JPH05266679A - Eprom メモリー・セルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路 - Google Patents
Eprom メモリー・セルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路Info
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- JPH05266679A JPH05266679A JP13821692A JP13821692A JPH05266679A JP H05266679 A JPH05266679 A JP H05266679A JP 13821692 A JP13821692 A JP 13821692A JP 13821692 A JP13821692 A JP 13821692A JP H05266679 A JPH05266679 A JP H05266679A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/24—Bit-line control circuits
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】調整及び高速プリチャージ・トランジスタによ
る雑音を除去するための時間を必要とせずに読出しを可
能にする。 【構成】読出されるセルC1のドレイン電圧を調整する
ためのトランジスタM3と、その同じドレイン電圧を入
力として持っていて、調整用トランジスタM3を駆動す
るためのインバータM1,M2とからなっていて、調整
用トランジスタM3のゲートに接続されたゲートと、ド
レインに接続されたソースとを持っているビット・ライ
ンBLの高速プリチャージ・トランジスタM6を持って
おり、ビット・ラインBLのプリチャージの終りでのそ
の上昇に続いた調整用トランジスタM3のドレイン電圧
により消弧される。
る雑音を除去するための時間を必要とせずに読出しを可
能にする。 【構成】読出されるセルC1のドレイン電圧を調整する
ためのトランジスタM3と、その同じドレイン電圧を入
力として持っていて、調整用トランジスタM3を駆動す
るためのインバータM1,M2とからなっていて、調整
用トランジスタM3のゲートに接続されたゲートと、ド
レインに接続されたソースとを持っているビット・ライ
ンBLの高速プリチャージ・トランジスタM6を持って
おり、ビット・ラインBLのプリチャージの終りでのそ
の上昇に続いた調整用トランジスタM3のドレイン電圧
により消弧される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はEPROMメモリー・セ
ルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路に
かかわる。
ルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路に
かかわる。
【0002】
【従来の技術】EPROMメモリー・セルを読出すため
の回路の達成において完全に解決されていない問題の1
つは“ソフト・ライティング”である。これは、もしも
そのゲート電圧及びドレイン電圧が十分に高いとする
と、長時間にわたって読出し状態に置かれたEPROM
メモリー・セルが望ましくない閾値ジャンプを受けがち
であるという現象である。
の回路の達成において完全に解決されていない問題の1
つは“ソフト・ライティング”である。これは、もしも
そのゲート電圧及びドレイン電圧が十分に高いとする
と、長時間にわたって読出し状態に置かれたEPROM
メモリー・セルが望ましくない閾値ジャンプを受けがち
であるという現象である。
【0003】“ソフト・ライティング”現象が出始める
2つの電圧の限界値は、新しい技術を用いてセルにかつ
てないほど低いチャンネル長さと、酸化物厚さとを与え
ることにより下げられる傾向にある。これは、もしも全
電源電圧 (Vcc) が読出し中におけるセルのゲートのた
めに使用されるならば、セル自体のドレインをその同じ
電源電圧の十分に小さな値に保つことが必要であるため
である。
2つの電圧の限界値は、新しい技術を用いてセルにかつ
てないほど低いチャンネル長さと、酸化物厚さとを与え
ることにより下げられる傾向にある。これは、もしも全
電源電圧 (Vcc) が読出し中におけるセルのゲートのた
めに使用されるならば、セル自体のドレインをその同じ
電源電圧の十分に小さな値に保つことが必要であるため
である。
【0004】この問題を解決する従来の方法では、EP
ROMのドレイン電圧が、その同じドレイン電圧を入力
として使用する半ブリッジとして配列された2つのトラ
ンジスタを持つインバータにより駆動される調整用トラ
ンジスタによって調整されるようにしている。厚さとチ
ャンネル長さとの間のW/L比、つまり、インバータの
2つのトランジスタの利得は非常に異なっているので、
より大きな比を持つトランジスタの閾値よりも僅かばか
り高いドレイン電圧は持つことのできる最高値である。
より高い電圧に対して、そのインバータ出力は調整用ト
ランジスタを消弧させて、そのドレイン電圧を完全に低
い値へ戻すことになる。
ROMのドレイン電圧が、その同じドレイン電圧を入力
として使用する半ブリッジとして配列された2つのトラ
ンジスタを持つインバータにより駆動される調整用トラ
ンジスタによって調整されるようにしている。厚さとチ
ャンネル長さとの間のW/L比、つまり、インバータの
2つのトランジスタの利得は非常に異なっているので、
より大きな比を持つトランジスタの閾値よりも僅かばか
り高いドレイン電圧は持つことのできる最高値である。
より高い電圧に対して、そのインバータ出力は調整用ト
ランジスタを消弧させて、そのドレイン電圧を完全に低
い値へ戻すことになる。
