JPH05347367A - マイクロ波半導体装置 - Google Patents

マイクロ波半導体装置

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JPH05347367A
JPH05347367A JP15549292A JP15549292A JPH05347367A JP H05347367 A JPH05347367 A JP H05347367A JP 15549292 A JP15549292 A JP 15549292A JP 15549292 A JP15549292 A JP 15549292A JP H05347367 A JPH05347367 A JP H05347367A
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
semiconductor chip
electrode
metal plate
semiconductor device
Prior art date
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Pending
Application number
JP15549292A
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English (en)
Inventor
Yutaka Ishihara
裕 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体素子、例えば電界効果トランジスタの
ソ−ス電極Sと金属プレ−ト4とを接続する場合に、両
者を接続する接続導体のインダクタンスを小さくできる
マイクロ波半導体装置を提供する。 【構成】 半導体素子、例えば電界効果トランジスタを
用いたマイクロ波半導体装置において、入力回路基板2
と出力回路基板3との間に、電界効果トランジスタを形
成した半導体チップ1を配置し、さらに半導体チップ1
と並んで凸壁11を設ける。そして電界効果トランジス
タのソ−ス電極Sと凸壁11とを接続導体で接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波通信などに
用いられるマイクロ波半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、マイクロ波半導体装置として、電
界効果トランジスタ(以後FETと言う。)などの半導
体素子が形成された半導体チップを、金属プレ−ト上に
固着する構造のものが使用されている。
【0003】ここで従来のマイクロ波半導体装置につい
て、半導体素子がFETの場合を例にして、図2で説明
する。
【0004】なお、図2(a)は、マイクロ波半導体装
置を示す斜視図で、(b)はマイクロ波半導体装置を構
成する半導体チップの近傍を拡大して示した斜視図であ
る。1は、半導体チップで、半導体チップ1にはFET
が形成されている。
【0005】このFETは、ソ−ス電極Sやゲ−ト電極
G、ドレイン電極Dの3個の電極を持っている。また半
導体チップ1の一方の側には入力回路基板2が、他方の
側には出力回路基板3が配置される。
【0006】なお、前記半導体チップ1や入力回路基板
2、出力回路基板3は、金属プレ−ト4上に固定され
る。
【0007】そして入力回路基板2の表面には、入力用
の金属線路21が、また出力回路基板3の表面には出力
用の金属線路31が形成される。
【0008】前記入力用の金属線路21は、ゲ−トワイ
ヤGWによってゲ−ト電極Gと、また出力用の金属線路
31はドレインワイヤDWによってドレイン電極Dとそ
れぞれ接続される。また、ソ−ス電極Sはソ−スワイヤ
SWで金属プレ−ト4に接続され、接地される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体チッ
プ1の厚さtは、通常約100μmで、この半導体チッ
プ1は金錫半田5などで金属プレ−ト4に固着される。
このとき半導体チップ1と金属プレ−ト4との固着を完
全なものにするため、半導体チップ1底面の端から外側
に200μmほどの範囲で、半田5が広がるようにして
いる。
【0010】したがってソ−スワイヤSWを金属プレ−
ト4に接続する場合、半導体チップ1底面から外側に広
がっている半田5の部分を避けなければならず、ソ−ス
ワイヤSWの長さが300μm程度となり、かなり長い
ものになる。
【0011】したがってソ−スワイヤSWのインダクタ
ンスが大きくなり、特に8GHz以上のマイクロ波帯に
なると、利得の低下、増幅特性の狭帯域化、異常発振な
ど、好ましくない現象が発生する。
【0012】本発明は、上記の欠点を解決し、一つの電
極と金属プレ−トとを接続する接続導体のインダクタン
スを小さくでき、特性を改善したマイクロ波半導体装置
を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明のマイクロ波半導
体装置は、第一乃至第三の電極を有する半導体素子が形
成された半導体チップと、この半導体チップを挟んで位
置する入力回路基板および出力回路基板と、この入力回
路基板および出力回路基板にそれぞれ形成された入力用
金属線路および出力用金属線路と、前記半導体素子の第
一の電極と前記入力用金属線路、そして第二の電極と前
記出力用金属線路をそれぞれ接続する接続導体と、前記
半導体チップおよび出力回路基板、入力回路基板が設け
られる金属プレ−トとを具備したマイクロ波半導体装置
において、前記半導体チップと並んで前記金属プレ−ト
上に凸壁を設け、前記半導体素子の第三の電極と前記凸
壁とを接続導体で接続している。
【0014】また、前記入力回路基板と前記出力回路基
板とを結ぶ方向の前記半導体チップおよび前記凸壁の幅
を等しくしている。
【0015】
【作用】上記のように構成されたマイクロ波半導体装置
によれば、前記半導体チップと並んで前記金属プレ−ト
上に凸壁を設けている。このため一つの電極を金属プレ
−トと電気的に接続する場合、一つの電極とこの近くに
ある凸壁とを接続導体で接続すればよい。このため一つ
の電極に接続される接続導体の長さを短くでき、接続導
体のインダクタンスを小さくできる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1を参照して説
明する。なお、従来と同一部分には同一符号を付してあ
る。
【0017】図1(a)は、本発明のマイクロ波半導体
装置の一実施例を示す斜視図で、(b)はこのマイクロ
波半導体装置を構成する半導体チップの近傍を拡大して
示した斜視図である。
