JPH03226842A

JPH03226842A - 不良回路ブロック検出システム

Info

Publication number: JPH03226842A
Application number: JP2021839A
Authority: JP
Inventors: Sakae Sugano; 菅野　栄
Original assignee: NEC Fielding Ltd
Current assignee: NEC Fielding Ltd
Priority date: 1990-01-31
Filing date: 1990-01-31
Publication date: 1991-10-07

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】技術分野本発明は不良回路ブロック検出システムに関し、特に出
力を次段に順次伝達するように縦続接続された第１〜第
Ｎ　（、Ｎは正の整数）の回路ブロックを含む被診断装
置内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検
出システムに関する。

従来技術一般に、マルチプロセッサ方式の情報処理装置等におい
て同装置が故障した場合には、その故障診断を行い、不
良部分を交換する等の対策が採られている。以下、マル
チプロセッサ方式の情報処理装置の故障診断について説
明する。

従来、マルチプロセッサ方式の情報処理装置の故障時に
おける故障診断の方法としては、■各プロセッサに結果
の判明している処理（プログラム）を実行させ、結果と
期待値との違いから解析して行く方法、■故障と考えら
れる回路を物理的に交換して診断する方法、■故障プロ
セッサを構成している回路を物理的に順次交換して行く
方法があった。

しかしながら、上述した従来の故障診断には、以下のよ
うな欠点があった。

（１）上述の■の方法は、特別な処理を実行させる必要
があり、この処理（プログラム）作成する必要がある。

（２）上述の■及び■の方法は、各回路の予備部品が必
要となる。

（３）上述の■の方法は、結果からの解析が必要であり
、また■及び■の方法は人手による物理的な部品交換が
伴い、いずれの場合も、診断の結果が判明するまでに長
時間を要する。

（４）故障の内容によっては処理（プログラム）結果ま
で到達することができず、有効な診断を行うことができ
ない場合がある。

よって、迅速かつ確実に不良回路ブロックを検出するシ
ステムが望まれていた。

発明の目的本発明の目的は、装置の不良回路ブロックを迅速かつ確
実（ご検出することができる不良回路ブロック検１１１
システムを提供することである。

発明の構成本発明による不良回路ブロック検出システムは、ｔ（１
カを次段に順次伝達するように縦続接続された第１〜第
Ｎ（ＮはＷ−の整数）の回路ブロックを含む被診断装置
内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロック検出
システムであって、前記被診断装置の正常状態における
ものと同一の構成を有する正常装置と、前記第１の回路
ブロックから順次回路ブロックを指定する指定手段と、
この指定された回路ブロックと前記正常装置内の対応す
る回路ブロックとの接続を入換える接続入換手段と、前
記接続入換手段によって接続か入換えられる前後の前記
被診断装置の人出力特性の診断を行い、両特性に差異が
あるとき、そのときに指定されている回路ブロックを不
良と判定する手段とを有することを特徴とする。

実施例次に、木発明について図面を参照して説明する。

第１−図は木発明による不良回路ブロック検出システム
の一実施例の構成を示すブロック図である。

図において、１０及び２０はマルチプロセッサを構成す
る各プロセッサであり、この実施例においては２台存在
するものとする。

３０はサービスプロセッサであり、本システムによる診
断処理の制御を行う。このサービスプロセッサ３０は入
力情報を勾え、期待値が得られるか否かを判定する試験
診断制御回路３２と、この制御回路３２の制御の下、置
換信号３１１〜３１．Ｎを送…する置換制御回路３１と
を含んで構成されている。

１１．１．２．・・・、１Ｎはプロセッサ１０の内部の
回路ブロックであり、これら各回路ブロックと同一構成
とされた回路ブロック２１，２２゜２Ｎがプロセッサ２
０内に設けられているものとする。また、ｌａ、ｌｂ、
２ａ、２ｂ、　・−、Ｎａ。

Ｎｂは置換回路である。この置換回路は置換制御回路３
１からの置換信号に応じて各回路の接続入換えを行う。

いま、プロセッサ］０の回路１０７２１１〜回路ブロッ
ク１Ｎのいずれかで故障が起きていると仮定する。つま
り、プロセッサ１−０か被診断装置であるものとし、そ
の中から不良回路ブロックを特定する診断方法について
説明する。