【0005】この型式の配列には、全アクセス時間を不
利にしないように十分に短い時間において漸近的ドレイ
ン電圧 (以下、Vd として示される) に達する問題が残
っている。実際に、数PFの容量を持つビットラインは
10ナノ秒以下の時間で電圧Vd にプリチャージされる
ことになる。この配列によると、調整用トランジスタの
上流にはダイオード接続されたトランジスタがあるが、
それは、EPROMメモリー・セルに対するチャージと
して使用され、かくして幾分抵抗性のサイズを持ってい
るので、高速プリチャージに必要な電流を供給できな
い。
利にしないように十分に短い時間において漸近的ドレイ
ン電圧 (以下、Vd として示される) に達する問題が残
っている。実際に、数PFの容量を持つビットラインは
10ナノ秒以下の時間で電圧Vd にプリチャージされる
ことになる。この配列によると、調整用トランジスタの
上流にはダイオード接続されたトランジスタがあるが、
それは、EPROMメモリー・セルに対するチャージと
して使用され、かくして幾分抵抗性のサイズを持ってい
るので、高速プリチャージに必要な電流を供給できな
い。
【0006】ビット・ラインの高速プリチャージのため
に採用された従来の解決法では、調整用トランジスタの
ゲート及びソースを高速プリチャージ・トランジスタと
共通に接続し、そのドレインを、高利得の制御トランジ
スタを通して電源Vccに接続している。この場合、前述
の高速プリチャージ・トランジスタはそのインバータの
トランジスタにより課せられる同じ調整を受けるが、し
かし、始動に際してより大きい電流を与えて、漸近的ド
レイン電圧Vd に達する時間を短かくすることができ
る。
に採用された従来の解決法では、調整用トランジスタの
ゲート及びソースを高速プリチャージ・トランジスタと
共通に接続し、そのドレインを、高利得の制御トランジ
スタを通して電源Vccに接続している。この場合、前述
の高速プリチャージ・トランジスタはそのインバータの
トランジスタにより課せられる同じ調整を受けるが、し
かし、始動に際してより大きい電流を与えて、漸近的ド
レイン電圧Vd に達する時間を短かくすることができ
る。
【0007】しかし、この解決策は或る不都合を持って
いる。実際問題として、高速プリチャージ・トランジス
タはEPROMセルの読出しを妨げることになるが、そ
れは、一旦電圧Vd が達した場合において、それにより
吸収される電流がチャージ・トランジスタにより全体的
に供給されず、その同じ高速プリチャージ・トランジス
タによっても供給されるためである。このために、制御
信号CKを制御トランジスタのゲートを横切って印加し
て、プリチャージ・ステップ中のみ能動にさせることが
不可欠である。
いる。実際問題として、高速プリチャージ・トランジス
タはEPROMセルの読出しを妨げることになるが、そ
れは、一旦電圧Vd が達した場合において、それにより
吸収される電流がチャージ・トランジスタにより全体的
に供給されず、その同じ高速プリチャージ・トランジス
タによっても供給されるためである。このために、制御
信号CKを制御トランジスタのゲートを横切って印加し
て、プリチャージ・ステップ中のみ能動にさせることが
不可欠である。
【0008】高利得の制御トランジスタの存在にもかか
わらず、セルの読出しは、いかなる場合でも、その消弧
に続く移動中に妨げられる。実際に調整用トランジスタ
及び高速プリチャージ・トランジスタの寸法が同じであ
ると仮定すると、プリチャージの終りに、そうしたトラ
ンジスタは同じ電流を与える。もしも制御トランジスタ
が急に消弧されるとすると、その調整用トランジスタ
は、電圧Vd を僅かばかり調整することにより、補足状
電流を与えなければならない。この変動は、作用してい
るインバータが必要とされる大きな電流でもって一貫し
て調整用トランジスタのゲート電圧を増大するようにそ
のビット・ライン容量を放電しなければならないアドレ
ス指定されたセルによってのみ駆動されるために潜在的
に緩慢である。かくして、プリチャージの終りに到達さ
れるドレイン電圧は、調整用トランジスタ及びインバー
タによって形成されるユニットによってセットされる電
圧Vd から僅かばかり異なっている。
わらず、セルの読出しは、いかなる場合でも、その消弧
に続く移動中に妨げられる。実際に調整用トランジスタ
及び高速プリチャージ・トランジスタの寸法が同じであ
ると仮定すると、プリチャージの終りに、そうしたトラ
ンジスタは同じ電流を与える。もしも制御トランジスタ
が急に消弧されるとすると、その調整用トランジスタ
は、電圧Vd を僅かばかり調整することにより、補足状
電流を与えなければならない。この変動は、作用してい
るインバータが必要とされる大きな電流でもって一貫し
て調整用トランジスタのゲート電圧を増大するようにそ
のビット・ライン容量を放電しなければならないアドレ
ス指定されたセルによってのみ駆動されるために潜在的
に緩慢である。かくして、プリチャージの終りに到達さ
れるドレイン電圧は、調整用トランジスタ及びインバー
タによって形成されるユニットによってセットされる電
圧Vd から僅かばかり異なっている。
【0009】システムの各種トランジスタのサイズは幾
分重要になる。つまり、高速プリチャージ・トランジス
タのかなり小さいW/L比はその作用を無効にする傾向
があり、その逆も信なりで、大きな比率は、インバータ
が作用できる前に、そのドレイン電圧のレベルを高くし
過ぎることになる。
分重要になる。つまり、高速プリチャージ・トランジス
タのかなり小さいW/L比はその作用を無効にする傾向
があり、その逆も信なりで、大きな比率は、インバータ
が作用できる前に、そのドレイン電圧のレベルを高くし
過ぎることになる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前に
述べたのと同様な機能を有するが、制御トランジスタを
含まず、ドレイン電圧の漸近的値Vd が延長なくしかも
