと前記正常装置内の
対応する回路ブロックとの接続を入換える接続入換手段
と、前記接続入換手段によって接続が入換えられる前後
の前記被診断装置の入出力特性の診断を行い、両特性に
差異があるとき、そのときに指定されている回路ブロッ
クを不良と判定する手段とを有することを特徴とする不
良回路ブロック検出システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021839A JPH03226842A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 不良回路ブロック検出システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021839A JPH03226842A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 不良回路ブロック検出システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03226842A true JPH03226842A (ja) | 1991-10-07 |
Family
ID=12066251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021839A Pending JPH03226842A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 不良回路ブロック検出システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03226842A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013182409A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Fujitsu Advanced Engineering Ltd | コンピュータ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5283034A (en) * | 1975-12-29 | 1977-07-11 | Fujitsu Ltd | Memory unit diagnostic system |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2021839A patent/JPH03226842A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5283034A (en) * | 1975-12-29 | 1977-07-11 | Fujitsu Ltd | Memory unit diagnostic system |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013182409A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Fujitsu Advanced Engineering Ltd | コンピュータ |
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