プロセッサ］０は不良回路ブロックを内在しているため
、”　Ａ　”という人力情報を人力しても、期待値であ
る′Ｘ″という１直は出力されない。

方、プロセッサ２０は正常であり、故障を内在しておら
ず、入力”Ａ”に対して出力は期待値とおり　パＸ“と
なる。この条件の下での動作について第２図を用いて説
明する。第２図は診断動作手順を示すフローチャー１・
である。

まず、診断を制御する４ｊ　ｌ−ビスプロセッサ３０が
最初の置換回路を決定する（ステップ１０１）。

次に、置換回路１ａ、１．ｂに対して回路ブロック１１
と回路ブロック２１との置換信号３１１が発せられ、こ
れによって回路ブロック１１と回路ブロック２１とが論
理的に置換えられる（ステップ１０２）。第３図は、そ
の状態の概要を示すブロック図である。この図のように
、プロセッサー０は回路ブロック１１の代わりに、プロ
セッサ２０内の回路ブロック２１を使用したことになる
。

第２図に戻り、この状態で前述の′Ａ”という情報を入
力し、出力が“Ｘ”になるか否かを確認する（ステップ
１０３　、１０４　）。

以上のように、置換信号３１１　、８１．２　、・・・
、　ＳＩＮを順次光して回路ブロックの接続入換を行う
という動作を回路ブロックＩＮまで順次実行して行く（
ステップ１０４→１０５→１０２・・・）。そして、出
力が期待値である“Ｘ”となったとき、置換えられてい
た回路ブロックが不良回路ブロック、すなわち故障して
いると特定できるのである（ステップ１０４→１０６）
。

つまり、本発明においては、被診断プロセッサを構成す
る回路ブロックを論理的に正常なプロセッザ内の回路ブ
ロックと順次自動的に置換えることによって診断してい
るのである。

この診断方法によって前述の問題を解決し、不良回路ブ
ロックを迅速かつ確実に検出できるのである。

なお、以上は被検出プロセッサ内に故障が存在するとい
う前提で診断を行っているが、動作確認、例えば装置出
荷前の動作確認の際に同様の診断を行っても不良を容易
に検出できることは明らかである。

また、本実施例においてはプロセッサを診断する場合に
ついて説明したが、その他の装置について広く本発明を
適用できることは明らかである。

発明の詳細な説明したように本発明は、被診断装置内の各回路ブロ
ックを正常なものと順次入換え、期待値が得られるまで
続けるという診断動作を自動化したことにより、不良回
路ブロックが迅速かつ確実に検出できるという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例による不良回路ブロック検出シ
ステムの構成を示すブロック図、第２図は第１図の構成
における診断動作手順を示すフローチャート、第３図は
回路ブロックが置換えられた状態を示すブロック図であ
る。主要部分の符号の説明１０２０・・・・・プロセッサ１１．１２．・・・、１Ｎ。２１．２２．・・・、２Ｎ・・・・・・回路ブロックｌ
ａ、ｌｂ　　２ａ２ｂ・・・Ｎａ、Ｎｂ・・・・・・置換回路３０・・・
・・・サービスプロセッザ

Claims

【特許請求の範囲】

（１）出力を次段に順次伝達するように縦続接続された
第１〜第Ｎ（Ｎは正の整数）の回路ブロックを含む被診
断装置内の不良回路ブロックを検出する不良回路ブロッ
ク検出システムであって、前記被診断装置の正常状態に
おけるものと同一の構成を有する正常装置と、前記第１
の回路ブロックから順次回路ブロックを指定する指定手
段と、この指定された回路ブロックと前記正常装置内の
対応する回路ブロックとの接続を入換える接続入換手段
と、前記接続入換手段によって接続が入換えられる前後
の前記被診断装置の入出力特性の診断を行い、両特性に
差異があるとき、そのときに指定されている回路ブロッ
クを不良と判定する手段とを有することを特徴とする不
良回路ブロック検出システム。