プリチャージの終りでの微調整の必要性なしに到達さ
れ、調整用及び高速プリチャージ・トランジスタによっ
て導入されたいずれかの雑音を除去するための時間を持
つことなしに読出しを可能にした回路を達成することに
よって上述した欠点を克服することにある。
述べたのと同様な機能を有するが、制御トランジスタを
含まず、ドレイン電圧の漸近的値Vd が延長なくしかも
プリチャージの終りでの微調整の必要性なしに到達さ
れ、調整用及び高速プリチャージ・トランジスタによっ
て導入されたいずれかの雑音を除去するための時間を持
つことなしに読出しを可能にした回路を達成することに
よって上述した欠点を克服することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によると、かかる
目的は、EPROMメモリーセルのドレイン電圧を調整
するためのトランジスタと、そのセルの同じドレイン電
圧を入力として持ち、その調整用トランジスタを駆動す
るためのインバータとを含んでいるそのEPROMメモ
リーセルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ
回路であって、調整用トランジスタのゲートに接続され
たゲートと、調整用トランジスタのドレインに接続され
たソースとを持つ高速プリチャージ・トランジスタを備
え、以って、ビットラインのプリチャージの終りに上昇
する前記調整用トランジスタのドレイン電圧が高速プリ
チャージ・トランジスタを消弧させることを特徴とする
プリチャージ回路でもって達成される。
目的は、EPROMメモリーセルのドレイン電圧を調整
するためのトランジスタと、そのセルの同じドレイン電
圧を入力として持ち、その調整用トランジスタを駆動す
るためのインバータとを含んでいるそのEPROMメモ
リーセルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ
回路であって、調整用トランジスタのゲートに接続され
たゲートと、調整用トランジスタのドレインに接続され
たソースとを持つ高速プリチャージ・トランジスタを備
え、以って、ビットラインのプリチャージの終りに上昇
する前記調整用トランジスタのドレイン電圧が高速プリ
チャージ・トランジスタを消弧させることを特徴とする
プリチャージ回路でもって達成される。
【0012】このように、高速プリチャージ・トランジ
スタは漸近的ドレイン電圧が到達されたときに消弧され
るので、高い利得の制御トランジスタやその対応する制
御信号を除くことができる。更に、このシステムは、極
端な延長なく、しかもプリチャージの終りでの調整を必
要とすることなく電圧Vd へと漸近状に達するので、そ
こでの読出しは、調整用及び高速プリチャージ・トラン
ジスタにより導入される雑音があるプリチャージ時間を
考慮することなく実行することができる。
スタは漸近的ドレイン電圧が到達されたときに消弧され
るので、高い利得の制御トランジスタやその対応する制
御信号を除くことができる。更に、このシステムは、極
端な延長なく、しかもプリチャージの終りでの調整を必
要とすることなく電圧Vd へと漸近状に達するので、そ
こでの読出しは、調整用及び高速プリチャージ・トラン
ジスタにより導入される雑音があるプリチャージ時間を
考慮することなく実行することができる。
【0013】本発明の特長は、添付図面に非限定的例と
して例示されている実施例について以下の詳細な記載か
ら一層明瞭になろう。
して例示されている実施例について以下の詳細な記載か
ら一層明瞭になろう。
【0014】
【実施例】図1を参照するに、本発明による回路は読出
される予定のEPROMセルC1のドレイン電圧につい
て調整を与えるnチャンネルMOSトランジスタM3を
含んでいる。セルC1の制御ゲートは、その読出しステ
ップ中、電源電圧Vccに接続され、セルのソースは接地
され、そのドレインは調整用トランジスタM3のソース
に接続されていると共に、ビット・ラインBLに沿って
配列されている。
される予定のEPROMセルC1のドレイン電圧につい
て調整を与えるnチャンネルMOSトランジスタM3を
含んでいる。セルC1の制御ゲートは、その読出しステ
ップ中、電源電圧Vccに接続され、セルのソースは接地
され、そのドレインは調整用トランジスタM3のソース
に接続されていると共に、ビット・ラインBLに沿って
配列されている。
【0015】また、この回路は調整用トランジスタM3
を駆動するためのインバータM1,M2を含んでいる。
インバータはPチャンネルMOSトランジスタM2とn
チャンネルMOSトランジスタM1とから成っている。
トランジスタM2のソースは電源Vccに接続され、ドレ
インは回路結節NにおいてトランジスタM1のドレイン
に接続されている。トランジスタM1のソースは接地さ
れている。トランジスタM1及びM2のゲートは一緒に
なって、ビット・ラインに沿ったトランジスタM3のソ
ースに接続されている。調整用トランジスタM3のゲー
トは回路結節Nに接続されている。
を駆動するためのインバータM1,M2を含んでいる。
インバータはPチャンネルMOSトランジスタM2とn
チャンネルMOSトランジスタM1とから成っている。
トランジスタM2のソースは電源Vccに接続され、ドレ
インは回路結節NにおいてトランジスタM1のドレイン
に接続されている。トランジスタM1のソースは接地さ
れている。トランジスタM1及びM2のゲートは一緒に
なって、ビット・ラインに沿ったトランジスタM3のソ
ースに接続されている。調整用トランジスタM3のゲー
トは回路結節Nに接続されている。
【0016】トランジスタM3のドレインには、EPR
OMセルC1のチャージを与えるPチャンネルMOSト
ランジスタM4のドレイン及びゲートが接続されてい
る。トランジスタM4のソースは電源Vccに接続されて
いる。また、トランジスタM3のドレインに対しては、
