JPS63195744A - 故障診断方式 - Google Patents

故障診断方式

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Publication number
JPS63195744A
JPS63195744A JP62027507A JP2750787A JPS63195744A JP S63195744 A JPS63195744 A JP S63195744A JP 62027507 A JP62027507 A JP 62027507A JP 2750787 A JP2750787 A JP 2750787A JP S63195744 A JPS63195744 A JP S63195744A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test program
fault diagnosis
fault
suspect
diagnosis information
Prior art date
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Pending
Application number
JP62027507A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Saito
宏之 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62027507A priority Critical patent/JPS63195744A/ja
Publication of JPS63195744A publication Critical patent/JPS63195744A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はデータ処理などを行う論理装置の故障を診断
するための故障診断方式に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は例えば特開昭60−147848号公報に示さ
れた従来の故障診断方式を採用した故障診断装置を説明
するためのブロック図である。図において、1はデータ
処理などを行う論理装置、2はエラー検出回路、3は論
理装置lの内部状態を収集する内部状態収集部、4は入
出力処理装置、5は故障診断のサービス処理のために用
いられるサービスプロセッサ、6はタイプライタ、7は
ディスク装置、8はディスク装置7に格納された故障辞
書、9は同じ(ディスク装置7に格納された試験プログ
ラム、10はプリンタである。
第4図はこの従来の故障診断方式の動作を示すフローチ
ャートである。次に、このフローチャートを参照して動
作を説明する。
論理装置1が通常の処理を行う通常ジョブ実行の状態に
あるとき(ステップS1)、この論理装置lに回路的に
組込まれたエラー検出回路2が実行処理のエラー検出を
行うと(ステップS2)、論理装置1は直ちに停止し、
この時点の論理装置1の内部状態は内部状態収集部3に
より収集され、故障診断情報としてサービスプロセッサ
5に取り込まれ、プリンタIOに出力される(ステップ
S3)。それと同時にサービスプロセッサ5は、ディス
ク装置7に格納された故障辞書8を索引することにより
被疑部品の自動索引を行い(ステップS4)、その結果
から被疑部品群の指摘を行う(ステップS5)。
この後、この従来の故障診断方式では操作員が論理装置
1を試験するための試験プログラム9を、タイプライタ
6からの指示によりディスク装置7からサービスプロセ
ッサ5ヘロードし、始動させる(ステップS6)。サー
ビスプロセッサ5はこの試験プログラム9を用いて入出
力処理装置4を介して論理装置1を試験する(ステップ
S7)。
この試験プログラム9は論理装置1の全ての機能を試験
するように作られており、そのため論理装置1のエラー
検出回路2は再びエラー検出を行い(ステップS8)、
前記と同様にしてサービスプロセッサ5はプリンタlO
に内部状態の出力を行”い(ステップS9)、それと同
時に故障辞書8を索引することによって(ステップ5I
O)再び被疑部品群の指摘を行う(ステップ511)。
保守員は以上のようにして得られた2群の被疑部品群か
ら共通の被疑春部品を故障部品と認定、指摘しくステッ
プ512)、被疑部品数を減少させていき、その被疑部
品を良品と交換などをして論理装置lの修理を行う。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来は以上のような故障診断方式を採用しているので、
試験プログラムを実行させるときは必ず操作員のマニュ
アル操作を必要とし、また試験プログラムは論理装置の
全ての機能を試験する項目から成っているので試験プロ
グラムの実行に長い時間を要するとう問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
た。もので、試験プログラムの実行に操作員のマニュア
ル操作を必要とせず、試験プログラムの実行時間を短縮
することができる故障診断方式を提供することを目的と
する。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る故障診断方式は、論理装置lの通常の処
理実行中に取得した第1故障診断情報(ステップS3の
内部状態収集部3の出力)に基づいて第1被疑部品群を
指摘する第1指摘手段(サービスプロセッサ5のステッ
プS5の処理)と、その第1故障診断情報により診断に
必要とする試験プログラム9を選択して(ステップ51
3)実行しくステップ514)、その結果取得した第2
故障診断情和(ステップS9の内部状態収集部3の出力
)に基づいて第2被疑部品群を指摘する第2指摘手段(
サービスプロセッサ5のステップSllの処理)とを設
け、上記第1被疑部品群と第2被疑部品群とに含まれる
共通な被疑部品を故障部品と認定するものである。
(作用) この発明における故障診断方式は、第1故障診を診断す
る。従って、試験プログラム9の実行に操作員のマニュ
アル操作が必要とされず、試験プロ〉゛ラム9の実行時
間が短縮される。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例に係る故障診断方式を採用した