【0018】1は、半導体チップで、半導体チップ1に
は半導体素子、例えばFETが形成されている。
【0019】このFETは、第一乃至第三の電極、例え
ばゲ−ト電極G、ドレイン電極D、ソ−ス電極Sの3個
の電極を持っている。また半導体チップ1を挟むよう
に、その一方の側には入力回路基板2が、他方の側には
出力回路基板3が配置される。また、半導体チップ1
が、入力回路基板2や出力回路基板3と隣り合わない方
向で、半導体チップ1に並んで、例えばその両側に凸壁
11が配置される。この凸壁11は、例えば全体が導電
性の金属で構成される。
【0020】なお、前記半導体チップ1や入力回路基板
2、出力回路基板3、凸壁11は、金属プレ−ト4上に
設けられる。また金属プレ−ト4は蓋(図示せず。)で
覆われ、前記半導体チップ1や入力回路基板2、出力回
路基板3などを一つの容器に収納するような形になる。
【0021】なお前記凸壁11は金属プレ−ト4とは別
に構成し、金属プレ−ト4に固着してもよいし、また金
属プレ−ト4と一体に構成してもよい。
【0022】また前記入力回路基板2の表面には、入力
用の金属線路21が、また出力回路基板3の表面には出
力用の金属線路31が形成される。この金属線路21、
31は金属プレ−ト4の側壁部分から外の方に延長して
いる。なお、金属線路21、31と金属プレ−ト4の側
壁部分とが電気的に接触しないように、金属線路21、
31が金属プレ−ト4を通り抜ける部分は絶縁物になっ
ている。
【0023】そして、前記入力用の金属線路21は、接
続導体、例えばゲ−トワイヤGWによってゲ−ト電極G
と、また出力用の金属線路31はドレインワイヤDWに
よってドレイン電極Dとそれぞれ接続される。また、ソ
−ス電極Sはソ−スワイヤSWで凸壁11に接続され、
接地される。
【0024】なお前記各ワイヤSW、GW、DWは、通
常それぞれ複数本が使用され複数箇所で接続するように
される。
【0025】上記した本発明の構成では、ソ−スワイヤ
SWでソ−ス電極Sと凸壁11とを接続し、ソ−ス電極
Sを接地している。このためソ−スワイヤSWを金属プ
レ−ト4に直接接続する場合に比して、長さを短くでき
る。また半導体チップ1と凸壁11との向かいあってい
る辺が平行であるため、ソ−ス電極Sと凸壁11との距
離が一定になり、ソ−スワイヤSWの長さを均一にでき
る。
【0026】上記したように本発明によれば、ソ−スワ
イヤSWの長さが短くなり、インダクタンスも小さくな
る。
【0027】したがって利得の向上、増幅特性の広帯域
化、さらにはアイソレ−ションの改善による異常発振の
抑制ができる。
【0028】また、半導体チップを固着する場合、凸壁
11を位置決めの基準にできるので、半導体チップの位
置決めが容易になる。
【0029】なお、前記入力回路基板2と出力回路基板
3とを結ぶ方向の前記半導体チップ1および前記凸壁1
1の幅L2,L1を等しくすれば、半導体チップを固着
する際の位置決めは、さらに容易になる。
【0030】したがって、半導体チップを金属プレ−ト
4に固着する際に、半導体チップが入力回路基板2方向
(図2bの矢印D方向)や、または出力回路基板3方向
(図2bの矢印C方向)にずれたり、またこれと直交す
る方向(図2bの矢印A−B方向)、即ち凸壁11のあ
る方向にずれたりすることが防げる。
【0031】半導体チップの位置ずれが少なくなること
により、位置ずれに伴うゲ−トワイヤGWやドレインワ
イヤDWの長さの不均一がなくせる。
【0032】また、半導体チップ1および前記凸壁11
の高さを等しくしておけば、ソ−スワイヤSWのボンデ
ィング作業が容易になり、歩留まりが向上し、低価格化
できる。
【0033】上記した実施例では、半導体チップ上に形
成される半導体素子がFETの場合で説明したが、本発
明はFET以外の素子、例えばバイポ−ラ・トランジス
タに対しても同様に適用できる。
【0034】
【発明の効果】本発明は、半導体素子の一つの電極と金
属プレ−トとを接続する代わりに、その一つの電極と半
導体素子の近くに設けた凸壁とを接続する構成であるの
で、両者を接続する接続導体の長さを短くでき、接続導
体のインダクタンスが小さいマイクロ波半導体装置を実
現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明する斜視図である。
【図2】従来の例を説明する斜視図である。
【符号の説明】
1…半導体チップ 2…入力回路基板 3…出力回路基板 4…金属プレ−ト 11…凸壁 21、31…金属線路 S…ソ−ス電極 G…ゲ−ト電極 D…ドレイン電極 SW…ソ−スワイヤ GW…ゲ−トワイヤ DW…ドレインワイヤ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第一乃至第三の電極を有する半導体素子
    が形成された半導体チップと、この半導体チップを挟ん
    で位置する入力回路基板および出力回路基板と、この入
    力回路基板および出力回路基板にそれぞれ形成された入
    力用金属線路および出力用金属線路と、前記半導体素子
    の第一の電極と前記入力用金属線路、そして第二の電極
    と前記出力用金属線路をそれぞれ接続する接続導体と、
    前記半導体チップおよび出力回路基板、入力回路基板が
    設けられる金属プレ−トとを具備したマイクロ波半導体
    装置において、前記半導体チップと並んで前記金属プレ
    −ト上に凸壁を設け、前記半導体素子の第三の電極と前
    記凸壁とを接続導体で接続したことを特徴とするマイク
    ロ波半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記入力回路基板と前記出力回路基板と
    を結ぶ方向の前記半導体チップおよび前記凸壁の幅を等
    しくしたことを特徴とする請求項1記載のマイクロ波半
    導体装置。
JP15549292A 1992-06-16 1992-06-16 マイクロ波半導体装置 Pending JPH05347367A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020027892A (ja) * 2018-08-13 2020-02-20 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020027892A (ja) * 2018-08-13 2020-02-20 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体装置

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