ビット・ラインBLの高速チャージを与えるnチャンネ
ルMOSトランジスタM6のソースが接続されている。
トランジスタM6のゲートは調整用トランジスタM3の
ゲートに接続されているが、トランジスタM6のドレイ
ンは電源Vccに接続されている。
OMセルC1のチャージを与えるPチャンネルMOSト
ランジスタM4のドレイン及びゲートが接続されてい
る。トランジスタM4のソースは電源Vccに接続されて
いる。また、トランジスタM3のドレインに対しては、
ビット・ラインBLの高速チャージを与えるnチャンネ
ルMOSトランジスタM6のソースが接続されている。
トランジスタM6のゲートは調整用トランジスタM3の
ゲートに接続されているが、トランジスタM6のドレイ
ンは電源Vccに接続されている。
【0017】図2に例示されている時間 (秒において表
わされている) に対する、ビット・ラインBLを横切っ
た電圧VB1の曲線 (ボルトで表わされている) 、トラン
ジスタM3のゲートを横切った電圧VGM3 の曲線、トラ
ンジスタM4のゲート及びドレインを横切った電圧V
GM4 の曲線により示されているように、本発明による回
路は次のように動作する。
わされている) に対する、ビット・ラインBLを横切っ
た電圧VB1の曲線 (ボルトで表わされている) 、トラン
ジスタM3のゲートを横切った電圧VGM3 の曲線、トラ
ンジスタM4のゲート及びドレインを横切った電圧V
GM4 の曲線により示されているように、本発明による回
路は次のように動作する。
【0018】読出しステップの始めにおいて、電源電圧
Vccの印加は、曲線VB1により例示されているようなビ
ット・ラインの高速プリチャージを達成するように調整
用トランジスタM3及びプリチャージ・トランジスタM
6を制御するゲート電圧VGM 3 の発生を、インバータM
1, M2を通して決定する。これと同時に、チャージ・
トランジスタM4のゲートを横切った電圧VGM4 は漸近
値Vd に達する。
Vccの印加は、曲線VB1により例示されているようなビ
ット・ラインの高速プリチャージを達成するように調整
用トランジスタM3及びプリチャージ・トランジスタM
6を制御するゲート電圧VGM 3 の発生を、インバータM
1, M2を通して決定する。これと同時に、チャージ・
トランジスタM4のゲートを横切った電圧VGM4 は漸近
値Vd に達する。
【0019】漸近値Vd が到達されると、電圧VGM3 も
トランジスタM6を消弧させるような電圧に達する。か
くして、プリチャージ・ステップの終りにおいて、トラ
ンジスタM6は消弧されて、もはやいかなる電流をも吸
収しなくなる。更に、漸近値Vd は過度な延長もなく且
つプリチャージの終りでの調整を必要とすることなく到
達される。かくして、セルの読出しは、トランジスタM
3, M6により導入されたいずれかの雑音の消耗に対し
て必要な時間を持つことなく、いつでも実施できること
になる。
トランジスタM6を消弧させるような電圧に達する。か
くして、プリチャージ・ステップの終りにおいて、トラ
ンジスタM6は消弧されて、もはやいかなる電流をも吸
収しなくなる。更に、漸近値Vd は過度な延長もなく且
つプリチャージの終りでの調整を必要とすることなく到
達される。かくして、セルの読出しは、トランジスタM
3, M6により導入されたいずれかの雑音の消耗に対し
て必要な時間を持つことなく、いつでも実施できること
になる。
【図1】本発明による回路の実施例を示す回路図であ
る。
る。
【図2】この回路にある幾つかの変数の曲線を例示する
図である。
図である。
BL ビット・ライン C1 EPROMセル M1, M2 インバータ M3 調整用トランジスタ M4 チャージ・トランジスタ M6 高速プリチャージ・トランジスタ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年2月26日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の詳細な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はEPROMメモリー・セ
ルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路に
かかわる。
ルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路に
かかわる。
【0002】
【従来の技術】EPROMメモリー・セルを読出すため
の回路の達成において完全に解決されていない問題の1
つは“ソフト・ライティング”である。これは、もしも
そのゲート電圧及びドレイン電圧が十分に高いとする
と、長時間にわたって読出し状態に置かれたEPROM
メモリー・セルが望ましくない閾値ジャンプを受けがち
であるという現象である。
の回路の達成において完全に解決されていない問題の1
つは“ソフト・ライティング”である。これは、もしも
そのゲート電圧及びドレイン電圧が十分に高いとする
と、長時間にわたって読出し状態に置かれたEPROM
メモリー・セルが望ましくない閾値ジャンプを受けがち
であるという現象である。
【0003】“ソフト・ライティング”現象が出始める
2つの電圧の限界値は、新しい技術を用いてセルにかつ
てないほど低いチャンネル長さと、酸化物厚さとを与え
ることにより下げられる傾向にある。これは、もしも全
電源電圧(Vcc)が読出し中におけるセルのゲートの
ために使用されるならば、セル自体のドレインをその同
じ電源電圧の十分に小さな値に保つことが必要であるた
めである。
2つの電圧の限界値は、新しい技術を用いてセルにかつ
てないほど低いチャンネル長さと、酸化物厚さとを与え
ることにより下げられる傾向にある。これは、もしも全
電源電圧(Vcc)が読出し中におけるセルのゲートの
ために使用されるならば、セル自体のドレインをその同