故障診断装置を説明するためのブロック図である。第1
図において、第3図に示す構成要素に対応するものには
同一の参照符を付し、その説明を省略する。第1図に示
すディスク装置7内に格納される故障辞書81は、個々
の故障診断情報(この実施例では第1.第2故障診断情
報)に対する被疑部品群情報(この実施例では第1゜第
2被疑部品群情報)と共に試験プログラム9として診断
に必要のあるプログラムの項目リストから構成する形態
となっている。
理と同一のものには同一の参照符を付し、その詳しい説
明は省略する。
第2図において、ステップS13はサービスプロセッサ
5により論理装置lの故障箇所を診断するのに必要な試
験プログラム9を自動的に選択、始動する処理である。
また、ステップS14は上記選択された試験プログラム
9を実行する処理である。
次に、このフローチャートを参照して、この実施例の動
作について説明する。従来方式と同様に論理装置1がジ
ョブ実行状態にあるとき(ステップSl)、エラー検出
回路2がエラー検出を行うと(ステップS2)、論理装
置1は直ちに停止し、その時点の論理装置1の内部状態
、即ち第1故障診断情報を内部状態収集部3を介してサ
ービスプロセッサ5が取り込み、プリンタ10に出力す
ると(ステップS3)同時にサービスプロセッサ5はデ
ィスク装置7に格納された故障辞書81を索引する(ス
テップ34)。この時点でサービスプロセッサ5は故障
辞書81から第1故障診断情報に対する第1被疑部品群
を指摘しく第1指摘手段としてのステップS5)、同時
に試験プログラム項目リストを参照し、選択されている
試験プログラム9をディスク装置7から自動的にロード
し始動させて(ステップ513)、従来方式と同様に入
出力処理装置4を介して論理装置1を試験するための試
験プログラム9を実行させる(ステップ514)。
その後、試験プログラム9が実行されていると缶ニ再び
発生したエラーがエラー検出回路2により検出され(ス
テップS8)、前記と同様にしてサービスプロセッサ5
はプリンタ10に内部状態出力、即ち第2故障診断情報
を出力しくステップS9)、それと同時に故障辞書81
を再び索引して(ステップ510)第2故障診断情報に
対する第2被疑部品群の指摘を行う(第2指摘手段とし
てのステップ511)。
第2被疑部品群から共通の被疑部品を論理装置1の故障
部品と認定、指摘しくステップ512)、その故障部品
を良品と交換などして論理装置1を修理する。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、論理回路の通常の処理実
行中に取得した第1故障診断情報に基づいて第1被疑部
品群を指摘する第1指摘手段と、その第1故障診断情報
により診断に必要とする試験プログラムを選択して実行
し、その結果取得した第2故障診断情報に基づいて第2
被疑部品群を指摘する第2指摘手段とを設け、第1被疑
部品群と第2被疑部品群とに含まれる共通な被疑部品を
故障部品と認定するように構成したので、試験プログラ
ムを自動的に選択しかつ実行することができ、従って試
験プログラムの実行に操作員のマニュアル操作を必要と
せず、試験プログラムの実行時間を短縮することができ
、その結果故障発生から通常処理の実行までの修復時間
(MTTR)を短縮できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例に係る故障診断方式を採用
した故障診断装置を説明するためのブロック図、第2図
はこの実施例の故障診断方式の動作を説明するhめのフ
ローチャート、第3図は従来の故障診断方式を採用した
故障診断装置を説明するためのブロック図、第4図は従
来の故障診断方式の動作を説明するためのフローチャー
トである。 l・・・論理装置、2・・・エラー検出回路、3・・・
内部状態収集部、4・・・入出力装置、5・・・サービ
スプロセッサ(第1.第2指摘手段)、6・・・タイプ
ライタ、7・・・ディスク装置、9・・・試験プログラ
ム、10・・・プリンタ、81・・・故障辞書。 代理人  大  岩  増  m(ほか2名)第1図 ′j忌八へi(フーロr゛)lに 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 論理装置のエラー検出を行うエラー検出回路からのエラ
    ー検出情報を利用してエラーの原因となった故障箇所を
    指摘する故障診断方式において、上記論理装置の通常の
    処理実行中に取得した第1故障診断情報に基づいて第1
    被疑部品群を指摘する第1指摘手段と、その第1故障診
    断情報により診断に必要とする試験プログラムを選択し
    て実行し、その結果取得した第2故障診断情報に基づい
    て第2被疑部品群を指摘する第2指摘手段とを設け、上
    記第1被疑部品群と第2被疑部品群とに含まれる共通な
    被疑部品を故障部品と認定することを特徴とする故障診
    断方式。
JP62027507A 1987-02-09 1987-02-09 故障診断方式 Pending JPS63195744A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62027507A JPS63195744A (ja) 1987-02-09 1987-02-09 故障診断方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62027507A JPS63195744A (ja) 1987-02-09 1987-02-09 故障診断方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63195744A true JPS63195744A (ja) 1988-08-12

Family

ID=12223049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62027507A Pending JPS63195744A (ja) 1987-02-09 1987-02-09 故障診断方式

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JP (1) JPS63195744A (ja)

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