じ電源電圧の十分に小さな値に保つことが必要であるた
めである。
【0004】この問題を解決する従来の方法では、EP
ROMのドレイン電圧が、その同じドレイン電圧を入力
として使用する半ブリッジとして配列された2つのトラ
ンジスタを持つインバータにより駆動される調整用トラ
ンジスタによって調整されるようにしている。厚さとチ
ャンネル長さとの間のW/L比、つまり、インバータの
2つのトランジスタの利得は非常に異なっているので、
より大きな比を持つトランジスタの閾値よりも僅かばか
り高いドレイン電圧は持つことのできる最高値である。
より高い電圧に対して、そのインバータ出力は調整用ト
ランジスタを消弧させて、そのドレイン電圧を完全に低
い値へ戻すことになる。
ROMのドレイン電圧が、その同じドレイン電圧を入力
として使用する半ブリッジとして配列された2つのトラ
ンジスタを持つインバータにより駆動される調整用トラ
ンジスタによって調整されるようにしている。厚さとチ
ャンネル長さとの間のW/L比、つまり、インバータの
2つのトランジスタの利得は非常に異なっているので、
より大きな比を持つトランジスタの閾値よりも僅かばか
り高いドレイン電圧は持つことのできる最高値である。
より高い電圧に対して、そのインバータ出力は調整用ト
ランジスタを消弧させて、そのドレイン電圧を完全に低
い値へ戻すことになる。
【0005】この型式の配列には、全アクセス時間を不
利にしないように十分に短い時間において漸近的ドレイ
ン電圧(以下、Vdとして示される)に達する問題が残
っている。実際に、数PFの容量を持つビットラインは
10ナノ秒以下の時間で電圧Vdにプリチャージされる
ことになる。この配列によると、調整用トランジスタの
上流にはダイオード接続されたトランジスタがあるが、
それは、EPROMメモリー・セルに対するチャージと
して使用され、かくして幾分抵抗性のサイズを持ってい
るので、高速プリチャージに必要な電流を供給できな
い。
利にしないように十分に短い時間において漸近的ドレイ
ン電圧(以下、Vdとして示される)に達する問題が残
っている。実際に、数PFの容量を持つビットラインは
10ナノ秒以下の時間で電圧Vdにプリチャージされる
ことになる。この配列によると、調整用トランジスタの
上流にはダイオード接続されたトランジスタがあるが、
それは、EPROMメモリー・セルに対するチャージと
して使用され、かくして幾分抵抗性のサイズを持ってい
るので、高速プリチャージに必要な電流を供給できな
い。
【0006】ビット・ラインの高速プリチャージのため
に採用された従来の解決法では、調整用トランジスタの
ゲート及びソースを高速プリチャージ・トランジスタと
共通に接続し、そのドレインを、高利得の制御トランジ
スタを通して電源Vccに接続している。この場合、前
述の高速プリチャージ・トランジスタはそのインバータ
のトランジスタにより課せられる同じ調整を受けるが、
しかし、始動に際してより大きい電流を与えて、漸近的
ドレイン電圧Vdに達する時間を短かくすることができ
る。
に採用された従来の解決法では、調整用トランジスタの
ゲート及びソースを高速プリチャージ・トランジスタと
共通に接続し、そのドレインを、高利得の制御トランジ
スタを通して電源Vccに接続している。この場合、前
述の高速プリチャージ・トランジスタはそのインバータ
のトランジスタにより課せられる同じ調整を受けるが、
しかし、始動に際してより大きい電流を与えて、漸近的
ドレイン電圧Vdに達する時間を短かくすることができ
る。
【0007】しかし、この解決策は或る不都合を持って
いる。実際問題として、高速プリチャージ・トランジス
タはEPROMセルの読出しを妨げることになるが、そ
れは、一端電圧Vdが達した場合において、それにより
吸収される電流がチャージ・トランジスタにより全体的
に供給されず、その同じ高速プリチャージ・トランジス
タによっても供給されるためである。このために、制御
信号CKを制御トランジスタのゲートを横切って印加し
て、プリチャージ・ステップ中のみ能動にさせることが
不可欠である。
いる。実際問題として、高速プリチャージ・トランジス
タはEPROMセルの読出しを妨げることになるが、そ
れは、一端電圧Vdが達した場合において、それにより
吸収される電流がチャージ・トランジスタにより全体的
に供給されず、その同じ高速プリチャージ・トランジス
タによっても供給されるためである。このために、制御
信号CKを制御トランジスタのゲートを横切って印加し
て、プリチャージ・ステップ中のみ能動にさせることが
不可欠である。
【0008】高利得の制御トランジスタの存在にもかか
わらず、セルの読出しは、いかなる場合でも、その消弧
に続く移動中に妨げられる。実際に調整用トランジスタ
及び高速プリチャージ・トランジスタの寸法が同じであ
ると仮定すると、プリチャージの終りに、そうしたトラ
ンジスタを同じ電流を与える。もしも制御トランジスタ
が急に消弧されるとすると、その調整用トランジスタ
は、電圧Vdを僅かばかり調整することにより、補足状
電流を与えなければならない。この変動は、作用してい
るインバータが必要とされる大きな電流でもって一貫し
て調整用トランジスタのゲート電圧を増大するようにそ
のビット・ライン容量を放電しなければならないアドレ
ス指定されたセルによってのみ駆動されるために潜在的
に緩慢である。かくして、プリチャージの終りに到達さ
れるドレイン電圧は、調整用トランジスタ及びインバー
タによって形成されるユニットによってセットされる電
圧Vdから僅かばかり異なっている。
わらず、セルの読出しは、いかなる場合でも、その消弧
に続く移動中に妨げられる。実際に調整用トランジスタ
及び高速プリチャージ・トランジスタの寸法が同じであ
ると仮定すると、プリチャージの終りに、そうしたトラ
ンジスタを同じ電流を与える。もしも制御トランジスタ
が急に消弧されるとすると、その調整用トランジスタ
は、電圧Vdを僅かばかり調整することにより、補足状
電流を与えなければならない。この変動は、作用してい
るインバータが必要とされる大きな電流でもって一貫し
て調整用トランジスタのゲート電圧を増大するようにそ
のビット・ライン容量を放電しなければならないアドレ
ス指定されたセルによってのみ駆動されるために潜在的
に緩慢である。かくして、プリチャージの終りに到達さ
れるドレイン電圧は、調整用トランジスタ及びインバー
タによって形成されるユニットによってセットされる電
圧Vdから僅かばかり異なっている。
【0009】システムの各種トランジスタのサイズは幾
分重要になる。つまり、高速プリチャージ・トランジス
タのかなり小さいW/L比はその作用を無効にする傾向
があり、その逆も信なりで、大きな比率は、インバータ
が作用できる前に、そのドレイン電圧のレベルを高くし
過ぎることになる。
分重要になる。つまり、高速プリチャージ・トランジス
タのかなり小さいW/L比はその作用を無効にする傾向
があり、その逆も信なりで、大きな比率は、インバータ
が作用できる前に、そのドレイン電圧のレベルを高くし
過ぎることになる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前に
述べたのと同様な機能を有するが、制御トランジスタを
含まず、ドレイン電圧の漸近的値Vdが延長なくしかも
プリチャージの終りでの微調整の必要性なしに到達さ
れ、調整用及び高速プリチャージ・トランジスタによっ
て導入されたいずれかの雑音を除去するための時間を持
つことなしに読出しを可能にした回路を達成することに
よって上述した欠点を克服することにある。
述べたのと同様な機能を有するが、制御トランジスタを
含まず、ドレイン電圧の漸近的値Vdが延長なくしかも
プリチャージの終りでの微調整の必要性なしに到達さ
れ、調整用及び高速プリチャージ・トランジスタによっ
て導入されたいずれかの雑音を除去するための時間を持
つことなしに読出しを可能にした回路を達成することに
よって上述した欠点を克服することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によると、かかる
目的は、EPROMメモリーセルのドレイン電圧を調整
するためのトランジスタと、そのセルの同じドレイン電
圧を入力として持ち、その調整用トランジスタを駆動す
るためのインバータとを含んでいるそのEPROMメモ
リーセルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ
回路であって、調整用トランジスタのゲートに接続され
たゲートと、調整用トランジスタのドレインに接続され
たソースとを持つ高速プリチャージ・トランジスタを備
え、以って、ビットラインのプリチャージの終りに上昇
する前記調整用トランジスタのドレイン電圧が高速プリ
チャージ・トランジスタを消弧させることを特徴とする
プリチャージ回路でもって達成される。
目的は、EPROMメモリーセルのドレイン電圧を調整
するためのトランジスタと、そのセルの同じドレイン電
圧を入力として持ち、その調整用トランジスタを駆動す
るためのインバータとを含んでいるそのEPROMメモ
リーセルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ
回路であって、調整用トランジスタのゲートに接続され
たゲートと、調整用トランジスタのドレインに接続され
たソースとを持つ高速プリチャージ・トランジスタを備
え、以って、ビットラインのプリチャージの終りに上昇
する前記調整用トランジスタのドレイン電圧が高速プリ
チャージ・トランジスタを消弧させることを特徴とする
プリチャージ回路でもって達成される。
【0012】このように、高速プリチャージ・トランジ
スタは漸近的ドレイン電圧が到達されたときに消弧され
るので、高い利得の制御トランジスタやその対応する制
御信号を除くことができる。更に、このシステムは、極
端な延長なく、しかもプリチャージの終りでの調整を必
要とすることなく電圧Vdへと漸近状に達するので、そ
こでの読出しは、調整用及び高速プリチャージ・トラン
ジスタにより導入される雑音があるプリチャージ時間を
考慮することなく実行することができる。
スタは漸近的ドレイン電圧が到達されたときに消弧され
るので、高い利得の制御トランジスタやその対応する制
御信号を除くことができる。更に、このシステムは、極
端な延長なく、しかもプリチャージの終りでの調整を必
要とすることなく電圧Vdへと漸近状に達するので、そ
こでの読出しは、調整用及び高速プリチャージ・トラン
ジスタにより導入される雑音があるプリチャージ時間を
考慮することなく実行することができる。
【0013】本発明の特長は、添付図面に非限定的例と
して例示されている実施例について以下の詳細な記載か
ら一層明瞭になろう。
して例示されている実施例について以下の詳細な記載か
ら一層明瞭になろう。
【0014】
【実施例】図1を参照するに、本発明による回路は読出
される予定のEPROMセルC1のドレイン電圧につい
て調整を与えるnチャンネルMOSトランジスタM3を
含んでいる。セルC1の制御ゲートは、その読出しステ
ップ中、電源電圧Vccに接続され、セルのソースは接
地され、そのドレインは調整用トランジスタM3のソー
スに接続されていると共に、ビット・ラインBLに沿っ
て配列されている。
される予定のEPROMセルC1のドレイン電圧につい
て調整を与えるnチャンネルMOSトランジスタM3を
含んでいる。セルC1の制御ゲートは、その読出しステ
ップ中、電源電圧Vccに接続され、セルのソースは接
地され、そのドレインは調整用トランジスタM3のソー
スに接続されていると共に、ビット・ラインBLに沿っ
て配列されている。
【0015】また、この回路は調整用トランジスタM3
を駆動するためのインバータM1,M2を含んでいる。
インバータはPチャンネルMOSトランジスタM2とn
チャンネルMOSトランジスタM1とから成っている。
トランジスタM2のソースは電源Vccに接続され、ド
レインは回路結節NにおいてトランジスタM1のドレイ
ンに接続されている。トランジスタM1のソースは接地
されている。トランジスタM1及びM2のゲートは一緒
になって、ビット・ラインに沿ったトランジスタM3の
ソースに接続されている。調整用トランジスタM3のゲ
ートは回路結節Nに接続されている。
を駆動するためのインバータM1,M2を含んでいる。
インバータはPチャンネルMOSトランジスタM2とn
チャンネルMOSトランジスタM1とから成っている。
トランジスタM2のソースは電源Vccに接続され、ド
レインは回路結節NにおいてトランジスタM1のドレイ
ンに接続されている。トランジスタM1のソースは接地
されている。トランジスタM1及びM2のゲートは一緒
になって、ビット・ラインに沿ったトランジスタM3の
ソースに接続されている。調整用トランジスタM3のゲ
ートは回路結節Nに接続されている。
【0016】トランジスタM3のドレインには、EPR
OMセルC1のチャージを与えるPチャンネルMOSト
ランジスタM4のドレイン及びゲートが接続されてい
る。トランジスタM4のソースは電源Vccに接続され
ている。また、トランジスタM3のドレインに対して
は、ビット・ラインBLの高速チャージを与えるnチャ
ンネルMOSトランジスタM6のソースが接続されてい
る。トランジスタM6のゲートは調整用トランジスタM
3のゲートに接続されているが、トランジスタM6のド
レインは電源Vccに接続されている。
OMセルC1のチャージを与えるPチャンネルMOSト
ランジスタM4のドレイン及びゲートが接続されてい
る。トランジスタM4のソースは電源Vccに接続され
ている。また、トランジスタM3のドレインに対して
は、ビット・ラインBLの高速チャージを与えるnチャ
ンネルMOSトランジスタM6のソースが接続されてい
る。トランジスタM6のゲートは調整用トランジスタM
3のゲートに接続されているが、トランジスタM6のド
レインは電源Vccに接続されている。
【0017】図2に例示されている時間(秒において表
わされている)に対する、ビット・ラインBLを横切っ
た電圧VB1の曲線(ボルトで表わされている)、トラ
ンジスタM3のゲートを横切った電圧VGM3の曲線、
トランジスタM4のゲート及びドレインを横切った電圧
VGM4の曲線により示されているように、本発明によ
る回路は次のように動作する。
わされている)に対する、ビット・ラインBLを横切っ
た電圧VB1の曲線(ボルトで表わされている)、トラ
ンジスタM3のゲートを横切った電圧VGM3の曲線、
トランジスタM4のゲート及びドレインを横切った電圧
VGM4の曲線により示されているように、本発明によ
る回路は次のように動作する。
【0018】読出しステップの始めにおいて、電源電圧
Vccの印加は、曲線VB1により例示されているよう
なビット・ラインの高速プリチャージを達成するように
調整用トランジスタM3及びプリチャージ・トランジス
タM6を制御するゲート電圧VGM3の発生を、インバ
ータM1,M2を通して決定する。これと同時に、チャ
ージ・トランジスタM4のゲートを横切った電圧V
GM4は漸近値Vdに達する。
Vccの印加は、曲線VB1により例示されているよう
なビット・ラインの高速プリチャージを達成するように
調整用トランジスタM3及びプリチャージ・トランジス
タM6を制御するゲート電圧VGM3の発生を、インバ
ータM1,M2を通して決定する。これと同時に、チャ
ージ・トランジスタM4のゲートを横切った電圧V
GM4は漸近値Vdに達する。
【0019】漸近値Vdが到達されると、電圧VGM3
もトランジスタM6を消弧させるような電圧に達する。
かくして、プリチャージ・ステップの終りにおいて、ト
ランジスタM6は消弧されて、もはやいかなる電流をも
吸収しなくなる。更に、漸近値Vdは過度な延長もなく
且つプリチャージの終りでの調整を必要とすることなく
到達される。かくして、セルの読出しは、トランジスタ
M3,M6により導入されたいずれかの雑音の消耗に対
して必要な時間を持つことなく、いつでも実施できるこ
とになる。
もトランジスタM6を消弧させるような電圧に達する。
かくして、プリチャージ・ステップの終りにおいて、ト
ランジスタM6は消弧されて、もはやいかなる電流をも
吸収しなくなる。更に、漸近値Vdは過度な延長もなく
且つプリチャージの終りでの調整を必要とすることなく
到達される。かくして、セルの読出しは、トランジスタ
M3,M6により導入されたいずれかの雑音の消耗に対
して必要な時間を持つことなく、いつでも実施できるこ
とになる。
Claims (2)
- 【請求項1】 EPROMメモリー・セル (C1) のド
レイン電圧を調整するためのトランジスタ (M3) と、
前記セル (C1) の同じドレイン電圧を入力として持
ち、前記調整用トランジスタ (M3) を駆動するための
インバータ (M1, M2) とを含んでいるEPROMメ
モリー・セルを読み出すためのビット・ラインのプリチ
ャージ回路であって、前記調整用トランジスタ (M3)
のゲートに接続されるゲートと、該調整用トランジスタ
(M3) のドレインに接続されるソースとを持っている
高速プリチャージ・トランジスタ (M6) を備えてい
て、ビット・ライン (BL) のプリチャージの終りで上
昇する前記調整用トランジスタ (M3) のドレイン電圧
が前記高速プリチャージ・トランジスタ (M6) の消弧
を行うことを特徴とするプリチャージ回路。 - 【請求項2】 電源電圧 (Vcc) と前記調整用トランジ
スタ (M3) との間におけるビット・ライン (BL)
に、前記メモリー・セル (C1) のチャージ・トランジ
スタ (M4) を備えていることを特徴とする請求項1の
プリチャージ回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ITMI911485A IT1249616B (it) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | Circuito di precarica di bit line per la lettura di una cella di memoria eprom. |
IT91A001485 | 1991-05-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05266679A true JPH05266679A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=11360018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13821692A Pending JPH05266679A (ja) | 1991-05-30 | 1992-05-29 | Eprom メモリー・セルを読出すためのビット・ラインのプリチャージ回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0516225B1 (ja) |
JP (1) | JPH05266679A (ja) |
DE (1) | DE69221940T2 (ja) |
IT (1) | IT1249616B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006019003A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-19 | Samsung Electronics Co Ltd | 低電源電圧フラッシュメモリ装置の感知回路 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2716758B1 (fr) * | 1994-02-28 | 1996-05-31 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit de polarisation pour transistor dans une cellule de mémorisation. |
DE69520495T2 (de) * | 1995-08-04 | 2001-07-12 | St Microelectronics Srl | Leseschaltung für nichtflüchtige Speicher |
FR2801419B1 (fr) | 1999-11-18 | 2003-07-25 | St Microelectronics Sa | Procede et dispositif de lecture pour memoire en circuit integre |
TW201915818A (zh) * | 2017-10-05 | 2019-04-16 | 香港商印芯科技股份有限公司 | 光學識別模組 |
US10255967B1 (en) * | 2017-11-28 | 2019-04-09 | Micron Technology, Inc. | Power reduction technique during write bursts |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0727718B2 (ja) * | 1988-02-19 | 1995-03-29 | 日本電気株式会社 | センス回路 |
JPH0371495A (ja) * | 1989-08-11 | 1991-03-27 | Sony Corp | 紫外線消去型不揮発性メモリ装置 |
-
1991
- 1991-05-30 IT ITMI911485A patent/IT1249616B/it active IP Right Grant
-
1992
- 1992-05-22 EP EP92201461A patent/EP0516225B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-05-22 DE DE69221940T patent/DE69221940T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-29 JP JP13821692A patent/JPH05266679A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006019003A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-19 | Samsung Electronics Co Ltd | 低電源電圧フラッシュメモリ装置の感知回路 |
JP4648111B2 (ja) * | 2004-06-29 | 2011-03-09 | 三星電子株式会社 | 低電源電圧フラッシュメモリ装置の感知回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ITMI911485A0 (it) | 1991-05-30 |
DE69221940D1 (de) | 1997-10-09 |
IT1249616B (it) | 1995-03-09 |
EP0516225B1 (en) | 1997-09-03 |
ITMI911485A1 (it) | 1992-11-30 |
EP0516225A2 (en) | 1992-12-02 |
EP0516225A3 (en) | 1994-05-18 |
DE69221940T2 (de) | 1998-04-30 |
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